KR20070101389A - Interposer - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은, 예를 들어, 대향 배치된 전자 부품의 전극 사이에 형성되고, 양 전극 사이의 전기적인 접속을 확보하는 중계 기판에 관한 것으로, 특히, 간단한 구성으로 용이하게 제조할 수 있는 중계 기판에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a relay substrate formed between, for example, electrodes of oppositely disposed electronic components, and to secure an electrical connection between both electrodes, and particularly to a relay substrate that can be easily manufactured with a simple configuration. It is about.
최근, 반도체 집적 회로 (IC) 의 다기능화 및 고성능화에 수반하여, 반도체 베어칩이 밀봉된 IC 패키지 (이하, 적절하게 「패키지」라고 한다) 의 입출력 핀의 수는 해마다 증가하는 경향에 있으며, 예를 들어, 상기 핀수가 1000 을 초과하는 것도 출현하기 시작하였다.In recent years, with the increase in the performance and performance of semiconductor integrated circuits (ICs), the number of input / output pins of IC packages (hereinafter, referred to as "packages") where semiconductor bare chips are sealed tends to increase year by year. For example, it has begun to emerge that the pin number exceeds 1000.
이를 위해, 입출력 핀의 타입은, 종래 패키지의 양 사이드나 사방으로부터 취출하는 방식에서, 패키지의 저면 전체로부터 취출하는 방식으로 변화되고 있고, 예를 들어, BGA (Ball Grid Array ; 구상 접촉 단자) 나 LGA (Land Grid Array ; 평판상 접촉자) 등의 다수의 핀 단자를 갖는 CSP (Chip Size Package) 로 불리는 반도체 디바이스가 개발되고 있다.For this purpose, the type of the input / output pins is changed from a method of taking out from both sides or four sides of the conventional package to a method of taking out from the entire bottom surface of the package. For example, BGA (Ball Grid Array; BACKGROUND OF THE INVENTION A semiconductor device called a Chip Size Package (CSP) having a large number of pin terminals, such as a land grid array (LGA), has been developed.
상기 BGA 등의 입출력 핀은, 상기 CSP 의 저면에 매트릭스 형상 (격자 형상 또는 기판 눈금 형상이라고도 한다) 으로 배열되어 있다. 이러한 패키지측의 BGA 와 기기 본체측의 마더 보드 등의 회로 기판에 형성된 전극과의 접속은, 예를 들어, 특허 문헌 1 에 나타내는 바와 같은 IC 소켓을 사용하여 행해진다.The input / output pins such as the BGA are arranged in a matrix shape (also referred to as a grid shape or a substrate scale shape) on the bottom surface of the CSP. The connection between such a BGA on the package side and an electrode formed on a circuit board such as a motherboard on the device main body side is performed using an IC socket as shown in Patent Document 1, for example.
특허 문헌 1 에 나타내는 IC 소켓은, IC 탑재부의 저면에 매트릭스 형상으로 형성된 다수의 스루홀 (관통 구멍) 을 가지고 있고, 각 스루홀의 내부에는 스프링체에 의해 진퇴할 수 있게 탄성 지지된 상태에 있는 콘택트 프로브를 갖는 슬리브가 형성되어 있다. 그리고, 상기 슬리브가 상기 회로 기재에 형성된 전극에 도통 접속되어 있다.The IC socket shown in patent document 1 has many through-holes (through-holes) formed in the matrix form in the bottom face of an IC mounting part, The contact which is elastically supported in the inside of each through-hole so that it can advance and retract by a spring body. A sleeve with a probe is formed. The sleeve is electrically connected to an electrode formed on the circuit substrate.
상기 패키지가 위치 결정된 상태에서 상기 IC 소켓 내에 장착하면, 패키지의 각 BGA 가 각 콘택트 프로브의 선단에 맞닿아 눌려 내려간다. 이때, 상기 각 콘택트 프로브의 접촉부가 상기 회로 기판측의 각 전극에 접촉되므로, 상기 패키지측의 각 BGA 와 상기 회로 기판측의 각 전극 사이가 상기 각 슬리브 내의 스프링체 및 콘택트 프로브의 접촉부를 개재하여 전기적으로 접속되고 있다.When the package is mounted in the IC socket in the positioned state, each BGA of the package is pressed against the tip of each contact probe. At this time, since the contact portion of each of the contact probes is in contact with each electrode on the circuit board side, the contact between each BGA on the package side and each electrode on the circuit board side is interposed between the spring body in the sleeve and the contact portion of the contact probe. It is electrically connected.
또한, 이 점에서 상기 IC 소켓은, 패키지측의 각 BGA 와 상기 회로 기판측의 각 전극을 도통 접속시키는 중계 기판 (인터 포저) 으로서 기능하고 있다.In this respect, the IC socket functions as a relay substrate (interposer) for electrically connecting the respective BGAs on the package side and the electrodes on the circuit board side.
특허 문헌 1 : 일본 공개특허공보 2002-357622호 Patent Document 1: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-357622
그러나, 상기 특허 문헌 1 에 나타내는 것에서는, IC 탑재부의 저면에 다수의 스루홀을 고정밀도로 위치 결정하여 개공 (開孔) 해야 한다는 문제가 있다.However, in the said patent document 1, there exists a problem that a large number of through-holes need to be positioned with high precision in the bottom face of an IC mounting part, and it needs to open.
게다가, 상기 스루홀 내에 콘택트 프로브를 스프링체와 함께 진퇴할 수 있도록 형성할 필요가 있다는 점에서, 소켓의 구조가 복잡화됨과 함께, IC 탑재부가 대형화된다는 문제도 있다.In addition, since the contact probe needs to be formed in the through hole so as to be able to advance and retract with the spring body, the socket structure is complicated and there is also a problem that the IC mounting portion is enlarged.
또, 소켓을 고정하기 위한 스페이스를 상기 회로 기판 상에 확보할 필요가 있으므로, 회로 기판, 즉, 기기 본체 자체를 소형화하기 어렵다. 또, 회로 기판에 실장되는 부품 점수를 늘리려고 할 경우에, 상기 스페이스가 이것을 방해하게 된다는 문제도 있다.In addition, since it is necessary to secure a space for fixing the socket on the circuit board, it is difficult to miniaturize the circuit board, that is, the device main body itself. In addition, when trying to increase the number of parts mounted on the circuit board, there is a problem that the space interferes with this.
그런데, 반도체 베어칩의 전극 간의 피치 간격은, 이것을 밀봉한 IC 패키지의 전극 간의 피치 간격보다 더욱 좁으므로, 반도체 베어칩의 전극 간 거리를 넓힌 상태에서 상기 IC 패키지의 전극에 접속시키는 재배선 기술이 필요하다. 그러나, 종래에는 다층 기판의 기술을 사용함으로써, 양자 간의 전극을 재배선하는 구성이었으므로, 복잡한 공정과 제조 비용의 상승이라는 문제를 가지고 있었다.By the way, since the pitch spacing between electrodes of a semiconductor bare chip is narrower than the pitch spacing between electrodes of the IC package which sealed this, the rewiring technique which connects to the electrode of the said IC package in the state which extended the distance between electrodes of a semiconductor bare chip is need. However, in the related art, since the structure of the electrodes is rearranged by using the technique of the multilayer substrate, there is a problem of complicated process and increase of manufacturing cost.
본 발명은, 상기 종래의 과제를 해결하기 위한 것으로, 간단 또한 용이한 구성으로 전자 부품의 전극 간의 전기적인 접속을 할 수 있도록 한 중계 기판을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object thereof is to provide a relay substrate which enables electrical connection between electrodes of an electronic component with a simple and easy configuration.
또, 본 발명은, 스루홀을 형성하지 않고, 서로 대향하는 다수의 전극 간의 접속을 행할 수 있도록 한 중계 기판을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.Moreover, an object of this invention is to provide the relay board which can connect the many electrode which mutually opposes, without forming a through hole.
또한, 본 발명은, 피치 간격이 상이한 전극 간의 전기적인 접속을 용이하게 행할 수 있도록 한 중계 기판을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a relay substrate which enables easy electrical connection between electrodes having different pitch intervals.
본 발명은, 폭 방향의 중심에서 되접어 꺾인 영역을 구비한 기재와, 이 기재의 표면에서 또한 상기 폭 방향의 일단측과 타단측으로 나누어져 배치 형성된 복수의 접점을 가지고, The present invention has a substrate having a region folded back at the center in the width direction, and a plurality of contacts formed on the surface of the substrate and divided into one end side and the other end side in the width direction,
상기 일단측과 타단측의 적어도 일방의 접점이 탄성 접점으로 형성되어 있고, 또한 상기 일단측에 형성된 접점과 상기 타단측에 형성된 접점 사이가 도전성의 연결선으로 연결되어 있는 것을 특징으로 한다.At least one contact point on the one end side and the other end side is formed of an elastic contact, and a contact between the contact point formed on the one end side and the contact point formed on the other end side is connected by a conductive connecting line.
상기에 있어서, 상기 기재는, 상기 접점이 노출되는 표면을 외측으로 향한 상태에서 상기 되접어 꺾인 영역에 있어서 바깥쪽으로 접혀서 절곡되어 있고, 서로 대향하는 상기 기재의 이면 사이에 스페이서가 형성되어 있는 것이 바람직하다.In the above, the base material is preferably folded outward in the folded region in a state in which the surface where the contact is exposed is facing outward, and a spacer is formed between the back surfaces of the base materials facing each other. Do.
또, 상기 스페이서가, 절연성 재료 또는 도전성을 갖는 재료로 형성되어 있는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the said spacer is formed with the insulating material or the material which has electroconductivity.
본 발명에서는, 중계 기판에 스루홀을 형성하지 않고, 일방의 면측에 위치하는 접점과 타방의 면측에 위치하는 접점을 전기적으로 연결하는 구성으로, 양자를 연결하는 연결선을 도금 등의 기술을 사용하여 상기 접점과 일체로 형성할 수 있으므로, 제조가 용이하고, 게다가 제조 비용을 저감시킬 수 있다.In the present invention, the contact substrate located on one surface side and the contact located on the other surface side are electrically connected without forming a through hole in the relay substrate. Since it can be formed integrally with the said contact, manufacture is easy and manufacturing cost can be reduced further.
또, 스페이서를 선택하는 것만으로, 중계 기판의 판 두께 치수를 자유롭게 조정할 수 있다. 따라서, 소형 박형의 중계 기판 (10) 으로 할 수 있다.Moreover, the board thickness dimension of a relay board can be adjusted freely only by selecting a spacer. Therefore, it can be set as the small
또, 본 발명은, 폭 방향의 중심에서 되접어 꺾인 영역을 구비한 기재와, 이 기재의 표면에서 또한 상기 폭 방향의 일단측과 타단측으로 나누어져 배치 형성된 복수의 접점과, 상기 일단측에 형성된 접점과 상기 타단측에 형성된 접점 사이를 연결하는 도전성의 연결선과, 상기 접점이 노출되는 표면을 외측으로 향한 상태에서 상기 되접어 꺾인 영역에 있어서 바깥쪽으로 접혀서 절곡된 상기 기재의 이면 사이에 형성된 스페이서를 갖는 중계 기판으로서, 상기 스페이서가 탄성 변형될 수 있는 연질의 재료로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 것이다.Moreover, this invention is a base material provided with the area | region which was folded back in the center of the width direction, the some contact formed by being divided into the one end side and the other end side of the said width direction in the surface of this base material, and the said one end side formed A spacer formed between a conductive connecting line connecting between the contact point and the contact point formed on the other end side, and the back surface of the base material that is folded outwardly in the folded area in a state in which the contact surface is exposed outward; A relay substrate having, wherein the spacer is formed of a soft material which can be elastically deformed.
상기 발명에서는, 스페이서가 탄성 변형하기 때문에, 전체적으로 탄성 접점을 갖는 중계 기판으로 할 수 있다.In the said invention, since a spacer elastically deforms, it can be set as the relay substrate which has an elastic contact as a whole.
상기에 있어서는, 예를 들어, 상기 일단측에 형성된 접점의 배열 순서와 상기 타단측에 형성된 접점의 배열 순서가 동일한 순서인 구성으로 할 수 있다.In the above, for example, the arrangement order of the contacts formed on the one end side and the arrangement order of the contacts formed on the other end side can be the same order.
또, 상기 일단측에 형성된 접점 사이의 피치 치수와, 상기 타단측에 형성된 접점 간의 피치 치수가 상이한 치수로 형성되어 있는 구성으로 할 수도 있다.Moreover, the pitch dimension between the contact formed in the said one end side, and the pitch dimension between the contact formed in the said other end side can also be set as the structure formed in a different dimension.
상기 수단에서는, IC 패키지 내의 재배선을 용이하게 또한 염가로 할 수 있다.In the above means, the rewiring in the IC package can be easily and inexpensively.
또, 상기 기재가, 가요성 시트로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 중계 기판이다.Moreover, the said base material is formed from the flexible sheet, It is the relay substrate in any one of Claims 1-6 characterized by the above-mentioned.
상기 수단에서는, 한 장의 기재 시트로 용이하게 중계 기판을 형성할 수 있게 된다.In the above means, the relay substrate can be easily formed from one base sheet.
상기에 있어서, 상기 기재에 형성된 탄성 접점은, 외주측의 기부에 형성된 감김 시단으로부터 중심측의 감김 종단을 향하여 소용돌이 형상으로 연장되는 스파이럴 접촉자이고, 이 경우, 상기 스파이럴 접촉자는 상기 감김 시단으로부터 상기 감김 종단을 향하여 입체적으로 돌출되는 산 형상인 것이 바람직하다.In the above, the elastic contact formed on the base material is a spiral contact extending in a spiral shape from the winding start end formed on the base on the outer circumferential side toward the winding end on the center side, in which case the spiral contact is wound from the winding start end. It is preferable that it is a mountain shape which protrudes three-dimensionally toward the terminal.
본 발명에서는, 기판 내에 스루홀을 형성할 필요가 없기 때문에 간단하고 또한 용이한 중계 기판으로 할 수 있다. 또, 스페이서를 변경함으로써, 중계 기판의 판 두께 치수를 자유롭게 조정할 수 있다. 이 때문에, 박형의 중계 기판을 제공하는 것을 용이하게 할 수 있다.In this invention, since it is not necessary to form a through hole in a board | substrate, it can be set as a simple and easy relay board | substrate. Moreover, by changing a spacer, the plate | board thickness dimension of a relay board can be adjusted freely. For this reason, it is easy to provide a thin relay substrate.
또, 중계 기판에 형성되는 접점 간의 거리를 변경하는 것만으로 피치 치수를 조정 할 수 있으므로, IC 패키지의 재배선을 용이하게 행할 수 있다.In addition, since the pitch dimension can be adjusted simply by changing the distance between the contacts formed on the relay substrate, the IC package can be easily rewired.
도 1A 는 본 발명의 실시형태로서의 중계 기판을 일 방향에서 본 외관 사시도이다.1A is an external perspective view of a relay substrate as an embodiment of the present invention seen in one direction.
도 1B 는 중계 기판을 역방향에서 본 외관 사시도이다.1B is an external perspective view of the relay substrate viewed from the reverse side.
도 2 는 중계 기판의 분해 사시도이다.2 is an exploded perspective view of the relay substrate.
도 3 은 탄성 접점의 일례로서의 스파이럴 접촉자를 나타내는 사시도이다.3 is a perspective view showing a spiral contact as an example of an elastic contact.
도 4 는 중계 기판의 사용예를 나타냄과 함께 도 1A 의 4 - 4 선에 있어서의 단면도이다. 4 is a cross-sectional view taken along line 4-4 of FIG. 1A while showing an example of use of the relay substrate.
〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉 <Explanation of symbols for main parts of drawing>
10 : 중계 기판 11 : 스페이서 (기대) 10: relay substrate 11: spacer (expected)
11a : 만곡면 12 : 기재 시트 11a: curved surface 12: base sheet
12a : 구멍12a: hole
14A, 14B : 통상의 접점14A, 14B: Normal Contact
15a, 15b : 연결선 (패턴선) 15a, 15b: connecting line (pattern line)
20A, 20B : 탄성 접점 (접점) 20A, 20B: elastic contact (contact)
21 : 스파이럴 접촉자 21a : 기부21:
21b : 탄성 변형부 21b1 : 감김 시단 21b: elastic deformation portion 21b1: winding start
21b2 : 감김 종단 30 : 기기 본체 21b2: winding end 30: device body
31 : 장전부 32, 33 : 전극 31: loading
34 : 수납 영역 36 : 접속 수단 34: storage area 36: connection means
40 : 전자 부품 41, 42 : 전극부 40:
A : 탄성 접점 형성 영역 A: elastic contact forming area
B : 접점 형성 영역B: contact forming area
C : 되접어 꺾인 영역C: folded area
W1 : 탄성 접점 간의 전극 간 거리(피치 치수) W1: Distance between electrodes between elastic contacts (pitch dimension)
W2 : 통상의 접점 간의 전극 간 거리 (피치 치수) W2: distance between electrodes between normal contacts (pitch dimensions)
도 1 은, 본 발명의 실시형태로서의 중계 기판을 나타내는 외관 사시도이고, 도 1A 는, 중계 기판을 일 방향에서 보았을 경우, 도 1B 는, 중계 기판을 역방향에서 보았을 경우, 도 2 는, 도 1 에 나타내는 중계 기판의 분해 사시도, 도 3 은, 탄성 접점의 일례로서의 스파이럴 접촉자를 나타내는 사시도, 도 4 는, 중계 기판의 사용예를 나타냄과 함께, 도 1A 의 4 - 4 선에 있어서의 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is an external perspective view showing a relay board as an embodiment of the present invention, and when Fig. 1A is viewed from one direction, Fig. 1B is viewed from a reverse direction. The exploded perspective view of the relay board shown, FIG. 3 is a perspective view which shows the spiral contact as an example of an elastic contact, FIG. 4 is sectional drawing in the 4-4 line | wire of FIG. 1A, showing the example of use of a relay board.
도 1A, B 에 나타내는 바와 같이, 중계 기판 (10) 은 도시 Y1 및 Y2 방향을 향하여 직선적으로 연장된 바 형상을 하고 있다. 중계 기판 (10) 은 기대 (基臺) 로서 기능하는 스페이서 (11) 와, 이 스페이서 (11) 의 표면에 부착된 기재 시트 (기재 ; 12) 를 가지고 있다.As shown to FIG. 1A, B, the
상기 스페이서 (11) 가 바 형상으로 형성되어 있고, 적어도 폭 (X) 방향의 일방의 측면에는 원호 형상의 만곡면 (11a) 이 형성되어 있다. 상기 스페이서 (11) 를 형성하는 재료로는, 예를 들어, 절연성의 경질 기판 (유리 에폭시), 또는 도전성의 금속재료, 또는 천연 고무, 합성 고무, 엘라스토머 등 탄성 변형될 수 있는 연질인 재료 등, 사용의 목적에 맞는 재료를 선택할 수 있다. 또한, 본 실시형태에서는 절연성의 경질 기판으로 형성되어 있다.The said
상기 기재 시트 (12) 는, 예를 들어, 폴리이미드 시트 등 절연성 및 가요성을 갖는 박모 (薄毛) 인 것이 바람직하다. 상기 기재 시트 (12) 의 표면에는, 규칙적으로 배열된 복수의 접점이 형성되어 있다.It is preferable that the said
도 1A 에 나타내는 상기 중계 기판 (10) 의 일방의 면 (10A) 에는, Y 방향을 향하여 2 열로 배열된 복수의 탄성 접점 (접점 ; 20A, 20B) 이 형성되어 있다. 도 2 에 나타내는 바와 같이, 일방의 탄성 접점 (20A) 은, 상기 기재 시트 (12) 의 표면에서, 또한 폭 방향 (X 방향) 의 외측 (X1 측) 에 위치하는 가상선 (Ya) 을 따라 도시 Y 방향으로 소정의 간격 (L) 으로 배열 형성되어 있고, 타방의 탄성 접점 (20B) 은 동일하게 내측 (X2 측) 에 위치하는 가상선 (Yb) 을 따라 상기 간격 (L) 으로 병설되어 있다. 도 1A 에 나타내는 바와 같이, 상기 가상선 (Ya) 과 상기 가상선 (Yb) 사이에는 소정의 전극 간 거리 (피치 치수)(W1) 가 형성되어 있고, X 방향으로 서로 이웃하는 탄성 접점 (20A) 과 탄성 접점 (20B) 이 쌍을 이루고 있다. 또한, 상기 탄성 접점 (20A, 20B) 이 형성되어 있는 영역이 탄성 접점 형성 영역 (A) 이다.On one
또, 도 1B 에 나타내는 상기 중계 기판 (10) 의 타방의 면 (1OB) 에는, Y 방향을 향하여 2 열로 배열된 복수의 접점 (14A, 14B) 이 형성되어 있다. 도 2 에 나타내는 복수의 접점 (14A, 14B) 은 상기 탄성 접점 (20A, 20B) 이외의 통상적인 접점 (선단이 볼록 형상으로 돌출된 고정 접점) 이고, 상기 기재 시트 (12) 상의 상기 탄성 접점 (20A, 20B) 이 형성되어 있는 면과 동일한 표면 상에 형성되어 있다. 도 1B 에 나타내는 바와 같이, 일방의 접점 (14A) 은, 상기 기재 시트 (12) 의 폭 방향 (X 방향) 의 외측 (X2 측) 에 위치하는 가상선 (Yc) 을 따라 도시된 Y 방향으로 상기 간격 (L) 으로 병설되어 있고, 타방의 접점 (14B) 은 내측에 (X1 측) 에 위치하는 가상선 (Yd) 을 따라 상기 간격 (L) 으로 병설되어 있다. 상기 가상선 (Yc) 과 상기 가상선 (Yd) 사이에도 소정의 전극 간 거리 (피치 치수) W2 (≥ W1 > 0) 가 형성되어 있고, X 방향에서 서로 이웃하는 접점 (14A) 과 접점 (14B) 이 쌍을 이루고 있다. 또한, 상기 접점 (14A, 14B) 이 형성되어 있는 영역이 접점 형성 영역 (B) 이다.In addition, on the other surface 1OB of the
도 1A, B 및 도 2 에 나타내는 바와 같이, 상기 탄성 접점 형성 영역 (A) 의 외측에 위치하는 탄성 접점 (20A) 과 상기 접점 형성 영역 (B) 의 외측에 위치하는 접점 (14A) 은, 예를 들어, 금, 은 또는 구리 등의 도전성 재료로 형성된 박막 형상의 연결선 (패턴선 ; 15a) 에 의해 연결되어 있고, 동일하게 상기 탄성 접점 형성 영역 (A) 의 내측에 위치하는 탄성 접점 (20B) 과 상기 접점 형성 영역 (B) 의 내측에 위치하는 접점 (14B) 이 박막 형상의 연결선 (패턴선 ; 15b) 에 의해 연결되어 있다.As shown to FIG. 1A, B and FIG. 2, the
본 실시형태에 나타내는 상기 탄성 접점 (20A, 20B) 은, 예를 들어, 나선 형상 또는 소용돌이 형상을 한 스파이럴 접촉자 (21, 21) 이다. 도 3 에 나타내 는 바와 같이, 기재 시트 (12) 상의 상기 스파이럴 접촉자 (21, 21) 가 형성되어야 할 위치에는, 상기 기재 시트 (12) 를 관통하는 복수의 구멍 (12a, 12a) 이 형성되어 있다. 그리고, 이 구멍 (12a, 12a) 의 근방에는, 바 형상으로 이루어지는 기부 (21a, 21a) 가 상기 연결선 (15a, 15b) 으로부터 연장됨으로써 형성되어 있다.The
상기 기부 (21a) 에는, 상기 구멍 (12a) 의 중심을 향하여 나선 형상 또는 소용돌이 형상으로 연장되는 탄성 변형부 (21b) 가 형성되어 있다. 상기 탄성 변형부 (21b) 는, 상기 기부 (21a) 측이 감김 시단 (21b1) 이고, 선단이 감김 종단 (21b2) 이다.The
도 3 에 나타내는 바와 같이, 상기 스파이럴 접촉자 (21) 는, 상기 감김 시단 (21b1) 으로부터 상기 감김 종단 (21b2) 측으로 향함에 따라 서서히 도시 Z1 방향으로 돌출되어 있고, 전체적으로 산 형상 또는 볼록 형상을 하고 있다. 상기 스파이럴 접촉자 (21) 는, 상기 탄성 변형부 (21b) 가 상기 감김 시단 (21b1) 측을 지지점으로서 상기 도시 Z1 방향으로 탄성 변형될 수 있는 상태에서 상기 기부 (21a) 에 대해 외팔보 지지되고 있다. 이 때문에, 상기 탄성 변형부 (21b) 는 전체적으로 도시 Z1 및 Z2 방향으로 탄성 변형될 수 있는 상태에 있다.As shown in FIG. 3, the
또한, 상기 스파이럴 접촉자 (21) 로 이루어지는 탄성 접점 (20A, 20B), 접점 (14A, 14B), 연결선 (15a, 15b) 은, 모두 상기 기재 시트 (12) 의 일방의 면 (표면) 에 형성해 둘 수 있다. 이 때문에, 예를 들어, 도금 처리, 또는 금속박에 대한 에칭 처리 등의 기술을 사용함으로써 일체로 형성될 수 있다. 이 때문 에, 간단하게 또한 용이하게 제조할 수 있음과 함께 제조 비용을 염가로 할 수 있다.The
이어서, 상기 중계 기판 (10) 의 조립 방법에 대해서 설명한다.Next, the assembly method of the said
도 3 에 나타내는 바와 같이, 상기 기재 시트 (12) 의 폭 방향 (X 방향) 의 중앙의 위치, 즉, 일단 (X1) 측에 형성된 상기 탄성 접점 형성 영역 (A) 과 타단 (X2) 측에 형성된 상기 접점 형성 영역 (B) 사이에는 되접어 꺾인 영역 (C) 이 형성되어 있다. As shown in FIG. 3, it is formed in the position of the center of the width direction (X direction) of the said
상기 중계 기판 (10) 은, 상기와 같은 기재 시트 (12) 의 표면 (접점 (20A, 14A) 등이 노출되는 측) 을 외측으로 향한 상태에서, 상기 되접어 꺾인 영역 (C) 에 있어서 바깥쪽으로 접혀서 되접어 꺾는다.The
그리고, 상기 기재 시트 (12) 의 이면 사이 (탄성 접점 형성 영역 (A) 의 이면과 접점 형성 영역 (B) 의 이면 사이) 에 상기 스페이서 (11) 를 개재시키고, 접착제를 사용하여 상기 스페이서 (11) 의 표면에 상기 기재 시트 (12) 의 이면을 접착 고정시킨다. 이때, 상기 스페이서 (11) 의 만곡면 (11a) 을 상기 뒤접어 꺾은 영역 (C) 의 이면에 대향시킨 상태에서 상기 기재 시트 (12) 의 이면 사이에 개재시킴으로써, 도 1A, B 에 나타내는 바와 같은 중계 기판 (10) 으로 할 수 있다. 이와 같이, 되접어 꺾인 영역 (C) 을 만곡면 (11a) 을 따르게 하여 접착시키면, 상기 연결선 (15a, 15b) 에 단선 등의 문제가 발생하는 것을 미연에 방지할 수 있다.Then, the
상기 실시형태에 나타내는 중계 기판 (1O) 은, 전자 부품의 전극과 전기적인 접속을 확보하는 것으로서, 예를 들어, 기기 본체 측에 형성된 전극과, 이 기기 본체에 자유롭게 착탈할 수 있는 상태에 있는 메모리 카드의 표면에 노출 형성된 전극을 접속하기 위하여 접점 전극으로 하고, 또는 복수의 중계 기판 (10) 을 배열하여 배치시킴으로써, IC 패키지의 저면에 배치된 BGA 나 LGA 등의 전극과 접속되므로, 접점 전극으로서 이용할 수 있다.The
여기서, 이하에는 상기 중계 기판 (10) 을 사용한 사용예에 대해서 설명한다.Here, the use example using the said
도 4 에 나타내는 사용예에서는, 상기 중계 기판 (10) 이, 예를 들어, 휴대전화기 등의 기기 본체 (30) 에 형성된 오목 형상의 장전부 (31) 내에 장전되어 있다. 상기 장전부 (31) 의 저면 (31a) 에는, 상기 복수의 접점 (14A, 14B) 에 대향하는 복수의 전극 (32, 33) 이 형성되어 있고, 중계 기판 (10) 의 접점 (14A, 14B) 과 상기 장전부 (31) 의 전극 (32, 33) 이 땜납 또는 도전성 접착제 등의 접속 수단 (36) 를 개재하여 도통 상태에서 고정되어 있다.In the use example shown in FIG. 4, the said
상기 장전부 (31) 의 상방은, 예를 들어, 소형의 메모리 카드 등의 전자 부품 (40) 의 수납 영역 (34) 으로 되어 있다. 도 4 에 나타내는 바와 같이, 전자 부품 (40) 을, 그 전극부 (41, 42) 를 하향으로 한 상태에서 상기 수납 영역 (34) 에 장착한다. 그리고, 도시하지 않는 뚜껑체로 상기 수납 영역 (34) 을 닫으면, 상기 수납 영역 (34) 과 상기 뚜껑체 사이에 전자 부품 (40) 을 유지할 수 있다.The upper portion of the charging
전자 부품 (40) 이 유지되고 있는 상태에서는, 상기 뚜껑체에 의해 상기 전 자 부품 (40) 은 도시 Z2 방향으로 소정의 가압력 (F) 으로 가압되고 있기 때문에, 상기 중계 기판 (10) 의 스파이럴 접촉자 (21) 로 이루어지는 탄성 접점 (20A, 20B) 은, 상기 전자 부품 (40) 의 전극부 (41, 42) 에 맞닿음과 함께, 수축되는 방향으로 탄성 변형된 상태로 설정된다.In the state where the
이 때문에, 상기 전자 부품 (40) 의 전극부 (41, 42) 와 상기 기기 본체 (30) 측의 전극 (32, 33) 을, 각각 탄성 접점 (20A, 20B), 연결선 (15a, 15b) 및 접점 (14A, 14B) 을 개재하여 전기적으로 도통 접속시킬 수 있다.For this reason, the
게다가, 본 실시형태에 사용되는 상기 탄성 접점 (20A, 20B) 을 형성하는 스파이럴 접촉자 (21) 는, 그 돌출량 (기부 (21a) 로부터 감김 시단 (21b2) 까지의 높이 치수)(h) 을, 상기 종래의 콘택트 핀 등과 비교하여 작게 설정할 수 있다. 또한, 상기 스페이서 (11) 는, 제조시에 있어서 그 판 두께 치수 (H) 를 자유롭게 선택할 수 있다. 이 때문에, 얇은 판 두께 치수 (H) 로 이루어지는 스페이서 (11) 를 선택함으로써, 박형의 중계 기판 (10) 으로 할 수 있다.In addition, the
또, 외측에 형성된 탄성 접점 (20A) 의 하방에, 동일하게 외측에 형성된 접점 (14A) 이 위치하여 대응되고, 또한 내측에 형성된 탄성 접점 (20B) 의 하방에 동일하게 내측에 형성된 접점 (14B) 이 위치하는 구성, 즉 상기 일단 (탄성 접점 형성 영역 (A)) 측에 형성된 탄성 접점 (20A, 20B) 의 배열 순서와, 상기 타단 (접점 형성 영역 (B)) 측에 형성된 접점 (14A, 14B) 의 배열 순서가, 동일한 순서로 되도록 배치 형성되어 있다. 이 때문에, 상기 전자 부품 (40) 의 전극부 (41, 42) 와 상기 기기 본체 (30) 측의 전극 (32, 33) 을 대응시킬 수 있고, 각 전극은 위치의 순서를 틀리는 일 없이 올바른 상태로 확실하게 접속시킬 수 있다.Moreover, the
또한, 이러한 중계 기판 (10) 을 소켓 내에 복수 배열하여 배치함으로써, IC 패키지의 저면에 배치된 BGA 나 LGA 등의 전극과 접속시키는 경우에는, 상기 스파이럴 접촉자 (21) 의 개개의 접점압은 작기 때문에, 상기 종래의 콘택트 핀 등을 사용하는 경우와 비교하여, 매우 작은 가압력 (F) 으로 상기 IC 패키지를 유지할 수 있다. 또는, 상기 IC 패키지를, 종래와 동일하게 큰 가압력 (F) 을 가해 유지한 경우에 있어서는, IC 패키지의 개개의 전극에 작용하는 부하 (탄성 접점 (20A, 20B) 에 의한 접점압) 를 경감시킬 수 있다.In addition, when the
또, 상기 중계 기판 (10) 에서는, 상기 탄성 접점 형성 영역 (A) 측의 전극간 거리 (W1) 와 상기 접점 형성 영역 (B) 측의 전극 간 거리 (W2) 가 상이한 치수, 즉, 탄성 접점 형성 영역 (A) 측의 전극 간 거리 (W1) 와 비교하여 접점 형성 영역 (B) 측의 전극 간 거리 (W2) 가 넓게 형성되어 있다. 이 때문에, 예를 들어, 전극 간 거리가 좁은 베어칩과 이것을 유지하는 패키지측의 전극 사이의 접속에 상기 중계 기판 (10) 을 사용하면, 베어칩 사이의 전극 간 거리 (W1) 를 패키지측이 넓은 전극 간 거리 (W2) 로 넓히는 것, 즉, 재배선을 용이하게 실시할 수 있다. 게다가, 종래와 같이 다층 기판의 기술을 사용할 필요가 없으므로, 간단한 구성으로 재배선할 수 있다.In the
또, 예를 들어, 하나의 중계 기판 (10) 에 문제가 발생하였다 하더라도, 해당하는 중계 기판 (10) 만을 교환하면 되고, 소켓 전체를 교환할 필요는 없다. 이 때문에, 수리 공정을 간소화할 수 있음과 함께 수리 비용을 염가로 할 수 있다.For example, even if a problem arises in one
상기 실시형태에서는, 탄성 접점 및 접점의 열수로서 각각 길이 방향으로 2 열로 배열된 중계 기판 (10) 을 사용하여 설명했으나, 본 발명은 이것에 한정되는 것이 아니고, 탄성 접점 및 접점은 각각 1 열의 구성이어도 되고, 또, 3 열 이상의 구성이어도 된다.In the said embodiment, although demonstrated using the
또, 탄성 접점의 열수와 접점의 열수가 상이한 열수의 구성이어도 된다. 즉, 반드시 탄성 접점과 접점이 일대일로 대응되는 관계가 아니어도 되고, 예를 들어, 1 개의 탄성 접점에 대해서 2 개 이상의 접점이 상기 연결선 (15a) 또는 (15b) 로 연결되는 구성이어도 된다.Moreover, the structure of the thermal water from which the thermal water of an elastic contact and the thermal water of a contact differs may be sufficient. In other words, the contact between the elastic contact and the contact may not necessarily be one-to-one, and for example, two or more contacts may be connected to the
또, 상기 실시형태에서는, 접점 (14A, 14B) 이 볼록형 전극으로 형성되고, 기기 본체 (30) 측의 전극 (32, 33) 에 대해서 땜납 등으로 고정되는 구성으로서 설명했으나, 본 발명은 이것에 한정되는 것이 아니고, 상기 접점 (14A, 14B) 은 상기 동일한 스파이럴 접촉자로 이루어지는 탄성 접점이며, 기기측의 전극 (32, 33) 에 대해서 탄압 (彈壓) 에 의해 접속되는 구성이어도 된다.Moreover, in the said embodiment, although the
또한, 상기 실시형태에서는, 상기 탄성 접점 (20A, 20B) 의 한 구성으로서 스파이럴 접촉자를 사용하여 설명했으나, 상기 탄성 접점 (20A, 20B) 은 스파이럴 접촉자로 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 접점이 되는 선단부가 대략 U 자 형상으로 만곡 형성됨과 함께, 전체가 탄성적으로 변형될 수 있는 스프링 핀 (콘택트 핀), 스트레스드 메탈, 또는 나선형 스프링 등으로 이루어지는 탄성 접점으로 구성된 것이어도 되지만, 박형화를 도모할 수 있는 탄성 접점으로서는 상기와 같은 스파이럴 접촉자나 스트레스드 메탈이 바람직하다.In addition, in the said embodiment, although demonstrated using the spiral contact as one structure of the said
또한, 상기 실시형태에서는, 상기 스페이서 (11) 가 경질 기판이라고 하고, 또한, 상기 탄성 접점 형성 영역 (A) 의 내측에 위치하는 접점이 탄성 접점이고, 상기 접점 형성 영역 (B) 의 내측에 위치하는 접점이 탄성 접점 이외의 통상적인 접점 (14A, 14B) 인 경우에 대해서 설명했으나, 상기 스페이서 (11) 이 쿠션재 등 탄성이 우수한 재질의 부재로 형성되어 있는 경우에는, 상기 탄성 접점 형성 영역 (A) 및 상기 접점 형성 영역 (B) 의 쌍방이 상기 탄성 접점 이외의 통상적인 접점 (14A, 14B) 으로 형성되는 구성이어도 된다. 또한, 이 경우에도 상기 탄성 접점 형성 영역 (A) 또는 상기 접점 형성 영역 (B) 중 어느 한쪽이 탄성 접점인 양태를 배제하는 것은 아니다.In addition, in the said embodiment, the said
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