KR101348016B1

KR101348016B1 - 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법

Info

Publication number: KR101348016B1
Application number: KR1020120019577A
Authority: KR
Inventors: 리앙-유 흐수
Original assignee: 크로마 에이티이 인코포레이티드
Priority date: 2011-09-15
Filing date: 2012-02-27
Publication date: 2014-01-07
Also published as: KR20130029706A; TW201312503A

Abstract

본 발명은 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것으로, 다수의 연산 유닛으로부터 다수의 테스트 조건을 수신하기 위한 서보 유닛을 포함한다. 상기 서보 유닛은 또한 상기 다수의 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 각각 할당할 수 있다. 본 발명은 종래 시스템의 각 장치를 재배열함으로써, 기존 시스템을 실질적으로 변경하지 않고서도, 단순하고 편리한 방법과 시스템 설계로 종래 시스템에 대한 업그레이드의 어려움 문제, 처리 능력을 신속하게 증가시키기 어려운 문제, 및 처리 리소스를 탄력적으로 활용하지 못하는 문제를 극복한다.

Description

이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법{A SYSTEM AND METHOD FOR PROCESSING THE IMAGE DATA OF AN IMAGE TEST}

본 발명은 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 테스트 대상물에 대한 분류를 진행하는 테스트 시스템 및 이의 처리방법에 관한 것이다.

전자부품에 대한 외관 테스트 시스템은 종종 모노레일 방식으로 작업을 진행한다. 즉, 단일 이미지 센서를 이용하고, 단일 연산 장치를 통하여 이미지의 촬영을 진행하여, 테스트하고자 하는 전자부품의 외관에 대한 분석 및 판단 작업을 하고 이를 바탕으로 분류작업을 수행한다.

테스트 항목에 소요되는 비용 및 난이도에 따라, 단일 이미지 센서의 주기는 수 초에서 수십 초까지 걸리게 되는데, 테스트 시스템의 테스팅 속도를 증가시키기 위해서는 이미지 센서와 연산 장치의 수를 늘려야 한다. 그러나, 시스템에 새로운 장비를 부가하거나 또는 오래된 장비에 대한 업데이트 작업을 진행할 때에는, 사용중인 시스템의 작동을 우선 정지시키고 나서 펌웨어(Firmware) 또는 부팅프로그램을 업데이트 시켜야 한다. 상기 업데이트 과정은 업데이트 또는 증가시켜야 하는 장치의 수량 및 규격에 따라, 짧게는 수십 시간, 길게는 몇일이 소요된다. 따라서, 장치에 대한 업그레이드 비용이 많이 들고, 또한 이러한 과정들은 시스템의 효율에 직접적인 영향을 미치게 된다. 전술한 이유에 의해, 종래 기술에 따른 테스트 시스템은 처리 능력을 신속하게 증가시키기 어렵고, 또한 처리 리소스를 탄력적으로 활용하지 못하는 문제가 있다.

따라서, 어떻게 단순하고 편리한 방법과 시스템 설계로 종래 시스템에 대한 업그레이드의 어려움 문제, 처리 능력을 신속하게 증가시키기 어려운 문제, 및 처리 리소스를 탄력적으로 활용하지 못하는 문제를 극복할 것인가 하는 것은 당업계가 해결해야할 목표 및 방향이 되었다.

본 발명의 주요 목적은 전술한 종래기술의 문제를 해결할 수 있는 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법을 제공하는 것으로, 더욱 자세하게는 테스트 대상물에 대하여 분류작업을 진행할 수 있는 테스트 시스템 및 방법을 제공하는 것이다.

본 발명이 제공하는 다지점 광학 측정 장치는 다수의 이미지 센서, 다수의 연산 유닛 및 서보 유닛을 포함하여 구성된다. 이미지 센서 각각은 테스트 대상물을 감지하여 이미지 데이터를 생성한다. 연산 유닛 각각은 이미지 센서를 통하여 이미지 데이터를 얻어 다수의 테스트 요구사항을 생성하되, 상기 다수의 테스트 요구사항을 연산처리하여 테스트 결과를 생성한다. 서보 유닛은 상기 다수의 연산 유닛과 연결되고, 상기 다수의 연산 유닛으로부터 상기 다수의 테스트 요구사항을 입력받고, 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배한다.

실제 응용에 있어서, 본 발명의 테스트 시스템은 다수의 이미지 센서를 포함한다. 상기 다수의 이미지 센서는 제 1 이미지 센서를 포함하되, 상기 제 1 이미지 센서는 제 1 테스트 대상물을 감지하여 제 1 이미지 데이터를 생성한다. 상기 다수의 연산 유닛은 제 1 연산 유닛을 포함하되, 상기 제 1 연산 유닛은 제 1 이미지 센서를 통하여 제 1 이미지 데이터를 얻어 다수의 제 1 테스트 요구사항을 생성한다. 상기 서보 유닛은 상기 제 1 연산 유닛으로부터 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 입력받고, 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배한다.

본 발명의 테스트 시스템이 구비하는 다수의 이미지 센서는 제 2 이미지 센서를 포함하되, 상기 제 2 이미지 센서는 제 2 테스트 대상물을 감지하여 제 2 이미지 데이터를 생성한다. 상기 다수의 연산 유닛은 제 2 연산 유닛을 포함하되, 상기 제 2 연산 유닛은 제 2 이미지 센서를 통하여 제 2 이미지 데이터를 얻어 다수의 제 2 테스트 요구사항을 생성한다. 상기 서보 유닛은 상기 제 2 연산 유닛으로부터 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 입력받고, 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배한다.

또한, 본 발명이 구비하고 있는 다수의 연산 유닛은 제 3 연산 유닛을 포함하되, 상기 제 3 연산 유닛은 상기 서보 유닛이 행하는 분배에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항과 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 연산처리한다.

또한, 실제 응용에 있어서, 본 발명의 테스트 시스템은 실행 유닛을 더 포함하여 구성되되, 상기 실행 유닛은 상기 다수의 연산 유닛 및 상기 서보 유닛과 연결되어, 테스트 결과에 따라 테스트 대상물을 분류하는 작업을 수행한다.

또한, 상기 서보 유닛은 멀티 스레드(Multi-Thread)의 동적 연결 라이브러리(Dynamic Linking Library DLL) 기술을 이용하여 상기 다수의 연산 유닛과 연결된다.

본 발명이 제공하는 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법은 단계 S1부터 단계 S5까지를 포함하여 구성된다. 단계 S1은 다수의 연산 유닛을 제공하되, 상기 다수의 연산 유닛은 제 1 연산 유닛을 포함하여 구성되도록 하고, 상기 제 1 연산 유닛은 제 1 이미지 센서를 통하여 제 1 테스트 대상물로부터 제 1 이미지 데이터를 얻는 단계이다. 단계 S2는 상기 제 1 연산 유닛이 상기 제 1 이미지 데이터에 따라 다수의 제 1 테스트 요구사항을 생성하고, 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 서보 유닛에 전송하는 단계이다. 단계 S3은 상기 서보 유닛이 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배하는 단계이다. 단계 S4는 상기 다수의 연산 유닛이 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 연산처리하여 제 1 테스트 결과를 생성하도록 하는 단계이다. 단계 S5는 상기 제 1 연산 유닛이 상기 제 1 테스트 결과를 받아, 상기 제 1 테스트 결과를 실행 유닛까지 전송하는 단계이다.

또한, 단계 S1부터 단계 S5의 진행과 동시에, 본 발명의 데이터 처리 방법은 다음 아래의 각 단계를 더 포함하여 구성될 수 있다. 즉 상기 다수의 연산 유닛은 제 2 연산 유닛을 포함하되, 제 2 이미지 센서로부터 제 2 테스트 대상물에 대한 제 2 이미지 데이터를 얻는다.

상기 제 2 연산 유닛은 상기 제 2 이미지 데이터에 따라 다수의 제 2 테스트 요구사항을 생성하여, 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 상기 서보 유닛에 전송한다. 상기 서보 유닛을 이용하여 상기 다수의 연산 유닛의 상태를 고려하여 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배한다. 상기 다수의 연산 유닛이 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 연산처리하여 제 2 테스트 결과를 생성한다. 상기 제 2 연산 유닛이 상기 제 2 테스트 결과를 입력받아, 상기 제 2 테스트 결과를 상기 실행 유닛에 전송한다.

또한, 상기 다수의 연산 유닛은 제 3 연산 유닛을 포함하되, 상기 서보 유닛이 행하는 분배에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항과 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 연산처리한다. 또한, 상기 다수의 연산 유닛은 상기 제 1 테스트 결과를 상기 서보 유닛에 전송하,; 상기 서보 유닛은 상기 제 1 테스트 결과를 상기 제 1 연산 유닛에 전송한다. 또한, 상기 실행 유닛은 상기 제 1 테스트 결과에 따라 상기 제 1 테스트 대상물을 분류하는 작업을 수행한다.

그러나, 본 발명의 테스트 방법이 전술한 단계에 한정되는 것은 아니며, 사용자의 요구에 따라 전술한 각 단계는 본 발명의 상기 실시예와 동일하거나 유사한 기능을 달성하는 범위 내에서 추가되거나 생략되거나 또는 그 선후 단계가 조정될 수 있다.

본 발명은 혁신적인 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법을 제공하고 있는데, 종래 기술에 따른 장치와 수단을 다시 배치하고 운용하여 종래 기술에 따른 시스템을 대폭 교체하지 않으면서도, 단순하고 편리한 방법과 시스템 설계로 종래 시스템에 대한 업그레이드의 어려움 문제, 처리 능력을 신속하게 증가시키기 어려운 문제, 및 처리 리소스를 탄력적으로 활용하지 못하는 문제를 극복하였다.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 시스템의 실시예를 보여주는 설명도이다.
도 2는 본 발명에 따른 테스트 시스템의 다른 실시예를 보여주는 설명도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 방법을 보여주는 단계 흐름도이다.

이하에서는 본 발명의 구체적인 실시예와 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 기술적 특징을 진일보하게 설명하도록 한다. 본 발명을 더욱 상세하고 설명하기 위하여 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용과 그 실시예를 참조한다.

본 발명에서 사용하는 기술적, 과학적 용어는 다른 정의가 존재하지 않는 이상 모두 통상의 기술자가 이해하고 있는 것과 동일한 의미를 갖는 것으로 가정한다. 또한 본 발명의 상세한 설명에서 개시하고 있는 실시예는 본 발명의 기술적 특징을 설명하기 위하여 예로서 든 실시태양에 불과한 것이다. 실제 사용에 있어서는 본 발명의 상세한 설명에서 개시된 방법 및 장치와 유사하거나 동일한 효과를 갖는 임의의 방법 및 장치를 사용할 수 있을 것이다.

또한, 본 발명은 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법 및 그 각 단계를 개시하고 있는데, 본 발명은 상세한 설명에 기재된 순서에 한정되지 않는다. 즉, 상세한 설명에서 기재된 순서 이외에도, 사용자의 요구에 따라 각 단계, 흐름, 선후순서를 자유롭게 조정할 수 있다. 또한 본 발명의 도면에 도시된 각 구성요소 사이의 비율은 본 발명의 이해를 위해 참고하기 위한 것이다. 따라서 도면에 도시된 각 구성요소의 크기, 위치 및 형상은 모두 사용자의 요구에 따라 조정될 수 있다. 또한, 본 발명의 구성요소의 성질이 서로 유사한 경우, 각 구성요소의 설명 및 도면부호는 이를 반영하여 적용하였다.

본 발명은 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법을 개시하고 있다. 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법은 테스트 방법과 관한 것이고, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 시스템은 테스트 시스템에 관한 것이다. 이하에서는 본 발명의 테스트 시스템 및 테스트 방법을 나누어 각각 설명하도록 하겠다.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 시스템의 실시예를 보여주는 설명도인데, 이를 참조한다. 본 발명의 테스트 시스템(1)은 제 1 테스트 대상물(21)에 대한 분류를 진행하는데 사용되는 것으로, 제 1 이미지 센서(111), 다수의 연산 유닛(12), 서보 유닛(13) 및 실행 유닛(14)을 포함하여 구성된다.

상기 제 1 테스트 대상물(21)은 그 외관이나 광학적 특성을 판단하고 그 우열을 결정해야하는 임의의 부재를 광범위하게 가르킨다. 본 실시예에서, 제 1 테스트 대상물(21)은 발광다이오드 베어 다이(LED bare die)가 되는데, 더욱 자세하게 설명하자면, 본 실시예의 제 1 테스트 대상물(21)은 웨이퍼를 분할하여 연장 결정(extended crystal)된 발광다이오드 베어 다이가 된다. 그러나, 본 발명의 제 1 테스트 대상물(21)이 발광다이오드 베어 다이에 한정되는 것은 아니며, 이 밖에도 반도체칩, 밀봉 포장된 반도체 모듈 또는 회로판 등의 전자부품이 될 수도 있다.

본 실시예에서, 제 1 이미지 센서(111)는 제 1 테스트 대상물(21)을 측정하여 이미지 데이터를 출력하는 장치를 광범위하게 가르킨다. 더욱 자세하게 설명하자면, 본 발명의 제 1 이미지 센서(111)는 이미징 렌즈가 구비된 광학 이미지 캡쳐장치가 된다. 여기서, 제 1 이미지 센서(111)는 이에 대응되는 연산 유닛(12)과 서로 연접되어 있다. 그러나 본 발명이 단일의 이미지 센서에 한정되지 않으며 다수의 이미지 센서를 채택하여 사용할 수 있으며, 이들 각각의 이미지 센서는 테스트 대상물을 감지하여 이미지 데이터를 생성한다.

본 실시예에서, 연산 유닛(12) 각각은 데이터 처리 능력을 구비한 장치 또는 프로그램을 광범위하게 가르키는데, 전술한 이미지 데이터에 대한 분석작업을 진행하는데 사용된다. 더욱 자세하게 설명하자면, 본 실시예에서, 연산 유닛(12) 각각은 대응되는 이미지 센서로부터 이미지 데이터를 입력받아 여러 가지 테스트 요구사항을 생성한다. 연산 유닛 각각은 또한 테스트 요구 사항을 처리하여 테스트 결과를 생성한다. 여기서 연산 유닛(12)은 인터넷과 연결된 개인PC에 한정되지 않는다. 설계자의 요구에 따라서 다수의 연산 유닛(12)은 영상 처리 카드, 중앙처리장치, 데이터 프로세싱 칩 또는 연산논리회로가 될 수 있다. 또한 본 발명의 연산 유닛이 물리적 장치에 한정되는 것은 아니며, 물리적 연산 장치에서 가동되는 각종 프로그램, 연산 프로그램 또는 기타 데이터 프로세싱 기능을 구비한 소프트웨어 기반의 처리 프로그램이 될 수도 있다. 본 실시예에서, 다수의 연산 유닛(12) 중의 하나는 제 1 연산 유닛(121)이 되는데, 상기 제 1 연산 유닛은 상기 제 1 이미지 센서(111)와 서로 연결되어, 상기 제 1 이미지 센서(111)가 생성한 이미지 데이터를 입력받아 여러 가지 테스트 요구사항을 생성한다.

본 발명의 서보 유닛(13)은 데이터 정리, 데이터 분배의 기능을 구비한 장치를 광범위하게 가르킨다. 본 실시에에서, 서보 유닛(13)은 네트워크에 연결된 개인 PC가 된다. 그러나 본 발명의 서보 유닛이 개인 PC에 한정되는 것은 아니며, 웹 서버 또는 기타 이에 상당하는 기능을 구비한 전자장치가 될 수도 있다. 여기서, 서보 유닛(13)은 연산 유닛과 서로 연결되어 있는데, 연산 유닛으로부터 테스트 요구사항을 입력받고, 연산 유닛의 상태에 따라 각각의 테스트 요구사항을 각각의 연산 유닛에 할당한다. 서보 유닛(13)과 연산 유닛은 범용 직렬 버스(Universal Serial Bus, USB)와 서로 연결되거나, 또는 TCP / IP 프로토콜을 통한 인터넷 또는 로컬 영역 네트워크와 서로 연결된다.

다음 아래에서는 각 구성요소의 작동방식을 자세하게 설명하도록 한다. 실제 응용시, 본 발명의 제 1 이미지 센서(111)는 제 1 테스트 대상물(21)을 감지하고, 상기 제 1 테스트 대상물(21)에 대응되는 제 1 연산 유닛(121)이 제 1 이미지 센서(111)와 연결되어 이로부터 제 1 이미지 데이터를 얻는다. 다음으로 제 1 연산 유닛(121)은 제 1 이미지 데이터를 변환하거나 또는 분할하여 다수의 테스트 요구사항을 생성한다. 제 1 연산 유닛(121)은 상기 다수의 테스트 요구사항을 서보 유닛(13)에 전송하여 분배가 진행되도록 한다. 이와 동시에, 연산 유닛(12) 각각은 연속하여 그 부하상태를 서보 유닛(13)에 전송하게 된다. 상기 부하상태는 연산 유닛 각각이 사용할 수 있는 데이터 처리능력을 의미한다.

서보 유닛(13)은 다수의 제 1 테스트 요구사항을 입력받은 후에, 연산 유닛(12) 각각의 부하상태에 따라 제 1 테스트 요구사항 각각을 연산 유닛(12) 각각에 분배하여 연산을 진행한다. 연산을 진행한 연산 유닛(12) 각각은 제 1 연산 유닛(121)을 포함한다. 테스트 요구사항을 분배할 때, 연산 유닛(12) 각각이 입력받은 분배비율, 계산량, 선후순서 및 종류는 모두 정리된다.

서보 유닛(13)이 제 1 테스트 요구사항을 분배한 후, 이를 분배받은 연산 유닛(12) 각각은 제 1 테스트 요구사항을 연산 처리한 후, 그 연산 결과를 정리하여 제 1 테스트 결과를 생성한다. 제 1 테스트 결과는 서보 유닛(13)을 통해서 제 1 연산 유닛(121)으로 전송되는데, 제 1 연산 유닛(121)은 제 1 테스트 결과를 입력받은 후에 상기 제 1 테스트 결과에 대한 판단을 진행하여 이에 관련된 실행 명령을 실행 유닛(14)으로 전송한다. 실행 유닛(14)은 상기 실행 명령에 따라 제 1 테스트 대상물(21)에 대한 분류작업을 진행한다. 여기서 주의해야 할 것은, 연산 유닛 각각과 서보 유닛(13)은 멀티 스레드(Multi-Thread)의 동적 연결 라이브러리(Dynamic Linking Library DLL) 기술을 이용하여 서로 연결되어 있기 때문에, 데이터의 엉킴이 방지된다는 것이다.

그러나, 본 발명이 상술한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 도 2는 본 발명에 따른 테스트 시스템(1)의 다른 실시예를 보여주는 설명도이고, 도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 방법을 보여주는 단계 흐름도이데, 상기 도 2 및 도 3을 참조한다. 도 2에 도시된 바와 같이, 테스트 시스템(1)은 제 1 이미지 센서(111), 제 2 이미지 센서(112) 및 이들과 대응되는 제 1 연산 유닛(121), 제 2 연산 유닛(122)을 포함하여 구성된다.

제 2 이미지 센서(112)와 제 2 연산 유닛(122)의 기능 및 이들 사이의 대응관계는 제 1 이미지 센서(111)와 제 1 연산 유닛(121)과 유사하기 때문에, 여기서 다시 언급하지는 않겠다. 제 1 이미지 센서(111)와 제 2 이미지 센서(112)는 각각 제 1 테스트 대상물(21)과 제 2 테스트 대상물(22)로부터 제 1 이미지데이터와 제 2 이미지 데이터를 얻은 후에, 이에 따라 다수의 제 1 테스트 요구사항 및 제 2 테스트 요구사항을 생성한다. 상기 제 1 테스트 요구사항 및 제 2 테스트 요구사항 각각은 서보 유닛(13)까지 전송된다.

다음으로, 서보 유닛(13)은 연산 유닛(12) 각각의 부하상태를 고려하여 제 1 테스트 요구사항 및 제 2 테스트 요구사항 각각을 제 1 연산 유닛(121), 제 2 연산 유닛(122) 및 제 3 연산 유닛(123) 내의 각 연산 유닛(12)에 분배하여 각각을 연산하고 정리하여 제 1 테스트 결과 및 제 2 테스트 결과를 생성한다.

다음으로, 제 1 테스트 결과 및 제 2 테스트 결과를 각각 제 1 연산 유닛(121) 및 제 2 연산 유닛(122)으로 전송하고, 상기 제 1 연산 유닛(121) 및 제 2 연산 유닛(122)은 각각 실행 명령을 실행 유닛(14)으로 전송하여 상기 실행 유닛(14)으로 하여금 대응되는 실행 명령에 따라서 제 1 테스트 대상물(21)과 제 2 테스트 대상물(22)을 분류하는 작업을 진행하도록 한다.

여기서 주의해야 할 것은, 연산 유닛(12) 각각은 TCP / IP 프로토콜을 통하여 서보 유닛(13)과 서로 연접된다. 그 밖에, 멀티 스레드(Multi-Thread)의 동적 연결 라이브러리(Dynamic Linking Library DLL) 기술을 이용하여 전술한 데이터의 전송을 진행한다. 또한, 제 3 연산 유닛(123) 내부에 포함된 연산 유닛(12) 각각은 동시에 다수개의 각기 다른 테스트 시스템과 연결되어, 상기 다수의 테스트 시스템의 예비 연산기로 기능을 하게 된다. 멀티 스레드의 동적 연결 라이브러리 기술을 통하여 연산 능력을 구비한 하드웨어는 테스트 시스템과 연결되어 작동된다. 따라서, 연산 능력이 부족한 경우, 사용자는 일반적인 개인PC에 동적 연결 라이브러리의 관련 동기화 소프트웨어를 설치한 후에, 직접적으로 새장치에 의해서 연산을 진행할 수 있도록 함으로써, 종래 기술에 따른 테스트 시스템에 대한 업그레이드 진행시 몇일씩 걸리게 되는 단점을 해결할 수 있다.

다음, 본 발명은 인터넷계정의 응용을 통하여 테스트를 진행하는 사용자가 연산 능력이 부족한 경우에는 외국 협력상(協力商)의 컴퓨터 연산능력 또는 연산기를 차용하여 제품에 대한 테스트를 진행할 수 있게 함으로써, 새로운 하드웨어를 장착할 필요가 없게 할 수 있다. 따라서 이론상으로, 본 발명에 따른 시스템의 연산능력은 매우 짧은 시간 내에 무한정 증가할 수 있게 된다. 극단적인 예로, 본 발명의 테스트 요구사항은 모두 인터넷을 통하여 인터넷의 타단으로 완전하게 전송되어 연산을 진행할 수 있게 된다. 그 밖에, 멀티 스레드의 동적 연결 라이브러리 기술을 통하여, 각각의 장치 모두가 짧은 시간 내에 동시 작업이 가능하게 된다.

다음으로 이하에서는 본 발명의 테스트 방법에 대하여 설명하도록 한다. 도 3을 참조하여 보면, 본 발명의 테스트 방법은 단계 S1부터 단계 S5까지를 포함한다. 단계 S1은 제 1 이미지 센서를 통하여 제 1 테스트 대상물로부터 제 1 이미지 데이터를 얻는 단계이다. 단계 S2는 제 1 이미지 데이터를 제 1 연산 유닛으로 전송하여, 상기 제 1 연산 유닛으로 하여금 제 1 이미지 데이터에 따라 다수의 제 1 테스트 요구사항을 생성하도록 하는 단계이다. 단계 S3은 제 1 테스트 요구사항 각각을 서보 유닛에 전송하여 상기 제 1 테스트 요구사항 각각이 다수의 연산 유닛에 분배되어 연산 처리되도록 하는 단계이다. 단계 S4는 연산 유닛 각각을 이용하여 제 1 테스트 요구사항 각각을 연산처리하고 정리하여 제 1 테스트 결과를 생성하도록 하는 단계이다. 마지막으로 단계 S5는 서보 유닛을 이용하여 제 1 테스트 결과를 입력받은 후에 제 1 테스트 결과를 제 1 연산 유닛에 전송하고, 상기 제 1 연산 유닛을 통하여 제 1 테스트 결과를 실행 유닛까지 전송하여 제 1 테스트 대상물에 대한 분류를 진행하는 단계이다.

전술한 다수의 연산 유닛은 제 1 연산 유닛, 제 2 연산 유닛 및 제 3 연산 유닛을 포함한다. 여기서, 연산 유닛 각각은 서로 대응되는 이미지 센서를 통하여 테스트 대상물로부터 이미지 데이터를 얻게 된다.

단계 S1부터 단계 S5의 진행과 동시에, 본 발명의 테스트 방법은 다음 아래의 각 단계를 더 포함하여 구성될 수 있다. 즉 제 2 연산 유닛을 이용하여 제 2 이미지 센서로부터 제 2 테스트 대상물에 대한 제 2 이미지데이터를 얻는다. 다음으로 제 2 연산 유닛은 제 2 이미지 데이터에 따라 다수의 제 2 테스트 요구사항을 생성하여, 상기 제 2 테스트 요구사항 각각을 서보 유닛에 전송한다. 다음으로 서보 유닛을 이용하여 연산 유닛 각각의 상태를 고려하여 제 2 테스트 요구사항 각각을 연산 유닛 각각에 분배한다. 그 후에, 연산 유닛 각각을 이용하여 분배된 제 2 테스트 요구사항 각각을 연산처리하고 정리하여 제 2 테스트 결과를 생성한다. 다음으로, 제 2 테스트 결과를 실행 유닛까지 전송한 후에, 제 2 연산 유닛까지 전송되도록 함으로써, 실행 유닛의 제어로 제 2 테스트 대상물에 대한 분류가 진행되도록 한다.

제 1 연산 유닛과 제 2 연산 유닛을 제외하고, 상기 다수의 연산 유닛 중 하나는 제 3 연산 유닛이 된다. 제 3 연산 유닛은 서보 유닛이 행하는 분배에 따라 제 1 테스트 요구사항과 제 2 테스트 요구사항 각각을 연산처리한다. 그러나, 본 발명의 테스트 방법이 전술한 단계에 한정되는 것은 아니며, 사용자의 요구에 따라 전술한 각 단계는 본 발명의 상기 실시예와 동일하거나 유사한 기능을 달성하는 범위 내에서 추가되거나 생략되거나 또는 그 선후 단계가 조정될 수 있다.

종래 기술에 따른 모노레일 방식의 테스트 시스템은 연산 유닛의 테스트 속도에 의해 제한을 받게 되는데, 각 이미지 데이터를 읽어 들일 때 수십 초가 걸리는 경우가 있다. 이미지 데이터에 대한 분할을 진행하여 다수의 테스트 요구사항을 생성하고, 하나 이상의 컴퓨터가 동시에 연산을 처리하도록 함으로서, 이미지 데이터를 처리하는데 필요한 시간을 대폭 감소시킬 수 있다.

이를 간단하게 설명하자면, 본 발명은 혁신적인 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하기 위한 시스템 및 방법을 제공하고 있는데, 종래 기술에 따른 장치와 수단을 다시 배치하고 운용하되, 종래 기술에 따른 시스템을 대폭적인 갱신하지 않으면서도, 단순하고 편리한 방법과 시스템 설계로 종래 시스템에 대한 업그레이드의 어려움 문제, 처리 능력을 신속하게 증가시키기 어려운 문제, 및 처리 리소스를 탄력적으로 활용하지 못하는 문제를 극복하였다.

상술한 실시예는 본 발명의 기술적 특징을 설명하기 위하여 예로서 든 실시태양에 불과한 것으로, 청구범위에 기재된 본 발명의 보호범위를 제한하기 위하여 사용되는 것이 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 정신과 범위를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해해야 한다. 따라서 본 발명의 보호범위는 첨부된 청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

1 : 테스트 시스템
111 : 제 1 이미지 센서 112 : 제 2 이미지 센서
12 : 연산 유닛 121 : 제 1 연산 유닛
122 : 제 2 연산 유닛 123 : 제 3 연산 유닛
13 : 서보 유닛 14 : 실행 유닛
21 : 제 1 테스트 대상물 22 : 제 2 테스트 대상물
S1~S5 : 단계 흐름

Claims

다수의 연산 유닛을 제공하되, 상기 다수의 연산 유닛은 제 1 연산 유닛을 포함하여 구성되도록 하고, 상기 제 1 연산 유닛은 제 1 이미지 센서를 통하여 제 1 테스트 대상물로부터 제 1 이미지 데이터를 얻는 단계;
상기 제 1 연산 유닛이 상기 제 1 이미지 데이터에 따라 다수의 제 1 테스트 요구사항을 생성하고, 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 서보 유닛에 전송하는 단계;
상기 서보 유닛이 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배하는 단계;
상기 다수의 연산 유닛이 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 연산처리하여 제 1 테스트 결과를 생성하도록 하는 단계; 및
상기 제 1 연산 유닛이 상기 제 1 테스트 결과를 받아, 상기 제 1 테스트 결과를 실행 유닛까지 전송하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법.
청구항 1에 있어서,
상기 다수의 연산 유닛은 제 2 연산 유닛을 포함하되, 제 2 이미지 센서로부터 제 2 테스트 대상물에 대한 제 2 이미지 데이터를 얻는 단계;
상기 제 2 연산 유닛은 상기 제 2 이미지 데이터에 따라 다수의 제 2 테스트 요구사항을 생성하여, 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 상기 서보 유닛에 전송하는 단계;
상기 서보 유닛을 이용하여 상기 다수의 연산 유닛의 상태를 고려하여 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배하는 단계;
상기 다수의 연산 유닛이 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 연산처리하여 제 2 테스트 결과를 생성하는 단계; 및
상기 제 2 연산 유닛이 상기 제 2 테스트 결과를 입력받아, 상기 제 2 테스트 결과를 상기 실행 유닛에 전송하는 단계를 더 포함하여 구성되는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법.
청구항 2에 있어서, 상기 다수의 연산 유닛은 제 3 연산 유닛을 포함하되, 상기 서보 유닛이 행하는 분배에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항과 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 연산처리하는 단계를 더 포함하여 구성되는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법.
청구항 1에 있어서, 상기 다수의 연산 유닛은 상기 제 1 테스트 결과를 상기 서보 유닛에 전송하고, 상기 서보 유닛은 상기 제 1 테스트 결과를 상기 제 1 연산 유닛에 전송하는 단계를 더 포함하여 구성되는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법.
청구항 1에 있어서, 상기 실행 유닛은 상기 제 1 테스트 결과에 따라 상기 제 1 테스트 대상물을 분류하는 작업을 수행하는 단계를 더 포함하여 구성되는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터 처리 방법.
테스트 대상물을 감지하여 이미지 데이터를 생성하는 이미지 센서로 구성된 다수의 이미지 센서;
이미지 센서를 통하여 이미지 데이터를 얻어 다수의 테스트 요구사항을 생성하되, 상기 다수의 테스트 요구사항을 연산처리하여 테스트 결과를 생성하는 연산 유닛으로 구성된 다수의 연산 유닛; 및
상기 다수의 연산 유닛과 연결되고, 상기 다수의 연산 유닛으로부터 상기 다수의 테스트 요구사항을 입력받고, 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배하는 서보 유닛을 포함하여 구성되는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하는 테스트 시스템.
청구항 6에 있어서, 상기 다수의 이미지 센서는 제 1 이미지 센서를 포함하되, 상기 제 1 이미지 센서는 제 1 테스트 대상물을 감지하여 제 1 이미지 데이터를 생성하며,
상기 다수의 연산 유닛은 제 1 연산 유닛을 포함하되, 상기 제 1 연산 유닛은 상기 제 1 이미지 센서를 통하여 상기 제 1 이미지 데이터를 얻어 다수의 제 1 테스트 요구사항을 생성하며,
상기 서보 유닛은 상기 제 1 연산 유닛으로부터 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 입력받고, 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배하는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하는 테스트 시스템.
청구항 7에 있어서, 상기 다수의 이미지 센서는 제 2 이미지 센서를 포함하되, 상기 제 2 이미지 센서는 제 2 테스트 대상물을 감지하여 제 2 이미지 데이터를 생성하며,
상기 다수의 연산 유닛은 제 2 연산 유닛을 포함하되, 상기 제 2 연산 유닛은 상기 제 2 이미지 센서를 통하여 상기 제 2 이미지 데이터를 얻어 다수의 제 2 테스트 요구사항을 생성하며,
상기 서보 유닛은 상기 제 2 연산 유닛으로부터 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 입력받고, 상기 다수의 연산 유닛의 상태에 따라 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 상기 다수의 연산 유닛에 분배하는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하는 테스트 시스템.
청구항 8에 있어서, 상기 다수의 연산 유닛은 제 3 연산 유닛을 포함하되, 상기 제 3 연산 유닛은 상기 서보 유닛이 행하는 분배에 따라 상기 다수의 제 1 테스트 요구사항과 상기 다수의 제 2 테스트 요구사항을 연산처리하는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하는 테스트 시스템.
청구항 6에 있어서, 실행 유닛을 더 포함하여 구성되되, 상기 실행 유닛은 상기 다수의 연산 유닛 및 상기 서보 유닛과 연결되어, 테스트 결과에 따라 테스트 대상물을 분류하는 작업을 수행하는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하는 테스트 시스템.
청구항 6에 있어서, 상기 서보 유닛은 멀티 스레드(Multi-Thread)의 동적 연결 라이브러리(Dynamic Linking Library DLL) 기술을 이용하여 상기 다수의 연산 유닛과 연결되는, 이미지 테스트에 관한 이미지 데이터를 처리하는 테스트 시스템.