KR101955455B1 - 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조 - Google Patents

전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조 Download PDF

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Abstract

전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조가 제공된다. 이 접지 구조는 전자파 챔버 내에서, 상기 전자파 챔버의 바닥면에 서로 평행하게 구비된 복수의 접지 선로들, 상기 전자파 챔버의 상기 바닥면에 놓이는 전자파 적합성 시험 테이블, 및 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상판과 상기 복수의 접지 선로들 중 적어도 하나를 전기적으로 연결하는 적어도 하나의 접지 선을 포함하여, 상기 전자파 적합성 시험 테이블을 이동하여도 상기 접지선이 상기 복수의 접지선로들 중 적어도 하나와 연결되기만 하면 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상판에 전기가 연결되므로 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 이동 편의성이 향상된다.

Description

전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조{Ground Structure of Electromagnetic Compatibility Testing Table}
본 발명은 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조에 관한 것으로, 더 구체적으로 전자파 챔버 내에 설치되는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조에 관한 것이다.
위성 및 항공 시스템(system) 등을 구성하고 있는 전자기기들은 시스템 요구 조건에 준하는 전자파 적합성(ElectroMagnetic Compatibility : EMC)을 검증받게 된다. 여기서, 전자파 적합성은 주위의 환경 및 기기에 대해 전자기 장애를 일으키지 않고, 주위의 전자기 환경 속에서 정상적인 기능을 수행할 수 있는 장치의 능력을 말한다.
이러한 전자파 적합성의 평가는 전자파 무반사실에서 수행될 수 있으며, 전자기기들은 표준 규격에서 정의하고 있는 접지 테이블(ground table) 위에 놓인다. 접지 테이블은 도전성 평면으로서, 이러한 접지 테이블에는 전자기기들이 전기 전도적으로 접속될 수 있다.
전자파 챔버(chamber) 내에서 접지 테이블은 전자파 챔버의 바닥에 반드시 접지되어야 한다. 종래에는 접지 테이블을 이동하기 위해서는 전자파 챔버의 바닥면에 새로운 접지 홀들이 형성되어야 했다. 즉, 전자파 적합성 시험을 하기 위한 전자기기의 형상에 따라 접지 테이블에 대한 이동이 필요할 때, 접지 테이블에 대한 접지가 새롭게 구성되어야 하기 때문에, 불편함이 매우 많았다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 전자파 챔버의 바닥면에 접지 홀을 형성하지 않을 수 있는 동시에 전자파 적합성 시험 테이블의 이동 편의성을 극대화할 수 있는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조를 제공하는 데 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에 언급한 과제들에 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 전자파 챔버 내에서 상기 전자파 챔버의 바닥면에 서로 평행하게 구비된 복수의 접지 선로들, 상기 전자파 챔버의 상기 바닥면에 놓이는 전자파 적합성 시험 테이블, 및 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상판과 상기 복수의 접지 선로들 중 적어도 하나를 전기적으로 연결하는 적어도 하나의 접지 선을 포함하여, 상기 전자파 적합성 시험 테이블을 이동하여도 상기 접지선이 상기 복수의 접지선로들 중 적어도 하나와 연결되기만 하면 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상판에 전기가 연결되므로 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 이동 편의성이 향상되는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조를 제공한다.
접지 선로들은 일부 표면이 전자파 챔버의 바닥면으로 노출된 형태이거나, 또는 일부 표면이 전자파 챔버의 바닥면과 접촉된 형태일 수 있다.
복수의 접지 선로들 사이의 이격 거리는 전자파 적합성 시험 테이블의 상판의 너비 및 폭에 의해 결정될 수 있다.
접지 선로들과 접지 선은 나사 방식에 의해 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 접지 선로들은 탭에 의해 일정 간격으로 서로 이격되도록 형성된 복수의 접지 홀들을 가질 수 있다.
접지 선의 개수는 시험하고자 하는 전자기기에 요구되는 접지 저항값에 의해 결정될 수 있다.
전자파 적합성 시험 테이블의 상판은 도전성 물질을 포함할 수 있다.
전자파 적합성 시험 테이블의 상판이 절연성 물질이면, 상판 상에 구비되는 도전성 판이 더 포함될 수 있고, 그리고 접지 선은 도전성 판과 복수의 접지 선로들 중 적어도 하나를 전기적으로 연결할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 과제의 해결 수단에 따르면 전자파 적합성 시험 테이블이 전자파 챔버의 바닥면에 구비된 접지 선로와 접지 선을 통해 접지됨으로써, 전자파 적합성 시험 테이블의 이동이 가능할 수 있다. 이에 따라, 전자파 챔버의 바닥면에 접지 홀을 형성하지 않을 수 있는 동시에 전자파 적합성 시험 테이블의 이동 편의성을 극대화할 수 있는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조가 제공될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조를 설명하기 위한 입체도이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술 되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 따라서, 동일한 참조 부호 또는 유사한 참조 부호들은 해당 도면에서 언급 또는 설명되지 않았더라도, 다른 도면을 참조하여 설명될 수 있다. 또한, 참조 부호가 표시되지 않았더라도, 다른 도면들을 참조하여 설명될 수 있다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 또한, 바람직한 실시예에 따른 것이기 때문에, 설명의 순서에 따라 제시되는 참조 부호는 그 순서에 반드시 한정되지는 않는다. 이에 더하여, 본 명세서에서, 어떤 막이 다른 막 또는 기판 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 막 또는 기판 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 막이 개재될 수도 있다는 것을 의미한다.
하나의 구성 요소(element)가 다른 구성 요소와 '접속된(connected to)' 또는 '결합한(coupled to)'이라고 지칭되는 것은, 다른 구성 요소와 직접적으로 연결된 또는 결합한 경우, 또는 중간에 다른 구성 요소를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 하나의 구성 요소가 다른 구성 요소와 '직접적으로 접속된(directly connected to)' 또는 '직접적으로 결합한(directly coupled to)'으로 지칭되는 것은 중간에 다른 구성 요소를 개재하지 않은 것을 나타낸다. '및/또는'은 언급된 아이템(item)들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.
공간적으로 상대적인 용어인 '아래(below)', '밑(beneath)', '하부(lower)', '위(above)', '상부(upper)' 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 장치 또는 구성 요소들과 다른 장치 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 장치의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 장치를 뒤집을 경우, 다른 장치의 '아래(below)' 또는 '밑(beneath)'으로 기술된 장치는 다른 장치의 '위(above)'에 놓일 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 '아래'는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 장치는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.
또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 평면도들을 참고하여 설명될 것이다. 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 예를 들면, 직각으로 도시된 식각 영역은 라운드지거나(rounded) 소정 곡률을 가지는 형태일 수 있다. 따라서, 도면에서 예시된 영역들은 개략적인 속성을 가지며, 도면에서 예시된 영역들의 모양은 장치의 영역의 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조를 설명하기 위한 입체도이다.
도 1을 참조하면, 전자파 적합성 시험 테이블(110)의 접지 구조는 전자파 챔버 내에서, 전자파 챔버의 바닥면(100)에 서로 평행하게 구비된 복수의 접지 선로(ground rail)들(120), 전자파 챔버의 바닥면에 놓이는 전자파 적합성 시험 테이블(110) 및 전자파 적합성 시험 테이블(110)의 상판과 복수의 접지 선로들(120) 중 적어도 하나를 전기적으로 연결하는 적어도 하나의 접지 선(130)을 포함할 수 있다.
복수의 접지 선로들(120)은 도전성 물질을 포함할 수 있다. 접지 선로(120)는 일부 표면이 전자파 챔버의 바닥면(100)으로 노출된 형태이거나, 또는 일부 표면이 전자파 챔버의 바닥면(100)과 접촉된 형태일 수 있다. 복수의 접지 선로들(120) 사이의 이격 거리는 전자파 적합성 시험 테이블(110)의 상판의 너비 및 폭에 의해 결정될 수 있다. 접지 선로(120)와 접지 선(130)은 나사 방식에 의해 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 접지 선로(120)는 암나사 구멍을 만드는 탭(tab)에 의해 일정 간격으로 서로 이격되도록 형성된 복수의 접지 홀들을 가질 수 있다. 즉, 도시된 것과 같이, 접지 선로(120)와 접지 선(130)은 접지 홀을 채우는 볼트(bolt)(140)에 의해 서로 전기적으로 연결될 수 있다.
접지 선(130)은 도전성 물질을 포함할 수 있다. 접지 선(130)의 개수는 시험하고자 하는 전자기기에 요구되는 접지 저항값에 의해 결정될 수 있다.
전자파 적합성 시험 테이블(110)의 상판은 도전성 물질을 포함할 수 있다. 이와는 달리, 전자파 적합성 시험 테이블(100)의 상판이 나무, 돌 또는 플라스틱(plastic) 등과 같은 절연성 물질이면, 상판 상에 구비되는 도전성 판(미도시)이 더 포함될 수 있고, 그리고 접지 선(130)은 도전성 판과 복수의 접지 선로들(120) 중 적어도 하나를 전기적으로 연결할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조는 전자파 적합성 시험 테이블이 전자파 챔버의 바닥면에 구비된 접지 선로와 접지 선을 통해 접지됨으로써, 전자파 적합성 시험 테이블의 이동이 가능할 수 있다. 이에 따라, 전자파 챔버의 바닥면에 접지 홀을 형성하지 않을 수 있는 동시에 전자파 적합성 시험 테이블의 이동 편의성을 극대화할 수 있는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조가 제공될 수 있다.
이상, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들에는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
100 : 전자파 챔버의 바닥면
110 : 전자파 적합성 시험 테이블
120 : 접지 선로
130 : 접지 선
140 : 볼트

Claims (8)

  1. 전자파 챔버 내에서,
    상기 전자파 챔버의 바닥면에 서로 평행하게 구비된 복수의 접지 선로들;
    상기 전자파 챔버의 상기 바닥면에 놓이는 전자파 적합성 시험 테이블; 및
    상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상판과 상기 복수의 접지 선로들 중 적어도 하나를 전기적으로 연결하는 적어도 하나의 접지 선;을 포함하여,
    상기 전자파 적합성 시험 테이블을 이동하여도 상기 접지선이 상기 복수의 접지선로들 중 적어도 하나와 연결되기만 하면 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상판에 전기가 연결되므로 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 이동 편의성이 향상되는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 접지 선로들은 일부 표면이 상기 바닥면으로 노출된 형태이거나, 또는 상기 일부 표면이 상기 바닥면과 접촉된 형태인 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 접지 선로들 사이의 이격 거리는 상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상기 상판의 너비 및 폭에 의해 결정되는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 접지 선로들과 상기 접지 선은 나사 방식에 의해 서로 전기적으로 연결되는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 접지 선로들은 탭에 의해 일정 간격으로 서로 이격되도록 형성된 복수의 접지 홀들을 갖는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 접지 선의 개수는 시험하고자 하는 전자기기에 요구되는 접지 저항값에 의해 결정되는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상기 상판은 도전성 물질을 포함하는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 전자파 적합성 시험 테이블의 상기 상판이 절연성 물질이면, 상기 상판 상에 구비되는 도전성 판을 더 포함하고, 그리고
    상기 접지 선은 상기 도전성 판과 상기 복수의 접지 선로들 중 적어도 하나를 전기적으로 연결하는 전자파 적합성 시험 테이블의 접지 구조.
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