KR100945444B1 - Apparatus and Method for Inspecting a Defect - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 이물 검사 장치는, 렌즈 모듈을 안착시켜 렌즈 모듈의 화상 이미지를 얻는 이미지 센싱부; 상기 이미지 센싱부 위에 위치하는 확산판; 상기 확산판 위에 위치하는 조명기; 상기 이미지 센싱부에 연결되고, 상기 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지를 표시하는 제 1 디스플레이; 상기 제 1 디스플레이에 연결되고, 상기 화상 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리하는 화상후처리부; 상기 화상후처리부에 연결되고, 화상후처리된 화상후처리 이미지를 표시하는 제 2 디스플레이;를 포함한다. The foreign material inspection apparatus according to the present invention includes an image sensing unit for acquiring an image image of the lens module by mounting the lens module; A diffusion plate positioned on the image sensing unit; An illuminator positioned on the diffuser plate; A first display connected to the image sensing unit and configured to display an image image obtained from the image sensing unit; An image post-processing unit coupled to the first display and configured to post-process the image using a histogram equalization method; And a second display connected to the image post-processing unit and displaying a post-processed image.

이물, 렌즈 모듈, 확산판, 화상후처리부, 디밍기 Foreign object, lens module, diffuser plate, image post-processing unit, dimming machine

Description

이물 검사 장치 및 방법{Apparatus and Method for Inspecting a Defect}Apparatus and Method for Inspecting a Defect}

본 발명은 이물 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 카메라 또는 ISM(Image Sensor Module) 렌즈면에 고착된 이물 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a foreign material inspection apparatus and method, and more particularly to a foreign material inspection apparatus and method fixed to the camera or the image sensor module (ISM) lens surface.

일반적으로 카메라 또는 ISM(Image Sensor Module) 렌즈면에 이물이 고착되면 이물에 의해 CCD 센서면의 특정부위에 유입되는 광량을 저하시키고, 이로 인해 화상이 흐릿해지는 얼룩을 야기시키게 된다. 현재는, 이러한 이유로 렌즈면의 이물에 대한 크기 기준을 설정하여 이물의 크기가 기준보다 클 경우 화상에 얼룩을 야기시킬 것이라고 가정하여 이물로 인한 불량을 검출하고 있다. 하지만, 최근들어 ISM이 소형화되고 3 메가 이상으로 고화소화 됨에 따라 기존 이물 기준보다 작은 이물도 화상에 얼룩을 야기시킬 수 있으므로 이물 기준의 강화가 요구되고 있다.In general, when a foreign material is fixed on the lens surface of the camera or an image sensor module (ISM), the amount of light flowing into a specific portion of the CCD sensor surface by the foreign material is reduced, thereby causing a blurring of the image. For this reason, defects due to foreign matters are detected by setting a size reference for the foreign material on the lens surface and assuming that the size of the foreign material is larger than the reference, which will cause spots on the image. However, in recent years, as the ISM becomes smaller and more than 3 megapixels, foreign matter smaller than the existing foreign matter standard may cause stains on the image, and thus, the foreign matter standard is required to be strengthened.

기존 이물 기준의 경우 렌즈별로 동일한 이물 기준을 적용하고 있다. 그러나 렌즈별로 이미지 센서와의 상대거리가 다 다르고, 화상 얼룩의 발생은 이미지 센서와의 상대거리의 크기에 직접적인 영향을 받는다. 따라서, 단순히 렌즈면의 이물관리 기준을 강화하여 작은 크기의 이물까지 검출하는 것은 실제 화상에 영향을 미치 지 않는 이물에 대해서 과검출을 야기하여 제품 수율의 악화를 초래할 수 있다.In the case of existing foreign material standards, the same foreign material standard is applied to each lens. However, each lens has a different relative distance from the image sensor, and the occurrence of image spots is directly affected by the size of the relative distance from the image sensor. Therefore, simply reinforcing the foreign material management standard of the lens surface to detect even the small size foreign material may cause overdetection of the foreign material which does not affect the actual image, which may lead to deterioration of product yield.

이러한 문제를 해결할 수 있는 가장 합리적인 방법은 각 렌즈별로 화상 얼룩을 야기시키지 않는 최대 이물의 크기를 실험을 통해 찾아내는 것이다. 하지만 실제 이물의 재질은 매우 다양하고 동일 크기의 이물이라고 해도 재질의 차이로 인하여 실제 화상에 미치는 영향은 다를 수 있다. 또한 일정한 크기의 이물을 특정 렌즈의 원하는 위치에 도포시켜 실험을 수행하는 것도 모델별로 짧은 현재의 라이프 싸이클을 감안한다면 결코 쉽지 않은 작업이며 비생산적인 방법이라 할 수 있다.The most reasonable way to solve this problem is to find out the maximum size of the foreign material in each lens that does not cause image blur. However, the material of the actual foreign material is very diverse, even if the foreign material of the same size may have a different effect on the actual image due to the difference in the material. In addition, applying experiments by applying a certain size of a foreign material to a desired position of a specific lens is a difficult task and an unproductive method, considering the current short life cycle for each model.

본 발명은 이물로 인한 불량을 검출하기 위하여 렌즈들이 조립된 렌즈 모듈 상태에서 상기 렌즈 모듈에 대한 화상 이미지를 얻고, 상기 화상 이미지를 화상후처리하여 얻은 화상후처리 이미지를 통해 이물을 검출하는 이물 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention obtains an image image of the lens module in a lens module state in which lenses are assembled to detect a defect caused by a foreign material, and detects a foreign material through an image post-processing image obtained by post-processing the image image. It is an object to provide an apparatus and method.

본 발명에 따른 이물 검사 장치는, 렌즈 모듈을 안착시켜 렌즈 모듈의 화상 이미지를 얻는 이미지 센싱부; 상기 이미지 센싱부 위에 위치하는 확산판; 상기 확산판 위에 위치하는 조명기; 상기 이미지 센싱부에 연결되고, 상기 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지를 표시하는 제 1 디스플레이; 상기 제 1 디스플레이에 연결되고, 상기 화상 이미지를 화상후처리하는 화상후처리부; 상기 화상후처리부에 연결되고, 화상후처리된 화상후처리 이미지를 표시하는 제 2 디스플레이;를 포함한다. The foreign material inspection apparatus according to the present invention includes an image sensing unit for acquiring an image image of the lens module by mounting the lens module; A diffusion plate positioned on the image sensing unit; An illuminator positioned on the diffuser plate; A first display connected to the image sensing unit and configured to display an image image obtained from the image sensing unit; An image post-processing unit connected to the first display and configured to image-process the image image; And a second display connected to the image post-processing unit and displaying a post-processed image.

본 발명에 있어서, 상기 확산판은 반투명 아크릴판일 수 있다.In the present invention, the diffusion plate may be a translucent acrylic plate.

본 발명에 있어서, 상기 확산판은 두께가 1~2.5 mm일 수 있다.In the present invention, the diffusion plate may have a thickness of 1 ~ 2.5 mm.

본 발명에 있어서, 상기 조명기는 복수의 LED일 수 있다.In the present invention, the illuminator may be a plurality of LEDs.

본 발명에 있어서, 상기 조명기는 디밍(dimming)기를 더 포함할 수 있다. In the present invention, the illuminator may further comprise a dimming (dimming).

본 발명에 있어서, 상기 이미지 센싱부는 상기 렌즈 모듈을 안착시키기 위한 모듈 홀더; 상기 렌즈 모듈의 화상 이미지를 얻기 위한 센서;를 포함할 수 있다.In the present invention, the image sensing unit comprises a module holder for mounting the lens module; And a sensor for obtaining an image image of the lens module.

본 발명에 있어서, 상기 화상후처리부는 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리를 수행할 수 있다.In the present invention, the image post-processing unit may perform image post-processing using a histogram equalization method.

본 발명에 따른 이물 검사 방법은, 확산판 위에 위치한 조명기를 구동시켜 이미지 센싱부로부터 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 단계; 상기 화상 이미지를 이미지의 휘도차를 극대화시켜 화상후처리하는 단계; 화상후처리된 화상후처리 이미지를 디스플레이에 표시하는 단계; 상기 디스플레이에 표시된 화상후처리 이미지를 식별하여 이물을 검출하는 단계;를 포함한다.The foreign material inspection method according to the present invention comprises the steps of: driving an illuminator located on the diffuser plate to obtain an image image of the diffuser plate of the lens module from the image sensing unit; Post-processing the image by maximizing the difference in luminance of the image; Displaying the image post-processed image on the display; And detecting a foreign material by identifying an image post-processing image displayed on the display.

본 발명에 있어서, 상기 화상후처리하는 단계는 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리를 수행할 수 있다.In the present invention, the image post-processing may be performed after the image using the histogram equalization method.

본 발명에 있어서, 상기 화상후처리하는 단계는 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지를 흑백 이미지로 변환하는 단계; 변환된 흑백 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리 이미지로 변환하는 단계;를 포함할 수 있다.In the present invention, the post-processing of the image may include converting the image image obtained from the image sensing unit into a black and white image; And converting the converted black and white image into an image post-processing image using the histogram equalization method.

본 발명에 따른 조립된 렌즈 모듈에 대한 해상력 검사 공정을 포함하는 ISM용 렌즈 모듈 제조 방법에 있어서, 이미지 센싱부로부터 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 단계; 상기 화상 이미지를 이미지의 휘도차를 극대화시켜 화상후처리하는 단계; 화상후처리된 화상후처리 이미지를 디스플레이에 표시하는 단계; 상기 디스플레이에 표시된 화상후처리 이미지를 식별하여 이물을 검출하는 단계;를 포함하는 이물 검사 방법은 상기 해상력 검사 공정의 다음 공정으로 수행될 수 있다.A method for manufacturing a lens module for an ISM comprising a resolution test process for an assembled lens module according to the present invention, the method comprising: obtaining an image image of a diffuser plate of a lens module from an image sensing unit; Post-processing the image by maximizing the difference in luminance of the image; Displaying the image post-processed image on the display; The foreign material inspection method may include performing a foreign material detection method by identifying an image post-processing image displayed on the display.

본 발명에 따른 조립된 렌즈 모듈에 대한 최종 외관 검사 공정을 포함하는 ISM용 렌즈 모듈 제조 방법에 있어서, 이미지 센싱부로부터 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 단계; 상기 화상 이미지를 이미지의 휘도차를 극대화시켜 화상후처리하는 단계; 화상후처리된 화상후처리 이미지를 디스플레이에 표시하는 단계; 상기 디스플레이에 표시된 화상후처리 이미지를 식별하여 이물을 검출하는 단계;를 포함하는 이물 검사 방법은 상기 최종 외관 검사 공정의 다음 공정으로 수행될 수 있다.A method for manufacturing a lens module for an ISM comprising a final visual inspection process for an assembled lens module according to the present invention, the method comprising: obtaining an image image of a diffuser plate of a lens module from an image sensing unit; Post-processing the image by maximizing the difference in luminance of the image; Displaying the image post-processed image on the display; The foreign material inspection method including identifying the image post-processing image displayed on the display may be performed as a next step of the final appearance inspection process.

상기와 같이 이루어진 본 발명에 따른 이물 검사 장치 및 방법은 렌즈들이 조립된 렌즈 모듈 상태에서 상기 렌즈 모듈에 대한 화상 이미지를 얻고, 상기 화상 이미지를 화상후처리하여 얻은 화상후처리 이미지를 통해 이물을 검출함으로써, 화상에 영향을 미치는 이물 검출률을 크게 개선시킬 수 있고, 정교한 광학계를 필요로 하지 않고 해상력 검사용 장비를 활용하기 때문에 비용 효율적인 효과가 있다. The foreign material inspection apparatus and method according to the present invention made as described above obtains an image image of the lens module in the state of the lens module assembled lenses, and detects the foreign matter through the image post-processing image obtained by post-processing the image image As a result, the foreign matter detection rate affecting the image can be greatly improved, and since the equipment for resolving power inspection is utilized without requiring a sophisticated optical system, there is a cost effective effect.

또한, 화상에 영향을 미치는 이물을 직접적으로 검출하기 때문에 이물 관리 기준이 필요없어, 이물 기준에 대한 논란을 없앨 수 있다.In addition, since foreign substances affecting the image are directly detected, there is no need for a foreign substance management criterion, thereby eliminating controversy about the foreign substance criteria.

이하, 첨부된 도면에 도시된 본 발명의 실시예를 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이 밖에도 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시예로 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면 상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.Hereinafter, with reference to the embodiments of the present invention shown in the accompanying drawings will be described in detail the present invention. However, the present invention may be modified in various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. The embodiments of the present invention are provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape and size of elements in the drawings may be exaggerated for clarity, and the elements denoted by the same reference numerals in the drawings are the same elements.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 이물 검사 장치의 블록도이고, 도 2는 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 방법을 나타내는 개략도이며, 도 3(a)는 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리하기 전의 화상 이미지의 휘도 분포를 나타내는 그래프이고 도 3(b)는 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리한 후의 화상후처리 이미지의 휘도 분포를 나타내는 그래프이다.1 is a block diagram of a foreign material inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a schematic diagram showing a method of obtaining an image image for the diffuser plate of the lens module, Figure 3 (a) is using a histogram equalization method FIG. 3 (b) is a graph showing the luminance distribution of the post-processed image after the post-processing image using the histogram equalization method.

도 1을 참고하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 이물 검사 장치는 이미지 센싱부, 확산판, 조명기, 제 1 디스플레이, 화상후처리부, 제 2 디스플레이를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, a foreign material inspection apparatus according to an exemplary embodiment may include an image sensing unit, a diffusion plate, an illuminator, a first display, an image post-processing unit, and a second display.

이미지 센싱부는 모듈 홀더와 센서를 포함할 수 있다. 모듈 홀더는 렌즈 모듈을 안착시키는 역할을 하고, 센서는 모듈 홀더에 안착된 렌즈 모듈의 화상 이미지를 얻는 역할을 할 수 있다.The image sensing unit may include a module holder and a sensor. The module holder may serve to seat the lens module, and the sensor may serve to obtain an image image of the lens module seated on the module holder.

확산판은 이미지 센싱부 위에 위치한 반투명 아크릴판일 수 있다. 또한 상기 확산판은 두께가 1~2.5 mm일 수 있으며, 렌즈 모듈을 통과하는 빛을 고르게 퍼뜨리는 역할을 수행할 수 있다.The diffuser plate may be a translucent acrylic plate located on the image sensing unit. In addition, the diffusion plate may have a thickness of 1 to 2.5 mm, and may serve to evenly spread the light passing through the lens module.

조명기는 확산판 위에 위치하며, 복수의 LED일 수 있고, 상기 조명기에는 LED의 밝기 조절이 가능한 디밍(dimming)기를 더 포함할 수 있다. 또한 상기 조명기는 확산판에 광원을 제공하는 역할을 할 수 있다.The illuminator is located on the diffuser plate and may be a plurality of LEDs, and the illuminator may further include a dimming device capable of adjusting the brightness of the LEDs. In addition, the illuminator may serve to provide a light source to the diffusion plate.

제 1 디스플레이는 이미지 센싱부에 연결되며, 이미지 센싱부에서 취득한 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 표시하는 역할을 수행할 수 있다.The first display may be connected to the image sensing unit and serve to display an image image of the diffusion plate of the lens module acquired by the image sensing unit.

화상후처리부는 제 1 디스플에이에 연결되며, 이미지 센싱부에서 취득한 화상 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 휘도차를 극대화시키는 화상후처리를 수행하여 화상후처리 이미지를 얻는 역할을 할 수 있다.The image post-processing unit may be connected to the first display and perform image post-processing to maximize the luminance difference by using histogram equalization method of the image image acquired by the image sensing unit to obtain an image post-processing image.

제 2 디스플레이는 화상후처리부에 연결되며, 화상후처리부에서 취득한 화상후처리 이미지를 표시하여 화상에 영향을 미치는 이물을 식별하게 하는 역할을 수행할 수 있다.The second display may be connected to the image post-processing unit, and may display a post-processing image acquired by the image post-processing unit to identify foreign matters affecting the image.

도 2를 참고하여 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 방법을 구체적으로 살펴보면, 먼저, 이미지 센싱부의 모듈 홀더에 렌즈 모듈을 안착시킨다. 그리고 렌즈 모듈의 위쪽에 반투명 플라스틱 재질의 확산판을 설치하며, 이때 확산판과 렌즈면은 상호 평행하여야 한다. 또한 조명기를 확산판 위쪽에 설치하여 부족한 광량을 추가시켜 주며, 이때 조명기는 전 확산판 면을 고르게 비추도록 설치되어야 한다. 상기와 같이 이미지 센싱부, 확산판, 조명기를 설치한 후 이미지 센싱부의 센서에서 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 취득할 수 있게 된다.A method of obtaining an image image of a diffusion plate of a lens module will be described in detail with reference to FIG. 2. First, a lens module is mounted on a module holder of an image sensing unit. A diffuser plate made of translucent plastic is installed on the upper side of the lens module, and the diffuser plate and the lens surface must be parallel to each other. In addition, the illuminator is installed above the diffuser plate to add insufficient light, and the illuminator should be installed to evenly illuminate the entire diffuser plate surface. As described above, after the image sensing unit, the diffusion plate, and the illuminator are installed, an image image of the diffusion plate of the lens module may be acquired by the sensor of the image sensing unit.

도 3(a) 및 (b)를 참조하여 화상후처리 과정을 살펴본다. 먼저, 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지가 제 1 디스플레이로부터 화상후처리부로 입력되면, 상기 화상 이미지를 흑백 이미지로 변환한다. 이 후, 변환된 흑백 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리 이미지로 변환하여 제 2 디스플레이에 표시하게 된다.An image post-processing process will be described with reference to FIGS. 3A and 3B. First, when an image image obtained from the image sensing unit is input from the first display to the image post-processing unit, the image image is converted into a black and white image. Thereafter, the converted monochrome image is converted into an image post-processing image using a histogram equalization method and displayed on the second display.

이때, 변환된 흑백 이미지를 화상후처리 이미지로 변환하는 과정에서 사용되는 historam equalization 방법에 관하여 보다 구체적으로 살펴본다. 일반적으로 흑백 이미지의 경우 이미지의 휘도는 0에서 255의 숫자로 표시되며, 이미지의 휘도 분포는 도 3(a)와 같이 일부영역에 걸쳐 분포하고 있다. 특히, 이미지의 휘도 분포 폭이 좁을수록 목시적으로 이미지를 파악하기 어렵게 된다. 여기에 historam equalization 방법을 사용하면 도 3(b)와 같이 이미지의 휘도 분포 폭을 확장시켜 0에서 255까지 균일하게 분포하게 함으로써 이미지의 휘도차를 극대화시키게 되고, 이미지를 목시적으로 파악하는 것이 용이해 진다.In this case, the historam equalization method used in the process of converting the converted monochrome image into an image post-processing image will be described in more detail. In general, in the case of a black and white image, the luminance of the image is represented by a number of 0 to 255, and the luminance distribution of the image is distributed over a partial region as shown in FIG. In particular, the narrower the luminance distribution width of the image, the more difficult it is to grasp the image visually. The historam equalization method here maximizes the luminance difference of the image by expanding the luminance distribution width of the image to be uniformly distributed from 0 to 255 as shown in FIG. 3 (b), and makes it easier to visually identify the image. It becomes

따라서, historam equalization 방법을 사용하여 렌즈 모듈로부터 얻은 화상 이미지를 변환하면 이물에 대한 시인성이 크게 증가하게 되며, 이를 통해 카메라 또는 ISM 렌즈면에 영향을 미치는 이물유무를 보다 용이하게 판단할 수 있다. Therefore, when the image image obtained from the lens module is converted by using the historam equalization method, the visibility of the foreign material is greatly increased, and thus, it is easier to determine whether the foreign material affecting the camera or the ISM lens surface.

일반적으로 ISM용 렌즈 모듈 제조 방법은 a) 렌즈를 사출 및 코팅하는 단계, b) 사출 및 코팅된 렌즈를 이용하여 렌즈 모듈을 조립하는 단계, c) 조립된 렌즈 모듈의 해상력을 검사하는 단계, d) 해상력 검사를 통과한 렌즈 모듈의 최종 외관을 검사하는 단계, e) 최종 외관 검사를 통과한 렌즈 모듈을 세정 및 포장하는 단계, f) 세정 및 포장된 렌즈 모듈의 출하 검사 단계로 이루어진다.In general, a method for manufacturing a lens module for an ISM includes: a) injecting and coating a lens, b) assembling the lens module using the injected and coated lens, c) inspecting the resolution of the assembled lens module, d A) inspecting the final appearance of the lens module that passed the resolution test, e) cleaning and packaging the lens module that passed the final appearance inspection, and f) shipping inspection of the cleaned and packaged lens module.

이때, 본 발명의 일 실시예에 따른 이물 검사 방법이 ISM용 렌즈 모듈 제조 공정 중 해상력 검사 단계 이후에 수행되는 경우 이물 검사에 필요한 검사 시간 및 검사 장비를 최소화 할 수 있을 것이다.At this time, when the foreign material inspection method according to an embodiment of the present invention is performed after the resolution test step of the lens module manufacturing process for the ISM will be able to minimize the inspection time and inspection equipment required for the foreign material inspection.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 이물 검사 방법은 ISM용 렌즈 모듈 제조 공정 중 최종 외관 검사 단계 이후에 최종 외관 검사시 취득한 영상 이미지를 통해 수행될 수도 있을 것이다.In addition, the foreign material inspection method according to an embodiment of the present invention may be performed through the image image obtained during the final appearance inspection after the final appearance inspection step of the lens module manufacturing process for the ISM.

도 4는 해상력 검사 후공정으로 이물 검사 방법을 수행하는 경우의 순서도이다.Figure 4 is a flow chart in the case of performing a foreign material inspection method in a resolution test after the process.

도 4를 참고하면, 우선 모듈 홀더에 렌즈 모듈을 장착하여 해상력 검사를 수행한다. 렌즈 모듈이 해상력 검사를 통과하지 못하는 경우에는 불량 판정을 하게 되고, 렌즈 모듈이 해상력 검사를 통과하는 경우에 센서로부터 확산판에 대한 화상 이미지를 촬영하고, 화상후처리부를 통해 화상후처리 이미지를 취득하여 화상에 영향을 미치는 이물이 있는지 여부를 판별한다. 이때, 렌즈 모듈에 화상에 영향을 미치는 이물이 있는 경우 불량 판정을 하게 되고, 화상에 영향을 미치는 이물이 없는 경우에는 양품 판정을 하고 렌즈 모듈을 모듈 홀더에서 탈거하여 검사를 종료하게 된다.Referring to FIG. 4, first, a lens module is mounted on a module holder to perform a resolution test. If the lens module does not pass the resolution test, the defect is judged, and when the lens module passes the resolution test, the image image of the diffuser plate is taken from the sensor, and the image post-processing image is acquired. To determine whether there is any foreign matter affecting the image. At this time, if there is a foreign object affecting the image in the lens module, the defect is judged. If there is no foreign material affecting the image, a good quality judgment is made, and the lens module is removed from the module holder to terminate the inspection.

본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 하며, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.The present invention is not limited by the above-described embodiment and the accompanying drawings, but is intended to be limited by the appended claims, and various forms of substitution, modification, and within the scope not departing from the technical spirit of the present invention described in the claims. It will be apparent to those skilled in the art that changes are possible.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 이물 검사 장치의 블록도이다.1 is a block diagram of a foreign material inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2는 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 방법을 나타내는 개략도이다.2 is a schematic diagram illustrating a method of obtaining an image image of a diffuser plate of a lens module.

도 3(a)는 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리하기 전의 화상 이미지의 휘도 분포를 나타내는 그래프이다.Fig. 3A is a graph showing the luminance distribution of an image image before post-processing using the histogram equalization method.

도 3(b)는 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리한 후의 화상후처리 이미지의 휘도 분포를 나타내는 그래프이다.Fig. 3B is a graph showing the luminance distribution of the post-processed image after post-processing using the histogram equalization method.

도 4는 해상력 검사 후공정으로 이물 검사 방법을 수행하는 경우의 순서도이다.Figure 4 is a flow chart in the case of performing a foreign material inspection method in a resolution test after the process.

Claims (16)

렌즈 모듈을 안착시켜 렌즈 모듈의 화상 이미지를 얻는 이미지 센싱부;An image sensing unit which mounts the lens module to obtain an image image of the lens module; 상기 이미지 센싱부 위에 위치하는 확산판;A diffusion plate positioned on the image sensing unit; 상기 확산판 위에 위치하는 조명기;An illuminator positioned on the diffuser plate; 상기 이미지 센싱부에 연결되고, 상기 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지를 표시하는 제 1 디스플레이;A first display connected to the image sensing unit and configured to display an image image obtained from the image sensing unit; 상기 제 1 디스플레이에 연결되고, 상기 화상 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리하는 화상후처리부; 및An image post-processing unit coupled to the first display and configured to post-process the image using a histogram equalization method; And 상기 화상후처리부에 연결되고, 화상후처리된 화상후처리 이미지를 표시하는 제 2 디스플레이;를 포함하는 이물 검사 장치.And a second display connected to the post-processing unit and displaying a post-processed image. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 확산판은 반투명 아크릴판인 이물 검사 장치.The diffusion plate is a foreign material inspection device that is a translucent acrylic plate. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 확산판은 두께가 1~2.5 mm인 이물 검사 장치.The diffusion plate is a foreign material inspection device having a thickness of 1 ~ 2.5 mm. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 조명기는 복수의 LED인 이물 검사 장치.The illuminator is a foreign material inspection device that is a plurality of LEDs. 제 1 항 또는 제 4 항에 있어서,The method according to claim 1 or 4, 상기 조명기는 디밍(dimming)기를 더 포함하는 이물 검사 장치.The illuminator further includes a dimming device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 이미지 센싱부는,The image sensing unit, 상기 렌즈 모듈을 안착시키기 위한 모듈 홀더;A module holder for seating the lens module; 상기 렌즈 모듈의 화상 이미지를 얻기 위한 센서;를 포함하는 이물 검사 장치.And a sensor for obtaining an image image of the lens module. 삭제delete 확산판 위에 위치한 조명기를 구동시켜 이미지 센싱부로부터 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 단계;Driving an illuminator positioned on the diffuser plate to obtain an image image of the diffuser plate of the lens module from the image sensing unit; 상기 화상 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 이미지의 휘도차를 극대화시켜 화상후처리하는 단계;Post-processing the image by maximizing a luminance difference of the image by using a histogram equalization method; 화상후처리된 화상후처리 이미지를 디스플레이에 표시하는 단계; 및Displaying the image post-processed image on the display; And 상기 디스플레이에 표시된 화상후처리 이미지를 식별하여 이물을 검출하는 단계;를 포함하는 이물 검사 방법.And detecting a foreign material by identifying the image post-processed image displayed on the display. 삭제delete 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 화상후처리하는 단계는,The image post-processing step, 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지를 흑백 이미지로 변환하는 단계; 및Converting the image image obtained from the image sensing unit into a black and white image; And 변환된 흑백 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리 이미지로 변환하는 단계;를 포함하는 이물 검사 방법.And converting the converted black and white image into an image post-processing image using histogram equalization method. 조립된 렌즈 모듈에 대한 해상력 검사 공정을 포함하는 ISM(Image Sensor Module)용 렌즈 모듈 제조 방법에 있어서,In the lens module manufacturing method for an image sensor module (ISM) comprising a resolution inspection process for the assembled lens module, 이미지 센싱부로부터 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 단계;Obtaining an image image of the diffuser plate of the lens module from the image sensing unit; 상기 화상 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 이미지의 휘도차를 극대화시켜 화상후처리하는 단계;Post-processing the image by maximizing a luminance difference of the image by using a histogram equalization method; 화상후처리된 화상후처리 이미지를 디스플레이에 표시하는 단계; 및Displaying the image post-processed image on the display; And 상기 디스플레이에 표시된 화상후처리 이미지를 식별하여 이물을 검출하는 단계;를 포함하는 이물 검사 방법이 상기 해상력 검사 공정의 다음 공정으로 수행되는 ISM(Image Sensor Module)용 렌즈 모듈 제조 방법.And detecting a foreign material by identifying an image post-processed image displayed on the display, wherein the foreign material inspection method is performed as a next step of the resolution test process. 삭제delete 제 11 항에 있어서,The method of claim 11, 상기 화상후처리하는 단계는,The image post-processing step, 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지를 흑백 이미지로 변환하는 단계; 및Converting the image image obtained from the image sensing unit into a black and white image; And 변환된 흑백 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리 이미지로 변환하는 단계;를 포함하는 ISM(Image Sensor Module)용 렌즈 모듈 제조 방법.And converting the converted black and white image into an image post-processing image using histogram equalization method. 조립된 렌즈 모듈에 대한 최종 외관 검사 공정을 포함하는 ISM(Image Sensor Module)용 렌즈 모듈 제조 방법에 있어서,In the lens module manufacturing method for an image sensor module (ISM) comprising a final visual inspection process for the assembled lens module, 이미지 센싱부로부터 렌즈 모듈의 확산판에 대한 화상 이미지를 얻는 단계;Obtaining an image image of the diffuser plate of the lens module from the image sensing unit; 상기 화상 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 이미지의 휘도차를 극대화시켜 화상후처리하는 단계;Post-processing the image by maximizing a luminance difference of the image by using a histogram equalization method; 화상후처리된 화상후처리 이미지를 디스플레이에 표시하는 단계; 및Displaying the image post-processed image on the display; And 상기 디스플레이에 표시된 화상후처리 이미지를 식별하여 이물을 검출하는 단계;를 포함하는 이물 검사 방법이 상기 최종 외관 검사 공정의 다음 공정으로 수행되는 ISM(Image Sensor Module)용 렌즈 모듈 제조 방법.And detecting a foreign material by identifying the image post-processed image displayed on the display. The method of manufacturing a lens module for an ISM (Image Sensor Module), wherein the foreign material inspection method is performed as a next step of the final appearance inspection process. 삭제delete 제 14 항에 있어서,The method of claim 14, 상기 화상후처리하는 단계는,The image post-processing step, 이미지 센싱부로부터 얻은 화상 이미지를 흑백 이미지로 변환하는 단계; 및Converting the image image obtained from the image sensing unit into a black and white image; And 변환된 흑백 이미지를 histogram equalization 방법을 사용하여 화상후처리 이미지로 변환하는 단계;를 포함하는 ISM(Image Sensor Module)용 렌즈 모듈 제조 방법.And converting the converted black and white image into an image post-processing image using histogram equalization method.
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