KR101308678B1 - A Light Distribution Inspection Device And A Light Distribution Inspection Process - Google Patents
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Abstract
본 발명은 스크린을 포함하는 배광 검사 장치에 있어서, 상기 스크린은 복수개의 조도센서를 포함하며, 상기 조도센서는 법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되는 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치에 관한 것으로, 법규에서 정하는 포인트 위치의 각각에 조도센서를 설치하고, 상기 각각의 조도센서에서 읽은 조도값을 통해, 법규에서 정하는 각각의 포인트 위치에서의 빔의 분포특성을 동시에 측정할 수 있다.The present invention relates to a light distribution inspection device including a screen, wherein the screen includes a plurality of illumination sensors, and the illumination sensor is related to a light distribution inspection device, which is installed at a point position determined by a law. An illuminance sensor is provided at each of the point positions, and the distribution characteristic of the beam at each point position determined by the law can be simultaneously measured through the illuminance value read by the illuminance sensors.
Description
본 발명은 배광 검사 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 조명 유닛의 광원이 조사되는 스크린을 포함하는 배광 검사 장치 및 배광 검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a light distribution inspection apparatus, and more particularly, to a light distribution inspection apparatus and a light distribution inspection method comprising a screen to which the light source of the illumination unit is irradiated.
일반적으로 램프는 그 용도에 따라 광도나 색상을 달리하여 사용하게 되는데 특히, 자동차용 램프는 야간에 운전시야를 넓혀 안전운행을 유도해야할 뿐만 아니라 다른쪽 차선을 주행하는 운전자의 전방시야를 가리지 않게 하고, 또한 차선쪽을 잘 볼 수 있도록, 광 중심선을 중심으로 다른 광도값을 갖는 영역이 생기도록 제작될 수 있다.In general, lamps are used with different brightness or color according to their purpose. In particular, lamps for automobiles should widen the driving field at night to induce safe driving, and do not obstruct the front field of the driver driving the other lane. In addition, it may be manufactured so that a region having a different light intensity value is formed around the optical center line so that the lane side can be easily seen.
보다 구체적으로, 자동차용 램프는 주, 야간에 상대방 운전자에게 신호를 주거나 차량운전자의 시인성을 보장하는 수단으로써, 각각의 기능에는 그 기능을 만족해야 하는 법규상의 밝기 규제가 있다. More specifically, the vehicle lamp is a means for giving a signal to the other driver at day and night or ensuring the visibility of the vehicle driver, and each function has a regulation of brightness that is required to satisfy the function.
램프에서 요구하는 법규 포인트는 하나의 펑션에서 20개 이상이며, 프론트 램프를 예를 들면 로우빔, 하이빔, 전방 방향지시등, 차폭등, 안개등, 주간등 등이 있고, 리어 램프를 예를 들면 리어 방향지시등, 백업등 리어포그등 등이 있다.The number of legal points required by the lamp is 20 or more in one function, and the front lamps include, for example, low beam, high beam, front turn indicators, vehicle width lamps, fog lights, daylights, and the like. There are indicator lights, backup lights, rear fog lights, etc.
도 1a 및 도 1b는 종래의 배광 검사 장치에서의 스크린을 도시한 개략적인 도면이다.1A and 1B are schematic diagrams showing screens in a conventional light distribution inspection apparatus.
먼저, 종래의 배광 검사 장치는 램프 또는 조명기구 등의 조명 유닛을 차량에 장착된 상태와 가장 유사하게 위치하도록 위치를 조절해주는 고니오미터와 단일의 조도센서를 포함하는 스크린을 사용하고 있다.First, a conventional light distribution inspection apparatus uses a screen including a goniometer and a single illuminance sensor for adjusting a position such that a lighting unit such as a lamp or a lighting fixture is most similar to a state mounted on a vehicle.
즉, X, Y, Z축에 따라 이동할 수 있는 고니오미터의 상부에 램프 또는 조명기구를 설치하고, 상기 램프 또는 조명기구 등의 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 조도센서(20)를 포함하는 스크린(10)에 조사함으로써, 빔(30)의 분포특성을 측정하는 것이다.That is, a lamp or a lighting device is installed on the goniometer that can move along the X, Y, and Z axes, and the
하지만, 상술한 바와 같이, 램프에서 요구하는 법규 포인트는 하나의 펑션에서 20개 이상이고, 그 펑션에 있는 수많은 포인트를 확인하기 위해서는 상기 고니오미터를 X, Y, Z축에 따라 이동시키면서 각각의 포인트 위치를 상기 조도센서와 일치시켜서, 그때마다 조도값을 체크하여 빔의 분포특성을 검사하여야 한다.However, as described above, the legal point required by the ramp is 20 or more in one function, and each goniometer is moved along the X, Y, and Z axes to check the numerous points in the function. By matching the point position with the illuminance sensor, the illuminance value should be checked at each time to check the distribution characteristics of the beam.
즉, 도 1a에 도시된 바와 같이, 하나의 포인트를 확인하기 위해 단일의 조도센서(20)를 포함하는 스크린(10)에 빔(30)을 조사하여, 그 포인트에서의 빔의 분포특성을 검사한 후, 도 1b에 도시된 바와 같이, 다른 포인트에서의 빔의 분포특성을 검사하기 위해, 고니오미터를 X, Y, Z축에 따라 이동시키는 것에 의해 그 상부에 있는 램프 또는 조명기구의 위치를 변동시키면서, 포인트 위치를 상기 조도센서와 일치시켜, 그 때의 조도값을 체크하여 빔의 분포특성을 검사하였다.That is, as shown in FIG. 1A, the
하지만, 이와 같은 종래의 배광 검사 장치는 상술한 다양한 펑션과 포인트로 인해, 하나의 램프의 배광특성을 검사하기 위해서는 수시간이 소요되는 문제점이 있다.However, such a conventional light distribution inspection device has a problem in that it takes several hours to inspect the light distribution characteristics of one lamp due to the various functions and points described above.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 종래의 배광 검사 장치의 구조를 개선하여, 보다 짧은 시간에 많은 램프의 배광 수준을 확인할 수 있는 배광 검사 장치 및 배광 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The problem to be solved by the present invention is to improve the structure of the conventional light distribution inspection device, to provide a light distribution inspection device and a light distribution inspection method that can check the light distribution level of many lamps in a shorter time.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
상기 지적된 문제점을 해결하기 위해서 본 발명은 스크린을 포함하는 배광 검사 장치에 있어서, 상기 스크린은 복수개의 조도센서를 포함하며, 상기 조도센서는 법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되는 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치를 제공한다.In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a light distribution inspection apparatus including a screen, wherein the screen includes a plurality of illuminance sensors, and the illuminance sensor is installed at a point position determined by law. Provide the device.
또한, 본 발명은 상기 법규는 유럽 자동차 램프 법규, 국내법규 또는 북미지역 자동차 램프 법규인 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치를 제공한다.In addition, the present invention provides a light distribution inspection device, characterized in that the law is a European car lamp law, domestic law or North American car lamp law.
또한, 본 발명은 상기 배광 검사 장치는, 조명 유닛이 설치되는 조명 유닛 설치대; 및 상기 조명 유닛 설치대와 상기 스크린의 사이에 위치하고, 개구부를 포함하는 빔차단부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치를 제공한다.In addition, the present invention, the light distribution inspection device, the lighting unit mounting base on which the lighting unit is installed; And a beam blocking unit positioned between the lighting unit mounting table and the screen and including an opening.
또한, 본 발명은 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔 중, 상기 개구부 영역을 통과한 빔만 상기 스크린에 조사되고, 나머지 빔은 상기 빔차단부에 의해 차단되는 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치를 제공한다.In addition, the present invention provides a light distribution inspection device, characterized in that only the beam passing through the opening region of the beam emitted from the illumination unit is irradiated to the screen, the remaining beam is blocked by the beam blocking unit.
또한, 본 발명은 상기 개구부 영역을 통과한 빔은 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔인 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치를 제공한다.In addition, the present invention provides a light distribution inspection apparatus, characterized in that the beam passing through the opening region is a beam including a cut-off (cut-off).
또한, 본 발명은 조명 유닛이 설치되는 조명 유닛 설치대와 스크린의 사이에 위치하고, 개구부를 포함하는 빔차단부를 위치시키는 단계; 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제1조사단계; 상기 조명 유닛 설치대와 상기 스크린의 사이에 위치하고, 상기 개구부를 포함하는 빔차단부를 제거하는 단계; 및 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제2조사단계를 포함하고, 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제1조사단계는 상기 개구부를 포함하는 빔차단부를 통해, 의도된 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔만을 통과시키는 단계인 것을 특징으로 하는 배광 검사 방법을 제공한다.In addition, the present invention is located between the lighting unit mounting stage and the screen on which the lighting unit is installed, positioning the beam blocking unit including an opening; A first irradiation step of irradiating the screen with the beam emitted from the illumination unit; Removing a beam blocker positioned between the lighting unit mounting table and the screen and including the opening; And a second irradiation step of irradiating the screen with the beam emitted from the illumination unit, and the first irradiation step of irradiating the beam with the beam emitted from the illumination unit comprises: a beam blocking unit including the opening; It provides a light distribution inspection method characterized in that the step of passing only the beam including the intended cut-off (cut-off).
또한, 본 발명은 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제1조사단계이후, 상기 의도된 컷-오프 라인을 기준으로 에이밍을 실시하는 단계를 더 포함하는 배광 검사 방법을 제공한다.In another aspect, the present invention provides a light distribution inspection method further comprising the step of aming based on the intended cut-off line after the first irradiation step of irradiating the screen with a beam emitted from the illumination unit. .
또한 본 발명은 상기 스크린은 복수개의 조도센서를 포함하며, 상기 조도센서는 법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되어 있고, 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제2조사단계는 법규에서 정하는 각각의 포인트 위치에서의 빔의 분포특성을 동시에 측정하는 것인 배광 검사 방법을 제공한다.In addition, the present invention is the screen includes a plurality of illuminance sensor, the illuminance sensor is installed at the point position prescribed by the law, the second irradiation step of irradiating the screen with the beam emitted from the lighting unit is determined by the law It provides a light distribution inspection method for measuring the distribution characteristics of the beam at each point position at the same time.
상기한 바와 같은 본 발명의 배광 검사 장치에 따르면, 법규에서 정하는 포인트 위치의 각각에 조도센서를 설치하고, 상기 각각의 조도센서에서 읽은 조도값을 통해, 법규에서 정하는 각각의 포인트 위치에서의 빔의 분포특성을 동시에 측정할 수 있다.According to the light distribution inspection apparatus of the present invention as described above, an illuminance sensor is installed at each of the point positions defined by the law, and through the illuminance values read by the respective illuminance sensors, Distribution characteristics can be measured simultaneously.
또한, 본 발명에서는 측정이 필요한 램프 등의 조명 유닛을 점등하면, 각각의 조도센서에서의 조도값을 동시에 읽을 수 있기 때문에, 단시간에 한개의 펑션에 대한 측정이 가능하여, 배광 검사 시간을 크게 단축시킬 수 있다.In the present invention, when illuminating a lighting unit such as a lamp that requires measurement, the illuminance values of the respective illuminance sensors can be read at the same time, so that one function can be measured in a short time, thereby greatly shortening the light distribution inspection time. You can.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description of the claims.
도 1a 및 도 1b는 종래의 배광 검사 장치에서의 스크린을 도시한 개략적인 도면이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 배광 검사 장치에서의 스크린을 도시한 개략적인 도면이다.
도 3a는 본 발명에 따른 배광 검사 장치의 구성을 도시한 개략적인 도면이고, 도 3b는 본 발명에 따른 배광 검사 장치의 빔차단부를 도시한 평면도이며, 도 3c는 빔차단부를 사용한 경우의 빔의 조사특성을 도시하는 개략적인 도면이고, 도 3d는 복수의 컷-오프를 포함하는 빔의 예를 도시한 도면이다.1A and 1B are schematic diagrams showing screens in a conventional light distribution inspection apparatus.
2A and 2B are schematic views showing screens in the light distribution inspection apparatus according to the present invention.
Figure 3a is a schematic diagram showing the configuration of the light distribution inspection apparatus according to the present invention, Figure 3b is a plan view showing a beam blocking portion of the light distribution inspection apparatus according to the present invention, Figure 3c is a view of the beam when using the beam blocking portion It is a schematic diagram which shows irradiation characteristic, and FIG. 3D is a figure which shows the example of the beam containing multiple cut-off.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. To fully disclose the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.
따라서, 몇몇 실시예에서, 잘 알려진 공정 단계들, 잘 알려진 구조 및 잘 알려진 기술들은 본 발명이 모호하게 해석되는 것을 피하기 위하여 구체적으로 설명되지 않는다. Thus, in some embodiments, well known process steps, well-known structures, and well-known techniques are not specifically described to avoid an undue interpretation of the present invention.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 포함한다(comprises) 및/또는 포함하는(comprising)은 언급된 구성요소, 단계 및/또는 동작 이외의 하나 이상의 다른 구성요소, 단계 및/또는 동작의 존재 또는 추가를 배제하지 않는 의미로 사용한다. 그리고, "및/또는"은 언급된 아이템들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. In the present specification, the singular form includes plural forms unless otherwise specified in the specification. It should be understood that the terms comprising and / or comprising the terms used in the specification do not exclude the presence or addition of one or more other components, steps and / or operations other than the stated components, steps and / . And "and / or" include each and any combination of one or more of the mentioned items.
또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 사시도, 단면도, 측면도 및/또는 개략도들을 참고하여 설명될 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 또한, 본 발명에 도시된 각 도면에 있어서 각 구성 요소들은 설명의 편의를 고려하여 다소 확대 또는 축소되어 도시된 것일 수 있다.Further, the embodiments described herein will be described with reference to the perspective view, cross-sectional view, side view, and / or schematic views, which are ideal illustrations of the present invention. Thus, the shape of the illustrations may be modified by manufacturing techniques and / or tolerances. Accordingly, the embodiments of the present invention are not limited to the specific forms shown, but also include variations in forms generated by the manufacturing process. In addition, in the drawings of the present invention, each constituent element may be somewhat enlarged or reduced in view of convenience of explanation.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 배광 검사 장치에서의 스크린을 도시한 개략적인 도면이다.2A and 2B are schematic views showing screens in the light distribution inspection apparatus according to the present invention.
도 2a를 참조하면, 본 발명에 따른 배광 검사 장치의 스크린(100)은 복수개의 조도센서(110)를 포함하며, 상기 조도센서(110)는 법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되는 것을 특징으로 한다.Referring to FIG. 2A, the
이때, 상기 법규란 유럽 자동차 램프 법규일 수 있으며, 예를 들어, EC Reg. No.98, EC Reg. No.112 또는 EC Reg. No.123일 수 있고, 따라서, 상기 조도센서는 EC Reg. No.98, EC Reg. No.112 또는 EC Reg. No.123에서 정하는 포인트의 위치에 설치될 수 있다.In this case, the legislation may be a European automobile lamp legislation, for example, EC Reg. No. 98, EC Reg. No. 112 or EC Reg. No. 123, so that the illuminance sensor is EC Reg. No. 98, EC Reg. No. 112 or EC Reg. It can be installed in the position of the point prescribed by No.123.
다만, 상기 법규는 북미지역 자동차 램프 법규 또는 국내법규인 자동차 안전기준일 수 있으며, 따라서, 본 발명에서 상기 법규의 종류를 한정하는 것은 아니다.However, the law may be a car lamp standard or a car safety standard that is a national law in North America, and thus, the present invention does not limit the type of the law.
즉, 본 발명에서는 법규에서 정하는 포인트 위치의 각각에 상기 조도센서를 설치하고, 상기 각각의 조도센서에서 읽은 조도값을 통해, 법규에서 정하는 각각의 포인트 위치에서의 빔의 분포특성을 동시에 측정할 수 있다.That is, in the present invention, the illuminance sensor is installed at each of the point positions defined by the law, and the distribution characteristic of the beam at each point position determined by the law can be simultaneously measured through the illuminance value read by the respective illuminance sensors. have.
이때, 각각의 조도센서 간에 통신케이블을 연결한 후, 이를 조도계 본체와 연결하고, 상기 조도계 본체를 PC와 연결하여, 각각의 조도센서에서 읽은 조도값을 PC에서 확인하는 것이 가능하다.At this time, after connecting the communication cable between each illuminance sensor, it is connected to the illuminometer body, and the illuminometer body is connected to the PC, it is possible to check the illuminance value read from each illuminance sensor on the PC.
종래의 배광 검사 장치는 램프 또는 조명기구를 차량에 장착된 상태와 가장 유사하게 위치하도록 위치를 조절해주는 고니오미터와 단일의 조도센서를 포함하여 이루어져 있고, 법규에서 정하는 복수의 포인트를 확인하기 위해서는 상기 고니오미터를 X, Y, Z축에 따라 이동시키면서 각각의 포인트 위치를 상기 조도센서와 일치시켜서, 그때마다 조도값을 체크하여 빔의 분포특성을 검사하였다.The conventional light distribution inspection device includes a goniometer and a single illuminance sensor that adjusts the position of the lamp or the lighting fixture to be most similar to the state of being mounted on the vehicle. Each point position was matched with the illuminance sensor while the goniometer was moved along the X, Y, and Z axes, and the illuminance value was checked at each time to examine the distribution characteristics of the beam.
하지만, 본 발명에서는 도 도 2a 및 2b에 도시된 바와 같이, 법규에서 정하는 포인트 위치와 대응되는 위치에 각각 조도센서(110)를 설치하기 때문에, 조명 유닛을 이동하는 것이 없이, 한번의 빔(120)의 조사에 의해, 각각의 조도센서는 법규에서 정하는 포인트에서의 조도값을 측정할 수 있다.However, in the present invention, as shown in Figs. 2a and 2b, since the
따라서, 본 발명에 따른 배광 검사 장치는 측정이 필요한 램프 등의 조명 유닛을 점등하면, 각각의 조도센서에서의 조도값을 동시에 읽을 수 있기 때문에, 펑션 한개를 시험하는데, 셋팅시간을 포함하더라도 약 3분정도의 시간이 소요되며, 따라서, 기존 30분 이상의 시간의 소요되는 종래기술과 비교시, 단시간에 한개의 펑션에 대한 측정이 가능하여, 배광 검사 시간을 크게 단축시킬 수 있다.Therefore, the light distribution inspection apparatus according to the present invention can read the illumination values of the respective illumination sensor at the same time when the lighting unit such as a lamp to be measured is turned on, so that one function is tested, even if the setting time is included. It takes about a minute, therefore, compared to the conventional technology that takes more than 30 minutes of time, it is possible to measure a single function in a short time, it is possible to significantly shorten the light distribution inspection time.
또한, 측정시간이 짧기 때문에 램프 조립라인에 설치하여, 최종 점등 검사시에 바로 배광 합격여부를 판단하는 것이 가능하며, 따라서, 추가시간을 들이지 않고도 전수 검사를 할 수 있다.In addition, since the measurement time is short, it is possible to install the lamp assembly line and determine whether the light distribution is passed at the time of the final lighting inspection, and thus, the whole inspection can be performed without additional time.
도 3a는 본 발명에 따른 배광 검사 장치의 구성을 도시한 개략적인 도면이고, 도 3b는 본 발명에 따른 배광 검사 장치의 빔차단부를 도시한 평면도이며, 도 3c는 빔차단부를 사용한 경우의 빔의 조사특성을 도시하는 개략적인 도면이고, 도 3d는 복수의 컷-오프를 포함하는 빔의 예를 도시한 도면이다.Figure 3a is a schematic diagram showing the configuration of the light distribution inspection apparatus according to the present invention, Figure 3b is a plan view showing a beam blocking portion of the light distribution inspection apparatus according to the present invention, Figure 3c is a view of the beam when using the beam blocking portion It is a schematic diagram which shows irradiation characteristic, and FIG. 3D is a figure which shows the example of the beam containing multiple cut-off.
도 3a를 참조하면, 본 발명에 따른 배광 검사장치는 램프 등의 조명 유닛이 설치되는 조명 유닛 설치대(310) 및 스크린(100)을 포함하며, 상기 조명 유닛 설치대에 램프 등의 조명 유닛(300)이 설치될 수 있다.Referring to FIG. 3A, the light distribution inspection apparatus according to the present invention includes a lighting
이때, 본 발명에서 상기 조명 유닛은 다수의 법규 포인트에서의 조도값을 읽기 위한 이동이 불필요하기 때문에, 상기 조명 유닛 설치대는 단순히 지지할 수 있는 구조물인 것으로 충분하며, 따라서, 종래와 같이, X, Y, Z축에 따라 이동가능한 고니오미터의 사용을 배제할 수 있다.At this time, in the present invention, since the lighting unit does not require a movement for reading the illuminance values at a number of legal points, the lighting unit mounting table is simply a structure that can be supported, and thus, X, The use of goniometers movable along the Y and Z axes can be eliminated.
또한, 상기 스크린(100)은 복수개의 조도센서(미도시)를 포함하며, 상기 조도센서(미도시)는 법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되는 것을 특징으로 한다.In addition, the
이때, 상기 법규란 유럽 또는 북미지역 자동차 램프 법규일 수 있으며, 이는 상술한 바와 같으므로, 이하, 구체적인 설명은 생략하기로 한다.In this case, the legislation may be a European or North American automobile lamp legislation, which is as described above, a detailed description thereof will be omitted below.
계속해서, 도 3a를 참조하면, 본 발명에 따른 배광 검사 장치는 상기 조명 유닛 설치대(310)와 스크린(300)의 사이에 위치하는 빔차단부(200)를 포함할 수 있으며, 상기 빔차단부(200)의 일정영역에는 빔이 통과할 수 있는 개구부(200)를 포함할 수 있다.Subsequently, referring to FIG. 3A, the light distribution inspection apparatus according to the present invention may include a
또한, 도 3b 및 도 3c를 참조하면, 본 발명에 따른 배광 검사 장치는 상기 조명 유닛 설치대(310)와 스크린(300)의 사이에 개구부(210)를 포함하는 빔차단부(200)를 위치시킴으로써, 스크린에 조사되는 빔을 선택적으로 조사할 수 있다.Also, referring to FIGS. 3B and 3C, the light distribution inspection apparatus according to the present invention places the
즉, 조명 유닛(300)으로부터 발광된 빔을 전부 스크린에 조사하는 것이 아닌, 개구부 영역을 통과한 빔만 스크린에 조사하고, 나머지 빔은 상기 빔차단부에 의해 차단되어 스크린에 조사되지 않게 된다.That is, instead of irradiating all the beams emitted from the
예를 들어, 상기 개구부 영역을 통과한 빔은 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔일 수 있으며, 따라서, 컷-오프(cut-off)를 형성하는 부분의 빔만 통과시킴으로써, 컷-오프(cut-off) 이미지의 선명도를 향상시켜 에이밍(aiming)의 정확도를 높일 수 있다.For example, the beam passing through the opening region may be a beam including a cut-off, and thus, by passing only the beam of the portion forming the cut-off, the cut-off ( The accuracy of aiming can be increased by improving the sharpness of cut-off images.
상기 에이밍(aiming)이란, 차량의 상태에 맞게 상하 또는 좌우 방향으로, 램프의 빔의 조사각도를 조절하는 것을 의미하는 것으로, 보통 에이밍 수단을 구비하여 이를 조정하고 있으며, 이는 당업계에서 자명한 사항이므로, 이하 구체적인 설명은 생략하기로 한다.Aiming means to adjust the irradiation angle of the beam of the lamp in the vertical direction or the left and right directions according to the state of the vehicle, usually equipped with an aiming means to adjust this, which is obvious in the art Since it is only one matter, detailed description thereof will be omitted.
이때, 컷-오프(cut-off)를 형성하는 부분의 빔만을 통과시킬 수 있도록, 상기 개구부(210)는 가로(x) × 세로(y)의 넓이를 가질 수 있으며, 이는 조명 유닛의 종류, 조명 유닛 설치대와 광차단부와의 거리, 광차단부와 스크린과의 거리 등에 따라 달라질 수 있으므로, 따라서, 본 발명에서 상기 개구부의 크기를 한정하는 것은 아니다.At this time, the
한편, 본 발명에서, 상기 개구부를 포함하는 빔차단부를 통해, 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔만을 통과시키는 것은 아래와 같은 의미도 있다.Meanwhile, in the present invention, passing only a beam including a cut-off through the beam blocking unit including the opening also has the following meaning.
즉, 도 3d에 도시된 바와 같이, 스크린에 빔을 조사시, 복수의 컷-오프 영역이 있는 경우, 의도된 컷-오프 영역은 B 영역임에도 불구하고, 착오에 의해 A 영역을 의도된 컷-오프 영역으로 인식하는 경우가 발생할 수 있다.That is, as shown in FIG. 3D, when there is a plurality of cut-off areas when irradiating a beam onto the screen, the intended cut-off area is the B area, even though the intended cut-off area is the B area. Recognition as an off area may occur.
즉, B 영역을 기준으로 컷-오프 라인을 선정하여, 상기 컷-오프 라인을 기준으로 에이밍 작업이 이루어져야 하나, A 영역을 기준으로 선정된 잘못된 컷-오프 라인을 기준으로 에이밍 작업이 이루어지는 경우가 발생할 수 있다.That is, the cut-off line is selected based on the region B, and the aming operation should be performed based on the cut-off line, but the aming operation is performed based on the incorrect cut-off line selected based on the region A. Cases may occur.
따라서, 본 발명에서는 의도된 컷-오프(cut-off)를 형성하는 부분의 빔만을 통과시킴으로써, 상기와 같은 오작업을 방지할 수 있는 효과도 있다.Therefore, in the present invention, by passing only the beam of the portion forming the intended cut-off, there is also an effect that can prevent the above malfunction.
예를 들어, 본 발명에서는 도 3c에서와 같이, 빔차단부를 통해, 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔만을 통과시켜 의도된 컷-오프 라인을 기준으로 정확한 에이밍을 실시한 후, 도 2b에 도시된 바와 같이, 상기 빔차단부를 제거하고, 전체 빔을 스크린에 조사하여, 법규에서 정하는 각각의 포인트 위치에서의 빔의 분포특성을 동시에 측정하는 방법도 가능하다.For example, in the present invention, as shown in Figure 3c, after passing through the beam block, only a beam including a cut-off (cut-off) is carried out with accurate aiming based on the intended cut-off line, As shown in 2b, it is also possible to remove the beam blocking unit, irradiate the entire beam onto the screen, and simultaneously measure the distribution characteristics of the beam at each point position defined by the law.
즉, 본 발명에 따른 배광검사장치를 통한 검사방법은, 먼저, 조명 유닛이 설치되는 조명 유닛 설치대와 스크린의 사이에 위치하고, 개구부를 포함하는 빔차단부를 위치시킨다.That is, in the inspection method through the light distribution inspection apparatus according to the present invention, first, the beam blocking portion including an opening is positioned between the lighting unit mounting table and the screen on which the lighting unit is installed.
다음으로, 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사한다. Next, the beam emitted from the illumination unit is irradiated to the screen.
이때, 상기 개구부를 포함하는 빔차단부를 통해, 의도된 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔만을 통과시킬 수 있다.In this case, only the beam including the intended cut-off may be passed through the beam blocking unit including the opening.
즉, 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 전부 스크린에 조사하는 것이 아닌, 상기 개구부 영역을 통과한 빔만 스크린에 조사하고, 나머지 빔은 상기 빔차단부에 의해 차단되어 스크린에 조사되지 않게 된다.That is, instead of irradiating the screen with all the beams emitted from the illumination unit, only the beam passing through the opening area is irradiated to the screen, and the remaining beams are blocked by the beam blocking unit so that the screen is not irradiated.
다음으로, 상기 의도된 컷-오프 라인을 기준으로 에이밍을 실시한다.Next, aming is performed based on the intended cut-off line.
이때, 상기 의도된 컷-오프 라인은 개구부를 통하여 보다 선명해진 컷-오프 라인을 포함할 수 있고, 따라서, 더 선명해진 컷-오프 라인을 기준으로 에이밍하는 것이 가능하다.In this case, the intended cut-off line may include a sharper cut-off line through the opening, and thus it is possible to aim with respect to the sharper cut-off line.
다음으로, 상기 조명 유닛 설치대와 상기 스크린의 사이에 위치하고, 상기 개구부를 포함하는 빔차단부를 제거하고, 상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사한다. Next, the beam shielding part which is located between the said lighting unit mounting stand and the said screen, and contains the said opening part is removed, and the beam emitted from the said lighting unit is irradiated to the said screen.
이때, 상기 스크린은 복수개의 조도센서를 포함하며, 상기 조도센서는 법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되어 있어, 법규에서 정하는 각각의 포인트 위치에서의 빔의 분포특성을 동시에 측정할 수 있다.In this case, the screen includes a plurality of illuminance sensors, the illuminance sensor is installed at the point position specified by the law, it is possible to measure the distribution characteristics of the beam at each point position determined by the law.
본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구의 범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.It will be understood by those skilled in the art that the present invention may be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the foregoing detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and the equivalents thereof are included in the scope of the present invention Should be interpreted.
100 : 스크린 110 : 조도센서
200 : 빔차단부 210 : 개구부
300 : 조명 유닛 310 : 조명 유닛 설치대100: screen 110: illumination sensor
200: beam shield 210: opening
300: lighting unit 310: lighting unit mounting table
Claims (8)
상기 배광 검사 장치는,
조명 유닛이 설치되는 조명 유닛 설치대; 및
상기 조명 유닛 설치대와 상기 스크린 사이에 위치하고, 개구부를 포함하는 빔차단부를 포함하고,
상기 스크린은 상기 조명 유닛으로부터 상기 스크린에 조사되는 빔 분포특성을 측정하기 위하여 서로 다른 위치에 각각 설치되는 복수개의 조도센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치.In the light distribution inspection device comprising a screen,
The light distribution inspection device,
A lighting unit mounting table on which the lighting unit is installed; And
A beam blocking unit positioned between the lighting unit mounting table and the screen and including an opening,
And the screen includes a plurality of illuminance sensors respectively installed at different positions to measure beam distribution characteristics irradiated to the screen from the illumination unit.
상기 복수개의 조도 센서는,
법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되고,
상기 법규는,
유럽 자동차 램프 법규, 국내법규 또는 북미지역 자동차 램프 법규인 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치.The method of claim 1,
The plurality of illuminance sensors,
It is installed at the point position prescribed by law,
The law,
Light distribution inspection device, characterized in that the European car lamp laws, domestic laws or North American car lamp laws.
상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔 중, 상기 개구부 영역을 통과한 빔만 상기 스크린에 조사되고, 나머지 빔은 상기 빔차단부에 의해 차단되는 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치.The method of claim 1,
Of the beams emitted from the illumination unit, only the beams passing through the opening region are irradiated to the screen, and the remaining beams are blocked by the beam blocking unit.
상기 개구부 영역을 통과한 빔은 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔인 것을 특징으로 하는 배광 검사 장치.5. The method of claim 4,
And a beam passing through the opening region is a beam including a cut-off.
상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제1조사단계;
상기 조명 유닛 설치대와 상기 스크린의 사이에 위치하고, 상기 개구부를 포함하는 빔차단부를 제거하는 단계; 및
상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제2조사단계를 포함하고,
상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제1조사단계는 상기 개구부를 포함하는 빔차단부를 통해, 의도된 컷-오프(cut-off)를 포함하는 빔만을 통과시키는 단계인 것을 특징으로 하는 배광 검사 방법.Positioning a beam blocker between the screen and the lighting unit mounting table on which the lighting unit is installed and including an opening;
A first irradiation step of irradiating the screen with the beam emitted from the illumination unit;
Removing a beam blocker positioned between the lighting unit mounting table and the screen and including the opening; And
A second irradiation step of irradiating the screen with a beam emitted from the illumination unit,
The first irradiation step of irradiating the screen with the beam emitted from the illumination unit is to pass only the beam including the intended cut-off through the beam blocker including the opening. Light distribution inspection method to do.
상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제1조사단계이후, 상기 의도된 컷-오프 라인을 기준으로 에이밍을 실시하는 단계를 더 포함하는 배광 검사 방법.The method according to claim 6,
And after the first irradiating step of irradiating the screen with the beam emitted from the illumination unit, aming based on the intended cut-off line.
상기 스크린은 복수개의 조도센서를 포함하며, 상기 조도센서는 법규에서 정하는 포인트 위치에 설치되어 있고,
상기 조명 유닛으로부터 발광된 빔을 상기 스크린에 조사하는 제2조사단계는 법규에서 정하는 각각의 포인트 위치에서의 빔의 분포특성을 동시에 측정하는 것인 배광 검사 방법.The method according to claim 6,
The screen includes a plurality of illuminance sensors, the illuminance sensors are installed at the point position prescribed by law,
And a second irradiation step of irradiating the screen with the beam emitted from the illumination unit is to simultaneously measure the distribution characteristic of the beam at each point position defined by law.
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