KR101715227B1 - Socket for Testing Solid State Drive - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 SSD 테스트용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 SSD의 사이즈에 상관없이 단일 규격의 가이드 모듈이 설치된 SSD 테스트용 소켓에 결합 설치할 수 있게 됨으로써, SSD 검사 작업의 효율성 및 경제성이 증대될 뿐만 아니라, SSD의 테스트용 소켓에의 결합 설치 작업의 작업 효율성이 증대되도록 하는 SSD 테스트용 소켓에 관한 것이다. The present invention relates to a socket for testing an SSD, and more particularly, to a socket for testing an SSD having a guide module of a single size irrespective of the size of the SSD, And more particularly, to an SSD test socket that increases the work efficiency of a joint installation work to an SSD test socket.
종래의 데이터 저장 장치로서 일반적으로 사용되는 HDD(Hard Disk Drive)는, 자기 디스크를 회전시키면서 자기 디스크에 데이터를 쓰거나 자기 디스크에 저장된 데이터를 읽도록 구성되어 있으며, 느린 부팅 속도, 높은 소비 전력, 내구성, 중량 등에 단점들이 있었다.A hard disk drive (HDD) generally used as a conventional data storage device is configured to write data to a magnetic disk or read data stored in a magnetic disk while rotating the magnetic disk, and has a slow boot speed, high power consumption, , And weight.
이러한 종래의 HDD의 단점을 해결하기 위해, 최근에는 반도체 기술의 발전에 따라 플래시 메모리(Flash memory)와 같은 비휘발성 메모리를 사용하는 SSD(Solid State Drive)가 차세대 데이터 저장 장치로서 주목을 받고 있다.In order to solve the drawbacks of the conventional HDD, SSD (Solid State Drive) using a nonvolatile memory such as a flash memory has recently been attracting attention as a next generation data storage device due to the development of semiconductor technology.
이러한 SSD는 종래의 HDD에서 사용되던 모터와 기계적 구동장치를 없앤 비휘발성 메모리 기반의 데이터 저장 장치로서, 기계적 구동 장치가 없는 솔리드 상태의 드라이브이기 때문에, 시크 타임(Seek Time), 지연시간(Latency), 기타 기계적 구동 시간을 줄임으로써 고속의 읽기/쓰기 속도가 가능하고, 기계적 마찰로 인한 오류를 줄여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다. 또한, 데이터 작동시에 열과 소음이 거의 발생하지 않고, 특히 외부의 충격에 강하여 컴퓨터에 매우 적합한 데이터 저장 장치로 평가되고 있다.This SSD is a nonvolatile memory-based data storage device which is used in a conventional HDD without a motor and a mechanical drive device. Since it is a solid state drive without a mechanical drive device, a seek time, a latency, , And other mechanical driving time can be reduced, thereby enabling high-speed read / write speeds, and reliability can be improved by reducing errors due to mechanical friction. In addition, it is evaluated as a data storage device which is very suitable for a computer because it hardly generates heat and noise during data operation, and is particularly resistant to external impacts.
이러한 SDD는 제조된 후 그 전기적 특성을 테스트하게 되는데, 이러한 SSD의 전기적 특성 테스트를 위해서는 SSD와 테스트 보드 사이의 전기적 접속이 안정적으로 이루어져야 하며, 이를 위해 SSD 테스트용 소켓이 사용된다.After the SDD is manufactured, its electrical characteristics are tested. In order to test the electrical characteristics of the SSD, the electrical connection between the SSD and the test board must be stable. For this purpose, an SSD test socket is used.
한편, 종래 기술에 따른 SSD 테스트용 소켓은 SSD의 상단에 구비된 접속 단자를 커넥터에 결합한 상태에서 SSD의 하단을 스크류 등의 고정 수단을 이용하여 베이스 기판에 고정시키는 구조를 구비하고 있었다.Meanwhile, the SSD test socket according to the related art has a structure in which the lower end of the SSD is fixed to the base board using fixing means such as screws in a state where the connection terminal provided at the upper end of the SSD is coupled to the connector.
이와 같이, 종래 기술에 따른 SSD 테스트용 소켓은 검사 대상 SSD의 사이즈에 따른 호환성이 보장되지 못하여, SSD의 개별 사이즈에 따른 별도의 SSD 테스트용 소켓이 요구됨으로써, 검사 작업의 비효율성 및 비경제성이 초래된다는 기술적 한계가 있었다.As described above, the SSD test socket according to the related art does not guarantee compatibility with the size of the SSD to be inspected, and a separate SSD test socket corresponding to the individual size of the SSD is required, There were technical limitations that would result.
따라서, 본 발명의 목적은, SSD의 사이즈에 상관없이 단일 규격의 가이드 모듈이 설치된 SSD 테스트용 소켓에 결합 설치할 수 있게 됨으로써, SSD 검사 작업의 효율성 및 경제성이 증대될 뿐만 아니라, SSD의 테스트용 소켓에의 결합 설치 작업의 작업 효율성이 증대되도록 하는 SSD 테스트용 소켓을 제공함에 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide an SSD test socket capable of being installed in a SSD test socket having a guide module of a single standard irrespective of the size of the SSD, thereby improving the efficiency and economical efficiency of SSD inspection work, In which the work efficiency of the coupling installation work to the SSD test socket is increased.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 SSD 테스트용 소켓은, SSD(20)의 접속 단자(22)가 결합되는 커넥터가 구비되며, 상기 커넥터와 인접하여 형성된 개방구(150)를 구비하는 베이스 기판(100); 및 상기 개방구(150)에 설치되며, 상기 SSD(20)의 상기 커넥터로의 결합을 유도하는 가이드 모듈(200)을 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a socket for testing an SSD, the socket including a connector to which a connection terminal of the SSD is coupled, (100); And a
바람직하게는, 상기 개방구(150)는 상기 베이스 기판(100)의 단부까지 확장되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the opening 150 is extended to the end of the
또한, 상기 가이드 모듈(200)은, 상기 SSD(20)의 측면이 삽입되는 가이드 레일(215)이 일면에 각각 형성된 한 쌍의 가이드 바(210)를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the
또한, 상기 가이드 모듈(200)은, 상기 한 쌍의 가이드 바(210)를 상부 및 하부에서 수평 방향으로 각각 연결하는 한 쌍의 연결대(230)를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The
또한, 상기 가이드 모듈(200)에는 상기 한 쌍의 가이드 바(210), 및 상기 한 쌍의 연결대(230)를 외곽 프레임으로 하는 창(235)이 형성되는 것을 특징으로 한다.The
또한, 상기 창(235)을 통해 상기 SSD(20)의 후면부가 노출되는 것을 특징으로 한다.Also, the rear surface of the SSD 20 is exposed through the
또한, 상기 개방구(150)를 통해 상기 SSD(20)의 후면부가 노출되는 것을 특징으로 한다.Further, the rear portion of the
또한, 상기 가이드 바(210)의 하부면에는 상기 베이스 기판(100)의 상면에 형성된 고정홀에 삽입되는 고정 돌기(211)가 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.A
또한, 상기 가이드 바(210)의 하부면에는 상기 베이스 기판(100)을 하부로부터 관통하는 나사가 삽입되는 나사홀(213)이 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.In addition, a
또한, 상기 가이드 바(210)에는, 상기 가이드 모듈(200)을 통해 상기 커넥터에 결합되려고 하는 상기 SSD(20)가 상기 가이드 레일(215)을 통한 슬라이딩 이동을 대기하기 위해 거치되는 거치면(217)이 구비되는 것을 특징으로 한다.The
또한, 상기 거치면(217)은 상기 가이드 레일(215)의 하부면과 연속적으로 형성된 면인 것을 특징으로 한다.The
또한, 상기 가이드 바(210)에는, 상기 가이드 모듈(200)을 통해 상기 커넥터에 결합되려고 하는 상기 SSD(20)의 진입을 유도하는 절곡면(214)이 구비되는 것을 특징으로 한다.The
본 발명에 따르면, SSD의 사이즈에 상관없이 단일 규격의 가이드 모듈이 설치된 SSD 테스트용 소켓에 결합 설치할 수 있게 됨으로써, SSD 검사 작업의 효율성 및 경제성이 증대된다.According to the present invention, it is possible to attach the guide module to a SSD test socket provided with a guide module of a single standard irrespective of the size of the SSD, thereby increasing the efficiency and economical efficiency of the SSD inspection operation.
아울러, 본 발명에 따르면, SSD의 테스트용 소켓에의 결합 설치 작업의 작업 효율성이 증대된다.In addition, according to the present invention, the work efficiency of the joint installation work of the SSD in the test socket is increased.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스트용 소켓에의 SSD의 결합 과정을 나타내는 도면,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스트용 소켓에 설치되는 가이드 모듈의 구조를 나타내는 사시도, 및
도 4는 도 3에서의 가이드 모듈을 앞에서 바라본 형상을 나타낸 정면도이고, 도 5는 도 3에서의 가이드 모듈을 위에서 바라본 형상을 나타낸 평면도이다. FIG. 1 and FIG. 2 are views showing a process of bonding an SSD to a socket for testing an SSD according to an embodiment of the present invention;
3 is a perspective view illustrating the structure of a guide module installed in a socket for testing an SSD according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 4 is a front view of the guide module of FIG. 3, and FIG. 5 is a plan view of the guide module of FIG. 3 viewed from above.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다. 도면들 중 동일한 구성요소들은 가능한 한 어느 곳에서든지 동일한 부호들로 나타내고 있음에 유의해야 한다. 또한 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. It is to be noted that the same elements among the drawings are denoted by the same reference numerals whenever possible. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스트용 소켓에의 SSD의 결합 과정을 나타내는 도면이다.FIG. 1 and FIG. 2 are views showing a process of bonding an SSD to a socket for testing an SSD according to an embodiment of the present invention.
도 1에서와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스트용 소켓은 베이스 기판(100)과 가이드 모듈(200)을 포함한다.1, the SSD test socket according to an embodiment of the present invention includes a
한편, 베이스 기판(100)에는 SSD(20)의 접속 단자(22)가 결합되는 제1 커넥터(110)와, SSD 테스트 장치와 연결되는 제2 커넥터(120)가 각각 설치되어 있으며, 제1 커넥터(110)와 인접하여 형성된 개방구(150)가 구비되어 있다.A
도 1에서와 같이 개방구(150)는 베이스 기판(100)의 단부까지 확장되도록 형성되어 있으며, SSD(20)는 베이스 기판(100)의 단부로부터 진입되어 개방구(150)를 따라 이동된 다음, 도 2에서와 같이 개방구(150)에 인접 설치되어 있는 제1 커넥터(110)에 결합된다.1, the opening 150 is formed to extend to the end of the
즉, 도 1에서의 베이스 기판(100)의 좌측단으로부터 개방구(150)가 형성되며, 개방구(150)는 제1 커넥터(110)에 인접한 위치까지 연장 형성되어 있으며, 개방구(150)에는 SSD(20)의 제1 커넥터(110)로의 결합을 유도하는 가이드 모듈(200)이 고정 설치되어 있다.1, an opening 150 is formed from the left end of the
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스트용 소켓에 설치되는 가이드 모듈(200)의 구조를 나타내는 사시도이다. 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스트용 소켓에 설치되는 가이드 모듈(200)은 한 쌍의 가이드 바(210), 및 한 쌍의 연결대(230)를 포함한다.3 is a perspective view showing a structure of a
도 1 및 도 3에서와 같이 한 쌍의 가이드 바(210)는 개방구(150)의 상측 단부와 하측 단부에 서로 마주 보며 각각 고정 설치되며, SSD(20)의 측면이 삽입 및 슬라이딩 이동되는 가이드 레일(215)이, 타측의 가이드 바(210)와 대향되는 대향면(내부면)에 각각 형성되어 있다.As shown in FIGS. 1 and 3, the pair of
아울러, 도 3에서와 같이 서로 마주보도록 형성된 한 쌍의 가이드 바(210)는 한 쌍의 연결대(230)에 의해 상부 및 하부가 각각 연결된다. 3, the upper and
본 발명을 실시함에 있어서는, 한 쌍의 가이드 바(210) 및 한 쌍의 연결대(230)는 일체로서 제작됨이 바람직할 것이며, 도 3에서와 같이 가이드 모듈(200)에는 한 쌍의 가이드 바(210) 및 한 쌍의 연결대(230)를 외곽 프레임으로 하는 창(235)이 형성된다.In the present invention, it is preferable that the pair of
즉, 본 발명에서는 가이드 모듈(200)의 하부에 창(235)을 형성하여 둠으로써, 도 2에서와 같이 테스트를 위해 SSD(20)가 제1 커넥터(110)에 결합된 상태에서도 SSD(20)의 후면부가 창(235)을 통해 노출되게 되며, 검사자는 SSD(20)의 후면부에 실장된 부품들을 창(235)을 통해 검사 및 관리할 수 있게 된다.That is, in the present invention, since the
뿐만 아니라, 도 2에서와 같이 본 발명을 실시함에 있어서는, 베이스 기판(100)에 구비된 개방구(150)의 일 부분에만 가이드 모듈(200)이 설치되도록 함이 바람직할 것이며, 그에 따라 가이드 모듈(200)이 설치되지 않은 개방구(150)를 통해 SSD(20)의 후면부가 노출됨으로써, 검사자는 가이드 모듈(200)이 설치되지 않은 개방구(150)를 통해 SSD(20)의 후면부에 실장된 부품들을 추가적으로 검사 및 관리할 수 있게 된다.2, it is preferable that the
한편, 도 3에서와 같이 가이드 바(210)의 하부에는 가이드 바(210)를 연결대(230)로부터 상향으로 이격시키는 이격대(219)를 구비함으로써, 가이드 레일(215)에 삽입된 SSD(20)의 후면부가 연결대(230)의 상면에 접촉되지 않도록 함이 바람직할 것이다.3, the
도 4는 도 3에서의 가이드 모듈(200)을 앞에서 바라본 형상을 나타낸 정면도이고, 도 5는 도 3에서의 가이드 모듈(200)을 위에서 바라본 형상을 나타낸 평면도이다. FIG. 4 is a front view of the
도 4 및 도 5에서와 같이 가이드 바(210)의 하부면에는 베이스 기판(100)의 상면에 형성된 고정홀에 삽입됨으로써 가이드 바(210)의 베이스 기판(100) 상에서의 위치를 고정시키는 고정 돌기(211)가 형성되어 있다. 4 and 5, the
즉, 가이드 모듈(200)을 베이스 기판(100)에 설치함에 있어서, 작업자는 먼저 가이드 바(210)의 하부면에 돌출 형성된 고정 돌기(211)를 베이스 기판(100)의 개방구(150)의 상부 및 하부에 형성된 고정홀에 끼움으로써, 베이스 기판(100) 상에서의 가이드 모듈(200)의 설치 위치를 결정한다.That is, when the
그 다음, 작업자는 도 5에서와 같이 가이드 바(210)의 하부면에 형성되어 있는 나사홀(213)에 베이스 기판(100)의 하부로부터 관통하는 나사를 삽입 체결함으로써 가이드 모듈(200)을 베이스 기판(100)에 고정 설치한다.5, the operator inserts the screw threaded through the bottom of the
아울러, 본 발명을 실시함에 있어서는, 도 5에서와 같이 가이드 바(210)의 하부면에 삽입된 나사가 가이드 바(210)의 상부면으로 노출 또는 돌출되지 않도록 가이드 바(210)의 하부면에 형성된 나사홀(213)이 상부면까지 관통되지 않도록 함이 바람직할 것이다.5, the screw inserted into the lower surface of the
구체적으로, 이와 같이 가이드 바(210)의 상부면은 돌출부가 없는 평탄면을 형성하게 됨에 따라 SSD(20)가 결합된 상태에서의 SSD(20)의 테스트를 위해 가이드 바(210)의 상부면을 접촉한 상태에서 SSD 테스트용 소켓을 이동시키는 경우에, 가이드 바(210)의 상부면과의 접촉면에서의 손상을 최소화할 수 있게 된다.In order to test the
한편, 도 3 및 도 5에서와 같이 가이드 바(210)에는 가이드 모듈(200)을 통해 제1 커넥터(110)에 결합되려고 하는 SSD(20)가 가이드 레일(215)을 통한 슬라이딩 이동을 대기하기 위해 거치되는 거치면(217)을 구비하는 것이 바람직할 것이다.3 and 5, the
이와 같은 거치면(217)을 형성하기 위해 SSD(20)가 진입하는 가이드 모듈(200)의 입구부에서의 한 쌍의 가이드 바(210)의 상호 대향면(내부면)에는 도 3 및 도 5에서와 같이 한 쌍의 가이드 바(210)의 상호 이격 거리가 점차적으로 증가되도록 하는 수평 경사형 절곡면(214)과 절곡면(214)의 단부에서 가이드 바(210)와 평행하게 연장 형성된 확개면(216)이 구비되도록 함이 바람직할 것이다.3 and 5, a pair of
즉, 검사자는 도 3에서의 확개면(216)에 의해 SSD(20)의 폭보다 넓게 확보된 공간을 활용하여 거치면(217)에 SSD(20)의 단부를 거치한 다음, 가이드 모듈(200)의 후면에서 정면으로 방향(즉, SSD(20)의 진입 방향)으로 SSD(20)를 밀어 넣음으로써 SSD(20)의 측면이 가이드 레일(215)에 결합된 상태에서 SSD(20)가 가이드 레일(215)을 따라 도 1에서와 같이 슬라이딩 이동된 결과, 도 2에서와 같이 SSD(20)의 접속 단자(22)를 제1 커넥터(110)에 결합시킬 수 있게 된다.That is, the inspector can mount the end portion of the
이와 같이, 절곡면(214)은 가이드 모듈(200)의 입구부에서의 SSD(20)의 진입을 유도하는 기능을 수행하며, 상기와 같이 거치면(217)으로부터의 가이드 레일(215)로의 원활한 진입을 위해서 거치면(217)은 가이드 레일(215)의 하부면과 동일한 높이에서 연속적으로 형성된 면이 되도록 함이 바람직할 것이다.As described above, the
이와 같이 본 발명에 의하면, 도 2에서와 같이 검사자는 가이드 모듈(200)을 통해 SSD(20)를 테스트용 소켓에 손쉽게 효율적으로 결합 설치할 수 있게 될 뿐만 아니라, M.2 SSD와 같이 동일한 폭을 갖는 SSD(20)들은 길이 방향으로의 사이즈에 상관없이 단일 규격의 가이드 모듈(200)이 설치된 SSD 테스트용 소켓에 결합 설치할 수 있게 된다.2, the inspectors can easily and efficiently connect the
한편, 본 발명에 따른 SSD 테스트용 소켓을 이용하여 M.2 SSD를 사이즈와 상관없이 테스트할 수 있기 위해서는, 도 4에서의 한 쌍의 가이드 바(210)의 이격 거리는 약 21mm가 되고, 가이드 레일(215)의 세로 폭은 약 1mm가 되며, 가이드 레일(215)의 깊이는 약 0.6mm가 되며, 마주보는 한 쌍의 가이드 레일(215) 내부 벽면 사이의 거리는 약 22.2mm가 되도록 함이 바람직할 것이다.Meanwhile, in order to test the size of the M.2 SSD using the SSD test socket according to the present invention, the distance between the pair of guide bars 210 in FIG. 4 is about 21 mm, The depth of the guide rails 215 is about 1 mm, the depth of the guide rails 215 is about 0.6 mm, and the distance between the inner walls of the pair of
본 발명에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예 및 응용예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예 및 응용예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the present invention.
20: SSD, 22: 접속 단자,
100: 베이스 기판, 150: 개방구,
200: 가이드 모듈, 210: 가이드 바,
215: 가이드 레일, 230: 연결대.20: SSD, 22: connection terminal,
100: base substrate, 150: opening,
200: guide module, 210: guide bar,
215: guide rail, 230: connecting rod.
Claims (5)
상기 개방구(150)에 설치되며, 상기 SSD(20)의 상기 커넥터로의 결합을 유도하는 가이드 모듈(200)
을 포함하며,
상기 개방구(150)는 상기 베이스 기판(100)의 단부까지 확장되고
상기 가이드 모듈(200)은, 상기 SSD(20)의 측면이 삽입되는 가이드 레일(215)이 일면에 각각 형성된 한 쌍의 가이드 바(210)를 포함하며,
상기 베이스 기판(100)에 구비된 상기 개방구(150)의 일 부분에만 상기 가이드 모듈(200)이 설치됨에 따라, 상기 개방구(150)에서의 상기 가이드 모듈(200)이 설치되지 않은 부분을 통해 상기 SSD(20)의 후면부가 노출되고,
상기 가이드 바(210)의 하부면에는 상기 베이스 기판(100)의 상면에 형성된 고정홀에 삽입되는 고정 돌기(211)가 형성되어 있고,
상기 가이드 바(210)의 하부면에는 상기 베이스 기판(100)을 하부로부터 관통하는 나사가 삽입되는 나사홀(213)이 형성되며,
상기 가이드 바(210)에는, 상기 가이드 모듈(200)을 통해 상기 커넥터에 결합되려고 하는 상기 SSD(20)가 상기 가이드 레일(215)을 통한 슬라이딩 이동을 대기하기 위해 거치되는 거치면(217)이 구비되고,
상기 거치면(217)은 상기 가이드 레일(215)의 하부면과 연속적으로 형성되며,
상기 가이드 바(210)에는, 상기 가이드 모듈(200)을 통해 상기 커넥터에 결합되려고 하는 상기 SSD(20)의 진입을 유도하는 절곡면(214)이 구비되는 것인 SSD 테스트용 소켓.
A base board 100 having a connector to which a connection terminal 22 of the SSD 20 is coupled and having an opening 150 formed adjacent to the connector; And
A guide module 200 installed in the opening 150 for guiding the coupling of the SSD 20 to the connector,
/ RTI >
The opening 150 is extended to an end of the base substrate 100
The guide module 200 includes a pair of guide bars 210 formed on one side of a guide rail 215 into which the side of the SSD 20 is inserted,
The guide module 200 is installed only at a portion of the opening 150 provided in the base substrate 100 so that the portion of the opening 150 where the guide module 200 is not installed The back surface of the SSD 20 is exposed,
A fixing protrusion 211 inserted into a fixing hole formed on the upper surface of the base substrate 100 is formed on the lower surface of the guide bar 210,
A screw hole 213 is formed in a lower surface of the guide bar 210, into which a screw penetrating from the lower portion of the base substrate 100 is inserted.
The guide bar 210 is provided with a mounting surface 217 on which the SSD 20 to be coupled to the connector through the guide module 200 is mounted for waiting for the sliding movement of the SSD 20 through the guide rail 215 And,
The mounting surface 217 is continuously formed with the lower surface of the guide rail 215,
Wherein the guide bar (210) is provided with a bent surface (214) for guiding the entry of the SSD (20) to be coupled to the connector through the guide module (200).
상기 가이드 모듈(200)은,
상기 한 쌍의 가이드 바(210)를 상부 및 하부에서 수평 방향으로 각각 연결하는 한 쌍의 연결대(230)를 더 포함하는 것인 SSD 테스트용 소켓.
The method according to claim 1,
The guide module (200)
And a pair of connecting bars (230) connecting the pair of guide bars (210) in the horizontal direction at the top and bottom, respectively.
상기 가이드 모듈(200)에는 상기 한 쌍의 가이드 바(210), 및 상기 한 쌍의 연결대(230)를 외곽 프레임으로 하는 창(235)이 형성되는 것인 SSD 테스트용 소켓.
5. The method of claim 4,
Wherein the guide module (200) is formed with a window (235) having the pair of guide bars (210) and the pair of connecting rods (230) as an outer frame.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150153596A KR101715227B1 (en) | 2015-11-03 | 2015-11-03 | Socket for Testing Solid State Drive |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150153596A KR101715227B1 (en) | 2015-11-03 | 2015-11-03 | Socket for Testing Solid State Drive |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101715227B1 true KR101715227B1 (en) | 2017-03-10 |
Family
ID=58410814
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020150153596A KR101715227B1 (en) | 2015-11-03 | 2015-11-03 | Socket for Testing Solid State Drive |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101715227B1 (en) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180134457A (en) * | 2017-06-08 | 2018-12-19 | 주식회사 오킨스전자 | Test extend gender to test solid state disk |
KR101963115B1 (en) * | 2018-10-10 | 2019-04-01 | 주식회사 에스에프유 | Buffer Connecting Device for Testing DUT |
KR20190036076A (en) | 2017-09-27 | 2019-04-04 | (주) 제노맥스 | Usb apparatus for assign borad number of solid tester board of solid state drive and method thereof |
KR101987912B1 (en) * | 2018-07-30 | 2019-06-12 | 주식회사 마이크로컨텍솔루션 | Dummy gender |
KR200490761Y1 (en) * | 2019-01-16 | 2020-02-11 | 제이제이티솔루션 주식회사 | A docking assembly for SSD test equipment and SSD test equipment having the same |
US11132034B2 (en) | 2019-11-19 | 2021-09-28 | SK Hynix Inc. | Electronic device fastener |
KR102363837B1 (en) * | 2020-08-24 | 2022-02-16 | (주)아모스 | Socket for testing electronics |
US11540410B2 (en) | 2019-12-20 | 2022-12-27 | SK Hynix Inc. | Fastening system for single or multiple electronic device installations |
KR102548232B1 (en) * | 2023-03-16 | 2023-06-29 | (주)에이알텍 | Expansion Board Structure for Inspection |
KR20230161781A (en) | 2022-05-19 | 2023-11-28 | 주식회사 아이티엔티 | socket apparatus for SSD |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000173699A (en) * | 1998-12-07 | 2000-06-23 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | Socket for memory module |
US6796806B2 (en) * | 1999-02-22 | 2004-09-28 | Amphenol Corporation | Modular HSSDC plug connector and improved receptacle therefor |
KR100655735B1 (en) * | 2001-03-10 | 2006-12-12 | 삼성전자주식회사 | Bolt jointing type socket for testing module devices |
KR20090123246A (en) * | 2008-05-27 | 2009-12-02 | 에버테크노 주식회사 | Socket device for solid state disk |
-
2015
- 2015-11-03 KR KR1020150153596A patent/KR101715227B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000173699A (en) * | 1998-12-07 | 2000-06-23 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | Socket for memory module |
US6796806B2 (en) * | 1999-02-22 | 2004-09-28 | Amphenol Corporation | Modular HSSDC plug connector and improved receptacle therefor |
KR100655735B1 (en) * | 2001-03-10 | 2006-12-12 | 삼성전자주식회사 | Bolt jointing type socket for testing module devices |
KR20090123246A (en) * | 2008-05-27 | 2009-12-02 | 에버테크노 주식회사 | Socket device for solid state disk |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180134457A (en) * | 2017-06-08 | 2018-12-19 | 주식회사 오킨스전자 | Test extend gender to test solid state disk |
KR101954293B1 (en) | 2017-06-08 | 2019-03-06 | 주식회사 오킨스전자 | Test extend gender to test solid state disk |
KR20190036076A (en) | 2017-09-27 | 2019-04-04 | (주) 제노맥스 | Usb apparatus for assign borad number of solid tester board of solid state drive and method thereof |
KR101987912B1 (en) * | 2018-07-30 | 2019-06-12 | 주식회사 마이크로컨텍솔루션 | Dummy gender |
KR101963115B1 (en) * | 2018-10-10 | 2019-04-01 | 주식회사 에스에프유 | Buffer Connecting Device for Testing DUT |
KR200490761Y1 (en) * | 2019-01-16 | 2020-02-11 | 제이제이티솔루션 주식회사 | A docking assembly for SSD test equipment and SSD test equipment having the same |
US11132034B2 (en) | 2019-11-19 | 2021-09-28 | SK Hynix Inc. | Electronic device fastener |
US11540410B2 (en) | 2019-12-20 | 2022-12-27 | SK Hynix Inc. | Fastening system for single or multiple electronic device installations |
KR102363837B1 (en) * | 2020-08-24 | 2022-02-16 | (주)아모스 | Socket for testing electronics |
KR20230161781A (en) | 2022-05-19 | 2023-11-28 | 주식회사 아이티엔티 | socket apparatus for SSD |
KR102548232B1 (en) * | 2023-03-16 | 2023-06-29 | (주)에이알텍 | Expansion Board Structure for Inspection |
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