KR20020088514A - No video sensing apparatus when semiconductor function testing - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 노 비디오(No Video) 감지장치에 관한 것으로서, 특히 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트에서 노 비디오 발생시 PC로부터 제공되는 특정신호를 이용하여 빠른 시간 내에 노 비디오를 감지할 수 있도록 한 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a no video sensing device. In particular, in a semiconductor device mounting test using a PC motherboard, a no video can be detected quickly using a specific signal provided from the PC when no video is generated. The present invention relates to a no-video sensing device in a semiconductor device mounting test using a motherboard.
일반적으로 반도체 소자의 조립 공정 후에 내부 회로의 특성이나 신뢰성을 검사하기 위해, 조립된 반도체 소자를 소켓에 장착한 후, 고가의 반도체 메모리 테스트를 위한 전문장비를 사용하여 테스트를 실시하고 있다.In general, in order to check the characteristics and reliability of the internal circuit after the semiconductor device assembly process, the assembled semiconductor device is mounted in a socket, and then tested using specialized equipment for expensive semiconductor memory test.
그러나 전문 반도체 메모리 테스트 장치는 여러 가지 문제점이 있는 바, 예컨대 가격이 아주 비싸기 때문에 하나 하나의 반도체 소자의 테스트에 소요되는 비용이 높아지게 되므로 기업의 가격 경쟁력을 낮출 뿐만 아니라, 반도체 소자가 실제로 장착되어 사용되는 환경이 아니라 완전히 별도의 장치에서 테스트되어지기 때문에 상기 반도체 소자가 실제로 사용되는 환경인 PC 마더보드에서 발생하는 노이즈 등과 같은 환경특성을 제대로 구현하지 못하기 때문에 테스트의 정확도가 떨어져 품질문제를 발생시키는 단점이 있다.However, the specialized semiconductor memory test apparatus has a number of problems, for example, because the price is very expensive, the cost of testing a single semiconductor device is increased, which not only lowers the price competitiveness of the enterprise, but also actually mounts and uses the semiconductor device. Since the semiconductor device is not tested in a real environment, but because the semiconductor device does not properly implement environmental characteristics such as noise generated in a PC motherboard, which is the environment in which the semiconductor device is actually used, the test accuracy is lowered, which causes quality problems. There are disadvantages.
이와 같은 문제점을 해결하기 위해 최근 반도체 소자 생산업체에서는 반도체 소자를 실제 사용하는 환경인 PC의 마더보드 자체를 이용한 테스트 방법을 선호하는 경향이 있는데, 이와 같이 PC의 마더보드를 이용한 방법은 마더보드에 반도체 모듈이나 반도체 단위 소자를 착탈 가능하게 장착할 수 있게 하기 위해 소켓을 설치한 후, 이 소켓에 테스트할 메모리 모듈이나 단위 메모리 소자를 장착하고 PC를 가동시킴으로써 반도체 소자가 정상적인 것인지 불량품인지를 판단한다.In order to solve these problems, semiconductor device manufacturers tend to prefer a test method using the motherboard of the PC, which is an environment in which the semiconductor device is actually used. After the socket is installed so that the semiconductor module or the semiconductor unit element can be detachably mounted, the memory module or unit memory element to be tested is installed in the socket and the PC is operated to determine whether the semiconductor element is normal or defective. .
PC의 마더보드를 이용한 양불 테스트시 테스트 과정에서 반도체 단위 소자나모듈이 소켓에 잘못 꽂혔거나 또는 불량품일 경우 노 비디오 처리하게 되는데, 현재는 부팅 후 약 25초 정도 대기 후, PC로부터 아무런 응답이 없으면 노 비디오 처리를 하게 된다.When testing the PC's motherboard, if the semiconductor device or module is incorrectly plugged into the socket or is defective, no video processing is performed. Currently, after waiting for about 25 seconds after booting, if there is no response from the PC, No video processing is done.
따라서 노 비디오의 횟수가 많아지면 많아질수록 그 만큼 로스 타임이 증가하게 되므로 이에 대한 개선책이 필요하였다.Therefore, as the number of no-videos increases, the loss time increases accordingly, and thus an improvement is required.
본 발명은 이러한 점을 감안하여 안출한 것으로, 본 발명은 PC의 마더보드를 이용한 반도체 소자의 정상 또는 불량 여부의 테스트시 PC 마더보드로부터 발생되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨을 이용하여 노 비디오 인식시간을 단축할 수 있도록 한 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치를 제공함에 그 목적이 있다.The present invention has been made in view of the above, and the present invention provides a no-video using the voltage level of the beep sound or video signal generated from the PC motherboard during the test of the normal or defective semiconductor device using the PC motherboard. The purpose of the present invention is to provide a no-video sensing device for semiconductor device mounting test using a PC motherboard to reduce the recognition time.
도 1은 본 발명의 개념 구성도.1 is a conceptual diagram of the present invention.
도 2a는 본 발명의 일 실시 예도.Figure 2a is an embodiment of the present invention.
도 2b는 본 발명의 다른 실시 예도.Figure 2b is another embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
100 : PC 마더보드 200 : 테스터100: PC motherboard 200: Tester
300 : 노 비디오 감지수단 311 : 비프음 검출부300: no video detection means 311: beep detection unit
321 : 비디오 전압 레벨 검출부 312,322 : 비교부321: video voltage level detector 312,322: comparison unit
313,323 : 노 비디오 감지신호 발생부313,323: no video detection signal generator
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치의 일 실시 예는, PC 마더보드의 스피커음 출력단으로부터 출력되는 비프음을 검출하는 비프음 검출부와; 상기 비프음 검출부에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값을 비교하는 비교부와; 상기 비교부의 비교 결과 상기 비프음 검출부에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값이 다를 경우 노 비디오 감지신호를 발생하는 노 비디오 감지신호 발생부로 구성됨을 특징으로 한다.One embodiment of a no video detection apparatus for testing a semiconductor device using a PC motherboard according to the present invention for achieving the above object is a beep sound detection unit for detecting the beep output from the speaker sound output terminal of the PC motherboard; ; A comparison unit for comparing the beep sound detected by the beep detection unit with a preset reference value; And a no video detection signal generator for generating a no video detection signal when the beep sound detected by the beep detection unit differs from a preset reference value.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시 예는 PC 마더보드의 비디오출력단으로부터 출력되는 비디오 신호의 전압 레벨을 검출하는 비디오 전압 레벨 검출부와; 상기 비디오 전압 레벨 검출부에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨을 비교하는 비교부와; 상기 비교부의 비교 결과 상기 비디오 전압 레벨 검출부에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨이 다를 경우 노 비디오 감지신호를 발생하는 노 비디오 감지신호 발생부로 구성됨을 특징으로 한다.Another embodiment of the present invention for achieving the above object is a video voltage level detection unit for detecting the voltage level of the video signal output from the video output terminal of the PC motherboard; A comparator for comparing the video voltage level detected by the video voltage level detector with a preset video voltage level; And a no video detection signal generator for generating a no video detection signal when the video voltage level detected by the video voltage level detector is different from the preset video voltage level.
이하, 본 발명을 첨부된 도면을 참조로 하여 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 PC 마더보드를 이용한 반도체 소자 실장 테스트시의 노 비디오 감지장치의 개략 구성도를 도시한 것으로, 테스트를 위한 반도체 소자 또는 모듈이 실장되는 PC 마더보드(100)와 상기 PC 마더보드(100)에 실장 테스트를 위한 각종 신호를 제공하는 테스터(200) 사이에 노 비디오 감지수단(300)이 구성되는 것으로, 상기 노 비디오 감지수단(300)은 상기 PC 마더보드(100)로부터 출력되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨을 바탕으로 노 비디오 발생을 감지하여 노 비디오 발생시 상기 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력한다.1 is a schematic configuration diagram of a no-video detection apparatus during a semiconductor device mounting test using a PC motherboard according to the present invention. The PC motherboard 100 and the PC on which the semiconductor device or module for testing is mounted are illustrated in FIG. No video sensing means 300 is configured between the tester 200 for providing various signals for mounting test on the motherboard 100, the no video sensing means 300 is from the PC motherboard 100 No video generation is detected based on the output beep sound or the voltage level of the video signal. When no video is generated, the no video detection signal is output to the tester 200.
도 2a는 상기 노 비디오 감지수단(300)의 일 실시 예에 따른 블록 구성도를 도시한 것이다.2A illustrates a block diagram of the no video detecting unit 300 according to an exemplary embodiment.
이에 도시한 바와 같이, 비프음 검출부(311)에서 PC 마더보드(100)의 스피커음 출력단(SP-OUT)으로부터 출력되는 비프음을 검출하고, 비교부(312)에서 상기 비프음 검출부(311)에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)을 비교하며, 노 비디오 감지신호 발생부(313)에서 상기 비교부(312)의 비교 결과 상기 비프음 검출부(311)에서 검출한 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)이 다를 경우 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력토록 구성된다.As shown in the drawing, the beep detection unit 311 detects the beep sound output from the speaker sound output terminal SP-OUT of the PC motherboard 100, and the comparison unit 312 detects the beep sound detection unit 311. Compares the beep sound detected by the predetermined reference value (ref1) and the beep sound detected by the beep detection unit 311 as a result of the comparison of the comparison unit 312 in the no video detection signal generator 313 When the preset reference value ref1 is different, the tester 200 is configured to output a no video detection signal.
상기와 같이 구성된 본 발명의 일 실시 예에서 상기 비프음 검출부(311)는 PC 마더보드(100)의 스피커음 출력단(SP-OUT)으로부터 출력되는 비프음을 검출하게 된다.In the exemplary embodiment of the present invention configured as described above, the beep sound detection unit 311 detects the beep sound output from the speaker sound output terminal SP-OUT of the PC motherboard 100.
상기 비프음 검출부(311)에서 비프음을 검출하면 이는 비교부(312)로 입력되며, 비교부(312)에서는 상기 비프음 검출부(311)로부터 입력된 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)을 비교한다.When the beep detection unit 311 detects a beep sound, it is input to the comparator 312, and the comparator 312 receives a beep sound input from the beep sound detection unit 311 and a preset reference value ref1. Compare
여기서, 상기 비교부(312)에 기 설정되어 있는 기준값(ref1)은 통상적으로 출력되는 비프음 신호이며, 통상 실장 테스트시 마더보드에서는 반도체 단위 소자나 모듈이 소켓에 잘못 꽂혔거나 또는 불량품일 경우 비프음을 출력하게 되는데, 이때의 비프음은 통상적으로 출력되는 비프음과는 그 주기가 다르다.Here, the reference value ref1 preset in the comparator 312 is a beep signal that is normally output. In a normal test, the motherboard beeps when a semiconductor unit device or module is incorrectly inserted into a socket or is defective. The sound is output, and the period of the beep sound is different from the normal beep sound.
따라서 비교부(312)에서는 비프음 검출부(311)로부터 입력되는 비프음과 기 설정되어 있는 기준값(ref1)의 비교시 그 주기를 비교하게 되며, 비교결과를 노 비디오 감지신호 발생부(313)로 입력한다.Therefore, the comparison unit 312 compares the period when the beep sound input from the beep detection unit 311 and the preset reference value ref1 are compared. The comparison result is transmitted to the no video detection signal generation unit 313. Enter it.
상기 비교부(312)의 비교결과 상기 기준값(ref1)과 비프음 검출부(311)에서 검출한 비프음이 다른 것으로 판단되면 상기 노 비디오 감지신호 발생부(313)에서는 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력하며, 그렇지 않으면 노 비디오 감지신호를 발생하지 않는다.If the comparison result of the comparison unit 312 determines that the reference value ref1 and the beep sound detected by the beep detection unit 311 are different, the no video detection signal generator 313 detects the no video by the tester 200. Signal, otherwise no video detection signal is generated.
도 2b는 상기 노 비디오 감지수단(300)의 다른 실시 예에 따른 블록 구성도를 도시한 것이다.2B illustrates a block diagram of another embodiment of the no video sensing unit 300.
이에 도시한 바와 같이, 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 PC 마더보드(100)의 비디오 출력단(V-OUT)으로부터 출력되는 비디오 신호(R,G,B)의 전압 레벨을 검출하고, 비교부(322)에서 상기 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)을 비교하며, 노 비디오 감지신호 발생부(323)에서 상기 비교부(322)의 비교 결과 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 전압 레벨과 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)이 다를 경우 상기 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 출력토록 구성된다.As shown in the drawing, the video voltage level detector 321 detects the voltage level of the video signals R, G, and B output from the video output terminal V-OUT of the PC motherboard 100, and compares the voltage level with the comparator ( In 322, the video voltage level detected by the video voltage level detector 321 is compared with a preset video voltage level ref2, and the no video detection signal generator 323 compares the comparator 322. As a result, when the video voltage level detected by the video voltage level detector 321 and the preset video voltage level ref2 are different, the no-video detection signal is output to the tester 200.
상기와 같이 구성된 본 발명의 다른 실시 예에서는 상기 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 PC 마더보드(100)의 비디오 출력단(V-OUT)으로부터 출력되는 비디오 신호(R,G,B)의 전압 레벨을 검출하게 된다.According to another embodiment of the present invention configured as described above the voltage level of the video signal (R, G, B) output from the video output terminal (V-OUT) of the PC motherboard 100 in the video voltage level detection unit 321 Will be detected.
상기 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 비디오 신호의 출력 전압 레벨을 검출하여 비교부(322)로 입력하면 비교부(322)에서는 기 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)과 비디오 전압 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 전압 레벨을 비교하여 그 비교결과를 노 비디오 감지신호 발생부(323)로 입력한다.When the output voltage level of the video signal is detected by the video voltage level detector 321 and input to the comparator 322, the comparator 322 presets the video voltage level ref2 and the video voltage level detector 321. The video voltage level detected by the signal is compared and the comparison result is input to the no video detection signal generator 323.
여기서, 상기 비교부(322)에 설정되어 있는 비디오 전압 레벨(ref2)은 노 비디오 발생시가 아닌 통상적으로 출력되는 비디오 신호의 전압 레벨이며, 통상 실장 테스트시 PC 마더보드(100)에서는 노 비디오 처리를 해야 할 경우 즉, 반도체 단위 소자나 모듈이 소켓에 잘못 꽂혔거나 또는 불량품일 경우 비디오 신호의 출력전압 레벨을 통상의 경우와는 다르게 출력한다.Here, the video voltage level ref2 set in the comparator 322 is a voltage level of a video signal that is normally output instead of a no video generation, and the PC motherboard 100 performs no video processing during a normal test. In other words, if the semiconductor unit device or module is incorrectly plugged into the socket or is defective, the output voltage level of the video signal is output differently than usual.
상기 노 비디오 감지신호 발생부(323)는 상기 비교부(322)의 비교결과 비디오 전압 레벨(ref2)과 상기 비디오 레벨 검출부(321)에서 검출한 비디오 신호의 전압 레벨이 다르면 상기 테스터(200)로 노 비디오 감지신호를 발생하고, 그렇지 않으면 노 비디오 감지신호를 발생하지 않는다.The no video detection signal generator 323 may be configured to the tester 200 when the video voltage level ref2 and the voltage level of the video signal detected by the video level detector 321 are different. It generates a no video detection signal, otherwise it does not generate a no video detection signal.
상기 일 실시 예에서 비프음을 검출하여 노 비디오 감지신호를 발생하기까지 걸리는 시간 및 상기 다른 실시 예에서 비디오 전압 레벨을 검출하여 노 비디오 감지신호를 발생하기까지 걸리는 시간은 대략 5초 정도가 소요된다. 따라서 통상 부팅 후 약 25초 정도 대기 후, 노 비디오를 감지하던 종래에 비해 노 비디오 감지시간이 대폭 감소됨을 알 수 있다.The time taken to detect the beep sound and generate the no video detection signal in the embodiment, and the time taken to detect the video voltage level and generate the no video detection signal in the other embodiment takes about 5 seconds. . Therefore, after waiting for about 25 seconds after the normal boot, it can be seen that the no-video detection time is significantly reduced compared to the conventional detection of no video.
본 발명은 상기에 기술된 실시 예에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 청구항에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함된다.The present invention is not limited to the above described embodiments, and various modifications and changes can be made by those skilled in the art, which are included in the spirit and scope of the present invention as defined in the appended claims.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은, PC의 마더보드를 이용한 반도체 소자의 테스트시 PC의 마더보드로부터 출력되는 비프음이나 비디오 신호의 전압 레벨 검출하여 이를 바탕으로 아주 빠른 시간 내에 노 비디오 인식신호를 출력함으로써 종래에 비해 노 비디오 인식시간이 매우 단축되므로 실장 테스트시의 노 비디오 인식에 소모되던 로스 타임을 대폭 줄일 수 있게 된다.As described above, the present invention detects a voltage level of a beep sound or a video signal output from a PC motherboard when a semiconductor device is tested using a PC motherboard, and outputs a no-video recognition signal based on this. As a result, the no-video recognition time is much shorter than in the related art, thereby significantly reducing the loss time consumed in the no-video recognition during the implementation test.
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