KR20070038798A - Extendable stacked semiconductor package and method of manufacturing the same - Google Patents
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Abstract
확장형 적층 반도체 패키지 및 이의 제조 방법이 개시되어 있다. 적층 반도체 패키지는 기판, 데이터 저장 칩들, 컨트롤 칩, 제1 입/출력부들 및 제2 입/출력부들을 포함한다. 기판은 회로패턴을 갖고, 데이터 저장 칩들은 복수개가 수직하게 적층 되며, 각각 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장 셀을 갖는다. 컨트롤 칩은 데이터 저장 칩의 상부에 배치되어 각 데이터 저장 칩들을 제어하기 위한 제어 신호를 발생한다. 제1 입/출력부들은 회로패턴, 데이터 저장 칩들 및 컨트롤 칩을 전기적으로 연결하여 제어신호에 대응하는 데이터를 회로패턴으로 전송하고, 제2 입/출력부들은 데이터 저장 칩들 및 컨트롤 칩을 전기적으로 연결하여 제어 신호를 데이터 저장 칩들로 인가한다.An expanded laminated semiconductor package and a method of manufacturing the same are disclosed. The stacked semiconductor package includes a substrate, data storage chips, a control chip, first input / output units and second input / output units. The substrate has a circuit pattern, and a plurality of data storage chips are vertically stacked, and each has a data storage cell for storing data. The control chip is disposed above the data storage chip to generate a control signal for controlling each data storage chip. The first input / output units electrically connect the circuit pattern, the data storage chips, and the control chip to transmit data corresponding to the control signal in the circuit pattern, and the second input / output units electrically connect the data storage chips and the control chip. And a control signal to the data storage chips.
Description
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 적층 반도체 패키지의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 적층 반도체 패키지의 제조 방법에 따른 데이터 저장 칩을 도시한 단면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a data storage chip according to a method of manufacturing a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 적층 반도체 패키지의 제조 방법에 따른 컨트롤 칩을 도시한 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a control chip according to a method of manufacturing a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
도 4는 도 2 및 도 3에 도시된 데이터 저장 칩 및 컨트롤 칩을 기판에 실장 하는 것을 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating mounting the data storage chip and the control chip illustrated in FIGS. 2 and 3 on a substrate.
도 5는 본 발명의 일실시예에 의한 적층 반도체 패키지의 컨트롤 칩 및 데이터 저장 칩을 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a control chip and a data storage chip of a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
본 발명은 메모리의 용량 확장이 용이한 적층형 반도체 패키지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다. 보다 구체적으로, 본 발명은 데이터 저장 용량을 확장할 수 있는 적층형 반도체 패키지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a stacked semiconductor package and a method of manufacturing the same, which are easy to expand the capacity of a memory. More specifically, the present invention relates to a stacked semiconductor package and a method of manufacturing the same that can expand the data storage capacity.
일반적으로, 반도체 제품(semiconductor device)은 실리콘 기판(silicon substrate) 상에 집적 회로(integrated circuit)를 갖는 반도체칩(semiconductor chip)을 제조하기 위한 반도체칩 제조 공정, 반도체칩을 전기적으로 검사하여 소팅(sorting)하기 위한 EDS(electrically die sorting) 공정 및 반도체칩을 보호하기 위한 패키지 공정에 의하여 제조된다.In general, a semiconductor device is a semiconductor chip manufacturing process for manufacturing a semiconductor chip having an integrated circuit on a silicon substrate, and electrically inspects and sorts the semiconductor chip. It is manufactured by an electrically die sorting (EDS) process for sorting) and a packaging process for protecting a semiconductor chip.
최근에는 반도체 제품의 집적도를 보다 향상시키기 위해, 칩 스케일 패키지(chip scale package, CSP), 적층 패키지(stacked package) 등이 개발된 바 있다.Recently, chip scale packages (CSPs), stacked packages, and the like have been developed to further improve the degree of integration of semiconductor products.
그러나, 대부분 반도체 패키지에 포함된 칩들은 각각 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장 셀 및 데이터 저장 셀의 주변에 배치되어 데이터의 입/출력을 제어하는 주변 회로부를 갖는다.However, most of the chips included in the semiconductor package each have a data storage cell for storing data and a peripheral circuit portion disposed around the data storage cell to control input / output of data.
한편, 반도체 패키지에 포함된 칩들은 데이터 저장 용량을 증가시키기 위해서는 데이터 저장 셀 및 주변 회로부를 가능한 작은 면적으로 새로 디자인 해야 하므로 개발에 있어 시간적, 공정적 문제점을 갖는다.On the other hand, the chips included in the semiconductor package have to be newly designed with the smallest possible area of the data storage cell and the peripheral circuit in order to increase the data storage capacity, there is a time and process problem in development.
본 발명의 실시예들은 데이터 저장 용량을 크게 증가시킨 적층 반도체 패키지를 제공한다.Embodiments of the present invention provide a stacked semiconductor package with a significant increase in data storage capacity.
본 발명의 실시예들은 상기 적층 반도체 패키지의 제조 방법을 제공한다.Embodiments of the present invention provide a method of manufacturing the multilayer semiconductor package.
이와 같은 본 발명의 하나의 목적을 구현하기 위한 적층 반도체 패키지는 기판, 데이터 저장 칩들, 컨트롤 칩, 제1 입/출력부들 및 제2 입/출력부들을 포함한 다. 기판은 회로패턴을 갖고, 데이터 저장 칩들은 복수개가 수직하게 적층 되며, 각각 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장 셀을 갖는다. 컨트롤 칩은 데이터 저장 칩의 상부에 배치되어 각 데이터 저장 칩들을 제어하기 위한 제어 신호를 발생한다. 제1 입/출력부들은 회로패턴, 데이터 저장 칩들 및 컨트롤 칩을 전기적으로 연결하여 제어신호에 대응하는 데이터를 회로패턴으로 전송하고, 제2 입/출력부들은 데이터 저장 칩들 및 컨트롤 칩을 전기적으로 연결하여 제어 신호를 데이터 저장 칩들로 인가한다.The stacked semiconductor package for implementing one object of the present invention includes a substrate, data storage chips, a control chip, first input / output units and second input / output units. The substrate has a circuit pattern, and a plurality of data storage chips are vertically stacked, and each has a data storage cell for storing data. The control chip is disposed above the data storage chip to generate a control signal for controlling each data storage chip. The first input / output units electrically connect the circuit pattern, the data storage chips, and the control chip to transmit data corresponding to the control signal in the circuit pattern, and the second input / output units electrically connect the data storage chips and the control chip. And a control signal to the data storage chips.
본 발명의 다른 목적을 구현하기 위한 적층 반도체 패키지의 제조 방법은 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장 셀 및 데이터를 입/출입하기 위한 제1 입/출력부 및 데이터 저장 셀을 제어하기 위한 제어 신호가 인가되는 제2 입/출력부를 갖는 복수개의 데이터 저장 칩을 각각 제조한다. 제어 신호를 발생하는 메모리 셀 어레이 제어 회로 및 제1 입/출력부와 대응하는 제1 제어신호 입/출력부 및 제2 입/출력부와 대응하는 제2 제어신호 입/출력부를 갖는 컨트롤 칩을 제조한다. 기판에 형성된 회로 패턴에 최하부 데이터 저장 칩의 제1 및 제2 입/출력부를 연결 및 각 데이터 저장 칩들이 제1 및 제2 입/출입부들을 상호 연결시켜 상기 데이터 저장 칩들을 수직 적층 한다. 이어서, 최상부 데이터 저장 칩의 제1 및 제2 입/출력부 및 컨트롤 칩의 제1 및 제1 제어신호 입/출력부 연결한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a multilayer semiconductor package, in which a data storage cell for storing data, a first input / output unit for inputting / exporting data, and a control signal for controlling the data storage cell are applied. A plurality of data storage chips each having a second input / output section is manufactured. A control chip having a memory cell array control circuit for generating a control signal and a first control signal input / output unit corresponding to the first input / output unit and a second control signal input / output unit corresponding to the second input / output unit; Manufacture. The data storage chips are vertically stacked by connecting the first and second input / output parts of the lowermost data storage chip to the circuit pattern formed on the substrate, and the data storage chips interconnecting the first and second input / output parts. The first and second input / output units of the uppermost data storage chip and the first and first control signal input / output units of the control chip are then connected.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들에 따른 적층 반도체 패키지 및 적층 반도체 패키지의 제조 방법에 대하여 상세하게 설명하지만, 본 발명이 하기의 실시예들에 제한되는 것은 아니며, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양한 다른 형태로 구현할 수 있을 것이다. 첨부된 도면에 있어서, 기판, 층(막), 영역, 패드, 패턴들 또는 구조물들 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 본 발명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패드, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상에", "상부에" 또는 "하부"에 형성되는 것으로 언급되는 경우에는 각 층(막), 영역, 패드, 패턴 또는 구조물들이 직접 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들 위에 형성되거나 아래에 위치하는 것을 의미하거나, 다른 층(막), 다른 영역, 다른 패드, 다른 패턴 또는 다른 구조물들이 기판 상에 추가적으로 형성될 수 있다. 또한, 각 층(막), 영역, 패드, 전극, 패턴 또는 구조물들이 "제1", "제2"," 제3" 및/또는 "제4"로 언급되는 경우, 이러한 부재들을 한정하기 위한 것이 아니라 단지 각 층(막), 영역, 패드, 패턴 또는 구조물들을 구분하기 위한 것이다. 따라서, "제1", "제2", "제3" 및/또는 "제4"는 각 층(막), 영역, 전극, 패드, 패턴 또는 구조물들에 대하여 각기 선택적으로 또는 교환적으로 사용될 수 있다.Hereinafter, a multilayer semiconductor package and a method of manufacturing the multilayer semiconductor package according to exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to the following embodiments, Those skilled in the art will be able to implement the present invention in various other forms without departing from the spirit of the present invention. In the accompanying drawings, the dimensions of the substrates, layers (films), regions, pads, patterns or structures are shown in greater detail than actual for clarity of the invention. In the present invention, each layer (film), region, pad, pattern or structures is formed to be "on", "top" or "bottom" of the substrate, each layer (film), region, pad or patterns. When mentioned, each layer (film), region, pad, pattern or structure is meant to be directly formed over or below the substrate, each layer (film), region, pad or patterns, or other layers (film), Other regions, different pads, different patterns or other structures may be additionally formed on the substrate. In addition, where each layer (film), region, pad, electrode, pattern or structure is referred to as "first", "second", "third" and / or "fourth", It is not merely to distinguish each layer (film), region, pad, pattern or structure. Thus, "first", "second", "third" and / or "fourth" may be used selectively or interchangeably for each layer (film), region, electrode, pad, pattern or structure, respectively. Can be.
적층 반도체 패키지Laminated Semiconductor Packages
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 적층 반도체 패키지의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 적층 반도체 패키지(100)는 기판(10), 데이터 저장 칩(20), 컨트롤 칩(30), 제1 입/출력부(40) 및 제2 입/출력부(50)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the
기판(10)은, 예를 들어, 인쇄회로기판(printed circuit board)일 수 있다. 본 실시예에서, 기판(10)은 복수개의 회로 패턴(12)들을 포함한다. 외부로부터 인가된 입력 신호는 회로 패턴(12)들을 통해 데이터 저장 칩(20) 또는 컨트롤 칩(30)으로 인가되고, 데이터 저장 칩(20)에 저장된 데이터는 회로 패턴(12)들을 통해 외부로 출력된다.The
데이터 저장 칩(20)은 웨이퍼(wafer)상에 형성되며, 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장 셀(22)을 포함한다. 구체적으로, 데이터 저장 칩(20)은 회로 패턴(12)을 통해 어드레스 신호(address signal)와 함께 인가된 데이터를 데이터 저장 셀(22)내에 저장한다. 어드레스 신호는, 예를 들어, 상세하게 후술될 컨트롤 칩(30)에 의하여 발생된 제어 신호에 의하여 데이터 저장 칩(20)으로 전달된다. 예를 들어, 데이터 저장 칩(20)에는 0 또는 1 상태로 데이터가 저장된다.The
컨트롤 칩(30)은, 예를 들어, 데이터 저장 칩(20)들의 최상부에 배치되며, 제어 신호를 발생하기 위한 메모리 셀 어레이 제어 회로(32)를 포함한다. 컨트롤 칩(30)은 각 데이터 저장 칩(20)과 전기적으로 연결된다. 각 데이터 저장 칩(20)에 전기적으로 연결된 컨트롤 칩(30)은 각 데이터 저장 칩(20)을 독립적으로 인식하며, 컨트롤 칩(30)에서 발생된 제어 신호에 의하여 어드레스 신호와 함께 전달된 데이터를 각 데이터 저장 칩(20)의 지정된 어드레스에 저장한다. 이와 다르게, 데이터 저장 칩(20)에 저장된 데이터는 컨트롤 칩(30)에서 발생된 제어 신호에 의하여 회로 패턴(12)을 통해 외부로 출력될 수 있다.The
제1 입/출력부(40)는 각 데이터 저장 칩(20)들에 배치된다. 제1 입/출력부(40)는 각 데이터 저장 칩(20)의 상면 및 하면에 각각 배치된다. 따라서, 기판(10) 에 근접한 데이터 저장 칩(20)의 하면에 배치된 제1 입/출력부(40)는 기판(10)의 회로 패턴(12)과 전기적으로 연결된다. 또한, 제1 입/출력부(40)는 각 데이터 저장 칩(20)들을 상호 전기적으로 연결한다. 또한, 컨트롤 칩(30)에 근접한 데이터 저장 칩(20)의 상면에 배치된 제1 입/출력부(40)는 컨트롤 칩(30)에 전기적으로 연결된다.The first input /
컨트롤 칩(30)으로부터 발생된 제어 신호에 따라 데이터 저장 칩(20)에 저장된 데이터는 제1 입/출력부(40)를 통해서 기판(10)의 회로패턴(12)으로 인가될 수 있다. 이와 다르게, 컨트롤 칩(30)으로부터 발생된 제어 신호에 따라 외부로부터 인가된 데이터는 제1 입/출력부(40)를 통해 지정된 데이터 저장 칩(20)의 지정된 어드레스에 저장될 수 있다. 본 실시예에서, 데이터 저장 칩(20)에 저장된 데이터를 입/출입하기 위해 컨트롤 칩(30)은 공통으로 사용된다.Data stored in the
본 실시예에서, 제1 입/출력부(40)는 각 데이터 저장 칩(20)들을 관통하여 형성된 관통-비아(through-via)일 수 있다.In the present embodiment, the first input /
제2 입/출력부(50)는 각 데이터 저장 칩(20)들에 배치된다. 제2 입/출력부(50)는 각 데이터 저장 칩(20)의 상면 및 하면에 각각 배치된다. 따라서, 기판(10)에 근접한 데이터 저장 칩(20)의 하면에 배치된 제2 입/출력부(50)는 기판(10)의 회로 패턴(12)과 전기적으로 연결된다. 또한, 제2 입/출력부(50)는 각 데이터 저장 칩(20)들을 상호 전기적으로 연결한다. 또한, 컨트롤 칩(30)에 근접한 데이터 저장 칩(20)의 상면에 배치된 제2 입/출력부(50)는 컨트롤 칩(30)에 전기적으로 연결된다.The second input /
제2 입/출력부(50)는 컨트롤 칩(30)으로부터 발생된 제어 신호를 각 데이터 저장 칩(20)에 인가하여 데이터 저장 칩(20)에 데이터를 입력 또는 데이터 저장 칩(20)으로부터 데이터를 외부로 출력할 수 있도록 한다.The second input /
본 실시예에서, 제2 입/출력부(50)는 데이터 저장 칩(20)들에 형성된 관통 비아인 것이 바람직하다.In the present embodiment, the second input /
한편, 제1 입/출력부(40) 및 제2 입/출력부(50)는 데이터 저장 칩(20)의 서로 다른 위치에 배치되는 것이 바람직하다.Meanwhile, the first input /
한편, 기판(10)상에 적층 된 컨트롤 칩(30) 및 복수개의 데이터 저장 칩(20)들이 외부에서 가해진 충격 또는 진동에 의하여 파손되는 것을 방지하기 위해, 선택적으로, 기판(10)상에 적층 된 컨트롤 칩(30) 및 데이터 저장 칩(20)들은 에폭시 수지와 같은 합성 수지에 의하여 봉지(encapsulation)될 수 있다.Meanwhile, in order to prevent the
한편, 기판(10)의 회로 패턴(12)은 데이터 저장 칩(20)으로 데이터를 저장 및 데이터를 출력하기 위해 복수개의 도전 부재(60)가 배치된다. 도전 부재(60)는, 예를 들어, 솔더(solder)를 포함하는 솔더볼(solder ball)일 수 있다.In the
본 실시예에 의하면, 데이터 저장 칩(20)들은 데이터가 저장되는 데이터 저장 셀(22)을 갖는 반면, 데이터 저장 칩(20)으로부터 데이터를 입/출력하기 위한 메모리 셀 어레이 제어 회로를 갖고 있지 않다. 또한, 컨트롤 칩(30)들은 데이터 저장 칩(20)으로부터 데이터를 입/출력하기 위한 메모리 셀 어레이 제어 회로(32)만을 갖고, 데이터를 저장하는 데이터 저장 셀(22)을 갖고 있지 않는다. 또한, 하나의 컨트롤 칩(30)은 복수개의 데이터 저장 칩(20)과 전기적으로 연결되어 하나의 컨트롤 칩(30)은 복수개의 데이터 저장 칩(20)을 개별적으로 제어할 수 있다.According to the present embodiment, the
이와 같이 하나의 컨트롤 칩(30)으로부터 복수개의 데이터 저장 칩(20)을 개별적으로 제어하여 데이터를 입/출입할 경우, 오로지 데이터만을 저장하는 데이터 저장 칩(20)을 기판(10)상에 원하는 개수만큼 확장함에 따라 반도체 패키지의 데이터의 저장 용량을 사용자의 요구에 맞게 증가시킬 수 있다.As described above, when data is input / exported by individually controlling the plurality of
이와 다르게, 각 데이터 저장 칩(20)을 모듈화 함으로써, 기판(10)상에 데이터 저장 칩(20)을 연결하거나, 기판(10) 상에 이미 장착된 데이터 저장 칩(20)의 상면에 데이터 저장 칩(20)들을 사용자가 직접 추가적으로 결합할 수 있도록 할 수 있다. 이 경우, 일반적인 반도체 패키지의 저장 용량이 고정된 것과 다르게 본 발명에서는 각 데이터 저장 칩(20)의 용량을 사용자가 직접 증가시키거나 감소시킬 수 있게 된다. 이를 구현하기 위해서는, 각 데이터 저장 칩(20)의 사이에 각 데이터 저장 칩(20)을 고정하기 위한 데이터 저장 칩 고정 부재를 개재하는 것이 바람직하다.Alternatively, by modularizing each
적층 반도체 패키지의 제조 방법Manufacturing method of laminated semiconductor package
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 적층 반도체 패키지의 제조 방법에 따른 데이터 저장 칩을 도시한 단면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a data storage chip according to a method of manufacturing a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, 데이터 저장 칩(120)을 제조하기 위해서, 먼저, 실리콘웨이퍼(미도시) 상에 반도체 제조 공정을 통해 데이터 저장 셀(122), 제1 입/출력부(140) 및 제2 입/출력부(150)를 갖는 데이터 저장부(미도시)를 제조한 후, 개별화 공정을 통해 웨이퍼로부터 데이터 저장부를 절단하여 복수개의 데이터 저장 칩(120)들을 형성한다.Referring to FIG. 2, in order to manufacture the
제1 입/출력부(140)는 데이터 저장 칩(120)에 저장된 데이터를 데이터 저장 칩(120)의 외부로 출력 또는 외부의 데이터를 데이터 저장 칩(120)에 저장하는 단자 역할을 한다. 한편, 제2 입/출력부(150)는 데이터 저장 칩(120)에 저장된 데이터를 외부로 출력 또는 외부의 데이터를 데이터 저장 칩(120)에 저장하기 위한 제어 신호를 입력 또는 출력한다. 제1 입/출력부(140) 및 제 2 입/출력부(150)는 데이터 저장 칩(120)을 관통하는 관통-비아인 것이 바람직하다. 본 실시예에서, 데이터 저장 칩(120)에는 저장된 데이터를 입력 또는 출력하기 위한 메모리 셀 어레이 제어 회로를 포함하지 않는다.The first input /
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 적층 반도체 패키지의 제조 방법에 따른 컨트롤 칩을 도시한 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a control chip according to a method of manufacturing a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 컨트롤 칩(130)을 제조하기 위해서, 먼저, 실리콘웨이퍼(미도시) 상에 반도체 제조 공정을 통해 메모리 셀 어레이 제어 회로(132), 제1 제어신호 입/출력부(134) 및 제2 제어신호 입/출력부(156)를 갖는 컨트롤 제어부(미도시)를 형성한 후, 개별화 공정을 통해 웨이퍼로부터 컨트롤 제어부를 절단하여 복수개의 컨트롤 칩(130)들을 형성한다.Referring to FIG. 3, in order to manufacture the
제1 제어 신호 입/출력부(134)는 데이터 저장 칩(120)에 형성된 제1 입/출력부(140)와 대응하며, 제2 제어 신호 입/출력부(136)는 데이터 저장 칩(120)에 형성된 제2 입/출력부(150)와 대응한다. 본 실시예에서, 제1 제어신호 입/출력부(134) 및 제 2 제어신호 입/출력부(136)는 컨트롤 칩(130)을 관통하는 관통-비아인 것이 바람직하다. 본 실시예에서, 컨트롤 칩(130)에는 데이터를 저장하기 위한 데이터 저장 셀을 포함하지 않는다.The first control signal input /
도 4는 도 2 및 도 3에 도시된 데이터 저장 칩 및 컨트롤 칩을 기판에 실장 하는 것을 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating mounting the data storage chip and the control chip illustrated in FIGS. 2 and 3 on a substrate.
도 4를 참조하면, 데이터 저장 칩(120) 및 컨트롤 칩(130)은 기판(110) 상에 실장 된다.Referring to FIG. 4, the
기판(110) 상에는 외부로부터 인가된 전기적 신호를 컨트롤 칩(130)으로 입력 및 데이터 저장 칩(120)에 저장된 데이터를 외부로 출력하기 위한 회로 패턴(112)들이 형성된다.
기판(110)의 회로 패턴(112)들에는 데이터 저장 칩(120)이 배치된다. 구체적으로, 데이터 저장 칩(120)의 제1 입/출력부(140) 및 제2 입/출력부(150)는 회로 패턴(112)들에 각각 전기적으로 접속된다.The
이어서, 데이터 저장 칩(120)에는 적어도 1개, 바람직하게는 복수개의 다른 데이터 저장 칩(120)들이 배치된다. 이때, 각 데이터 저장 칩(120)들의 제1 입/출력부(140)들 및 제2 입/출력부(150)들은 각각 전기적으로 접속된다.Subsequently, at least one, preferably a plurality of other
참조부호 160은 외부 기기와 접속되는 도전부재로, 예를 들어, 도전부재는 솔더를 포함하는 솔더볼일 수 있다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 의한 적층 반도체 패키지의 컨트롤 칩 및 데이터 저장 칩을 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a control chip and a data storage chip of a multilayer semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 복수개의 데이터 저장 칩(120)들 중 최외곽에 배치된 데이터 저장 칩(120)에는 컨트롤 칩(130)이 배치된다.Referring to FIG. 5, a
이때, 데이터 저장 칩(120)의 제1 입/출력부(140)는 컨트롤 칩(130)의 제1 제어신호 입/출력부(134)와 전기적으로 연결되고, 데이터 저장 칩(120)의 제2 입/출력부(150)는 컨트롤 칩(130)의 제2 제어신호 입/출력부(136)와 전기적으로 접속된다.In this case, the first input /
이어서, 컨트롤 칩(130) 및 데이터 저장 칩(120)을 덮도록 에폭시 수지 등에 의하여 컨트롤 칩(130) 및 데이터 저장 칩(120)들은 봉지 되어, 적층 반도체 패키지(100)가 제조된다.Subsequently, the
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 오직 데이터를 저장하는 데이터 저장 셀을 갖는 데이터 저장 칩 및 데이터 저장 칩을 제어하는 메모리 셀 어레이 제어 회로를 갖는 컨트롤 칩을 각각 제조한 후, 데이터 저장 칩 및 컨트롤 칩을 어셈블리하여 적층 반도체 패키지를 형성함으로써, 적층 반도체 패키지의 데이터 저장 용량을 크게 증가시키는 장점을 갖는다. 또한, 데이터 저장 용량을 늘릴 필요가 있을 경우, 패키지 제조 단계에서 데이터 저장 칩만 추가로 늘려 적층함으로써 반도체의 재설계의 필요없이 원하는 목적을 실현할 수 있다.As described in detail above, after manufacturing a data storage chip having a data storage cell for storing data only and a control chip having a memory cell array control circuit for controlling the data storage chip, the data storage chip and the control chip are manufactured. By assembling to form a laminated semiconductor package, the data storage capacity of the laminated semiconductor package is greatly increased. In addition, when the data storage capacity needs to be increased, the desired purpose can be realized without the need for semiconductor redesign by additionally stacking only the data storage chips in the package manufacturing step.
앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영 역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art having ordinary knowledge in the scope of the invention described in the claims to be described later It will be understood that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the scope of the present invention.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050094090A KR20070038798A (en) | 2005-10-07 | 2005-10-07 | Extendable stacked semiconductor package and method of manufacturing the same |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050094090A KR20070038798A (en) | 2005-10-07 | 2005-10-07 | Extendable stacked semiconductor package and method of manufacturing the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070038798A true KR20070038798A (en) | 2007-04-11 |
Family
ID=38159976
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050094090A KR20070038798A (en) | 2005-10-07 | 2005-10-07 | Extendable stacked semiconductor package and method of manufacturing the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20070038798A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101109562B1 (en) * | 2009-01-05 | 2012-01-31 | 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 | Extra high bandwidth memory die stack |
US8115291B2 (en) | 2008-08-29 | 2012-02-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package |
US8338962B2 (en) | 2010-08-12 | 2012-12-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package substrate and semiconductor package having the same |
KR101481571B1 (en) * | 2007-08-21 | 2015-01-14 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor Package apparatus and its manufacturing method |
KR101495635B1 (en) * | 2008-07-25 | 2015-02-26 | 삼성전자주식회사 | Stacked memory device, memory system having the same, and method of controlling the stacked memory device |
US11699061B2 (en) * | 2018-12-14 | 2023-07-11 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Storage apparatus and electronic device |
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2005
- 2005-10-07 KR KR1020050094090A patent/KR20070038798A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101481571B1 (en) * | 2007-08-21 | 2015-01-14 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor Package apparatus and its manufacturing method |
KR101495635B1 (en) * | 2008-07-25 | 2015-02-26 | 삼성전자주식회사 | Stacked memory device, memory system having the same, and method of controlling the stacked memory device |
US8115291B2 (en) | 2008-08-29 | 2012-02-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package |
KR101109562B1 (en) * | 2009-01-05 | 2012-01-31 | 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 | Extra high bandwidth memory die stack |
US8338962B2 (en) | 2010-08-12 | 2012-12-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package substrate and semiconductor package having the same |
US11699061B2 (en) * | 2018-12-14 | 2023-07-11 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Storage apparatus and electronic device |
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