KR102132444B1 - Fabricating method of organic light emitting diode display device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법에 따르면, 종래 3마스크 공정에서 1회의 마스크 공정을 절감시킬 수 있는 이점이 있다.
이를 통해 공정을 단순화하고, 공정 효율을 향상시키며, 공정 비용을 절감시킴으로써 전체 유기발광다이오드 표시장치의 제조비용을 절감할 수 있게 된다.
The present invention relates to a method of manufacturing an organic light emitting diode display device.
According to the manufacturing method of the organic light emitting diode display device according to the present invention, there is an advantage that it is possible to reduce one mask process in the conventional three mask process.
This simplifies the process, improves the process efficiency, and reduces the process cost, thereby reducing the manufacturing cost of the entire organic light emitting diode display device.

Description

유기발광다이오드 표시장치의 제조방법{FABRICATING METHOD OF ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY DEVICE}Manufacturing method of organic light emitting diode display device {FABRICATING METHOD OF ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY DEVICE}

본 발명은 공정을 단순화할 수 있는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a method of manufacturing an organic light emitting diode display device that can simplify a process.

최근 정보화 시대에 발맞추어 디스플레이(display) 분야 또한 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응해서 박형화, 경량화, 저소비전력화 장점을 지닌 평판표시장치(flat panel display device : FPD)로서 액정표시장치(liquid crystal display device : LCD), 플라즈마표시장치(plasma display panel device : PDP), 전기발광표시장치(electroluminescence display device : ELD), 전계방출표시장치(field emission display device : FED) 및 유기발광다이오드(organic light emitting diode:OLED) 표시장치 등이 개발되어 사용되고 있다. In accordance with the recent information age, the display field has also developed rapidly, and in response, a liquid crystal display device (FPD) as a flat panel display device (FPD) having advantages of thinning, lightening, and low power consumption. LCD), plasma display panel device (PDP), electroluminescence display device (ELD), field emission display device (FED) and organic light emitting diode (OLED) ) Display devices have been developed and used.

이중에서도 유기발광다이오드 표시장치는 자발광소자를 이용함으로써 별도의 광원인 백라이트 유닛을 필요로 하는 액정표시장치에 비해 제조공정이 단순하며, 경량 박형의 구현이 가능한 이점을 가지며 널리 이용되고 있는 추세에 있다.Among them, the organic light emitting diode display device has a simple manufacturing process and a lighter and thinner advantage compared to a liquid crystal display device that requires a separate light source by using a self-luminous element, and is widely used. have.

또한, 유기발광다이오드 표시장치는 액정표시장치에 비해 시야각 및 명암 대비비가 비교적 우수하며 응답속도가 빠르고, 낮은 소비전력을 소모하며 직류 저전압 구동이 가능하므로 구동회로의 제작 및 설계가 용이한 이점을 가진다. 그리고, 내부 구성요소가 고체이기 때문에 외부충격에 강하고, 사용 온도범위도 넓은 장점을 가지며 보다 활발한 연구가 진행되고 있다.In addition, the organic light emitting diode display device has a relatively excellent viewing angle and contrast ratio compared to a liquid crystal display device, has a high response speed, low power consumption, and DC low voltage driving, so it is easy to manufacture and design a driving circuit. . And, since the internal components are solid, they are resistant to external shocks, and have a wide range of temperature ranges, and more active research is being conducted.

이와 같은 유기발광다이오드 표시장치는 박막트랜지스터와 유기발광다이오드가 형성된 제1기판과 인캡슐레이션을 위한 제2기판이 서로 대면 합착되어 이루어진 표시패널을 포함한다. Such an organic light emitting diode display device includes a display panel formed by bonding a thin film transistor and a first substrate on which an organic light emitting diode is formed and a second substrate for encapsulation facing each other.

이에 따라, 유기발광다이오드 표시장치는 제1전극과 제2전극에 전압이 인가되면 제1전극과 제2전극으로부터 각각 주입된 전자와 정공이 유기발광층 내부에서 결합하여 엑시톤(exciton)을 생성하며, 생성된 엑시톤이 여기상태로부터 기저상태로 떨어지면서 발광하는 원리를 이용한다. Accordingly, in the organic light emitting diode display, when voltage is applied to the first electrode and the second electrode, electrons and holes injected from the first electrode and the second electrode are combined inside the organic light emitting layer to generate excitons. The generated exciton falls from the excited state to the ground state and uses the principle of emitting light.

한편, 유기발광다이오드는 적색, 녹색 및 청색의 발광물질이 서로 다른 특성을 가지며 발광 효율에 차이가 있기 때문에 서로 다른 두께로 형성함으로써 광효율을 향상시키는 마이크로 캐비티(micro cavity) 효과를 구현한다. On the other hand, organic light-emitting diodes have different characteristics because red, green, and blue light-emitting materials have different characteristics, and thus form micro-cavities that improve light efficiency by forming different thicknesses.

이를 위해, 각 화소영역별로 형성되는 제1전극의 두께를 달리하는 방법을 사용하기도 한다. To this end, a method of varying the thickness of the first electrode formed for each pixel area is used.

그러나, 적색, 녹색 및 청색 각각의 화소영역에 제1전극을 서로 다른 두께로 형성하기 위해서는 적어도 3번의 마스크 공정이 필요한 문제점이 있다.
However, there is a problem in that at least three mask processes are required to form the first electrodes in different thicknesses of the red, green, and blue pixel regions.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 마스크 공정을 줄일 수 있는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법을 제공하는데 있다.
An object of the present invention to solve the above problems is to provide a method of manufacturing an organic light emitting diode display device that can reduce the mask process.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법은, 기판 상의 제1 내지 제3화소영역에 각각 박막트랜지스터를 형성하는 단계와; 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극을 노출시키는 드레인 콘택홀을 포함하는 보호층을 형성하는 단계와; 상기 보호층의 상부로 제1물질층 내지 제5물질층을 순차적으로 형성하는 단계와; 상기 제5물질층의 상부에 마스크를 적용하여 상기 제1화소영역에 제1두께를 가지는 제1포토레지스트 패턴을 형성하고, 상기 제2화소영역에 상기 제1두께보다 얇은 제2두께를 가지는 제2포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와; 상기 제1포토레지스트 패턴과 상기 제2포토레지스트 패턴을 이용하여 상기 제1화소영역에 제5층 내지 제2층의 사층 구조를 형성하고, 상기 제2화소영역에 제3층 및 제2층의 이층 구조를 형성하는 단계와; 상기 사층 구조와 이층 구조가 형성된 기판 상에 마스크를 적용하여 제1 내지 제3화소영역에 각각 제3포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와; 상기 제3포토레지스트 패턴을 이용하여 상기 제1화소영역에 제5층 내지 제1층의 오층 구조, 상기 제2화소영역에 제3층 내지 제1층의 삼층 구조, 상기 제3화소영역에 제1층의 일층 구조를 가지는 제1전극을 형성하는 단계와; 상기 제1전극의 상부로 유기발광층과 제2전극을 순차적으로 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제5 및 제3 및 제1물질층은 서로 동일한 물질이며, 상기 제4 및 제2물질층은 서로 동일한 물질인 것을 특징으로 한다.A method of manufacturing an organic light emitting diode display device according to an exemplary embodiment of the present invention for achieving the above object includes forming thin film transistors in first to third pixel regions on a substrate, respectively; Forming a protective layer including a drain contact hole exposing the drain electrode of the thin film transistor; Sequentially forming a first material layer to a fifth material layer on top of the protective layer; A first photoresist pattern having a first thickness in the first pixel region by applying a mask on the fifth material layer, and a second thickness having a second thickness thinner than the first thickness in the second pixel region 2 forming a photoresist pattern; The first photoresist pattern and the second photoresist pattern are used to form a fourth to second layer four-layer structure in the first pixel region, and a third and second layer in the second pixel region. Forming a two-layer structure; Forming a third photoresist pattern in each of the first to third pixel areas by applying a mask on the substrate having the four-layer structure and the two-layer structure; Using the third photoresist pattern, a fifth layer to a fifth layer structure in the first pixel region, a third layer to a third layer structure in the second pixel region, and a third layer to the third pixel region Forming a first electrode having a one-layer structure of one layer; And sequentially forming an organic light emitting layer and a second electrode on top of the first electrode, wherein the fifth and third and first material layers are the same material, and the fourth and second material layers are It is characterized by the same material.

상기 제5 및 제3 및 제1물질층은 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)이고, 상기 제4 및 제2물질층은 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi), 구리(Cu), 알루미늄합금(AlNd) 및 APC(Ag-Pd-Cu)합금 중 하나인 것을 특징으로 한다.The fifth and third and first material layers are indium-tin-oxide (ITO) or indium-zinc-oxide (IZO), and the fourth and second material layers are molybdenum (Mo) and molity titanium (MoTi). , Copper (Cu), aluminum alloy (AlNd), and APC (Ag-Pd-Cu).

상기 제1화소영역에 제5층 내지 제2층의 사층 구조를 형성하고, 상기 제2화소영역에 제3층 및 제2층의 이층 구조를 형성하는 단계는, 상기 제5물질층과 상기 제4물질층에 대해 제1식각공정과 제1애싱공정을 진행함으로써 상기 제1포토레지스트 패턴의 일부 두께가 제거되며 상기 제1화소영역에 제5층 및 제4층이 형성되고, 상기 제2포토레지스트 패턴이 제거되며 상기 제2화소영역에 제5층 및 제4층이 형성되는 단계와, 상기 제3물질층과 상기 제2물질층에 대해 제2식각공정과 제2애싱공정을 진행함으로써 나머지 상기 제1포토레지스트 패턴이 제거되며 상기 제1화소영역에 제5층 내지 제2층이 형성되고, 상기 제2화소영역에 제3층 및 제2층이 형성되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. The step of forming a four-layer structure of a fifth layer to a second layer in the first pixel region and forming a two-layer structure of a third layer and a second layer in the second pixel region may include the fifth material layer and the second layer. By performing a first etching process and a first ashing process on the four material layers, a part of the thickness of the first photoresist pattern is removed, and a fifth layer and a fourth layer are formed in the first pixel region, and the second photo The resist pattern is removed and the fifth and fourth layers are formed in the second pixel region, and the second etching process and the second ashing process are performed on the third material layer and the second material layer. And removing the first photoresist pattern, forming a fifth layer to a second layer in the first pixel region, and forming a third layer and a second layer in the second pixel region. .

상기 제1식각공정을 진행하기 전에 상기 제5물질층 표면을 결정화시키는 단계를 더 포함하고, 상기 제2식각공정을 진행하기 전에 상기 제3물질층 표면을 결정화시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The method further comprises crystallizing the surface of the fifth material layer before proceeding with the first etching process, and further crystallizing the surface of the third material layer before proceeding with the second etching process. do.

상기 제2 및 제4물질층은 상기 제1, 제3 및 제5물질층보다 식각 속도가 높은 것을 특징으로 한다.The second and fourth material layers are characterized by having higher etch rates than the first, third and fifth material layers.

상기 제1식각공정은, 상기 제5물질층을 식각하기 위한 제1식각액을 이용하여 노출된 상기 제5물질층을 식각하는 단계와, 상기 제4물질층을 식각하기 위한 제2식각액을 이용하여 노출된 상기 제4물질층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. The first etching process may include etching the exposed fifth material layer using a first etchant for etching the fifth material layer, and using a second etchant for etching the fourth material layer. And etching the exposed fourth material layer.

상기 제1층의 하부로 반사층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.And forming a reflective layer below the first layer.

상기 제1전극의 상부로 뱅크물질층을 형성하는 단계와, 상기 뱅크물질층의 상부로 멀티톤마스크를 적용하여 마스크공정을 진행함으로써 상기 제1 내지 제3화소영역에 각각 형성된 상기 제1전극을 노출시키고, 상기 제1 내지 제3화소영역 각각의 경계에 뱅크를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Forming a bank material layer on top of the first electrode, and applying a multi-tone mask on top of the bank material layer to perform a masking process, thereby forming the first electrodes formed on the first to third pixel regions, respectively. And exposing and forming banks at each boundary of the first to third pixel areas.

본 발명에 따른 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법에 따르면, 종래 3회의 마스크 공정에서 1회의 마스크 공정을 절감시킬 수 있는 이점이 있다. According to the manufacturing method of the organic light emitting diode display device according to the present invention, there is an advantage of reducing the masking process once in the conventional three masking processes.

특히, 한번에 다수의 물질층을 형성한 후, 마스크 공정과 식각공정을 진행하여 화소영역 별로 서로 다른 두께를 가지는 전극을 형성함으로써 공정이 단순화되며, 공정 효율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다. Particularly, after forming a plurality of material layers at a time, the process is simplified by forming an electrode having a different thickness for each pixel area by performing a mask process and an etching process, thereby improving the process efficiency.

이는 나아가 공정비용을 절감시키며, 전체 유기발광다이오드 표시장치의 제조비용을 절감시키는 이점이 있다.
This further reduces the process cost and has the advantage of reducing the manufacturing cost of the entire organic light emitting diode display device.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치를 개략적으로 도시한 단면도.
도 2a 내지 도 2k는 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치의 제조공정을 도시한 단면도.
1 is a cross-sectional view schematically showing an organic light emitting diode display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
2A to 2K are cross-sectional views showing a manufacturing process of an organic light emitting diode display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치를 개략적으로 도시한 단면도이다. 1 is a cross-sectional view schematically showing an organic light emitting diode display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 유기발광다이오드 표시장치(100)는 구동 박막트랜지스터(DTr), 스위칭 박막트랜지스터(미도시) 및 유기발광다이오드(E)가 형성된 기판(110)을 포함한다. As illustrated in FIG. 1, the organic light emitting diode display device 100 includes a substrate 110 on which a driving thin film transistor DTr, a switching thin film transistor (not shown), and an organic light emitting diode E are formed.

여기서, 기판(110)은 유리기판 또는 얇은 플렉서블(flexibility) 기판일 수 있다. 상기 플렉서블(flexibility) 기판은 폴리 에테르 술폰(Polyethersulfone :PES), 폴리 에틸렌 나프탈레이트(polyethylenenaphthalate : PEN), 폴리 에틸렌 테레프탈레이트(polyethylene terephthalate : PET), 폴리 카보네이트(polycarbonate : PC) 및 폴리 이미드(polyimide : PI) 중 어느 하나로 이루어질 수 있다.Here, the substrate 110 may be a glass substrate or a thin flexible substrate. The flexible substrate includes polyethersulfone (PES), polyethylenenaphthalate (PEN), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), and polyimide : PI).

제1기판(110) 상에는 반도체층(113)이 형성되는데, 반도체층(113)은 구동영역에 대응하여 실리콘으로 이루어진다. A semiconductor layer 113 is formed on the first substrate 110, and the semiconductor layer 113 is made of silicon corresponding to the driving region.

상기 반도체층(113)은 그 중앙에 위치되며 채널을 이루는 제1영역(113a)과, 그리고 상기 제1영역(113a) 양측으로 고농도의 불순물이 도핑된 제2영역(113b)을 포함한다. The semiconductor layer 113 includes a first region 113a constituting a channel and forming a channel, and a second region 113b doped with a high concentration of impurities on both sides of the first region 113a.

한편 도면에 도시하지는 않았지만, 반도체층(113)과 제1기판(110) 사이에는 무기절연물질, 예를들면 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)으로 이루어진 버퍼층이 형성될 수도 있다. 상기 버퍼층(미도시)은, 상기 기판(110)이 유리기판일 경우에 형성되는 것으로, 반도체층(113)의 결정화시 유리기판의 내부로부터 나오는 알카리 이온의 방출에 의한 반도체층(113)의 특성 저하를 방지하는 역할을 한다. Meanwhile, although not shown in the drawing, a buffer layer made of an inorganic insulating material, for example, silicon oxide (SiO 2 ) or silicon nitride (SiNx) may be formed between the semiconductor layer 113 and the first substrate 110. The buffer layer (not shown) is formed when the substrate 110 is a glass substrate, and when the crystallization of the semiconductor layer 113 crystallizes the characteristics of the semiconductor layer 113 by the release of alkali ions from the inside of the glass substrate. It serves to prevent degradation.

또한, 버퍼층(미도시)의 하부에는 반도체층(113)을 보호하기 위해 빛을 차단하는 역할을 하는 차단층(light shield layer, 미도시)이 더 형성될 수 있다. 상기 차단층(미도시)은 본 발명에서와 같이 게이트 전극(120)이 반도체층(113)의 상부에 위치되는 탑 게이트 구조에 적용됨으로써 소자의 성능을 향상시킬 수 있다. In addition, a light shield layer (not shown) that serves to block light to protect the semiconductor layer 113 may be further formed under the buffer layer (not shown). The blocking layer (not shown) can improve the performance of the device by applying the gate electrode 120 to the top gate structure positioned on the semiconductor layer 113 as in the present invention.

이러한 반도체층(113)의 상부로는 게이트 절연막(116)이 형성된다. A gate insulating layer 116 is formed on the semiconductor layer 113.

그리고 게이트 절연막(116)이 형성된 기판(110) 상부로는 반도체층(113)의 제1영역(113a)에 대응하여 게이트 전극(120)이 형성된다. Further, a gate electrode 120 is formed on the substrate 110 on which the gate insulating layer 116 is formed, corresponding to the first region 113a of the semiconductor layer 113.

그리고 게이트 전극(120)이 형성된 기판(110) 전면에 층간절연막(123)이 형성된다. In addition, an interlayer insulating film 123 is formed on the entire surface of the substrate 110 on which the gate electrode 120 is formed.

여기서, 층간절연막(123)과 하부의 게이트 절연막(116)에는 제1영역(113a)의 양측에 위치한 제2영역(113b)을 노출시키는 제1 및 제2반도체층 콘택홀(124, 125)이 구비된다. Here, the interlayer insulating layer 123 and the lower gate insulating layer 116 include first and second semiconductor layer contact holes 124 and 125 exposing the second regions 113b located on both sides of the first region 113a. It is provided.

이러한 층간절연막(123)의 상부로는 제1 및 제2반도체층 콘택홀(124, 125)을 통해 노출된 제2영역(113b)과 각각 접촉하는 소스 및 드레인 전극(133, 136)이 형성된다.Source and drain electrodes 133 and 136 respectively contacting the second regions 113b exposed through the first and second semiconductor layer contact holes 124 and 125 are formed above the interlayer insulating layer 123. .

여기서, 제1기판(110) 상에 형성된 반도체층(113)과, 게이트 절연막(116)과, 게이트 전극(120)과, 층간 절연막(123) 및 소스 및 드레인 전극(133, 136)은 구동 박막트랜지스터(DTr)를 이룬다. Here, the semiconductor layer 113 formed on the first substrate 110, the gate insulating film 116, the gate electrode 120, the interlayer insulating film 123, and the source and drain electrodes 133 and 136 are driving thin films. Transistor DTr.

한편 도면에 도시하지는 않았지만, 스위칭 박막트랜지스터(미도시) 또한 구동 박막트랜지스터(DTr)의 구성과 동일한 구성을 가진다. 상기 스위칭 박막트랜지스터(미도시)는 구동 박막트랜지스터(DTr)와 전기적으로 연결되며, 또한 각 화소영역(P1, P2, P3)을 구분하는 게이트 배선(미도시) 및 데이터 배선(미도시)과 연결되는데, 게이트 배선(미도시)은 스위칭 박막트랜지스터(미도시)의 게이트 전극과 연결되고, 데이터 배선(미도시)은 스위칭 박막트랜지스터(미도시)의 소스 전극(미도시)과 연결된다. 또한, 데이터 배선(미도시)과 나란하게 이격하며 형성되는 전원배선(미도시)이 더 포함되고, 구동 박막트랜지스터(DTr)의 게이트 전극은 스위칭 박막트랜지스터의 드레인 전극과 연결되고, 소스 전극은 전원배선(미도시)에 연결된다. On the other hand, although not shown in the drawing, the switching thin film transistor (not shown) also has the same configuration as that of the driving thin film transistor DTr. The switching thin film transistor (not shown) is electrically connected to the driving thin film transistor (DTr), and is also connected to a gate line (not shown) and a data line (not shown) that separates each of the pixel regions P1, P2, and P3. However, the gate wiring (not shown) is connected to the gate electrode of the switching thin film transistor (not shown), and the data wiring (not shown) is connected to the source electrode (not shown) of the switching thin film transistor (not shown). In addition, a power wiring (not shown) that is formed to be spaced apart from the data wiring (not shown) is further included, the gate electrode of the driving thin film transistor DTr is connected to the drain electrode of the switching thin film transistor, and the source electrode is a power source. It is connected to a wiring (not shown).

상기 소스 및 드레인 전극(133,136) 및 이들 사이로 노출된 층간절연막(123)의 상부로는 제1보호층(140)이 형성된다. 여기서, 제1보호층(140)은 무기물질로 이루어진 무기보호층과 유기물질로 이루어진 유기보호층의 다층 구조로 형성될 수 있다. A first protective layer 140 is formed on the source and drain electrodes 133 and 136 and the interlayer insulating layer 123 exposed between them. Here, the first protective layer 140 may be formed of a multilayer structure of an inorganic protective layer made of an inorganic material and an organic protective layer made of an organic material.

상기 제1보호층(140)에는 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인 전극(136)을 노출시키는 드레인 콘택홀(143)이 구비된다. A drain contact hole 143 exposing the drain electrode 136 of the driving thin film transistor DTr is provided in the first protective layer 140.

상기 제1보호층(140)의 상부에는 각 화소영역(P1, P2, P3) 별로 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인 전극(136)과 드레인 콘택홀(143)을 통해 접촉되며, 서로 다른 두께를 가지는 제1전극(150a, 150b, 150c)이 형성된다. The first protective layer 140 is contacted through the drain electrode 136 and the drain contact hole 143 of the driving thin film transistor DTr for each pixel region P1, P2, P3, and has different thicknesses. Branches are formed with first electrodes 150a, 150b, and 150c.

여기서, 적색(R)에 해당되는 제1화소영역(P1)에 형성된 제1전극(150a)은 제1층 내지 제6층(151, 152, 153, 154, 155, 156)으로 형성되고, 녹색(G)에 해당되는 제2화소영역(P2)에 형성된 제2전극(150b)은 제1층 내지 제4층(151, 152, 153, 154)으로 형성되며, 청색(B)에 해당되는 제3화소영역(P3)에 형성된 제3전극(150a)은 제1층 및 제2층(151, 152)으로 형성된다. 이와 같이 각 화소영역(P1, P2, P3)에 형성되는 제1전극(150a, 150b, 150c)이 서로 다른 두께로 형성됨으로써 본 발명에 따른 유기발광다이오드(E)가 광효율을 향상시키는 마이크로 캐비티 효과를 가지도록 한다. Here, the first electrode 150a formed in the first pixel region P1 corresponding to red (R) is formed of first to sixth layers 151, 152, 153, 154, 155, and 156, and green. The second electrode 150b formed in the second pixel region P2 corresponding to (G) is formed of the first to fourth layers 151, 152, 153, and 154, and the second electrode 150b corresponds to the blue (B). The third electrode 150a formed in the three pixel region P3 is formed of first and second layers 151 and 152. As described above, the first electrodes 150a, 150b, and 150c formed in each of the pixel regions P1, P2, and P3 are formed with different thicknesses, so that the organic light emitting diode E according to the present invention improves the light efficiency. To have.

상기 제1층(151)은 각 화소영역(P1, P2, P3)에 공통으로 형성되며 반사판의 역할을 수행하기 위한 것으로, 반사효율이 우수한 금속물질, 예를들면 알루미늄(Al) 또는 은(Ag)으로 이루어져 제1전극(150a, 150b, 150c)의 상부로 형성되는 유기 발광층(165a, 165b, 165c)으로부터 발광된 빛을 상부로 반사시켜 발광효율을 향상시킨다. The first layer 151 is commonly formed in each of the pixel areas P1, P2, and P3, and serves to serve as a reflector, and has a high reflective efficiency, for example, aluminum (Al) or silver (Ag). ) To improve the luminous efficiency by reflecting light emitted from the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c formed on top of the first electrodes 150a, 150b, and 150c.

제2층(152) 내지 제6층(156)은 애노드 전극의 역할을 수행하는 것으로, 제2층(152), 제4층(154) 및 제6층(156)은 일함수 값이 비교적 큰 투명 도전성 물질, 예를들면 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)로 이루어질 수 있다. The second layer 152 to the sixth layer 156 serves as an anode electrode, and the second layer 152, the fourth layer 154, and the sixth layer 156 have relatively large work function values. It may be made of a transparent conductive material, for example indium-tin-oxide (ITO) or indium-zinc-oxide (IZO).

이때, 제3층(153) 및 제5층(155)은 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi), 구리(Cu), 알루미늄합금(AlNd) 및 APC(Ag-Pd-Cu)합금 중 하나로 이루어질 수 있다. At this time, the third layer 153 and the fifth layer 155 are made of one of molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi), copper (Cu), aluminum alloy (AlNd), and APC (Ag-Pd-Cu) alloy Can.

상기 제3층 및 제5층(153, 155)은 식각공정에서 하부층의 물질(ITO 또는 IZO)이 함께 식각되지 않도록 하는 역할을 한다. 이에 대해서는 차후에 상세히 설명한다. The third and fifth layers 153 and 155 serve to prevent materials (ITO or IZO) of the lower layer from being etched together in the etching process. This will be described in detail later.

이러한 구조를 가지는 제1전극(150a, 150b, 150c)의 상부로 각 화소영역(P1, P2, P3)의 경계에는 각 화소영역(P1, P2, P3)을 둘러싸는 형태로 제1전극(150a, 150b, 150c)의 테두리와 중첩하도록 뱅크(bank, 162)가 형성된다.The first electrode 150a in a form surrounding each pixel region P1, P2, and P3 at the boundary of each pixel region P1, P2, and P3 above the first electrodes 150a, 150b, and 150c having such a structure. , 150b, 150c), the banks 162 are formed to overlap the borders.

상기 뱅크(162)는 투명한 유기절연물질 예를들면 폴리이미드(poly imide), 포토아크릴(Photo acryl), 벤조사이클로뷰텐(BCB) 중 어느 하나로 이루어질 수 있으며, 또는 블랙을 나타내는 물질 예를 들면 블랙수지로 이루어질 수 있다. The bank 162 may be made of any one of transparent organic insulating materials, for example, polyimide, photo acryl, and benzocyclobutene (BCB), or a material representing black, for example, black resin It can be made of.

제1전극(150a, 150b, 150c)의 상부로는 각각 적색, 녹색 및 청색의 유기발광층(165a, 165b, 165c)이 형성되는데, 이러한 유기발광층(165a, 165b, 165c)은 각 화소영역(P1, P2, P3)을 경계하는 뱅크(162)를 통해 구분될 수 있게 된다. Red, green, and blue organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c are formed on top of the first electrodes 150a, 150b, and 150c, respectively, and the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c each have a pixel region P1. , P2, P3).

상기 유기발광층(165a, 165b, 165c)은 단일층으로 구성될 수 있지만, 발광 효율을 높이기 위해 정공주입층(hole injection layer), 정공수송층(hole transporting layer), 발광물질층(emitting material layer), 전자수송층(electron transporting layer) 및 전자주입층(electron injection layer)의 다중층으로 구성될 수도 있다.The organic light emitting layer (165a, 165b, 165c) may be composed of a single layer, a hole injection layer (hole injection layer), hole transport layer (hole transporting layer), a light emitting material layer (emitting material layer), to increase the luminous efficiency It may be composed of multiple layers of an electron transporting layer and an electron injection layer.

이러한 유기발광층(165a, 165b, 165c)이 형성된 기판(110) 전면에는 제2전극(170)이 형성된다. The second electrode 170 is formed on the front surface of the substrate 110 on which the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c are formed.

상기 제2전극(170)은 캐소드(cathode) 전극 역할을 하도록 일함수 값이 비교적 낮은 금속물질, 일예로 알루미늄(Al), 구리(Cu), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo) 중 하나로 이루어질 수 있다.The second electrode 170 may be made of one of metal materials having a relatively low work function value, such as aluminum (Al), copper (Cu), tungsten (W), and molybdenum (Mo), so as to serve as a cathode electrode. have.

전술한 제1전극(150a, 150b, 150c)과 제2전극(170), 그리고 이들 사이에 형성된 유기발광층(165a, 165b, 165c)은 유기발광다이오드(E)를 이룬다.The first electrodes 150a, 150b, 150c, the second electrode 170, and the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c formed therebetween form an organic light emitting diode E.

이때, 유기발광다이오드(E)는 유기발광층(165a, 165b, 165c)에서 발광된 빛이 제2전극(170)을 통해 방출되는 상부 발광방식(top emission type)에 해당된다. In this case, the organic light emitting diode E corresponds to a top emission type in which light emitted from the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c is emitted through the second electrode 170.

한편 이에 한정되지 않고 유기발광층(165a, 165b, 165c)에서 발광된 빛이 제1전극(160a, 160b, 160c)을 통해 방출되는 하부 발광방식(bottom emission type)으로 구동되도록 구성할 수도 있다. 이 경우, 전술한 제1전극에서 반사판으로 작용하는 제1층은 포함되지 않게 된다. Meanwhile, the present invention is not limited thereto, and the light emitted from the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c may be configured to be driven by a bottom emission type emitted through the first electrodes 160a, 160b, and 160c. In this case, the first layer serving as a reflector in the above-described first electrode is not included.

다음으로 제2전극(170)이 형성된 기판(110) 전면에 유기발광다이오드(E)를 밀봉하기 위한 제2보호층(180)이 형성될 수 있다. Next, a second protective layer 180 for sealing the organic light emitting diode E may be formed on the entire surface of the substrate 110 on which the second electrode 170 is formed.

상기 제2보호층(180)은 대기중의 수분, 산소, 먼지 등과 같은 이물질이 유기발광다이오드(E)로 침투하지 않도록 유기발광다이오드(E)를 보호하는 역할을 함과 동시에 표면을 평탄화하는 역할을 한다. The second protective layer 180 serves to protect the organic light emitting diode (E) so that foreign substances such as moisture, oxygen, and dust in the atmosphere do not penetrate into the organic light emitting diode (E), and at the same time serves to flatten the surface. Do it.

이러한 제2보호층(180)은 무기절연물질 예를들면 산화실리콘(SiO2), 질화실리콘(SiNx) 또는 산화알루미늄(Al2O3)으로 이루어질 수 있다. The second protective layer 180 may be made of an inorganic insulating material, for example, silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (SiNx), or aluminum oxide (Al 2 O 3 ).

또는, 제2보호층(180)은 무기절연물질로 형성된 무기보호층과 유기절연물질로 형성된 유기보호층의 다층 구조로 이루어질 수도 있다. Alternatively, the second protective layer 180 may be formed of a multilayer structure of an inorganic protective layer formed of an inorganic insulating material and an organic protective layer formed of an organic insulating material.

한편 도면에 나타내지는 않았지만, 제2보호층(180)의 상부에는 각 화소영역(P1, P2, P3)의 주변에 대응하여 형성된 블랙매트릭스와, 각 화소영역(P1, P2, P3)에 대응하여 형성된 컬러필터 패턴이 포함될 수 있다. On the other hand, although not shown in the drawing, a black matrix formed corresponding to the periphery of each of the pixel regions P1, P2, and P3 is disposed above the second protective layer 180 and corresponding to each of the pixel regions P1, P2, and P3. The formed color filter pattern may be included.

이때, 적색을 발광하는 유기 발광층(165a)이 형성된 화소영역(P1)에는 적색 컬러필터 패턴이 형성될 수 있고, 녹색을 발광하는 유기 발광층(165b)이 형성된 화소영역(P2)에는 녹색 컬러필터 패턴이 형성될 수 있으며, 청색을 발광하는 유기 발광층(165c)이 형성된 화소영역(P3)에는 청색 컬러필터 패턴이 형성될 수 있다.
At this time, a red color filter pattern may be formed in the pixel region P1 on which the organic emission layer 165a emitting red light is formed, and a green color filter pattern may be formed on the pixel region P2 on which the organic emission layer 165b emitting green light is formed. A blue color filter pattern may be formed in the pixel region P3 on which the organic light emitting layer 165c emitting blue light is formed.

도 2a 내지 도 2k는 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시장치의 제조공정을 도시한 단면도로, 도 1을 참조한다. 2A to 2K are cross-sectional views illustrating a manufacturing process of an organic light emitting diode display device according to an exemplary embodiment of the present invention, and refer to FIG. 1.

우선 도 2a에 도시된 바와 같이, 기판(110) 상에 구동 박막트랜지스터(DTr)와 이의 상부로 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인 전극(136)을 노출시키는 드레인 콘택홀(143)을 포함하는 제1보호층(140)을 형성한다. First, as shown in FIG. 2A, the first thin film transistor DTr on the substrate 110 and a drain contact hole 143 exposing the drain electrode 136 of the driving thin film transistor DTr to an upper portion thereof are formed. 1, a protective layer 140 is formed.

이를 보다 상세히 설명하면, 기판(110) 상에 비정질실리콘을 증착하고, 포토레지스트를 도포한 후, 마스크를 통한 노광을 진행한다. 그리고 노광된 포토레지스트를 현상하고, 현상 후 남아 있는 포토레지스트의 외부로 노출된 비정질실리콘층을 식각하는 마스크 공정을 통한 패터닝함으로써 반도체층(113)을 형성한다.In more detail, after depositing amorphous silicon on the substrate 110, and applying a photoresist, exposure through a mask is performed. The semiconductor layer 113 is formed by developing the exposed photoresist and patterning it through a mask process to etch the amorphous silicon layer exposed to the outside of the photoresist remaining after development.

이때, 반도체층(113)의 탈수소 과정을 거쳐 열처리를 통해 폴리실리콘으로 결정하는 공정이 더 포함될 수 있다. In this case, a process of determining polysilicon through heat treatment through a dehydrogenation process of the semiconductor layer 113 may be further included.

다음, 반도체층(113)이 형성된 기판(110) 상에 질화실리콘(SiNx) 또는 산화실리콘(SiO₂)과 같은 절연물질을 증착하여 게이트 절연막(116)을 형성한다. Next, a gate insulating layer 116 is formed by depositing an insulating material such as silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiO2) on the substrate 110 on which the semiconductor layer 113 is formed.

그리고, 게이트 절연막(116)의 상부에 제1금속층(미도시)을 증착하고, 마스크 공정을 진행하여 반도체층(113)의 제1영역(도 1의 113a) 상부로 게이트 전극(120)을 형성한다. Then, a first metal layer (not shown) is deposited on the gate insulating layer 116 and a mask process is performed to form the gate electrode 120 over the first region (113a of FIG. 1) of the semiconductor layer 113. do.

여기서, 제1금속층은 알루미늄(Al), 구리(Cu), 금(Au), 은(Ag), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 탄탈(Ta) 및 몰리브덴(Mo) 중에서 선택되는 하나 또는 둘 이상의 물질을 증착하여 단일층 또는 이중층 이상의 다층구조로 형성할 수 있다. 또는 알루미늄(Al), 구리(Cu), 금(Au), 은(Ag), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 탄탈(Ta) 및 몰리브덴(Mo) 중 하나에 칼슘(Ca), Mg(마그네슘), 아연(Zn), 티타늄(Ti), 몰리브덴(Mo), 니켈(Ni), 망간(Mn), 지르코늄(Zr), 카드뮴(Cd), 금(Au), 은(Ag), 코발트(Co), 인(In), 탄탈(Ta), 하프늄(Hf), 텅스텐(W) 및 크롬(Cr) 중 하나 이상이 포함된 합금으로 이루어질 수도 있다.Here, the first metal layer is aluminum (Al), copper (Cu), gold (Au), silver (Ag), titanium (Ti), chromium (Cr), tungsten (W), tantalum (Ta) and molybdenum (Mo) One or two or more materials selected from the above may be deposited to form a single layer or a multi-layer structure of two or more layers. Or calcium in one of aluminum (Al), copper (Cu), gold (Au), silver (Ag), titanium (Ti), chromium (Cr), tungsten (W), tantalum (Ta), and molybdenum (Mo) Ca), Mg (magnesium), zinc (Zn), titanium (Ti), molybdenum (Mo), nickel (Ni), manganese (Mn), zirconium (Zr), cadmium (Cd), gold (Au), silver ( Ag), cobalt (Co), phosphorus (In), tantalum (Ta), hafnium (Hf), tungsten (W) and chromium (Cr).

다음, 게이트 전극(120)이 형성된 기판(110) 상에 적정 도즈량을 갖는 이온주입에 의해 n+ 또는 p+ 도핑을 실시한다. Next, n+ or p+ doping is performed by ion implantation having an appropriate dose on the substrate 110 on which the gate electrode 120 is formed.

이때, 반도체층(113)에 있어서 게이트 전극(120)에 의해 이온주입이 블록킹된 영역은 제1영역(113a)을 형성하고, 그 외의 이온주입된 영역은 제2영역(113b)을 형성함으로써 제1영역(113a)과 제2영역(113b)을 포함하는 반도체층(113)이 완성된다. At this time, in the semiconductor layer 113, the region where ion implantation is blocked by the gate electrode 120 forms the first region 113a, and the other ion implantation region forms the second region 113b. The semiconductor layer 113 including the first region 113a and the second region 113b is completed.

다음으로 게이트 전극(120)이 형성된 기판(110) 전면에 무기절연물질, 일예로 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)을 증착하고 마스크공정을 진행하여 패터닝을 진행함으로써 게이트 전극(120) 양측의 제2영역(113b)을 각각 노출시키는 제1, 제2반도체층 콘택홀(124, 125)을 구비하는 층간절연막(123)을 형성한다. Next, the gate electrode 120 is deposited by depositing an inorganic insulating material, for example, silicon oxide (SiO 2 ) or silicon nitride (SiNx) on the entire surface of the substrate 110 on which the gate electrode 120 is formed, and performing patterning by performing a mask process. An interlayer insulating film 123 having first and second semiconductor layer contact holes 124 and 125 exposing the second regions 113b on both sides is formed.

그리고, 층간절연막(123)이 형성된 기판(110) 전면에 제2금속층(미도시)을 증착하고 마스크공정을 진행하여 패터닝함으로써 제1, 2반도체층 콘택홀(124, 125)을 통해 제2영역(113b)과 각각 접촉하는 소스 및 드레인 전극(133, 136)을 형성한다. 이때 소스 및 드레인 전극(133, 136)은 게이트 전극(120)을 사이에 두고 서로 이격하게 위치된다. 또한, 상기 제2금속층(미도시)은 제1금속층(미도시)과 동일한 물질일 수 있다. Then, the second region through the first and second semiconductor layer contact holes 124 and 125 is deposited by depositing a second metal layer (not shown) on the front surface of the substrate 110 on which the interlayer insulating film 123 is formed and patterning it by performing a mask process. Source and drain electrodes 133 and 136 respectively contacting (113b) are formed. At this time, the source and drain electrodes 133 and 136 are spaced apart from each other with the gate electrode 120 interposed therebetween. In addition, the second metal layer (not shown) may be the same material as the first metal layer (not shown).

다음, 소스 및 드레인 전극(133, 136)이 형성된 기판(110) 전면에 질화실리콘(SiNx) 또는 산화실리콘(SiO₂)과 같은 무기절연물질을 이용하여 제1보호층(140)을 형성한다. Next, the first protective layer 140 is formed using an inorganic insulating material such as silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiO2) on the entire surface of the substrate 110 on which the source and drain electrodes 133 and 136 are formed.

이후 마스크 공정을 진행함으로써 제1보호층(140)에는 드레인 전극(136)을 노출하는 드레인 콘택홀(143)을 형성한다. Thereafter, by performing a mask process, a drain contact hole 143 exposing the drain electrode 136 is formed in the first protective layer 140.

다음, 도 2b에 도시된 바와 같이 제1보호층(140) 상부로 제1물질층 내지 제6물질층(151a, 152a, 153a, 154a, 155a, 156a)을 순차적으로 형성한다.Next, as illustrated in FIG. 2B, first to sixth material layers 151a, 152a, 153a, 154a, 155a, and 156a are sequentially formed on the first protective layer 140.

이를 보다 상세히 설명하면, 제1물질층(151a)은 반사효율이 우수한 금속물질, 예를들면 알루미늄(Al) 또는 은(Ag)으로 형성한다. In more detail, the first material layer 151a is formed of a metal material having excellent reflection efficiency, for example, aluminum (Al) or silver (Ag).

그리고, 제2물질층(152a)과 제4물질층(154a) 및 제6물질층(156a)은 일함수 값이 비교적 큰 투명 도전성 물질, 예를들면 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)로 형성한다. In addition, the second material layer 152a, the fourth material layer 154a, and the sixth material layer 156a are transparent conductive materials having relatively high work function values, such as indium-tin-oxide (ITO) or indium- It is formed of zinc oxide (IZO).

제3물질층(153a) 및 제5물질층(155a)은 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi), 구리(Cu), 알루미늄합금(AlNd) 및 APC(Ag-Pd-Cu)합금 중 하나로 형성하는데, SPT(spacer patterning technology) 또는 ALD(atomic layer deposition) 장치를 이용한 증착 공정을 통해 형성할 수 있다. The third material layer 153a and the fifth material layer 155a are formed of one of molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi), copper (Cu), aluminum alloy (AlNd), and APC (Ag-Pd-Cu) alloy. However, it may be formed through a deposition process using a spacer patterning technology (SPT) or an atomic layer deposition (ALD) device.

다음 도 2c에 도시된 바와 같이, 포토레지스트층(미도시)을 형성하고, 하프톤 마스크를 이용하여 현상 및 노광공정을 포함한 마스크 공정을 진행함으로써 제1화소영역(P1)에 대응하는 부분에 제1두께(H1)를 가지는 제1포토 레지스트패턴(PR11)을 형성하고, 제2화소영역(P2)에 대응하는 부분에 제1두께(H1)보다 얇은 제2두께(H2)를 가지는 제2포토 레지스트패턴(PR12)을 형성한다. Next, as shown in FIG. 2C, a photoresist layer (not shown) is formed, and a mask process including a development and exposure process is performed using a halftone mask to remove the portion corresponding to the first pixel region P1. A second photo having a second thickness H2 that is thinner than the first thickness H1 in a portion corresponding to the second pixel region P2 by forming a first photo resist pattern PR11 having a thickness H1 The resist pattern PR12 is formed.

이때, 하드베이크(hard bake) 공정을 진행할 수 있는데, 하드베이크 공정을 진행할 경우, 도면에 도시된 바와 같이 제1 및 제2포토 레지스트패턴(PR11, PR12)이 라운드 처리될 수 있다. 한편, 하드베이크 공정은 생략될 수 있다. At this time, a hard bake process may be performed. When the hard bake process is performed, first and second photo resist patterns PR11 and PR12 may be rounded as illustrated in the drawing. Meanwhile, the hard baking process may be omitted.

여기서, 하프톤 마스크는 빛의 차단영역과 투과영역 및 반투과영역을 가지며, 포토레지스트층은 노광된 부분이 남게 되는 네가티브형(negative type)을 사용할 수 있다. 이에 따라, 하프톤 마스크의 투과영역은 제1화소영역(P1)에 위치시키고, 반투과영역은 제2화소영역(P2)에 위치시키며, 차단영역은 제3화소영역(P3)에 위치시킨다. Here, the halftone mask has a light blocking region, a transmissive region, and a semi-transmissive region, and the photoresist layer may use a negative type in which an exposed portion remains. Accordingly, the transmissive area of the halftone mask is positioned in the first pixel area P1, the semi-transmissive area is located in the second pixel area P2, and the blocking area is located in the third pixel area P3.

다음 도 2d에 도시된 바와 같이, 제6물질층(156a)과 제5물질층(155a)에 대해 제1식각공정을 진행하여 제1화소영역(P1)과 제2화소영역(P2)에 각각 제6층(156)과 제5층(155)이 적층된 구조를 형성한다. Next, as shown in FIG. 2D, the first etching process is performed on the sixth material layer 156a and the fifth material layer 155a, respectively, to the first pixel area P1 and the second pixel area P2, respectively. A structure in which the sixth layer 156 and the fifth layer 155 are stacked is formed.

그리고, 제1애싱공정을 진행함으로써 제1포토 레지스트패턴(PR11)의 일부 두께가 제거(PR11')되고, 제2포토 레지스트패턴(PR12)은 제거된다. Then, a part of the thickness of the first photoresist pattern PR11 is removed (PR11') by the first ashing process, and the second photoresist pattern PR12 is removed.

여기서, 상기 제1식각공정에 사용되는 식각액은 제6물질층(156a)을 식각할 수 있는 물질과 제5물질층(155a)을 식각할 수 있는 물질이 혼합된 통합식각액일 수 있다. 이때 제5물질층(155a)의 식각 속도가 제6물질층(155a)보다 높도록 식각액을 구성한다. 이를 통해, 노출된 제6물질층이 식각되면서 하부의 제4물질층이 식각되지 전에 제5물질층이 식각될 수 있게 된다. 한편 통합식각액에는 제6물질층을 식각하기 위한 물질로, 일예로 Oxalic Acid(C2H2O4) 계열의 물질을 포함시킬 수 있다. Here, the etching solution used in the first etching process may be an integrated etching solution in which a material capable of etching the sixth material layer 156a and a material capable of etching the fifth material layer 155a are mixed. At this time, the etching solution is configured such that the etching rate of the fifth material layer 155a is higher than that of the sixth material layer 155a. Through this, the fifth material layer may be etched before the exposed fourth material layer is etched while the exposed sixth material layer is etched. Meanwhile, the integrated etching solution may include a material for etching the sixth material layer, for example, an Oxalic Acid (C2H2O4)-based material.

또는, 제1식각공정을 진행하기 전에 제6물질층(156a)의 표면을 결정화시킴으로써 제6물질층(156a)과 제5물질층(155a)을 함께 식각할 수도 있다. 이 경우, 통합식각액에는 결정화된 제6물질층(156a)을 식각하기 위한 물질로, 일예로 염산 및 초산(HCl + CH3COOH) 계열의 물질을 포함시킬 수 있다. Alternatively, the sixth material layer 156a and the fifth material layer 155a may be etched together by crystallizing the surface of the sixth material layer 156a before performing the first etching process. In this case, the integrated etching solution is a material for etching the crystallized sixth material layer 156a, and for example, hydrochloric acid and acetic acid (HCl + CH 3 COOH)-based material may be included.

또한, 제6물질층(156a)을 식각할 수 있는 제1식각액과 제5물질층(155a)을 식각할 수 있는 제2식각액을 각각 사용하여 제6물질층(156a)에 대해 식각공정을 진행한 후, 제5물질층(155a)에 대해 식각공정을 진행할 수도 있다. 이 경우, 제1식각액과 제2식각액은 서로 다른 물질로, 제1식각액에 대해 제5물질층은 반응하지 않으며 식각되지 않게 된다. In addition, the etching process is performed on the sixth material layer 156a using the first etchant capable of etching the sixth material layer 156a and the second etchant capable of etching the fifth material layer 155a, respectively. After that, an etch process may be performed on the fifth material layer 155a. In this case, the first etchant and the second etchant are different materials, and the fifth material layer does not react with the first etchant and is not etched.

다음 도 2e에 도시된 바와 같이, 제4물질층(154a)과 제3물질층(153a)에 대해 제2식각공정을 진행하여 제1화소영역(P1)에 제3층 내지 제6층(153, 154, 155, 156)이 적층된 구조를 형성하고, 제2화소영역(P2)에 제3층과 제4층(153, 154)이 적층된 구조를 형성한다. Next, as shown in FIG. 2E, the second etching process is performed on the fourth material layer 154a and the third material layer 153a to perform the third to sixth layer 153 in the first pixel region P1. , 154, 155, and 156 are stacked, and a third layer and a fourth layer 153, 154 are stacked in the second pixel area P2.

그리고 제2애싱공정을 진행함으로써 제1포토레지스트패턴(PR11')은 제거된다. The first photoresist pattern PR11' is removed by performing the second ashing process.

여기서, 제2식각공정에 사용되는 식각액은, 제1식각공정에서 마찬가지로 제4물질층을 식각할 수 있는 물질과 제3물질층을 식각할 수 있는 물질이 혼합된 통합식각액일 수 있다. 제6물질층과 제4물질층 및 제2물질층이 동일한 물질이고, 제5물질층과 제3물질층이 동일한 물질이므로, 도 2d 공정에서 설명한 바와 같이 식각을 진행할 수 있음은 자명하다. Here, the etching solution used in the second etching process may be an integrated etching solution in which a material capable of etching the fourth material layer and a material capable of etching the third material layer are similarly mixed in the first etching process. Since the sixth material layer, the fourth material layer, and the second material layer are the same material, and the fifth material layer and the third material layer are the same material, it is obvious that etching can be performed as described in FIG. 2D.

다음 도 2f에 도시된 바와 같이, 포토레지스트층(미도시)을 형성하고, 투과영역과 차단영역을 포함하는 마스크를 이용하여 마스크 공정을 진행함으로써 제1 내지 제3화소영역(P1, P2, P3)에 각각 대응하는 부분에 제3포토 레지스트패턴(PR21, PR22, PR23)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2F, the first to third pixel regions P1, P2, and P3 are formed by forming a photoresist layer (not shown) and performing a mask process using a mask including a transmissive region and a blocking region. ), third photoresist patterns PR21, PR22, and PR23 are formed at portions corresponding to each.

다음 도 2g에 도시된 바와 같이, 제2물질층(152a)에 대해 제3식각공정을 진행하여 제1화소영역(P1)에 제2층 내지 제6층(152, 153, 154, 155, 156)이 적층된 구조를 형성하고, 제2화소영역(P2)에 제2층 내지 제4층(152, 153, 154)이 적층된 구조를 형성하며, 제3화소영역(P3)에 제2층(152)을 형성한다. Next, as shown in FIG. 2G, a third etching process is performed on the second material layer 152a to form second to sixth layers 152, 153, 154, 155, and 156 in the first pixel region P1. ) To form a stacked structure, and to form a structure in which the second to fourth layers 152, 153, and 154 are stacked in the second pixel area P2, and a second layer to the third pixel area P3. (152).

그리고, 제3애싱공정을 진행함으로써 제3포토 레지스트패턴(PR21, PR22, PR23)의 일부 두께가 제거(PR21', PR22', PR23')된다. Then, by performing the third ashing process, some thicknesses of the third photoresist patterns PR21, PR22, and PR23 are removed (PR21', PR22', PR23').

다음 도 2h에 도시된 바와 같이, 제1물질층(151a)에 대해 제4식각공정을 진행하여 제1화소영역(P1)에 제1층 내지 제6층(151, 152, 153, 154, 155, 156)이 적층된 구조를 형성하고, 제2화소영역(P2)에 제1층 내지 제4층(151, 152, 153, 154)이 적층된 구조를 형성하며, 제3화소영역(P3)에 제1층 및 제2층(151, 152)이 적층된 구조를 형성한다. Next, as illustrated in FIG. 2H, a fourth etching process is performed on the first material layer 151a to form the first to sixth layers 151, 152, 153, 154, and 155 in the first pixel region P1. , 156) to form a stacked structure, and to form a structure in which the first to fourth layers 151, 152, 153, and 154 are stacked in the second pixel area P2, and the third pixel area P3. A first layer and a second layer (151, 152) to form a stacked structure.

그리고 제4애싱공정을 진행함으로써 제3포토 레지스트패턴((PR21', PR22', PR23')은 제거된다.And the third photoresist pattern (PR21', PR22', PR23') is removed by performing the fourth ashing process.

이와 같은 공정을 진행함으로써 각 화소영역(P1, P2, P3) 별로 드레인 콘택홀(143)을 통해 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인 전극(136)과 접촉하며, 서로 다른 두께를 가지는 제1전극(150a, 150b, 150c)이 형성될 수 있게 된다. 이를 통해, 본 발명에 따른 유기발광다이오드 표시장치(100)는 광효율을 향상시키는 마이크로 캐비티(micro cavity) 효과를 구현할 수 있게 된다.By performing such a process, the first electrode having a different thickness is contacted with the drain electrode 136 of the driving thin film transistor DTr through the drain contact hole 143 for each pixel region P1, P2, P3. 150a, 150b, 150c) can be formed. Through this, the organic light emitting diode display device 100 according to the present invention can implement a micro cavity effect that improves light efficiency.

다음 도 2i에 도시된 바와 같이, 유기절연물질 예를 들면 폴리이미드(poly imide), 포토아크릴(Photo acryl), 벤조사이클로뷰텐(BCB) 중 어느 하나 또는 블랙을 나타내는 물질, 예를 들면 블랙수지, 그래파이트 파우더(graphite powder), 그라비아 잉크(gravure), 블랙 스프레이(black spray), 블랙 에나멜(black enamel) 중 하나를 이용하여 뱅크물질층(162a)을 형성한다. 2i, an organic insulating material such as polyimide, photo acryl, or benzocyclobutene (BCB), or a material showing black, for example, black resin, The bank material layer 162a is formed using one of graphite powder, gravure ink, black spray, and black enamel.

그리고 도 2j에 도시된 바와 같이, 멀티톤 마스크를 적용하여 마스크 공정을 진행함으로써 제1화소영역(P1)의 제6층(156)과, 제2화소영역(P2)의 제4층(154) 및 제3화소영역(P3)의 제2층(152)을 노출시키며 각 화소영역(P1, P2, P3)의 경계로 뱅크(162)를 형성한다. 상기 뱅크(162)는 기판(110) 상에 격자 구조의 매트릭스 타입으로 형성되어 각 화소영역(P1, P2, P3)이 구분되도록 할 수 있다. 2J, the sixth layer 156 of the first pixel region P1 and the fourth layer 154 of the second pixel region P2 are processed by applying a multitone mask to the mask process. And exposing the second layer 152 of the third pixel area P3, and forming a bank 162 at the boundary of each pixel area P1, P2, P3. The bank 162 is formed in a matrix type of a lattice structure on the substrate 110 so that each of the pixel areas P1, P2, and P3 can be distinguished.

여기서 도면 상에 나타내지는 않았지만, 멀티톤 마스크는 투과영역과 서로 다른 빛 투과율을 가지는 제1 내지 제3반투과영역을 포함한다. 이에 따라, 멀티톤 마스크의 투과영역은 각 화소영역의 경계에 위치시키고, 제1반투과영역은 제1화소영역에 위치시키며, 제2반투과영역은 제2화소영역에 위치시키고, 제3반투과영역은 제3화소영역에 위치시킨다. Although not shown in the figure, the multitone mask includes first to third semi-transmissive regions having different light transmittance from the transmissive region. Accordingly, the transmission area of the multitone mask is positioned at the boundary of each pixel area, the first semi-transmission area is located in the first pixel area, the second semi-transmission area is located in the second pixel area, and the third half The transmissive region is located in the third pixel region.

다음 도 2k에 도시된 바와 같이, 기판(110) 전면에 유기발광물질을 도포 또는 증착하여 마스크 공정을 진행함으로써 유기발광층(165a, 165b, 165c)을 형성한다. Next, as illustrated in FIG. 2K, the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c are formed by applying or depositing an organic light emitting material on the entire surface of the substrate 110 to perform a mask process.

이때, 제1화소영역(P1)에는 적색 유기발광층(165a)이, 제2화소영역(P2)에는 녹색 유기발광층(165b)이, 그리고 제3화소영역(P3)에는 청색 유기발광층(165c)이 형성된다. At this time, the red organic emission layer 165a is in the first pixel region P1, the green organic emission layer 165b is in the second pixel region P2, and the blue organic emission layer 165c is in the third pixel region P3. Is formed.

유기발광층(165a, 165b, 165c)은 노즐(nozzle)코팅장치, 디스펜싱 장치 또는 잉크젯장치를 이용하여 코팅 및 분사함으로써 기판(110)의 전면에 형성할 수 있으며, 또는 진공 열증착 방법을 통해 형성할 수도 있다. 이때, 진공 열증착 방법은 진공챔버 내부에서 유기발광층(165a, 165b, 165c) 형성을 위한 유기발광물질이 분말상태로 담겨져 있는 도가니(미도시)에 열을 가해 유기발광물질을 가열 승화시켜 증착하는 방법이다. The organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c may be formed on the front surface of the substrate 110 by coating and spraying using a nozzle coating device, a dispensing device, or an ink jet device, or formed through a vacuum thermal evaporation method. You may. At this time, in the vacuum thermal vapor deposition method, heat is sublimated by heating and subliming the organic light-emitting material by applying heat to a crucible (not shown) in which the organic light-emitting material for forming the organic light-emitting layers 165a, 165b, and 165c is formed in a powder state. It is a way.

이러한 유기발광층(165a, 165b, 165c)은 단일층으로 구성될 수 있으며, 발광 효율을 높이기 위해 정공주입층(hole injection layer), 정공수송층(hole transporting layer), 발광층(emitting material layer), 전자수송층(electron transporting layer) 및 전자주입층(electron injection layer)의 다중층으로 구성될 수도 있다.The organic light emitting layer (165a, 165b, 165c) may be composed of a single layer, a hole injection layer (hole injection layer), hole transporting layer (hole transporting layer), light emitting layer (emitting material layer), electron transport layer to increase the luminous efficiency (electron transporting layer) and may be composed of multiple layers of an electron injection layer.

여기서, 각 서브픽셀(P1, P2, P3) 별로 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B)의 유기발광층(165a, 165b, 165c)이 동일한 두께로 형성되는 것을 설명하고 도시하였지만, 이에 한정되지 않고 각 서브픽셀(P1, P2, P3) 별로 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B)의 유기발광층(165a, 165b, 165c)의 두께가 서로 다른 두께로 형성될 수 있다. 이에 따라, 유기발광다이오드(E)의 두께가 각 서브픽셀(P1, P2, P3) 별로 동일하게 구현될 수 있게 된다. Here, the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c of red (R), green (G), and blue (B) for each subpixel P1, P2, and P3 are described and illustrated, but this is illustrated. The thickness of the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c of red (R), green (G), and blue (B) for each subpixel P1, P2, P3 is not limited, and may be formed to different thicknesses. Accordingly, the thickness of the organic light emitting diode (E) can be implemented equally for each sub-pixel (P1, P2, P3).

다음으로 유기발광층(165a, 165b, 165c)이 형성된 기판(110)의 전면에 비교적 일함수 값이 작은 금속물질 예를 들면 알루미늄(Al), 알루미늄 합금, 은(Ag), 마그네슘(Mg), 금(Au) 중 하나를 열증착 또는 이온 빔 증착을 실시하여 제2전극(170)을 형성한다. Next, a metal material having a relatively small work function value on the front surface of the substrate 110 on which the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c are formed, for example, aluminum (Al), aluminum alloy, silver (Ag), magnesium (Mg), gold The second electrode 170 is formed by performing one of (Au) thermal deposition or ion beam deposition.

이때, 제2전극(170)은 유기발광층(165a, 165b, 165c)의 손상을 최소화하기 위하여 저온에서 형성하는 것이 바람직하다. At this time, the second electrode 170 is preferably formed at a low temperature to minimize damage to the organic light emitting layers 165a, 165b, and 165c.

여기서, 제1전극(150a, 150b, 150c)과 제2전극(170) 그리고 이들 사이에 형성된 유기발광층(165a, 165b, 165c)은 유기발광다이오드(E)를 이룬다. Here, the first electrodes 150a, 150b, 150c, the second electrode 170, and the organic light emitting layers 165a, 165b, 165c formed therebetween form an organic light emitting diode E.

다음 제2전극(170)이 형성된 기판(110)에 무기절연물질을 이용하여 제2보호층(180)을 형성한다. Next, a second protective layer 180 is formed on the substrate 110 on which the second electrode 170 is formed using an inorganic insulating material.

여기서, 제2보호층(180)은 유기발광다이오드(E)로 수분이 침투하는 것을 방지하고 보호하기 위한 것으로 무기절연층 및 유기절연층을 포함하여 다층으로 구성할 수도 있다.Here, the second protective layer 180 is to prevent and protect the penetration of moisture into the organic light emitting diode (E), it may be composed of a multi-layer including an inorganic insulating layer and an organic insulating layer.

한편 도면에 도시하지는 않았지만, 제2보호층(180)의 상부로 각 화소영역의 경계에 블랙매트릭스를 형성하고, 각 화소영역에 적색, 녹색 및 청색의 컬러필터 패턴을 형성할 수 있다. On the other hand, although not shown in the drawing, a black matrix may be formed on the boundary of each pixel area on the second protective layer 180, and color filter patterns of red, green, and blue may be formed on each pixel area.

또는, 블랙매트릭스와 적색, 녹색 및 청색의 컬러필터 패턴은 인캡슐레이션기판에 형성된 상태로, 이러한 인캡슐레이션기판과 본 발명에 따른 기판이 합착됨으로써 표시패널을 이룰 수 있다. 이때, 합착 공정을 보다 상세히 설명하면, 기판 또는 인캡슐레이션기판의 가장자리에 실패턴을 형성하고, 실패턴이 형성된 기판의 외면에 열을 가해 실패턴이 접착력을 가지도록 함으로써 기판과 인캡슐레이션기판을 합착시킬 수 있다. 또는 기판 또는 인캡슐레이션기판에 접착 성질을 가지는 레진(resin)으로 페이스 씰을 형성하고, 진공 또는 불활성 기체인 질소 분위기에서 기판과 인캡슐레이션기판을 합착시킬 수 있다. Alternatively, the black matrix and the red, green, and blue color filter patterns are formed on the encapsulation substrate, and the encapsulation substrate and the substrate according to the present invention can be combined to form a display panel. At this time, when the bonding process is described in more detail, a failure turn is formed on the edge of the substrate or the encapsulation substrate, and heat is applied to the outer surface of the substrate on which the failure turn is formed, so that the failure turn has adhesive strength, and thus the substrate and the encapsulation substrate. Can be bonded. Alternatively, the face seal may be formed of a resin having adhesive properties on the substrate or the encapsulation substrate, and the substrate and the encapsulation substrate may be bonded in a vacuum or inert gas nitrogen atmosphere.

한편, 전술한 유기발광다이오드 표시장치의 제조공정은 제2전극을 통해 빛이 출사되는 상부발광방식일 경우를 설명한 것으로, 이에 한정되지 않고 제1전극을 통해 빛이 출사되는 하부발광방식에도 본 발명에 따라 서로 다른 두께를 가지는 제1전극을 적용할 수 있다. 이 경우, 반사층의 역할을 하는 제1층이 생략된다. 이에 따라, 제1화소영역의 제1전극은 제2층 내지 제6층이 적층된 5층 구조를 가지고, 제2화소영역의 제1전극은 제2층 내지 제4층이 적층된 3층 구조를 가지며 제3화소영역의 제1전극은 제2층의 단일층 구조를 가짐으로써 각 화소영역 별로 서로 다른 두께의 전극을 형성할 수 있게 된다.
On the other hand, the manufacturing process of the above-described organic light emitting diode display device has been described in the case of the upper emission method in which light is emitted through the second electrode, but is not limited thereto, and the present invention is also applied to the lower emission method in which light is emitted through the first electrode Depending on the first electrode having a different thickness can be applied. In this case, the first layer serving as the reflective layer is omitted. Accordingly, the first electrode in the first pixel region has a five-layer structure in which the second to sixth layers are stacked, and the first electrode in the second pixel region has a three-layer structure in which the second to fourth layers are stacked. The first electrode of the third pixel region has a single layer structure of the second layer, so that electrodes of different thickness can be formed for each pixel region.

이상에서 설명한 본 발명의 실시예는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 자유로운 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명의 보호범위는 첨부된 특허청구범위 및 이와 균등한 범위 내에서의 본 발명의 변형을 포함한다.
The embodiments of the present invention described above are merely exemplary, and a person having ordinary knowledge in the technical field to which the present invention pertains can freely deform without departing from the gist of the present invention. Accordingly, the protection scope of the present invention includes the appended claims and modifications of the present invention within the scope equivalent thereto.

100: 유기발광다이오드 표시장치
150a, 150b, 150c: 제1전극 155a: 적색 유기발광층
155b: 녹색 유기발광층 155c: 청색 유기발광층
170: 제2전극
100: organic light emitting diode display device
150a, 150b, 150c: first electrode 155a: red organic light emitting layer
155b: green organic light emitting layer 155c: blue organic light emitting layer
170: second electrode

Claims (8)

기판 상의 제1 내지 제3화소영역에 각각 박막트랜지스터를 형성하는 단계와;
상기 박막트랜지스터의 드레인 전극을 노출시키는 드레인 콘택홀을 포함하는 보호층을 형성하는 단계와;
상기 보호층의 상부로 제1물질층 내지 제5물질층을 순차적으로 형성하는 단계와;
상기 제5물질층의 상부에 마스크를 적용하여 상기 제1화소영역에 제1두께를 가지는 제1포토레지스트 패턴을 형성하고, 상기 제2화소영역에 상기 제1두께보다 얇은 제2두께를 가지는 제2포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와;
상기 제1포토레지스트 패턴과 상기 제2포토레지스트 패턴을 이용하여 상기 제1화소영역에 제5층 내지 제2층의 사층 구조를 형성하고, 상기 제2화소영역에 제3층 및 제2층의 이층 구조를 형성하는 단계와;
상기 사층 구조와 이층 구조가 형성된 기판 상에 마스크를 적용하여 제1 내지 제3화소영역에 각각 제3포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와;
상기 제3포토레지스트 패턴을 이용하여 상기 제1화소영역에 제5층 내지 제1층의 오층 구조, 상기 제2화소영역에 제3층 내지 제1층의 삼층 구조, 상기 제3화소영역에 제1층의 일층 구조를 가지는 제1전극을 형성하는 단계와;
상기 제1전극의 상부로 유기발광층과 제2전극을 순차적으로 형성하는 단계를 포함하고,
상기 제5 및 제3 및 제1물질층은 서로 동일한 물질이며,
상기 제4 및 제2물질층은 서로 동일한 물질인 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
Forming thin film transistors in the first to third pixel areas on the substrate, respectively;
Forming a protective layer including a drain contact hole exposing the drain electrode of the thin film transistor;
Sequentially forming a first material layer to a fifth material layer on top of the protective layer;
A first photoresist pattern having a first thickness in the first pixel region by applying a mask on the fifth material layer, and a second thickness having a second thickness thinner than the first thickness in the second pixel region 2 forming a photoresist pattern;
The first photoresist pattern and the second photoresist pattern are used to form a fourth to second layer four-layer structure in the first pixel region, and a third and second layer in the second pixel region. Forming a two-layer structure;
Forming a third photoresist pattern in each of the first to third pixel areas by applying a mask on the substrate having the four-layer structure and the two-layer structure;
Using the third photoresist pattern, a fifth layer to a fifth layer structure in the first pixel region, a third layer to a third layer structure in the second pixel region, and a third layer to the third pixel region Forming a first electrode having a one-layer structure of one layer;
Sequentially forming an organic light emitting layer and a second electrode on top of the first electrode,
The fifth and third and first material layers are the same material,
The method of claim 4, wherein the fourth and second material layers are made of the same material.
제 1항에 있어서,
상기 제5 및 제3 및 제1물질층은 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)이고,
상기 제4 및 제2물질층은 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi), 구리(Cu), 알루미늄합금(AlNd) 및 APC(Ag-Pd-Cu)합금 중 하나인 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
According to claim 1,
The fifth and third and first material layers are indium-tin-oxide (ITO) or indium-zinc-oxide (IZO),
The fourth and second material layers are one of molybdenum (Mo), molybdenum titanium (MoTi), copper (Cu), aluminum alloy (AlNd) and APC (Ag-Pd-Cu) alloy, characterized in that one of the organic light-emitting diode Method of manufacturing a display device.
제 1항에 있어서,
상기 제1화소영역에 제5층 내지 제2층의 사층 구조를 형성하고, 상기 제2화소영역에 제3층 및 제2층의 이층 구조를 형성하는 단계는,
상기 제5물질층과 상기 제4물질층에 대해 제1식각공정과 제1애싱공정을 진행함으로써 상기 제1포토레지스트 패턴의 일부 두께가 제거되며 상기 제1화소영역에 제5층 및 제4층이 형성되고, 상기 제2포토레지스트 패턴이 제거되며 상기 제2화소영역에 제5층 및 제4층이 형성되는 단계와,
상기 제3물질층과 상기 제2물질층에 대해 제2식각공정과 제2애싱공정을 진행함으로써 나머지 상기 제1포토레지스트 패턴이 제거되며 상기 제1화소영역에 제5층 내지 제2층이 형성되고, 상기 제2화소영역에 제3층 및 제2층이 형성되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
According to claim 1,
The step of forming the fourth to second layers of the four-layer structure in the first pixel region, and forming the second and second layers of the second and second layers in the second pixel region,
A part of the thickness of the first photoresist pattern is removed by performing a first etching process and a first ashing process on the fifth material layer and the fourth material layer, and the fifth and fourth layers are formed in the first pixel region. This is formed, the second photoresist pattern is removed and forming a fifth layer and a fourth layer in the second pixel region,
By performing a second etching process and a second ashing process on the third material layer and the second material layer, the remaining first photoresist pattern is removed and a fifth layer to a second layer are formed in the first pixel region. And forming a third layer and a second layer in the second pixel region.
제 3항에 있어서,
상기 제1식각공정을 진행하기 전에 상기 제5물질층 표면을 결정화시키는 단계를 더 포함하고,
상기 제2식각공정을 진행하기 전에 상기 제3물질층 표면을 결정화시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
According to claim 3,
Further comprising the step of crystallizing the surface of the fifth material layer before proceeding to the first etching process,
A method of manufacturing an organic light emitting diode display device, further comprising crystallizing the surface of the third material layer before proceeding to the second etching process.
제 3항에 있어서,
상기 제2 및 제4물질층은 상기 제1, 제3 및 제5물질층보다 식각 속도가 높은 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
According to claim 3,
A method of manufacturing an organic light emitting diode display device, wherein the second and fourth material layers have an etch rate higher than that of the first, third, and fifth material layers.
제 3항에 있어서,
상기 제1식각공정은,
상기 제5물질층을 식각하기 위한 제1식각액을 이용하여 노출된 상기 제5물질층을 식각하는 단계와,
상기 제4물질층을 식각하기 위한 제2식각액을 이용하여 노출된 상기 제4물질층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
According to claim 3,
The first etching process,
Etching the exposed fifth material layer using a first etchant for etching the fifth material layer;
And etching the exposed fourth material layer using a second etchant for etching the fourth material layer.
제 1항에 있어서,
상기 제1층의 하부로 반사층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
According to claim 1,
A method of manufacturing an organic light emitting diode display device further comprising forming a reflective layer below the first layer.
제 1항에 있어서,
상기 제1전극의 상부로 뱅크물질층을 형성하는 단계와,
상기 뱅크물질층의 상부로 멀티톤마스크를 적용하여 마스크공정을 진행함으로써 상기 제1 내지 제3화소영역에 각각 형성된 상기 제1전극을 노출시키고, 상기 제1 내지 제3화소영역 각각의 경계에 뱅크를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법.
According to claim 1,
Forming a bank material layer over the first electrode;
By applying a multi-tone mask to the top of the bank material layer, a mask process is performed to expose the first electrodes respectively formed in the first to third pixel regions, and banks at each boundary of the first to third pixel regions Method of manufacturing an organic light emitting diode display device comprising the step of forming a.
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