KR20010059948A

KR20010059948A - 망동기 보드의 위상동기루프 테스트 장치

Info

Publication number: KR20010059948A
Application number: KR1019990067489A
Authority: KR
Inventors: 천형준
Original assignee: 박종섭; 주식회사 하이닉스반도체
Priority date: 1999-12-30
Filing date: 1999-12-30
Publication date: 2001-07-06

Abstract

본 발명은 테스트 지그(JIG)를 사용하여 PLL을 테스트하는데 작업을 간편하게 함으로써 시간적 경제적 손실을 줄일 수 있도록 하는 망동기 보드의 PLL 테스트 장치에 관한 것으로서,

하나의 망동기 보드에서 출력되는 외부 기준 클럭과 내부 발진 클럭을 오실로스코프에서 입력받아 동기가 맞추어지는지를 확인하기 위하여, 상기 망동기 보드로부터 전원을 공급받고, 상기 망동기 보드로 2.048㎒, 8㎑ 및 4㎑의 외부 기준 클럭을 공급하는 테스트 지그를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

망동기 보드의 위상동기루프 테스트 장치 { Test module for PLL of Reference clock Distribution Unit }

본 발명은 망동기 보드의 위상동기루프 테스트 장치에 관한 것으로서 특히, 광대역 무선 가입자망(wideband wireless local loop system : W-WLL)의 기지국과 기지국 제어기에 있는 망동기부의 위상동기루프(이하, PLL이라 함)를 테스트 하기 위한 망동기 보드의 PLL 테스트 장치에 관한 것이다.

일반적으로, PLL(Phase locked loop) 테스트란 망동기 보드가 도 1에서 도시된 바와 같이, 상위 시스템(1)에서 내보낸 외부 기준 클럭에 OCXO(oven type clock crystal oscillator)(2)에서 출력되는 내부 발진 클럭의 동기를 PLL 과정에서 맞추는 지의 여부를 테스트 하는 것이다. 이때, 동기가 맞추어지는지의 결정은 도 2에 도시된 바와 같이 외부 기준 클럭과 내부 발진 클럭의 차이가 오실로스코프로 10ns 이내를 만족하여야 한다.

종래 기술에서는 상기와 같은 PLL의 테스트를 위하여 도 3에 도시된 바와 같이 2개의 망동기 보드(11,12)를 이용하여 오실로스코프(13)에서 파형을 직접 확인하였다. 이때, 제1 망동기 보드(11)에서는 2.048㎒ 및 8㎑의 기준 클럭을 제2 망동기 보드(12)로 출력하고, 상기 제2 망동기 보드(12)에서는 4㎑의 외부 기준 클럭과 4㎑의 내부 발진 클럭을 오실로스코프(13)로 출력함으로써 동기가 맞추어지는지를확인할 수 있게 된다.

상기에서 각각의 망동기 보드(11,12)에는 개별적으로 전력공급기(14,15)가 연결된다.

한편, PLL의 테스트를 위한 종래 기술의 다른 구성으로는 도 4에 도시된 바와 같이, 기지국 제어기(RPC : radio port controller)(21)와, 기지국(RP : radio port)(22)이 필요하고, 상기 기지국(22)에서 출력되는 4㎑의 외부 기준 클럭과 4㎑의 내부 발진 클럭을 오실로스코프(23)에서 입력받아 동기가 맞추어지는지를 확인하고 있다.

이때, 상기 기지국 제어기(21)의 기준 클럭 제공부(RCU)에서 16.384㎒, 8㎑의 기준 클럭을 제공하면, 상기 기지국(22)에서 2㎒ 및 8㎑로 변환한 후 기준 클럭 분배부(RDU)에서 4㎑의 외부 기준 클럭과 4㎑의 내부 발진 클럭을 오실로스코프(23)로 출력한다.

상기와 같이 종래 기술에 의하여 망동기 보드의 PLL을 테스트하기 위해서는 망동기 보드 2장 또는 기지국 제어기(RPC), 기지국(RP)과 같은 별도의 보드를 이용해야 하기 때문에 PLL의 테스트 작업이 복잡하게 되고 많은 비용이 소요되는 문제점이 발생한다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은 망동기 보드 2장을 사용하거나 랙(RACK)에 실장하여 사용하지 않고 간단한 구조의 테스트 지그(JIG)를 사용하여 PLL을 테스트하는데 작업을 간편하게 함으로써 시간적 경제적 손실을 줄일 수 있도록 하는 망동기 보드의 PLL 테스트 장치를 제공하는데 있다.

도 1은 일반적인 PLL의 테스트 동작을 설명하기 위한 블록도

도 2는 PLL의 테스트 동작시 오실로스코프에서 출력되는 외부 기준 클럭 및 내부 발진 클럭의 파형도

도 3은 종래 기술에 의하여 2장의 망동기 보드를 이용하여 PLL을 테스트하는 동작을 설명하기 위한 블록도

도 4는 종래 기술의 다른 예에 의하여 기지국 제어기(RPC)와 기지국(RP)을 이용하여 PLL을 테스트하는 동작을 설명하기 위한 블록도

도 5는 본 발명에 의한 망동기 보드의 PLL 테스트 장치의 구성을 나타내는 블록도

도 6은 본 발명에 의한 테스트 지그의 구성을 나타내는 블록도

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

31 : 망동기 보드 32 : 오실로스코프

33 : 테스트 지그 34 : 전력 공급기

41 : 클럭 발진부 42 : 아날로그/디지털 변환부

43 : 분주부 44 : 클럭출력부

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따르면, 하나의 망동기 보드에서 출력되는 외부 기준 클럭과 내부 발진 클럭을 오실로스코프에서 입력받아 동기가 맞추어지는지를 확인하는 망동기 보드의 PLL 테스트 장치에 있어서,

상기 망동기 보드로부터 전원을 공급받고, 상기 망동기 보드로 2.048㎒, 8㎑ 및 4㎑의 외부 기준 클럭을 공급하는 테스트 지그를 포함하는 망동기 보드의 PLL 테스트 장치를 제공한다.

이때, 본 발명의 부가적인 특징에 따르면, 상기 테스트 지그는 10㎒의 아날로그 클럭을 발생시키는 클럭 발진부와, 상기 클럭 발진부에서 출력되는 10㎒의 아날로그 클럭을 디지털 클럭으로 변환시키는 아날로그/디지털 변환부와, 상기 아날로그/디지털 변환부에서 출력되는 10㎒의 디지털 클럭을 2.048㎒의 클럭으로 분주시키는 분주부와, 상기 분주부에서 출력되는 클럭을 입력받아 외부 기준 클럭인 2.048㎒, 8㎑, 4㎑를 발생시켜 상기 망동기 보드로 출력하는 클럭출력부를 포함하는 것이 바람직하다.

본 발명의 상술한 목적과 여러 가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의해, 첨부된 도면을 참조하여 후술되는 본 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 5는 본 발명에 의한 망동기 보드의 PLL 테스트 장치의 구성을 나타내는 블록도이고, 도 6은 본 발명에 의한 테스트 지그의 구성을 나타내는 블록도이다.

도 5를 참조하면, 외부 기준 클럭을 공급하는 보드를 쪽 보드 형식으로 개발하여 망동기 보드에 탑재하여 테스트를 할 수 있게 하였다. 이때, 참조번호 31은 외부 기준 클럭과 내부 발진 클럭을 출력하는 망동기 보드를 나타내고, 32는 상기 망동기 보드(31)에서 출력되는 외부 기준 클럭과 내부 발진 클럭을 입력받아 동기가 맞추어지는지를 확인하는 오실로스코프를 나타내고, 33은 상기 망동기 보드(31)로부터 전원을 공급받고, 상기 망동기 보드(31)로 2.048㎒, 8㎑ 및 4㎑의 외부 기준 클럭을 공급하는 테스트 지그를 나타내며, 34는 상기 망동기 보드(31)로 전력을 공급하기 위한 전력공급기를 나타낸다.

상기에서 테스트 지그(33)는 기지국과 기지국 제어기에 있는 망동기부의 PLL을 테스트하는 기능을 수행하게 되고, 도 6에 도시된 바와 같이, 10㎒의 아날로그 클럭을 발생시키는 클럭 발진부(41)와, 상기 클럭 발진부(41)에서 출력되는 10㎒의 아날로그 클럭을 디지털 클럭으로 변환시키는 아날로그/디지털 변환부(42)와, 상기 아날로그/디지털 변환부(42)에서 출력되는 10㎒의 디지털 클럭을 2.048㎒의 클럭으로 분주시키는 분주부(43)와, 상기 분주부(43)에서 출력되는 클럭을 입력받아 외부 기준 클럭인 2.048㎒, 8㎑, 4㎑를 발생시켜 상기 망동기 보드(31)로 출력하는 클럭출력부(44)로 구성된다.

상기에서 클럭 발진부(41)는 OCXO(oven type clock crystal oscillator)를 이용한다.

상기와 같은 구성을 갖는 본 발명의 동작을 살펴보면 다음과 같다.

먼저, 테스트 지그(33)에서는 망동기 보드(31)로부터 +12V, 15V를 받아들여 클럭 발진부(41)에서 10㎒의 아날로그 클럭을 발생시키고, 상기 아날로그/디지털 변환부(42)와 분주부(43)를 통해 2.048㎒의 디지털 클럭을 출력시킨다. 상기 디지털 클럭은 클럭 출력부(44)를 통해 상기 망동기 보드(31)로 2.048㎒, 8㎑, 4㎑를 출력시키게 되고, 상기 망동기 보드(31)는 그중 한 개의 클럭을 외부 기준 클럭으로 선택하여 PLL 테스트를 수행하게 된다.

이때, 상기 테스트 지그(33)는 쪽 보드 형식으로 개발하여 평소에는 미실장이나 PLL 테스트를 수행할 경우에만 장착하여 테스트를 수행할 수 있게 하는 것이 바람직하다.

이상에서 본 발명은 특정의 실시예와 관련하여 도시 및 설명하였지만, 첨부된 특허청구범위에 의해 나타난 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 한도내에서 다양한 개조 및 변화가 가능하다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진자라면 누구나 쉽게 알 수 있을 것이다.

이상에서 설명한 바와 같은 본 발명의 망동기 보드의 PLL 테스트 장치는 종래와 같은 2장의 망동기 보드를 사용하거나 전체 시스템을 일정 시간 사용하는 방식을 이용하지 않고 간편한 테스트 지그의 이용으로 PLL 테스트를 간편하게 할 수 있는 효과가 있다.

또한, 종래 기술에서는 2장의 망동기 보드를 사용하는 경우에 보드의 소요량 증가와 전력 공급기의 소요량 증가로 인해 경제적 손실이 발생하였으나, 본 발명에서는 보드 한 장에 단일 전력 공급기를 사용함으로써 경제적 손실을 줄일 수 있는 효과가 있다.

Claims

하나의 망동기 보드에서 출력되는 외부 기준 클럭과 내부 발진 클럭을 오실로스코프에서 입력받아 동기가 맞추어지는지를 확인하는 망동기 보드의 PLL 테스트 장치에 있어서,

상기 망동기 보드로부터 전원을 공급받고, 상기 망동기 보드로 2.048㎒, 8㎑ 및 4㎑의 외부 기준 클럭을 공급하는 테스트 지그를 포함하는 것을 특징으로 하는 망동기 보드의 PLL 테스트 장치.
제 1 항에 있어서,

상기 테스트 지그는 10㎒의 아날로그 클럭을 발생시키는 클럭 발진부와, 상기 클럭 발진부에서 출력되는 10㎒의 아날로그 클럭을 디지털 클럭으로 변환시키는 아날로그/디지털 변환부와, 상기 아날로그/디지털 변환부에서 출력되는 10㎒의 디지털 클럭을 2.048㎒의 클럭으로 분주시키는 분주부와, 상기 분주부에서 출력되는 클럭을 입력받아 외부 기준 클럭인 2.048㎒, 8㎑, 4㎑를 발생시켜 상기 망동기 보드로 출력하는 클럭출력부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 망동기 보드의 PLL 테스트 장치.