KR20080092523A - Contact type single side probe and inspection apparatus and method for open/short test of conductive lines used thereof - Google Patents

Contact type single side probe and inspection apparatus and method for open/short test of conductive lines used thereof Download PDF

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KR20080092523A
KR20080092523A KR1020070035906A KR20070035906A KR20080092523A KR 20080092523 A KR20080092523 A KR 20080092523A KR 1020070035906 A KR1020070035906 A KR 1020070035906A KR 20070035906 A KR20070035906 A KR 20070035906A KR 20080092523 A KR20080092523 A KR 20080092523A
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probe
change value
disconnection
contact
electrical change
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KR1020070035906A
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은탁
김성진
송대웅
이동준
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마이크로 인스펙션 주식회사
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Abstract

A contact type single side probe and inspection apparatus and method for an open/short test of a conductive line using the same are provided to inspect open and short of the conductive lines by applying AC power to one ends of the conductive lines through the single side probe and then measuring an electrical variation at the single side probe. A contact type single side probe includes a ground substrate(241), a probe(220), a feed unit(210), and a sensing unit(230). The ground substrate maintains a ground state and mounts conductive lines(10). The probe is in contact with the conductive lines on the ground substrate. The feed unit inputs AC power to the probe. The sensing unit measures an electrical variation at the probe. The feed unit has an AC current source(212), and the sensing unit measures a voltage variation.

Description

접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법{CONTACT TYPE SINGLE SIDE PROBE AND INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR OPEN/SHORT TEST OF CONDUCTIVE LINES USED THEREOF}CONTACT TYPE SINGLE SIDE PROBE AND INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR OPEN / SHORT TEST OF CONDUCTIVE LINES USED THEREOF}
도 1은 일반적인 도선의 단선 및 단락 검사방식을 설명하기 위한 도면이다. 1 is a view for explaining the disconnection and short-circuit inspection method of a typical conductor.
도 2는 본 발명의 제 1실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다. 2 is a block diagram illustrating a contact type single side probe according to a first embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 제 2실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다. 3 is a block diagram illustrating a contact type single side probe according to a second embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 제 3실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다. Figure 4 is a block diagram showing a contact type single-side probe according to a third embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용하여 동일한 길이의 도선을 검사할 때 측정되는 검사 파형을 나타낸 도면이다. FIG. 5 is a view illustrating test waveforms measured when inspecting conductors of the same length using a contact-type single-side probe according to the present invention. FIG.
도 6은 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치를 나타낸 블록구성도이다. FIG. 6 is a block diagram illustrating an apparatus for inspecting disconnection and short circuit of a conductive wire using a contact type single side probe according to the present invention.
도 7은 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사 장치를 통해 길이가 서로 다른 회로기판의 도선의 단선 및 단락을 검사 하는 실시예이다. FIG. 7 illustrates an embodiment of inspecting disconnections and short circuits of conductors of circuit boards having different lengths through a disconnection and short circuit inspection apparatus for conducting wires using a contact type single-side probe according to the present invention.
- 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 -   -Explanation of symbols for the main parts of the drawings-
10 : 도선 20 : 싱글사이드 프로브10: wire 20: single side probe
30 : 저장부 40 : 신호처리부30: storage unit 40: signal processing unit
50 ; 표시부 60 : 키입력부50; Display unit 60: key input unit
70 : 회로기판 80 : IC 칩70: circuit board 80: IC chip
210 : 급전부 212 : 교류전류원210: feeder 212: AC current source
214 : 교류전압원 216 : 임피던스 소자214: AC voltage source 216: Impedance element
220 : 탐침자 230 : 감지부220: probe 230: detector
241 : 접지기판241: grounding board
본 발명은 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 PCB 패턴이나 데이터 전송선 및 전기 케이블 등 접지기판 위에 놓인 다수 도선의 단선 및 단락을 도선별로 일단에서 하나의 프로브로 탐침하여 교류전원을 인가한 후 그 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 통해 단선 및 단락을 검사할 수 있도록 한 접촉식 싱글사이드 프로 브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a contact single-side probe and a wire disconnection and short circuit inspection apparatus using the same, and more particularly, to a single wire and a short circuit of a plurality of wires placed on a ground substrate such as a PCB pattern, a data transmission line, and an electric cable. Contact single-side probe and wire disconnection and short-circuit inspection device which can check disconnection and short circuit through the electric change value measured by the probe after applying AC power by probing with one probe at each end, and It's about how.
일반적으로 데이터 전송선과 같은 다선케이블의 단선 및 단락을 검사하기 위해서는 다른 회로와 분리시킨 뒤 케이블 양단간의 저항을 측정하는 방법으로써 반드시 2인 이상의 작업원인이 필요하게 되며, 케이블의 전선 수가 많은 경우에는 전선번호를 잃어버려 반복 체크해야 하는 경우가 종종 발생되어 신뢰도가 떨어질 뿐만 아니라 작업시간이 많이 소요되는 등의 많은 문제점이 있다. In general, to check the disconnection and short circuit of a multi-wire cable such as a data transmission line, it is necessary to separate the circuit from other circuits and measure the resistance between the two ends of the cable. There are many problems, such as the loss of the number often requires repeated checks, not only decreases the reliability, but also takes a lot of time.
또한, LCD나 PDP 등과 같은 평판표시소자의 투명전극의 단선 및 단락을 검출하기 위해서는 도 1에 도시된 바와 같이 일일이 하나하나의 도선(10)의 일단에서 전류을 인가한 후 해당 도선(10)의 반대단에서 전압을 측정하여 도선(10)의 단선 및 단락을 검사하거나, 현미경등으로 도선을 추적하여 단선 및 단락을 검출하도록 하였다. In addition, in order to detect disconnection and short-circuit of the transparent electrode of a flat panel display device such as an LCD or a PDP, as shown in FIG. 1, a current is applied from one end of each of the conductors 10 and then the opposite of the conductors 10. The voltage was measured at the stage to check for disconnection and short circuit of the conductor 10, or to trace the conductor with a microscope or the like to detect disconnection and short circuit.
따라서 하나의 도선의 단선 및 단락을 측정하여 이상유무를 체크하기 위해서는 최소 2개 이상의 프로브가 필요하게 되어 많은 수의 프로브가 소요되어 원가상승의 원인이 되는 문제점이 있을 뿐만 아니라 도선의 길이가 길어질 경우에는 서로 다른 위치에서 측정하기 위한 2사람 이상의 측정자가 필요하게 됨에 따라 많은 시간과 많은 인력이 필요한 문제점이 있다. Therefore, at least two probes are required to check for abnormality by measuring disconnection and short circuit of one lead wire, which requires a large number of probes and causes a cost increase. There is a problem that requires a lot of time and manpower as two or more measurers are required to measure at different locations.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창작된 것으로서, 본 발명의 목적은 PCB 패턴이나 데이터 전송선 및 전기 케이블 등 접지기판 위에 놓인 다수 도선의 단선 및 단락을 도선별로 일단에서 하나의 프로브로 탐침하여 교류전원을 인가한 후 그 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 통해 단선 및 단락을 검사할 수 있도록 한 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법을 제공함에 있다. The present invention was created to solve the above problems, and an object of the present invention is to probe the disconnection and short circuit of a plurality of conductors placed on a ground substrate such as a PCB pattern or a data transmission line and an electric cable with one probe at one end of each conductor. The present invention provides a contact-type single-side probe and an apparatus for inspecting disconnection and short-circuit of conductors using the same, which allow inspection of disconnection and short-circuit through electrical change measured by the probe after applying AC power.
상기와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브는 접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판과, 접지기판위에 놓인 검사 대상 도선에 접촉하기 위한 탐침자와, 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와, 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부로 이루어진 것을 특징으로 한다. Contact single-side probe according to the present invention for achieving the above object is a ground substrate for laying the conductor while maintaining the ground state, a probe for contacting the test target conductor placed on the ground substrate, and the AC power supply to the probe Feeding unit for inputting the, characterized in that consisting of a sensing unit for measuring the electrical change value in the probe.
본 발명에서 급전부는 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원으로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the power supply unit is made of an AC current source for applying an AC current, the detection unit is characterized in that for measuring the voltage change value.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지며, 감지부는 교류전압원과 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the power supply unit is made of an AC voltage source for applying an AC voltage, the detection unit is characterized in that for measuring the current change value flowing between the AC voltage source and the probe.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 교류전압원과 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the power supply unit is composed of an AC voltage source for applying an AC voltage, and an impedance element mediated between the AC voltage source and the probe, and the sensing unit is characterized by measuring the voltage change value.
이때 임피던스 소자는 커패시터나 저항인 것을 특징으로 한다. In this case, the impedance element may be a capacitor or a resistor.
또한 임피던스 소자는 용량가변형인 것을 특징으로 한다.In addition, the impedance element is characterized in that the capacitance is variable.
또한, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치는 접지상태를 유지하며 검사 대상 도선을 놓기 위한 접지기판과, 접지기판 위에 놓인 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 싱글사이드 프로브와, 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 저장하기 위한 저장부와, 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 저장부에 저장시키며 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값으로 단선 및 단락을 판단하거나 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값과 저장부에 저장된 전기적 변화값을 비교하여 단선 및 단락을 판단하는 신호처리부와, 신호처리부의 작동상태 및 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 표시하기 위한 표시부와, 신호처리부의 작동상태를 선택하기 위한 키입력부로 이루어진 것을 특징으로 한다. In addition, the disconnection and short-circuit inspection device of the conducting wire using the contact-type single-side probe according to the present invention maintains the ground state and the AC substrate by contacting the ground substrate for placing the conductor to be tested and one end of the conducting wire placed on the ground substrate with a probe. And a single-side probe for measuring the electrical change in the probe, a storage for storing the electrical change measured in the single-side probe, and a storage for storing the electrical change in the single-side probe. Signal processing unit and signal processing unit for determining disconnection and short circuit based on the electrical change value measured in the single-side probe or comparing the electrical change value measured in the single-side probe with the electrical change value stored in the storage unit. Table to display status and electrical changes measured on single-side probes It characterized by comprising a key input portion for selecting the operating state of the unit, and a signal processor.
본 발명에서 접촉식 싱글사이드 프로브는 접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판과, 접지기판 위에 놓인 검사 대상 도선에 접촉하기 위한 탐침자와, 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와, 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부로 이루어진 것을 특징으로 한다. In the present invention, the contact-type single-side probe is grounded to maintain the ground state, the probe for contacting the conductor to be placed on the grounding board, the feeder for inputting AC power to the probe, the probe Characterized in that it consists of a sensing unit for measuring the electrical change value in the ruler.
본 발명에서 급전부는 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원으로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the power supply unit is made of an AC current source for applying an AC current, the detection unit is characterized in that for measuring the voltage change value.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지 며, 감지부는 교류전압원과 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the power supply unit is composed of an AC voltage source for applying an AC voltage, the detection unit is characterized in that for measuring the current change value flowing between the AC voltage source and the probe.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 교류전압원과 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the power supply unit is composed of an AC voltage source for applying an AC voltage, and an impedance element mediated between the AC voltage source and the probe, and the sensing unit is characterized by measuring the voltage change value.
이때 임피던스 소자는 커패시터나 저항인 것을 특징으로 한다. In this case, the impedance element may be a capacitor or a resistor.
또한 임피던스 소자는 용량가변형인 것을 특징으로 한다.In addition, the impedance element is characterized in that the capacitance is variable.
또한, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법은 접지기판을 구비하고 접지기판 위에 놓인 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서, 동일한 길이를 갖는 다수 도선 각각의 일단에 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 싱글사이드 프로브에서 전기적 변화값을 측정하여 도선의 단선과 단락을 검사하는 것을 특징으로 한다. In addition, the disconnection and short-circuit inspection method of the conducting wire using the contact type single-side probe according to the present invention is provided with a grounding substrate and contacts an end of the conducting wire placed on the grounding substrate with a probe to input an AC power source and change the electrical value of the probe. In the disconnection and short circuit inspection apparatus of a conducting wire using a contact single side probe for measuring a voltage, a single side probe is applied to one end of each of the plurality of conducting wires having the same length, and an AC power is applied thereto. It is characterized by checking the disconnection and short circuit of the conducting wire by measuring.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다. In this case, when the detected electric change value is a voltage, the amplitude is determined to be disconnected, and when the decrease is determined to be short-circuited.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다. In this case, when the detected electric change value is current, the amplitude is determined to be disconnected, and when the increase is determined, the short circuit is determined.
또한, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법은 접지기판을 구비하고 접지기판 위에 놓인 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서, 회로기판에 형성된 길이가 서로 다른 다수개의 도선 각각의 일단에 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 도선별로 상글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 저장한 후 동일한 패턴을 갖는 다른 회로기판에서 동일한 순서로 측정하여 저장된 전기적 변화값과 비교하여 해당 도선의 단선과 단락을 검사하는 것을 특징으로 한다. In addition, the disconnection and short-circuit inspection method of the conducting wire using the contact type single-side probe according to the present invention is provided with a grounding substrate and contacts an end of the conducting wire placed on the grounding substrate with a probe to input an AC power source and change the electrical value of the probe. In the disconnection and short-circuit inspection apparatus of a conducting wire using a contact type single side probe for measuring a voltage, a single-side probe is applied to one end of each of a plurality of conductors of different lengths formed on a circuit board, and an alternating current is applied. After the electrical change value measured by the side probe is stored in the same order on the other circuit board having the same pattern and compared with the stored electrical change value is characterized in that the disconnection and short circuit of the corresponding wire is checked.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다. In this case, when the detected electric change value is a voltage, the amplitude is determined to be disconnected, and when the decrease is determined to be short-circuited.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다. In this case, when the detected electric change value is current, the amplitude is determined to be disconnected, and when the increase is determined, the short circuit is determined.
이와 같이 이루어진 본 발명은 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용하여 접지기판 위에 놓인 도선별로 일단에서만 탐침하여 교류전원을 인가한 후 도선별로 측정되는 전기적 변화값을 통해 도선의 단선과 단락을 검사함으로써 한 번의 스캔으로 단선과 단락을 동시에 검사할 수 있을 뿐만 아니라 도선의 일단에서만 측정하여도 도선의 단선과 단락을 판단할 수 있게 된다. According to the present invention, a single scan is performed by using a single-sided probe to probe only one end of each conductor placed on the ground substrate to apply AC power, and then check the disconnection and short circuit of the conductor through electrical change values measured by the conductors. In addition to checking the disconnection and short-circuit at the same time, it is possible to determine the disconnection and short-circuit of the conductor even by measuring only at one end of the conductor.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하며 종래 구성과 동일한 부분은 동일한 부호 및 명칭을 사용한다. 또한 본 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것은 아니고, 단지 예시로 제시된 것이며 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상 내에서 많은 변형이 가능할 것이다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings, and the same parts as in the prior art use the same reference numerals and names. In addition, the present embodiment is not intended to limit the scope of the present invention, but is presented by way of example only and those skilled in the art will be capable of many modifications within the technical spirit of the present invention.
도 2는 본 발명의 제 1실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다. 2 is a block diagram illustrating a contact type single side probe according to a first embodiment of the present invention.
여기에 도시된 바와 같이 본 실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)는 접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판(241)과, 접지 기판(241) 위에 놓인 검사 대상 도선(10)에 접촉하기 위한 탐침자(220)와, 탐침자(220)로 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원(212)과, 탐침자(220)에서 전압변화값을 측정하기 위한 감지부(230)로 이루어진다. As shown here, the contact type single-side probe 20 according to the present embodiment maintains a ground state and is connected to a ground substrate 241 for laying a lead and an inspection target lead 10 placed on the ground substrate 241. A probe 220 for contacting, an AC current source 212 for applying an alternating current to the probe 220, and a detector 230 for measuring the voltage change value in the probe 220.
이와 같이 급전부(210)가 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원(212)으로 이루어져 탐침자(220)로 교류전류를 인가한 후 탐침자(220)에서 측정되는 전압변화값을 통해 도선(10)의 단선과 단락을 판단할 수 있도록 한다. As described above, the power supply unit 210 includes an AC current source 212 for applying an AC current, and applies an AC current to the probe 220, and then, through the voltage change value measured by the probe 220, leads 10. It is possible to judge the disconnection and short circuit of.
도 3은 본 발명의 제 2실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다. 3 is a block diagram illustrating a contact type single side probe according to a second embodiment of the present invention.
여기에 도시된 바와 같이 본 실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)는 접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판(241)과, 접지 기판(241) 위에 놓 인 검사 대상 도선(10)에 접촉하기 위한 탐침자(220)와, 탐침자(220)로 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원(214)과, 교류전압원(214)과 탐침자(220) 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하기 위한 감지부(230)로 이루어진다. As shown here, the contact type single side probe 20 according to the present embodiment maintains a ground state and a ground substrate 241 for laying the conductor, and a test target conductor 10 placed on the ground substrate 241. Measuring a change in current flowing between the probe 220 for contacting the probe, the AC voltage source 214 for applying an AC voltage to the probe 220, and the AC voltage source 214 and the probe 220 It consists of a sensing unit 230 for.
이와 같이 급전부(210)가 교류전압원(214)으로 이루어져 교류전압원(214)과 탐침자(220) 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하여 도선(10)의 단선과 단락을 판단할 수 있도록 한다. In this way, the power supply unit 210 is composed of an AC voltage source 214 to measure the current change value flowing between the AC voltage source 214 and the probe 220 to determine the disconnection and short circuit of the conductive wire (10).
도 4는 본 발명의 제 3실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다. Figure 4 is a block diagram showing a contact type single-side probe according to a third embodiment of the present invention.
여기에 도시된 바와 같이 본 실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)는 접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판(241)과, 접지 기판(241) 위에 놓인 검사 대상 도선(10)에 접촉하기 위한 탐침자(220)와, 탐침자(220)로 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원(214)과, 교류전압원(214)과 탐침자(220) 사이에 매개된 임피던스 소자(216)와, 탐침자(220)에서의 전압변화값을 측정하기 위한 감지부(230)로 이루어진다. As shown here, the contact type single-side probe 20 according to the present embodiment maintains a ground state and is connected to a ground substrate 241 for laying a lead and an inspection target lead 10 placed on the ground substrate 241. A probe 220 for contact, an AC voltage source 214 for applying an AC voltage to the probe 220, and an impedance element 216 interposed between the AC voltage source 214 and the probe 220; The sensor 220 includes a detector 230 for measuring a voltage change value of the probe 220.
이때 임피던스 소자(216)는 수동소자들로써 커패시터나 저항으로 구성할 수 있으며, 검사대상이 되는 도선(10)의 표면적에 대응되어 뚜렷한 전기적 변화가 측정될 수 있도록 용량을 가변할 수 있는 용량 가변형인 것이 바람직하다. In this case, the impedance element 216 may be configured as a capacitor or a resistor as passive elements, and may have a variable capacitance type capable of varying capacitance so that a distinct electrical change can be measured in response to the surface area of the conductive wire 10 to be inspected. desirable.
이와 같이 급전부(210)가 교류전압원(214)과 임피던스 소자(216)로 이루어진 접촉식 싱글사이드 프로브(20)를 통해 동일한 길이의 도선(10)을 측정할 때 감지되 는 전압값을 도 5에 도시하였다. As such, when the power supply unit 210 measures the lead wire 10 having the same length through the contact type single side probe 20 including the AC voltage source 214 and the impedance element 216, FIG. Shown in
즉, 도선(10)의 일단에 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)로 탐침하여 교류전원을 인가하면서 감지되는 전기적 변화로써 전압값을 측정한 경우를 설명한다. That is, the case where the voltage value is measured by the electrical change sensed while applying the AC power by probing the single-sided probe 20 according to the present invention to one end of the conductive wire 10 will be described.
이때, (가)와 같이 정상적인 도선(10)에서 측정되는 전압값은 VPP_N 값으로 동일하게 측정된다. 그러나, (나)와 같이 도선(10)이 단선된 경우에는 도선(10)의 전극 면적이 작아짐에 따라 도선(10)의 전극 면적과 도선(10) 주위의 접지 기판(241) 사이에 형성된 가상 커패시터의 정전용량이 작아지게 되어 측정되는 전압값은 VPP_O 값으로써 정상적인 도선(10)에서 측정된 전압값 VPP_N 값과 비교할 경우 크게 나타난다. 반면에, (다)와 같이 도선(10)이 인접한 도선(10)과 단락된 경우에는 도선(10)의 전극 면적이 커짐에 따라 도선(10)의 전극 면적과 도선(10) 주위의 접지 기판(241) 사이에 형성된 가상 커패시터의 정전용량이 커지게 되어 측정되는 전압값은 VPP_S 값으로써 정상적인 도선(10)에서 측정된 전압값 VPP_N 값과 비교할 경우 작게 나타난다. At this time, as shown in (a), the voltage value measured in the normal conductor 10 is equally measured as the V PP_N value. However, when the conductive wire 10 is disconnected as shown in (b), as the electrode area of the conductive wire 10 decreases, the virtual area formed between the electrode area of the conductive wire 10 and the ground substrate 241 around the conductive wire 10 is reduced. Since the capacitance of the capacitor becomes small, the measured voltage value is V PP_O value, which is large when compared with the voltage value V PP_N value measured in the normal conductor 10. On the other hand, when the conductive wire 10 is shorted with the adjacent conductive wire 10 as shown in (c), as the electrode area of the conductive wire 10 increases, the electrode area of the conductive wire 10 and the ground substrate around the conductive wire 10 are increased. Since the capacitance of the virtual capacitor formed between 241 becomes large, the measured voltage value is V PP_S value, which is small when compared with the voltage value V PP_N value measured in the normal conductor 10.
이와 같이 접촉식 싱글사이드 프로브(20)를 통해 동일한 길이의 도선(10)의 단선 및 단락을 검사하고자 할 경우 도선(10)의 일단에서 감지된 전압값의 변화를 판단하여 전압값이 높게 감지되는 도선(10)은 단선된 라인으로 판단하게 되며, 정상적인 전압값보다 낮게 감지되는 도선(10)은 단락된 라인으로 판단하게 된다. As described above, when the disconnection and short circuit of the conductor 10 having the same length are to be inspected through the contact type single side probe 20, the voltage value is detected by determining the change of the voltage value sensed at one end of the conductor 10. The conductive line 10 is determined to be a disconnected line, and the conductive line 10 detected to be lower than a normal voltage value is determined to be a shorted line.
본 실시예에서는 사인파형의 교류전원을 인가한 후 감지된 전압값의 변화로 도선의 단선 및 단락을 판단하였으나, 교류전원으로써 사인파형을 비롯하여 구형파(계단파), 임펄스파, 그리고 백색잡음 등을 사용하여 도선의 단선 및 단락을 판단할 수 있다.In this embodiment, the disconnection and short circuit of the conductor are judged by the change of the sensed voltage value after applying the sine wave AC power. However, the sine wave, the square wave, the impulse wave, the white noise, etc. It can be used to determine the disconnection and short circuit of the conductor.
한편, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)를 전기장치(미도시)의 입출력포트에 형성할 경우 내부 회로와의 연결관계나 타 장치와의 연결관계에서 단선 및 단락을 자가 진단하기 위한 포트로 사용할 수도 있다. On the other hand, when the contact type single-side probe 20 according to the present invention is formed in the input and output ports of the electrical device (not shown) for the self-diagnosis of the disconnection and short circuit in the connection relationship with the internal circuit or the other device It can also be used as a port.
도 6은 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치를 나타낸 구성도이다. Figure 6 is a block diagram showing the disconnection and short circuit inspection apparatus of the conducting wire using the contact type single-side probe according to the present invention.
여기에 도시된 바와 같이 접지상태를 유지하며 검사 대상 도선을 놓기 위한 접지기판(241)과, 접지 기판(241) 위에 놓인 도선(10)의 일단에 탐침자(220)를 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자(220)에서의 전기적 변화값을 측정하는 싱글사이드 프로브(20)와, 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값을 저장하기 위한 저장부(30)와, 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값을 저장부(30)에 저장시키며 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값으로 단선 및 단락을 판단하거나 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값과 저장부(30)에 저장된 전기적 변화값을 비교하여 단선 및 단락을 판단하는 신호처리부(40)와, 신호처리부(40)의 작동상태 및 싱글사이드 프로브(20)에서 측정된 전기적 변화값을 표시하기 위한 표시부(50)와, 신호처리부(50)의 작동상태를 선택하기 위한 키입력부(60)로 이루어진다. As shown here, the ground board 241 for maintaining the ground to be inspected and the probe 220 are contacted with one end of the conductive wire 10 placed on the ground substrate 241 to input AC power. And a single side probe 20 for measuring an electrical change value at the probe 220, a storage unit 30 for storing the electrical change value measured at the single side probe 20, and a single side probe 20. ) To store the electrical change value measured in the storage unit 30 to determine the disconnection and short-circuit with the electrical change value measured by the single-side probe 20 or the electrical change value and the storage unit measured by the single-side probe 20 The signal processor 40 for determining disconnection and short circuits by comparing the electric change values stored in the 30 and the display unit for displaying the operating state of the signal processor 40 and the electric change values measured by the single-side probe 20. 50, It consists of a key input unit 60 for selecting an operating state of the signal processing unit 50.
이와 같이 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선 검사장치는 저장부(30)를 이용하여 동일한 패턴으로 형성된 다수개의 회로기판(70)을 측정할 경우 회로기판(70)에 형성된 도선(10)들의 길이가 서로 다르더라도 측정되는 전기적 변화값을 저장한 후 동일한 패턴의 다른 회로기판(70)에서 측정되는 전기적 변화값을 비교함으로써 해당 도선(10)에 대한 전기적 변화를 판단할 수 있음으로써 단선 및 단락을 측정할 수 있게 된다. As such, when the conductive line inspection apparatus using the single-sided probe has a length of the conductive lines 10 formed on the circuit board 70 when the plurality of circuit boards 70 having the same pattern are measured using the storage unit 30, Even if they are different from each other, by storing the measured electrical change value and comparing the electrical change value measured on the other circuit board 70 of the same pattern, it is possible to determine the electrical change of the corresponding conductor 10 to measure the disconnection and short circuit. You can do it.
즉, 도 7에 도시된 바와 같이 회로기판의 하나의 IC칩(80)과 연결된 도선(10)의 배선이 서로 길이가 다르더라도 모든 도선(10)에 대해 싱글사이드 프로브(20)를 통해 순차적으로 전기적 변화값을 측정하여 저장부(30)에 저장한 후 동일 패턴을 갖는 다른 회로기판(70)에 대해서도 동일한 순서에 의해 순차적으로 전기적 변화값을 측정하여 저장부(30)에 저장된 전기적 변화값과 비교할 경우 해당 도선(10)에 대한 단선 및 단락을 검사할 수 있게 된다. That is, as shown in FIG. 7, even though the wirings of the conductive wires 10 connected to one IC chip 80 of the circuit board are different from each other in length, the single-side probe 20 is sequentially applied to all the conductive wires 10. After measuring the electrical change value stored in the storage unit 30 and the other circuit board 70 having the same pattern in order to measure the electrical change value in the same order to the electrical change value stored in the storage unit 30 and In comparison, disconnection and short circuit to the corresponding conductor 10 may be inspected.
예를 들어, 전기적 변화값으로 전압값을 측정할 때 신호처리부(40)에서 그 전압값을 판단하여 해당 도선(10)에 대해 반복해서 측정된 전압값보다 낮게 측정될 경우에는 단락된 것으로 판단하여 표시부(50)에 표시하게 되며 높게 측정될 경우에는 단선된 것으로 판단하여 표시부(50)에 표시할 뿐만 아니라 동일하게 측정될 경우에는 정상적인 라인으로 표시함으로써 서로 다른 길이의 도선(10)에 대해서도 단선 및 단락을 검사할 수 있게 된다. For example, when the voltage value is measured by the electrical change value, the signal processor 40 determines the voltage value, and when it is measured to be lower than the voltage value repeatedly measured for the conductive wire 10, it is determined to be shorted. If the display unit 50 is displayed on the display unit 50 and is determined to be high, the display unit 50 determines that the unit is disconnected. You can check for shorts.
또한, 키입력부(60)를 통해 신호처리부(40)의 처리상태를 제어하여 측정되는 값을 바로 표시하도록 함으로써 동일한 길이의 도선(10)을 측정할 경우에는 측정되 는 값의 변화를 표시부(50)를 통해 사용자가 곧바로 판단하도록 할 수도 있으며 저장부(30)에 저장한 후 비교하여 단선 및 단락 여부를 판단하여 표시할 수 있도록 선택할 수도 있다. In addition, by controlling the processing state of the signal processing unit 40 through the key input unit 60 to display the measured value immediately, when measuring the conductor 10 of the same length, the display unit 50 shows the change in the measured value. The user may be able to immediately determine the user's judgment, or may store the data in the storage unit 30 and compare the information to determine whether the wire is broken or shorted.
상술한 바와 같이 본 발명은 PCB 패턴이나 데이터 전송선 및 전기 케이블 등 접지기판 위에 놓인 다수의 도선의 단선 및 단락을 도선별로 일단에서 하나의 프로브로 탐침하여 교류전원을 인가한 후 그 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 통해 단선 및 단락을 검사할 수 있도록 함으로써 양측에서 두 개의 프로브로 탐침하기 위해 소요되는 장비 및 인력을 획기적으로 줄일 수 있는 이점이 있다. As described above, in the present invention, a single wire and a short circuit of a plurality of conductors placed on a ground substrate such as a PCB pattern, a data transmission line, and an electric cable are probed from one end to one probe to apply AC power, and then measured by the probe. The change value allows inspection of open circuits and shorts, greatly reducing the equipment and manpower required to probe with two probes on both sides.
또한, 측정하고자 하는 도선의 길이가 매우 긴 경우에도 한사람에 의해 일단에서 단선 및 단락을 검사할 수 있음으로써 적은 인원으로 간편하게 검사할 수 있는 이점이 있다. In addition, even if the length of the conductor to be measured is very long, there is an advantage that it can be easily inspected with a small number of people by checking the disconnection and short circuit at one end by one person.
또한, 일단에서만 측정함으로써 도선의 단선 및 단락을 검사할 수 있음으로써 전기장치의 입출력단에 싱글사이드 프로브를 내장할 경우 단선 및 단락의 자가 진단이 가능한 이점이 있다. In addition, since disconnection and short circuit of the conductor can be inspected by measuring only one end, there is an advantage that self-diagnosis of the disconnection and short circuit is possible when the single-side probe is embedded in the input / output terminal of the electric device.

Claims (21)

  1. 접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판과, A grounding board for laying wires while maintaining grounding status,
    상기 접지기판 위에 놓인 검사 대상 도선에 접촉하기 위한 탐침자와, A probe for contacting a test target conductor placed on the ground substrate;
    상기 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와, A feeder for inputting AC power to the probe;
    상기 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부Sensing unit for measuring the electrical change value in the probe
    를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브. Contact single side probe, characterized in that consisting of.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 급전부는 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원으로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브. The contact type single side probe of claim 1, wherein the power supply unit comprises an AC current source for applying an AC current, and the sensing unit measures a voltage change value.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지며, 상기 감지부는 상기 교류전압원과 상기 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브. The contact type single side probe of claim 1, wherein the power supply unit comprises an AC voltage source for applying an AC voltage, and the sensing unit measures a current change value flowing between the AC voltage source and the probe.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 상기 교류전압원과 상기 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브. The contact of claim 1, wherein the power supply unit comprises an AC voltage source for applying an AC voltage, an impedance element interposed between the AC voltage source and the probe, and the sensing unit measures a voltage change value. Formula single side probe.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 커패시터인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브. 5. The contact single side probe of claim 4, wherein the impedance element is a capacitor.
  6. 제 4항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 저항인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브. 5. The contact single side probe of claim 4, wherein the impedance element is a resistor.
  7. 제 4항 내지 제 6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 용량 가변형인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브. 7. A contact single side probe according to any of claims 4 to 6, wherein the impedance element is capacitively variable.
  8. 접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판과, A grounding board for laying wires while maintaining grounding status,
    상기 접지기판 위에 놓인 상기 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 싱글사이드 프로브와, A single-side probe contacting one end of the lead placed on the ground substrate with a probe to input an AC power source and measuring an electrical change value at the probe;
    상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 저장하기 위한 저장 부와, A storage unit for storing the electrical change value measured by the single-side probe;
    상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 상기 저장부에 저장시키며 상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값으로 단선 및 단락을 판단하거나 상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값과 상기 저장부에 저장된 전기적 변화값을 비교하여 단선 및 단락을 판단하는 신호처리부와, The electrical change value measured by the single side probe is stored in the storage unit, and the disconnection and short circuit are determined by the electrical change value measured by the single side probe, or the electrical change value measured by the single side probe and stored in the storage unit. A signal processor for determining disconnection and short circuit by comparing electrical change values;
    상기 신호처리부의 작동상태 및 상기 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 표시하기 위한 표시부와, A display unit for displaying an operating state of the signal processor and an electrical change value measured by the single side probe;
    상기 신호처리부의 작동상태를 선택하기 위한 키입력부A key input unit for selecting an operation state of the signal processor
    를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. Wire disconnection and short circuit inspection apparatus using a contact-type single-side probe, characterized in that consisting of.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 접촉식 싱글사이드 프로브는9. The method of claim 8, wherein the contact singleside probe is
    접지상태를 유지하며 도선을 놓기 위한 접지기판과, A grounding board for laying wires while maintaining grounding status,
    상기 접지기판 위에 놓인 도선에 접촉하기 위한 탐침자와, A probe for contacting the conductor placed on the ground substrate;
    상기 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와, A feeder for inputting AC power to the probe;
    상기 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부Sensing unit for measuring the electrical change value in the probe
    로 이루어진 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. Wire disconnection and short circuit inspection apparatus using a contact-type single-side probe, characterized in that consisting of.
  10. 제 9항에 있어서, 상기 급전부는 교류전류원으로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. 10. The apparatus of claim 9, wherein the power supply unit comprises an alternating current source, and the sensing unit measures a voltage change value.
  11. 제 9항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지며, 상기 감지부는 상기 교류전압원과 상기 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. The contact type single side probe of claim 9, wherein the power supply unit comprises an AC voltage source for applying an AC voltage, and the sensing unit measures a current change value flowing between the AC voltage source and the probe. Device for disconnection and short circuit of used conductors.
  12. 제 9항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 상기 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. 10. The contact type single side probe of claim 9, wherein the power supply unit comprises an AC voltage source for applying an AC voltage and an impedance element interposed between the probes and the sensing unit measures a voltage change value. Wire disconnection and short circuit inspection device using.
  13. 제 12항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 커패시터인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. 13. The apparatus of claim 12, wherein the impedance element is a capacitor.
  14. 제 12항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 저항인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. 13. The apparatus of claim 12, wherein the impedance element is a resistor.
  15. 제 12항 내지 제 14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 용량 가변형인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치. 15. The disconnection and short circuit inspection apparatus according to any one of claims 12 to 14, wherein the impedance element is of a variable capacitance type.
  16. 접지기판을 구비하고 상기 접지기판 위에 놓인 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서,In the disconnection and short-circuit inspection device of the wire using a contact type single-side probe having a ground board and contacting one end of the conductor on the ground board with a probe to input AC power and measure the electrical change value at the probe,
    동일한 길이를 갖는 다수개의 도선 각각의 일단에 상기 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 상기 싱글사이드 프로브에서 전기적 변화값을 측정하여 도선의 단선과 단락을 검사하는 것After contacting the single-side probe with one end of each of the plurality of conductors having the same length and applying AC power, measuring the electrical change value in the single-side probe and checking the disconnection and short circuit of the conductor.
    을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법. Wire disconnection and short circuit inspection method using a contact-type single-side probe characterized in that.
  17. 제 16항에 있어서, 상기에서 측정되는 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고, 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법. 17. The disconnection of a wire using a contact single-side probe according to claim 16, wherein the measured electrical change value is determined to be disconnected when the amplitude increases when the electrical change value is a voltage, and is shorted when the electrical change value decreases. And short circuit inspection method.
  18. 제 16항에 있어서, 상기에서 측정되는 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고, 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법. 17. The disconnection of a wire using a contact single-side probe according to claim 16, wherein the measured electrical change value is determined to be disconnected when the amplitude decreases when the current decreases, and when it is increased, the short circuit occurs. And short circuit inspection method.
  19. 접지기판을 구비하고 상기 접지기판 위에 놓인 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서,In the disconnection and short-circuit inspection device of the wire using a contact type single-side probe having a ground board and contacting one end of the conductor on the ground board with a probe to input AC power and measure the electrical change value at the probe,
    회로기판에 형성된 길이가 서로 다른 다수개의 도선 각각의 일단에 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 도선별로 상기 싱글 사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 저장한 후 동일한 패턴을 갖는 다른 회로기판에서 동일한 순서로 측정하여 저장된 전기적 변화값과 비교하여 해당 도선의 단선과 단락을 검사하는 것Applying AC power by contacting single-side probes with one end of each of the plurality of conductors of different lengths formed on the circuit board, and storing the electrical change values measured by the single-side probes for each of the conductors, and then having another circuit board having the same pattern. For checking the disconnection and short circuit of the conductor in comparison with the stored electrical changes measured in the same order
    을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법. Wire disconnection and short circuit inspection method using a contact-type single-side probe characterized in that.
  20. 제 19항에 있어서, 상기에서 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고, 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법. 20. The method of claim 19, wherein when the electrical change value is a voltage, it is determined that the circuit is disconnected when the amplitude increases, and when it decreases, the circuit is short-circuited and short-circuited using the contact type single-side probe. method of inspection.
  21. 제 19항에 있어서, 상기에서 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고, 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법. 20. The method of claim 19, wherein when the electrical change value is the current, it is determined that the circuit is disconnected when the amplitude decreases, and when the electrical change value increases, the circuit is disconnected and short-circuited using the contact single-side probe. method of inspection.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101416882B1 (en) * 2013-02-28 2014-07-09 양 전자시스템 주식회사 Probe pin contact check system of probe test apparatus

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