KR101964884B1 - 오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치 - Google Patents

오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101964884B1
KR101964884B1 KR1020120070924A KR20120070924A KR101964884B1 KR 101964884 B1 KR101964884 B1 KR 101964884B1 KR 1020120070924 A KR1020120070924 A KR 1020120070924A KR 20120070924 A KR20120070924 A KR 20120070924A KR 101964884 B1 KR101964884 B1 KR 101964884B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film
auto
pads
liquid crystal
unit
Prior art date
Application number
KR1020120070924A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20140004284A (ko
Inventor
조현일
박인선
강신학
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020120070924A priority Critical patent/KR101964884B1/ko
Publication of KR20140004284A publication Critical patent/KR20140004284A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101964884B1 publication Critical patent/KR101964884B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/0735Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2879Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing

Abstract

본 발명은 오토프로브 장치에 관한 것으로서, 특히, 액정패널의 패드부와 접촉되는 헤드부가 필름형태의 헤드부으로 형성되어 있는, 오토프로브 유닛을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. 이를 위해 본 발명에 따른 오토프로브 유닛은, 필름 타입의 필름패키지를 통해 액정패널에 형성된 패드들로 테스트신호를 인가하기 위한 헤드부; 및 상기 헤드부를 지지하기 위한 본체부를 포함한다.

Description

오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치{AUTOPROBE UNIT AND AUTOPROBE APPARATUS USING THE SAME}
본 발명은 오토프로브 장치에 적용되는 오토프로브 유닛에 관한 것으로서, 특히, 디스플레이장치의 패널과 접촉하여 테스트신호를 패널로 전송하는 오토프로브 유닛에 관한 것이다.
최근에 널리 이용되고 있는 평판표시장치에는, 액정표시장치(Liquid Crystal Display device : LCD), 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel device : PDP), 유기발광표시장치(ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY : OLED) 등이 있다.
이중 특히, 액정표시장치는 콘트라스트 비(contrast ratio)가 크고 동화상 표시에 적합하며 소비전력이 적다는 특징을 보여 노트북, 모니터, TV 등의 다양한 분야에서 이용되고 있다.
일반적인 액정표시장치의 제조공정은 제1 및 제2기판을 얻기 위한 기판제조공정, 두 개의 기판을 합착하여 액정패널을 완성하는 셀(cell)공정 및 액정패널과 백라이트를 일체화시키는 모듈(module)공정으로 구분될 수 있다.
이중, 기판제조공정에서는 박막증착(thin film deposition), 포토리소그라피(photo-lithography), 식각(etching) 등의 과정을 수차례 반복하여, 각 기판에 어레이층과 컬러필터층을 구현한다.
셀공정에서는 제1 또는 제2기판 중 어느 하나에 합착을 위한 씰패턴(seal pattern)을 형성한 후 액정층을 사이에 두고 양 기판을 대면 합착시켜 액정패널을 완성한다.
이렇게 완성된 액정패널은 모듈공정에서 편광판과 구동회로 등이 부착된 후 백라이트와 일체화되어 액정표시장치를 이룬다.
상기 공정들 중, 셀공정의 최종단계로서, 액정패널 검사단계가 진행된다. 액정패널 검사단계는, 구동회로 부착 전(前)의 액정패널을 오토프로브 장치에 장착시킨 후, 오토프로브 장치의 오토프로브 유닛을 통해 액정패널로 테스트신호를 인가하여 테스트화상을 구현하고, 이를 작업자가 육안으로 확인하여 불량여부를 판정하는 단계이다.
도 1은 종래의 오토프로브 유닛의 구성도로서, 종래의 오토프로브 장치에 장착되어 있는 오토프로브 유닛을 나타내고 있다. 도 2는 종래의 오토프로브 유닛의 핀이 패드부의 패드와 연결되는 상태를 개략적으로 나타낸 예시도로서, 특히, 불량이 발생되고 있는 상태를 나타내고 있다.
오토프로브 장치는 액정패널의 발광품질을 검사하기 위한 것으로서, 일반적으로, 액정패널을 지지하는 지지프레임, 액정패널의 패드부와 직접적으로 접촉되어 액정패널로 테스트신호를 인가하기 위한 오토프로브 유닛(10) 및 지지프레임의 가로방향 또는 세로방향에 설치되어 오토프로브 유닛(10)을 지지하기 위한 지지바(20)를 포함하여 구성될 수 있다.
이러한 오토프로브 장치의 구성은, 검사하고자 하는 액정패널의 크기 및 형태에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 핸드폰 또는 테블릿PC와 같은 소형의 전자제품에 이용되는 액정패널을 검사하기 위한 오토프로브 장치의 지지바(20)에는 하나의 오토프로브 유닛(10)이 장착될 수 있으며, 대형 TV에 이용되는 액정패널을 검사하기 위한 오토프로브 장치의 지지바(20)에는 복수 개의 오토프로브 유닛(10)이 장착될 수 있다.
한편, 상기한 바와 같은 오토프로브 장치에 장착되는 종래의 오토프로브 유닛(10)은, 지지바(20)에 장착되어 있는 본체부(11) 및 본체부의 끝단에 장착된 상태에서 액정패널의 패드부와 접촉되어 액정패널을 구동하기 위한 테스트신호를 패드부로 전송하기 위한 헤드부(12)를 포함하여 구성될 수 있다.
여기서, 헤드부(12)는 본체부(11)에 탈부착될 수 있도록 형성된 탈부착기 (12a)및 탈부착기의 끝단에 장착되어 패드부와 접촉하는 복수의 핀(12c)들로 구성된 핀블럭(12b)을 포함하여 구성될 수 있다.
핀블럭(Pin Block)(12b)은, 액정패널 검사를 위한 테스트신호를 발생시키는 구동부(Drive-IC)와 패드부 사이에서, 핀(Pin)(12c)이라는 매개체에 의해, 구동부에서 발생된 테스트신호를 패드부로 전송하고 있다.
상기한 바와 같은 종래의 오토프로브 유닛에 있어서 발생되는 문제점은 다음과 같다.
첫째, 핀블럭(12b)에서는, 핀(12c) 손상에 의해 패드부와 핀 간에 얼라인 미스 현상이 발생될 수 있다. 즉, 핀블럭에 장착되어 있는 핀이 꺽이는 현상, 핀이 부러지는 현상이 발생될 수 있다.
또한, COG(Chip On Glass) 타입의 액정패널에 대한 검사를 수행하는 핀블럭의 경우에는, 구동부(Drive-IC)와 핀 간에 신호를 연결해 주는 PTN 글래스가 필요한데, 핀의 훼손에 의해 PTN 글래스가 파손되는 현상도 발생되고 있다.
이러한 현상은 액정패널 검사를 위해 핀블럭이 반복적으로 패드부와 접촉됨에 따라 발생되고 있다.
이를 해결하기 위해, 핀블럭(12b)을 포함한 헤드부(12)는 일정 기간마다, 또는, 핀(12c)의 불량 발생이 확인된 경우, 교체되고 있다. 그러나, 이러한 잦은 교체에 의해 액정표시장치의 제조 공정이 지연되고, 제조 단가가 증가되고 있다.
둘째, 종래의 오토프로브 유닛에 적용되는 핀(12c)들은, 구동부(D-IC)의 각 단자와 1대1로 연결되어 있을 뿐만 아니라, 도 2의 (a)에 도시된 바와 같이, 액정패널의 패드부에 형성된 각 패드(31)들과도 1대1로 연결되어 있다. 따라서, 10㎛ 이상의 지름을 갖는 핀이 변형되거나 셋팅(Setting) 위치를 이탈 시, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이, 패드(31)와 핀(12c)의 접촉이 불량하여, 패드로 테스트신호가 정상적으로 인가되지 못하는 경우가 발생되고 있다. 특히, 게이트인패널(GIP) 방식의 액정패널의 게이트 패드부에 연결되는 오토프로브 유닛(10)에 상기한 바와 같은 불량이 발생된 경우, 액정패널의 게이트라인에 라인결함(Line Defect)이 발생될 수 있다. 이러한 문제는 핀블럭(12b)을 형성하는 핀(12c)들의 간격(Margin)이 작기 때문에 발생된다.
즉, 현재의 핀(Pin) 제작 기술의 한계로 20㎛ 이내의 핀은 제작이 불가능하다. 따라서, 핀(12c)의 직경이 커지는 만큼, 핀들의 간격이 그만큼 좁아지게 된다. 이 경우, 핀의 위치에 따른 간격(Margin)이 가로 9㎛, 세로 46㎛ 밖에 확보되지 않기 때문에, 핀이 조금만 휘어지거나 정해진 위치를 이탈하더라도, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이, 패드(31)를 통해 패널로 정상적인 테스트신호가 인가될 수 없다.
한편, 상기한 바와 같은 불량을 방지하기 위해 패드부의 패드(31) 구조가, 도 2에 도시된 바와 같이, 지그재그(Jig Jag) 형태로 설계되고 있으며, 이에 따라, 핀블럭(12b)의 핀들(12c) 역시 지그재그 형태로 설계되고 있다. 그러나, 이러한 설계상의 해결 방법만으로는 상기한 바와 같은 불량이 방지될 수 없다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 액정패널의 패드부와 접촉되는 헤드부가 필름형태의 필름패키지로 형성되어 있는, 오토프로브 유닛을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 오토프로브 유닛은, 필름 타입의 필름패키지를 통해 액정패널에 형성된 패드들로 테스트신호를 인가하기 위한 헤드부; 및 상기 헤드부를 지지하기 위한 본체부를 포함한다.
여기서, 상기 헤드부는, 상기 본체부에 탈부착될 수 있다. 상기 헤드부는, 상기 본체부에 탈부착되도록 형성된 베이스; 및 상기 필름패키지를 포함하고, 상기 필름패키지는, 상기 테스트신호를 발생시키는 구동부; 상기 구동부가 부착되어 있는 필름; 상기 필름 상에서 상기 구동부에 형성된 핀들과 연결되어 있는 연결라인들; 및 상기 필름상에서 상기 연결라인들 각각의 끝단에 형성되어 상기 패드들과 접촉되는 복수의 필름패드를 포함할 수 있다. 상기 필름패드에는 복수의 돌출부가 형성될 수 있다. 상기 필름패들은 상기 필름 상에서 지그재그 형태로 배열될 수 있다. 상기 구동부의 하나의 핀과 연결되어 있는 상기 하나의 연결라인은, 적어도 두 개 이상의 필름패드들과 연결될 수 있다. 상기 연결라인들은, 상기 구동부에 형성된 핀들 중 적어도 두 개 이상을 사이에 두고 상기 필름상에 형성될 수 있다. 상기 베이스는, 상기 본체부에 탈부착되는 베이스블럭; 상기 베이스블럭에 부착되는 러버지지블럭; 및 상기 필름패키지와 상기 러버지지블럭 사이에 삽입되어 상기 필름패키지를 보호하는 러버를 포함할 수 있다. 상기 필름패키지를 사이에 두고 상기 베이스에 장착되어 상기 필름패키지를 보호하는 커버가 더 포함될 수 있다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 오토프로브 장치는, 상기 오토프로브 유닛; 상기 오토프로브 유닛을 지지하기 위한 지지바; 및 상기 지지바와 액정패널을 지지하기 위한 지지프레임을 포함한다.
본 발명은 액정패널의 패드부와 접촉되는 헤드부가 필름형태의 필름패키지로 형성되어 있기 때문에, 핀 미스에 의한 고장이 발생되지 않으며, 이로 인해 품질 사고가 발생되지 않는다.
또한, 본 발명은 헤드부의 교체 주기를 증대시킴으로써, 헤드부 교체에 따른 비용을 절감시킬 수 있다.
도 1은 종래의 오토프로브 유닛의 구성도.
도 2는 종래의 오토프로브 유닛의 핀이 패드부의 패드와 연결되는 상태를 개략적으로 나타낸 예시도.
도 3은 본 발명에 따른 오토프로브 장치의 구성을 나타낸 예시도.
도 4는 본 발명에 따른 오토프로브 유닛의 일실시예 사시도.
도 5는 도 4에 도시된 오토프로브 유닛에 적용되는 헤드부를 나타낸 분해 사시도.
도 6은 도 5에 도시된 헤드부에 적용되는 필름의 평면을 나타낸 예시도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대해 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명에 따른 오토프로브 장치의 구성을 나타낸 예시도이다.
본 발명에 따른 오토프로브 장치(900)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 오토프로브 유닛(100), 상기 오토프로브 유닛을 지지하기 위한 지지바(200) 및 상기 지지바(200)와 액정패널(500)을 지지하기 위한 지지프레임(300)을 포함한다.
우선, 지지바(200)는 지지프레임(300)에 장착된 상태에서 오토프로브 유닛(100)을 지지하기 위한 것으로서, 지지바(200)에는 적어도 하나 이상의 오토프로브 유닛(100)이 장착될 수 있다. 즉, 핸드폰과 같은 소형의 전자제품에 적용되는 액정패널을 검사하는 오토프로브 장치의 경우에는, 지지바(200)에 하나의 오토프로브 유닛이 장착되어 있을 수 있다. TV나 모니터와 같은 중소형의 전자제품에 적용되는 액정패널을 검사하는 오토프로브 장치의 경우에는, 지지바(200)에 두 개 이상의 오토프로브 유닛이 장착되어 있을 수 있다.
그러나, 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 지지바(210) 및 데이터 지지바(220)에 두 개 이상의 오토프로브 유닛(100)이 장착되어 있는 오토프로브 장치는, 상기한 바와 같은 소형 전자제품에 적용되는 액정패널과, 중소형 전자제품에 적용되는 액정패널 모두를 검사할 수 있도록 구성될 수 있다.
지지바(200)는 상기 액정패널의 게이트라인들과 연결된 게이트패드들이 형성되어 있는 게이트패드부에 접촉되는 적어도 하나 이상의 게이트 오토프로브 유닛(110)이 장착되어 있는 게이트 지지바(210) 및 상기 액정패널의 데이터라인들과 연결된 데이터패드들이 형성되어 있는 데이터패드부에 접촉되는 적어도 하나 이상의 데이터 오토프로브 유닛(120)이 장착되어 있는 데이터 지지바(220)로 구분될 수 있다. 즉, 지지바(200)는 지지프레임(300)의 가로 방향과 세로 방향에 각각 형성되어, 액정패널(500)의 게이트패드부(510)에 접촉되는 게이트 오토프로브 유닛(110) 또는 액정패널(500)의 데이터패드부(520)에 접촉되는 데이터 오토프로브 유닛(120)을 지지할 수 있다.
지지바(200)는 지지프레임(300)에 장착된 상태에서 오토프로브 유닛(110)을 이동시킬 수도 있으며, 또는 지지프레임(300) 상에서 이동되어 오토프로브 유닛을 간접적으로 이동시킬 수도 있다. 즉, 게이트 오토프로브 유닛(110) 및 데이터 오토프로브 유닛(120)이 액정패널(500)에 형성된 패드부(510, 520)에 정확히 위치되어, 패드에 효과적으로 접촉될 수 있도록, 게이트 오토프로브 유닛(110) 및 데이터 오토프로브 유닛(120)은 지지바(200) 상에서 수평 이동이 가능하도록 구성될 수 있다.
다음, 지지프레임(300)은 지지바(200)와 액정패널(500)을 지지하기 위한 것으로서, 지지프레임(300)의 측면(310)에는 가로 방향 및 세로 방향으로 지지바(200)가 장착되어 있으며, 지지프레임의 중앙에는 액정패널(500)을 지지하기 위한 실장공간(320)이 형성되어 있다.
마지막으로, 본 발명에 따른 오토프로브 유닛(100)은 액정패널(500)의 패드부(510, 520)에 형성되어 있는 패드들로 테스트신호를 공급하여, 액정패널을 점등시키는 기능을 수행한다. 상기 테스트신호에 의해 액정패널이 점등된 상태에서, 작업자는 액정패널의 점등 상태를 검사하여, 액정패널의 불량 여부를 판단한다.
오토프로브 유닛(100)의 구체적인 구성 및 기능에 대하여는 이하에서 도 4 내지 도 7을 참조하여 상세히 설명된다.
상기한 바와 같이 구성되어 있는 본 발명에 따른 오토프로브 장치(900)의 동작 방법을 간단히 설명하면 다음과 같다.
액정패널(500)은 게이트라인 및 데이터라인(미도시)을 통해 복수의 화소가 매트릭스 형태로 배열되는 하부의 어레이기판(530)과 상부의 컬러필터기판(540)이 액정층(미도시)을 사이에 두고 서로 대면 합착되어 있다. 어레이기판(530)은 컬러필터기판(540) 보다 면적이 커서 합착 시, 어레이기판(530)의 일측 가장자리가 외부로 노출된다.
외부로 노출된 어레이기판(530)의 일측 가장자리에는, 게이트라인 및 데이터라인(미도시)과 접속되는 복수 개의 게이트 패드가 형성되어 있는 게이트패드부(510) 및 데이터패드(미도시)가 형성되어 있는 데이터패드부(520)가 존재한다.
도면에 도시되어 있지는 않지만, 오토프로브 장치(900)의 배면에는 액정패널(500)을 향해 빛을 공급하는 백라이트유닛(미도시)이 배치되며, 이로 인해, 액정패널(500)의 테스트화상은 외부로 디스플레이될 수 있다.
한편, 상기한 바와 같은 오토프로브 장치(900)와 백라이트유닛(미도시)은 소정높이의 테스트테이블(미도시)에 장착될 수 있다. 테스트테이블에는, 작업자의 조작에 의해, 게이트 오토프로브 유닛(110) 및 데이터 오토프로브 유닛(120)을 통해 액정패널(500)로 공급되는 테스트신호를 제어하는 콘트롤박스(미도시)가 갖추어진다.
따라서, 작업자는 오토프로브 장치(900)에 액정패널(500)을 장착한 후, 백라이트유닛(미도시)을 턴-온(turn on)시키고, 컨트롤박스(미도시)를 이용하여 게이트 오토프로브 유닛(110) 및 데이터 오토프로브 유닛(120)을 통해 액정패널(110)로 소정의 테스트신호를 인가한다.
이에 따라 액정패널(500)로부터는 테스트화상이 구현되며, 작업자는 이를 육안으로 검사해서 점 결함(dotdefect) 내지는 라인 결함(line defect)과 같은 불량여부를 확인한다.
도 4는 본 발명에 따른 오토프로브 유닛의 일실시예 사시도이고, 도 5는 도 4에 도시된 오토프로브 유닛에 적용되는 헤드부를 나타낸 분해 사시도이며, 도 6은 도 5에 도시된 헤드부에 적용되는 필름의 평면을 나타낸 예시도이다.
본 발명에 따른 오토프로브 유닛(100)은 도 4에 도시된 바와 같이, 테스트신호를 액정패널의 패드부에 형성된 패드들로 인가시키기 위해 필름으로 구성되어 있는 헤드부(130) 및 상기 헤드부(130)를 지지하기 위한 본체부(140)를 포함한다.
본체부(140)는 상기한 바와 같이 헤드부(130)를 지지하기 위한 것으로서, 본체부(140)는 오토프로브 장치(900)의 지지바(200)에 장착된다.
본체부(140)는 지지바(200)에 장착된 상태에서, 상기한 바와 같이, 지지바를 따라 이동될 수 있다.
헤드부(130)는 필름타입의 필름패키지(134)를 통해 액정패널(500)에 형성된 패드들로 테스트신호를 인가하는 기능을 수행한다.
이를 위해 헤드부(130)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 본체부에 탈부착되도록 형성된 베이스(136), 상기 필름패키지(134) 및 상기 필름패키지를 사이에 두고 상기 베이스(136)에 장착되어 상기 필름패키지를 보호하는 커버(135)를 포함한다.
커버(135)는 필름패키지(134)를 감싸 보호하기 위한 것으로서, 반드시 구비되어 있을 필요는 없다. 커버(135)는 베이스(136)를 구성하는 베이스블럭(131) 및 러버지지블럭(132)에 연결될 수 있다.
베이스(136)는 헤드부(130)가 본체부(140)에 탈부착될 수 있도록 하는 기능을 수행한다.
베이스(136)는 상기 본체부(140)에 탈부착되는 베이스블럭(131), 상기 베이스블럭에 부착되는 러버지지블럭(132) 및 상기 필름패키지와 상기 러버지지블럭 사이에 삽입되어 상기 필름패키지를 보호하는 러버(133)를 포함할 수 있다.
베이스블럭(131)은 나사와 같은 체결수단을 통해 본체부(140)에 탈부착될 수 있다.
러버(133)는 상기 필름패키지를 보호하기 위한 것으로서, 부드러운 재질로 형성될 수 있다.
러버지지블럭(132)의 일측면은 베이스블럭(131)에 장착되며, 러버지지블럭의 타측면에는 러버(133)가 부착된다. 러버지지블럭(132)은 러버(133)와 함께 필름패키지(134)를 지지한다.
필름패키지(134)는 필름으로 구성되어, 액정패널의 패드부(510, 520)에 형성된 패드들로 테스트신호를 인가하는 기능을 수행한다. 이를 위해 필름패키지(134)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 테스트신호를 발생시키는 구동부(141), 상기 구동부가(141) 부착되어 있는 필름(145), 상기 필름(145) 상에서 상기 구동부(141)에 형성된 핀(142)들과 연결되어 있는 연결라인(143)들 및 상기 필름(145)상에서 상기 연결라인(143)들 각각의 끝단에 형성되어 상기 액정패널(500)의 패드(530)들과 접촉되는 복수의 필름패드(144)를 포함한다.
우선, 필름(145)은 테이프 캐리어 패키지(TCP) 용으로 사용되는 필름이 적용될 수 있다.
다음, 구동부(141)는 액정표시장치에 장착되는 게이트 드라이브 IC 또는 데이터 드라이브 IC와 같은 기능을 수행하는 것으로서, 본 발명에 따른 오토프로브 유닛(100)이 게이트패드부(510)에 테스트신호를 인가시키기 위한 것일 때에는 게이트 드라이브 IC와 같은 형태로 구성되며, 본 발명에 따른 오토프로브 유닛(100)이 데이터패드부(520)에 테스트신호를 인가시키기 위한 것일 때에는 데이터 드라이브 IC와 같은 형태로 구성될 수 있다.
구동부(141)는 상기한 바와 같이, 콘트롤박스의 제어에 따라 구동되어, 테스트신호를, 연결라인(143) 및 필름패드(144)를 통해, 게이트패드부(510) 또는 데이터패드부(520)에 형성되어 있는 패드(530)들로 공급한다.
다음, 필름패드(144)는 패드부(510, 520)에 형성되어 있는 패드(530)들과 접촉되어 테스트 신호를 패드들로 인가시킨다. 이를 위해 필름패드(144)는 연결라인(143)의 끝단에 형성되어 있으며, 도전체로 형성되어 있다.
필름패드(144)는 각 필름패드들 간의 간격을 넓히기 위해 도 6에 도시된 바와 같이 지그재그 형태로 형성될 수 있다.
필름패드(144)에는, 필름패드와 패드(530) 간의 전기적 접촉 성능을 향상시키기 위해, 도전체로 구성된 복수의 돌출부(146)들이 형성될 수 있다. 즉, 필름패드(144)와 패드(530)의 면이 완전히 접촉되지 않더라도, 필름패드(144)와 패드(530)가 일정 간격으로 인접되어 있다면, 필름패드(144)의 면으로부터 돌출되어 있는 돌출부(146)에 의해 필름패드(144)와 패드(530)는 전기적으로 연결될 수 있다.
연결라인(143)은 도전체로 형성되어 있으며, 구동부(141)와 필름패드(144)를 연결시키는 기능을 수행한다.
연결라인(143)은 도 6에 도시된 바와 같이, 구동부(141)의 각 핀(142)들과 1대1로 연결될 수도 있으며, 도 7에 도시된 바와 같이, 구동부(141)의 하나의 핀과 연결되어 있는 하나의 연결라인(143)이, 적어도 두 개 이상의 필름패드(144)들과 연결될 수도 있다. 특히, 하나의 연결라인(143)은 2의 배수에 해당되는 필름패드(144)들과 연결될 수 있다. 도 7에는 특히, 하나의 핀과 연결되어 있는 하나의 연결라인(143)이 두 개의 필름패드(144)와 연결되어 있는 필름패키지(134)가 도시되어 있다.
이 경우, 필름패드(144)들은 도 7 및 상기에서 설명된 바와 같이, 지그재그 형태로 필름상에 배치되어 있다. 각 필름패드들이 지그재그 형태로 필름(145) 상에 배치되어 있기 때문에, 각 필름패드들은 두 개의 그룹으로 나뉘어 나란하게 필름상에 배치되어 있다. 따라서, 하나의 연결라인(143)은 하나의 그룹 내에서 일렬로 배치되어 있는 복수의 필름패드들 중 인접되어 있는 적어도 두 개의 필름패드(144)들과 연결될 수 있다.
부연하여 설명하면, 도 7에서는 하나의 필름패드(144)를 사이에 두고 나란하게 인접되어 있는 두 개의 필름패드(144)가 하나의 연결라인(143)에 연결되어 있으나, 또 다른 예에서는, 하나의 그룹 내에서 나란하게 인접되어 있는 세 개의 필름 패드(144)들이 하나의 연결라인에 연결될 수도 있으며, 네 개 이상의 필름패드들도 하나의 연결라인에 연결될 수도 있다.
즉, 연결라인(144)들은, 구동부(141)에 형성된 핀(142)들 중 적어도 두 개 이상을 사이에 두고 상기 필름상에 형성될 수 있다.
상기한 바와 같은 본 발명을 정리하면 다음과 같다.
본 발명은 오토프로브 장치의 구동 중에 발생될 수 있는 공정 품질사고 및 고장을 저감시키기 위한 것으로서, 종래에 사용되던 핀대신, 필름(145)에 형성된 필름패드(144)를 이용하여, 테스트신호를 액정패널의 패드에 인가하고 있다.
즉, 본 발명은 종래의 오토프로브 장치의 헤드부에 형성되어 있던 핀을 제거하는 대신, 필름(145)에 구동부(141) 및 이와 연결된 필름패드(144)를 장착시켜, Drive-IC(구동부(141))가 직접 액정패널의 패드(530)에 연결되도록 하는 방법을 이용하고 있다.
또한, 본 발명은 인접된 필름패드(144)들을 형성하는 공정의 어려움과, 인접된 필름패드(144)들의 쇼트에 의해 예상치 못한 테스트신호가 필름패드로 인가되는 것을 방지하기 위하여, 두 개 이상의 필름패드(144)들을 하나의 연결라인(143)을 통해 연결시키고 있다.
한편, 두 개 이상의 필름패드(144)가 하나의 연결라인(143)을 통해 연결됨에 따라, 구동부(141)에서는 이러한 연결상태를 고려한 테스트신호를 생성한다.
예를 들어, 데이터 오토프로브 유닛(120)의 경우, 두 개 이상의 필름패드가 하나의 연결라인을 통해 연결되어, 서로 인접되어 있는 패드(530) 및 데이터라인으로 동일한 테스트신호가 인가되더라도 특별한 문제가 발생되지 않는다. 따라서, 데이터 오토프로브 유닛(120)에 장착된 구동부(141)의 경우에는 두 개 이상의 필름패드(144)가 하나의 연결라인에 연결되어 있더라도 구동방식이 특별히 변경될 필요는 없다.
한편, 게이트 오토프로브 유닛(110)의 경우, 두 개 이상의 필름패드가 하나의 연결라인을 통해 연결되어 있다면, 서로 인접되어 있는 패드(530) 및 게이트라인들로 동시에 스캔신호가 들어가기 때문에, 한 번의 스캔신호에 의해 두 개 이상의 게이트라인에서 영상이 출력될 수 있다. 따라서, 이러한 경우에는 전체 게이트라인의 숫자보다 작은 숫자를 갖는 스캔신호가 발생될 수 있도록, 데이터 오토프로브 유닛에 장착되는 구동부의 프로그램이 변경될 필요가 있다.
즉, 구동부(141)에서 테스트신호를 발생시키는 방법은 필름패드와 연결라인의 형태에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.  그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100 : 오토프로브 유닛 200 : 지지바
300 : 지지프레임 110 : 게이트 오토프로브 유닛
120 : 데이터 오토프로브 유닛 130 : 헤드부
140 : 본체부 131: 베이스 블럭
132 : 러버지지블럭 133 : 러버
134 : 필름패키지 135 : 커버
141 : 구동부 142 : 핀

Claims (10)

  1. 필름 타입의 필름패키지를 통해 액정패널에 형성된 패드들로 테스트신호를 인가하기 위한 헤드부; 및
    상기 헤드부를 지지하기 위한 본체부를 포함하고,
    상기 헤드부는 상기 본체부에 탈부착되도록 형성된 베이스, 및 상기 필름패키지를 포함하며,
    상기 베이스는 상기 본체부에 탈부착되는 베이스블럭, 상기 베이스블럭에 부착되는 러버지지블럭, 및 상기 필름패키지와 상기 러버지지블럭 사이에 삽입되어 상기 필름패키지를 보호하는 러버를 포함하고,
    상기 필름패키지는 상기 테스트신호를 발생시키는 구동부, 상기 구동부가 부착되어 있는 필름, 상기 필름 상에서 상기 구동부에 형성된 핀들과 연결되어 있는 연결라인들, 및 상기 필름상에서 상기 연결라인들 각각의 끝단에 형성되어 상기 패드들과 접촉되는 복수의 필름패드를 포함하며,
    상기 구동부의 하나의 핀과 연결되어 있는 상기 하나의 연결라인은, 적어도 두 개 이상의 필름패드들과 연결되어 있고,
    상기 두 개 이상의 필름패드들과 연결된 하나의 연결라인 사이에 배치된 핀들에는 상기 연결라인이 연결되지 않는 오토프로브 유닛.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 필름패드에는 복수의 돌출부가 형성되어 있는 오토프로브 유닛.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 필름패드들은 상기 필름 상에서 지그재그 형태로 배열되어 있는 오토프로브 유닛.
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 연결라인들은, 상기 구동부에 형성된 핀들 중 적어도 두 개 이상을 사이에 두고 상기 필름상에 형성되어 있는 오토프로브 유닛.
  8. 삭제
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 필름패키지를 사이에 두고 상기 베이스에 장착되어 상기 필름패키지를 보호하는 커버를 더 포함하는 오토프로브 유닛.
  10. 제 1 항, 제 4 항, 제 5 항, 제 7 항, 및 제 9 항 중 어느 한 항에 기재되어 있는 상기 오토프로브 유닛;
    상기 오토프로브 유닛을 지지하기 위한 지지바; 및
    상기 지지바와 액정패널을 지지하기 위한 지지프레임을 포함하는 오토프로브 장치.
KR1020120070924A 2012-06-29 2012-06-29 오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치 KR101964884B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120070924A KR101964884B1 (ko) 2012-06-29 2012-06-29 오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120070924A KR101964884B1 (ko) 2012-06-29 2012-06-29 오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140004284A KR20140004284A (ko) 2014-01-13
KR101964884B1 true KR101964884B1 (ko) 2019-04-02

Family

ID=50140298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120070924A KR101964884B1 (ko) 2012-06-29 2012-06-29 오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101964884B1 (ko)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100720378B1 (ko) * 2005-04-13 2007-05-22 주식회사 코디에스 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트
KR20100096546A (ko) * 2009-02-24 2010-09-02 엘지디스플레이 주식회사 액정패널 검사장치 및 검사방법
KR101063186B1 (ko) * 2010-01-22 2011-09-07 주식회사 코디에스 극 미세피치를 갖는 프로브유닛
KR101152181B1 (ko) * 2010-05-06 2012-06-15 주식회사디아이 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 및 프로브 유닛

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140004284A (ko) 2014-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101166585B1 (ko) 정전기 방지를 위한 에이징패드를 구비한 평판표시소자
US7633469B2 (en) Electro-optical device substrate, electro-optical device, and testing method
KR20020058791A (ko) 액정표시소자의 검사장치
KR101171178B1 (ko) 커팅 패턴이 형성된 가요성 인쇄회로기판용 원판 및 이를커팅한 가요성 인쇄회로기판을 구비한 평판표시장치
TWI405989B (zh) 液晶顯示裝置之自動驗證設備及方法
KR100640208B1 (ko) 액정표시패널의 검사용 범프 구조
CN112289784A (zh) 具有led封装的显示模块及其制造方法
KR20060133836A (ko) 스위칭 소자와 연결되는 테스트 라인을 구비하는액정표시장치
JP2007292750A (ja) 表示パネルの検査装置及び検査方法
KR20100096546A (ko) 액정패널 검사장치 및 검사방법
JP2006276368A (ja) アレイ基板とその検査方法
KR20110032328A (ko) 액정표시장치
KR101964884B1 (ko) 오토프로브 유닛 및 그를 이용한 오토프로브 장치
KR101746860B1 (ko) 액정표시장치 및 그의 검사방법
KR101354317B1 (ko) 정전기 방지 구조를 구비한 표시장치
KR101621560B1 (ko) 액정표시장치 테스트 패턴
US8373838B2 (en) Display apparatus
KR101152491B1 (ko) 액정표시소자
KR101350155B1 (ko) 표시 패널 검사용 소켓
KR101020625B1 (ko) 필름타입 프로브유닛 및 그의 제조방법
KR100966285B1 (ko) 프로브 유닛 블록 및 이의 조립방법
KR102023926B1 (ko) 평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치
KR101192102B1 (ko) 오토 프루브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법
KR20050003519A (ko) 액정표시장치 검사용 프루브 장치 및 그 제조방법
KR101350154B1 (ko) 표시 패널 검사용 소켓 및 표시 패널 검사용 소켓 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant