KR20040001116A - 램프 가속 수명 시험장치 - Google Patents

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유동수
이재국
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대우전자주식회사
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    • H01J9/24Manufacture or joining of vessels, leading-in conductors or bases
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Abstract

본 발명은 램프 가속 수명 시험장치에 관한 것으로서, 램프의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 한 것이다.
본 발명은 내부 공간이 형성됨과 아울러 진동기(1) 상부에 위치될 수 있게 적정 크기로 형성되는 램프 시험 본체(10)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 상부와 측부에 다수개 고정되어 시험용 램프(2)가 결합되게 하는 램프 소켓(12)과, 상기 램프 시험 본체(10)의 내부에 설치됨과 아울러 상기 램프 소켓(12)에 각각 전기적으로 대응되게 연결되는 단자대(14)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 도어(16)에 설치되어 단자대(14)와 외부 전원선(3)을 선택적으로 연결하여 램프(2)로의 전원 인가가 이루어지게 하는 스위치(18)로 이루어진 것이다.

Description

램프 가속 수명 시험장치 {TEST DEVICE OF LAMP ACCELERATED LIFE TIME}
본 발명은 램프 가속 수명 시험장치에 관한 것이다.
일반적으로 알려진 바와 같이 가속 수명 시험이란 시험시간을 단축할 목적으로 기준보다 가혹한 조건에서 실시하는 시험으로서, 상기 가속 수명 시험은 실제 사용조건보다 가혹한 조건(온도, 습도, 진동, 전압, 전류) 또는 사용율을 높여 시험함으로써 빠른 시간 내에 설계 완성도를 평가하거나 수명(신뢰도)을 평가하기 위한 시험이다. 짧은 시간 내에 수명에 관한 더 많은 정보를 수집하여 사용조건에서의 수명을 빠른 시간 내에 추정이 가능하며, 개발검증 및 양산검증 시험의 평가와 납기단축, 신속한 신뢰성평가 및 확인, 잠재적 고장모드, 설계의 Weak Point를 드러나게 하는 시험방법이다.
상기 가속 수명 시험에서 일반적으로 사용되는 방법은 Constant Stress Test와 Step Stress Test 이며, 하나 또는 두 개의 조건을 스트레스(예; 온도, 습도, 진동, 전압, 전류)로 사용한다. 상기 스트레스를 인가하는 수준은 사전에 결정을 해야하며, 일반적으로 시험대상 유니트의 동작한계(Operational Limit) 조건을 넘어서는 수준으로 실시한다.
종래의 가속 수명 시험방법 중 냉장 및 냉동장치에 적용되는 램프의 가속 수명 시험방법은, 램프에 가혹 조건(환경)을 주기 위하여 온도와 전압 및 진동 등을 적정 시간 동안 가하는 바, 상기 가혹 조건을 가할 때 각각의 특성을 독립적(순차적)으로 수행하는 것이다.
상기 가속 수명 시험을 행할 때 적정 개수의 램프를 이용하는 것으로서, 상기 가속 수명 시험중 램프의 수명이 정지되는 경우에는 해당 램프를 배제하면서 가속 수명 시험을 실시하는 것이다.
그러나 상기한 램프 가속 수명 시험방법은, 램프에 가하는 가혹 조건을 독립적(순차적)으로 행하기 때문에 가속 수명 시험이 장시간에 걸쳐 이루어짐과 아울러 시험 신뢰성이 저하되는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 문제점을 시정하여, 램프의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 한 램프 가속 수명 시험장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 램프 시험 본체와, 상기 램프 시험 본체의 상부와 측부에 고정되는 램프 소켓과, 상기 램프 시험 본체의 내부에 설치됨과 아울러 상기 램프 소켓에 각각 연결되는 단자대와, 상기 램프 시험 본체의 도어에 설치되어 단자대와 외부 전원선을 연결하는 스위치로 이루어진 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예의 사시도,
도 2는 본 발명의 실시예의 평면도,
도 3은 본 발명의 실시예의 내부를 나타낸 정면도,
도 4는 본 발명의 실시예의 사용상태도이다.
<도면의 주요부분에 사용된 부호의 설명>
2: 램프10: 램프 시험 본체
12: 램프 소켓14: 단자대
16: 도어18: 스위치
20: 휴즈
본 발명은 도 1 내지 도 4에 도시한 바와 같이, 내부 공간이 형성됨과 아울러 진동기(1) 상부에 위치될 수 있게 적정 크기로 형성되는 램프 시험 본체(10)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 상부와 측부에 다수개 고정되어 시험용 램프(2)가 결합되게 하는 램프 소켓(12)과, 상기 램프 시험 본체(10)의 내부에 설치됨과 아울러 상기 램프 소켓(12)에 각각 전기적으로 대응되게 연결되는 단자대(14)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 도어(16)에 설치되어 단자대(14)와 외부 전원선(3)을 선택적으로 연결하여 램프(2)로의 전원 인가가 이루어지게 하는 스위치(18)로 이루어진 것이다.
상기 램프 시험 본체(10)는 진동기(1)에 탑재되어 적정 시간 동안 램프 시험 본체(10)의 진동이 유지되게 하는 것이고, 상기 램프 시험 본체(10)의 진동이 이루어질 때 항온기(4) 내측으로 진동기(1)를 위치시키면 특정 온도(습도)로 램프 시험본체(10)가 전환되는 것이다. 상기 진동 및 온도(습도)를 특정 상태로 유지시킴과 아울러 스위치를 온(ON)시키면 각각의 램프(2)가 켜지는 것이며, 상기 램프(2)가 온되어 있을 때 적정 전류 및 전압을 인가시키는 것이다.
상기 램프(2)가 온된 상태에서 가속 수명 시험을 실시할 때 램프(2) 조건을 최악의 상태로 유지시키기 위하여 램프 소켓(12)을 불규칙적으로 배치시켜 고정하는 것으로서, 상기 램프 소켓(12)을 램프 시험 본체(10)의 측부에 설치할 때는 램프 시험 본체(10)의 수직방향(입설)으로 일부를 고정함과 아울러 일부는 램프 시험 본체(10)의 수평방향으로 고정하는 것이다. 그리고 상기 램프 소켓(12)을 램프 시험 본체(10)의 상부에 설치할 때는 램프 시험 본체(10)의 수평방향으로 일부를 고정함과 아울러 일부는 램프 시험 본체(10)의 수직방향(입설)으로 고정하는 것이다.
또한 상기 램프 소켓(12)에 전기적으로 연결된 단자대(14)와 도어(16)에 설치된 스위치(18) 사이에 휴즈(20)를 설치함으로써 단자대(14) 및 램프(2)상에서 과부하가 발생되면 전원 인가가 이루어지지 않게 하는 것이다.
이상과 같은 본 발명은 램프의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 하는 것으로서, 램프 시험 본체(10)의 상부와 측부에 다수개의 램프 소켓(12)을 설치함과 아울러 램프 시험 본체(10)의 내부에 단자대(14)를 설치하여 상기 램프 소켓(12)과 전기적으로 연결하고, 상기 단자대(14)로의 외부 전원 인가를 위하여 도어(16)에 스위치(18)를 설치하는 것이다.
상기 램프 소켓(12)을 램프 시험 본체(10)에 설치할 때 각각의 램프 소켓(12)을 각 방향으로 위치되게 설치함으로써 램프 소켓(12)에 설치된 램프(2)의상태가 최악의 상태로 유지되게 하는 것이며, 상기 램프 소켓(12)에 램프(2)를 접속시킨 후 가속 수명 시험을 실시하는 것이다.
상기 가속 수명 시험을 실시할 때 램프(2)에 가하는 가혹 조건을 독립적(순차적)으로 행할수도 있지만 상기 가혹 조건을 동시에 수행할 수 있는 것으로서, 상기 가혹 조건을 동시에 수행하기 위하여 진동기(1)에 램프 시험 본체(10)를 탑재시키는 것이고, 상기 램프 시험 본체(10)가 탑재된 진동기(1)를 항온기(4) 내측으로 위치시켜 가속 수명 시험을 동시에 실시하는 것이다.
상기 가속 수명 시험중 진동기(1)에 의한 진동 기능이 이루어질 때 램프 소켓(12)에 접속된 램프(2)가 램프 시험 본체(10)를 중심으로 수평지게 설치되어 있거나 수직되게 설치되어 있는 경우 그 수명이 달라지는 것이다. 또한 그 상태에서의 온도 및 습도 영향도 달라지는 것으로서, 가혹 조건을 다각적으로 분석할 수 있음에 따라 제품의 시험 신뢰성이 향상되는 것이다.
이상과 같이 본 발명은 램프 시험 본체의 측부 및 상부에 램프 소켓을 다양하게 설치함과 아울러 상기 램프 시험 본체를 진동기에 탑재될 수 있게 형성하여 램프 가속 수명 시험이 다각적으로 실시되게 하는 것으로서, 상기 램프 시험 본체를 통한 램프 가속 수명 시험이 적정하게 이루어짐에 따라 램프의 시험 신뢰성이 향상되는 것이다.
그리고 상기 램프 가속 수명 시험을 실시할 때 램프의 가혹 조건을 최악의 상태로 유지되게 램프 소켓을 입설시켜 설치하는 것으로서, 상기 램프 소켓을 램프시험 본체의 수평방향 및 수직방향으로 배치시켜 고정함으로써 가혹 조건에 따른 가속 수명 시험이 세분화되어 나타나는 것이다.
또한 상기 단자대와 스위치 사이에 휴즈를 설치하여 램프와 램프 소켓 및 단자대에 이상 현상이 발생되는 경우 자동적으로 외부 전원이 차단됨으로써 안전 사고 발생이 일어나지 않는 것이다.

Claims (3)

  1. 램프 시험 본체(10)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 상부와 측부에 고정되는 램프 소켓(12)과, 상기 램프 시험 본체(10)의 내부에 설치됨과 아울러 상기 램프 소켓(12)에 각각 연결되는 단자대(14)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 도어(16)에 설치되어 단자대(14)와 외부 전원선(3)을 연결하는 스위치(18)로 이루어진 것을 특징으로 하는 램프 가속 수명 시험장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 램프 소켓(12)중 일부의 램프 소켓(12)이 입설되게 설치되는 것을 특징으로 하는 램프 가속 수명 시험장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 단자대(14)와 스위치(18) 사이에 휴즈(20)가 설치되는 것을 특징으로 하는 램프 가속 수명 시험장치.
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