KR19980070965A - 마이크로파 오븐용 마그네트론의 온도 계측 장치 - Google Patents

마이크로파 오븐용 마그네트론의 온도 계측 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR19980070965A
KR19980070965A KR1019980002630A KR19980002630A KR19980070965A KR 19980070965 A KR19980070965 A KR 19980070965A KR 1019980002630 A KR1019980002630 A KR 1019980002630A KR 19980002630 A KR19980002630 A KR 19980002630A KR 19980070965 A KR19980070965 A KR 19980070965A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
temperature
support
heat sink
cooling heat
magnetron
Prior art date
Application number
KR1019980002630A
Other languages
English (en)
Inventor
드로베르쟝-끌로드
드니샤를
Original Assignee
뷔스끄 쟝. 삐에르
무리넥스소시에떼아노님
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 뷔스끄 쟝. 삐에르, 무리넥스소시에떼아노님 filed Critical 뷔스끄 쟝. 삐에르
Publication of KR19980070965A publication Critical patent/KR19980070965A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/14Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J23/00Details of transit-time tubes of the types covered by group H01J25/00
    • H01J23/005Cooling methods or arrangements
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B6/00Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
    • H05B6/64Heating using microwaves
    • H05B6/66Circuits
    • H05B6/666Safety circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Microwave Tubes (AREA)
  • Electric Ovens (AREA)

Abstract

본 발명은 온도 변환기를 사용한 마이크로파 오븐의 마그네트론 (1) 의 온도 계측 장치에 관한 것으로, 상기 마그네트론은 애노드 블럭 (11) 을 둘러싼 케이스 (10) 을 포함하고 마그네트론의 냉각 방열판 (15, 15') 은 전술한 애노드 블럭에 대해 횡단으로 연장되어 있다.
본 발명에 따르면, 온도 변환기를 열전도성 재료로 된 지지체 (2) 상에 고정하고, 이를 하나 이상의 냉각 방열판 (15') 상에 설치하여 애노드 블럭의 온도의 대표 온도를 계측하도록 되어 있다.

Description

마이크로파 오븐용 마그네트론의 온도 계측 장치
본 발명은 온도 변환기를 이용한 마이크로파 오븐의 마그네트론의 온도 계측 장치에 관한 것으로, 상기 마그네트론은 애노드 블럭을 둘러싼 케이스를 포함하며, 마그네트론의 냉각 방열판은 상기 애노드 블럭에 대해 횡단으로 연장되어 있다.
하소 영역을 형성하고 마그네트론에 의해 에너지가 공급되는 캐비티를 포함하는 마이크로파 오븐에 있어서, 캐비티 내부에서 충전물 (charge)의 변동은 마그네트론의 애노드 블럭의 온도 변동에 의해 나타내어지는 정적 파장 비율의 변동을 초래하는 것으로 알려져 있다.
애노드 블럭의 온도로 구성되는 정보를 활용함에 있어서, 예를 들면 텅빈 또는 오븐의 부속품 (체 (clayette), 회전 쟁반, ...) 만을 사용한 작동, 또는 냉각 시스템에서의 불량 작동 (마그네트론의 냉각 환기 장치의 차단, 오븐의 통풍 기관의 폐색, ... ) 등과 같은 오븐의 비정상 사용 상태를 인지하는 것이 따라서 가능하다.
실제로 사용되는 계측 장치에 있어서, 온도는 마그네트론 케이스의 외부 표면 수준에 고정된 써모스탯 (thermostat) 에 의해 예상된다. 게다가, 서모스탯은 비정상적인 기능이 검출될 때 상기 배전을 경우에 따라 중단할 수 있도록 하는 방식으로 마그네트론의 배전 회로에 연결되어 있다.
이런 유형의 장치의 주요한 단점은 종종 매우 높은 그의 응답 시간에 있는데, 그 결과, 이것은 마그네트론 보호를 위한 그의 역할을 효과적으로 수행하지 못한다.
이러한 높은 응답 시간은, 한편으로는, 애노드 블럭에 비해 써모스탯의 멀리 떨어진 위치에 기인하며, 다른 한편으로는, 마그네트론을 강하게 환기시키는 것이 필요하다는 사실에 기인하는데, 이로 인해 계측이 왜곡되게 된다.
본 발명은 응답 시간이 개선된 새로운 온도 계측 장치를 제공함을 목적으로 한다.
도 1 은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 온도 계측 장치인 지지체에 장치된 마그네트론의 투시도.
도 2 는 도 1 의 지지체의 평면도.
도 3 은 도 2 의 지지체의 측면도.
도 4 는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 계측 장치의 지지체의 평면도.
도 5 는 도 4 의 지지체의 측면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 마그네트론 2 : 지지체
10 : 케이스 11 : 애노드 블럭
15, 15': 냉각 방열판
상기 목적은, 본 발명에 따르면, 온도 변환기가, 애노드 블럭의 온도의 대표 온도를 계측할 수 있도록 하나 이상의 냉각 방열판 상에 설치되도록 예정된, 열전도성 물질로 된 지지체 상에 고정되어 있는 것에 의해 달성된다.
이러한 방식으로, 온도 변환기는 애노드 블럭의 가장 가까이에 있을 뿐만 아니라 마그네트론의 환기에 의해 보다 적게 영향을 받는다.
본 발명의 또 다른 특성들은 첨부된 도면을 참조로 하여 다음의 설명 도중에 명백해질 것이다.
도 1 에 도시된 마그네트론 (1) 은, 일반적으로 실린더형 덮개인 애노드 블럭 (11) 을 둘러싸고 있는 케이스 (10) 을 포함한다. 애노드 블럭은 도면에느 도시되지 않은 캐소드를 둘러싸고 있다. 마그네트론에 전압이 공급되면, 애노드 블럭 (11) 은 캐쏘드에 의해 방출되는 전자들을 수신한다. 전자장 (electron field) 은, 일반적으로 실린더형이고 애노드 블럭 (11) 의 각 말단에 동심적으로 위치한 한 쌍의 자석 (12, 13) 의 중개에 의해 집중된다. 마이크로파는 안테나 (14) 에 의해 방출된다. 복수개의 방열판 (15) 은 애노드 블럭 (11) 에 대해 횡단으로 연장되어 상기 블록의 냉각이 기능하도록 보장한다.
케이스 (10) 의 수준에서 온도의 계측을 미리 취하는 대신에, 본 발명은, 도면을 복잡하게 하지 않도록 표현하지 않았지만, 하나 이상의 냉각 방열판 (15') 상에 설치하게 될 열전도성 물질로 된 지지체 (2) 상에 온도 변환기를 고정시킨 계측 장치를 준비한다.
상기 지지체 (2) 는 냉각 방열판 (15') 상에 착탈가능한 방식으로 설치되는 것이 바람직하다.
도면에서 예로서 주어진 두가지 실시예에 있어서, 지지체 (2) 는 거의 평면 형태이다. 그것은 온도 변환기를 받아들이기 위한, 예를 들면 구멍 (21) 을 포함하는 기판 (20) 으로 되어 있다. 냉각 방열판 (15') 상에의 지지체 (2) 의 유지는 예를 들면 지지체 기판 (20)에 연결된 두 개의 발 (foot) (22) 에 의해 이루어지는데, 이들 발은 상기 기판 (20) 과 함께 냉각 방열판 (15')를 조이는 두 개의 탄성 집게를 형성하게 된다.
또한, 두 개의 아암 (23; 24) 은 기판 (20) 으로부터 동일한 방향으로 연장되어 있고, 지지체가 냉각 방열판 (15') 상에 설치될 때는, 도 1 에서 보는 바와 같이, 애노드 블럭 (11) 의 양쪽에 위치하게 된다. 지지체 (2)가 냉각 방열판 상에 위치하여 있게 됨을 보장하기 위하여, 도 1 에서 점선으로 표시된 바와 같이, 방열판의 후미에 두 개의 아암 (23) 의 자유 말단들을 수직으로 구부릴 수도 있다.
도 1 내지 3 에 도시된 실시예에서, 두 개의 아암 (23) 은 방열판 (15') 의 평면에 평행하게 연장되며 전술한 방열판과 접하고 있다. 게다가, 온도 변환기는 또한 바람직하게는 방열판 (15') 와 접하도록 구멍 (21) 에 설치된다. 애노드 블럭 (11) 의 온도에 상대되는 정보는, 따라서, 냉각 방열판 및 지지체의 아암 (23) 을 거쳐 변환기로 전달된다.
도 4 및 5 에 도시되어 있는 특히 바람직한 실시예에 있어서, 기판 (20)으로부터 연장된 두 개의 아암 (24) 은, 지지체가 냉각 방열판 상에 설치되어 있을 때 애노드 블럭 (11)의 형태를 둘러싸게 되는 방식으로 일치된다. 따라서, 온도 변환기는 애노드 블럭의 온도를 더욱 잘 표현하는 계측을 아암 (24)를 거쳐서 개선된 응답 시간으로써 수신한다.
지지체 재료는, 이 경우에, 우수한 열전도성이어야 한다. 바람직하게는 오스테나이트성 비산화금속을 사용한다.
본 발명의 범주를 벗어남이 없이 또 다른 구현 형태가 추구될 수 있음을 용이하게 이해할 수 있을 것이다. 그리고, 지지체는 여러 가지 형태의 온도 변환기를 받아들이기 위해 매우 다양한 형태로 있을 수 있다. 게다가, 사용되는 변환기는 단순한 써모스탯일 수 있거나, 또는 파지티브 온도 상수 (positive temperature constant, PTC) 또는 네거티브 온도 상수 (NTC) 를 갖는 전자 구성품일 수도 있다.
본 발명의 온도계측 장치는 응답 시간이 짧아 마그네트론 보호를 위한 역할을 효과적으로 수행할 수 있어, 계측의 왜곡이 생기지 않게 된다.

Claims (9)

  1. 온도 변환기를 사용한 마이크로파 오븐의 마그네트론 (1) 의 온도 계측 장치로서, 상기 마그네트론은 애노드 블럭 (11) 을 둘러싼 케이스 (10) 을 포함하고 마그네트론의 냉각 방열판 (15, 15') 은 전술한 애노드 블럭에 대해 횡단으로 연장되어 있는, 마이크로파 오븐의 마그네트론의 온도 계측 장치에 있어서,
    상기 온도 변환기를 열전도성 재료로 된 지지체 (2) 상에 고정하고, 이를 하나 이상의 냉각 방열판 (15') 상에 설치하여 애노드 블럭의 온도의 대표 온도를 계측하도록 되어 있음을 특징으로 하는 마이크로파 오븐의 온도 계측 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 지지체 (2) 는 냉각 방열판 (15') 상에 착탈가능한 방식으로 설치되어 있음을 특징으로 하는 장치.
  3. 제 1 또는 2 항에 있어서, 상기 지지체 (2) 는 거의 평면 형태로 되어 있고, 온도 변환기가 설치된 기판 (20)을 포함하며, 두 개의 아암 (23; 24) 은 지지체가 냉각 방열판 상에 위치되어 있을 때 애노드 블럭 (11) 의 양쪽에 위치하도록 기판 (20)으로부터 동일한 방향으로 연장되어 있음을 특징으로 하는 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 지지체 (2) 는 기판 (20)에 연결된 발 (22) 에 의해 냉각 방열판 (15') 상에 설치되며, 각각의 발은 기판과 함께 냉각 방열판 (15')을 조이는 탄성 집게를 형성함을 특징으로 하는 장치.
  5. 제 3 항 또는 4 항에 있어서, 상기 두 아암 (23) 은 냉각 방열판 (15')의 평면에 평행하게 연장되며, 전술한 방열판과 접하고 있음을 특징으로 하는 장치.
  6. 제 3 항 또는 4 항에 있어서, 상기 두 (24) 은, 지지체가 냉각 방열판 (15') 상에 위치하고 있을 때, 애노드 블럭 (11)의 형태를 둘러싸게 되는 방식으로 일치되어 있음을 특징으로 하는 장치.
  7. 제 1 항 내지 6 항들중 어느 한 항에 있어서, 상기 지지체의 재료는 오스테나이트성 비산화금속으로 되어 있음을 특징으로 하는 장치.
  8. 제 1 항 내지 7 항들중 어느 한 항에 있어서, 상기 온도 변환기는 써모스탯으로 구성됨을 특징으로 하는 장치.
  9. 제 1 항 내지 8 항들중 어느 한 항에 있어서, 온도 변환기는 파지티브 온도 상수 (PTC) 또는 네거티브 온도 상수 (NTC) 를 갖는 전자 구성품으로 구성됨을 특징으로 하는 장치.
KR1019980002630A 1997-01-31 1998-01-31 마이크로파 오븐용 마그네트론의 온도 계측 장치 KR19980070965A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9701040A FR2759238B1 (fr) 1997-01-31 1997-01-31 Dispositif de mesure de la temperature d'un magnetron pour four a micro-ondes
FR97/01040 1997-01-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19980070965A true KR19980070965A (ko) 1998-10-26

Family

ID=9503152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980002630A KR19980070965A (ko) 1997-01-31 1998-01-31 마이크로파 오븐용 마그네트론의 온도 계측 장치

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPH10260081A (ko)
KR (1) KR19980070965A (ko)
CN (1) CN1135595C (ko)
FR (1) FR2759238B1 (ko)
GB (1) GB2321764B (ko)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001234861A (ja) 2000-02-22 2001-08-31 Toyota Autom Loom Works Ltd 圧縮機の皮膜形成対象部品及び皮膜形成対象部品における皮膜形成方法
DE102004015993B4 (de) * 2004-04-01 2010-04-15 Electrolux Schwanden Ag Mikrowellengerät sowie Verfahren zum Betrieb eines Mikrowellengeräts
JP2010196940A (ja) 2009-02-24 2010-09-09 Panasonic Corp 高周波加熱装置
JP5359378B2 (ja) * 2009-03-03 2013-12-04 パナソニック株式会社 高周波加熱装置
DE102014112590A1 (de) * 2014-09-02 2016-03-17 Miele & Cie. Kg Gargerät und Verfahren
CN106017735A (zh) * 2016-07-30 2016-10-12 无锡信大气象传感网科技有限公司 一种温度监控器
CN106017736B (zh) * 2016-07-30 2019-06-14 胜利油田东强机电设备制造有限公司 一种高效温度监控器
DE102018105006A1 (de) 2018-03-05 2019-09-05 Muegge Gmbh Verfahren zur Überwachung eines Magnetrons und Magnetron mit einer Temperaturerfassungseinrichtung
DE102019211065A1 (de) 2019-07-25 2021-01-28 BSH Hausgeräte GmbH Betreiben eines Mikrowellen-Haushaltsgeräts abhängig von einer Mikrowellengenerator-Temperatur
GB2588425B (en) * 2019-10-23 2021-10-27 Elekta ltd Magnetron condition monitoring

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02186533A (ja) * 1989-01-13 1990-07-20 Hitachi Ltd マグネトロン
US5022756A (en) * 1989-11-03 1991-06-11 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for spectrochemical analysis having maximum repeatability
JP2823312B2 (ja) * 1990-04-11 1998-11-11 三洋電機株式会社 電子レンジ
JPH04121991A (ja) * 1990-09-11 1992-04-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波加熱装置
KR0115473Y1 (ko) * 1994-07-06 1998-04-20 구자홍 전자레인지의 안전장치

Also Published As

Publication number Publication date
FR2759238B1 (fr) 1999-03-05
GB2321764B (en) 2001-11-28
JPH10260081A (ja) 1998-09-29
CN1135595C (zh) 2004-01-21
FR2759238A1 (fr) 1998-08-07
GB2321764A (en) 1998-08-05
GB9801710D0 (en) 1998-03-25
CN1200460A (zh) 1998-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1009195B1 (en) Radiation structure for heating element
KR19980070965A (ko) 마이크로파 오븐용 마그네트론의 온도 계측 장치
EP0449435B1 (en) Construction for cooling of a RF power transistor
EP0821468A3 (en) Temperature control of electronic components
ATE320081T1 (de) Einrichtung zur plasmaverarbeitung
FI85783C (fi) Kylningskonstruktion foer transistor.
GB2037484A (en) Heat transfer mounting arrangement for a solid state device connected to a circuit board
US6754244B2 (en) Diode laser component
US5461540A (en) Heat dissipation device for personal computers
JPH09307030A (ja) 結露防止機能付冷却装置
JP3052065B2 (ja) 自立型固定抵抗器
KR19980033047A (ko) 정 특성 서미스터 및 정 특성 서미스터 장치
JP4424818B2 (ja) 電源装置
JPH033262A (ja) 半導体装置
US3043973A (en) Cooling thermally stressed parts of electron tubes
KR200179993Y1 (ko) 패키지 테스트 장치
JP2574582Y2 (ja) 半導体素子の熱保護装置
KR920002774Y1 (ko) 전자레인지의 과열 방지 장치
JPH10209358A (ja) プリント回路基板に搭載された半導体装置の放熱機構
JP2000083319A (ja) 電源装置
JPH07226466A (ja) 半導体素子の冷却装置
JPH08329731A (ja) 電気機器
JPH0410694Y2 (ko)
JPS58148930A (ja) 冷接点用熱電対装置
SU698082A1 (ru) Сверхвысокочастотный фильтр

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application