KR20050005656A - Multi chamber system manufacturing semiconductor device - Google Patents

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KR20050005656A
KR20050005656A KR1020030045668A KR20030045668A KR20050005656A KR 20050005656 A KR20050005656 A KR 20050005656A KR 1020030045668 A KR1020030045668 A KR 1020030045668A KR 20030045668 A KR20030045668 A KR 20030045668A KR 20050005656 A KR20050005656 A KR 20050005656A
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chambers
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Abstract

PURPOSE: A multi-chamber system of manufacturing a semiconductor device is provided to increase efficiency by using a process chamber having a separable structure to exchange easily the process chamber. CONSTITUTION: A plurality of separable process chambers(200) includes sealing spaces for processing wafers, first gate valves, and first interruption valves. A wafer transfer chamber(100) is connected to the process chambers through the first gate valves to form the sealing spaces. A second valve is installed at a connection part between the process chamber and the wafer transfer chamber. An exhaust unit(500) is connected to each process chamber through the first interruption valves. A second interruption valve is installed at a connection part between the process chamber and the exhaust unit.

Description

반도체 소자 제조용 멀티 챔버 시스템{Multi chamber system manufacturing semiconductor device}Multi chamber system for semiconductor device manufacturing

본 발명은 반도체 제조장치에 관한 것으로, 더 자세하게는 반도체 소자 제조에 사용되는 멀티 챔버 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and more particularly, to a multi-chamber system used for manufacturing a semiconductor device.

일반적으로 반도체 소자는, 기판인 웨이퍼 상에 여러 가지 물질을 박막형태로 증착하고 이를 패터닝하여 구현되는데, 이를 위하여 증착공정, 식각공정, 세정공정 및 건조공정 등 여러 단계의 서로 공정이 요구된다. 이러한 각각의 공정에서 처리대상물인 웨이퍼는 해당 공정의 진행에 최적의 환경을 지니고 있는 프로세스 챔버에 장착되어 처리된다. 이러한 반도체 처리 시스템은 웨이퍼를 처리하기 위한 프로세스 챔버와 상기 프로세스 챔버내로 웨이퍼를 이송하거나, 상기 프로세스 챔버로부터 다른 프로세스 챔버로 이송하기 위한 이송공간이 구비된 이송챔버를 구비한 멀티 챔버 시스템을 사용한다. 상기 프로세스 챔버로 이송된 웨이퍼는 통상적으로 리소그래피, 화학 또는 물리적 증착 및 플라즈마 에칭 등과 같은 일련의 반도체 공정을 거쳐 반도체 소자 또는 칩으로 제조된다.Generally, a semiconductor device is implemented by depositing and patterning various materials on a wafer, which is a substrate, in a thin film form. For this purpose, various steps such as a deposition process, an etching process, a cleaning process, and a drying process are required. In each of these processes, the wafer, which is the object of processing, is mounted and processed in a process chamber having an optimal environment for the process. This semiconductor processing system uses a multi-chamber system having a process chamber for processing a wafer and a transfer chamber having a transfer space for transferring wafers into or into the process chamber, or from the process chamber to another process chamber. Wafers transferred to the process chamber are typically manufactured into semiconductor devices or chips through a series of semiconductor processes such as lithography, chemical or physical vapor deposition, and plasma etching.

이하에서는 종래기술에 의한 멀티 챔버 시스템에 대해서 도면을 참조하여 설명하고 그 문제점을 알아보기로 한다.Hereinafter, a multi-chamber system according to the prior art will be described with reference to the drawings and the problems thereof will be described.

도 1은 종래의 멀티 챔버 시스템을 도시한 개략도이다.1 is a schematic diagram illustrating a conventional multi-chamber system.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 다중 챔버 시스템은 중앙에 하나의 밀폐된 공간을 구비하는 이송용 챔버(10)가 구비되어 있다. 상기 이송용 챔버(10)를 중심으로 이송챔버(10) 주변에 인접하도록 다수의 프로세스 챔버들(20)이 구비되어 있다. 상기 다수의 프로세스 챔버들(20) 각각은 하나의 밀폐된 공간을 구비하며, 상기 밀폐된 공간에서 웨이퍼를 처리하는 공정을 수행한다.As shown in FIG. 1, the conventional multi-chamber system is provided with a transfer chamber 10 having one closed space at the center. A plurality of process chambers 20 are provided to be adjacent to the transfer chamber 10 around the transfer chamber 10. Each of the plurality of process chambers 20 has one enclosed space and performs a process of processing a wafer in the enclosed space.

상기 이송용 챔버(10)와 상기 다수의 프로세스 챔버들(20)간에는 이송용 챔버(10)의 밀폐된 공간과 상기 다수의 프로세스 챔버들(20)의 밀폐된 공간과의 접속을 개폐하기 위한 다수의 게이트 밸브(10a)가 구비되어 있다. 상기 게이트밸브(10a)는 각각의 프로세스 챔버(20)에 대하여 하나씩 구비되어 있다.Between the transfer chamber 10 and the plurality of process chambers 20 a plurality of opening and closing the connection between the sealed space of the transfer chamber 10 and the sealed space of the plurality of process chambers 20 Gate valve 10a is provided. One gate valve 10a is provided for each process chamber 20.

반도체 공정을 수행하기 위하여 처리대상 웨이퍼가 외부로부터 이송용 챔버(10)내로 이송된다. 이송용 챔버(10)로 이송된 웨이퍼를 웨이퍼 이송장치(미도시)에 의해 특정의 프로세스 챔버(20)로 이송하여 웨이퍼를 처리하기 위한 공정을 수행한다. 이후에 다시 웨이퍼를 이송용 챔버(10)로 이송한 다음, 다음 공정을 위해 다른 프로세스 챔버(20)로 이송하여 다음 공정을 수행한다. 이러한 방식으로 멀티 챔버 시스템에서 일련의 반도체 공정을 수행하게 된다.In order to perform the semiconductor process, the wafer to be processed is transferred from the outside into the transfer chamber 10. The wafer transferred to the transfer chamber 10 is transferred to a specific process chamber 20 by a wafer transfer device (not shown) to perform a process for processing the wafer. Thereafter, the wafer is transferred to the transfer chamber 10 again, and then transferred to another process chamber 20 for the next process to perform the next process. In this way, a series of semiconductor processes are performed in a multi-chamber system.

이러한 멀티 챔버 시스템은 각각의 프로세스 챔버가 누적 사용에 따른 공정 조건의 변화로 인해 PM(Preventive Maintenance)을 진행해야 한다.This multi-chamber system requires each process chamber to undergo PM (Preventive Maintenance) due to changes in process conditions due to cumulative use.

그러나 종래의 멀티 챔버 시스템은 프로세스 챔버와 이송용 챔버간의 분리가 불가능한 구조로 되어 있어 하나의 챔버에 문제가 발생하거나 PM을 할 경우에 전체적으로 멀티 챔버 시스템의 가동을 중단시켜야 한다. 이러한 PM을 진행할 경우에 프로세스 챔버는 최소 여러시간 동안 사용을 못하게 되고 상기 프로세스 챔버는 이송용 챔버를 공유하기 때문에 다른 프로세스 챔버에도 적지 않은 영향을 주어 반도체 소자 제조에 부담이 생긴다. 또한, 종래의 멀티 챔버 시스템은 챔버 내부를 PM 할 경우에 시스템에 직접 접촉하여 작업자가 작업을 해야 하므로 작업자의 안전에 문제가 되고, 또한 PM의 정확성을 유지하기가 어렵다. 그리고 챔버를 라인 내에서오픈하여 PM 작업을 하여야 하므로 라인내의 환경이 오염될 염려가 있다However, the conventional multi-chamber system has a structure that cannot be separated between the process chamber and the transfer chamber, so that when a problem occurs in one chamber or PM, the entire multi-chamber system should be shut down. When the PM proceeds, the process chamber cannot be used for at least several hours, and since the process chamber shares the transfer chamber, there is a considerable influence on other process chambers, which causes a burden on the semiconductor device fabrication. In addition, the conventional multi-chamber system is a problem for the safety of the operator, and it is difficult to maintain the accuracy of the PM because the operator must work in direct contact with the system when the PM inside the chamber. And since the chamber must be opened in the line for PM work, the environment inside the line may be contaminated.

따라서, 본 발명의 목적은 종래의 멀티 챔버 시스템이 갖는 문제점을 해결하는 멀티 챔버 시스템을 제공하는 데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a multi-chamber system that solves the problems of the conventional multi-chamber system.

본 발명의 다른 목적은 챔버 자체를 분리할 수 있는 구조로 만들어, 하나의 챔버에 문제가 생기거나 PM작업을 할 경우에 미리 준비된 새로운 챔버로 교체하여, 전체적인 멀티 챔버 시스템의 가동을 유지할 수 있는 멀티 챔버 시스템을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to make a structure that can separate the chamber itself, when a problem occurs in one chamber or when replacing a new chamber prepared in advance, when the multi-chamber system that can maintain the operation of the overall multi-chamber system A chamber system is provided.

본 발명의 또 다른 목적은 챔버를 PM을 할 경우에 작업자의 안전과 라인 내의 환경오염을 방지하는 멀티 챔버 시스템을 제공하는데 있다.Still another object of the present invention is to provide a multi-chamber system that prevents environmental pollution in the line and safety of the operator when the chamber is PM.

상기한 기술적 과제들의 일부를 달성하기 위한 본 발명의 일 양상(aspect)에 따라 본 발명에 의한 멀티 챔버 시스템은: 웨이퍼를 가공하기 위한 밀폐공간을 갖고, 제 1 게이트 밸브와 제 1 차단밸브를 갖는 다수의 프로세스 챔버들과; 상기 제1 게이트 밸브를 통해 상기 프로세스 챔버들에 접속되어 개폐 가능한 밀폐공간을 구비하고, 상기 프로세스 챔버부와의 접속부에 제 2 게이트 밸브를 갖는 웨이퍼 이송용 챔버와; 상기 제 1 차단밸브를 통해 상기 각각의 프로세스 챔버들과 접속되고, 프로세스 챔버들의 내부를 배기함과 동시에 상기 프로세스 챔버 내부를 진공 상태로 유지하는 기능을 하는, 상기 프로세스 챔버부와의 접속부에 제 2 차단밸브를 갖는 배기장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention for achieving some of the above technical problems, the multi-chamber system according to the present invention comprises: a confined space for processing a wafer, having a first gate valve and a first shut-off valve A plurality of process chambers; A wafer transfer chamber having a closed space connected to the process chambers through the first gate valve and openable and having a second gate valve at a connection portion with the process chamber; A second connection part with the process chamber part connected to the respective process chambers through the first shut-off valve and functioning to evacuate the inside of the process chambers and to maintain the inside of the process chamber in a vacuum state; It characterized in that it comprises an exhaust device having a shut-off valve.

바람직하게는, 상기 멀티 챔버 시스템은 프로세서 챔버들의 원활한 결합을 위해 결합부에 가이드 핀을 가지고, 상기 프로세스 챔버들은 상기 결합부의 가이트 핀에 얼라인되도록 형성된 홈을 가지는 멀티 챔버 시스템을 제공하는 것이다. 또한, 상기 프로세서 챔버들의 분리 및 결합을 위해 승강 가능하게 지지하는 지지기구를 구비하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the multi-chamber system is to provide a multi-chamber system having a guide pin in the coupling portion for smooth coupling of the processor chambers, the process chambers having a groove formed to align with the guide pin of the coupling portion. In addition, it characterized in that it comprises a support mechanism for supporting the lifting and lowering for the separation and coupling of the processor chambers.

상기한 시스템은 전체적인 멀티 챔버 시스템의 가동을 유지할 수 있어 설비운영이 용이하고 효율성이 증가된다.The above system can maintain the operation of the entire multi-chamber system, thus facilitating facility operation and increasing efficiency.

도 1은 종래의 멀티 챔버 시스템을 도시한 개략도1 is a schematic diagram illustrating a conventional multi-chamber system

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 챔버 시스템을 도시한 개략도2 is a schematic diagram illustrating a multi-chamber system according to an embodiment of the invention.

도 3은 상기 도 2의 Ⅰ-Ⅰ′를 통한 단면도3 is a cross-sectional view through II ′ of FIG. 2.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

100 : 이송용 챔버 200 : 프로세서 챔버100: transfer chamber 200: processor chamber

200a : 제1게이트 밸브 100a : 제2게이트 밸브200a: first gate valve 100a: second gate valve

200b : 제1차단밸브 500b : 제2차단밸브200b: 1st shutoff valve 500b: 2nd shutoff valve

300 : 지지기구 400 : 가이드 핀300: support mechanism 400: guide pin

500 : 배기장치500: exhaust device

이하에서는 상기한 멀티 챔버 시스템이 후술되는 본 발명의 철저한 이해를 제공할 의도 외에는 다른 의도 없이, 도 2 또는 도 3를 참조로 설명될 것이다.The multichamber system described above will now be described with reference to FIG. 2 or 3 without any intention other than to provide a thorough understanding of the present invention described below.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 챔버 시스템을 도시한 개략도이다.2 is a schematic diagram illustrating a multi-chamber system according to an embodiment of the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 멀티 챔버 시스템은 중앙에 하나의 밀폐된 공간을 가지는 이송용 챔버(100)가 구비되어 있고 상기 이송용 챔버(100)를 중심으로 이송용 챔버(100)의 주변에 인접하도록 다수의 프로세스 챔버들(200)이 구비되어 있다.As shown in Figure 2, the multi-chamber system according to the present embodiment is provided with a transfer chamber 100 having a closed space in the center and the transfer chamber (centered around the transfer chamber 100) A plurality of process chambers 200 are provided to be adjacent to the periphery of 100.

상기 다수의 프로세스 챔버들(200) 각각은 하나의 밀폐된 공간을 구비하며, 상기 밀폐된 공간에서 웨이퍼 처리공정을 수행한다.Each of the plurality of process chambers 200 has a closed space and performs a wafer processing process in the closed space.

상기 이송용 챔버(100)와 상기 다수의 프로세스 챔버들(200)간에는 이송용 챔버(100)의 밀폐된 공간과 상기 다수의 프로세스 챔버들(200)의 밀폐된 공간과의접속을 개폐하기 위한 다수의 연결 부재들(100a,200a)이 구비되어 있다. 이러한 연결 부재들(100a,200a)은 상기 프로세스 챔버들(200)들의 이송용 챔버(100)부측에 설치되어 상기 프로세스 챔버(200)내의 밀폐된 공간과 외부와를 개폐하기 위한 제1게이트 밸브(200a)와 상기 이송용 챔버(100)의 프로세스 챔버(200)부측에 설치되어 상기 이송용 챔버(100)의 밀폐 공간과 외부와의 공간적 접속을 차단하기 위한 제2게이트 밸브(100a)들로 구성된다.Between the transfer chamber 100 and the plurality of process chambers 200 a plurality of opening and closing the connection between the sealed space of the transfer chamber 100 and the closed space of the plurality of process chambers 200 Connecting members 100a and 200a are provided. The connection members 100a and 200a may be installed at the side of the transfer chamber 100 of the process chambers 200 and may include a first gate valve for opening and closing an enclosed space and the outside of the process chamber 200. 200a) and second gate valves 100a installed at the process chamber 200 side of the transfer chamber 100 to block spatial connection between the sealed space and the outside of the transfer chamber 100. do.

도 3은 상기 도 2의 Ⅰ-Ⅰ′부위를 자른 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 2.

도 3에 도시된 바와 같이 상기 멀티 챔버 시스템은 하나의 상기 프로세스 챔버(200), 상기 이송용 챔버(100), 상기 제1게이트 밸브(200a), 상기 제2게이트밸브(100a) 및 상기 프로세스 챔버(200)와 인접하여 접속되어 있는 배기 장치(500)를 구비하고 있다. 프로세스 챔버들(200)은 상부(210)와 하부(220)가 분리 가능하게 구성되어 있다.As shown in FIG. 3, the multi-chamber system includes one process chamber 200, the transfer chamber 100, the first gate valve 200a, the second gate valve 100a, and the process chamber. The exhaust device 500 which is connected adjacent to the 200 is provided. The process chambers 200 are configured to be separated from the upper portion 210 and the lower portion 220.

상기 배기 장치(500)는 상기 프로세스 챔버(200)의 내부를 배기함과 동시에 상기 프로세스 챔버(200) 내부를 진공 상태로 유지하는 기능을 한다.The exhaust device 500 functions to exhaust the inside of the process chamber 200 and maintain the inside of the process chamber 200 in a vacuum state.

상기 배기장치(500)와 상기 프로세스 챔버(200)간에는 배기장치(500)의 밀폐된 공간과 상기 프로세스 챔버(200)의 밀폐된 공간과의 접속을 개폐하기 위한 연결 부재들(100b,500b)이 구비되어 있다. 이러한 연결 부재들(200b,500b)은 상기 프로세스 챔버(200)의 배기장치(500)부측에 설치되어 상기 프로세스 챔버(200)내의 밀폐된 공간과 외부와를 개폐하기 위한 제 1 차단 밸브(200b)와 상기 배기장치(500)의 프로세스 챔버(200)부측에 설치되어 상기 배기장치(500)의 공간과 외부와의 공간적 접속을 차단하기 위한 제 2 차단밸브(500b)로 구성된다. 또한 상기 멀티 챔버 시스템은 프로세서 챔버(200)의 결합시 얼라인을 위해 가이드 핀이 구비되고, 프로세스 챔버(200)에는 상기 가이트 핀(400)에 얼라인되도록 형성된 홈을 가진다. 그리고, 상기 프로세서 챔버들의 분리 및 결합을 위해 승강 가능하게 지지하는 지지기구(300)가 구비된다.Between the exhaust device 500 and the process chamber 200, connecting members 100b and 500b for opening and closing a connection between the closed space of the exhaust device 500 and the closed space of the process chamber 200 are provided. It is provided. The connection members 200b and 500b are installed at the exhaust device 500 side of the process chamber 200 so as to open and close the closed space and the outside of the process chamber 200. And a second shut-off valve 500b installed at the side of the process chamber 200 of the exhaust device 500 to block spatial connection between the space of the exhaust device 500 and the outside. In addition, the multi-chamber system is provided with a guide pin for alignment when the processor chamber 200 is coupled, the process chamber 200 has a groove formed to be aligned with the guide pin 400. In addition, the support mechanism 300 is provided to support the lifting and lowering for the separation and coupling of the processor chambers.

반도체 공정을 수행하기 위해서 웨이퍼는 외부로부터 우선 이송용 챔버(100)내로 이송된다. 이송용 챔버(100)로 이송된 웨이퍼를 웨이퍼 이송장치(미도시)에 의해 특정의 프로세스 챔버(200)로 이송하여 웨이퍼를 처리하기 위한 공정을 수행한다. 이후에 다시 웨이퍼를 이송용 챔버(100)로 이송한 다음, 다음 공정을 위해 다른 프로세스 챔버(200)로 이송하여 다음 공정을 수행한다. 이러한 방식으로 멀티 챔버 시스템에서 일련의 반도체 공정을 수행하게 된다.In order to perform the semiconductor process, the wafer is first transferred from the outside into the transfer chamber 100. The wafer transferred to the transfer chamber 100 is transferred to a specific process chamber 200 by a wafer transfer device (not shown) to perform a process for processing a wafer. Thereafter, the wafer is transferred to the transfer chamber 100 again, and then transferred to another process chamber 200 for the next process to perform the next process. In this way, a series of semiconductor processes are performed in a multi-chamber system.

이때 다음 공정을 수행하기 위해 웨이퍼를 이송용 챔버(100)로 이송하거나, 이송챔버(100)로부터 다른 프로세스 챔버(200)로 이송할 경우에는 제1게이트 밸브 (200a)및 제2게이트 밸브(100a)가 모두 열린다. 또한 프로세스 챔버(200)에서 공정을 수행중이거나 공정이 끝난 후 웨이퍼가 이송용 챔버(100)로 이송된 경우에는 제 1 게이트 밸브(200a) 또는 제 2 게이트 밸브(100a) 중에서 어느 하나만 열리게 된다. 상기 제 1 차단밸브(200b) 또는 제 2 차단밸브(500b)는 공정수행 시에는 어느 하나만 열린 상태로 사용된다.At this time, in order to transfer the wafer to the transfer chamber 100 to perform the next process, or to transfer to another process chamber 200 from the transfer chamber 100, the first gate valve 200a and the second gate valve 100a. ) All open. Also, when the wafer is transferred to the transfer chamber 100 after the process is being performed or the process is completed, only one of the first gate valve 200a or the second gate valve 100a is opened. The first shut-off valve 200b or the second shut-off valve 500b may be used in an open state when performing a process.

프로세스 챔버(200)를 분리하지 않고도 문제해결이 가능한 간단한 문제가 발생한 경우에는 상기 프로세스 챔버(200)의 상부(210)와 하부(220)를 분리하여 문제를 해결하는 것이 가능하다. 그렇지만 상기 프로세스 챔버(200)에 심각한 문제가 생기거나 PM을 해야 할 경우에, 그 문제가 생긴 챔버의 운행을 중지하고 챔버를 분리하여 새로이 준비된 챔버와 교체하여 상기 이송용 챔버(100)에 결합하게 된다. 상기 프로세스 챔버(200)를 분리하기 전에 상기 이송용 챔버(100)에 설치된 제2게이트 밸브(100a)를 닫는다. 이는 하나의 챔버를 분리하더라도 다른 잔여 챔버의 공정수행에 영향이 없도록 하기 위함이다. 그리고 나머지 분리하고자 하는 챔버쪽에 설치된 제2게이트 밸브(200a)는 PM작업 후 또는 문제를 해결한 후에 챔버를 다시 이송용 챔버(100)와 결합할 때까지의 챔버 오염을 방지하고 원래의 상태를 유지시키기 위한 기능을 한다.When a simple problem that can be solved without separating the process chamber 200 occurs, it is possible to solve the problem by separating the upper portion 210 and the lower portion 220 of the process chamber 200. However, when a serious problem occurs in the process chamber 200 or needs to be PM, the operation of the problem chamber is stopped and the chamber is separated and replaced with a newly prepared chamber to be coupled to the transfer chamber 100. do. Before the process chamber 200 is separated, the second gate valve 100a installed in the transfer chamber 100 is closed. This is to separate the one chamber so as not to affect the process performance of the other remaining chamber. In addition, the second gate valve 200a installed at the side of the chamber to be separated prevents chamber contamination and maintains the original state until the chamber is coupled with the transfer chamber 100 again after PM work or after solving a problem. To function.

상기 챔버 분리전에는 상기 배기 장치(500)에 설치된 제 2 차단밸브(500b)를 닫는다. 이는 상기 배기 장치의 보호 및 라인 내의 환경이 오염되지 않도록 하기 위함이다. 그리고 나머지 챔버 쪽에 설치된 제 1 차단밸브(200b)는 PM작업 후 또는 문제를 해결한 후에 챔버를 다시 이송용 챔버(100)와 결합할 때까지의 챔버 오염을 방지하고 원래의 상태를 유지시키기 위한 기능을 한다.Before the chamber is separated, the second shutoff valve 500b installed in the exhaust device 500 is closed. This is to protect the exhaust device and to prevent contamination of the environment in the line. And the first shut-off valve (200b) installed on the remaining chamber side to prevent the contamination of the chamber until after the PM operation or after solving the problem to combine the chamber with the transfer chamber 100 again to maintain the original state Do it.

상기 결합부의 가이드 핀(400)은 분리된 챔버를 결합하는 경우에 신속하고 정확한 결합을 위한 가이드 역할을 하며, 상기 가이드 핀에 얼라인 되도록 상기 프로세스 챔버(200)의 일정부위에 홈이 형성되어 있다.The guide pin 400 of the coupling part serves as a guide for quick and accurate coupling when the separated chamber is coupled, and a groove is formed in a predetermined portion of the process chamber 200 to be aligned with the guide pin. .

또한 상기 지지기구(300)는 프로세스 챔버를 분리하거나 결합할 경우에 프로세스 챔버를 지지하는 기구로 사용된다.In addition, the support mechanism 300 is used as a mechanism for supporting the process chamber when separating or combining the process chamber.

상기한 실시예의 설명은 본 발명의 더욱 철저한 이해를 제공하기 위하여 도면을 참조로 예를 든 것에 불과하므로, 본 발명을 한정하는 의미로 해석되어서는 안될 것이다. 또한, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기본적 원리를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화와 변경이 가능함은 물론이다.The above description of the embodiments is merely given by way of example with reference to the drawings in order to provide a more thorough understanding of the present invention and should not be construed as limiting the invention. In addition, various changes and modifications are possible to those skilled in the art without departing from the basic principles of the present invention.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과를 가진다.As described above, according to the present invention has the following effects.

본 발명에 의하면, 다수의 프로세서 챔버들 중 어느 하나에 문제가 생기거나 PM을 해야 할 경우에 용이하게 프로세서 챔버를 분리하고 새로운 프로세서 챔버로 교체할 수 있어 전체적인 멀티 챔버 시스템의 가동을 유지할 수 있어 설비운영이 용이하고 효율성이 증가된다.According to the present invention, when one of the plurality of processor chambers fails or needs to be PM, the processor chamber can be easily removed and replaced with a new processor chamber to maintain the operation of the entire multi-chamber system. Operation is easy and efficiency is increased.

본 발명의 또 다른 효과는 챔버를 PM을 할 경우에 챔버를 분리하여 일정장소에서 할 수 있으므로 작업자의 안전과 라인 내의 환경오염을 방지할 수 있다Another effect of the present invention can be separated from the chamber when the chamber to the PM can be made in a certain place can prevent the safety of workers and environmental pollution in the line.

Claims (5)

웨이퍼를 가공하기 위한 밀폐공간을 갖고, 제1게이트 밸브와 제1차단밸브를 갖는 다수의 분리 가능한 프로세스 챔버들;A plurality of separable process chambers having a confined space for processing a wafer and having a first gate valve and a first shutoff valve; 상기 제1게이트 밸브를 통해 상기 프로세스 챔버들에 접속되어 개폐 가능한 밀폐공간을 구비하고, 상기 프로세스 챔버부와의 접속부에 제2게이트 밸브를 갖는 웨이퍼 이송용 챔버; 및A wafer transfer chamber having a closed space connected to the process chambers through the first gate valve and openable and having a second gate valve at a connection portion with the process chamber; And 상기 제1차단밸브를 통해 상기 각각의 프로세스 챔버들과 접속되고, 상기 프로세스 챔버부와의 접속부에 제2차단밸브를 갖는 배기장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정용 멀티 챔버 시스템.And an exhaust device connected to each of the process chambers through the first shutoff valve and having a second shutoff valve at a connection portion with the process chamber part. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 멀티 챔버 시스템은 프로세서 챔버들의 결합부에 가이드 핀을 가짐을 특징으로 하는 반도체 소자 제조용 멀티 챔버 시스템.The multi-chamber system is a multi-chamber system for manufacturing a semiconductor device characterized in that it has a guide pin in the coupling portion of the processor chambers. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 프로세스 챔버들은 멀티 챔버 시스템에 결합시, 상기 결합부의 가이트 핀에 얼라인되도록 형성된 홈을 가짐을 특징으로 하는 반도체 소자 제조용 멀티 챔버 시스템.And the process chambers have grooves formed to align with the guide pins of the coupling portion when the process chambers are coupled to the multi-chamber system. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 프로세스 챔버는 상부와 하부가 분리 가능한 구조임을 특징으로 하는 반도체 소자 제조용 멀티 챔버 시스템.The process chamber is a multi-chamber system for manufacturing a semiconductor device, characterized in that the upper and lower structure is removable. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 멀티 챔버 시스템은 프로세서 상기 챔버들의 분리 및 결합을 위해 챔버를 승강가능하게 지지하는 지지기구를 더 구비함을 특징으로 하는 반도체 소자 제조용 멀티 챔버 시스템.The multi-chamber system is a multi-chamber system for semiconductor device manufacturing, characterized in that it further comprises a support mechanism for supporting the chamber to lift and lower the chamber for separation and coupling of the chamber.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100555340B1 (en) * 2004-05-03 2006-03-03 브룩스오토메이션아시아(주) Substrate transfer apparatus having detachable chambers and substrate process system having the same
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