KR101413788B1 - Method and apparratus of malfunction detection of transformer - Google Patents

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KR101413788B1
KR101413788B1 KR1020120155401A KR20120155401A KR101413788B1 KR 101413788 B1 KR101413788 B1 KR 101413788B1 KR 1020120155401 A KR1020120155401 A KR 1020120155401A KR 20120155401 A KR20120155401 A KR 20120155401A KR 101413788 B1 KR101413788 B1 KR 101413788B1
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노재근
강효진
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주식회사 효성
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Abstract

Disclosed are a method and device for diagnosing the malfunction of a transformer. A method for determining whether a transformer is abnormal may include the following steps: performing a primary level pattern analysis and a secondary level pattern analysis on received data for determining whether the transformer is abnormal; performing Fourier transform on the analyzed data to calculate a size and a phasor in a frequency domain; calculating and comparing a level of voltage and an intensity of current using a root mean square (RMS) value for the data that has undergone the secondary level pattern analysis; and performing an impedance calculation on the basis of a result from the comparison. Therefore, a voltage/current electricity quantity that is the most important factor for impedance calculation is calculated as not only a size and a phasor in a frequency domain but also a root means square (RMS) value so that an abnormal state in the transformer can be more correctly diagnosed on the basis of a combination of various numerical values.

Description

변압기 이상 진단 방법 및 장치{METHOD AND APPARRATUS OF MALFUNCTION DETECTION OF TRANSFORMER}[0001] METHOD AND APPARATUS OF MALFUNCTION DETECTION OF TRANSFORMER [0002]
본 발명은 변압기에 관한 것으로 더욱 상세하게는 변압기 이상 진단 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a transformer, and more particularly, to a method and apparatus for fault diagnosis of a transformer.
변압기는 전자 유도 작용에 의하여 입력된 교류 전압을 동일주파수의 다른 전압으로 변환하여 전기에너지를 전달하는 장치이다. 이러한, 전력 에너지 공급 설비 중의 하나인 변압기는 가장 안정적인 설비인 반면에 고장 사고 발생시에는 광범위한 설비에 장시간 조업 중단이라는 커다란 사고를 일으켜 치명적인 물적 손실을 초래하게 된다. 또한 배전용 전압기는 주거 지역에 설치되어 있는 관계로 과열에 의한 폭발 시 인적 물적 자원에 대한 광범위한 피해가 발생할 수 있다.The transformer is a device for converting an alternating voltage inputted by an electromagnetic induction action into another voltage of the same frequency to transmit electrical energy. The transformer, which is one of the power energy supply facilities, is the most stable facility, but when a fault occurs, it causes a serious accident such as shutdown of operation for a long time in a wide range of facilities, resulting in catastrophic material loss. In addition, since the distribution voltage generator is installed in a residential area, it can cause extensive damage to human and material resources in case of explosion due to overheating.
변압기의 사고는 주로 변압기 내부 권선 절연물과 절연유의 열화에 의한 변압기 노화로 발생하게 되는데, 주로 30년 정도의 수명을 가진 변압기에서 이러한 노화 현상이 일어난다. 변압기의 열화가 일어나게 되는 주요 원인으로서는 급작스런 과부하, 번개와 스위칭 서지의 영향 등이 있는데 이러한 영향으로 발생하는 변압기 열화의 종류는 열 열화, 부분 방전 열화, 흡습 열화, 마모부식 열화 등이 있다. 이들 열화들은 변압기의 철심, 권선, 절연유, 리드선, 탭 전환기의 접촉면 등에서 발생하게 되며, 이상 가스의 발생, 절연유의 절연 내력 저하 및 절연 파괴, 접촉 저항 증가 등과 같은 고장 현상을 나타낸다.Transformer accidents are mainly caused by transformer aging caused by deterioration of insulator and insulating oil inside a transformer. Such aging occurs mainly in a transformer having a lifetime of about 30 years. There are sudden overload, lightning and switching surge, and the main causes of transformer deterioration are thermal degradation, partial discharge degradation, moisture absorption degradation, and wear and corrosion degradation. These deteriorations occur at the contact surfaces of iron cores, windings, insulating oil, lead wires, tap diverters, etc. of the transformer, and exhibit fault phenomena such as generation of abnormal gas, deterioration of dielectric strength of dielectric oil and dielectric breakdown,
이러한 변압기 사고에 의한 손실을 막기 위해 변압기 사고 발생 전에 변압기의 열화 상태를 판정하고 고장 원인을 분석하기 위해 현재까지 연구된 방법으로써 절연유 가스 분석법, 절연지 중합도 분석법, 변압기 진동 분석법, 및 중성점 전류 펄스 및 음향 분석법 등이 있다. 하지만 현재의 열화진단 기술들은 고가의 설치비, 시료 채취의 어려움, 외부 잡음에의 민감도, 장치구성의 복잡성, 낮은 신뢰도 등과 같은 문제점들이 있는 실정이다. 한편 기존 방식 중 신뢰도가 가장 높은 방식은 절연유 가스 분석법인데 고압 변압기들이 점차적으로 절연유 타입이 아닌 dry Air, 몰드 등의 타 절연물을 가지는 변압기로 대체되는 추세여서 이러한 변압기에는 사용될 수 없다.In order to prevent the loss caused by the transformer accident, the deterioration condition of the transformer before the occurrence of the transformer accident and to analyze the cause of the fault are analyzed as insulation gas analysis method, insulation paper polymerization method, transformer vibration analysis method, Analysis methods. However, current degradation diagnosis techniques have problems such as high installation cost, difficulty of sampling, sensitivity to external noise, complexity of apparatus configuration, and low reliability. On the other hand, the most reliable method among the existing methods is the insulating oil gas analysis method. Since the high voltage transformers are gradually replaced by the transformers having other insulators such as dry air and mold, not the insulating oil type, they can not be used for such transformers.
본 발명의 목적은 변압기 이상 진단 방법을 제공하는 것이다. It is an object of the present invention to provide a method of diagnosing a faulty transformer.
또한, 본 발명의 또 다른 목적은 변압기 이상 진단 방법을 수행하는 장치를 제공하는 것이다.It is still another object of the present invention to provide an apparatus for performing a method of diagnosing a faulty transformer.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 변압기의 이상 여부 판단 방법은 상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터를 입력받는 단계, 상기 데이터에 대한 1차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계, 상기 1차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대한 2차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계, 상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 푸리에 변환을 수행하여 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor)을 산출하고, 상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 RMS(root mean square) 값을 사용하여 전압 및 전류의 크기를 산출하여 비교하는 단계와 상기 비교 결과를 기초로 임피던스 연산을 수행하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터는, PT(potential transformer)의 2차 전압, CT(current transformer)의 2차 전류, SV 샘플(SV sample)일 수 있다. 상기 데이터에 대한 1차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계는 현재 데이터 샘플의 위치를 기초로 다음 샘플의 위치를 예측하는 단계, 측정된 샘플이 상기 예측된 다음 샘플과 다른 경우 상기 측정된 샘플을 리플 샘플로 감지하는 단계, 상기 리플 샘플로 감지된 샘플의 다음에 위치한 샘플을 기초로 상기 리플 샘플을 확인하는 단계, 상기 리플 샘플을 확정하고 상기 예측된 다음 샘플과 상기 측정된 샘플의 수치 및 기울기를 비교하여 일정 범위의 오차 이상이 발생시 플래그를 발생시키고 별도의 데이터 윈도우에 저장하는 단계와 PT(potential transformer)/CT(current transformer)의 오차로 의심될 경우 이전의 데이터를 백업하여 상기 리플 샘플을 처리하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 1차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대한 2차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계는 리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 대한 분석을 수행하는 단계와 상기 리플 샘플 및 상기 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 리플 샘플 및 상기 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하는 단계는 상기 리플 샘플의 이전 샘플 및 이후 샘플의 값을 기초로 생성된 영역의 크기를 저장한 후 산출된 영역의 크기 값을 외란 데이터에 반영하거나 상기 순시 과부하 데이터 샘플을 RMS(root means square) 방법을 사용하여 영역 연산을 수행하여 상기 순시 과부하 데이터로 반영하는 단계일 수 있다. 상기 변압기의 이상 여부 판단 방법은 상기 비교 결과를 기초로 상기 변압기의 내부 온도 상승분을 연산하는 단계를 더 포함할 수 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided a method of determining whether a transformer is abnormal, the method comprising: receiving data for determining whether the transformer is abnormal; Performing a second level pattern analysis on the data after the first level pattern analysis, performing a Fourier transform on the data after the second level pattern analysis to determine a size and phase in the frequency domain Calculating a magnitude of a voltage and a current using a root mean square (RMS) value for the data having undergone the second level pattern analysis and comparing the magnitude of the voltage and the current, and performing an impedance calculation based on the comparison result . The data for determining the abnormality of the transformer may be a secondary voltage of a potential transformer (PT), a secondary current of a current transformer (CT), or an SV sample (SV sample). Performing a first level pattern analysis on the data may include predicting a location of a next sample based on a location of a current data sample, comparing the measured sample to a ripple sample Determining the ripple sample based on the sample located next to the sample sensed by the ripple sample, comparing the numerical value and slope of the measured sample with the predicted next sample, Generating a flag when an error over a certain range occurs and storing the flag in a separate data window; and if suspected to be an error of a potential transformer (CT) / current transformer, backing up previous data and processing the ripple sample Step < / RTI > Performing the second level pattern analysis on the data after the first level pattern analysis includes performing an analysis on the ripple sample and the instantaneous overload sample and analyzing the ripple sample and the instantaneous overload sample, And storing the calculated disturbance data or the instantaneous overload data in the RMS. Wherein the step of calculating and storing the error region generated by the ripple sample and the instantaneous overload sample as RMS and reflecting the error region as the disturbance data or the instantaneous overload data comprises the steps of: The magnitude value of the calculated area may be reflected in the disturbance data or the instantaneous overload data sample may be subjected to area calculation using the RMS (root means square) method to reflect the instantaneous overload data as the instantaneous overload data . The method of determining whether the transformer is abnormal may further include calculating an internal temperature increase of the transformer based on the comparison result.
상술한 본 발명의 또 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 변압기의 이상 여부 판단 장치는 상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터를 입력받도록 구현된 데이터 입력부, 상기 데이터에 대한 1차 레벨 패턴 분석을 수행하도록 구현된 1차 레벨 패턴 분석부, 상기 1차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대한 2차 레벨 패턴 분석을 수행하도록 구현된 2차 레벨 패턴 분석부, 상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 푸리에 변환을 수행하여 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor)을 산출하고, 상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 RMS(root mean square) 값을 사용하여 전압 및 전류의 크기를 산출하여 비교하도록 구현되는 연산부와 상기 연산부의 상기 비교 결과를 기초로 임피던스 연산을 수행하도록 구현되는 임피던스 산출부를 포함하도록 구현될 수 있다. 상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터는 PT(phase transformer)의 2차 전압, CT(current transformer)의 2차 전류, SV 샘플(SV sample)일 수 있다. 상기 1차 레벨 패턴 분석부는 현재 데이터 샘플의 위치를 기초로 다음 샘플의 위치를 예측하고 측정된 샘플이 상기 예측된 다음 샘플과 다른 경우 상기 측정된 샘플을 리플 샘플로 감지하고 상기 리플 샘플로 감지된 샘플의 다음에 위치한 샘플을 기초로 상기 리플 샘플을 확인하고 상기 리플 샘플을 확정하고 상기 예측된 다음 샘플과 상기 측정된 샘플의 수치 및 기울기를 비교하여 일정 범위의 오차 이상이 발생시 플래그를 발생시키고 별도의 데이터 윈도우에 저장하고 PT(potential transformer)/CT(current transformer)의 오차로 의심될 경우 이전의 데이터를 백업하여 상기 리플 샘플을 처리하도록 구현될 수 있다. 상기 2차 레벨 패턴 분석부는 리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 대한 분석을 수행하고 상기 리플 샘플 및 상기 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하도록 구현될 수 있다. 상기 2차 레벨 패턴 분석부는 상기 리플 샘플의 이전 샘플 및 이후 샘플의 값을 기초로 생성된 영역의 크기를 저장한 후 산출된 영역의 크기 값을 외란 데이터에 반영하거나 상기 순시 과부하 데이터 샘플을 RMS(root means square) 방법을 사용하여 영역 연산을 수행하여 상기 순시 과부하 데이터로 반영하도록 구현될 수 있다. 상기 연산부는 상기 비교 결과를 기초로 상기 변압기의 내부 온도 상승분을 연산하도록 구현될 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided an apparatus for determining whether a transformer is abnormal, comprising: a data input unit configured to receive data for determining an abnormality of the transformer; A second level pattern analysis unit configured to perform a second level pattern analysis on the data after the first level pattern analysis, a second level pattern analysis unit configured to perform a second level pattern analysis on the data after the first level pattern analysis, (RMS) value is used to calculate a magnitude and a phase (Phasor) in the frequency domain by performing a Fourier transform on the data after completion of the second level pattern analysis, And compares the magnitude of the input signal with the magnitude of the input signal to perform an impedance operation based on the comparison result of the operation unit May be implemented to include an impedance calculating section. The data for determining the abnormality of the transformer may be a secondary voltage of a phase transformer (PT), a secondary current of a current transformer (CT), or an SV sample (SV sample). Wherein the first level pattern analyzing unit predicts the position of the next sample based on the position of the current data sample and detects the measured sample as a ripple sample when the measured sample is different from the predicted next sample, The ripple sample is confirmed based on the sample located next to the sample, the ripple sample is determined, and the predicted next sample is compared with the numerical value and slope of the measured sample to generate a flag when an error over a certain range occurs, And if it is suspected that there is an error of potential transformer (PT) / current transformer (PT), the previous data may be backed up to process the ripple sample. The second level pattern analyzing unit analyzes the ripple samples and instantaneous overload samples and calculates and stores error regions generated by the ripple samples and the instantaneous overload samples as RMS and reflects them as disturbance data or instantaneous overload data Can be implemented. The second level pattern analyzing unit stores the size of the generated area based on the values of the previous sample and the succeeding sample of the ripple sample and then reflects the size value of the calculated area in the disturbance data or the instantaneous overload data sample to the RMS root means square method to perform the area operation to reflect the instantaneous overload data. And the operation unit may be configured to calculate an internal temperature rise of the transformer based on the comparison result.
상술한 바와 같이 본 발명의 실시 예에 따른 변압기 이상 진단 방법 및 장치는 입력된 PT(potential transformer), CT(current transformer), SV(sampled value)값을 기초로 임피던스 연산의 가장 중요한 요소(Factor)인 전압/전류 전기량을 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor) 뿐만 아니라 RMS(root means square) 수치로도 별도로 연산하여 다양한 수치 조합으로 변압기 내부의 이상 상태를 보다 정확히 진단할 수 있다.As described above, according to an embodiment of the present invention, a method and an apparatus for diagnosing a fault of a transformer can be classified into a most important factor of impedance calculation based on inputted potential transformer (PT), current transformer (CT) The voltage / current electricity quantity can be separately calculated not only by the magnitude and phase in the frequency domain but also by the RMS (root means square) value, and the abnormal state inside the transformer can be more accurately diagnosed by various combinations of values.
도 1 은 본 발명의 실시 예에 따른 변압기 이상 진단 방법을 나타낸 개념도이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 샘플 패턴을 진단하는 방법을 나타낸 개념도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 2차 레벨 패턴 분석을 수행하는 방법을 나타낸 개념도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 변압기 이상 여부 판단 방법을 나타낸 순서도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 변압기 이상 여부 판단 방법을 나타낸 장치를 나타낸 블록도이다.
1 is a conceptual diagram illustrating a method for diagnosing a transformer malfunction according to an embodiment of the present invention.
2 is a conceptual diagram illustrating a method of diagnosing a sample pattern according to an embodiment of the present invention.
3 is a conceptual diagram illustrating a method for performing second level pattern analysis according to an embodiment of the present invention.
4 is a flowchart illustrating a method for determining whether a transformer is abnormal according to an embodiment of the present invention.
5 is a block diagram showing an apparatus for determining whether a transformer is abnormal according to an embodiment of the present invention.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시 형태에 대하여 구체적으로 설명한다. 본 명세서의 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description of the embodiments of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present disclosure rather unclear.
어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성 요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있으나, 중간에 다른 구성 요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 아울러, 본 발명에서 특정 구성을 "포함" 한다고 기술하는 내용은 해당 구성 이외의 구성을 배제하는 것이 아니며, 추가적인 구성이 본 발명의 실시 또는 본 발명의 기술적 사상의 범위에 포함될 수 있음을 의미한다. It is to be understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, . In addition, the description of "including" a specific configuration in the present invention does not exclude a configuration other than the configuration, and means that additional configurations can be included in the practice of the present invention or the technical scope of the present invention.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component.
또한 본 발명의 실시 예에 나타나는 구성부들은 서로 다른 특징적인 기능들을 나타내기 위해 독립적으로 도시되는 것으로, 각 구성부들이 분리된 하드웨어나 하나의 소프트웨어 구성단위로 이루어짐을 의미하지 않는다. 즉, 각 구성부는 설명의 편의상 각각의 구성부로 나열하여 포함한 것으로 각 구성부 중 적어도 두 개의 구성부가 합쳐져 하나의 구성부로 이루어지거나, 하나의 구성부가 복수 개의 구성부로 나뉘어져 기능을 수행할 수 있고 이러한 각 구성부의 통합된 실시 예 및 분리된 실시 예도 본 발명의 본질에서 벗어나지 않는 한 본 발명의 권리범위에 포함된다.In addition, the components shown in the embodiments of the present invention are shown independently to represent different characteristic functions, which does not mean that each component is composed of separate hardware or software constituent units. That is, each constituent unit is included in each constituent unit for convenience of explanation, and at least two constituent units of the constituent units may be combined to form one constituent unit, or one constituent unit may be divided into a plurality of constituent units to perform a function. The integrated embodiments and separate embodiments of the components are also included within the scope of the present invention, unless they depart from the essence of the present invention.
또한, 일부의 구성 요소는 본 발명에서 본질적인 기능을 수행하는 필수적인 구성 요소는 아니고 단지 성능을 향상시키기 위한 선택적 구성 요소일 수 있다. 본 발명은 단지 성능 향상을 위해 사용되는 구성 요소를 제외한 본 발명의 본질을 구현하는데 필수적인 구성부만을 포함하여 구현될 수 있고, 단지 성능 향상을 위해 사용되는 선택적 구성 요소를 제외한 필수 구성 요소만을 포함한 구조도 본 발명의 권리범위에 포함된다.
In addition, some of the components are not essential components to perform essential functions in the present invention, but may be optional components only to improve performance. The present invention can be implemented only with components essential for realizing the essence of the present invention, except for the components used for the performance improvement, and can be implemented by only including the essential components except the optional components used for performance improvement Are also included in the scope of the present invention.
도 1 은 본 발명의 실시 예에 따른 변압기 이상 진단 방법을 나타낸 개념도이다.1 is a conceptual diagram illustrating a method for diagnosing a transformer malfunction according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 변압기 이상 진단을 위한 입력값으로 PT(potential transformer)의 2차 전압(100), CT(current transformer)의 2차 전류(105), PMU(phase measurement unit)의 SV 샘플(SV sample)(110)을 입력 받을 수 있다. SV 샘플일 경우 Fiber-Optic Cable과 처리 장치를 사용할 수 있다.Referring to FIG. 1, as input values for the fault diagnosis of a transformer, a secondary voltage 100 of a potential transformer (PT), a secondary current 105 of a current transformer CT, and an SV sample of a phase measurement unit (PMU) SV sample) 110 can be input. For SV samples, fiber-optic cables and processing equipment can be used.
IEC 61850 기반의 보호 계전 IED(intelligent electronic device)들은 이벤트 발생 시 나오는 기록들을 저장하여 그 데이터들을 IEC 61850 표준에서 제안하는 샘플링된 값(Sampled Value)으로 전송 할 수 있다. 따라서 표준 IED를 만들어 샘플링된 값(Sampled Value)를 전송 받아 IED가 정동작 했는지 아니면 오동작인지를 판별할 뿐 아니라 선로에 고장이 발생하여 동작을 했더라도 정확한 시간에 동작했는지 등의 여부에 대해 IED(intelligent electronic device)를 진단할 수 있다. 본 발명의 실시 예에서는 이러한 SV 샘플을 입력받아 변압기의 이상 동작 여부를 판단할 수 있다.IEC 61850-based protective relay IEDs (intelligent electronic devices) can store events that occur during an event and transmit the data to a sampled value proposed by the IEC 61850 standard. Therefore, it is necessary to make a standard IED and transmit the sampled value to determine whether the IED has been correctly operated or not, and whether the IED has been operated at the correct time even if a fault occurs in the line. intelligent electronic device). In the embodiment of the present invention, it is possible to determine whether the transformer is abnormal by receiving the SV sample.
입력받은 PT(potential transformer)의 2차 전압(100), CT(current transformer)의 2차 전류(105)는 필터(115)를 통해 필터링되고 변환 데이터 윈도우(120)를 설정할 수 있다. SV 샘플(110)은 공통 데이터 클래스(common data class, 125)를 설정할 수 있다.The secondary voltage 100 of the input potential transformer (PT) and the secondary current 105 of the current transformer CT are filtered through the filter 115 and the transformed data window 120 can be set. The SV sample 110 may set a common data class 125. [
필터링되고 변환 데이터 윈도우를 설정한 PT의 2차 전압(100), CT의 2차 전류(105)와 공통 데이터 클래스(common data class, 125)를 설정한 SV 샘플(110)은 변환 데이터 윈도우(130)를 정하여 제1 차 레벨 패턴 분석 장치(135)로 입력될 수 있다.The SV sample 110 that sets the secondary voltage 100 of the PT and the secondary current 105 of the CT and the common data class 125 that are filtered and set the conversion data window is converted into the converted data window 130 And may be input to the first level pattern analyzer 135.
제1 차 레벨 패턴 분석 장치(135)는 입력된 샘플의 패턴을 진단하는 장치로 사용될 수 있다.
The first level pattern analyzer 135 can be used as an apparatus for diagnosing a pattern of an input sample.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 샘플 패턴을 진단하는 방법을 나타낸 개념도이다.2 is a conceptual diagram illustrating a method of diagnosing a sample pattern according to an embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, (A) 현재 데이터 샘플(200)의 위치를 기초로 다음 샘플(205)의 위치를 예측할 수 있다. 입력된 데이터의 샘플 패턴은 일정한 패턴을 가질 수 있다. 이러한 경우, 현재 데이터 샘플(200)의 위치를 기초로 다음 샘플(205)의 위치를 예측할 수 있다. 즉, 이전에 입력된 데이터 샘플의 패턴을 기초로 다음 샘플(205)을 예측할 수 있다. 즉 이전 샘플 패턴 분석으로 다음 샘플을 예상할 수 있다.Referring to FIG. 2, (A) the position of the next sample 205 may be predicted based on the position of the current data sample 200. The sample pattern of the input data may have a certain pattern. In this case, the position of the next sample 205 may be predicted based on the position of the current data sample 200. [ That is, the next sample 205 can be predicted based on the pattern of the previously input data sample. In other words, the next sample can be expected with the previous sample pattern analysis.
(B) 만약 측정된 샘플(210)이 예측된 값과 다른 경우 측정된 샘플(210)을 리플 샘플로 감지할 수 있다. 리플 샘플은 리플 전류 또는 리플 전압일 수 있다.(B) If the measured sample 210 is different from the predicted value, the measured sample 210 may be detected as a ripple sample. The ripple sample may be a ripple current or a ripple voltage.
리플 전류 또는 리플 전압은 시스템의 신뢰성과 수명에 영향을 끼치는 요소로서 변압기에 이상을 발생시킬 수 있다. The ripple current or ripple voltage can affect the reliability and lifetime of the system and can cause the transformer to malfunction.
(C) 리플 샘플을 확인한다.(C) Check the ripple sample.
리플 샘플로 판단된 샘플(210)의 다음에 위치한 샘플(215)을 기초로 리플 샘플을 확인할 수 있다. 리플 샘플로 감지된 샘플을 최종적으로 리플 샘플로 확정하기 위해서는 리플 샘플로 판단된 샘플(210)의 다음 샘플(215)을 고려할 수 있다. 이러한 방식을 사용함으로서 리플 샘플로 판단된 샘플(210)이 다른 방향으로 변하는 샘플 중의 하나였는지 아니면 일정한 주기를 가지고 입력되는 샘플 중 이상 값인지 여부를 판단할 수 있다.The ripple sample can be confirmed based on the sample 215 located next to the sample 210 determined as the ripple sample. The next sample 215 of the sample 210 determined as the ripple sample can be considered in order to finally determine the sample sensed by the ripple sample as a ripple sample. By using this method, it can be determined whether the sample 210 judged as the ripple sample is one of the samples which change in the other direction or whether it is an abnormal value among the samples inputted with a certain period.
(D) 리플 샘플을 확정한다.(D) Confirm the ripple sample.
리플 샘플을 확정할 수 있다. 예를 들어, 참조 샘플과 실제 샘플 수치(210) 및 기울기를 비교하여 일정 범위의 오차 이상이 발생시 플래그를 발생시키고 별도의 데이터 윈도우에 저장할 수 있다. 샘플의 확인 개수는 설정에 의한 값일 수 있다.The ripple sample can be confirmed. For example, the reference sample may be compared with the actual sample value 210 and the slope to generate a flag when an error over a certain range occurs and stored in a separate data window. The number of samples confirmed can be a value by setting.
(E) 리플 샘플을 처리한다.(E) Process the ripple sample.
PT(potential transformer)/CT(current transformer)의 오차로 의심될 경우 이전의 데이터(220)를 백업하여 리플 샘플을 처리할 수 있다.If the error of the potential transformer (PT) / current transformer (CT) is suspected, the previous data 220 can be backed up to process the ripple sample.
(F) 리플 샘플을 처리한다.(F) Process the ripple sample.
외란(disturbance)에 의한 전기량 처리 설정에 의한 방법에 의해 리플 샘플을 처리할 수 있다. 기준 입력은 시스템의 출력이 어떤 원하는 값을 갖도록 외부에서 제공하는 설정치(목표치)이다. 외란은 시스템에 바람직스럽지 못한 영향을 미치는 신호이다. 이 외란은 외부적인 것이 있고, 내부적인 원인에 의한 것도 있고(예, 모델링 오차), 예측할 수 있는 것도 있고, 불규칙(random)한 것도 있다. 본 발명의 실시 예에 따르면, 리플 샘플을 처리하기 위해 RMS(root mean square) 방법을 사용할 수 있다.The ripple sample can be processed by a method based on the electric quantity processing setting by disturbance. The reference input is an externally provided set point (target value) such that the output of the system has some desired value. Disturbance is a signal that has an undesirable effect on the system. This disturbance may be external, some due to internal causes (eg, modeling error), some predictable, and some random. According to an embodiment of the present invention, a root mean square (RMS) method may be used to process the ripple samples.
위와 같은 전술한 절차를 통해 산출된 데이터는 SOE(sequence of event)로 저장될 수 있으며, 새로 생성된 윈도우의 전기량 데이터는 진단의 추가 입력 데이터로 활용될 수 있다.
The data calculated through the above-described procedure can be stored as a sequence of events (SOE), and the electricity quantity data of the newly generated window can be utilized as additional input data for diagnosis.
다시 도 1을 참조하면, 1차 레벨 패턴 분석(135)을 수행한 후 2차 레벨 패턴 분석(140)을 수행할 수 있다. Referring again to FIG. 1, a first level pattern analysis 135 and a second level pattern analysis 140 may be performed.
2차 레벨 패턴 분석(140)에서는 리플 패턴을 처리하거나, 순시 과부하 샘플을 처리할 수 있다.
The secondary level pattern analysis 140 may process the ripple pattern or process instantaneous overload samples.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 2차 레벨 패턴 분석을 수행하는 방법을 나타낸 개념도이다.3 is a conceptual diagram illustrating a method for performing second level pattern analysis according to an embodiment of the present invention.
도 3의 (A)를 참조하면, 리플 샘플을 처리하는 방법으로 외란에 의한 전기량 처리 설정에 의하여 2차 샘플 패턴을 처리할 수 있다. 리플 샘플이 발생한 샘플(300)의 이전 샘플(310) 및 이후 샘플(320)의 값을 기초로 생성된 영역의 크기를 저장한 후 외란 데이터에 영역의 크기값을 반영할 수 있다. 2차 레벨 패턴 분석을 마친 데이터는 추후 페이져(phasor)의 값과 RMS의 값을 산출하여 비교 분석하고 임피던스의 크기를 산출하여 임피던스의 변화 추이를 산출할 수 있다.Referring to FIG. 3 (A), a second sample pattern can be processed by a process for processing a ripple sample and setting an electrical quantity process by disturbance. It is possible to store the size of the generated region based on the values of the previous sample 310 and the subsequent sample 320 of the sample 300 in which the ripple sample is generated and then reflect the size value of the region in the disturbance data. After analyzing the data of the second level pattern, it is possible to calculate the change of the impedance by calculating the value of the phasor and the value of RMS, calculating the magnitude of the impedance, and comparing and analyzing.
도 3의 (B)를 참조하면, 순시 과부하 샘플(350)의 경우에도 외란에 의한 전기량 처리 설정에 의해 2차 샘플 패턴을 진단할 수 있다. 한 주기가 넘어가면서 자연스럽게 일반 전류 샘플로 인식할 수 있다. 순시 과부하 데이터 샘플을 RMS(root means square) 방법을 사용하여 영역 연산을 수행하여 면적을 산출할 수 있다.Referring to FIG. 3 (B), even in the case of the instantaneous overload sample 350, the secondary sample pattern can be diagnosed by the electrical quantity processing setting by the disturbance. It can be recognized as a normal current sample naturally over a period of time. Instantaneous overload data samples can be computed by performing area operations using the root means square (RMS) method.
2차 레벨 패턴 분석 방법에서는 순시 과부하 오차 보정을 수행하기 위해 수치 및 정상 패턴 데이타를 별도 데이터 윈도우에 저장하여 전류 변화량 RMS를 연산하여 진단 데이터로서 활용할 수 있다.In the second level pattern analysis method, numerical value and normal pattern data are stored in a separate data window in order to perform instantaneous overload error correction, and the current change amount RMS can be calculated and utilized as diagnostic data.
다시 도 1을 참조하면, 2차 레벨 패턴 분석(140)을 수행한 후, 푸리에 변환(145) 및 RMS 방법(150)을 사용하여 산출된 값을 기초로 변압기에 발생한 이상을 진단할 수 있다.Referring again to FIG. 1, after performing the second-level pattern analysis 140, it is possible to diagnose an abnormality occurring in the transformer based on the value calculated using the Fourier transform 145 and the RMS method 150.
2차 레벨 패턴 분석(140)을 수행한 결과를 기초로 푸리에 변환(145) 후 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor)을 산출할 수 있다. 또한 RMS(root mean square)값을 이용하여 전압 및 전류 크기를 산출할 수 있다. 산출된 두 값을 비교기(155)를 통해 비교를 수행하여 임피던스 연산(160)를 수행하여 변압기에 발생한 이상을 진단(165)할 수 있다.A magnitude and a phase Phasor in the frequency domain can be calculated after the Fourier transform 145 based on the result of performing the second level pattern analysis 140. [ Also, the voltage and current magnitude can be calculated using the root mean square (RMS) value. The calculated two values may be compared through the comparator 155 to perform the impedance calculation 160 to diagnose the fault occurring in the transformer 165. [
즉, 본 발명의 실시 예에서는 두 가지 산출 방법(푸리에 변환(145) 및 RMS 산출 방법(150))을 사용하여 변압기 감시 진단의 정확도를 높일 수 있다. 또한, 다양한 임피던스 추이를 디스플레이하거나 트리거 신호로 활용하여, 변압기 상황을 진단할 수 있다.
That is, in the embodiment of the present invention, the accuracy of the transformer monitoring diagnosis can be improved by using two calculation methods (the Fourier transform 145 and the RMS calculating method 150). In addition, various impedance trends can be displayed or used as a trigger signal to diagnose the transformer situation.
도 4는 본 발명의 실시에에 따른 변압기 이상 여부 판단 방법을 나타낸 순서도이다. 4 is a flowchart illustrating a method for determining whether or not a transformer is abnormal according to the embodiment of the present invention.
도 4를 참조하면, 변압기 이상 여부를 판단하기 위한 데이터를 입력받는다(단계 S400).Referring to FIG. 4, data for determining whether a transformer is abnormal is input (step S400).
변압기 이상 여부를 판단하기 위한 데이터로 PT(phase transformer)의 2차 전압, CT(current transformer)의 2차 전류, SV 샘플(SV sample)을 입력 받을 수 있다.The secondary voltage of the PT (phase transformer), the secondary current of the CT (current transformer), and the SV sample (SV sample) can be input as data for determining whether or not the transformer is abnormal.
1차 레벨 패턴 분석을 수행한다(단계 S410).A primary level pattern analysis is performed (step S410).
단계 S400을 통해 입력된 값들에 대해 1차 레벨 패턴 분석을 수행할 수 있다.The first level pattern analysis may be performed on the values input through step S400.
단계 S400을 통해 입력된 값에 대해 필터링 및 변환 데이터 윈도우와 같은 데이터 처리 절차를 거친 후 1차 레벨 패턴 분석을 수행할 수 있다. 예를 들어, 1차 레벨 패턴 분석을 수행하기 위해 이전 샘플 패턴 분석으로 다음 샘플을 예측하고, 참조 샘플과 실제 측정된 샘플의 수치와 기울기를 비교하여 미리 설정된 정도 이상의 차이가 발생한 경우, 이상이 발생됨을 표시하고 데이터 윈도우를 저장할 수 있다. 설정에 의하여 측정된 데이터가 오차로 의심될 경우, 이전 데이터를 백업하여 연산을 수행할 수 있다. 리플 샘플을 처리함에 있어 RMS를 사용한 외란에 의한 전기량 처리 설정 방법을 사용할 수 있다. 다음 샘플의 수치 변경된 데이터가 정상 패턴을 보이면 2차 분석을 수행할 수 있다. A first level pattern analysis may be performed after a data processing procedure such as a filtering and a transform data window is performed on the value input through step S400. For example, in order to perform a first-level pattern analysis, the next sample is predicted by the previous sample pattern analysis, and when the difference between the reference sample and the actually measured sample is compared with the slope, an error occurs And store the data window. If the data measured by the setting is suspected to be error, the previous data can be backed up and the operation can be performed. In processing the ripple sample, it is possible to use a method of setting a charge amount by disturbance using RMS. If the numerically modified data of the following sample shows a normal pattern, a secondary analysis can be performed.
1차 레벨 패턴 분석에서 측정된 샘플은 SOE(sequence of event)로 저장되면, 오차가 발생한 데이터에 대해서는 2차 분석을 수행할 수 있다.If the samples measured in the first-level pattern analysis are stored as a sequence of events (SOEs), a secondary analysis can be performed on the errored data.
2차 레벨 패턴 분석을 수행한다(단계 S420).Second level pattern analysis is performed (step S420).
2차 레벨 패턴 분석에서는 리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 대한 분석을 수행할 수 있다.Analysis of the ripple and instantaneous overload samples can be performed in the second level pattern analysis.
리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하는 방법으로 2차 레벨 패턴 분석을 수행할 수 있다.The second level pattern analysis can be performed by calculating and storing the error region generated by the ripple sample and instantaneous overload sample with RMS, and then reflecting it as disturbance data or instantaneous overload data.
푸리에 변환 및 RMS 값을 산출하여 비교한다(단계 S430).Fourier transform and RMS values are calculated and compared (step S430).
2차 레벨 패턴 분석을 수행한 결과를 기초로 푸리에 변환 후 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor)을 산출할 수 있다. 또한 RMS(root mean square)값을 이용하여 전압 및 전류 크기를 산출할 수 있다. 산출된 두 값을 비교기를 통해 비교를 수행하여 임피던스 연산를 수행하여 변압기에 발생한 이상을 진단할 수 있다.The magnitude and phase (Phasor) in the frequency domain after the Fourier transform can be calculated based on the result of performing the second level pattern analysis. Also, the voltage and current magnitude can be calculated using the root mean square (RMS) value. The calculated two values are compared with each other through a comparator to perform an impedance calculation, thereby diagnosing an abnormality occurring in the transformer.
또한 본 발명의 실시 예에 따른 변압기의 이상 여부 판단 방법에서는 두 값의 비교 결과를 기초로 변압기의 내부 온도 상승분을 연산할 수도 있다.Also, in the method of determining whether the transformer is abnormal according to the embodiment of the present invention, the internal temperature rise of the transformer may be calculated based on the comparison result of the two values.
즉, 본 발명의 실시 예에서는 두 가지 산출 방법(푸리에 변환 및 RMS 산출 방법)을 사용하여 변압기 감시 진단의 정확도를 높일 수 있다. 또한, 다양한 임피던스 추이를 디스플레이하거나 트리거 신호로 활용하여, 변압기 상황을 진단할 수 있다.
That is, in the embodiment of the present invention, the accuracy of the transformer monitoring diagnosis can be improved by using two calculation methods (Fourier transform and RMS calculation method). In addition, various impedance trends can be displayed or used as a trigger signal to diagnose the transformer situation.
도 5는 본 발명의 실시에에 따른 변압기 이상 여부 판단 방법을 나타낸 장치를 나타낸 블록도이다. 5 is a block diagram showing an apparatus for determining whether or not a transformer is abnormal according to an embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 변압기 이상 여부 판단 장치는 데이터 입력부(500), 데이터 처리부(510), 1차 레벨 패턴 분석부(520), 2차 레벨 패턴 분석부(530), 연산부(540), 임피던스 산출부(550)를 포함할 수 있다. 5, the transformer abnormality determination apparatus includes a data input unit 500, a data processing unit 510, a first level pattern analyzing unit 520, a second level pattern analyzing unit 530, an operation unit 540, And may include a calculation unit 550.
데이터 입력부(500)는 변압기 이상 여부를 판단하기 위한 데이터로 PT(phase transformer)의 2차 전압, CT(current transformer)의 2차 전류, SV 샘플(SV sample)을 입력 받기 위해 구현될 수 있다.The data input unit 500 may be implemented to receive a secondary voltage of a phase transformer (PT), a secondary current of a current transformer (CT), and an SV sample (SV sample) as data for determining whether a transformer is abnormal.
데이터 처리부(510)는 데이터 입력부(500)에서 입력받은 데이터에 대해 필터링을 수행하고 변환 데이터 윈도우를 설정할 수 있다.The data processing unit 510 may perform filtering on the data input from the data input unit 500 and set a conversion data window.
1차 레벨 패턴 분석부(520)는 데이터 처리부(510)에서 산출된 데이터에 대해 레벨 패턴 분석을 수행할 수 있다. 1차 레벨 패턴 분석을 수행하기 위해 이전 샘플 패턴 분석으로 다음 샘플을 예측하고, 참조 샘플과 실제 측정된 샘플의 수치와 기울기를 비교하여 미리 설정된 정도 이상의 차이가 발생한 경우, 이상이 발생됨을 표시하고 데이터 윈도우를 저장할 수 있다. 설정에 의하여 측정된 데이터가 오차로 의심될 경우, 이전 데이터를 백업하여 연산을 수행할 수 있다. 리플 샘플을 처리함에 있어 RMS를 사용한 외란에 의한 전기량 처리 설정 방법을 사용할 수 있다. 다음 샘플의 수치 변경된 데이터가 정상 패턴을 보이면 2차 분석을 수행할 수 있다.The first level pattern analyzing unit 520 may perform a level pattern analysis on the data calculated by the data processing unit 510. In order to perform the first level pattern analysis, the next sample is predicted by the previous sample pattern analysis. When the difference between the reference sample and the actually measured sample is compared with the slope of the actual measured sample, You can save the window. If the data measured by the setting is suspected to be error, the previous data can be backed up and the operation can be performed. In processing the ripple sample, it is possible to use a method of setting a charge amount by disturbance using RMS. If the numerically modified data of the following sample shows a normal pattern, a secondary analysis can be performed.
2차 레벨 패턴 분석부(530)는 1차 레벨 패턴 분석부(520)에서 산출된 데이터에 대해 리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 대한 분석을 수행할 수 있다. 리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하는 방법으로 2차 레벨 패턴 분석을 수행할 수 있다.The second level pattern analyzing unit 530 may analyze the ripple samples and the instantaneous overload samples with respect to the data calculated by the first level pattern analyzing unit 520. The second level pattern analysis can be performed by calculating and storing the error region generated by the ripple sample and instantaneous overload sample with RMS, and then reflecting it as disturbance data or instantaneous overload data.
연산부(540)는 2차 레벨 패턴 분석이 된 데이터에 대해 푸리에 변환 후 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor)을 산출할 수 있다. 또한 RMS(root mean square)값을 이용하여 전압 및 전류 크기를 산출할 수 있다. 산출된 두 값을 비교기를 통해 비교를 수행하여 임피던스 연산를 수행하여 변압기에 발생한 이상을 진단할 수 있다. 또한 연산부(540)에서는 비교 결과를 기초로 상기 변압기의 내부 온도 상승분을 연산하도록 구현될 수도 있다.The operation unit 540 can calculate the magnitude and phase (Phasor) in the frequency domain after the Fourier transform on the data subjected to the second-level pattern analysis. Also, the voltage and current magnitude can be calculated using the root mean square (RMS) value. The calculated two values are compared with each other through a comparator to perform an impedance calculation, thereby diagnosing an abnormality occurring in the transformer. The calculating unit 540 may also be configured to calculate the internal temperature rise of the transformer based on the comparison result.
임피던스 산출부(550) 연산부(540)에서 산출된 두 값을 비교기를 통해 비교를 수행하여 임피던스 연산를 수행하여 변압기에 발생한 이상을 진단할 수 있다.The impedance calculator 550 may compare the two values calculated by the calculator 540 through a comparator to perform an impedance calculation to diagnose an abnormality occurring in the transformer.
이상 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims. It will be possible.

Claims (12)

  1. 변압기의 이상 여부 판단 방법에 있어서,
    상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터를 입력받는 단계;
    상기 데이터에 대한 1차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계;
    상기 1차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대한 2차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계;
    상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 푸리에 변환을 수행하여 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor)을 산출하고, 상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 RMS(root mean square) 값을 사용하여 전압 및 전류의 크기를 산출하여 비교하는 단계; 및
    상기 비교 결과를 기초로 임피던스 연산을 수행하는 단계를 포함하는 변압기의 이상 여부 판단 방법.
    A method for determining whether a transformer is abnormal,
    Receiving data for determining whether the transformer is abnormal;
    Performing a first level pattern analysis on the data;
    Performing a second level pattern analysis on the data after the first level pattern analysis;
    Performing a Fourier transform on the data after the secondary level pattern analysis to calculate a size and a phase Phasor in a frequency domain and calculating a root mean square (RMS) value Calculating a magnitude of a voltage and a current using the voltage and current; And
    And performing an impedance calculation based on the result of the comparison.
  2. 제1항에 있어서, 상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터는,
    PT(potential transformer)의 2차 전압, CT(current transformer)의 2차 전류, SV 샘플(SV sample)인 변압기의 이상 여부 판단 방법.
    The method according to claim 1, wherein the data for determining whether the transformer is abnormal includes:
    A method for determining whether a transformer, which is a secondary voltage of a potential transformer (PT), a secondary current of a current transformer (CT), or a SV sample (SV sample)
  3. 제1항에 있어서, 상기 데이터에 대한 1차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계는,
    현재 데이터 샘플의 위치를 기초로 다음 샘플의 위치를 예측하는 단계;
    측정된 샘플이 상기 예측된 다음 샘플과 다른 경우 상기 측정된 샘플을 리플 샘플로 감지하는 단계;
    상기 리플 샘플로 감지된 샘플의 다음에 위치한 샘플을 기초로 상기 리플 샘플을 확인하는 단계;
    상기 리플 샘플을 확정하고 상기 예측된 다음 샘플과 상기 측정된 샘플의 수치 및 기울기를 비교하여 일정 범위의 오차 이상이 발생시 플래그를 발생시키고 별도의 데이터 윈도우에 저장하는 단계; 및
    PT(potential transformer) 또는 CT(current transformer)의 오차로 의심될 경우 이전의 데이터를 백업하여 상기 리플 샘플을 처리하는 단계를 포함하는 변압기의 이상 여부 판단 방법.
    2. The method of claim 1, wherein performing the first level pattern analysis on the data comprises:
    Predicting a location of a next sample based on the location of the current data sample;
    Sensing the measured sample as a ripple sample if the measured sample is different from the predicted next sample;
    Identifying the ripple sample based on a sample located next to the sample sensed by the ripple sample;
    Determining the ripple sample, comparing the predicted next sample with the measured sample to compare the numerical value and slope of the measured sample, generating a flag when an error over a certain range occurs, and storing the flag in a separate data window; And
    And if the error of the potential transformer (PT) or current transformer (CT) is suspected, processing the ripple sample by backing up the previous data.
  4. 제1항에 있어서, 상기 1차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대한 2차 레벨 패턴 분석을 수행하는 단계는,
    리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 대한 분석을 수행하는 단계; 및
    상기 리플 샘플 및 상기 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하는 단계를 포함하는 변압기의 이상 여부 판단 방법.
    2. The method of claim 1, wherein performing the second level pattern analysis on the data after the first level pattern analysis comprises:
    Performing an analysis on a ripple sample and an instantaneous overload sample; And
    Calculating an RMS error region generated by the ripple sample and the instantaneous overload sample, and storing the calculated error region as disturbance data or instantaneous overload data.
  5. 제4항에 있어서, 상기 리플 샘플 및 상기 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하는 단계는,
    상기 리플 샘플의 이전 샘플 및 이후 샘플의 값을 기초로 생성된 영역의 크기를 저장한 후 산출된 영역의 크기 값을 외란 데이터에 반영하거나 상기 순시 과부하 데이터 샘플을 RMS(root means square) 방법을 사용하여 영역 연산을 수행하여 상기 순시 과부하 데이터로 반영하는 단계인 변압기의 이상 여부 판단 방법.
    The method as claimed in claim 4, wherein the error region generated by the ripple sample and the instantaneous overload sample is calculated and stored in the RMS and reflected as disturbance data or instantaneous overload data,
    Storing the magnitude of the generated region based on the values of the previous sample and the succeeding sample of the ripple sample and then reflecting the magnitude value of the calculated region in the disturbance data or using the instantaneous overload data sample using a root means square method And performing an area operation to reflect the instantaneous overload data as an instantaneous overload data.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 비교 결과를 기초로 상기 변압기의 내부 온도 상승분을 연산하는 단계를 더 포함하는 변압기의 이상 여부 판단 방법.
    The method according to claim 1,
    And calculating an internal temperature rise of the transformer based on the comparison result.
  7. 변압기의 이상 여부 판단 장치에 있어서,
    상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터를 입력받도록 구현된 데이터 입력부;
    상기 데이터에 대한 1차 레벨 패턴 분석을 수행하도록 구현된 1차 레벨 패턴 분석부;
    상기 1차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대한 2차 레벨 패턴 분석을 수행하도록 구현된 2차 레벨 패턴 분석부;
    상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 푸리에 변환을 수행하여 주파수 영역에서의 크기 및 위상(Phasor)을 산출하고, 상기 2차 레벨 패턴 분석을 마친 상기 데이터에 대해 RMS(root mean square) 값을 사용하여 전압 및 전류의 크기를 산출하여 비교하도록 구현되는 연산부; 및
    상기 연산부의 상기 비교 결과를 기초로 임피던스 연산을 수행하도록 구현되는 임피던스 산출부를 포함하도록 구현되는 변압기의 이상 여부 판단 장치.
    An apparatus for determining whether a transformer is abnormal,
    A data input unit configured to receive data for determining whether the transformer is abnormal;
    A first level pattern analyzer configured to perform a first level pattern analysis on the data;
    A second level pattern analyzer configured to perform a second level pattern analysis on the data after the first level pattern analysis;
    Performing a Fourier transform on the data after the secondary level pattern analysis to calculate a size and a phase Phasor in a frequency domain and calculating a root mean square (RMS) value An operation unit configured to calculate and compare magnitudes of a voltage and a current using the voltage and current magnitudes; And
    And an impedance calculation unit configured to perform an impedance calculation based on the comparison result of the operation unit.
  8. 제7항에 있어서, 상기 변압기의 이상 여부를 판단하기 위한 데이터는,
    PT(potential transformer)의 2차 전압, CT(current transformer)의 2차 전류, SV 샘플(SV sample)인 변압기의 이상 여부 판단 장치.
    8. The method of claim 7, wherein the data for determining whether the transformer is abnormal,
    An apparatus for judging whether or not a transformer, which is a secondary voltage of a potential transformer (PT), a secondary current of a current transformer (CT), and a SV sample (SV sample)
  9. 제7항에 있어서, 상기 1차 레벨 패턴 분석부는,
    현재 데이터 샘플의 위치를 기초로 다음 샘플의 위치를 예측하고 측정된 샘플이 상기 예측된 다음 샘플과 다른 경우 상기 측정된 샘플을 리플 샘플로 감지하고 상기 리플 샘플로 감지된 샘플의 다음에 위치한 샘플을 기초로 상기 리플 샘플을 확인하고 상기 리플 샘플을 확정하고 상기 예측된 다음 샘플과 상기 측정된 샘플의 수치 및 기울기를 비교하여 일정 범위의 오차 이상이 발생시 플래그를 발생시키고 별도의 데이터 윈도우에 저장하고 PT(potential transformer) 또는 CT(current transformer)의 오차로 의심될 경우 이전의 데이터를 백업하여 상기 리플 샘플을 처리하도록 구현되는 변압기의 이상 여부 판단 장치.
    8. The apparatus of claim 7, wherein the first-
    Predicting a position of a next sample based on a position of a current data sample and detecting the measured sample as a ripple sample when the measured sample is different from the predicted next sample and determining a sample located next to the detected sample as the ripple sample The ripple sample is confirmed on the basis of the ripple sample, the ripple sample is determined, and the predicted next sample is compared with the numerical value and slope of the measured sample to generate a flag when an error of a certain range occurs, and the flag is stored in a separate data window, and if it is suspected to be an error of a potential transformer or a current transformer, backs up the previous data and processes the ripple sample.
  10. 제7항에 있어서, 상기 2차 레벨 패턴 분석부는,
    리플 샘플 및 순시 과부하 샘플에 대한 분석을 수행하고 상기 리플 샘플 및 상기 순시 과부하 샘플에 의해 발생된 오차 영역을 RMS로 산출하여 저장한 후 외란 데이터 또는 순시 과부하 데이터로 반영하도록 구현되는 변압기의 이상 여부 판단 장치.
    8. The apparatus as claimed in claim 7,
    The ripple sample and the instantaneous overload sample are analyzed and the error region generated by the ripple sample and the instantaneous overload sample is calculated and stored by the RMS and then reflected in the disturbance data or instantaneous overload data. Device.
  11. 제10항에 있어서, 상기 2차 레벨 패턴 분석부는,
    상기 리플 샘플의 이전 샘플 및 이후 샘플의 값을 기초로 생성된 영역의 크기를 저장한 후 산출된 영역의 크기 값을 외란 데이터에 반영하거나 상기 순시 과부하 데이터 샘플을 RMS(root means square) 방법을 사용하여 영역 연산을 수행하여 상기 순시 과부하 데이터로 반영하도록 구현되는 변압기의 이상 여부 판단 장치.
    11. The apparatus of claim 10, wherein the second level pattern analyzer comprises:
    Storing the magnitude of the generated region based on the values of the previous sample and the succeeding sample of the ripple sample and then reflecting the magnitude value of the calculated region in the disturbance data or using the instantaneous overload data sample using a root means square method And performing the area operation to reflect the instantaneous overload data.
  12. 제7항에 있어서, 상기 연산부는,
    상기 비교 결과를 기초로 상기 변압기의 내부 온도 상승분을 연산하도록 구현되는 변압기의 이상 여부 판단 장치.
    8. The image processing apparatus according to claim 7,
    And to calculate an internal temperature rise of the transformer based on the comparison result.
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