KR102245127B1 - 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 전극슬러리가 집전체 상에 도포된 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법과 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 모니터링 방법은, 상기 전극기재의 표면으로 빛을 조사하는 단계; 상기 전극기재의 표면에서 반사된 빛을 수광하는 단계; 및 수광된 빛의 광도(luminous intensity) 또는 스펙트럼(spectrum)을 분석하여 전극기재의 건조율을 추정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 모니터링 장치는, 전극슬러리가 집전체 상에 도포되어 있는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치로써, 광원으로부터 전극기재의 표면으로 빛을 조사하는 발광부; 상기 전극기재의 표면에서 반사된 빛을 수광하는 수광부; 및 수광된 빛의 광도(luminous intensity) 또는 스펙트럼(spectrum)을 분석하고, 분석된 빛의 특성을 미리 작성된 반사광의 기준데이터와 비교하여 전극기재의 건조율을 추정하는 컴퓨팅장치;를 포함한다.

Description

전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법 및 장치{Method and apparatus for monitering of dry condition of electrode substrate}
본 발명은 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법 및 장치에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 건조장치 내부를 통과하며 건조가 이루어지는 전극기재의 건조 상태를 실시간으로 파악할 수 있는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
개인 휴대단말, 전기 자동차 분야를 포함하여 여러 분야에서 에너지원으로서 이차전지의 수요가 급격히 증가하고 있다.
일차전지와는 달리 충방전이 가능한 이차전지는 디지털 기기 뿐만 아니라 전기 자동차 등과 같은 운송수단용으로도 개발이 이뤄지고 있다.
이차전지는 양극과 음극의 재질 및 외부 형상에 따라 다양하게 분류될 수 있다. 특히, 리튬 화합물 재질을 사용하는 리튬 이차전지는 용량이 크고 자가 방전율이 적어 종래의 니켈-카드뮴 이차전지 등을 대신하여 다양한 기기의 전원장치로써 널리 사용되고 있다.
상기 리튬 이차전지는 케이스 내부에 전기 에너지를 충방전하는 전극조립체가 내장되는 구조를 갖는다. 상기 전극조립체는 음극, 분리막, 양극이 반복적층되는 구조를 가지며, 전해액과 함께 케이스(파우치 또는 원통케이스 등)에 함께 내장된다.
상기 양극, 음극, 분리막 각각의 재료는 전지수명, 충방전 용량, 온도특성 및 안정성 등을 고려하여 선택되며, 리튬 이온이 양극의 리튬 금속 산화물로부터 음극으로 삽입(Intercalation) 및 탈리(Deintercalation)되는 과정이 반복되면서, 리튬 이차 전지의 충방전이 진행된다.
한편, 상기 전극조립체를 구성하는 전극(양극, 음극)은 이온의 교환을 통해서 전류를 발생시키며, 양극 및 음극 각각은 알루미늄 또는 구리 박판으로 제조된 집전체의 표면에 전극슬러리를 도포한 후 건조 과정을 거친 전극기재에 탭을 가공하고 적당한 크기로 절단하여 제조된다.
일반적으로, 음극은 구리 또는 알루미늄 등으로 이루어진 집전체에 탄소계 활물질이 도포된 구조로 이루어지고, 양극은 알루미늄 등으로 이루어진 집전체에 LiCoO2, LiMnO2, LiNiO2 등으로 이루어진 활물질이 코팅된 구조로 이루어진다.
상기 양극활물질 및 음극활물질 각각은 용매와 활물질이 혼합된 전극슬러리 형태로 집전체 표면에 도포된다. 즉, 집전체의 표면에 전극슬러리가 도포되어 전극기재가 제조된다. 그리고, 상기 전극기재는 전극슬러리의 용매를 기화시켜 전극활물질이 집전체 표면에서 경화되도록 건조과정을 거친다.
즉, 도 1 에 도시된 바와 같이, 금속박판으로 제조되는 집전체(2a)가 권출롤러(1a)에서 풀리고 권취롤러(1b)에서 감기는 동안에 상기 접전체(2a)의 표면에 코터(7)를 통해 전극슬러리가 도포된 전극기재(2)가 롤러들(6)을 통해 건조실(4a, 4b, 4c)을 통과하며 건조가 이루어진 다음에 권출롤러(1b)에 감기게 된다. 상기 건조장치(4) 하나 이상의 건조실들(4a, 4b, 4c)을 가지며 각 건조실들(4a, 4b, 4c)은 가열기(5)에서 생성되는 열원에 의해 온도가 제어되도록 구성된다.
한편, 이러한 건조공정은 전지 용량, 원재료 변화에 대해 각기 다른 건조조건이 요구된다. 특히, 고용량 전지 제작을 위한 고로딩 전극(단위면적당 충방전 가능용량이 큰 전극)은 전극기재의 두께가 더 두꺼워져 건조 조건에서 보다 정교한 건조 조건 수립이 필요하다.
전극기재의 두께 증가에 따라 건조율을 높이는 방법을 택할 수 있으나, 이는 전극의 표면에 크랙을 발생시키는 주 원인이 되었으며, 전극 접착력을 저하시킬 수 있었다. 하지만, 이러한 문제를 방지하기 위해 건조율을 낮추면 생산 수율이 감소하게 된다.
그러나, 종래에는 건조실 내에 온도계를 배치해두고 건조실 내부온도로 전극기재의 건조율을 추정하거나 전극기재의 표면온도만 검출하여 건조율을 추정하는 방식이였다. 하지만, 이러한 측정 방식은 건조실 내부를 예열(온도를 높이는 구간)/항률(일정온도를 유지하는 구간)/감률 구간(온도를 낮추는 구간)의 구간을 분류할 수 있지만, 전극 건조 구간의 대부분을 차지하고 있는 항률구간에 대해서는 세분화가 불가능한 단점이 있었다.
따라서, 전극의 품질을 유지한채 고로딩 전극의 코팅 건조를 위해선 건조기의 항률 구간 내에서도 전극의 건조 상태를 모니터링 할 수 있는 새로운 측정 방법이 요구되었다.
그러므로, 본 발명은 건조기 내에서 건조중인 전극기재의 건조상태를 보다 효율적으로 추정 또는 확인할 수 있는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법 및 장치를 제공하는 것이 주목적이다.
즉, 건조기 내에서 전극기재가 건조되는 동안 상기 전극기재의 표면 광택은 전극슬러리의 고형분 감소에 따라 변화하는 경향이 있으므로, 본 발명은 이러한 표면 광택도 변화를 통해 건조율을 추정하는 방법을 제공한다.
본 발명에 따른 모니터링 방법은 전극슬러리의 광택도 변화를 통해 건조율을 추정하므로, 건조실 내부의 온도에 관계 없이(외부 요인에 상관없이) 건조상태를 파악할 수 있는 장점을 갖는다.
전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 전극슬러리가 집전체 상에 도포된 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법에 있어서, 상기 전극기재의 표면으로 빛을 조사하는 단계; 상기 전극기재의 표면에서 반사된 빛을 수광하는 단계; 및 수광된 빛의 광도(luminous intensity) 또는 스펙트럼(spectrum)을 분석하여 전극기재의 건조율을 추정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전극슬러리는 건조상태에 따라 반사 특성이 가변되는 기준물질이 함유된다.
본 발명에서, 상기 전극슬러리는 특정범위 내의 건조율에 도달했을 때 상기 기준물질의 반사 특성은 상기 전극슬러리가 다른 범위 내의 건조율에 있을 때 보다 상대적으로 더 급격히 변하는 구간을 갖는다.
본 발명의 실시예에서 상기 기준물질은 흑연 바람직하게는 인조흑연일 수 있고, 상기 전극기재의 표면에 조사되는 빛은 가시광선 영역대의 빛이다.
본 발명에서는 상기 전극기재의 건조율에 따라 반사광의 특성이 나타난 기준데이터가 미리 작성된 상태에서, 수광된 빛의 특성을 상기 기준데이터와 비교하여 건조율을 추정한다.
본 발명의 모니터링 방법에서, 상기 전극기재를 건조시키는 건조장치는 내부에 열이 가해지는 건조실을 상기 전극기재가 통과하며 건조되도록 구성되고, 상기 건조실의 온도 제어는 전극기재의 추정된 건조율에 대한 데이터를 기반으로 이루어 진다.
아울러, 본 발명은 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치를 추가적으로 제공한다. 상기의 장치는 전극슬러리가 집전체 상에 도포되어 있는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치로써, 광원으로부터 전극기재의 표면으로 빛을 조사하는 발광부; 상기 전극기재의 표면에서 반사된 빛을 수광하는 수광부; 및 수광된 빛의 광도(luminous intensity) 또는 스펙트럼(spectrum)을 분석하고, 분석된 빛의 특성을 미리 작성된 반사광의 기준데이터와 비교하여 전극기재의 건조율을 추정하는 컴퓨팅장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 발광부와 수광부는 프로브 내에 함께 내장되도록 장착되며, 상기 프로브는 끝단이 전극기재의 표면에서 일정거리를 두고 이격되도록 배치된다.
본 발명의 실시예에서, 상기 프로브 내에서 수광부는 중앙에 위치하고 상기 수광부의 둘레를 따라 다수 개의 발광부들이 배치되며, 상기 발광부는 가시광선 영역대의 빛을 조사한다.
상기와 같은 구성을 갖는 본 발명은 전극기재의 표면에 직접적인 접촉 없이도 건조상태를 파악할 수 있으므로, 전극기재 표면에 흠집 또는 긁힘 등이 발생하는 것을 방지할 수 있으며, 건조길 내부 컨디션에 영향을 받지 않으므로 측정결과의 신뢰성을 높일 수 있다.
도 1 은 전극기재를 건조시키는 건조장치의 내부모습을 단순화하여 나타낸 투시도.
도 2 는 본 발명의 실시예에 따른 모니터링 장치를 단순화하여 나타낸 도면.
도 3 은 용매와 전극활물질을 교반시키는 장치의 사시도 및 내부의 블레이드의 모습이 도시된 도면.
도 4 는 전극기재에 도포된 전극슬러리의 고형분(%)의 변화에 따라 도 3 에 도시된 블레이드에 요구되는 토크의 변화량이 나타난 그래프 및 용매와 전극활물질의 교반상태들이 표시된 도면.
도 5 는 전극기재에 도포된 전극슬러리의 고형분(%)의 변화에 따라 전극기재 표면에서 광도가 변화되는 모습이 도시된 도면.
이하, 첨부된 도면에 의거하여 본 발명에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
또한, 본 명세서 및 특허청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 안되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
본 발명은 전극슬러리가 집전체 상에 도포된 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명에 따른 실시예에서는 상기 전극은 음극이며 상기 음극으로 제조될 집전체는 구리 또는 알루미늄 박판으로 제조되고, 상기 전극슬러리는 용매와 음극 활물질이 혼합된 구조로써, 집전체의 일면 또는 양면에 코팅된다. 그리고, 상기 전극슬러리는 건조과정을 거치면서 용매가 기화됨에 따라 음극 활물질이 집전체 표면에 경화되며 접착된다. 여기에서는 음극을 기준으로 설명이 이루어지나 양극의 제조과정에서도 동일 또는 유사한 원리로 적용이 가능할 것이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 더욱 상세히 설명한다.
실시예1
이 실시예에서는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법을 제공한다. 이 실시예는 전극기재가 연속적으로 통과하는 건조장치(4) 내에서 실행이 이루어지는 것으로 간주하고 설명된다. 상기 건조장치(4)는 위에서 설명된 바와 같이 권출롤러(1a)에서 집전체(2a)가 권출되고 표면에 전극슬러리가 도포된 전극기재(2)가 건조가 이루어진 후 권취롤러(1b)로 권취되는 동안 상기 집전체(2a)의 표면에 분사 또는 도포된 전극슬러리를 가열건조시키는 장치로써, 입구와 출구 사이에 적어도 하나 이상의 건조실들(4a, 4b, 4c)을 갖도록 구성된다.
이 실시예에서는 전극슬러리가 도포된 부분의 전극기재(2) 표면으로 빛을 조사하는 단계와 상기 전극기재(2)의 표면에서 반사된 빛(전극슬러리에서 반사된 빛)을 수광하는 단계 및 수광된 빛의 광도(luminous intensity) 또는 스펙트럼(spectrum)을 분석하여 전극기재의 건조율을 추정하는 단계를 포함한다.
즉, 도 2 에 도시된 바와 같이 건조실(4a, 4b, 4c) 중 어느 한 곳 이상의 내부에는 프로브(30)가 배치되되 상기 프로브(30)의 끝단에는 수광부(20)와 발광부(10)가 내장되어 전극슬러리가 도포된 집전체의 표면으로 빛을 조사한 후 반사된 빛을 수광부(20)에서 수광하도록 구성되며 수광된 빛은 컴퓨팅장치(40)에 의해 분석해서 반사특성을 감별할 수 있도록 구성된다.
본 발명에 따른 상기 전극슬러리는 건조상태에 따라 반사 특성이 가변되는 기준물질이 함유된다. 바람직하게는 상기 기준물질이 활물질의 주 구성물질을 이루도록 함유하며, 특정범위 내의 건조율에 도달했을 때 상기 기준물질의 반사 특성은 상기 전극슬러리가 다른 범위 내의 건조율에 있을 때 보다 상대적으로 더 급격히 변하는 구간을 갖는다.
가령, 본 발명의 실시예에서 상기 기준물질은 흑연 바람직하게는 인조흑연일 수 있고, 상기 전극기재(2)의 표면에 조사되는 빛은 가시광선 영역대의 빛이다.
참고적으로, 상기 전극슬러리는 위에 설명한 바와 같이 전극활물질을 유기용매에 용해시켜 제조되되, 상기 전극활물질은 도 3 에 도시된 바와 같인 믹서(50) 내에서 블레이드(51)에 의해 교반이 이루어져 제조된다. 이때, 전극활물질의 함량이 증가함에 따라 전극활물질의 입자(S)와 유기용매의 상태는 도 4 에 도시된 바와 같이 (a) 진자상태(Pendular: 액체와 입자가 불연속적으로 존재), (b) 케이블상태(Funicular: 액체와 입자가 연속 상태), (c) 모세관상태(Capillary : 촉촉한 상태로써 입자와 액체가 잘 결합된 상태), (d) 부유상태(Slurry: 걸쭉한 상태)로 변화된다.
도 4 에 그래프에서는 전극슬러리의 고형분(%)에 따른 토크의 크기를 나타내는 그래프로써, 상기 토크는 믹서(50)의 블레이드(51)가 용매와 전극활물질을 교반하는 동안에 요구되는 토크를 의미한다. 그래프에 나타난 바와 같이, 토크가 가장 크게 나타나는 지점은 고형분이 72 내지 73% 이다. 이때, 전극슬러리의 광도의 변화도 도 5 에 도시된 바와 같이 고형분이 72 내지 73% 일때 가장 크게 나타나는 것을 확인할 수 있다(ⅲ와 ⅳ 사이).
즉, 이 실시예에서 전극슬러리의 교반 시 토크가 가장 크게 나타나는 고형분 근방에서 전극슬러리의 반사특성이 가장 급격하게 변화하는 것을 확인할 수 있다. 도 4 에서 'A', 'B', 'C' 각각은 다른 기준물질들이 함유된 전극슬러리들의 특성을 나타내나 상기 물질들 모두는 공통적으로 전극슬러리의 교반 시 토크가 가장 크게 나타나는 고형분 근방에서 반사특성이 가장 급격하게 변화하는 것을 확인할 수 있었다.
따라서, 상기 전극기재(2)의 건조율에 따른 전극슬러리의 광도 및/또는 반사특성을 알고 있는 상태에서 건조중인 전극슬러리의 광도 및/또는 반사특성을 비교하면 건조장치 내에서 건조중인 전극기재(2)의 건조율의 추정이 가능하다.
즉, 본 발명에서는 전극슬러리의 건조에 따른 표면 광택도의 변화가 전극슬러리의 고형분의 변화와 유사하게 이루어지는 현상을 활용하여 건조상태를 추정하는 방법이 제공된다. 전극슬러리가 교반 시 토크가 가장 크게 나타나는 고형분일 때 용매와 용질(전극활물질) 사이의 결합력은 최고가 되며 이때, 전극슬러리는 집전체의 표면에 더 효율적으로 접착이 가능하다. 따라서, 본 발명에 따른 방법은 최대의 접착력을 확보할 수 있게 건조장치를 제어하도록 모니터링 데이터를 실시간으로 제공할 수 있다.
상기 전극기재(2)의 건조율에 따라 반사광의 특성이 나타난 기준데이터는 여러 기준물질에 따라서 반복 실험을 통해 획득할 수 있으며, 미리 데이터가 확보된 상태에서 수광된 빛의 컴퓨팅장치(40)는 측정치와 기준데이터를 비교분석하여 건조율을 추정해 낼 수 있다. 아울러, 건조율의 추정값 또한 반복실험을 통해 통제조건, 변수, 기준물질의 종류 등에 따라 실제 건조율에 근접하도록 오차 보정이 이루어질 수 있을 것이다.
아울러, 상기와 같은 모니터링 방법은 도 1 에 도시된 바와 같이 다수 개의 건조실(4a, 4b, 4c)을 갖는 건조장치(4)의 선택된 한 위치 또는 여러 위치에서 동시에 실시간으로 수행될 수 있다. 즉, 상기 전극기재(2)가 통과하며 건조되는 건조장치(4)는 내부에 열이 가해지는 건조실(4a, 4b, 4c)의 온도 제어가 전극기재(2)의 추정된 건조율에 대한 데이터를 기반으로 이루어질 수 있다.
실시예2
또한, 본 발명은 전극기재(2)의 건조 상태를 모니터링하는 장치(100)를 추가적으로 제공한다. 이 실시예에서 제공되는 모니터링 장치(100)는 위에 설명된 건조장치(4)의 건조실 내부에 적어도 일부는 탈착가능하게 장착될 수 있으며(더 상세하게는 프로브는 건조실 내부에 장착되며 컴퓨팅장치는 건조실 외부에 장착될 수 있으며), 건조실 내부온도에 대하여 충분한 내열성을 갖도록 제작될 것이다.
상기의 장치(100)는 전극슬러리가 집전체 상에 도포되어 있는 전극기재(2)의 건조 상태를 모니터링하는 장치로써, 광원(11)에서 생성된 빛을 전극기재(2)의 표면으로 조사하는 발광부(10)와 상기 전극기재(2)의 표면에서 반사된 빛을 수광하는 수광부(20) 및 수광된 빛의 광도 및/또는 스펙트럼을 분석하고, 분석된 빛의 특성을 미리 작성된 반사광의 기준데이터와 비교하여 전극기재의 건조율을 추정하는 컴퓨팅장치(40)를 포함한다.
상기 발광부(10)와 수광부(20)는 빛이 통과가능한 광섬유 등으로 제조되어 광원(11)으로부터 빛을 전달하거나 반사된 빛을 컴퓨팅장치(40)로 전달할 수 있게 구성되되, 프로브(30) 내에 함께 내장되도록 장착된다. 즉, 상기 프로브(30)는 내부가 빈 파이프모양을 가지며, 상기 수광부(20)와 발광부(10)가 함께 프로브로 삽입되는 형태로 제조된다.
도 2 에 도시된 바와 같이, 이 실시예에서는 상기 프로브(30) 내에서 수광부(20)는 중앙에 위치하고 상기 수광부(20)의 둘레를 따라 다수 개의 발광부들(10)이 배치된 구조를 갖는다. 상기 발광부(10)는 가시광선 영역대의 빛을 조사하되, 선택적으로 다른 파장을 갖는 빛을 조사하도록 구성될 수도 있다. 상기 프로브(30)는 끝단이 전극기재(2)의 표면에서 일정거리(바람직하게는 1mm 내지 5 mm)를 두고 이격되도록 배치된다.
따라서, 광원(11)에서 생성된 빛은 발광부(10)를 통해 전극기재(2)의 표면(더 상세하게는 집전체의 표면에 도포된 전극슬러리의 표면)으로 조사되고, 반사된 빛는 수광부(20)를 통해 컴퓨팅장치(40)로 전달되며 상기 컴퓨팅장치(40)는 반사광의 특성을 분석하여 건조율을 추정하게 된다.
상기와 같은 구성을 갖는 본 발명은 전극기재의 표면에 직접적인 접촉 없이도 건조상태를 파악할 수 있으므로, 전극기재 표면에 흠집 또는 긁힘 등이 발생하는 것을 방지할 수 있으며, 건조길 내부 컨디션에 영향을 받지 않으므로 측정결과의 신뢰성을 높일 수 있다.
이상에서 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 실시가 가능하다.
10 : 발광부
20 : 수광부
30 : 프로브
40 : 컴퓨팅장치

Claims (11)

  1. 전극슬러리가 집전체 상에 도포된 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법에 있어서,
    상기 전극기재의 표면으로 빛을 조사하는 단계;
    상기 전극기재의 표면에서 반사된 빛을 수광하는 단계; 및
    수광된 빛의 광도(luminous intensity) 또는 스펙트럼(spectrum)을 분석하여 전극기재의 건조율을 추정하는 단계;를 포함하고,
    상기 전극슬러리는 건조상태에 따라 반사 특성이 가변되는 기준물질로써 흑연이 함유되어 건조에 따른 표면 광택도의 변화와 고형분의 변화가 유사하게 이루어지며,
    상기 전극슬러리가 특정범위 내의 건조율에 도달했을 때 상기 기준물질의 반사 특성은 상기 전극슬러리가 다른 범위 내의 건조율에 있을 때 보다 상대적으로 더 급격히 변하는 구간을 갖는 것을 특징으로 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 전극기재의 표면에 조사되는 빛은 가시광선 영역대의 빛인 것을 특징으로 하는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 전극기재의 건조율에 따라 반사광의 특성이 나타난 기준데이터가 미리 작성된 상태에서, 수광된 빛의 특성을 상기 기준데이터와 비교하여 건조율을 추정하는 것을 특징으로 하는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법.
  7. 제 1 항, 제 5 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전극기재를 건조시키는 건조장치는 내부에 열이 가해지는 건조실을 상기 전극기재가 통과하며 건조되도록 구성되고,
    상기 건조실의 온도 제어는 전극기재의 추정된 건조율에 대한 데이터를 기반으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 방법.
  8. 전극슬러리가 집전체 상에 도포되어 있는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치로써,
    광원으로부터 전극기재의 표면으로 빛을 조사하는 발광부;
    상기 전극기재의 표면에서 반사된 빛을 수광하는 수광부; 및
    수광된 빛의 광도(luminous intensity) 또는 스펙트럼(spectrum)을 분석하고, 분석된 빛의 특성을 미리 작성된 반사광의 기준데이터와 비교하여 전극기재의 건조율을 추정하는 컴퓨팅장치;를 포함하고,
    상기 전극슬러리는 건조상태에 따라 반사특성이 가변되는 기준물질로써 흑연이 함유되어 건조에 따른 표면 광택도의 변화와 고형분의 변화가 유사하게 이루어지며,
    상기 전극슬러리가 특정범위 내의 건조율에 도달했을 때 상기 기준물질의 반사 특성은 상기 전극슬러리가 다른 범위 내의 건조율에 있을 때 보다 상대적으로 더 급격히 변하는 구간을 갖는 것을 특징으로 하는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 발광부와 수광부는 프로브 내에 함께 내장되도록 장착되며, 상기 프로브는 끝단이 전극기재의 표면에서 일정거리를 두고 이격되도록 배치된 것을 특징으로 하는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 프로브 내에서 수광부는 중앙에 위치하고 상기 수광부의 둘레를 따라 다수 개의 발광부들이 배치된 것을 특징으로 하는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치.
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 발광부가 조사하는 빛은 가시광선 영역대의 빛인 것을 특징으로 하는 전극기재의 건조 상태를 모니터링하는 장치.
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