KR101380375B1 - Probe unit for inspectinon of flat display pannel - Google Patents

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KR101380375B1 KR1020130045974A KR20130045974A KR101380375B1 KR 101380375 B1 KR101380375 B1 KR 101380375B1 KR 1020130045974 A KR1020130045974 A KR 1020130045974A KR 20130045974 A KR20130045974 A KR 20130045974A KR 101380375 B1 KR101380375 B1 KR 101380375B1
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Abstract

The present invention relates to a probing device for testing a flat display panel, which may conduct a batch test by simultaneously contacting electrodes formed on the panel in order to test whether the flat display panel has defects. The present invention includes a base(110) on which a flat display panel(A) to be tested is placed, a rotating member(120) hinge-coupled to a side of the base, a stopper(130) restricting rotation of the rotating member, a guiding member(150) coupled with a rotating end(121) of the rotating member to be movable toward a thickness direction of the rotating member, the guiding member(150) formed of a magnetic body, a main PCB(160) mounted on a lower surface of the guiding member, a pogo pin(170) electrically connected with the main PCB to correspond to all of electrodes of the panel, a first magnet(191) provided at the rotating member to attach the guiding member to the rotating member, and a second magnet(192) provided at the base to space the guiding member from the rotating member so that the pogo pin may contact the electrodes of the panel with the rotation of the rotating member restricted by the stopper.

Description

평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치{Probe unit for inspectinon of flat display pannel}Probe unit for inspectinon of flat display pannel
본 발명은 LCD 및 PDP와 같은 평판 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위하여 패널상에 형성된 전극들에 동시에 컨택하여 일괄적으로 검사를 수행할 수 있도록 된 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치에 관한 것이다.The present invention relates to a probe device for inspecting a flat panel display panel, which is capable of performing a batch inspection by simultaneously contacting electrodes formed on the panel to inspect a flat panel such as an LCD and a PDP.
일반적으로 LCD 및 PDP와 같은 평판 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 장치로서 프로브 장치가 사용된다.In general, a probe device is used as a device for inspecting whether a flat panel display panel such as LCD and PDP is defective.
상기 프로브 장치는 평판 디스플레이 패널의 검사공정에서 패널 상에 형성된 데이터/게이트 라인을 이루는 모든 전극에 컨택하여 전원 및 영상 신호를 패널에 인가함으로써, 패널 상의 전기적 특성 및 전등상태 또는 각종 얼룩, 이물 등 패널 제조 공정에서 발생하는 모든 불량에 대한 검사 등을 수행한다.The probe device contacts all electrodes of the data / gate line formed on the panel in the inspection process of the flat panel display panel, and applies power and image signals to the panel, thereby providing electrical characteristics and lighting conditions or various stains and foreign objects on the panel. Inspect all defects that occur in the manufacturing process.
이러한 프로브 장치로는 블레이드형, 니들형, 포고형 및 반도체 MEMS 공정 기술을 이용한 MEMS 형이 있으며, 이 중에서 가장 널리 이용되고 있는 것은 패널상에 형성된 모든 전극에 동시에 컨택하여 일괄적으로 검사를 수행할 수 있도록 된 블레이드형 프로브 장치이다.These probe devices include blade type, needle type, pogo type, and MEMS type using semiconductor MEMS process technology. Among them, the most widely used probes can contact all electrodes formed on the panel at the same time and perform a batch inspection. It is a blade type probe device.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 종래의 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브 장치(1)는 협소한 공간에서 패널과 컨택이 가능하도록 패널이 놓여지는 베이스(10)와, 상기 베이스(10)의 일측에 힌지결합되어 일정구간 회동하는 회동부재(20)과, 상기 회동부재(20)의 회동단 저면에 고정된 메인PCB(30)와, 상기 메인PCB(30)의 저면에 전기적으로 연결된 포고PCB(40)와, 상기 포고PCB(40)에 전기적으로 연결된 포고핀블럭(50)과, 패널의 모든 전극에 일대일로 대응되도록 상기 포고핀블럭(50)에 끼워져 상기 포고핀블럭(50)을 매개로 포고PCB(40)과 전기적으로 연결된 다수의 포고핀(60)으로 구성된다.As shown in FIGS. 1 and 2, a probe device 1 for inspecting a flat panel display panel according to the related art includes a base 10 on which a panel is placed to allow contact with a panel in a narrow space, and Rotating member 20 hinged to one side to rotate a predetermined section, the main PCB 30 fixed to the bottom of the rotating end of the rotating member 20, and the pogo PCB electrically connected to the bottom of the main PCB 30 40, a pogo pin block 50 electrically connected to the pogo PCB 40, and a pogo pin block 50 interposed between the pogo pin blocks 50 so as to correspond one-to-one to all electrodes of the panel. It consists of a plurality of pogo pins 60 electrically connected to the pogo PCB 40.
그리고 상기 회동부재(20)는 저면에 설치된 스토퍼(70)에 의해 일정각도로 회전하도록 제한된다.And the rotation member 20 is limited to rotate at a predetermined angle by the stopper 70 installed on the bottom.
또한, 상기 메인PCB(30)는 메인PCB(30)를 통해 패널의 데이터를 전달받아 이를 분석하여 불량을 판정하는 제어부(미도시)가 연결된다.In addition, the main PCB 30 is connected to a control unit (not shown) that receives the data of the panel via the main PCB 30 and analyzes it to determine a failure.
이와 같은 구성의 종래의 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브 장치(1)는, 베이스(10)에 검사대상이 되는 패널이 올려지면 회동부재(20)가 베이스(10)측으로 회동하여 포고핀(60)이 패널의 전극들에 동시 접촉되면서 패널의 전극들의 전기적 신호가 포고핀(60)을 통해 포고핀PCB(40)를 거쳐 메인PCB(30)로 전달되므로 제어부에서 각종 검사를 원활하게 진행할 수 있게 된다.In the conventional flat panel display panel inspection probe device 1 having such a configuration, when the panel to be inspected is placed on the base 10, the rotation member 20 rotates toward the base 10 side so that the pogo pin 60 is moved. The electrical signals of the electrodes of the panel are simultaneously transmitted to the main PCB 30 through the pogo pin PCB 40 while being in contact with the electrodes of the panel, so that various inspections can be smoothly performed by the controller.
그러나, 종래의 블레이드형 프로브 장치(1)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 검사대상이 되는 평판 디스플레이 패널의 길이가 커질수록 회동부재(20)의 길이도 커지므로 회동부재(20)가 전구간에 걸쳐 평탄도를 유지하기가 매우 힘들게 된다. 이는 회동부재(20)의 중량 및 회동동작시 회동부재(20)에 발생하는 관성하중에 기인한 것으로서 회동부재(20)는 미세하게 벤딩된다. 이와 같이 회동부재(20)가 벤딩되어 평탄도가 불량해지면, 구간별로 프로빙 높이와 컨택 압력이 달라지면서 정상적인 패널검사가 이루어지지 못하게 되는 문제가 발생된다.However, in the conventional blade-type probe device 1, as the length of the flat panel display panel to be inspected increases, the length of the rotating member 20 also increases, so that the rotating member 20 is entirely wide. It is very difficult to maintain flatness over time. This is due to the weight of the rotating member 20 and the inertial load generated in the rotating member 20 during the rotating operation, and the rotating member 20 is finely bent. As such, when the rotation member 20 is bent and the flatness is poor, there is a problem that normal panel inspection cannot be performed while the probing height and the contact pressure are changed for each section.
뿐만 아니라, 컨택 과정에서 패널의 일측 구간 및 일측 지점에서 과도한 하중이 인가되면서 포고핀(60)은 물론 패널 및 패널에 형성된 전극자체가 손상될 수도 있다.In addition, the excessive load is applied in one section and one side of the panel during the contact process may damage the pogo pin 60 as well as the panel and the electrode itself formed on the panel.
본 발명은 상기한 문제점들을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 검사대상이 되는 평판디스플레이 패널의 장단 여부에 상관없이 항상 우수한 평탄도를 유지하면서 높은 컨택신뢰도를 갖게 되는 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, to provide a probe device for inspecting a flat panel display panel having a high contact reliability while always maintaining excellent flatness regardless of whether the flat panel of the flat panel to be inspected. The purpose is.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치는 검사 대상이 되는 평판 디스플레이 패널이 놓여지는 베이스와, 상기 베이스의 일측에 힌지결합된 회동부재와, 상기 회동부재의 회동을 제한하는 스토퍼와, 상기 회동부재의 회동단에 회동부재의 두께방향으로 이동가능하게 결합된 자성체로 이루어진 가이드부재와, 상기 가이드부재의 저면에 장착된 메인PCB와, 패널의 모든 전극에 대응되도록 상기 메인PCB와 전기적으로 연결된 포고핀과, 상기 회동부재에 설치되어 상기 가이드부재를 회동부재에 부착시키는 제1마그넷과, 상기 베이스에 설치되어 상기 스토퍼에 의해 회동부재의 회동이 제한된 상태에서 포고핀과 패널의 전극이 컨택될 수 있도록 상기 가이드부재를 회동부재로부터 이격시키는 제2마그넷을 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the probe device for inspecting a flat panel display panel of the present invention is limited to the base on which the flat panel display panel to be inspected is placed, the pivoting member hinged to one side of the base, and the pivoting of the pivoting member. A stopper, a guide member made of a magnetic body movably coupled to a rotational end of the pivot member in the thickness direction of the pivot member, a main PCB mounted on the bottom of the guide member, and the main body so as to correspond to all electrodes of the panel. A pogo pin electrically connected to the PCB, a first magnet installed on the pivot member to attach the guide member to the pivot member, and a pogo pin and panel mounted on the base in a state in which rotation of the pivot member is limited by the stopper. A second magnet that separates the guide member from the pivoting member so that an electrode of the electrode can be contacted It characterized in that province.
또한, 상기 스토퍼는 중앙으로 수렴하는 단부를 가지면서 회동부재의 저면에 고정된 돌출부재이고, 상기 베이스의 일측에는 상기 스트퍼의 단부 양측을 지지해 주는 한 쌍의 가이드편이 설치되는 것이 바람직하다.In addition, the stopper is a protruding member fixed to the bottom surface of the rotating member while having an end converging to the center, and one side of the base is preferably provided with a pair of guide pieces for supporting both ends of the stripper.
이 경우, 상기 스토퍼는 단부에 볼이 장착된 볼플런저일 수 있다.In this case, the stopper may be a ball plunger having a ball mounted at an end thereof.
또한, 상기 메인PCB의 저면에는 포고핀과 메인PCB를 전기적으로 연결해 주는 인터포저가 실장되는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that an interposer for electrically connecting the pogo pin and the main PCB to the bottom of the main PCB is mounted.
한편, 상기 가이드부재는 회동부재의 회동선단과 나란하게 형성된 연장부와, 상기 연장부에 회동부재의 두께방향으로 형성된 장공과, 상기 장공에 끼워져 회동부재의 회동선단에 체결된 스토퍼 핀을 통해 회동부재로부터 일정범위 이상 이격되지 않도록 제한될 수 있다.On the other hand, the guide member is rotated through an extended portion formed in parallel with the rotational tip of the rotating member, a long hole formed in the thickness direction of the rotating member in the extension portion, and a stopper pin fitted into the long hole and fastened to the rotating end of the rotating member. It may be limited so as not to be spaced apart from the member by more than a predetermined range.
상기와 같이 구성된 본 발명은 회동부재의 회동단에 상하로 자유롭게 이동하도록 설치된 경량의 가이드부재가 자력에 의해 패널의 단자측으로 하향이동하면서 컨택이 자연스럽게 이루어게 된다. 따라서 컨택구간이 길다 하더라도 가이드부재에는 벤딩과 같은 변형이 발생되지 않게 되므로 항상 우수한 평탄도를 유지할 수 있게 되고 그 결과 프로브장치의 컨택신뢰도가 크게 향상되는 효과가 있다.In the present invention configured as described above, the contact is naturally made while the lightweight guide member installed to move freely up and down at the rotational end of the rotating member moves downward to the terminal side of the panel by magnetic force. Therefore, even if the contact section is long, since the deformation such as bending does not occur in the guide member, it is possible to maintain excellent flatness at all times. As a result, the contact reliability of the probe device is greatly improved.
도 1은 종래의 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 사용상태사시도
도 2는 도 1의 포고핀 결합요부 단면도.
도 3은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 사용상태사시도.
도 4는 본 발명을 구성하는 스토퍼가 가이드편에 의해 지지된 상태를 나타내는 단면도.
도 5는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 사용상태 단면도로서, 회동부재가 회동되기 전 초기상태를 나타내는 단면도.
도 6은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치의 사용상태 단면도로서, 가이드부재가 회동부재로부터 이격되면서 포고핀과 패널의 단자가 컨택된 상태를 나타내는 도면.
1 is a perspective view of a conventional flat panel display panel inspection device in use
Figure 2 is a cross-sectional view of the pogo pin coupling recess of FIG.
Figure 3 is a perspective view of the use state of the probe device for inspecting a flat panel display panel according to the present invention.
4 is a cross-sectional view showing a state in which a stopper constituting the present invention is supported by a guide piece.
5 is a cross-sectional view showing a state of use of the probe apparatus for inspecting a flat panel display panel according to the present invention, showing an initial state before the rotating member is rotated.
6 is a cross-sectional view illustrating a state of use of the probe apparatus for inspecting a flat panel display panel according to the present invention, wherein the pogo pin and the terminal of the panel are contacted while the guide member is spaced apart from the pivot member.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 바람직한 실시예에 대한 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.The features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of preferred embodiments with reference to the accompanying drawings. Prior to this, terms and words used in the present specification and claims are to be interpreted in accordance with the technical idea of the present invention based on the principle that the inventor can properly define the concept of the term in order to explain his invention in the best way. It must be interpreted in terms of meaning and concept.
이하, 본 발명의 일 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명함에 있어, 동일한 구성에 대해서는 동일한 부호를 사용하며, 명료성을 위하여 가능한 중복되지 않게 상이한 부분만을 주로 설명한다.Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The same reference numerals are used for the same components, and only the different portions are described for the sake of clarity.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명은 검사 대상이 되는 평판 디스플레이 패널(A)이 놓여지는 베이스(110)와, 상기 베이스(110)의 일측에 힌지결합된 회동부재(120)와, 상기 회동부재(120)의 회동을 제한하는 스토퍼(130)를 기본적으로 구비한다.As shown in FIG. 3, the present invention includes a base 110 on which a flat display panel A to be inspected is placed, a pivoting member 120 hinged to one side of the base 110, and the pivoting. The stopper 130 is basically provided to limit the rotation of the member 120.
상기 스토퍼(130)는 회동부재(120)의 저면에 고정된 돌출부재로서, 돌출단부가 베이스(110)의 상면에 접촉되면 회동부재(120)의 회동이 중지된다.The stopper 130 is a protruding member fixed to the bottom of the rotating member 120. When the protruding end contacts the upper surface of the base 110, the rotation of the rotating member 120 is stopped.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 스토퍼(130)의 돌출단부는 중앙으로 수렴하도록 형성되고 상기 베이스(110)의 일측에는 상기 스토퍼(130)의 단부 양측을 지지해 주는 한 쌍의 가이드편(140)이 설치되는 것이 바람직하다. 이 경우, 상기 스토퍼(130)는 단부에 볼이 장착된 볼플런저일 수 있다. 따라서, 상기 스토퍼(130)가 상기 가이드편(140)에 의해 항상 일정한 자리에 위치되도록 얼라인되므로 회동부재(120)의 회동동작은 매우 정밀하게 이루어질 수 있게 된다.As shown in FIG. 4, the protruding end of the stopper 130 is formed to converge toward the center, and a pair of guide pieces 140 supporting both ends of the end of the stopper 130 on one side of the base 110. Is preferably installed. In this case, the stopper 130 may be a ball plunger having a ball mounted at an end thereof. Therefore, since the stopper 130 is aligned so that the stopper 130 is always positioned at a predetermined position by the guide piece 140, the rotation operation of the rotation member 120 can be made very precisely.
도 5에 도시된 바와 같이, 상기 회동부재(120)의 회동단(121)을 따라 회동부재(120)의 두께방향으로 이동가능하도록 판상의 자성체로 이루어진 가이드부재(150)가 설치된다. 따라서 상기 가이드부재(150)는 회동부재(120)에 비해 경량체이다. 상기 회동단(121)에는 회동단(121)과 가이드부재(150)가 단차지지 않도록 자리홈(122)이 형성되는 것이 바람직하다.As shown in FIG. 5, a guide member 150 made of a plate-shaped magnetic material is installed to be movable in the thickness direction of the rotation member 120 along the rotational end 121 of the rotation member 120. Therefore, the guide member 150 is lighter than the rotation member 120. It is preferable that the seating groove 122 is formed in the pivoting end 121 so that the pivoting end 121 and the guide member 150 are not stepped.
이 경우, 상기 가이드부재(150)는 회동부재(120)의 회동선단과 나란하게 형성된 연장부(151)를 가진 "L"자 형상으로 제작될 수 있다. 그리고 상기 연장부(151)에는 회동부재(120)의 두께방향으로 장공(152)이 형성된다. 즉, 장공(152)은 회동부재(120)의 두께방향에 직교하는 방향으로 통공되되, 회동부재(120)의 두께방향을 따라 길게 연장된 형상을 갖는 홀을 의미한다. 상기 장공(152)에는 회동부재(120)의 회동선단에 체결되는 스토퍼핀(153)이 결합된다. 상기 스토퍼핀(153)은 가이드부재(150)가 회동부재(120)로부터 이격될 때 장공(152)과 간섭되면서 가이드부재(150)가 일정범위 이상 이격되지 않도록 제한한다.In this case, the guide member 150 may be manufactured in an “L” shape having an extension part 151 formed in parallel with the pivoting end of the pivot member 120. In addition, the extension part 151 has a long hole 152 is formed in the thickness direction of the rotation member 120. That is, the long hole 152 is a hole having a shape extending in the direction perpendicular to the thickness direction of the rotation member 120, the length of the rotation member 120. The long hole 152 is coupled to the stopper pin 153 is fastened to the rotational tip of the rotation member 120. The stopper pin 153 is limited so as not to be spaced apart from the guide member 150 by a certain range while being interfered with the long hole 152 when the guide member 150 is spaced from the rotating member 120.
한편, 상기 가이드부재(150)의 저면에는 메인PCB(160)가 장착된다. 상기 메인PCB(160)는 가이드부재(150)의 저면에 볼트로써 고정되나 도시된 바와 같이 크기가 클 경우에 회동부재(120)의 저면에도 고정될 수도 있다.On the other hand, the main PCB 160 is mounted on the bottom of the guide member 150. The main PCB 160 is fixed to the bottom of the guide member 150 with a bolt, but when the size is large as shown, may be fixed to the bottom of the rotating member 120.
그리고 상기 메인PCB(160)의 저면에는 패널(A)의 전극과 컨택되는 포고핀(170)이 설치된다. 상기 포고핀(170)은 패널(A)의 모든 전극에 대응되도록 배치된 상태에서 상기 메인PCB(160)에 실장되어 패널(A)의 전극들의 전기적 신호를 메인PCB(160)로 전달하는 매개체 역할을 수행한다.And the bottom surface of the main PCB 160 is provided with a pogo pin 170 in contact with the electrode of the panel (A). The pogo pin 170 is mounted on the main PCB 160 in a state in which it is disposed to correspond to all the electrodes of the panel A, and serves as a medium for transmitting electrical signals of the electrodes of the panel A to the main PCB 160. Do this.
한편, 상기 포고핀(170)은 인터포저(180)를 매개로 하여 메인PCB(160)와 전기적으로 연결될 수도 있다. 상기 인터포저(180)는 박판형상으로서 전면과 후면에는 메인PCB(160)와 포고핀(170)을 전기적으로 연결해 주기 위한 접촉단자들이 형성되어 있다. 물론 메인PCB(160)의 저면에는 인터포저(180)의 단자에 대응되는 단자들이 형성되어 있다. 상기 인터포저(180)는 필요에 따라 교체가 가능하도록 메인PCB(160)의 저면에 볼트로써 조립된다.The pogo pin 170 may be electrically connected to the main PCB 160 through the interposer 180. The interposer 180 has a thin plate shape, and contact terminals for electrically connecting the main PCB 160 and the pogo pin 170 are formed on the front and rear surfaces thereof. Of course, terminals corresponding to the terminals of the interposer 180 are formed on the bottom of the main PCB 160. The interposer 180 is assembled with bolts on the bottom of the main PCB 160 to be replaced if necessary.
따라서, 상기 인터포저(180)로 인해 종래에 사용되었던 포고PCB를 생략할 수 있게 되고 메인PCB(160)와 포고PCB를 전기적으로 연결하기 위한 별도의 커넥터를 구비하거나 메인PCB(160)와 포고PCB의 단자간 용접과 같은 접속작업이 요구되지 않아 구조가 간단해지고 작업성이 크게 향상된다.Therefore, the interposer 180 can omit the previously used pogo PCB and has a separate connector for electrically connecting the main PCB 160 and the pogo PCB, or the main PCB 160 and the pogo PCB. No connection work such as welding between terminals is required, which simplifies the structure and greatly improves workability.
그리고 상기 회동부재(120)에는 제1마그넷(191)이 설치된다. 따라서, 검사가 이루어지지 않는 상태에서는 상기 가이드부재(150)는 상기 제1마그넷(191)의 자력에 의해 회동부재(120)의 회동단(121) 저면에 부착되어 있다.In addition, a first magnet 191 is installed in the rotation member 120. Therefore, the guide member 150 is attached to the bottom surface of the rotating end 121 of the rotating member 120 by the magnetic force of the first magnet 191 in the state that the inspection is not performed.
아울러, 상기 제1마그넷(191)에 대응되는 상기 베이스(110)에는 제2마그넷(192)이 설치된다. 상기 제2마그넷은 스토퍼(130)에 의해 회동부재(120)의 회동이 제한된 상태에서 포고핀(170)과 패널(A)의 전극이 컨택될 수 있도록 상기 가이드부재(150)를 회동부재(120)로부터 이격시킨다. 그리고 이러한 동작이 원활하게 이루어지기 위해서는 상기 제1마그넷(191)의 자력이 제2마그넷(192)의 자력보다 강해서는 안된다.In addition, a second magnet 192 is installed in the base 110 corresponding to the first magnet 191. The second magnet rotates the guide member 150 to allow the pogo pin 170 and the electrode of the panel A to be contacted in a state where the rotation of the pivot member 120 is limited by the stopper 130. ) In order for the operation to be performed smoothly, the magnetic force of the first magnet 191 should not be stronger than that of the second magnet 192.
이와 같이 구성된 본 발명의 평판 디스플레이 패널(A) 검사용 프로브장치는 도 5에 도시된 바와 같은 초기상태로 대기하고 있다가 검사대상이 되는 패널(A)이 베이스(110)에 올려지면 회동부재(120)가 아래로 회동한다. 이때, 가이드부재(150)는 제1마그넷(191)의 자력에 의해 회동단(121)에 부착된 상태이다.The probe device for inspecting a flat panel display panel (A) of the present invention configured as described above is rotated when the panel (A) to be inspected is placed on the base 110 while waiting in an initial state as shown in FIG. 120) rotate down. At this time, the guide member 150 is a state attached to the rotating end 121 by the magnetic force of the first magnet 191.
도 6에 도시된 바와 같이, 상기 회동부재(120)는 스토퍼(130)에 의해 회동이 중단될 때까지 베이스(110)측으로 하향회동한다. 이때, 상기 회동부재(120)는 베이스(110) 상면에 이격 형성된 한 쌍의 가이드편(140)에 스토퍼(130)의 돌출하단이 안내를 받아 정확한 지점에 위치되므로 좌우로 유동됨 없이 항상 정확한 위치로 회동된다. 상기 회동부재(120)가 스토퍼(130)에 의해 회동이 중단된 상태에서는 포고핀(170)이 패널(A)의 단자 사이에 일정한 갭이 유지하고 있는 상태로서, 상호컨택이 이루어지지 않은 상태이다. 상기 갭은 가이드에 형성된 장공(152)의 상단과 스토퍼핀(153)의 외주면과의 거리와 동일하다.As shown in FIG. 6, the pivot member 120 pivots downward toward the base 110 until the pivot is stopped by the stopper 130. At this time, the rotation member 120 is always located at the correct point because the lower end of the protrusion of the stopper 130 is guided to the pair of guide pieces 140 formed on the upper surface of the base 110 so as not to flow from side to side. Is rotated to. In the state in which the rotation member 120 is stopped by the stopper 130, the pogo pin 170 maintains a constant gap between the terminals of the panel A, and is not in contact with each other. . The gap is equal to the distance between the upper end of the long hole 152 formed in the guide and the outer circumferential surface of the stopper pin 153.
그리고 회동부재(120)의 회동이 중단됨과 동시에 가이드부재(150)와 베이스(110)에 설치된 제2마그넷(192)의 자력에 의해 하강하게 되면서 상기 가이드부재(150)는 회동부재(120)의 회동단(121)부로부터 이격된다. 이때의 이격거리는 포고핀(170)과 패널(A)의 단자 사이의 갭과 동일하다. 따라서, 상기 가이드부재(150)가 장공(152)의 안내를 받아 수직으로 하강하다가 스토퍼핀(153)이 장공(152)의 상단에 간섭되면서 더 이상의 하강이 제한되면, 베이스(110) 상면에 부착됨과 동시에 포고핀(170)과 패널(A)의 단자의 컨택이 무리없이 자연스럽게 이루어진다.And while the rotation of the rotation member 120 is stopped and at the same time lowered by the magnetic force of the second magnet 192 installed in the guide member 150 and the base 110, the guide member 150 of the rotation member 120 It is spaced apart from the rotating end 121. The separation distance at this time is the same as the gap between the pogo pin 170 and the terminal of the panel (A). Therefore, when the guide member 150 is vertically lowered by the guide of the long hole 152 and the stopper pin 153 interferes with the upper end of the long hole 152 and further lowering is restricted, the guide member 150 is attached to the upper surface of the base 110. At the same time the contact between the pogo pin 170 and the terminal of the panel (A) is made naturally.
이와 같이 가이드부재(150)는 회동부재(120)에 비해 경량체이며 상하로 자유롭게 이동하면서 패널(A)의 단자에 정밀하게 컨택되므로 컨택구간이 길다하더라도 벤딩과 같은 변형이 발생되지 않아 항상 우수한 평탄도를 유지할 수 있다. 따라서 컨택신뢰도가 매우 높다.As described above, the guide member 150 is lighter than the rotation member 120 and moves freely up and down to precisely contact the terminals of the panel A. Therefore, even when the contact section is long, deformation such as bending does not occur, and thus always excellent flatness. Can maintain the degree. Therefore, contact reliability is very high.
이 상태에서 패널(A)의 단자로부터 발생된 전기적신호는 포고핀(170)을 통해 인터포저(180)를 거쳐 메인PCB(160)로 전달되며 메인PCB(160)에 연결된 제어부는 이를 분석하여 패널(A)의 불량을 판정한다.In this state, the electrical signal generated from the terminal of the panel A is transmitted to the main PCB 160 via the interposer 180 through the pogo pin 170, and the controller connected to the main PCB 160 analyzes the panel. The defect of (A) is determined.
검사가 완료되면, 회동부재(120)는 상향회동하여 원래 위치로 복귀하며 이 과정에서 제2마그넷(192)의 자력을 제공받지 못한 가이드부재(150)는 제1마그넷(191)의 자력에 의해 다시 회동부재(120)의 저면에 자동으로 부착되면서 초기상태를 유지하게 된다.When the inspection is completed, the rotation member 120 is rotated upward to return to the original position, and the guide member 150 which is not provided with the magnetic force of the second magnet 192 in this process is caused by the magnetic force of the first magnet 191. Again, it is automatically attached to the bottom of the rotating member 120 to maintain the initial state.
이와 같이, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상술하였으나 본 발명은 전술한 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자가 본 발명의 사상을 벗어나지 않고 변형 가능하며, 이러한 변형은 본 발명의 권리범위에 속할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be takeners of ordinary skill in the art, And such variations are within the scope of the present invention.
110...베이스 120...회동부재
130...스토퍼 140...가이드편
150...가이드부재 151...연장부
152...장공 153...스토퍼핀
160...메인PCB 170...포고핀
180...인터포저 191...제1마그넷
192...제2마그넷 A...패널
110.Base 120.Rotating member
130 ... Stopper 140 ... Guide
150 ... guide member 151 ... extension
152 ... Long 153 ... Stopper Pin
160 ... Main PCB 170 ... Pogo Pin
180 ... Interposer 191 ... Magnet 1
192 2nd Magnet A ... Panel

Claims (5)

  1. 검사 대상이 되는 평판 디스플레이 패널이 놓여지는 베이스;
    상기 베이스의 일측에 힌지결합된 회동부재;
    상기 회동부재의 회동을 제한하는 스토퍼;
    상기 회동부재의 회동단에 회동부재의 두께방향으로 이동가능하게 결합된 자성체로 이루어진 가이드부재;
    상기 가이드부재의 저면에 장착된 메인PCB;
    패널의 모든 전극에 대응되도록 상기 메인PCB와 전기적으로 연결된 포고핀;
    상기 회동부재에 설치되어 상기 가이드부재를 회동부재에 부착시키는 제1마그넷; 및
    상기 베이스에 설치되어 상기 스토퍼에 의해 회동부재의 회동이 제한된 상태에서 포고핀과 패널의 전극이 컨택될 수 있도록 상기 가이드부재를 회동부재로부터 이격시키는 제2마그넷을 포함하는 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치.
    A base on which the flat panel display to be inspected is placed;
    A rotating member hinged to one side of the base;
    A stopper for limiting rotation of the pivot member;
    A guide member made of a magnetic body movably coupled to a rotational end of the rotation member in a thickness direction of the rotation member;
    A main PCB mounted on the bottom of the guide member;
    A pogo pin electrically connected to the main PCB so as to correspond to all electrodes of the panel;
    A first magnet installed on the pivot member to attach the guide member to the pivot member; And
    Probe apparatus for inspecting a flat panel display panel provided on the base including a second magnet to separate the guide member from the rotating member so that the pogo pin and the electrode of the panel can be contacted in a state in which the rotation of the rotating member is limited by the stopper .
  2. 제1항에 있어서,
    상기 스토퍼는 중앙으로 수렴하는 단부를 가지면서 회동부재의 저면에 고정된 돌출부재이고,
    상기 베이스의 일측에는 상기 스토퍼의 단부 양측을 지지해 주는 한 쌍의 가이드편이 설치된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치.
    The method of claim 1,
    The stopper is a protruding member fixed to the bottom of the rotating member with an end converging to the center,
    Probe apparatus for inspecting flat panel display panel, characterized in that a pair of guide pieces for supporting both ends of the end of the stopper is installed on one side of the base.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 스토퍼는 단부에 볼이 장착된 볼플런저인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치.
    3. The method of claim 2,
    And the stopper is a ball plunger having a ball mounted at an end thereof.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 메인PCB의 저면에는 포고핀과 메인PCB를 전기적으로 연결해 주는 인터포저가 실장된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치.
    The method of claim 1,
    The bottom surface of the main PCB is an interposer for connecting the pogo pin and the main PCB electrically mounted probe device for inspection.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 가이드부재는
    회동부재의 회동선단과 나란하게 형성된 연장부와, 상기 연장부에 회동부재의 두께방향으로 형성된 장공과, 상기 장공에 끼워져 회동부재의 회동선단에 체결된 스토퍼핀을 통해 회동부재로부터 일정범위 이상 이격되지 않도록 제한된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널 검사용 프로브장치.
    The method of claim 1,
    The guide member
    The extension part formed parallel to the rotational tip of the rotational member, the long hole formed in the thickness direction of the rotational member on the extension part, and a stopper pin fitted to the rotational hole and fastened to the rotational tip of the rotational member and spaced apart from the rotational member by a predetermined range or more. Probe device for inspecting flat panel display panel characterized in that not limited.
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