KR102204111B1 - 화합물, 유기 광전 소자 및 이미지 센서 - Google Patents
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- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 title claims abstract description 102
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 58
- -1 cyanovinyl group Chemical group 0.000 claims description 34
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 27
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 25
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 claims description 19
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 claims description 17
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 16
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 16
- 125000001072 heteroaryl group Chemical group 0.000 claims description 16
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 15
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims description 14
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 14
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 14
- 125000000592 heterocycloalkyl group Chemical group 0.000 claims description 13
- 238000004770 highest occupied molecular orbital Methods 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 125000002915 carbonyl group Chemical group [*:2]C([*:1])=O 0.000 claims description 9
- 125000005264 aryl amine group Chemical group 0.000 claims description 8
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 8
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 7
- 125000000392 cycloalkenyl group Chemical group 0.000 claims description 7
- 125000002252 acyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 6
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical group OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 5
- 125000000229 (C1-C4)alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000852 azido group Chemical group *N=[N+]=[N-] 0.000 claims description 4
- 125000003739 carbamimidoyl group Chemical group C(N)(=N)* 0.000 claims description 4
- 125000003917 carbamoyl group Chemical group [H]N([H])C(*)=O 0.000 claims description 4
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims description 4
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000717 hydrazino group Chemical group [H]N([*])N([H])[H] 0.000 claims description 4
- 125000005638 hydrazono group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 claims description 4
- 125000000542 sulfonic acid group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 claims description 4
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- 150000001450 anions Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000004366 heterocycloalkenyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 claims 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 90
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 35
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 34
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 9
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- YTVNOVQHSGMMOV-UHFFFAOYSA-N naphthalenetetracarboxylic dianhydride Chemical compound C1=CC(C(=O)OC2=O)=C3C2=CC=C2C(=O)OC(=O)C1=C32 YTVNOVQHSGMMOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 5
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- WPUSEOSICYGUEW-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(4-methoxy-n-(4-methoxyphenyl)anilino)phenyl]-n,n-bis(4-methoxyphenyl)aniline Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC(OC)=CC=1)C=1C=CC(OC)=CC=1)C1=CC=C(OC)C=C1 WPUSEOSICYGUEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NQRYJNQNLNOLGT-UHFFFAOYSA-N Piperidine Chemical compound C1CCNCC1 NQRYJNQNLNOLGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 4
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- 229920001467 poly(styrenesulfonates) Polymers 0.000 description 4
- STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C=12C=CC3=C(C=4C=CC=CC=4)C=C(C)N=C3C2=NC(C)=CC=1C1=CC=CC=C1 STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 3
- PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N oxomolybdenum Chemical compound [Mo]=O PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- XANIFASCQKHXRC-UHFFFAOYSA-N 2-(1,3-benzothiazol-2-yl)phenol zinc Chemical compound [Zn].Oc1ccccc1-c1nc2ccccc2s1.Oc1ccccc1-c1nc2ccccc2s1 XANIFASCQKHXRC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AWXGSYPUMWKTBR-UHFFFAOYSA-N 4-carbazol-9-yl-n,n-bis(4-carbazol-9-ylphenyl)aniline Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2N1C1=CC=C(N(C=2C=CC(=CC=2)N2C3=CC=CC=C3C3=CC=CC=C32)C=2C=CC(=CC=2)N2C3=CC=CC=C3C3=CC=CC=C32)C=C1 AWXGSYPUMWKTBR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N Ammonium acetate Chemical compound N.CC(O)=O USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005695 Ammonium acetate Substances 0.000 description 2
- 238000003775 Density Functional Theory Methods 0.000 description 2
- 101000837344 Homo sapiens T-cell leukemia translocation-altered gene protein Proteins 0.000 description 2
- 229920000144 PEDOT:PSS Polymers 0.000 description 2
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N Pyrrole Chemical compound C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 102100028692 T-cell leukemia translocation-altered gene protein Human genes 0.000 description 2
- 235000019257 ammonium acetate Nutrition 0.000 description 2
- 229940043376 ammonium acetate Drugs 0.000 description 2
- 150000004982 aromatic amines Chemical class 0.000 description 2
- GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L beryllium;benzo[h]quinolin-10-olate Chemical compound [Be+2].C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21.C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21 GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- CUONGYYJJVDODC-UHFFFAOYSA-N malononitrile Chemical compound N#CCC#N CUONGYYJJVDODC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 2
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- ZEBBLOXDLGIMEG-UHFFFAOYSA-N 3-ethyl-2,4-dimethyl-1h-pyrrole Chemical compound CCC=1C(C)=CNC=1C ZEBBLOXDLGIMEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004057 DFT-B3LYP calculation Methods 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020177 SiOF Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005284 basis set Methods 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- ZIUSEGSNTOUIPT-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-cyanoacetate Chemical compound CCOC(=O)CC#N ZIUSEGSNTOUIPT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XYIBRDXRRQCHLP-UHFFFAOYSA-N ethyl acetoacetate Chemical compound CCOC(=O)CC(C)=O XYIBRDXRRQCHLP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004768 lowest unoccupied molecular orbital Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N oxonickel Chemical compound [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N phosphinic chloride Chemical compound ClP=O RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N propylamine Chemical compound CCCN WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000001291 vacuum drying Methods 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
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- H10K39/32—Organic image sensors
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Abstract
화학식 1로 표현되는 화합물, 서로 마주하는 제1 전극과 제2 전극 및 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 위치하고 화학식 1로 표현되는 화합물을 포함하는 활성층을 포함하는 유기 광전 소자 및 상기 유기 광전 소자를 포함하는 이미지 센서에 관한 것이다.
Description
화합물, 유기 광전 소자 및 이미지 센서에 관한 것이다.
광전 소자는 광전 효과를 이용하여 빛을 전기 신호로 변환시키는 소자로, 광 다이오드 및 광 트랜지스터 등을 포함하며, 이미지 센서 등에 적용될 수 있다.
광 다이오드를 포함하는 이미지 센서는 날이 갈수록 해상도가 높아지고 있으며, 이에 따라 화소 크기가 작아지고 있다. 현재 주로 사용하는 실리콘 광 다이오드의 경우 화소의 크기가 작아지면서 흡수 면적이 줄어들기 때문에 감도 저하가 발생할 수 있다. 이에 따라 실리콘을 대체할 수 있는 유기 물질이 연구되고 있다.
유기 물질은 흡광 계수가 크고 분자 구조에 따라 특정 파장 영역의 빛을 선택적으로 흡수할 수 있으므로, 광 다이오드와 색 필터를 동시에 대체할 수 있어서 감도 개선 및 고집적에 매우 유리하다.
일 구현예는 녹색 파장 영역의 빛을 선택적으로 흡수할 수 있는 화합물을 제공한다.
다른 구현예는 녹색 파장 영역의 빛을 선택적으로 흡수하고 효율을 개선할 수 있는 유기 광전 소자를 제공한다.
다른 구현예는 상기 유기 광전 소자를 포함하는 이미지 센서를 제공한다.
일 구현예에 따르면, 하기 화학식 1로 표현되는 화합물을 제공한다.
[화학식 1]
상기 화학식 1에서,
R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
R2 내지 R7은 각각 독립적으로 존재하거나 인접한 두 개가 결합하여 융합고리를 형성하고, 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 카르보닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
X1 및 X2는 각각 독립적으로 할로겐 기, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이다.
상기 화합물은 약 500nm 내지 600nm에서 최대 흡수 파장(λmax)을 가질 수 있다.
상기 화합물은 박막 상태에서 약 50nm 내지 150nm의 반치폭(full width at half maximum, FWHM)을 가지는 흡광 곡선을 나타낼 수 있다.
상기 화합물은 약 4.3 내지 7.0eV의 HOMO 레벨 및 약 1.9 내지 3.1eV의 에너지 밴드갭을 가질 수 있다.
상기 화학식 1에서, X1 및 X2는 각각 불소일 수 있고 R1은 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 시아노기 또는 이들의 조합일 수 있다.
상기 화합물은 하기 화학식 1a 내지 1n 중 어느 하나로 표현되는 화합물일 수 있다.
[화학식 1a] [화학식 1b] [화학식 1c] [화학식 1d]
[화학식 1e] [화학식 1f] [화학식 1g]
[화학식 1h] [화학식 1i] [화학식 1j]
[화학식 1k] [화학식 1l]
[화학식 1m] [화학식 1n]
다른 구현예에 따르면, 서로 마주하는 제1 전극과 제2 전극, 그리고 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 위치하고 하기 화학식 1로 표현되는 화합물을 포함하는 활성층을 포함하는 유기 광전 소자를 제공한다.
[화학식 1]
상기 화학식 1에서,
R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 아실기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
R2 내지 R7은 각각 독립적으로 존재하거나 인접한 두 개가 결합하여 융합고리를 형성하고, 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 아실기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 카르보닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
X1 및 X2는 각각 독립적으로 할로겐 기, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이다.
상기 활성층은 약 500nm 내지 600nm에서 최대 흡수 파장(λmax)을 가질 수 있다.
상기 활성층은 약 50nm 내지 150nm의 반치폭을 가지는 흡광 곡선을 나타낼 수 있다.
상기 화합물은 약 4.3 내지 7.0eV의 HOMO 레벨 및 약 1.9 내지 3.1eV의 에너지 밴드갭을 가질 수 있다.
상기 화학식 1에서, X1 및 X2는 각각 불소일 수 있고 R1은 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 시아노기 또는 이들의 조합일 수 있다.
상기 화학식 1로 표현되는 화합물은 하기 화학식 1a 내지 1p 중 어느 하나로 표현될 수 있다.
[화학식 1a] [화학식 1b] [화학식 1c] [화학식 1d]
[화학식 1e] [화학식 1f] [화학식 1g]
[화학식 1h] [화학식 1i] [화학식 1j]
[화학식 1k] [화학식 1l] [화학식 1m] [화학식 1n]
[화학식 1o] [화학식 1p]
상기 활성층은 p형 반도체 화합물 또는 n형 반도체 화합물을 더 포함할 수 있다.
상기 p형 반도체 화합물은 하기 화학식 2로 표현되는 화합물 및 하기 화학식 3으로 표현되는 화합물 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
[화학식 2]
상기 화학식 2에서,
R8 내지 R19는 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알콕시기, 할로겐 원자 또는 이들의 조합이고,
[화학식 3]
상기 화학식 3에서,
R20 내지 R31은 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 할로겐 원자, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이고,
X는 음이온이다.
상기 활성층은 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수할 수 있다.
상기 활성층은 상기 화학식 1로 표현되는 화합물을 포함하는 진성층을 포함할 수 있다.
상기 활성층은 상기 진성층의 일면에 위치하는 p형 층과 상기 진성층의 다른 일면에 위치하는 n형 층 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.
또 다른 구현예에 따르면, 상기 유기 광전 소자를 포함하는 이미지 센서를 제공한다.
상기 이미지 센서는 청색 파장 영역의 광을 감지하는 복수의 제1 광 감지 소자 및 적색 파장 영역의 광을 감지하는 복수의 제2 광 감지 소자가 집적되어 있는 반도체 기판, 상기 반도체 기판의 상부에 위치하고 청색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 청색 필터와 적색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 적색 필터를 포함하는 색 필터 층, 그리고 상기 색 필터 층의 상부에 위치하고 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 상기 유기 광전 소자를 포함할 수 있다.
녹색 파장 영역의 빛을 선택적으로 흡수할 수 있는 화합물을 제공하고 상기 화합물에 의해 녹색 파장 영역의 파장 선택성을 높여 효율을 개선할 수 있는 유기 광전 소자 및 이미지 센서를 제공한다.
도 1은 일 구현예에 따른 유기 광전 소자를 도시한 단면도이고,
도 2는 다른 구현예에 따른 유기 광전 소자를 도시한 단면도이고,
도 3은 일 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서를 도시한 단면도이고,
도 4는 다른 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서를 도시한 단면도이고,
도 5는 합성예 3에서 얻은 화합물의 박막 특성을 보여주는 사진이고,
도 6 내지 도 11은 각각 실시예 1 내지 6에 따른 유기 광전 소자의 파장 및 전압에 따른 외부양자효율(EQE)을 보여주는 그래프이고,
도 12는 실시예 4에 따른 유기 광전 소자를 120℃에서 30분간 방치한 후 전류밀도의 변화를 보여주는 그래프이고,
도 13은 실시예 5에 따른 유기 광전 소자를 120℃에서 30분간 방치한 후 전류밀도의 변화를 보여주는 그래프이다.
도 2는 다른 구현예에 따른 유기 광전 소자를 도시한 단면도이고,
도 3은 일 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서를 도시한 단면도이고,
도 4는 다른 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서를 도시한 단면도이고,
도 5는 합성예 3에서 얻은 화합물의 박막 특성을 보여주는 사진이고,
도 6 내지 도 11은 각각 실시예 1 내지 6에 따른 유기 광전 소자의 파장 및 전압에 따른 외부양자효율(EQE)을 보여주는 그래프이고,
도 12는 실시예 4에 따른 유기 광전 소자를 120℃에서 30분간 방치한 후 전류밀도의 변화를 보여주는 그래프이고,
도 13은 실시예 5에 따른 유기 광전 소자를 120℃에서 30분간 방치한 후 전류밀도의 변화를 보여주는 그래프이다.
이하, 본 발명의 구현예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 구현예에 한정되지 않는다.
본 명세서에서 별도의 정의가 없는 한, '치환된'이란, 화합물 중의 수소 원자가 할로겐 원자(F, Br, Cl 또는 I), 히드록시기, 알콕시기, 니트로기, 시아노기, 아미노기, 아지도기, 아미디노기, 히드라지노기, 히드라조노기, 카르보닐기, 카르바밀기, 티올기, 에스테르기, 카르복실기나 그의 염, 술폰산기나 그의 염, 인산이나 그의 염, C1 내지 C20 알킬기, C2 내지 C20 알케닐기, C2 내지 C20 알키닐기, C6 내지 C30 아릴기, C7 내지 C30 아릴알킬기, C1 내지 C4 알콕시기, C1 내지 C20 헤테로알킬기, C3 내지 C20 헤테로아릴알킬기, C3 내지 C30 사이클로알킬기, C3 내지 C15 사이클로알케닐기, C6 내지 C15 사이클로알키닐기, C2 내지 C20 헤테로사이클로알킬기 및 이들의 조합에서 선택된 치환기로 치환된 것을 의미한다.
또한, 본 명세서에서 별도의 정의가 없는 한, '헤테로'란, N, O, S 및 P에서 선택된 헤테로 원자를 1 내지 3개 함유한 것을 의미한다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우 뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
도면에서 본 구현예를 명확하게 설명하기 위하여 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용하였다.
이하 일 구현예에 따른 화합물을 설명한다.
일 구현예에 따른 화합물은 하기 화학식 1로 표현된다.
[화학식 1]
상기 화학식 1에서,
R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
R2 내지 R7은 각각 독립적으로 존재하거나 인접한 두 개가 결합하여 융합고리를 형성하고, 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 카르보닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
X1 및 X2는 각각 독립적으로 할로겐 기, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이다.
상기 화합물은 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 화합물로, 약 500nm 내지 600nm에서 최대 흡수 파장(λmax)을 가질 수 있다.
상기 화합물은 박막 상태에서 약 50nm 내지 150nm의 비교적 작은 반치폭(full width at half maximum, FWHM)을 가지는 흡광 곡선을 나타낼 수 있다. 여기서 반치폭은 최대 흡광 지점의 반(half)에 대응하는 파장의 폭(width)으로, 반치폭이 작으면 좁은 파장 영역의 빛을 선택적으로 흡수하여 파장 선택성이 높다는 것을 의미한다. 상기 범위의 반치폭을 가짐으로써 녹색 파장 영역에 대한 선택성을 높일 수 있다.
상기 화합물은 약 4.3 내지 7.0eV의 HOMO 레벨을 가질 수 있고, 약 1.9 내지 3.1eV의 에너지 밴드갭을 가질 수 있다. 상기 범위의 HOMO 레벨 및 에너지 밴드갭을 가짐으로써 녹색 파장 영역에서 광을 효과적으로 흡수하는 n형 또는 p형 반도체로 적용될 수 있고 그에 따라 높은 외부양자효율(external quantum efficiency, EQE)을 가질 수 있어 광전 변환 효율을 개선할 수 있다.
일 예로, 상기 화학식 1에서, X1 및 X2는 각각 불소일 수 있다.
일 예로, 상기 화학식 1에서, R1은 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 시아노기 또는 이들의 조합일 수 있다. 상기 아릴기는 예컨대 페닐기일 수 있다.
상기 화합물은 예컨대 하기 화학식 1a 내지 1n 중 어느 하나로 표현될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
[화학식 1a] [화학식 1b] [화학식 1c] [화학식 1d]
[화학식 1e] [화학식 1f] [화학식 1g]
[화학식 1h] [화학식 1i] [화학식 1j]
[화학식 1k] [화학식 1l]
[화학식 1m] [화학식 1n]
이하 상기 화합물을 포함하는 일 구현예에 따른 유기 광전 소자에 대하여 도면을 참고하여 설명한다.
도 1은 일 구현예에 따른 유기 광전 소자를 도시한 단면도이다.
도 1을 참고하면, 일 구현예에 따른 유기 광전 소자(100)는 서로 마주하는 제1 전극(10)과 제2 전극(20), 그리고 제1 전극(10)과 제2 전극(20) 사이에 위치하는 활성층(30)을 포함한다.
제1 전극(10)과 제2 전극(20) 중 어느 하나는 애노드(anode)이고 다른 하나는 캐소드(cathode)이다. 제1 전극(10)과 제2 전극(20) 중 적어도 하나는 투광 전극일 수 있고, 상기 투광 전극은 예컨대 인듐 틴 옥사이드(indium tin oxide, ITO) 또는 인듐 아연 옥사이드(indium zinc oxide, IZO)와 같은 투명 도전체, 또는 얇은 두께의 단일층 또는 복수층의 금속 박막으로 만들어질 수 있다. 제1 전극(10)과 제2 전극(20) 중 하나가 불투광 전극인 경우 예컨대 알루미늄(Al)과 같은 불투명 도전체로 만들어질 수 있다.
활성층(30)은 p형 반도체 물질과 n형 반도체 물질이 포함되어 pn 접합(pn junction)을 형성하는 층으로, 외부에서 빛을 받아 엑시톤(exciton)을 생성한 후 생성된 엑시톤을 정공과 전자로 분리하는 층이다.
활성층(30)은 하기 화학식 1로 표현되는 화합물을 포함한다.
[화학식 1]
상기 화학식 1에서,
R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 아실기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
R2 내지 R7은 각각 독립적으로 존재하거나 인접한 두 개가 결합하여 융합고리를 형성하고, 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 아실기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 카르보닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
X1 및 X2는 각각 독립적으로 할로겐 기, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이다.
상기 화합물은 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 화합물로, 상기 화합물을 포함하는 활성층(30)은 약 500nm 내지 600nm에서 최대 흡수 파장(λmax)을 가지는 녹색 파장의 광을 선택적으로 흡수할 수 있다.
활성층(30)은 약 50nm 내지 150nm의 비교적 작은 반치폭(FWHM)을 가지는 흡광 곡선을 나타낼 수 있다. 이에 따라 활성층(30)은 녹색 파장 영역의 광에 대하여 높은 선택성을 가질 수 있다.
상기 화합물은 약 4.3 내지 7.0eV의 HOMO 레벨을 가질 수 있고, 약 1.9 내지 3.1eV의 에너지 밴드갭을 가질 수 있다. 상기 범위의 HOMO 레벨 및 에너지 밴드갭을 가짐으로써 녹색 파장 영역에서 광을 효과적으로 흡수하는 n형 또는 p형 반도체로 적용될 수 있다.
일 예로, 상기 화학식 1에서, X1 및 X2는 각각 불소일 수 있다.
일 예로, 상기 화학식 1에서, R1은 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 시아노기 또는 이들의 조합일 수 있다. 상기 아릴기는 예컨대 페닐기일 수 있다.
상기 화합물은 예컨대 하기 화학식 1a 내지 1p 중 어느 하나로 표현될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
[화학식 1a] [화학식 1b] [화학식 1c] [화학식 1d]
[화학식 1e] [화학식 1f] [화학식 1g]
[화학식 1h] [화학식 1i] [화학식 1j]
[화학식 1k] [화학식 1l] [화학식 1m] [화학식 1n]
[화학식 1o] [화학식 1p]
상기 화합물은 활성층(30)에서 n형 반도체 또는 p형 반도체로 적용될 수 있다. 상기 화합물이 n형 반도체로 적용되는 경우 상기 n형 반도체와 함께 pn접합을 형성하기 위한 p형 반도체를 더 포함할 수 있고 상기 화합물이 p형 반도체로 적용되는 경우 상기 p형 반도체와 함께 pn접합을 형성하기 위한 n형 반도체를 더 포함할 수 있다.
일 예로, 상기 화합물이 n형 반도체로 적용되는 경우, 하기 화학식 2로 표현되는 p형 반도체를 더 포함할 수 있다.
[화학식 2]
상기 화학식 2에서,
R8 내지 R19는 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알콕시기, 할로겐 원자 또는 이들의 조합이다.
상기 화학식 2로 표현되는 화합물은 예컨대 하기 화학식 2a 내지 2h로 표현되는 화합물 중 적어도 하나일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
[화학식 2a] [화학식 2b] [화학식 2c]
[화학식 2d] [화학식 2e] [화학식 2f]
[화학식 2g] [화학식 2h]
일 예로, 상기 화합물이 n형 반도체로 적용되는 경우, 하기 화학식 3으로 표현되는 p형 반도체를 더 포함할 수 있다.
[화학식 3]
상기 화학식 3에서,
R20 내지 R31은 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 할로겐 원자, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이고,
X는 음이온이다.
상기 화학식 3으로 표현되는 화합물은 예컨대 하기 화학식 3a 내지 3e로 표현되는 화합물 중 적어도 하나일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
[화학식 3a] [화학식 3b] [화학식 3c]
[화학식 3d] [화학식 3e]
활성층(30)은 단일 층일 수도 있고 복수 층일 수도 있다. 활성층(30)은 예컨대 진성층(instrinsic layer, I층), p형 층/I층, I층/n형 층, p형 층/I층/n형 층, p형 층/n형 층 등 다양한 조합일 수 있다.
상기 진성층(I층)은 상기 p형 반도체와 상기 n형 반도체가 약 1:100 내지 약 100:1의 두께 비로 혼합되어 포함될 수 있다. 상기 범위 내에서 약 1:50 내지 50:1의 두께 비로 포함될 수 있으며, 상기 범위 내에서 약 1:10 내지 10:1의 두께 비로 포함될 수 있으며, 상기 범위 내에서 약 1:1의 두께 비로 포함될 수 있다. p형 반도체와 n형 반도체가 상기 범위의 조성비를 가짐으로써 효과적인 엑시톤 생성 및 pn 접합 형성에 유리하다.
상기 p형 층은 상기 p형 반도체를 포함할 수 있고, 상기 n형 층은 상기 n형 반도체를 포함할 수 있다.
활성층(30)은 약 1nm 내지 500nm의 두께를 가질 수 있다. 상기 범위 내에서 약 5nm 내지 300nm의 두께를 가질 수 있다. 상기 범위의 두께를 가짐으로써 빛을 효과적으로 흡수하고 정공과 전자를 효과적으로 분리 및 전달함으로써 광전 변환 효율을 효과적으로 개선할 수 있다.
유기 광전 소자(100)는 제1 전극(10) 및/또는 제2 전극(20) 측으로부터 빛이 입사되어 활성층(30)이 소정 파장 영역의 빛을 흡수하면 내부에서 엑시톤이 생성될 수 있다. 엑시톤은 활성층(30)에서 정공과 전자로 분리되고, 분리된 정공은 제1 전극(10)과 제2 전극(20) 중 하나인 애노드 측으로 이동하고 분리된 전자는 제1 전극(10)과 제2 전극(20) 중 다른 하나인 캐소드 측으로 이동하여 유기 광전 소자에 전류가 흐를 수 있게 된다.
이하 도 2를 참고하여 다른 구현예에 따른 유기 광전 소자에 대하여 설명한다.
도 2는 다른 구현예에 따른 유기 광전 소자를 도시한 단면도이다.
도 2를 참고하면, 본 구현예에 따른 유기 광전 소자(100)는 전술한 구현예와 마찬가지로 서로 마주하는 제1 전극(10)과 제2 전극(20), 그리고 제1 전극(10)과 제2 전극(20) 사이에 위치하는 활성층(30)을 포함한다.
그러나 본 구현예에 따른 유기 광전 소자(100)는 전술한 구현예와 달리 제1 전극(10)과 활성층(30) 사이 및 제2 전극(20)과 활성층(30) 사이에 각각 전하 보조층(40, 50)을 더 포함한다. 전하 보조층(40, 50)은 활성층(30)에서 분리된 정공과 전자의 이동을 용이하게 하여 효율을 높일 수 있다.
전하 보조층(40, 50)은 정공의 주입을 용이하게 하는 정공 주입층(hole injecting layer, HIL), 정공의 수송을 용이하게 하는 정공 수송층(hole transporting layer, HTL), 전자의 이동을 저지하는 전자 차단층(electron blocking layer, EBL), 전자의 주입을 용이하게 하는 전자 주입층(electron injecting layer, EIL), 전자의 수송을 용이하게 하는 전자 수송층(electron transporting layer, ETL) 및 정공의 이동을 저지하는 정공 차단층(hole blocking layerm HBL)에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다.
전하 보조층(40, 50)은 예컨대 유기물, 무기물 또는 유무기물을 포함할 수 있다. 상기 유기물은 정공 또는 전자 특성을 가지는 유기 화합물일 수 있고, 상기 무기물은 예컨대 몰리브덴 산화물, 텅스텐 산화물, 니켈 산화물과 같은 금속 산화물일 수 있다.
상기 정공 수송층(HTL)은 예컨대 폴리(3,4-에틸렌디옥시티오펜):폴리(스티렌술포네이트)(poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate), PEDOT:PSS), 폴리아릴아민, 폴리(N-비닐카바졸)(poly(N-vinylcarbazole), 폴리아닐린(polyaniline), 폴리피롤(polypyrrole), N,N,N',N'-테트라키스(4-메톡시페닐)-벤지딘(N,N,N',N'-tetrakis(4-methoxyphenyl)-benzidine, TPD), 4-비스[N-(1-나프틸)-N-페닐-아미노]비페닐(4-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl, α-NPD), m-MTDATA, 4,4′,4″-트리스(N-카바졸릴)-트리페닐아민(4,4′,4″-tris(N-carbazolyl)-triphenylamine, TCTA) 및 이들의 조합에서 선택되는 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 전자 차단층(EBL)은 예컨대 폴리(3,4-에틸렌디옥시티오펜):폴리(스티렌술포네이트)(poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate), PEDOT:PSS), 폴리아릴아민, 폴리(N-비닐카바졸)(poly(N-vinylcarbazole), 폴리아닐린(polyaniline), 폴리피롤(polypyrrole), N,N,N',N'-테트라키스(4-메톡시페닐)-벤지딘(N,N,N',N'-tetrakis(4-methoxyphenyl)-benzidine, TPD), 4-비스[N-(1-나프틸)-N-페닐-아미노]비페닐(4-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl, α-NPD), m-MTDATA, 4,4′,4″-트리스(N-카바졸릴)-트리페닐아민(4,4′,4″-tris(N-carbazolyl)-triphenylamine, TCTA) 및 이들의 조합에서 선택되는 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 전자 수송층(ETL)은 예컨대 1,4,5,8-나프탈렌-테트라카르복실릭 디안하이드라이드(1,4,5,8-naphthalene-tetracarboxylic dianhydride, NTCDA), 바소쿠프로인(bathocuproine, BCP), LiF, Alq3, Gaq3, Inq3, Znq2, Zn(BTZ)2, BeBq2 및 이들의 조합에서 선택되는 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 정공 차단층(HBL)은 예컨대 1,4,5,8-나프탈렌-테트라카르복실릭 디안하이드라이드(1,4,5,8-naphthalene-tetracarboxylic dianhydride, NTCDA), 바소쿠프로인(BCP), LiF, Alq3, Gaq3, Inq3, Znq2, Zn(BTZ)2, BeBq2 및 이들의 조합에서 선택되는 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
전하 보조층(40, 50) 중 하나는 생략될 수 있다.
상기 유기 광전 소자는 태양 전지, 이미지 센서, 광 검출기, 광 센서 및 유기발광다이오드 등에 적용될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
이하 상기 유기 광전 소자를 적용한 이미지 센서의 일 예에 대하여 도면을 참고하여 설명한다. 여기서는 이미지 센서의 일 예로 유기 CMOS 이미지 센서에 대하여 설명한다.
도 3은 일 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서를 도시한 단면도이다.
도 3은 인접한 청색 화소, 녹색 화소 및 적색 화소를 예시적으로 설명하지만 이에 한정되는 것은 아니다.
도 3을 참고하면, 일 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서(300)는 광 감지 소자(50B, 50R), 전송 트랜지스터(도시하지 않음) 및 전하 저장소(55)가 집적되어 있는 반도체 기판(310), 하부 절연층(60), 색 필터(70), 상부 절연층(80) 및 유기 광전 소자(100)를 포함한다.
반도체 기판(310)은 실리콘 기판일 수 있으며, 광 감지 소자(50), 전송 트랜지스터(도시하지 않음) 및 전하 저장소(55)가 집적되어 있다. 광 감지 소자(50)는 광 다이오드일 수 있다.
광 감지 소자(50B, 50R), 전송 트랜지스터 및/또는 전하 저장소(55)는 각 화소마다 집적되어 있을 수 있으며, 일 예로 도면에서 보는 바와 같이 광 감지 소자(50B, 50R)는 청색 화소 및 적색 화소에 포함될 수 있고 전하 저장소(55)는 녹색 화소에 포함될 수 있다.
광 감지 소자(50B, 50R)는 빛을 센싱하고 센싱된 정보는 전송 트랜지스터에 의해 전달될 수 있고, 전하 저장소(55)는 후술하는 유기 광전 소자(100)와 전기적으로 연결되어 있고 전하 저장소(55)의 정보는 전송 트랜지스터에 의해 전달될 수 있다.
반도체 기판(310) 위에는 또한 금속 배선(도시하지 않음) 및 패드(도시하지 않음)가 형성되어 있다. 금속 배선 및 패드는 신호 지연을 줄이기 위하여 낮은 비저항을 가지는 금속, 예컨대 알루미늄(Al), 구리(Cu), 은(g) 및 이들의 합금으로 만들어질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 그러나 상기 구조에 한정되지 않고, 금속 배선 및 패드가 광 감지 소자(50B, 50R)의 하부에 위치할 수도 있다.
금속 배선 및 패드 위에는 하부 절연층(60)이 형성되어 있다. 하부 절연층(60)은 산화규소 및/또는 질화규소와 같은 무기 절연 물질 또는 SiC, SiCOH, SiCO 및 SiOF와 같은 저유전율(low K) 물질로 만들어질 수 있다. 하부 절연층(60)은 전하 저장소(55)를 드러내는 트렌치를 가진다. 트렌치는 충전재로 채워져 있을 수 있다.
하부 절연막(60) 위에는 색 필터(70)가 형성되어 있다. 색 필터(70)는 청색 화소에 형성되어 있는 청색 필터(70B)와 적색 화소에 형성되어 있는 적색 필터(70R)를 포함한다. 본 구현예에서는 녹색 필터를 구비하지 않은 예를 설명하지만, 경우에 따라 녹색 필터를 구비할 수도 있다.
색 필터(70) 위에는 상부 절연층(80)이 형성되어 있다. 상부 절연층(80)은 색 필터(50)에 의한 단차를 제거하고 평탄화한다. 상부 절연층(80) 및 하부 절연층(60)은 패드를 드러내는 접촉구(도시하지 않음)와 녹색 화소의 전하 저장소(55)를 드러내는 관통구(85)를 가진다.
상부 절연층(80) 위에는 전술한 유기 광전 소자(100)가 형성되어 있다. 유기 광전 소자(100)는 전술한 바와 같이 제1 전극(10), 활성층(30) 및 제2 전극(20)을 포함한다.
제1 전극(10)과 제2 전극(20)은 모두 투명 전극일 수 있으며, 활성층(30)은 전술한 바와 같이 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수할 수 있고 녹색 화소의 색 필터를 대체할 수 있다.
제2 전극(20) 측으로부터 입사된 광은 활성층(30)에서 녹색 파장 영역의 빛이 주로 흡수되어 광전 변환될 수 있고 나머지 파장 영역의 빛은 제1 전극(10)을 통과하여 광 감지 소자(50)에 센싱될 수 있다.
도 4는 다른 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서를 도시한 단면도이다.
도 4를 참고하면, 본 구현예에 따른 유기 CMOS 이미지 센서(300)는 전술한 구현예와 마찬가지로, 광 감지 소자(50B, 50R), 전송 트랜지스터(도시하지 않음) 및 전하 저장소(55)가 집적되어 있는 반도체 기판(310), 하부 절연층(60), 색 필터(70B, 70R), 상부 절연층(80) 및 유기 광전 소자(100)를 포함한다.
그러나 전술한 구현예와 달리, 유기 광전 소자(100)는 전하 보조층(40, 50)을 더 포함한다. 전하 보조층(40, 50)은 전술한 바와 같으며, 전하 보조층(40, 50) 중 어느 하나는 생략될 수 있다.
이하 실시예를 통하여 상술한 본 발명의 구현예를 보다 상세하게 설명한다. 다만 하기의 실시예는 단지 설명의 목적을 위한 것이며 본 발명의 범위를 제한하는 것은 아니다.
합성예
합성예
1
[화학식 1m]
60 ml CH2Cl2에 2-클로로-5-벤조일-피롤(2-chlro-5-benzoyl-pyrrole) 1.1 g과 POCl3 1.5 mL를 녹이고, 상온에서 3시간 교반한다. 이어서, 이 용액에 2,4-디메틸-3-에틸피롤(2,4-dimethyl-3-ethylpyrrole) 2.00g을 첨가한 후 36 시간 동안 추가로 교반하여 세척 건조한다. 얻어진 물질을 톨루엔에 녹인 후 미량의 트리에틸아민을 첨가한 후 1시간 동안 상온에서 교반한다. 이어서, BF3OEt2 1.8mL을 첨가한 후 100 ℃에서 10시간 동안 반응시킨다. 이어서 세척 후 진공건조 한다. 얻어진 물질을 20 ml의 아세토니트릴(acetonitrile)에 녹이고, 프로판-1-아민(propane-1-amine) 170 ul을 넣고 교반하면서 10시간 리플럭스시킨 후 얻어진 물질을 재결정시켜서 분말 형태의 상기 화학식 1m으로 표현되는 화합물을 얻는다.
MALD-TOF: 409.13 (M+), 409.21 (calculated) for C23H26BF2N3O,
1H NMR (CDCl, Bruker 500 MHz): δ 1.06 (t,3H), 1.54 (s, 3H), 1.83 (t, 3H), 2.40 (q, 2H), 2.68 (s, 3H), 4.61 (d, 2H), 6.47 (s, 1H), 7.26-7.34 (m, 2H), 7.46-7.56 (m, 3H).
합성예
2
[화학식 1n]
합성예 1에서 얻은 화합물을 에탄올에 녹인 후 말로노니트릴(malononitrile)과 암모늄아세테이트(ammonium acetate)를 첨가하고 생성물을 재결정시켜 상기 화학식 1n으로 표현되는 화합물을 얻는다.
MALD-TOF: 458.03 (M+), 475.22 (calculated) for C26H26BF2N5,
1H NMR (CDCl, Bruker 500 MHz): δ 1.06 (t, 3H), 1.54 (s, 3H), 1.83 (t, 3H), 2.40 (q, 2H), 2.68 (s, 3H), 4.61 (d, 2H), 6.47 (s, 1H), 7.26-7.34 (m, 2H), 7.46-7.56 (m, 3H), 8.20 (s, 1H).
합성예
3.
[화학식 1o]
합성예 1에서 얻은 화합물을 에탄올에 녹인 후 피페리딘(piperidine)과 에틸아세토아세테이트(ethyl acetoacetate)를 첨가한다. 이어서 얻어진 생성물을 4시간 동안 리플럭스 시킨 후 건조 및 재결정화하여 상기 화학식 1o로 표현되는 화합물을 얻는다.
MALD-TOF: 475.21 (M+), 475.22 (calculated) for C27H28BF2N3O2,
1H NMR (CDCl, Bruker 500 MHz): δ 1.06 (t, 3H), 1.54 (s, 3H), 1.83 (t, 3H), 2.40 (q, 2H), 2.68 (s, 3H), 4.61 (d, 2H), 6.47 (s, 1H), 7.26-7.34 (m, 2H), 7.46-7.56 (m, 3H). 8.21 (s, 1H)
합성예
4
[화학식 1p]
합성예 1에서 얻은 화합물을 무수 에탄올에 녹인 후 피페리딘과 에틸시아노아세테이트(ethyl cyanoacetate)를 첨가한다. 이어서 얻어진 생성물을 4시간 동안 리플럭스시킨 후 건조 및 재결정화하여 상기 화학식 1p로 표현되는 화합물을 얻는다.
MALD-TOF: 458.11 (M+), 458.21 (calculated) for C26H25BF2N4O,
1H NMR (CDCl, Bruker 500 MHz): δ 1.05 (t, 3H), 1.50 (s, 3H), 1.82 (t, 3H), 2.41 (q, 2H), 2.69 (s, 3H), 4.60 (d, 2H), 6.40 (s, 1H), 7.26-7.34 (m, 2H), 7.52-7.83 (m, 3H) 8.13 (s, 1H)
합성예
5
[화학식 1j]
합성예 3에서 얻은 화합물을 에탄올에 녹인 후 말로노니트릴(malononitrile)과 암모늄아세테이트(ammonium acetate)를 첨가하고 생성물을 재결정시켜 상기 화학식 1j로 표현되는 화합물을 얻는다.
MALD-TOF: 507.47 (M+), 506.22 (calculated) for C27H28BF2N3O2,
1H NMR (CDCl, Bruker 500 MHz): δ 1.05 (t, 3H), 1.50 (s, 3H), 1.82 (t, 3H), 2.41 (q, 2H), 2.69 (s, 3H), 4.60 (d, 2H), 6.40 (s, 1H), 7.26-7.34 (m, 2H), 7.52-7.83 (m, 3H), 7.89 (s, 1H).
평가 1:
흡광
특성
합성예 1 내지 5에서 얻은 화합물의 파장에 따른 흡광 특성을 평가한다.
흡광 특성은 합성예 1 내지 5에서 얻은 화합물을 고진공(< 10-7 Torr) 하에서 0.1 내지 1.0Å/s 속도로 열증착(thermal evaporation)하여 50nm 내지 100nm 두께의 박막으로 준비한 후 상기 박막을 Cary 5000 UV spectroscopy (Varian 사 제조)를 사용하여 자외선-가시광선(UV-Vis)을 조사하여 평가한다.
그 결과는 표 1과 같다.
표 1을 참고하면, 합성예 1 내지 5에서 얻은 화합물은 약 500nm 내지 600nm에서 최대 흡광 파장(λmax)을 가지고 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수할 수 있음을 확인할 수 있다.
최대흡수파장(λmax, nm) | 반치폭(nm) | |
합성예 1 | 573 | 87 |
합성예 2 | 595 | 115 |
합성예 3 | 582 | 109 |
합성예 4 | 563 | 107 |
합성예 5 | 577 | 96 |
평가 2: 박막 특성
합성예 3에서 얻은 화합물의 박막 특성을 평가한다.
표면 특성은 합성예 3에서 얻은 화합물을 고진공(< 10-7 Torr) 하에서 0.5 내지 1.0Å/s 속도로 열증착(thermal evaporation)하여 50 내지 100nm 두께의 박막으로 준비한 후 상기 박막을 원자력현미경(atomic force microscope) (Dimension V (Veeco Co.)을 사용하여 평가한다.
도 5는 합성예 3에서 얻은 화합물의 박막 특성을 보여주는 사진이다.
도 5를 참고하면, 합성예 3에서 얻은 화합물은 표면이 고른 우수한 단막 특성을 갖는 박막이 형성된 것을 확인할 수 있다.
평가 3: 에너지 레벨
하기 화학식 1a 내지 1p로 표현되는 화합물의 에너지 레벨을 평가한다.
에너지 레벨은 Gaussian software를 이용하여 density functional theory (DFT) 방법으로 B3LYP/6-31G basis set으로 계산하였고, AC-2 photoelectron spectrometer (Hitachi Co.)으로 평가한다.
[화학식 1a] [화학식 1b] [화학식 1c] [화학식 1d]
[화학식 1e] [화학식 1f] [화학식 1g]
[화학식 1h] [화학식 1i] [화학식 1j]
[화학식 1k] [화학식 1l] [화학식 1m] [화학식 1n]
[화학식 1o] [화학식 1p]
그 결과는 표 2와 같다.
HOMO (eV) | LUMO (eV) | 밴드갭(Eg,eV) | |
화학식 1a | -5.881 | -2.799 | 3.082 |
화학식 1b | -5.343 | -2.702 | 2.641 |
화학식 1c | -5.218 | -2.703 | 2.515 |
화학식 1d | -4.404 | -1.921 | 2.483 |
화학식 1e | -5.232 | -2.292 | 2.94 |
화학식 1f | -5.677 | -3.279 | 2.398 |
화학식 1g | -4.828 | -2.780 | 2.048 |
화학식 1h | -6.850 | -4.119 | 2.731 |
화학식 1i | -6.282 | -3.300 | 2.982 |
화학식 1j | -5.646 | -3.489 | 2.157 |
화학식 1k | -5.597 | -3.042 | 2.555 |
화학식 1l | -6.733 | -4.112 | 2.621 |
화학식 1m | -5.132 | -2.492 | 2.640 |
화학식 1n | -5.404 | -2.940 | 2.464 |
화학식 1o | -5.632 | -3.025 | 2.607 |
화학식 1p | -5.644 | -3.070 | 2.574 |
표 2를 참고하면, 화학식 1a 내지 1p로 표현되는 화합물은 약 4.3 내지 7.0eV의 HOMO 레벨 및 약 1.9 내지 3.1eV의 에너지 밴드갭을 가지는 것을 확인할 수 있다.
유기
광전
소자의 제작
실시예
1
유리 기판 위에 ITO를 스퍼터링으로 적층하여 약 100nm 두께의 애노드를 형성하고 그 위에 전하 보조층으로 몰리브덴 산화물(MoOx) 박막을 30nm 두께로 적층한다. 이어서 몰리브덴 산화물(MoOx) 박막 위에 합성예 3에 따른 화합물(n형 반도체)과 하기 화학식 3a으로 표현되는 화합물(p형 반도체)을 1:1 두께 비로 공증착하여 70nm 두께의 활성층을 형성한다. 이어서 활성층 위에 알루미늄(Al)을 스퍼터링으로 적층하여 80nm 두께의 캐소드를 형성하여 유기 광전 소자를 제작한다.
[화학식 3a]
실시예
2
합성예 3에 따른 화합물(n형 반도체)과 상기 화학식 3a으로 표현되는 화합물(p형 반도체) 대신 하기 화학식 4로 표현되는 화합물(n형 반도체)와 합성예 4에 따른 화합물(p형 반도체)를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 유기 광전 소자를 제작한다.
[화학식 4]
실시예
3
합성예 3에 따른 화합물(n형 반도체)과 상기 화학식 3a으로 표현되는 화합물(p형 반도체) 대신 합성예 4에 따른 화합물(n형 반도체)과 상기 화학식 3a로 표현되는 화합물(p형 반도체)를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 유기 광전 소자를 제작한다.
실시예
4
합성예 3에 따른 화합물(n형 반도체)과 상기 화학식 3a으로 표현되는 화합물(p형 반도체) 대신 합성예 4에 따른 화합물(n형 반도체)과 하기 화학식 2a로 표현되는 화합물(p형 반도체)를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 유기 광전 소자를 제작한다.
[화학식 2a]
실시예
5
합성예 3에 따른 화합물(n형 반도체)과 상기 화학식 3a으로 표현되는 화합물(p형 반도체) 대신 합성예 4에 따른 화합물(n형 반도체)과 하기 화학식 2b로 표현되는 화합물(p형 반도체)를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 유기 광전 소자를 제작한다.
[화학식 2b]
실시예
6
합성예 3에 따른 화합물(n형 반도체)과 상기 화학식 3a으로 표현되는 화합물(p형 반도체) 대신 합성예 4에 따른 화합물(n형 반도체)과 하기 화학식 2d로 표현되는 화합물(p형 반도체)를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 유기 광전 소자를 제작한다.
[화학식 2d]
평가 4: 외부양자효율(
EQE
)
실시예 1 내지 6에 따른 유기 광전 소자의 파장 및 전압에 따른 외부양자효율(EQE)을 평가한다.
외부양자효율은 IPCE measurement system (McScience사, 한국) 설비를 이용하여 측정한다. 먼저, Si 광 다이오드 (Hamamatsu사, 일본)를 이용하여 설비를 보정(calibration)한 후 실시예 1 내지 6에 따른 유기 광전 소자를 설비에 장착하고 파장범위 약 350 내지 750nm 영역에서 외부양자효율을 측정한다.
도 6 내지 도 11은 각각 실시예 1 내지 6에 따른 유기 광전 소자의 파장 및 전압에 따른 외부양자효율(EQE)을 보여주는 그래프이다.
도 6 내지 도 11을 참고하면, 약 500nm 내지 600nm의 녹색 파장 영역에서 외부양자효율(EQE)이 양호한 것을 확인할 수 있다.
평가 5: 열 안정성
실시예 4 및 5에 따른 유기 광전 소자의 열 안정성을 평가한다.
열 안정성은 실시예 4 및 5에 따른 유기 광전 소자를 120℃에서 30분간 방치한 후 전류밀도(current density)의 변화로부터 평가한다.
도 12는 실시예 4에 따른 유기 광전 소자를 120℃에서 30분간 방치한 후 전류밀도의 변화를 보여주는 그래프이고, 도 13은 실시예 5에 따른 유기 광전 소자를 120℃에서 30분간 방치한 후 전류밀도의 변화를 보여주는 그래프이다.
도 12 및 도 13을 참고하면, 실시예 4 및 5에 따른 유기 광전 소자는 120℃에서 30분간 방치한 후 암전류가 감소하는 현상을 보이며, 이로부터 소자의 특성이 안정화되는 것을 확인할 수 있다. 이에 따라 실시예 4 및 5에 따른 유기 광전 소자는 고온에서 방치한 후에도 성능이 저하되지 않고 열 안정성이 높음을 확인할 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예들에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구 범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리 범위에 속하는 것이다.
10: 제1 전극 20: 제2 전극
30: 활성층 40, 50: 전하 보조층
100: 유기 광전 소자
300: 유기 CMOS 이미지 센서
30: 활성층 40, 50: 전하 보조층
100: 유기 광전 소자
300: 유기 CMOS 이미지 센서
Claims (19)
- 제1항에서,
상기 화합물은 500nm 내지 600nm에서 최대 흡수 파장(λmax)을 가지는 화합물.
- 제1항에서,
상기 화합물은 박막 상태에서 50nm 내지 150nm의 반치폭 (full width at half maximum, FWHM)을 가지는 흡광 곡선을 나타내는 화합물.
- 제1항에서,
상기 화합물은 4.3 내지 7.0eV의 HOMO 레벨 및 1.9 내지 3.1eV의 에너지 밴드갭을 가지는 화합물.
- 삭제
- 삭제
- 서로 마주하는 제1 전극과 제2 전극, 그리고
상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 위치하고 하기 화학식 1로 표현되는 화합물을 포함하는 활성층
을 포함하고,
상기 활성층은 500nm 내지 600nm에서 최대 흡수 파장(λmax) 및 50nm 내지 150nm의 반치폭을 가진 흡광 곡선을 나타내는
유기 광전 소자:
[화학식 1]
상기 화학식 1에서,
R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 아실기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
R2 내지 R7은 각각 독립적으로 존재하거나 인접한 두 개가 결합하여 융합고리를 형성하고, 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 아실기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 카르보닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴아민기, 아민기, 할로겐기, 히드록시기, 시아노기, 시아노비닐기, 디시아노비닐기 또는 이들의 조합이고,
X1 및 X2는 각각 독립적으로 할로겐 기, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이고,
여기서 치환은 적어도 하나의 수소가 할로겐 원자, 히드록시기, 알콕시기, 니트로기, 시아노기, 아미노기, 아지도기, 아미디노기, 히드라지노기, 히드라조노기, 카르보닐기, 카르바밀기, 티올기, 에스테르기, 카르복실기, 술폰산기, 인산기, C1 내지 C20 알킬기, C2 내지 C20 알케닐기, C2 내지 C20 알키닐기, C6 내지 C30 아릴기, C7 내지 C30 아릴알킬기, C1 내지 C4 알콕시기, C1 내지 C20 헤테로알킬기, C3 내지 C20 헤테로아릴알킬기, C3 내지 C30 사이클로알킬기, C3 내지 C15 사이클로알케닐기, C6 내지 C15 사이클로알키닐기, C2 내지 C20 헤테로사이클로알킬기 또는 이들의 조합으로 치환된 것을 의미한다.
- 삭제
- 삭제
- 제7항에서,
상기 화합물은 4.3 내지 7.0eV의 HOMO 레벨 및 1.9 내지 3.1eV의 에너지 밴드갭을 가지는 유기 광전 소자.
- 제7항에서,
X1 및 X2는 각각 불소이고,
R1은 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 시아노기 또는 이들의 조합인
유기 광전 소자.
- 제7항에서,
상기 활성층은 p형 반도체 화합물 또는 n형 반도체 화합물을 더 포함하는 유기 광전 소자.
- 제13항에서,
상기 p형 반도체 화합물은 하기 화학식 2로 표현되는 화합물 및 하기 화학식 3으로 표현되는 화합물 중 적어도 하나를 포함하는 유기 광전 소자:
[화학식 2]
상기 화학식 2에서,
R8 내지 R19는 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알콕시기, 할로겐 원자 또는 이들의 조합이고,
여기서 치환은 적어도 하나의 수소가 할로겐 원자, 히드록시기, 알콕시기, 니트로기, 시아노기, 아미노기, 아지도기, 아미디노기, 히드라지노기, 히드라조노기, 카르보닐기, 카르바밀기, 티올기, 에스테르기, 카르복실기, 술폰산기, 인산기, C1 내지 C20 알킬기, C2 내지 C20 알케닐기, C2 내지 C20 알키닐기, C6 내지 C30 아릴기, C7 내지 C30 아릴알킬기, C1 내지 C4 알콕시기, C1 내지 C20 헤테로알킬기, C3 내지 C20 헤테로아릴알킬기, C3 내지 C30 사이클로알킬기, C3 내지 C15 사이클로알케닐기, C6 내지 C15 사이클로알키닐기, C2 내지 C20 헤테로사이클로알킬기 또는 이들의 조합으로 치환된 것을 의미하고,
[화학식 3]
상기 화학식 3에서,
R20 내지 R31은 각각 독립적으로 수소, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 헤테로아릴기, 할로겐 원자, 할로겐 함유기 또는 이들의 조합이고,
X는 음이온이고,
여기서 치환은 적어도 하나의 수소가 할로겐 원자, 히드록시기, 알콕시기, 니트로기, 시아노기, 아미노기, 아지도기, 아미디노기, 히드라지노기, 히드라조노기, 카르보닐기, 카르바밀기, 티올기, 에스테르기, 카르복실기, 술폰산기, 인산기, C1 내지 C20 알킬기, C2 내지 C20 알케닐기, C2 내지 C20 알키닐기, C6 내지 C30 아릴기, C7 내지 C30 아릴알킬기, C1 내지 C4 알콕시기, C1 내지 C20 헤테로알킬기, C3 내지 C20 헤테로아릴알킬기, C3 내지 C30 사이클로알킬기, C3 내지 C15 사이클로알케닐기, C6 내지 C15 사이클로알키닐기, C2 내지 C20 헤테로사이클로알킬기 또는 이들의 조합으로 치환된 것을 의미한다.
- 제7항에서,
상기 활성층은 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 유기 광전 소자.
- 제7항에서,
상기 활성층은 상기 화학식 1로 표현되는 화합물을 포함하는 진성층을 포함하는 유기 광전 소자.
- 제16항에서,
상기 활성층은 상기 진성층의 일면에 위치하는 p형 층과 상기 진성층의 다른 일면에 위치하는 n형 층 중 적어도 하나를 더 포함하는 유기 광전 소자.
- 제7항 및 제10항 내지 제17항 중 어느 한 항에 따른 유기 광전 소자를 포함하는 이미지 센서.
- 제18항에서,
청색 파장 영역의 광을 감지하는 복수의 제1 광 감지 소자 및 적색 파장 영역의 광을 감지하는 복수의 제2 광 감지 소자가 집적되어 있는 반도체 기판,
상기 반도체 기판의 상부에 위치하고 청색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 청색 필터와 적색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 적색 필터를 포함하는 색 필터 층, 그리고
상기 색 필터 층의 상부에 위치하고 녹색 파장 영역의 광을 선택적으로 흡수하는 상기 유기 광전 소자
를 포함하는 이미지 센서.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140046266A KR102204111B1 (ko) | 2014-04-17 | 2014-04-17 | 화합물, 유기 광전 소자 및 이미지 센서 |
US14/491,276 US9884877B2 (en) | 2014-04-17 | 2014-09-19 | Compound and organic photoelectronic device and image sensor |
US15/850,317 US10457694B2 (en) | 2014-04-17 | 2017-12-21 | Compound and organic photoelectronic device and image sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140046266A KR102204111B1 (ko) | 2014-04-17 | 2014-04-17 | 화합물, 유기 광전 소자 및 이미지 센서 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150120243A KR20150120243A (ko) | 2015-10-27 |
KR102204111B1 true KR102204111B1 (ko) | 2021-01-15 |
Family
ID=54322718
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140046266A KR102204111B1 (ko) | 2014-04-17 | 2014-04-17 | 화합물, 유기 광전 소자 및 이미지 센서 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9884877B2 (ko) |
KR (1) | KR102204111B1 (ko) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109563405B (zh) * | 2016-07-29 | 2022-06-17 | 株式会社Lg化学 | 含氮环状化合物、包含其的色彩转换膜以及包含其的背光单元和显示装置 |
JP7224158B2 (ja) * | 2018-11-30 | 2023-02-17 | 住友化学株式会社 | 光電変換素子 |
CN111773394A (zh) * | 2019-04-04 | 2020-10-16 | 复旦大学 | 一种β-半乳糖苷酶荧光探针纳米微球及其制备方法和用途 |
TW202109907A (zh) * | 2019-07-30 | 2021-03-01 | 日商索尼股份有限公司 | 攝像元件及攝像裝置 |
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EP4214772A1 (en) | 2020-09-18 | 2023-07-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic electroluminescent device |
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CN102272971B (zh) | 2009-01-23 | 2015-05-27 | 东丽株式会社 | 发光元件材料和发光元件 |
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KR101960468B1 (ko) | 2012-10-08 | 2019-03-21 | 삼성전자주식회사 | 유기 광전 소자 및 이미지 센서 |
KR102000719B1 (ko) | 2012-10-25 | 2019-07-19 | 삼성전자주식회사 | 유기 광전 소자 및 이미지 센서 |
-
2014
- 2014-04-17 KR KR1020140046266A patent/KR102204111B1/ko active IP Right Grant
- 2014-09-19 US US14/491,276 patent/US9884877B2/en active Active
-
2017
- 2017-12-21 US US15/850,317 patent/US10457694B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9884877B2 (en) | 2018-02-06 |
KR20150120243A (ko) | 2015-10-27 |
US10457694B2 (en) | 2019-10-29 |
US20150303378A1 (en) | 2015-10-22 |
US20180111952A1 (en) | 2018-04-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
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