KR101124552B1 - Device for electroplating - Google Patents
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Abstract
기판도금장치가 개시된다. 전해액이 수용되고 내부에서 도금이 수행되는 도금조와, 도금조의 하측에 위치하는 공급관과, 공급관에 연결되어 전해액을 상방향으로 분사하는 복수의 이덕터와, 도금조의 상측에 위치하는 흡입관과, 흡입관에 연결되어 전해액을 흡입하는 복수의 흡입노즐을 포함하는 기판도금장치를 제공하여, 도금조 내에서 전해액이 와류를 형성하지 않고 유동되도록 함으로써, 돌기를 유발하는 파티클이 전해액으로부터 효과적으로 제거되도록 하며 도금의 품질이 향상된다.A substrate plating apparatus is disclosed. A plating vessel in which the electrolyte is accommodated and plating is performed therein, a supply pipe located below the plating bath, a plurality of eductor connected to the supply pipe to inject the electrolyte upwards, a suction pipe located above the plating bath, and a suction pipe. Provided is a substrate plating apparatus including a plurality of suction nozzles connected to suck the electrolyte, allowing the electrolyte to flow in the plating tank without forming a vortex, thereby effectively removing the particles causing projections from the electrolyte and the quality of the plating This is improved.
기판도금장치, 전해액, 파티클, 돌기Substrate Plating Equipment, Electrolyte, Particles, Projection
Description
본 발명은 기판도금장치에 관한 것으로, 기판에 전해도금을 행하는 기판도금장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate plating apparatus, and more particularly, to a substrate plating apparatus for electroplating a substrate.
인쇄회로기판(이하, '기판'이라 칭함)의 제조 과정에 있어서, 전해도금 공정을 통해 도금층을 형성한 후 노광 및 현상 공정을 통해 회로를 형성하는 방법이 널리 사용되고 있다.In the manufacturing process of a printed circuit board (hereinafter, referred to as a substrate), a method of forming a circuit through an exposure and development process after forming a plating layer through an electroplating process is widely used.
기판의 단면 또는 양면에 전해도금을 통하여 형성되는 회로, 즉 도금층은 그 두께가 균일하고 표면에 돌기(nodule) 등이 형성되지 않아야 한다. 따라서, 도금층의 품질을 향상시키기 위해서는 도금조 내의 전류 밀도가 특정한 부위에 집중되지 않도록 하고, 도금과정에서 발생되는 파티클(particle)을 전해액으로부터 제거하여야 한다.Circuits formed through electroplating on one or both surfaces of the substrate, that is, the plating layer, should have a uniform thickness and no protrusions on the surface. Therefore, in order to improve the quality of the plating layer, the current density in the plating bath should not be concentrated at a specific site, and particles generated in the plating process should be removed from the electrolyte solution.
도 1에는 종래 도금장치의 부분 절개 사시도가 도시되어 있고, 도 2에는 도 1에 도시된 종래 도금장치의 단면도가 도시되어 있다. 도 1 및 도 2를 함께 참조하여 설명한다.1 is a partial cutaway perspective view of a conventional plating apparatus, and FIG. 2 is a cross-sectional view of the conventional plating apparatus illustrated in FIG. 1. It demonstrates with reference to FIG. 1 and FIG.
도 1 및 도 2를 참조하면, 종래 도금장치(100)는 내부에서 도금이 행해지는 도금조(110), 도금조(110)의 양측에 각각 형성된 개구(123, 124)를 통하여 배출되는 전해액(10)이 수용되어 배출관(131, 132)으로 배출되는 오버플로우 배드(overflow bath), 도금조(110)의 하측에 위치하는 공급관(140) 및 양측으로 연결된 공급관(141, 142), 공급관(140)에 연결된 복수의 이덕터(150, eductor)로 구성된다.1 and 2, the
도금조(110)의 양측으로 연장된 공급관(140)을 통하여 공급되는 전해액(10)은 이덕터(150)를 통하여 도금조(110) 내에서 상방향으로 분사된다. 따라서, 도금조(110) 내의 전해액(10)은 도금조(110) 내에서 유동하게 된다.The
도금조(110) 내에 도시되지 않은 기판을 넣고 전해도금을 행하는 과정에서, 전해액(10) 내에는 돌기를 유발하는 파티클이 생성된다. 이러한 파티클을 제거하기 위하여 개구(123, 124)를 통하여 오버플로우 배드(121, 122)로 유출되는 전해액(10)을 배출관(131, 132)을 통하여 배출시킨 후 도시되지 않은 필터로 거른 후 다시 공급관(141, 142)으로 공급한다.In the process of electroplating by inserting a substrate (not shown) in the
그러나, 도금조(110) 내에서 전해액(10)이 도 2에 화살표로 표시한 바와 같이 유동하는 과정에서, 전해액(10)이 와류를 형성하게 되므로, 이 와류 부분에 포함된 파티클은 개구(123, 124)를 통하여 도금조(110) 외부로 배출되어 필터를 거치지 않고 계속 도금조(110) 내의 전해액(10)에 포함되어 있다가, 기판의 표면에 형성되는 도금층에 부착되어 돌기를 유발하게 된다.However, in the process of flowing the
즉, 오버플로우 배드(121, 122)를 이용하는 방식의 도금장치(100)는 기판의 도금층에 돌기가 발생되는 문제가 있다.That is, the
본 발명은 전해액에 포함된 파티클이 기판의 도금층에 부착되는 것을 방지하고, 파티클을 효율적으로 제거할 수 있는 기판도금장치를 제공한다.The present invention provides a substrate plating apparatus that can prevent particles contained in an electrolyte from adhering to a plating layer of a substrate and can efficiently remove particles.
본 발명의 일 측면에 따르면, 전해액이 수용되고 내부에서 도금이 수행되는 도금조와, 도금조의 하측에 위치하는 공급관과, 공급관에 연결되어 전해액을 상방향으로 분사하는 복수의 이덕터와, 도금조의 상측에 위치하는 흡입관과, 흡입관에 연결되어 전해액을 흡입하는 복수의 흡입노즐을 포함하는 기판도금장치가 제공된다.According to an aspect of the present invention, a plating bath in which the electrolyte is accommodated and plating is performed therein, a supply pipe positioned below the plating bath, a plurality of eductor connected to the supply pipe and spraying the electrolyte upward, and an upper side of the plating bath. Provided is a substrate plating apparatus including a suction pipe positioned at and a plurality of suction nozzles connected to the suction pipe to suck electrolyte.
여기서, 복수의 흡입노즐은 흡입관으로부터 각각 하방향으로 연장되어 연결될 수 있다. 그리고, 흡입관은 두 갈래로 분기되어 도금조의 상측 가장자리를 따라 배치될 수 있다.Here, the plurality of suction nozzles may be connected to extend in the downward direction from the suction pipe, respectively. In addition, the suction pipe may be bifurcated and disposed along the upper edge of the plating bath.
그리고 기판도금장치는, 흡입노즐을 통하여 흡입된 전해액을 거르는 필터와, 필터에 의해 걸러진 전해액을 공급관으로 유입시키는 펌프를 더 포함할 수 있다.The substrate plating apparatus may further include a filter for filtering the electrolyte solution sucked through the suction nozzle and a pump for introducing the electrolyte solution filtered by the filter into the supply pipe.
본 발명의 실시예에 따른 기판도금장치는, 도금조 내에서 전해액이 와류를 형성하지 않고 유동되도록 하여, 돌기를 유발하는 파티클이 전해액으로부터 효과적으로 제거되도록 함으로써 도금의 품질이 향상된다.In the substrate plating apparatus according to the embodiment of the present invention, the quality of the plating is improved by allowing the electrolyte solution to flow in the plating tank without forming a vortex, so that particles causing projections are effectively removed from the electrolyte solution.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.As the invention allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the written description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, it should be understood to include all transformations, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In the following description of the present invention, if it is determined that the detailed description of the related known technology may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부한 도면들을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 3에는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치의 부분 절개 사시도가 도시되어 있다.3 is a partial cutaway perspective view of a substrate plating apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치(200)에는, 도금조(210), 공급관(240, 241, 242), 이덕터(250), 흡입관(260) 및 흡입노즐(270)이 포함된다.3, the
도금조(210)는 도금액(도 4의 20)이 수용되어, 그 내부에서 기판의 전해도금이 수행된다.The
공급관(240, 241, 242)은 도금조(210)의 하측 및 가장자리 부분에 배치되는데, 공급관(240, 241, 242) 중 일부분은 도금조(210)의 하측에 위치하고(240), 도금조(210)의 하측에 위치하는 공급관(240)의 양측 가장자리에는 도금조(210)의 벽면을 따라 도금조(210)의 외부로 연장되는 공급관(241)이 연결된다.
도금조(210)의 하측에 위치하는 공급관(240)은 도시된 바와 같이 두 갈래로 분기될 수 있는데, 분기되는 수는 도금조(210)의 폭에 따라 가감될 수 있다. 다만, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치(200)의 도금조(210)에는 도시되지 않은 기판이 수직방향으로 삽입되므로, 기판의 양면에 전해액(20)이 고루 순환되도록 하기 위하여 공급관(240)을 두 갈래로 분기한다.The
도금조(210)의 하측에 위치하는 공급관(240)에는 길이방향을 따라 이덕터(250)가 연결된다. 이덕터(250)는 공급관(240, 241, 242)을 통하여 유입되는 전해액(20)을 도금조(210)의 상방향으로 분사하여, 전해액(20)이 도금조(210) 내에서 상방향으로 유동되도록 한다. 이에 관하여는 도 4를 참조하여 다시 설명하기로 한다.The
흡입관(260)은 도금조의 상측에 위치한다. 흡입관(260)에는 복수의 흡입노즐(270)이 연결되는데, 흡입노즐(270)은 그 하단부가 도금조(210) 내로 삽입되도록 흡입관(260)으로부터 하방향으로 연장되어 연결된다.The
흡입관(260)은 도시된 바와 같이 두 갈래로 분기될 수 있는데, 분기되는 수는 도금조(210)의 폭에 따라 가감될 수 있다. 다만, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치(200)의 도금조(210)에는 도시되지 않은 기판이 수직방향으로 삽입되므로, 기판을 도금조(210) 내로 용이하게 삽입할 수 있도록 분기된 흡입관(260)은 도금조(210)의 상측 가장자리를 따라 배치된다.The
흡입노즐(270)은, 도금조(210) 내에서 전해도금이 수행될 때 흡입노즐(270)의 하단부가 전해액(20)에 충분히 담겨있는 상태를 유지할 수 있는 길이만큼 하방향으로 연장된다.The
도 4에는 도 3에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치의 단면도가 도시되어 있다.4 is a cross-sectional view of the substrate plating apparatus according to the embodiment of the present invention shown in FIG.
공급관(241, 242)을 통하여 도금조(210)의 하측에 위치하는 공급관(240)으로 유입된 전해액(20)은 이덕터(250)를 통하여 도금조(210)의 상방향을 향하여 분사된다. 그리고, 흡입관(260)에는 도시되지 않은 펌프 및 필터가 연결되어, 흡입노즐(270)을 통하여 도금조(210) 상측의 전해액(20)을 흡입되도록 한다. 흡입노즐(270)을 통하여 흡입관(260)으로 유입된 전해액(20)은 필터를 거치며 걸려지면서 내부에 포함된 파티클이 제거되고, 이후 도금조(210) 외부로 연장된 공급관(241, 242)으로 다시 유입되어 이덕터(250)를 통하여 도금조(210) 내부로 다시 분사된다.The
따라서, 도금조(210) 내에는 화살표로 표시한 바와 같은 전해액(20)의 유동이 발생된다. 즉, 전해액(20)은 이덕터(250)와 흡입노즐(270)에 의해 도금조(210) 내에서 와류를 형성하지 않고 유동하게 된다. 도금조(210) 내에서 와류가 형성되지 않으므로 전해도금 과정에서 발생되는 파티클이 도금조(210) 내의 전해액(20)에 잔류하지 않게 되므로, 도시되지 않은 기판에 형성되는 도금층에는 돌기가 유발되지 않게 된다.Accordingly, the flow of the
다만, 도금조(210) 내의 전해액(20)이 와류를 형성하지 않고 유동되도록 하기 위해서는 흡입관(260)으로부터 하방향으로 연장되는 흡입노즐(270)의 하단부가 전해액(20)에 잠겨 있어야 한다.However, in order for the
이상에서 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치에 대하여 설명하였으나, 본 발명의 사상은 본 명세서에 제시되는 실시 예에 제한되지 아니하며, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서, 구성요소의 부가, 변경, 삭제, 추가 등에 의해서 다른 실시 예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본 발명의 사상범위 내에 든다고 할 것이다.Although the substrate plating apparatus according to an embodiment of the present invention has been described above, the spirit of the present invention is not limited to the embodiments presented herein, and those skilled in the art to understand the spirit of the present invention are within the scope of the same idea. Other embodiments may be easily proposed by adding, changing, deleting, or adding components, but this will also fall within the spirit of the present invention.
도 1은 종래 도금장치의 부분 절개 사시도.1 is a partial cutaway perspective view of a conventional plating apparatus.
도 2는 도 1에 도시된 종래 도금장치의 단면도.2 is a cross-sectional view of the conventional plating apparatus shown in FIG.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치의 부분 절개 사시도.Figure 3 is a partially cutaway perspective view of the substrate plating apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 4는 도 3에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 기판도금장치의 단면도.Figure 4 is a cross-sectional view of the substrate plating apparatus according to an embodiment of the present invention shown in FIG.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
200: 기판도금장치 210: 도금조200: substrate plating apparatus 210: plating bath
240, 241, 242: 공급관 250: 이덕터240, 241, 242: supply pipe 250: eductor
260: 흡입관 270: 흡입노즐260: suction pipe 270: suction nozzle
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090084941A KR101124552B1 (en) | 2009-09-09 | 2009-09-09 | Device for electroplating |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090084941A KR101124552B1 (en) | 2009-09-09 | 2009-09-09 | Device for electroplating |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110027035A KR20110027035A (en) | 2011-03-16 |
KR101124552B1 true KR101124552B1 (en) | 2012-03-16 |
Family
ID=43933914
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090084941A KR101124552B1 (en) | 2009-09-09 | 2009-09-09 | Device for electroplating |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101124552B1 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103668406B (en) * | 2012-09-17 | 2016-05-11 | 郑振华 | Spray-sucking type electroplating bath |
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---|---|
KR20110027035A (en) | 2011-03-16 |
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