KR102667610B1

KR102667610B1 - 자동 테스트 장비

Info

Publication number: KR102667610B1
Application number: KR1020187018456A
Authority: KR
Inventors: 브라이언 씨. 와델; 다니엘 로젠탈
Original assignee: 테라다인 인코퍼레이티드
Priority date: 2015-12-07
Filing date: 2016-08-23
Publication date: 2024-05-22
Also published as: WO2017099855A1; TW201721165A; US20170163358A1; US9755766B2; CN108291935A; TWI711831B; KR20180082600A

Abstract

예시적인 자동 테스트 장비(ATE)는, 프런트 엔드 모듈을 구비하고, 피시험장치(DUT)를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, DUT로부터 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기로서, 상기 프런트 엔드 모듈은 상기 DUT와 관련된 기능들을 수행하기 위한 내부 회로를 구비하는 상기 테스트 기기; 및 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있고 상기 테스트 기기의 다수의 프런트 엔드 모듈들 또는 채널들 사이에서 공유되는, 상기 테스트 기기를 통해 상기 DUT에 대해 상기 기능들을 수행하기 위한 외부 회로;를 포함한다. 상기 테스트 기기는, (i) 내부 회로, (ii) 외부 회로, 또는 (iii) 상기 기능을 수행하기 위해 내부 회로 및 외부 회로의 회로 조합을 사용하도록 구성할 수 있다.

Description

자동 테스트 장비

본 명세서는 일반적으로 자동 테스트 장비에서 사용하는 프런트 엔드 모듈에 관한 것이다.

자동 테스트 장비(ATE)는 피시험장치(DUT)의 동작을 테스트하기 위해 DUT와 신호를 주고받는 전자 장치를 포함한다. ATE에는 RF(radio frequency) 장치를 테스트하도록 구성된 RF 기기와 같은 테스트 기기가 포함된다. 테스트 기기는 DIB(Device Interface Board)를 통해 피시험장치(DUT)에 연결되는 프런트 엔드 모듈(FEM)을 포함한다. 자동 테스트를 위한 RF 기기는 테스트를 위해 DUT 핀에 대해 컴포넌트 또는 리소스를 가용하게 한다. 예를 들어 수신기와 신호 소스는 FEM과 DIB를 통해 DUT에 연결되어 DUT를 자극하고 그 응답을 측정한다.

이러한 리소스는 자신들의 고성능 및 고주파수 동작으로 인해 부피가 크고 값 비싸다. 예를 들어, 개스킷으로 금속 인클로저 형태로 차폐하는 것은 회로 소자를 분리하는 데 필요할 수 있다. 크기와 비용 때문에, 일반적으로 이러한 리소스는 비용 절감을 위해 여러 사이트 또는 여러 DUT 핀에서 공유된다. 그러나 리소스를 공유하면 테스트 효율성에서의 상충을 가져온다. 예를 들어, 공유는 제1 테스트에 사용된 다음 나중에 제2 테스트에 사용되는 동일한 리소스로 순차적으로 테스트가 수행될 필요가 있다.

예시적인 ATE는, 프런트 엔드 모듈을 구비하고, DUT를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, 상기 DUT로부터 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기를 포함하고, 상기 프런트 엔드 모듈은: 상기 테스트 기기에 의해 제공되는 상기 테스트 신호를 생성하는 내부 소스 회로; 및 상기 출력 신호를 수신하기 위한 내부 수신기 회로;를 포함한다. 상기 ATE는 또한 상기 테스트 기기에 의해 출력되는 테스트 신호를 생성하기 위해 자신의 전부 또는 일부가 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 소스 회로; 및 상기 출력 신호를 수신하기 위해 자신의 전부 또는 일부가 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 수신기 회로;를 포함할 수 있다. 상기 테스트 기기는 (i) 상기 내부 소스 회로 및 내부 수신기 회로, (ii) 상기 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로, 또는 (iii) 상기 내부 소스 회로, 내부 수신기 회로, 외부 소스 회로 또는 외부 수신기 회로로 구성된 조합을 이용하도록 구성할 수 있다. 예시적 ATE에는 다음 피처 중 하나 이상을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다.

상기 외부 소스 회로 또는 외부 수신기 회로 중 적어도 하나는 다수의 프런트 엔드 모듈에 걸쳐 공유할 수 있다. 상기 외부 소스 회로와 외부 수신기 회로는 둘 다 다수의 프런트 엔드 모듈에 걸쳐 공유할 수 있다. 상기 내부 소스 회로 및 내부 수신기 회로는 내부 트랜시버의 일부일 수 있고, 상기 외부 소스 회로는 상기 내부 소스 회로보다 우수한 위상 잡음 성능을 가질 수 있다. 상기 내부 소스 회로 및 내부 수신기 회로는 내부 트랜시버의 일부일 수 있고, 상기 외부 수신기 회로는 상기 내부 수신기 회로보다 우수한 위상 잡음 성능을 가질 수 있다. 상기 외부 소스 회로는 하기의 파라미터: 주파수 분해능, 위상 잡음, 고조파 분포, 스퓨리어스 방출, 에러 벡터 크기, 인접 채널 파워비, 변조 대역폭, 2톤(two-tone) 상호변조(intermodulation), 또는 대역 내 상호변조(inband intermodulation) 중 하나 이상에 대해 상기 내부 소스 회로보다 양질의 성능을 제공할 수 있다. 상기 외부 수신기 회로는 하기의 파라미터: 주파수 분해능, 위상 잡음, 고조파 분포, 스퓨리어스 방출, 에러 벡터 크기, 인접 채널 파워비, 변조 대역폭, 2톤 상호변조, 또는 대역 내 상호변조 중 하나 이상에 대해 상기 내부 수신기 회로보다 양질의 성능을 제공할 수 있다.

상기 ATE는(i) 상기 내부 소스 회로 및 내부 수신기 회로, 또는 (ii) 상기 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로, 또는 (iii) 상기 내부 소스 회로, 상기 내부 수신기 회로, 상기 외부 소스 회로 또는 상기 외부 수신기 회로로 구성된 조합 중 어느 하나를 사용하도록 상기 테스트 기기를 구성하는 하나 이상의 처리 장치를 더 포함할 수 있다. 상기 외부 소스 회로는 제1 합성기(synthesizer)를 포함할 수 있고, 상기 내부 소스 회로는 제2 합성기를 포함할 수 있으며, 상기 제1 합성기는 적어도 하나의 동작 파라미터에 관해서 상기 제2 합성기보다 우수한 성능을 갖는다. 상기 외부 수신기 회로는 제1 수신기를 포함할 수 있고, 상기 내부 수신기 회로는 제2 수신기를 포함할 수 있으며, 상기 제1 수신기는 적어도 하나의 동작 파라미터에 관해서 상기 제2 수신기보다 우수한 성능을 갖는다.

상기 테스트 기기는 디바이스 인터페이스 보드(DIB)에 연결할 수 있는 백 엔드 회로와 상기 DUT를 테스트하기 위해 실행할 수 있는 테스트 프로그램을 포함하고, 상기 백 엔드 회로와 상기 테스트 프로그램은, (i) 상기 내부 소스 회로와 내부 수신기 회로, 및 (ii) 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로;를 모두 가지고 상기 디바이스 인터페이스 보드에 대한 변경 없이 사용 가능하다. 상기 내부 소스 회로 및 내부 수신기 회로는 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값보다 높은 성능 레벨을 요구하지 않을 때 사용될 수 있고, 상기 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로는 상기 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값보다 높은 성능 레벨을 요구하지 않을 때 사용될 수 있다.

예시적인 ATE는 피시험장치(DUT)를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, 상기 DUT로부터 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기를 포함할 수 있고, 상기 테스트 기기는 프런트 엔드 모듈을 포함하고, 상기 프런트 엔드 모듈은: 상기 테스트 기기에 의해 출력되는 상기 테스트 신호를 생성하는 단계의 일부를 수행하는 내부 소스 회로; 및 상기 DUT로부터의 상기 출력 신호를 수신하는 단계의 일부를 수행하고 상기 출력 신호를 테스트 회로에 전달하는 내부 수신기 회로;를 포함한다. 상기 ATE는 상기 테스트 기기에 의해 출력되는 상기 테스트 신호를 생성하는 단계의 일부를 수행하는 외부 소스 회로로서, 부분적으로 또는 완전히 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 상기 외부 소스 회로; 및 응답 신호를 수신하는 단계의 일부를 수행하고 상기 테스트 회로로 상기 출력 신호를 전달하는 상기 외부 수신기 회로로서, 부분적으로 또는 완전히 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 상기 외부 수신기 회로;를 포함한다. 상기 예시적 ATE는 다음 피처 중 하나 이상을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다.

상기 외부 소스 회로는 합성기 또는 제1 변조 합성기를 포함할 수 있고, 상기 내부 소스 회로는 제2 합성기 또는 제2 변조 합성기를 포함할 수 있다. 상기 외부 수신기 회로는 제1 합성 수신기를 포함할 수 있고, 상기 내부 수신기 회로는 제2 합성기 및 수신기를 포함할 수 있다. 상기 ATE는 상기 외부 소스 회로 또는 상기 외부 수신기 회로 중 적어도 하나를 또 다른 프런트 엔드 모듈을 구비하는 또 다른 테스트 기기에 연결하기 위한 멀티플렉서 또는 신호 스플리터를 포함할 수 있다.

상기 ATE는 (i) 상기 내부 소스 회로 및 내부 수신기 회로, 또는 (ii) 상기 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로, 또는 (iii) 상기 내부 소스 회로, 상기 내부 수신기 회로, 상기 외부 소스 회로, 또는 상기 외부 수신기 회로를 구비하는 조합 중 어느 하나를 사용하도록 상기 테스트 기기를 구성하기 위한 하나 이상의 처리 장치를 포함한다. 상기 테스트 기기는 상기 DUT에 대한 라디오 주파수 테스트를 수행하도록 구성될 수 있다.

예시적인 자동 테스트 장비(ATE)는: 피시험장치(DUT)를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, 상기 DUT로부터의 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기로서, 상기 테스트 기기는 프런트 엔드 모듈을 포함하고, 상기 프런트 엔드 모듈은 상기 DUT와 관련된 기능들을 수행하기 위한 내부 회로를 포함하는 상기 테스트 기기; 및 상기 테스트 기기를 통해 상기 DUT에 상기 대한 기능들을 수행하는 외부 회로로서, 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있고 상기 테스트 기기의 다수의 프런트 엔드 모듈들 또는 채널들 사이에서 공유되는 상기 외부 회로;를 포함한다. 상기 테스트 기기는 (i) 상기 내부 회로, (ii) 상기 외부 회로 또는 (iii) 상기 기능들을 수행하기 위한 상기 내부 회로 및 외부 회로의 회로 조합 중 어느 하나를 사용하도록 구성할 수 있다. 예시적 ATE는 다음 피처 중 하나 이상을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다.

상기 기능들은 상기 테스트 신호들에 대응하는 신호들을 소싱하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 기능들은 상기 응답 신호들에 대응하는 신호들을 수신하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 프런트 엔드 모듈 내부의 회로는 제1 합성기 또는 제1 변조 합성기를 포함할 수 있고, 상기 프런트 엔드 모듈 외부의 회로는 제2 합성기 또는 제2 변조 합성기를 포함할 수 있고, 상기 제2 합성기는 하나 이상의 동작 파라미터에 대해 상기 제1 합성기 보다 우수한 성능을 가진다.

상기 하나 이상의 동작 파라미터는 위상 잡음, 주파수 분해능, 고조파 분포, 스퓨리어스 방출, 에러 벡터 크기, 인접 채널 파워비, 변조 대역폭, 2톤 상호 변조, 또는 대역 내 상호 변조, 진폭 및 주파수 스위칭 속도, 진폭 및 주파수 안정 시간(settling time), 주파수 및 진폭 범위, 신호 분리, 캐리어 수, 샘플 클록 속도, 정보 대역폭, 인터셉트 포인트, 변조 유형, 변조 깊이 및 편차, 고조파 및 하위 고조파, 인접 채널 거부, 비트율, 동적 오차 벡터 크기, 심볼, 아이 다이어그램, 주파수 오차, 진폭 편평도, 위상 선형성, 이득 및 위상 불균형, 이미지 거부, 잡음 지수, 포화 전력, 풀링 및 푸슁, 리턴 손실 또는 반사 계수, 요철(ruggedness), 스퓨리어스 프리 동적 범위, 스펙트럼 마스크, 신호 대 잡음비, 안정성, 상승 및 하강 시간, 4FMOD, 캡처 또는 소스 메모리 깊이, FFT 속도, AC/DC 커플링, 에이징 또는 온도 안정성 중 하나 이상을 포함할 수 있다.

상기 내부 회로는 제1 합성기 또는 제2 합성기에 또는 그의 일부에 연결 가능한 I/Q 또는 다른 변조기를 포함할 수 있다. 상기 ATE는 상기 외부 회로를 다른 기기 프런트 엔드 모듈 또는 다른 프런트 엔드 모듈을 포함하는 채널에 연결하기 위한 선택기 회로를 포함할 수 있다. 상기 내부 회로는 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값을 초과할 것을 요구받지 않을 때 사용될 수 있고, 상기 외부 회로는 상기 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값을 초과할 것을 요구받을 때 사용될 수 있다.

본 써머리 부분을 포함하는 본 명세서에서 기술된 특징들 중 2개 이상은 본원에 구체적으로 기술되지 않은 실시 예들을 형성하기 위해 조합될 수 있다.

본원에 기술된 테스트 시스템 및 기술들 또는 그의 일부는 하나 이상의 비일시적 기계 판독가능 저장 매체에 저장되고 본원에 기술된 동작들을 제어하는(예를 들면, 조정하는) 하나 이상의 처리 장치들 상에서 실행가능한 명령어를 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품으로서 구현되고 그에 의해 제어될 수 있다. 본원에 기술된 테스트 시스템 및 기술 또는 그의 일부는 다양한 동작을 구현하기 위해 실행가능한 명령어를 저장하는 메모리 및 하나 이상의 처리 장치를 포함할 수 있는 장치, 방법 또는 전자 시스템으로서 구현될 수 있다.

하나 이상의 구현의 상세는 첨부도면 및 하기의 설명에서 기술된다. 다른 특징 및 이점은 상기 설명과 도면, 및 청구범위로부터 명확해질 것이다.

도 1은 예시적인 테스트 시스템의 블록도이다.
도 2는 예시적인 FEM을 포함하는 테스트 시스템의 일부의 블록도이다.
도 3은 예시적인 FEM을 포함하는 테스트 시스템의 일부의 블록도이다.
상이한 도면에서의 유사한 참조번호는 유사한 엘리먼트를 나타낸다.

ATE의 테스트 기기에 사용될 수 있는 FEM의 예가 본원에 설명된다. FEM을 사용하면 테스트를 수행하기 위해 고성능, 고비용 회로 또는 저성능, 저비용 회로 중 어느 하나를 사용할 수 있다. 이 문맥에서 "높음"과 "낮음"은 구체적인 수치적 의미를 가지는 것이 아니라, 오히려 성능과 비용 같은 상대적인 가치를 나타낸다. 고성능, 고비용 회로 또는 저성능, 저비용 회로 중 어느 하나의 사용을 가능하게 함으로써, ATE는 향상된 테스트 유연성을 제공한다. 예를 들어, 고성능, 고비용 회로의 사용을 통해, ATE는 휴대 전화용 RF 회로와 같은 보다 고가의 회로의 고정밀 테스트에 사용될 수 있다. 대안적으로, 저성능 저비용 회로 사용을 통해, ATE는 무선 서모스탯, 스포츠 시계 또는 제품 태그와 같은 저비용 컴포넌트를 대량의 더 저렴한 비용의 테스트에 사용될 수 있다.

예시적인 구현 예에서, ATE는 DUT를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, DUT로부터 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기를 포함한다. 테스트 기기는 테스트 신호를 생성하거나 테스트 신호가 생성되도록 기여하고, 테스트 기기에 의해 제공되는 내부 소스 회로; 및 출력 신호를 수신하기 위한 내부 수신기 회로;를 갖는 FEM을 포함한다. 또한 ATE는 테스트 신호를 생성하거나 테스트 신호의 생성에 기여하고, 테스트 기기에 의해 출력되도록 그의 전부 또는 일부가 FEM 외부에 있는 소스 회로; 및 출력 신호를 수신하기 위해 그의 전부 또는 일부가 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 수신기 회로;를 포함할 수 있다. 테스트 기기는: (i) 내부 소스 회로 및 내부 수신기 회로, (ii) 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로, (iii) 또는 내부 소스 회로, 내부 수신기 회로, 외부 소스 회로 또는 외부 수신기 회로로 구성된 조합을 사용하도록 구성가능 하다. 이 예에서, 내부 회로는 저성능 저비용 회로이며 외부 회로는 고성능, 고비용 회로이고, 사용자는 사용할 회로를 선택할 수 있다. 예를 들어, 사용자가 저가 부품의 대용량 테스트를 수행하고자 하는 경우, 사용자는 내부 소스 및 수신기 회로를 사용하고 외부 소스 및 수신기 회로를 구매 또는 사용하지 않도록 ATE를 구성할 수 있으므로 테스트 비용이 감소한다.

이 문맥에서, 성능은 임의의 적절한 동작 파라미터들에 기초하여 측정될 수 있다. 외부 회로는: 위상 잡음, 주파수 분해능, 고조파 분포, 스퓨리어스 방출, 에러 벡터 크기, 인접 채널 파워비, 변조 대역폭, 2톤 상호 변조, 대역 내 상호 변조, 진폭 및 주파수 스위칭 속도, 진폭 및 주파수 안정화 시간, 주파수 및 진폭 범위, 신호 분리, 캐리어 수, 샘플 클록 속도, 정보 대역폭, 인터셉트 포인트, 변조 유형, 변조 깊이 및 편차, 고조파 및 하위 고조파, 인접 채널 거부, 비트율, 동적 오차 벡터 크기, 심볼, 아이 다이어그램, 주파수 오차, 진폭 편평도, 위상 선형성, 이득 및 위상 불균형, 이미지 거부, 잡음 지수, 포화 전력, 풀링 또는 푸싱, 리턴 손실 또는 반사 계수, 요철(ruggedness), 스퓨리어스 프리 동적 범위, 스펙트럼 마스크, 신호 대 잡음비, 안정도, 상승 및 하강 시간, 4FMOD, 캡처 또는 소스 메모리 깊이, 고속 푸리에 변환(FFT) 속도, AC/DC 커플링, 에이징 또는 온도 안정성과 같은 예시적인 동작 파라미터 중 하나 이상에 대해 내부 회로보다 적절하게 양질의 성능을 가질 수 있다. 여기에 열거되지 않은 다른 적절한 파라미터는 단독으로 또는 상기 파라미터 중 하나 이상과 결합하여 성능 측정의 기초로 사용될 수도 있다.

일부 구현 예에서 내부 소스 및 내부 수신기는 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값보다 우수한 성능을 요구하지 않을 때 사용되고, 외부 소스 및 외부 수신기는 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값보다 우수한 성능 레벨을 요구할 때 사용된다. 예를 들어, DUT 성능 및 테스트 프로그램이 사양 값을 충족시키거나 초과하기 위해 상술한 동작 파라미터 중 하나 이상을 요구하면, 외부 소스 및 외부 수신기가 사용된다. 그러나 DUT 성능 및 테스트 프로그램이 상기 사양 값을 충족시키거나 초과하기 위해 상술한 동작 파라미터 중 하나 이상을 요구하지 않는다면, 외부 소스 및 외부 수신기 또는 내부 소스 및 내부 수신기가 사용될 수 있다. 내부 소스 및 내부 수신기는 가격이 저렴하고 테스트 비용을 줄이거나 처리량을 향상시킬 수 있기 때문에 이러한 경우에 선호될 수 있다.

도 1 및 도 2는 FEM(15) 및 테스트 기기(13A)와 함께 사용될 수 있는 본 명세서에 설명된 유형의 외부 회로를 포함하는 ATE(10)의 예시적인 구현 예를 도시한다. 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 기기(13A)는 연결 인터페이스(14)를 통해 DUT(21)에, 서로에 대해, 그리고 디바이스 인터페이스 보드(DIB)(16)로 개별적으로 통신하는 다수의 테스트 기기 또는 테스트 기기(13A 내지 13N)의 일부를 포함하는 테스트 헤드(11)의 일부일 수 있다. 도 1의 예에서, 점선은 잠재적인 통신 경로를 나타낸다. 예를 들어, 소스(24) 및 수신기(25)는 기기(13A) 상에 상주할 수 있는 반면, 하이브리드 FEM(15)은 기기(13B) 상에 상주할 수 있다. 이와 관련하여, 일부 구현 예에서, 단일 테스트 장치는 다수의 기기(13A 내지 13N)를 포함할 수 있다. 일부 구현 예에서, 단일 테스트 기기는 단일 카드상에 다중 채널을 가질 수 있다. 예시적 구현 예는 단일 카드 상의 멀티 채널과 또 다른 카드상의 소스 및 수신기 회로의 다수의 복사본을 포함하고, 이는 모두 함께 단일 멀티 채널 기기를 구성한다.

도 2를 참조하면, 테스트 기기(13A)는 외부 회로(22)를 포함하고, 이는 그것이 FEM(15) 내에 있지 않다는 의미에서 외부이다. 이 예시에서, 하기에 더 상술된 바와 같이, 외부 회로(22)는 외부 소스(24) 및 외부 수신기(25) 또는 그의 컴포넌트(들)를 포함한다. 외부 소스(24) 및 외부 수신기(25)는 단일 FEM 채널(26)을 위한 것이다. 이 예시에서, 제2 FEM 채널은 도시된 바와 같이, 자신의 외부 소스 및 수신기를 포함하고, 이는 외부 소스(24) 및 외부 수신기(25)와 동일한 방식으로 동작한다. 외부 소스(24)는 테스트 또는 다른 목적을 위해 FEM(15)을 통해 DUT에 신호를 출력하도록 구성되고; 외부 수신기(25)는 FEM(15)을 통해 DUT로부터 신호를 수신하고, 이들 신호를 테스트 기기 또는 다른 곳에 있는 다른 회로로 출력하도록 구성된다. 일부 구현 예에서, 외부 소스(24)는 DUT로의 신호 출력에 기여한다. 예를 들어, 변조가 이들 신호에 추가되거나, 이들 신호들이 위상 잡음을 줄이기 위해 조합될 수 있거나 DUT로 출력되기 전에 유용한 방법으로 수정될 수 있다.

내부 회로(28)는 내부 소스(29) 및 내부 수신기(30)를 포함하고, 이는 그것들이 FEM(15) 내에 있다는 의미에서 내부에 있다. 내부 소스(29) 및 내부 수신기(30)는 단일 FEM 채널(26)을 위한 것이다. 이 예시에서, 제2 FEM 채널은 도시된 바와 같이 자신의 내부 소스 및 내부 수신기를 포함하고, 이는 내부 소스(29) 및 내부 수신기(30)와 동일한 방식으로 동작한다. 내부 소스(29)는 테스트 또는 다른 목적을 위해 FEM(15)을 통해 DUT에 신호를 출력하도록 구성되고; 내부 수신기(30)는 FEM(15)을 통해 DUT로부터 신호를 수신하고, 이들 신호를 테스트 기기 내의 다른 회로로 출력하도록 구성된다. 일부 구현 예에서, 내부 소스(29)는 DUT로의 신호 출력에 기여한다. 예를 들어, 외부 소스의 경우와 같이, 변조가 이들 신호에 추가되거나, 이들 신호들이 출력 전에 유용한 방법으로 수정될 수 있다.

따라서, 위의 예시에서, 내부 회로 및 외부 회로 모두는 동일한 기능(예를 들어, 신호를 소싱 및 수신)을 수행한다. 그러나, 본 명세서에 설명된 바와 같이, 외부 회로는 보다 높은 성능을 가지므로, 내부 회로보다 비용이 높을 수 있다. 외부 회로는 증가된 성능을 지원하기 위해 물리적으로 더 클 수 있고 제조에 비용이 더 비쌀 수 있다. 일부 구현 예에서, 내부 및 외부 회로는 상이한 기능을 수행할 수도 있다. 예를 들어, 외부 회로는 내부 회로에 비해 고급 기능으로 인해 더 광범위한 기능을 가질 수 있다.

사용자는 수행할 테스트에 따라 내부 회로 또는 외부 회로 중 어느 하나로 테스트를 수행하도록 ATE를 구성할 수 있다. 상술한 바와 같이, 휴대 전화기에 사용하기 위한 복잡한 RF 트랜시버 회로와 같은 보다 고가의 회로의 고정밀 테스트가 수행되는 경우, 사용자는 테스트를 위해 외부 회로를 사용하도록 ATE를 구성할 수 있다. 반면에 ATE가 무선 서모스탯, 스포츠 시계 또는 제품 태그와 같이 대량의 저가 컴포넌트를 테스트하는 데 사용되는 경우, 사용자는 테스트를 위해 내부 회로를 사용하도록 ATE를 구성할 수 있다. 일부 구현 예에서, 스위치 또는 다른 회로 소자는 ATE를 구성하도록 프로그래밍될 수 있다. 예를 들어, 도 1을 참조하면, ATE는 테스트 기기와 통신하는 테스트 컴퓨터(12)를 포함할 수 있다. 테스트 컴퓨터는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램을 포함하는 명령어를 저장하기 위한 메모리, 및 이들 명령어를 실행하기 위한 하나 이상의 처리 장치를 갖는 임의의 적절한 유형의 컴퓨팅 장치일 수 있다. 따라서, 테스트 컴퓨터(12)상에서 실행되는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램은 내부 회로, 외부 회로 또는 이들의 일부 조합을 사용하도록 FEM 내의 스위치 또는 다른 회로를 구성할 수 있다.

도 2의 예에서, 각각의 FEM 채널은 내부 소스(29) 및 내부 수신기(30)를 포함하는 내부 회로를 포함한다. 일부 구현 예에서, 각각의 FEM 채널은 외부 소스(24) 및 외부 수신기(25)를 포함하는 단일 외부 회로(32)에 연관된다. 스위치들(34, 35 및 36)은 내부 소스(29) 또는 외부 소스(24)로부터 신호를 전송하기 위해 FEM(15)을 구성하도록 제어 가능하다. 유사하게, 스위치들(34, 35 및 36)은 내부 수신기(30) 또는 외부 수신기(25) 중 어느 하나를 통해 신호를 수신하기 위해 FEM(15)을 구성하도록 제어 가능하다. 내부 및 외부 회로는 또한 테스트 컴퓨터에 의해, 예를 들어 특정 특성을 갖는 신호를 소싱하거나 또는 테스트 기기의 다른 컴포넌트로 출력하기 전에 수신 신호를 처리하도록 제어될 수 있다.

도 2의 예시적인 구현에서, DUT로의 출력 신호는 회로(38)를 통해 라우팅되고, DUT로부터의 신호는 회로(39)를 통해 라우팅될 수 있다. 회로(38)는 외부 소스(24)를 내부 소스(29)와 조합하는데 사용될 수 있다. 예를 들어, 고성능 소스(24)는 고품질로 변조될 수 있는 반면, 소스(29)는 블로킹 톤을 에뮬레이트할 수 있다. 방향성 결합기(directional coupler)(39) 또는 그 등가물은 수신기(30 또는 25)에 의한 측정을 위해 신호를 순방향 및 반사파로 분리하는데 사용된다. 이것은 DUT s 파라미터의 교정 및 측정에 사용된다.

진폭을 정확하게 설정하기 위해 신호를 증폭하고 감쇠시키는 컴포넌트는 표시되지 않는다. 이들은 원하는 선형성을 유지하면서 최대 파워, 잡음 지수(noise figure) 등과 같은 성능 요구 사항을 충족시키기 위해 적절하게 경로를 따라 분산된다. 또한, 일부 구현 예에서, 회로는 스위치(36) 이후 및 DUT 이전의 신호를 멀티플렉싱 또는 분할할 수 있다.

일부 구현 예에서, 외부 소스(24) 및/또는 외부 수신기(25)는 다수의 FEM에 걸쳐 공유 가능하다. 이는 일반적으로 비용을 절감하기 위해 수행되며 테스트 시간이 증가한다. 예를 들어, 외부 소스(24) 및/또는 외부 수신기(25)는 상이한 FEM에 연결되어 서비스될 수 있다. 일 예시에서, 외부 소스 및 수신기는 멀티플렉서, 신호 스플리터, 스위치 또는 다른 적절한 셀렉터 회로(도시하지 않음)를 통해 직렬로 다수의 FEM에 연결되어, 상이한 FEM으로 신호를 소싱하고, 그로부터 신호를 수신할 수 있다. 일부 구현 예에서, 상이한 FEM은 각각 자신의 외부 소스 및/또는 외부 수신기를 가질 수 있다. 예를 들어, FEM은 FEM의 각 채널을 서비스하는 단일 외부 소스 및 단일 외부 수신기를 가질 수 있다. FEM이 다중 채널을 포함하는 경우에, FEM의 다중 채널 중에서 외부 소스 및 외부 수신기의 공유를 구현하기 위해, 예를 들어 상술한 유형의 선택기 회로가 사용될 수 있다. 도 2의 구현 예와 같은 일부 구현 예에서, 개별적인 FEM 채널 각각은 그들 자신의 외부 소스 및 외부 수신기 회로를 갖는다.

도 3을 참조하면, 일부 구현 예에서, FEM(39)의 외부 회로(40)는 여기에 기술된 소싱 및 수신 기능을 수행하기 위해 사용되는 회로의 서브 세트(또는 일부)만을 포함할 수 있다. 예를 들어, 외부 소스 및 외부 수신기는 각각 상당히 고가의 부품(예를 들어, 수만 달러) 및 상당히 덜 비싼 부품(예를 들어, 수십 또는 수백 달러)을 포함할 수 있다. 각각의 덜 비싼 부품은 FEM에 통합되어보다 저렴한 내부 FEM 회로의 일부로 사용될 수 있고, 각각의 더 비싼 부품은 FEM 외부에 만들어질 수 있다.

예로서, FEM(15) 내부의 소스 회로는 제1 합성기 또는 제1 변조 합성기(42)를 포함할 수 있고, FEM(15) 외부의 소스 회로(44)는 제2 합성기 또는 제2 변조 합성기를 포함할 수 있다. 제2 합성기는 상술한 하나 이상의 동작 파라미터에 대해 제1 합성기(42)보다 우수한 성능을 가지므로 더 비싸다. 제1 합성기 및 제2 합성기는 모두 ATE로부터 DUT로의 신호 출력을 생성 또는 기여하는 소스 회로의 일부일 수 있다. 소스 회로의 나머지(45)는 출력 신호를 생성하기 위해 제1 합성기 또는 제2 합성기와 함께 사용될 수 있다. 제1 합성기 또는 제2 합성기는 예를 들어 성능 또는 비용 중 어느 것이 테스트 프로세스에서 더 중요한지 여부에 기초하여 테스트 컴퓨터상에서 실행되는 컴퓨터 프로그램에 의해 선택될 수 있고, 성능이 비용보다 중요할 때 보다 양호한 성능의 제2 합성기가 사용되고, 비용이 성능보다 중요할 때 제1 합성기가 사용된다. 이 예시에서, FEM 내부의 회로(45)는 제1 합성기 또는 제2 합성기에 또는 그 일부에 연결가능한 동상/직교(I/Q) 또는 다른 변조기를 포함할 수 있다. 유사한 방식으로, 수신기의 컴포넌트가 FEM에서 분리되어 외부로 만들어질 수 있다.

상기 합성기는 FEM 외부에서 만들 수 있는 회로의 한 예일 뿐이다. 아날로그인지 디지털인지에 상관없이 임의의 적절한 회로는 FEM 외부에서 만들어지며 내부 FEM 회로와 함께 작동하도록 구성될 수 있다.

일부 구현 예에서, 내부 소스 및 수신기 회로는 하나 이상의 트랜시버를 사용하여 구현될 수 있고, 외부 소스 및 수신기 회로는 하나 이상의 트랜시버를 사용하여 구현될 수 있다. 일부 구현 예에서, FEM의 외부에 있는 회로 및 FEM 내부의 회로는 소싱 및 수신 회로로 제한되지 않거나 포함하지 않는다. 오히려, 성능 및 비용이 다른 외부 및 내부 FEM 회로로 임의의 적절한 기능을 복제할 수 있고, ATE는 성능이나 비용이 우선순위인지 여부에 따라 외부 회로 또는 내부 회로를 선택하도록 구성할 수 있다. 또한, 기능을 외부 및 내부로 복제하는 개념(외부 기능이 내부 기능보다 성능이 높고 사용을 위해 선택할 수 있는)은 FEM 또는 ATE로 사용에만 한정되지 않고, 오히려 장치를 구성하여 성능 또는 비용이 우선순위인지 여부에 따라 동작하도록 적절한 컨텍스트로 사용될 수 있다.

두 가지 구성(예를 들어, 내부 대 외부)의 유용성은 새로운 부품 설계를 가져오는 동안 필요한 대로 기기가 DUT(외부 리소스(24, 25))의 고성능 특성화에 테스터를 사용할 수 있음을 인식할 때 명백해진다. DUT의 설계가 안정화되면, 내부 리소스(29, 30)를 사용하여 대량 생산 중에 최저 비용으로 기기를 재구성할 수 있다. 15에서 21까지의 중요한 신호 연결은 시장까지의 시간을 개선하면서 디버그 및 상관 시간을 절약하면서 두 인스턴스 간에 일정하게 유지된다.

본 명세서가 "테스트" 및 "테스트 시스템"에 연관된 예시적인 구현을 기술하였지만, 본원에 기술된 장치 및 방법은 임의의 적절한 시스템에 사용될 수 있고, 본원에 기술된 테스트 시스템 또는 예시적 테스트 시스템에 한정되지 않는다.

본원에 기술된 바와 같이 수행되는 매니퓰레이터를 통한 제어를 포함하는 테스트는 하드웨어 또는 하드웨어와 소프트웨어의 조합을 이용하여 구현 및/또는 제어될 수 있다. 예를 들면, 본원에 기술된 것과 유사한 테스트 시스템은 다양한 컨트롤러 및/또는 다양한 포인트에 위치된 처리 장치들을 포함할 수 있다. 중앙 컴퓨터는 다양한 컨트롤러 또는 처리 장치들 사이의 동작을 조정할 수 있다. 중앙 컴퓨터, 컨트롤러, 및 처리 장치는 테스트 및 교정의 제어 및 조정을 가져오는 다양한 소프트웨어 루틴을 실행할 수 있다.

매니퓰레이터를 통한 제어를 포함하는 테스트는 적어도 부분적으로 예를 들면 프로그래밍 가능한 프로세서, 컴퓨터, 다수의 컴퓨터, 및/또는 프로그래밍 가능한 로직 컴포넌트와 같은 하나 이상의 데이터 처리 장비에 의해 실행하거나, 또는 그 동작을 제어하기 위해, 하나 이상의 비일시적 기계판독가능 매체와 같은 하나 이상의 정보 전달자(carrier)로 실체적으로 구현된 예를 들면 하나 이상의 컴퓨터 프로그램과 같은 하나 이상의 컴퓨터 프로그램 제품을 이용하여 제어될 수 있다.

컴퓨터 프로그램은 컴파일 언어 또는 인터프리터 언어를 포함하는 임의의 형태의 프로그래밍 언어로 기록될 수 있고, 그것은 스탠드 어론식 프로그램 또는 모듈, 컴포넌트, 서브루틴, 또는 컴퓨팅 환경에서 이용하기에 적절한 기타 유닛으로서 포함하는 임의의 형태로 전개될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 하나의 컴퓨터상에서 실행되거나 또는 하나의 위치에 있거나 또는 다수의 위치를 가로질러 분산되어 있고 네트워크에 의해 상호 연결되는 다수의 컴퓨터상에서 실행되도록 전개될 수 있다.

테스트 및 교정의 전부 또는 일부를 구현하는 것에 연관된 액션이 본원에 기술된 기능들을 수행하도록 하나 이상의 컴퓨터 프로그램을 실행하는 하나 이상의 프로그래밍 가능한 프로세서에 의해 수행될 수 있다. 테스트 및 교정의 전부 또는 일부는 예를 들면 FPGA(filed programmable gate array) 및/또는 ASIC(application-specific integrated circuit)과 같은 전용 로직 회로를 이용하여 구현될 수 있다.

컴퓨터 프로그램의 실행에 적합한 프로세서는 예를 들면 범용 및 전용 마이크로프로세서 모두와, 임의의 종류의 디지털 컴퓨터의 하나 이상의 프로세서를 포함한다. 일반적으로, 프로세서는 판독 전용 저장 영역 또는 랜덤 액세스 저장 영역 또는 그 모두로부터 명령어 및 데이터를 수신할 것이다. 컴퓨터(서버를 포함하는)의 엘리먼트는 명령어를 실행하는 하나 이상의 프로세서와 명령어 및 데이터를 저장하는 하나 이상의 저장 영역 장치들을 포함한다. 일반적으로, 컴퓨터는 또한 예를 들면 자기, 자기-광학 디스크 또는 광학 디스크와 같은 데이터 저장을 위한 대용량 PCB와 같은 하나 이상의 기계 판독가능 저장 매체를 포함하거나, 또는 그로부터 데이터를 수신하거나 그로 데이터를 전송하거나, 또는 송수신하도록 동작가능하게 결합될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 명령어 및 데이터를 구현하기에 적합한 기계 판독가능 저장 매체는 예를 들면, EPROM, EEPROM, 및 플래시 저장 영역 장치와 같은 반도체 저장 영역 장치; 예를 들면 내장형 하드디스크 또는 착탈가능한 디스크와 같은 자기 디스크; 자기-광학 디스크; 및 CD-ROM 및 DVD-ROM 디스크를 포함하는, 모든 형태의 비휘발성 저장 영역을 포함한다.

본원에 이용된 "전기 연결"은 직접적인 물리적 연결 또는 개재하는 컴포넌트를 포함하지만, 그럼에도 불구하고 연결된 컴포넌트 사이에서 전기 신호들이 흐르도록 하는 유선 또는 무선 연결을 의미할 수 있다. 본원에 기술된 전기 회로를 포함하는 임의의 "연결"은 다르게 언급되지 않는다면 전기 연결을 포함하고, "전기"라는 단어가 "연결"을 변조하기 위해 이용되는지에 관계없이 반드시 직접적인 물리적 연결일 필요는 없다. 본원에 사용되는 바와 같은 구조적 컴포넌트들 사이의 임의의 "연결"은 직접적인 물리적 연결 또는 하나 이상의 개재하는 컴포넌트 또는 기타 구조를 개재하는 것을 포함하는 물리적 연결을 의미할 수 있다.

본원에 기술된 상이한 구현의 엘리먼트는 구체적으로 상술되지 않은 다른 실시 예들을 형성하기 위해 조합될 수 있다. 엘리먼트들은 그것들의 동작에 악영향을 주지 않으면서 본원에 기술된 구조로부터 제거될 수 있다. 추가로, 다양한 개별적인 엘리먼트들이 본원에 기술된 기능들을 수행하기 위해 하나 이상의 개별 엘리먼트들로 조합될 수 있다.

Claims

프런트 엔드 모듈을 구비하고, 피시험장치(DUT)를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, 상기 DUT로부터 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기로서, 상기 프런트 엔드 모듈은
상기 테스트 기기에 의해 제공되는 상기 테스트 신호를 생성하는 내부 소스 회로; 및
상기 출력 신호를 수신하기 위한 내부 수신기 회로;
를 포함하는 상기 테스트 기기;
상기 테스트 기기에 의해 출력되는 테스트 신호를 생성하기 위해 자신의 전부 또는 일부가 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 소스 회로; 및
상기 출력 신호를 수신하기 위해 자신의 전부 또는 일부가 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 수신기 회로;
를 포함하고,
상기 테스트 기기는 (i) 상기 내부 소스 회로 및 상기 내부 수신기 회로, (ii) 상기 외부 소스 회로 및 상기 외부 수신기 회로, 또는 (iii) 상기 내부 소스 회로, 상기 내부 수신기 회로, 상기 외부 소스 회로, 또는 상기 외부 수신기 회로로 구성된 조합을 이용하도록 구성가능한 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 외부 소스 회로 또는 상기 외부 수신기 회로 중 적어도 하나는 다수의 프런트 엔드 모듈에 걸쳐 공유 가능한 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 외부 소스 회로와 상기 외부 수신기 회로는 둘 다 다수의 프런트 엔드 모듈에 걸쳐 공유 가능한 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 내부 소스 회로 및 상기 내부 수신기 회로는 내부 트랜시버의 일부이고, 상기 외부 소스 회로는 상기 내부 소스 회로보다 우수한 위상 잡음 성능을 가지는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 내부 소스 회로 및 상기 내부 수신기 회로는 내부 트랜시버의 일부이고, 상기 외부 수신기 회로는 상기 내부 수신기 회로보다 우수한 위상 잡음 성능을 가지는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 소스 회로는 하기의 파라미터: 주파수 분해능, 위상 잡음, 고조파 분포, 스퓨리어스 방출, 에러 벡터 크기, 인접 채널 파워비, 변조 대역폭, 2톤(two-tone) 상호변조(intermodulation), 또는 대역 내 상호변조(inband intermodulation) 중 하나 이상에 대해 상기 내부 소스 회로보다 양질의 성능을 제공하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 수신기 회로는 하기의 파라미터: 주파수 분해능, 위상 잡음, 고조파 분포, 스퓨리어스 방출, 에러 벡터 크기, 인접 채널 파워비, 변조 대역폭, 2톤 상호변조, 또는 대역 내 상호변조 중 하나 이상에 대해 상기 내부 수신기 회로보다 양질의 성능을 제공하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, (i) 상기 내부 소스 회로 및 상기 내부 수신기 회로, 또는 (ii) 상기 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로, 또는 (iii) 상기 내부 소스 회로, 상기 내부 수신기 회로, 상기 외부 소스 회로 또는 상기 외부 수신기 회로로 구성된 조합 중 어느 하나를 사용하도록 상기 테스트 기기를 구성하는 하나 이상의 처리 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 소스 회로는 제1 합성기(synthesizer)를 포함하고, 상기 내부 소스 회로는 제2 합성기를 포함하고, 상기 제1 합성기는 적어도 하나의 동작 파라미터에 관해서 상기 제2 합성기보다 우수한 성능을 갖는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 수신기 회로는 제1 수신기를 포함하고, 상기 내부 수신기 회로는 제2 수신기를 포함하고, 상기 제1 수신기는 적어도 하나의 동작 파라미터에 관해서 상기 제2 수신기보다 우수한 성능을 갖는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 테스트 기기는 디바이스 인터페이스 보드(DIB)에 연결할 수 있는 백 엔드 회로와 상기 DUT를 테스트하기 위해 실행할 수 있는 테스트 프로그램을 포함하고, 상기 백 엔드 회로와 상기 테스트 프로그램은, (i) 상기 내부 소스 회로와 상기 내부 수신기 회로, 및 (ii) 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로; 모두를 가지고 상기 디바이스 인터페이스 보드에 대한 변경없이 사용 가능한 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제1 항에 있어서, 상기 테스트 기기는 상기 DUT를 테스트하기 위해 실행할 수 있는 테스트 프로그램을 포함하고,
상기 내부 소스 회로 및 상기 내부 수신기 회로는 상기 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값보다 높은 성능 레벨을 요구하지 않을 때 사용되고, 상기 외부 소스 회로 및 외부 수신기 회로는 상기 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값보다 높은 성능 레벨을 요구할 때 사용되는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
프런트 엔드 모듈을 구비하고, 피시험장치(DUT)를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, 상기 DUT로부터 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기로서, 상기 프런트 엔드 모듈은
상기 테스트 기기에 의해 출력되는 상기 테스트 신호를 생성하는 단계의 일부를 수행하는 내부 소스 회로; 및
상기 DUT로부터의 상기 출력 신호를 수신하는 단계의 일부를 수행하고 상기 출력 신호를 테스트 회로에 전달하는 내부 수신기 회로;
를 포함하는 상기 테스트 기기;
상기 테스트 기기에 의해 출력되는 상기 테스트 신호를 생성하는 단계의 일부를 수행하는 외부 소스 회로로서, 부분적으로 또는 완전히 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 상기 외부 소스 회로; 및
응답 신호를 수신하는 단계의 일부를 수행하고 상기 테스트 회로로 상기 출력 신호를 전달하는 외부 수신기 회로로서, 부분적으로 또는 완전히 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있는 상기 외부 수신기 회로;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제13 항에 있어서, 상기 외부 소스 회로는 합성기 또는 제1 변조 합성기를 포함하고, 상기 내부 소스 회로는 제2 합성기 또는 제2 변조 합성기를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제13 항에 있어서, 상기 외부 수신기 회로는 제1 합성 수신기를 포함하고, 상기 내부 수신기 회로는 제2 합성기 및 수신기를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제13 항에 있어서, 상기 외부 소스 회로 또는 상기 외부 수신기 회로 중 적어도 하나를 또 다른 프런트 엔드 모듈을 구비하는 또 다른 테스트 기기에 연결하기 위한 멀티플렉서 또는 신호 스플리터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제13 항에 있어서, (i) 상기 내부 소스 회로 및 상기 내부 수신기 회로, 또는 (ii) 상기 외부 소스 회로 및 상기 외부 수신기 회로, 또는 (iii) 상기 내부 소스 회로, 상기 내부 수신기 회로, 상기 외부 소스 회로, 또는 상기 외부 수신기 회로를 구비하는 조합 중 어느 하나를 사용하도록 상기 테스트 기기를 구성하기 위한 하나 이상의 처리 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제13 항에 있어서, 상기 테스트 기기는 상기 DUT에 대한 라디오 주파수 테스트를 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
프런트 엔드 모듈을 구비하고, 피시험장치(DUT)를 테스트하기 위해 테스트 신호를 출력하고, 상기 DUT로부터의 출력 신호를 수신하기 위한 테스트 기기로서, 상기 프런트 엔드 모듈은 상기 DUT와 관련된 기능들을 수행하기 위한 내부 회로를 포함하는 상기 테스트 기기; 및
상기 테스트 기기를 통해 상기 DUT에 대한 상기 기능들을 수행하는 외부 회로로서, 상기 프런트 엔드 모듈의 외부에 있고 상기 테스트 기기의 다수의 프런트 엔드 모듈들 또는 채널들 사이에서 공유되는 상기 외부 회로;
를 포함하고,
상기 테스트 기기는 (i) 상기 내부 회로, (ii) 상기 외부 회로 또는 (iii) 상기 기능을 수행하기 위한 상기 내부 회로 및 상기 외부 회로의 회로 조합 중 어느 하나를 사용하도록 구성가능한 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제19 항에 있어서, 상기 기능들은 상기 테스트 신호들에 대응하는 신호들을 소싱하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제19 항에 있어서, 상기 기능들은 응답 신호들에 대응하는 신호들을 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제19 항에 있어서, 상기 프런트 엔드 모듈 내부의 회로는 제1 합성기 또는 제1 변조 합성기를 포함하고, 상기 프런트 엔드 모듈 외부의 회로는 제2 합성기 또는 제2 변조 합성기를 포함하고, 상기 제2 합성기는 하나 이상의 동작 파라미터에 대해 상기 제1 합성기보다 성능이 더 우수한 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제22 항에 있어서, 상기 하나 이상의 동작 파라미터는: 위상 잡음, 주파수 분해능, 고조파 분포, 스퓨리어스 방출, 에러 벡터 크기, 인접 채널 파워비, 변조 대역폭, 2톤 상호 변조, 또는 대역 내 상호 변조, 진폭 및 주파수 스위칭 속도, 진폭 및 주파수 안정 시간(settling time), 주파수 및 진폭 범위, 신호 분리, 캐리어 수, 샘플 클록 속도, 정보 대역폭, 인터셉트 포인트, 변조 유형, 변조 깊이 및 편차, 고조파 및 하위 고조파, 인접 채널 거부, 비트율, 동적 오차 벡터 크기, 심볼, 아이 다이어그램, 주파수 오차, 진폭 편평도, 위상 선형성, 이득 및 위상 불균형, 이미지 거부, 잡음 지수, 포화 전력, 풀링 및 푸슁, 리턴 손실 또는 반사 계수, 요철, 스퓨리어스 프리 동적 범위, 스펙트럼 마스크, 신호 대 잡음비, 안정성, 상승 및 하강 시간, 4FMOD, 캡처 또는 소스 메모리 깊이, FFT 속도, AC/DC 커플링, 에이징 또는 온도 안정성 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제22 항에 있어서, 상기 내부 회로는 제1 합성기 또는 제2 합성기에 또는 그의 일부에 연결 가능한 I/Q 또는 다른 변조기를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제19 항에 있어서, 상기 외부 회로를 다른 기기 프런트 엔드 모듈 또는 다른 프런트 엔드 모듈을 포함하는 채널에 연결하기 위한 선택기 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.
제19 항에 있어서, 상기 테스트 기기는 상기 DUT를 테스트하기 위해 실행할 수 있는 테스트 프로그램을 포함하고,
상기 내부 회로는 상기 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값을 초과할 것을 요구받지 않을 때 사용되고, 상기 외부 회로는 상기 DUT 성능 또는 테스트 프로그램 제한이 임계 값을 초과할 것을 요구받을 때 사용되는 것을 특징으로 하는 자동 테스트 장비.