KR101000367B1 - Test equipment of action to liquid crystal display substrate - Google Patents

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Abstract

본 발명은 LCD기판 동작 테스트장치에 관한 것으로 상세하게는 받침판의 상측면 상단에 형성되는 측정부와 상기 측정부를 전후좌우방향으로 이송시키며 상기 받침판의 양측에 설치되어지는 이송부와, 상기 받침판의 중앙에 형성되어 LCD기판을 고정시키는 고정부와, 상기 고정부에 고정되어지는 LCD기판의 동작을 테스트하는 측정부의 프로브와 상기 LCD기판이 접촉되는 부위를 촬영하는 카메라부를 포함하여 구성되어지는 것을 특징으로 하는 LCD기판 동작 테스트장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD substrate operation test apparatus, and in particular, a measuring unit formed on the upper side of the upper side of the support plate and a transfer unit installed on both sides of the support plate and transferring the measurement unit in the front, rear, left and right directions, and at the center of the support plate. It is formed and comprises a fixed portion for fixing the LCD substrate, a probe of the measuring unit for testing the operation of the LCD substrate is fixed to the fixed portion and a camera portion for photographing the contact portion of the LCD substrate It relates to an LCD substrate operation test apparatus.
프로브, LCD, 측정, 테스트, 이송 Probe, LCD, Measurement, Test, Transfer

Description

LCD기판 동작 테스트장치{Test equipment of action to liquid crystal display substrate}Test equipment of action to liquid crystal display substrate
본 발명은 LCD기판 동작 테스트장치에 관한 것으로 상세하게는 받침판의 상측면 상단에 형성되는 측정부와 상기 측정부를 전후좌우방향으로 이송시키며 상기 받침판의 양측에 설치되어지는 이송부와, 상기 받침판의 중앙에 형성되어 LCD기판을 고정시키는 고정부와, 상기 고정부에 고정되어지는 LCD기판의 동작을 테스트하는 측정부의 프로브와 상기 LCD기판이 접촉되는 부위를 촬영하는 카메라부를 포함하여 구성되어지는 것을 특징으로 하는 LCD기판 동작 테스트장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD substrate operation test apparatus, and in particular, a measuring unit formed on the upper side of the upper side of the support plate and a transfer unit installed on both sides of the support plate and transferring the measurement unit in the front, rear, left and right directions, and at the center of the support plate. And a fixing unit for fixing the LCD substrate, a probe for measuring the unit for testing the operation of the LCD substrate fixed to the fixing unit, and a camera unit for photographing a portion where the LCD substrate is in contact with each other. It relates to an LCD substrate operation test apparatus.
종래에는 LCD를 최종 완성 단계 이전에 LCD의 패널의 상태를 반드시 확인절차를 거쳐야 한다.Conventionally, before the final completion step of the LCD must check the state of the panel of the LCD.
LCD의 패널의 확인시 점등 테스트를 거칠시에 접촉되는 부위에서 이물질이 발생되어 점등 확인시에 이물질로 인해 불완전한 점등, 불완전한 색연출, 세정주기에 따라 장치의 수명을 현저하게 떨어뜨리는 문제점이 있다.There is a problem that the foreign substance is generated in the contact area when the panel of the LCD is in contact with the lighting test, and the life of the device is significantly reduced due to incomplete lighting, incomplete color output, and the cleaning cycle due to the foreign matter when the lighting is checked.
또한, 테스트 작업을 위한 점등시 이물질의 발생으로 인해 확인공정시 불량율이 증가할 뿐만 아니라, 작업속도가 늦어지는 등의 문제점을 야기시키고 있는 실 정이다.In addition, due to the generation of foreign matter at the time of the test operation, not only increases the defective rate during the verification process, but also causes a problem such as slow working speed.
이는 도 1 및 도 2 에 도시된 바와 같이, LCD의 패널을 점등 테스트시 접지시키는 모듈장치(2)에 장착되는 접지장치는 중간 고정편부(10)의 하부측에 수평으로 형성된 접지핀(12)은 에폭시 고정부(14)에 일체로 고정되어 있다.1 and 2, the grounding device mounted on the module device 2 for grounding the panel of the LCD in the lighting test is ground pin 12 formed horizontally on the lower side of the middle fixing piece 10 Silver is fixed to the epoxy fixing part 14 integrally.
상기와 같이 에폭시 고정부(14)에 고정된 접지핀(12)은 아주 촘촘한 간격을 유지한채로 전방으로 돌출되고, 그 끝단부가 하부측으로 꺾여지게 형성된 외팔보형으로 끝단에 토션이 작용되도록 구성되어 있다.As described above, the ground pin 12 fixed to the epoxy fixing part 14 is projected forward while maintaining a very tight gap, and is configured such that the torsion is applied to the end by a cantilever shape formed so that its end is bent downward.
접지핀(12)은 그 끝단각이 하부측으로 꺾여져 있어 LCD의 패널의 접지부위가 하부측으로 눌려질시에 접지핀(12)의 끝단부가 눌려지면서 자체탄성력에 의해 LCD의 패널의 접지면을 하부측으로 긁어내리면서 접지되기 때문에, 접지핀(12) 에 의해 긁혀지면서 발생되는 이물질이 접지핀(12)의 사이에 끼이게 되므로 접지핀(12)들 사이에 끼어있는 이물질로 하여금 서로 쇼트되어 제대로 작동되지 않는 문제점을 발생시키고 있는 실정이다.The ground pin 12 has its end angle bent to the lower side. When the ground portion of the LCD panel is pressed to the lower side, the edge of the ground pin 12 is pressed and the panel ground surface of the LCD panel is lowered by the self-elastic force. Since it is grounded by scraping down, foreign matters generated by the grounding pin 12 are caught between the grounding pins 12, so that foreign matters caught between the grounding pins 12 are shorted to each other to prevent proper operation. This is causing the problem.
또한, 종래의 수평형식의 접지핀(12)은 긁혀지면서 마찰이 발생되기 때문에 마찰에 의해 이물질이 달라붙는 문제점이 있다.In addition, the ground pin 12 of the conventional horizontal type has a problem that the foreign matter is stuck by friction because the friction is generated while being scratched.
종래의 접지핀(12)은 수평방향으로 돌출된 상태로 끝단부가 하부측으로 꺾여지게 형성되어 있어 잘못 접지핀(12)을 건드리면 구부러지거나 서로 다른 핀들을 밀치므로 쉽게 파손되는 경우가 발생되면 전체를 통체로 교체해야하는 문제점이 있다.Conventional ground pin 12 is formed so that the end is bent to the lower side in a state of protruding in the horizontal direction, if you touch the ground pin 12 incorrectly bends or pushes different pins, if the break occurs easily There is a problem that needs to be replaced by a cylinder.
특히, LCD의 IZO소재는 동영상 구현시 속도를 높이기 위해 연성재질을 사용 해야하므로 최근에 많이 사용되고 있다.In particular, LCD IZO materials have been used a lot recently because flexible materials must be used to increase the speed of moving images.
IZO는 LCD 의 구동 라인의 구성중 글래스막의 표면을 이루는 소재로, 정지영상, 동영상속도, 화질 등에 크기 영향을 받는 물질이다.IZO is the material that forms the surface of the glass film during the construction of the LCD's driving line.
따라서, IZO는 기존에 많이 쓰고 있는 ITO전극 보다 연성이기 때문에 종래의 접지핀(12)에 의해 LCD의 테스트 접지시에 이물질이 더 많이 발생되고 있다.Therefore, since IZO is softer than conventional ITO electrodes, more foreign matters are generated during test grounding of the LCD by the conventional ground pin 12.
상기 문제점을 해결하기 위하여 본 발명은 받침판 상에 측정부를 형성하고, 상기 측정부를 이송부를 통해 이송시키며, 상기 측정부의 다수로 이루어진 이동부를 각각 이송시켜 동시에 다수위치에서 하나의 LCD기판의 테스트를 진행하며, 카메라부를 통해 상기 측정부와 LCD기판의 접촉을 조정하여 LCD기판과 측정부의 프로브 파손을 방지하는 LCD기판 동작 테스트장치를 제공하는데 그 목적이 있다.In order to solve the above problems, the present invention forms a measuring unit on a supporting plate, transfers the measuring unit through a transfer unit, and transfers each of the moving units consisting of a plurality of measuring units to simultaneously test a single LCD substrate at multiple positions. It is an object of the present invention to provide an LCD substrate operation test apparatus that prevents damage to the probe of the LCD substrate and the measurement unit by adjusting the contact between the measurement unit and the LCD substrate through the camera unit.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명은 LCD기판 동작 테스트장치에 관한 것으로 받침판의 상측면 상단에 형성되는 측정부와 상기 측정부를 전후좌우방향으로 이송시키며 상기 받침판의 양측에 설치되어지는 이송부와, 상기 받침판의 중앙에 형성되어 LCD기판을 고정시키는 고정부와, 상기 고정부에 고정되어지는 LCD기판의 동작을 테스트하는 측정부의 프로브와 상기 LCD기판이 접촉되는 부위를 촬영하는 카메라부를 포함하여 구성된다.The present invention for solving the above problem relates to an LCD substrate operation test apparatus and a measuring unit formed on the upper side of the upper side of the support plate and the transfer unit which is installed on both sides of the support plate to transfer the measurement unit in the front and rear, left and right, and the support plate It is formed in the center of the fixing portion for fixing the LCD substrate, and a probe of the measuring unit for testing the operation of the LCD substrate is fixed to the fixing portion and comprises a camera portion for photographing the contact portion of the LCD substrate.
본 발명은 받침판 상에 측정부를 형성하고, 상기 측정부를 이송부를 통해 이송시키며, 상기 측정부의 다수로 이루어진 이동부를 각각 이송시켜 동시에 다수위치에서 하나의 LCD기판의 테스트를 진행하며, 카메라부를 통해 상기 측정부와 LCD기판의 접촉을 조정하여 LCD기판과 측정부의 프로브 파손을 방지하는 효과가 있으며, 다수의 프로브를 동시에 움직여 LCD기판의 테스트를 진행하기 때문에 빠른시간 에 LCD기판의 테스트를 할 수 있는 효과가 있다.The present invention forms a measuring unit on the backing plate, the measuring unit is transferred through the transfer unit, each of the moving parts consisting of a plurality of the measuring unit to carry out the test of one LCD substrate at a plurality of locations at the same time, the measurement through the camera unit By adjusting the contact between the LCD and the LCD board, it is effective to prevent the damage of the probe of the LCD board and the measuring section.Also, it is possible to test the LCD board quickly because the test is performed on the LCD board by moving multiple probes simultaneously. have.
도 3내지 도 13에 도시되 바와같이 본 발명은 LCD기판(150)의 동작을 테스트하는 테스트 장치에 있어서, LCD기판(150)이 올려져 고정되어지는 받침판(110)과; 상기 받침판(110) 상단의 상측면에 형성되어 전측단에 LCD기판(150)을 테스트하는 프로브가 설치되어지는 다수개의 이동부(122)가 수평으로 설치된 가이드봉(121)에 설치되어 각각 이동되어지는 측정부(120)와; 상기 측정부(120)를 전후 좌우 방향으로 이동시키며, 상기 측정부(120)의 좌우 양측에 형성되어지는 이송부(140)와; 상기 받침판(110)의 중앙에 형성되어 LCD기판(150)이 고정되어지는 고정부와; 상기 고정부의 양측에 설치되어 상기 측정부(120)의 프로브(125)와 상기 LCD기판(150)이 접촉되어지는 부위를 촬영하는 카메라부(140)와; 상기 고정부에 고정되어 상기 측정부(120)를 통해 테스트되어지는 LCD기판(150);을 포함하여 구성되어진다.As shown in Figures 3 to 13, the present invention provides a test apparatus for testing the operation of the LCD substrate 150, the support substrate 110, the LCD substrate 150 is raised and fixed; Is formed on the upper side of the top of the support plate 110, a plurality of moving parts 122 are installed on the guide rod 121 is installed horizontally is moved to each of the probes for testing the LCD substrate 150 in the front end is moved Losing measuring unit 120; A transfer unit 140 which moves the measurement unit 120 in front, rear, left and right directions, and is formed on both left and right sides of the measurement unit 120; A fixing part formed at the center of the supporting plate 110 to which the LCD substrate 150 is fixed; A camera unit 140 installed at both sides of the fixing unit to photograph a portion where the probe 125 of the measurement unit 120 and the LCD substrate 150 are in contact with each other; It is configured to include; LCD substrate 150 that is fixed to the fixed portion is being tested through the measurement unit 120.
이때, 도 5 내지 도 9에 도시되어진 바와같이 상기 측정부(120)는 상기 가이드봉(121)에 다수의 이동부(122)가 설치되어 좌우방향으로 상기 가이드봉(121)에 가이드 되어지고, 상기 이동부(122)에는 상기 이동부(122)를 각각 이동시키도록 스텝모터(123)가 각각 연결되어지며, 상기 스텝모터(123)와 상기 이동부(122) 간에는 타이밍벨트로 연결되며, 상기 이동부(122)의 전측에는 상기 LCD기판(150)의 테스트를 위한 프로브(125)가 형성되어지며, 상기 프로브(125)와 상기 이동부(122) 간에 프로브대(126)가 형성되어 상기 프로브(125)를 고정시키고, 상기 프로브대(126)의 하측단과 상기 받침판(110) 간에 상기 프로브대(126)의 이동거리를 측정하고 제어 하는 가이드가 형성되어진다.In this case, as shown in FIGS. 5 to 9, the measurement unit 120 is provided with a plurality of moving parts 122 installed on the guide rods 121 and guided to the guide rods 121 in left and right directions. Step motors 123 are connected to the moving parts 122 to move the moving parts 122, respectively, and are connected to each other by a timing belt between the step motor 123 and the moving parts 122. A probe 125 for testing the LCD substrate 150 is formed on the front side of the moving part 122, and a probe stand 126 is formed between the probe 125 and the moving part 122 to form the probe. A guide for fixing the 125 and measuring and controlling a moving distance of the probe stand 126 is formed between the lower end of the probe stand 126 and the support plate 110.
그리고, 도 13에 도시되어진 바와같이 상기 카메라부(140)는 상기 LCD기판(150)과 프로브(125) 간을 촬영하며, 상기 받침판(110) 상측에 가이드부(131)가 설치되어 상기 가이드부(131)에 가이드 되어 상기 카메라부(140)가 좌우측 방향으로 이송되어지며, 상기 카메라부(140)의 상측에 조종레버가 형성되어 상기 카메라부(140)를 전후방향과 상하방향으로 이송시킨다.As shown in FIG. 13, the camera unit 140 photographs between the LCD substrate 150 and the probe 125, and the guide unit 131 is installed on the support plate 110 to provide the guide unit. Guided to 131, the camera unit 140 is transported in the left and right direction, the control lever is formed on the upper side of the camera unit 140 to transfer the camera unit 140 in the front and rear and up and down directions.
즉, 본 발명윽 좀더 상세하게 설명하면 다음과 같다.That is, the present invention will be described in more detail as follows.
도 3 내지 도 13에 도시된 바와같이 본 발명은 받침판(110)의 상측면 상단에 형성되는 측정부(120)와 상기 측정부(120)를 전후좌우방향으로 이송시키며 상기 받침판(110)의 양측에 설치되어지는 이송부(140)와, 상기 받침판(110)의 중앙에 형성되어 LCD기판(150)을 고정시키는 고정부와, 상기 고정부에 고정되어지는 LCD기판(150)의 동작을 테스트하는 측정부(120)의 프로브(125)와 상기 LCD기판(150)이 접촉되는 부위를 촬영하는 카메라부(140)로 크게 구성되어진다.As shown in FIGS. 3 to 13, the present invention transfers the measurement unit 120 and the measurement unit 120 formed in the upper and upper sides of the support plate 110 in front, rear, left, and right directions, and both sides of the support plate 110. Measurement to test the operation of the transfer unit 140, which is installed in the fixed portion formed in the center of the support plate 110 to fix the LCD substrate 150, and the LCD substrate 150 fixed to the fixing portion It is largely composed of a camera unit 140 for photographing a portion where the probe 125 of the unit 120 and the LCD substrate 150 is in contact.
이때, 도 3 내지 도 10에 도시된 바와같이 상기 측정부(120)는 상기 받침판(110)에 고정되어지는 가이드봉(121)에 이동부(122)가 다수 결합되어지고, 상기 이동부(122)의 전측으로 프로브대(126)가 결합되어 상기 LCD기판(150)측으로 형성되어지고, 상기 프로브대(126)의 끝단에 프로브(125)가 형성되며, 상기 프로브(125)의 끝단에 프로브탐침(127)이 결합되어지며, 상기 프로브대(126)의 상측에 스텝모터(123)가 결합되고, 상기 이동부(122)와 타이밍벨트로 연결되어 상기 이동부(122)를 상기 가이드봉(121)을 따라 이동시키게된다.In this case, as shown in FIGS. 3 to 10, the measuring unit 120 is coupled to a plurality of moving parts 122 to the guide rod 121 fixed to the support plate 110, and the moving part 122. Probe base 126 is coupled to the front side of the) is formed toward the LCD substrate 150, the probe 125 is formed at the end of the probe base 126, the probe probe at the end of the probe 125 127 is coupled, the step motor 123 is coupled to the upper side of the probe stage 126, and is connected to the moving part 122 and the timing belt to guide the moving part 122 to the guide rod 121 Will be moved along.
또한, 도 5 내지 도 6에 도시된 바와같이 프로브대(126)와 상기 받침판(110) 간에 가이드(124)가 형성되어 상기 프로브대(126)의 이동간격을 측정하여 상기 스텝모터(123)의 구동을 조종하게 된다.In addition, as illustrated in FIGS. 5 to 6, a guide 124 is formed between the probe base 126 and the support plate 110 to measure a moving interval of the probe base 126 to measure the movement of the step motor 123. To control the drive.
도 11 내지 도 12에 도시된 바와같이 이러한 상기 프로브탐침(127)은 상기 LCD기판(150)의 전극과 접촉되어질때 상기 LCD기판(150)의 전극과 상기 프로브탐침(127)의 파손을 방지하기 위하여 상기 프로브탐침(127)이 상기 프로브(125) 내측으로 이송되어지며, 상기 프로브(125) 내부의 스프링으로 인해 상기 프로브탐침(127)과 상기 LCD기판(150)이 떨어졌을때 다시 상기 프로브탐침(127)이 튀어나오게 된다.As shown in FIGS. 11 to 12, the probe probe 127 prevents breakage of the electrode of the LCD substrate 150 and the probe probe 127 when contacted with an electrode of the LCD substrate 150. The probe probe 127 is transported to the inside of the probe 125, and when the probe probe 127 and the LCD substrate 150 fall due to a spring inside the probe 125, the probe probe ( 127) will pop out.
그리고, 상기 이송부(140)는 상기 측정부(120)의 양측에 형성되어 상기 측정부(120)의 다수 이동부(122)를 동시에 좌우 방향으로 이송시킬수 있으며, 상기 이송부(140) 간에 타임벨트(141)가 설치되어 상기 타임벨트(141)와 상기 이동부(122)가 연동되어 상기 이동부(122)가 상기 타임벨트(141)의 구동으로 동시에 이송되어진다.In addition, the transfer unit 140 may be formed on both sides of the measurement unit 120 to simultaneously transfer the plurality of moving units 122 of the measurement unit 120 to the left and right directions, and a time belt (between the transfer units 140). 141 is installed so that the time belt 141 and the moving unit 122 are interlocked so that the moving unit 122 is simultaneously driven by the driving of the time belt 141.
또한, 도 13에 도시된 바와같이 상기 카메라부(140)는 상기 LCD기판(150)과 상기 프로브(125)의 접촉을 촬영하여 외부에 위치한 서버로 송신하며, 상기 받침판(110)에 형성되어진 가이드부(131)를 통해 좌우방향으로 각각 이동되어지고, 상기 카메라부(140)의 상측에 설치된 조절나사(133)로 상기 카메라부(140)의 카메라 각도를 조절하며, 상기 카메라부(140)의 상측에 설치된 이송나사(132)를 통해 상기 카메라부(140)를 전후측으로 이송시키게 된다.In addition, as shown in FIG. 13, the camera unit 140 photographs the contact between the LCD substrate 150 and the probe 125 and transmits the photographed contact to a server located outside, and a guide formed on the support plate 110. Each of which is moved in the left and right directions through the unit 131, and adjusts the camera angle of the camera unit 140 with an adjustment screw 133 installed on the upper side of the camera unit 140. The camera unit 140 is transferred to the front and rear side through the transfer screw 132 installed on the upper side.
이러한, 구성으로 이루어져 LCD기판(150)이 상기 받침판(110)의 고정부에 고정되어지면, 상기 측정부(120)의 이동부가 이동되어 상기 LCD기판(150)의 측정위치로 프로브(125)를 이송시켜 상기 LCD기판(150)의 전극과 위치를 일치시키며, 상기 프로브(125)의 위치를 상기 카메라부(140)로 촬영하여 눈으로 확인하여 상기 프로브(125)와 LCD기판(150)의 전극을 일치시키며, 상기 프로브(125)의 위치에따라 상기 카메라의 각도와 위치를 상기 가이드부(131)와 상기 조절나사(133) 및 이송나사(132)로 조종하여 상기 LCD기판(150)의 전극과 상기 프로브(125)의 접촉부위를 촬영하게 된다.When the LCD substrate 150 is configured to be fixed to the fixing part of the support plate 110, the moving part of the measuring unit 120 is moved to move the probe 125 to the measurement position of the LCD substrate 150. Transfers to match the position of the electrode of the LCD substrate 150, and the position of the probe 125 with the camera unit 140 to check by eye to check the electrode of the probe 125 and the LCD substrate 150 In accordance with the position of the probe 125, the angle and position of the camera is controlled by the guide unit 131, the adjustment screw 133 and the transfer screw 132 to the electrode of the LCD substrate 150 And a contact portion of the probe 125 is photographed.
그리고 상기 측정부(120)의 프로브(125)를 상기 LCD기판(150)에 접촉시키기 위하여 상기 이송부(140)에서 상기 측정부(120)를 전후방향으로 이동시킨뒤 접촉되어지는 위치를 카메라로 촬영하여 조절하고, 상기 프로브(125)를 상기 LCD기판(150)의 전극에 접촉시켜 측정하게 된다.Then, in order to contact the probe 125 of the measuring unit 120 to the LCD substrate 150, the transfer unit 140 moves the measuring unit 120 in the front-rear direction and photographs a position of contact with the camera. The probe 125 is brought into contact with the electrode of the LCD substrate 150 to be measured.
도 1은 종래의 LCD기판 테스트 장치를 나타낸 사시도,1 is a perspective view showing a conventional LCD substrate test apparatus,
도 2는 종래의 LCD기판 테스트장치를 나타낸 측면도,Figure 2 is a side view showing a conventional LCD substrate test apparatus,
도 3은 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 전체 구성을 나타낸 사시도,Figure 3 is a perspective view showing the overall configuration of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention,
도 4는 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 하측면 사시도,Figure 4 is a bottom side perspective view of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention,
도 5는 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 후측면도,5 is a rear side view of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention;
도 6은 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 평면도,6 is a plan view of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention,
도 7은 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 하측면도,7 is a bottom side view of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention;
도 8은 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 측면도,8 is a side view of an LCD substrate operation test apparatus according to the present invention;
도 9는 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 하측 분해 사시도,9 is an exploded bottom perspective view of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention;
도 10은 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 하측 분해 동작 사시도,10 is an exploded perspective view of the lower side of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention;
도 11은 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 측정부가 LCD기판에 접촉되는 것을 나타낸 부분 사시도,11 is a partial perspective view showing that the measuring unit of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention in contact with the LCD substrate,
도 12는 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 측정부의 프로브 동작도,12 is a probe operation of the measuring unit of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention,
도 13은 본 발명에 따른 LCD기판 동작 테스트장치의 카메라부 동작도.13 is an operation of the camera unit of the LCD substrate operation test apparatus according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
110 : 받침판 120 : 측정부110: support plate 120: measuring unit
130 : 카메라부 140 : 이송부130: camera unit 140: transfer unit
150 : LCD기판150: LCD substrate

Claims (3)

  1. LCD기판의 동작을 테스트하는 테스트 장치에 있어서,In the test apparatus for testing the operation of the LCD substrate,
    LCD기판(150)이 올려져 고정되어지는 받침판(110)과;A support plate 110 on which the LCD substrate 150 is raised and fixed;
    상기 받침판(110) 상단의 상측면에 형성되어 전측단에 LCD기판(150)을 테스트하는 프로브(125)가 설치되어지는 다수개의 이동부(122)가 수평으로 설치된 가이드봉(121)에 설치되어 각각 이동되어지는 측정부(120)와;A plurality of moving parts 122 are formed on the guide rod 121 horizontally formed on the upper side of the top of the support plate 110 and the probe 125 for testing the LCD substrate 150 is installed at the front end. Measuring unit 120 to be moved respectively;
    상기 측정부(120)를 전후 좌우 방향으로 이동시키며, 상기 측정부(120)의 좌우 양측에 형성되어지는 이송부(140)와;A transfer unit 140 which moves the measurement unit 120 in front, rear, left and right directions, and is formed on both left and right sides of the measurement unit 120;
    상기 받침판(110)의 중앙에 형성되어 LCD기판(150)이 고정되어지는 고정부와;A fixing part formed at the center of the supporting plate 110 to which the LCD substrate 150 is fixed;
    상기 고정부의 양측에 설치되어 상기 측정부(120)의 프로브와 상기 LCD기판(150)이 접촉되어지는 부위를 촬영하는 카메라부(140)와;A camera unit 140 installed at both sides of the fixing unit to photograph a portion where the probe of the measuring unit 120 and the LCD substrate 150 are in contact with each other;
    상기 고정부에 고정되어 상기 측정부(120)를 통해 테스트되어지는 LCD기판(150);을 포함하여 구성하며, And a LCD substrate 150 fixed to the fixed part and tested by the measuring part 120.
    상기 측정부(120)는 상기 가이드봉에 다수의 이동부(122)가 설치되어 좌우방향으로 상기 가이드봉(121)에 가이드 되어지고, 상기 이동부(122)에는 상기 이동부(122)를 각각 이동시키도록 스텝모터(123)가 각각 연결되어지며, 상기 스텝모터(123)와 상기 이동부 간에는 타이밍벨트로 연결되며, 상기 이동부(122)의 전측에는 상기 LCD기판(150)의 테스트를 위한 프로브(125)가 형성되어지며, 상기 프로브(125)와 상기 이동부 간에 프로브대(126)가 형성되어 상기 프로브(125)를 고정시키고, 상기 프로브대(126)의 하측단과 상기 받침판 간에 상기 프로브대(126)의 이동거리를 측정하고 제어하는 가이드(124)가 형성된 것을 특징으로 하는 LCD기판 동작 테스트장치.The measuring unit 120 is provided with a plurality of moving parts 122 in the guide rods are guided to the guide rods 121 in the left and right directions, and the moving parts 122 are respectively provided in the moving parts 122. Step motor 123 is connected to each other to move, and is connected to the timing motor between the step motor 123 and the moving unit, the front side of the moving unit 122 for the test of the LCD substrate 150 A probe 125 is formed, and a probe stand 126 is formed between the probe 125 and the moving part to fix the probe 125 and between the lower end of the probe stand 126 and the support plate. LCD substrate operation test apparatus, characterized in that the guide 124 is formed to measure and control the movement distance of the stand (126).
  2. 제 1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 카메라부(140)는 상기 LCD기판(150)과 프로브 간을 촬영하며, 상기 받침판(110) 상측에 가이드부(131)가 설치되어 상기 가이드부(131)에 가이드 되어 상기 카메라부(140)가 좌우측 방향으로 이송되어지며, 상기 카메라부(140)의 상측에 조종레버가 형성되어 상기 카메라부(140)를 전후방향과 상하방향으로 이송시키는 것을 특징으로 하는 LCD기판 동작 테스트장치.The camera unit 140 photographs between the LCD substrate 150 and the probe, and a guide unit 131 is installed on the support plate 110 and guided to the guide unit 131 to allow the camera unit 140 to be photographed. Is moved in the left and right direction, the control lever is formed on the upper side of the camera unit 140, the LCD substrate operation test apparatus, characterized in that for transferring the camera unit 140 in the front and rear and up and down directions.
  3. LCD기판의 동작을 테스트하는 테스트 장치에 있어서,In the test apparatus for testing the operation of the LCD substrate,
    LCD기판(150)이 올려져 고정되어지는 받침판(110)과;A support plate 110 on which the LCD substrate 150 is raised and fixed;
    상기 받침판(110) 상단의 상측면에 형성되어 전측단에 LCD기판(150)을 테스트하는 프로브(125)가 설치되어지는 다수개의 이동부(122)가 수평으로 설치된 가이드봉(121)에 설치되어 각각 이동되어지는 측정부(120)와;A plurality of moving parts 122 are formed on the guide rod 121 horizontally formed on the upper side of the top of the support plate 110 and the probe 125 for testing the LCD substrate 150 is installed at the front end. Measuring unit 120 to be moved respectively;
    상기 측정부(120)를 전후 좌우 방향으로 이동시키며, 상기 측정부(120)의 좌우 양측에 형성되어지는 이송부(140)와;A transfer unit 140 which moves the measurement unit 120 in front, rear, left and right directions, and is formed on both left and right sides of the measurement unit 120;
    상기 받침판(110)의 중앙에 형성되어 LCD기판(150)이 고정되어지는 고정부와;A fixing part formed at the center of the supporting plate 110 to which the LCD substrate 150 is fixed;
    상기 고정부의 양측에 설치되어 상기 측정부(120)의 프로브와 상기 LCD기판(150)이 접촉되어지는 부위를 촬영하는 카메라부(140)와;A camera unit 140 installed at both sides of the fixing unit to photograph a portion where the probe of the measuring unit 120 and the LCD substrate 150 are in contact with each other;
    상기 고정부에 고정되어 상기 측정부(120)를 통해 테스트되어지는 LCD기판(150);을 포함하여 구성하며,And a LCD substrate 150 fixed to the fixed part and tested by the measuring part 120.
    상기 카메라부(140)는 상기 LCD기판(150)과 프로브 간을 촬영하며, 상기 받침판(110) 상측에 가이드부(131)가 설치되어 상기 가이드부(131)에 가이드 되어 상기 카메라부(140)가 좌우측 방향으로 이송되어지며, 상기 카메라부(140)의 상측에 조종레버가 형성되어 상기 카메라부(140)를 전후방향과 상하방향으로 이송시키는 것을 특징으로 하는 LCD기판 동작 테스트장치.The camera unit 140 photographs between the LCD substrate 150 and the probe, and a guide unit 131 is installed on the support plate 110 and guided to the guide unit 131 to allow the camera unit 140 to be photographed. Is moved in the left and right direction, the control lever is formed on the upper side of the camera unit 140, the LCD substrate operation test apparatus, characterized in that for transferring the camera unit 140 in the front and rear and up and down directions.
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