KR100882490B1 - Raman microscope with excellent ratio of signal to noise - Google Patents
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Abstract
본 발명은 잡음 대비 신호 비율(S/N)이 우수한 라만 현미경에 관한 것으로서, 대물렌즈(5)로 얻어진 시료의 실상(RI) 중 원하는 부분만 선택적으로 통과시켜주는 영상선택기구(6)를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a Raman microscope having an excellent signal-to-noise ratio (S / N), comprising an image selection mechanism (6) for selectively passing only a desired portion of a real image (RI) of a sample obtained by the objective lens (5). Characterized in that.
또한, 본 발명은 대물렌즈(5)를 통과한 단색광의 촛점(f2)을 대물렌즈(5) 자체의 촛점(f1)과 다른 위치에 형성시키는 가변 이중초점 형성기구를 추가로 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention further includes a variable bifocal forming mechanism for forming the focal point f2 of the monochromatic light passing through the objective lens 5 at a position different from the focal point f1 of the objective lens 5 itself. It is done.
본 발명은 상기 영상선택기구로 인해 광원의 크기를 시료에 맞출 필요가 없고, 상기 가변 이중초점 형성기구로 인해 광원의 세기 조절이 필요치 않아 사용이 편리하고 우수한 잡음 대비 신호 비율(S/N)의 스펙트럼을 얻을 수 있다.The present invention does not need to match the size of the light source to the sample due to the image selection mechanism, and the intensity of the light source is not necessary due to the variable bifocal forming mechanism, which is easy to use and provides excellent noise to signal ratio (S / N). The spectrum can be obtained.
라만 현미경, S/N, 영상선택, 가변, 이중초점, 스펙트럼, 미세, 라만 분광기. Raman microscope, S / N, image selection, variable, bifocal, spectral, fine, Raman spectroscopy.
Description
본 발명은 잡음 대비 신호 비율(S/N)이 우수한 라만 현미경에 대한 것으로서, 보다 구체적으로는 대물렌즈(5)로 얻어진 시료의 실상(RI) 중 원하는 부분만 선택적으로 통과시켜주는 영상선택기구(6)를 구비하여 광원의 크기를 시료에 맞출 필요가 없고, 선택적으로 대물렌즈(5)를 통과한 단색광의 촛점(f2)을 대물렌즈(5) 자체의 촛점(f1)과 다른 위치에 형성시키는 가변 이중초점 형성기구를 추가로 더 구비하여 광원의 세기 조절이 필요 없어서 사용이 편리하고 양호한 잡음 대비 신호 비율(S/N)의 스펙트럼을 얻을 수 있는 라만 현미경에 관한 것이다.The present invention relates to a Raman microscope having an excellent signal-to-noise ratio (S / N), and more particularly, to an image selection mechanism for selectively passing only a desired portion of a real image (RI) of a sample obtained by the objective lens ( 6) it is not necessary to fit the size of the light source to the sample, and selectively forms the focal point f2 of the monochromatic light passing through the
라만 분광기(Raman spectroscopy)는 라만 산란을 이용하여 물질을 정성, 정량분석하는 기기로서, 그 측정 원리를 살펴보면, 진동수가 V0인 레이저광 등의 단색광을 V1의 진동수로 진동하고 있는 분자 결합에 조사하면 대부분의 빛은 진동수의 변화 없이 그대로 산란이 되지만 일부는 분자의 결합에너지에 해당하는 V1 만큼을 분자 결합에 주거나(V0-V1) 또는 분자 결합으로부터 에너지를 받으며(V0+V1) 산 란이 일어나서 파장이 길어지거나, 파장이 짧아진다. 이와 같은 파장이 변화하는 것을 라만 산란이라 하며 그 파장의 변화 정도는 적외선 영역에 해당하며 모든 물질은 각각의 고유한 변화 값을 갖는다. 따라서 사람의 지문과 같은 이 파장의 변화로부터 물질의 정성, 정량 분석이 가능해 진다.Raman spectroscopy is a device for qualitative and quantitative analysis of materials using Raman scattering.The principle of measurement is that when monochromatic light such as a laser beam having a frequency of V0 is irradiated to a molecular bond vibrating at the frequency of V1, Most of the light is scattered as it is without changing the frequency, but some give V1 corresponding to the binding energy of the molecule to the molecular bond (V0-V1) or receive energy from the molecular bond (V0 + V1) and scattering takes place This becomes long or the wavelength becomes short. This change in wavelength is called Raman scattering, and the change in wavelength corresponds to the infrared region, and every material has its own change value. Therefore, qualitative and quantitative analysis of the material is possible from this change of wavelength such as human fingerprint.
이 변화 값을 정성, 정량적으로 측정하는 것이 라만 분광기이다.The Raman spectrometer measures qualitatively and quantitatively this change value.
보통 시료의 양이 충분히 많은 경우에는 이와 같은 라만 산란은 손쉽게 측정이 가능하나 시료의 크기가 10㎛ 이하 정도로 작아지면 그 측정은 매우 어려워진다. 작은 시료를 측정하려면 광원을 시료에만 조사하거나 시료에서만 발생한 라만 산란광을 측정할 수 있어야 한다. 이와 같이 작은 시료를 측정하기 위해서는 광학 현미경을 사용하여 단색광의 광폭을 줄여 주어야 한다.Usually, when the amount of sample is large enough, such Raman scattering can be easily measured, but the measurement becomes very difficult when the size of the sample is small to about 10 μm or less. In order to measure a small sample, the light source must be irradiated only to the sample or the Raman scattered light generated from the sample can be measured. In order to measure such a small sample, an optical microscope should be used to reduce the width of monochromatic light.
볼록렌즈인 현미경의 대물렌즈와 상(Image)의 크기 관계는 다음과 같다.The size relationship between the objective lens and the image of the convex microscope is as follows.
초점거리가 f인 볼록 렌즈의 전면에 a만큼 떨어진 위치에 크기가 S1인 상이 있을 때 상기 볼록렌즈의 후면에 얻어지는 상 S2는 아래식(Ⅰ)에 의해 구해지는 b만큼 떨어진 곳에 형성되고 상 S2의 크기는 아래식(Ⅱ)에 따른다.When there is an image of size S1 at a position a far from the front side of the convex lens having a focal length f, the image S2 obtained on the rear surface of the convex lens is formed as far as b obtained by the following equation (I) and The size is according to the following formula (II).
1/a + 1/b = 1/f (Ⅰ)1 / a + 1 / b = 1 / f (Ⅰ)
S1/S2 = b/a (Ⅱ)S1 / S2 = b / a (II)
따라서 고배율의 대물렌즈를 사용할수록 광폭(beam diameter)을 줄일 수 있게 된다.Therefore, the use of a high magnification objective lens can reduce the beam diameter.
즉, 도 2에 도시된 종래의 라만 현미경은 고배율의 대물렌즈(볼록렌즈)를 사용하여 광폭을 줄이고 이를 작은 시료에 집광하는 것이다. 그리고 이 시료에서 발 생한 라만 산란광을 다시 대물렌즈로 집광하게 되는 것이다. 따라서 조사되는 빛의 초점과 다시 집광되는 라만 산란광은 같은 초점거리에 위치하게 된다. 즉 단일 초점 방식이다.That is, the conventional Raman microscope shown in FIG. 2 uses a high magnification objective lens (convex lens) to reduce the light width and to focus it on a small sample. The Raman scattered light generated from this sample is condensed back into the objective lens. Therefore, the focus of the irradiated light and the Raman scattered light which are focused again are located at the same focal length. That is the single focus method.
도 2는 종래 라만 현미경의 기본 구조를 나타내는 개략도이다.2 is a schematic view showing the basic structure of a conventional Raman microscope.
단색광 조사 기기(1)로 부터 나오는 레이져광 등의 단색광은 볼록렌즈 L6을 통과한 후 촛점 f5에 모아지고 1차 바늘구멍(Pin hole, 2)을 지나 볼록렌즈 L7을 통과한 후 다시 평행광이 되어 광분해기(Beam splitter, 4)와 대물렌즈(5)를 차례로 지나 상기 대물렌즈(5)의 자체 촛점인 F1 위치에 있는 시료(S)에 조사되어 라만 산란을 일으킨다.Monochromatic light, such as laser light from the monochromatic
상기와 같이 라만 산란된 광을 다시 대물렌즈(5)를 통과하면서 평행광으로 된 후 볼록렌즈 L8을 통과하면서 초점 f6에 집광되면서 그 위치에 있는 2차 바늘구멍(10)을 지나 라만 분광기(8)로 들어가 정성, 정량적으로 측정된다.As described above, the Raman scattered light becomes parallel light while passing through the
그러나 도 2와 같은 종래의 라만 현미경은 시료의 크기 및 단색광의 강도(세기)와 관련된 여러 문제점이 있다.However, the conventional Raman microscope such as FIG. 2 has various problems related to the size of the sample and the intensity (intensity) of the monochromatic light.
구체적으로, 시료의 크기에 관련된 문제점들을 먼저 살펴보면, 먼저 도 3(a)에 도시된 바와 같이 단색광의 광폭(A)이 시료(S)의 면적보다 큰 경우에는 시료의 측정 자체가 불가능해진다.Specifically, looking at the problems related to the size of the sample, first, as shown in FIG. 3 (a), when the width A of the monochromatic light is larger than the area of the sample S, measurement of the sample itself becomes impossible.
도 3(a)는 종래 라만 현미경에서 시료(S)에 시료면적보다 넓은 광폭(A)을 갖는 단색광이 조사되는 상태를 나타내는 모식도이다.3 (a) is a schematic diagram showing a state in which a monochromatic light having a wider width A than the sample area is irradiated to the sample S in a conventional Raman microscope.
도 3(a)와 같이 시료에 조사되는 단색광의 광폭이 시료보다 큰 경우에는 시 료 측정에 따라서 작은 시료를 측정하기 위해서는 극히 고배율의 대물렌즈가 있어야하며 이로도 안 될 경우에는 도 2와 같이 1차 바늘구멍(2)으로 레이저 광 자체의 광폭을 1차적으로 줄여야만 한다. 또한 시료 주변 산란광을 막기 위해 시료크기와 일치하는 2차 바늘구멍(10)을 분광기 전단에 설치해야만 한다. 즉, 1차 바늘구멍 2와 2차 바늘구멍 10은 크기뿐 아니라 광로 상에 있어서도 완전히 동일선상에 있어야만 하는 어려움이 있다. 안 그럴 경우 대물렌즈(5) 자체의 초점과 대물렌즈를 통과한 단색광의 초첨이 동일하기 때문에 심각한 시료의 라만 신호의 저하를 가져오기 때문이다.When the width of the monochromatic light irradiated onto the sample is larger than the sample as shown in FIG. 3 (a), an extremely high magnification objective lens is required to measure a small sample according to the sample measurement. The
또한, 도 3(b)와 같이 시료의 형태가 원형이 아니고 좁고 긴 경우 단색광의 집광 형태와 일치하지 않아 측정 효율은 극히 낮아진다.In addition, in the case where the shape of the sample is not circular but narrow and long as shown in FIG.
도 3(b)는 종래 라만 현미경에서 시료(S)에 시료면적보다 좁은 광폭(A)을 갖는 단색광이 조사되는 상태를 나타내는 모식도이다.FIG. 3B is a schematic diagram showing a state in which a monochromatic light having a width A narrower than the sample area is irradiated to the sample S in a conventional Raman microscope.
도 3(c)와 같이 시료의 표면 형태가 요철이 심할 경우 그 산란광의 극심한 난반사 및 주변부의 2차 산란 신호까지 혼재되어 측정 스펙트럼은 안 좋아진다.As shown in FIG. 3 (c), when the surface shape of the sample is severely irregular, extreme scattered reflection of the scattered light and secondary scattering signal of the peripheral part are mixed, resulting in poor measurement spectrum.
도 3(c)는 종래 라만 현미경에서 표면요철이 심한 시료(S)에 단색광이 조사된 후 상기 단색광이 주변으로 산란되는 상태를 나타내는 모식도이다.Figure 3 (c) is a schematic diagram showing a state in which the monochromatic light is scattered to the surrounding after the monochromatic light is irradiated to the sample (S) having a high surface irregularities in the conventional Raman microscope.
이와 같은 요인들로 해서 종래의 라만 현미경으로는 측정할 수 있는 크기 한계가 특수한 경우를 제외하고는 10㎛ 이하까지는 불가능하였다. 즉, 이론상의 측정 한계는 1미크론 크기 정도이나 실제로는 5미크론까지도 측정이 용이하지 않았다.Due to these factors, the size limit that can be measured with a conventional Raman microscope is not possible up to 10 μm or less except for a special case. That is, the theoretical limit of measurement is about 1 micron in size, but in reality it is not easy to measure even 5 microns.
다음으로는, 단색광의 강도(세기)에 관련된 종래 라만 현미경의 문제들을 살 펴보면, 보통 라만에서 광원으로 사용하는 레이저광은 단파장의 집적도가 높은 고 에너지 광으로 시료가 열적으로 불안정하거나 녹는 온도가 낮은 경우 고배율 대물렌즈로 집적된 레이저광에 의해 녹거나 열분해 되는 경우가 발생한다. 이 경우 종래의 방법에서는 레이저의 전류 값을 낮춰서 레이저의 출력을 낮춰 준다. 이렇게 해주면 신호인 라만 산란광의 세기도 같이 떨어져 잡음 대비 신호 비율(S/N)이 급격히 악화 된다. 또한 레이저의 출력 안정성이 유지되는 범위에서 벗어나게 되어 스펙트럼의 재현성도 악화되어 정량 분석의 어려움도 있게 된다.Next, looking at the problems of the conventional Raman microscope related to the intensity (intensity) of the monochromatic light, laser light, which is usually used as a light source in Raman, is a high-energy light with a high intensity of short wavelength, and the sample is thermally unstable or melted. In low cases, melting or pyrolysis occurs by laser light integrated into a high magnification objective lens. In this case, in the conventional method, the laser output is lowered by lowering the current value of the laser. In this way, the intensity of the Raman scattered light, which is a signal, also drops, and the signal-to-noise ratio (S / N) deteriorates rapidly. In addition, the laser is out of the range in which the output stability is maintained, thereby deteriorating the reproducibility of the spectrum, thereby making it difficult to quantitatively analyze.
다시말해, 기존의 라만 현미경에서는 단색광의 안정적인 출력 유지를 위해 최대 출력의 약 60~90% 정도의 전류 값을 걸어 주어야 하며, 이 경우 집광되는 단색광이 너무 강해져 시료가 분해되거나 녹는 현상이 발생되었다.In other words, in the conventional Raman microscope, in order to maintain a stable output of monochromatic light, a current value of about 60 to 90% of the maximum output power must be applied. In this case, the collected monochromatic light becomes so strong that the sample decomposes or melts.
반대로, 시료가 녹는 현상을 피하기 위해 최대출력을 낮추면 단색광의 안정성이 떨어지는 문제로 S/N 스펙트럼이 나빠졌다.On the contrary, when the maximum output was lowered to avoid the melting of the sample, the S / N spectrum deteriorated due to the problem of poor stability of the monochromatic light.
결국, 기존의 라만 현미경은 단색광의 안정성도 유지하고 시료의 분해도 막을 수 있는 최대 출력 조건을 찾기 위해서는 많은 시행 착오를 거쳐야 했다. 이와 같이 측정 가능 시료 크기의 한계 및 스펙트럼의 안정성 상의 문제점들을 갖고 있는 기존의 라만 현미경은 개선이 요구되고 있다. 특히 나노 수준으로까지 급격히 발전하고 있는 반도체, 전자 분야 에서는 정성 분석이 요구되는 시료의 수준이 1미크론까지 되어 이에 대응하기 위해서는 새로운 개념의 미세 시료 측정 수단이 필요하다.As a result, the conventional Raman microscope had to undergo a lot of trial and error to find the maximum output condition that can maintain the stability of monochromatic light and prevent the decomposition of the sample. As such, existing Raman microscopes, which have limitations in measurable sample size and problems in spectrum stability, need to be improved. In particular, in the semiconductor and electronic fields, which are rapidly developing to the nano level, the level of samples requiring qualitative analysis is up to 1 micron, and a new concept of micro sample measuring means is needed to cope with this.
본 발명은 상기와 같은 기존 라만 현미경의 문제점들을 해결할 수 있도록, 측정 가능한 시료 크기의 한계를 1㎛~10㎛ 수준까지 낮추면서도 잡음 대비 신호 비율(S/N)이 우수하고, 사용이 편리한 새로운 개념의 라만 현미경을 제공하고자 한다.In order to solve the problems of the conventional Raman microscope, the present invention has a low noise-to-signal ratio (S / N) while reducing the limit of the sample size to 1 µm to 10 µm, and is a new concept that is easy to use. To provide a Raman microscope.
이하, 본 발명을 첨부한 도면 등을 통하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
먼저, 본 발명에 따른 잡음 대비 신호 비율(ratio of signal to noise : 이하 "S/N"이라 함)이 우수한 라만 현미경은, 단색광을 광원으로 사용하여 대물렌즈(5)로 시료의 실상(RI)을 얻은 후 이를 라만 분광기(8) 및 시료 상태를 시각적으로 확인하는 장치(9) 중에서 선택된 하나의 기기로 보내주는 라만 현미경에 있어서, 대물렌즈(5)로 얻어진 시료의 실상(RI) 중 원하는 부분만 선택적으로 통과시켜주는 영상선택기구(6)를 포함하는 것을 특징으로 한다.First, a Raman microscope having an excellent ratio of signal to noise (hereinafter, referred to as "S / N") according to the present invention uses a monochromatic light source as a light source to produce an actual image (RI) of a sample. In the Raman microscope for obtaining a Raman spectroscope (8) and a device (9) for visually confirming the state of the sample, the desired portion of the actual image (RI) of the sample obtained by the objective lens (5) It characterized in that it comprises an image selection mechanism 6 to selectively pass only.
일반적으로 라만 현미경은 앞에서 설명한 바와 같이 단색광을 광원으로 사용하여 시료의 실상(RI)을 얻은 후 이를 라만 분광기(8)로 보내 S/N 스펙트럼을 측정하거나, 시료 상태를 시각적으로 확인하는 장치(9)로 보낸다.In general, a Raman microscope, as described above, uses a monochromatic light as a light source to obtain a real image (RI) of a sample and sends it to a Raman spectrometer (8) to measure the S / N spectrum or to visually check the sample state (9). Send to).
본 발명 역시 도 1에 도시된 바와 같이 단색광을 광원으로 사용하여 대물렌즈(5)로 시료의 실상(RI)을 얻은 후 이를 라만 분광기(8) 및 시료 상태를 시각적으 로 확인하는 장치(9) 중에서 선택된 하나의 기기로 보내준다.The present invention also uses a monochromatic light as a light source as shown in FIG. 1 to obtain a real image (RI) of the sample with an objective lens (5) and then visually confirms the Raman spectroscopy (8) and the state of the sample (9) Send to one of the selected devices.
본 발명은 도 1에 도시된 바와 같이 대물렌즈(5)로 얻어진 시료의 실상(RI) 중 원하는 부분만 선택적으로 통과시켜주는 영상선택기구(6)를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention is characterized in that it comprises an image selection mechanism (6) for selectively passing only a desired portion of the actual image (RI) of the sample obtained by the objective lens (5) as shown in FIG.
상기 영상선택기구(6)는 크기를 연속적으로 또는 단계적으로 변화시킬 수 있는 조리개 등이고, 상기 조리개는 모양이 원형 또는 다각형 등이다.The image selection mechanism 6 is an aperture or the like that can change the size continuously or stepwise, and the aperture is circular or polygonal in shape.
상기 단색광으로는 보통 레이져광이 사용되며, 파장범위는 자외선 영역에서 근적외선 영역까지이다.Laser light is usually used as the monochromatic light, and the wavelength range is from the ultraviolet region to the near infrared region.
시료 상태를 시각적으로 확인하는 장치(9)는 모니터 또는 카메라 등이다.The
또한, 본 발명은 상기의 영상선택기구(6)와 함께 대물렌즈(5)를 통과한 단색광의 촛점(f2)과 대물렌즈(5) 간의 거리(D3)를 조절하여 단색광의 초점(f2)을 대물렌즈(5) 자체의 촛점(f1)과 다른 위치에 형성시키는 가변 이중초점 형성기구를 추가로 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention adjusts the distance f3 between the
상기의 가변 이중초점 형성기구는 단색광 조사 기기(1)의 말단부와 상기 단색광 조사 기기(1)로 부터 조사되는 단색광을 처음으로 통과시키는 볼록렌즈(L1) 간의 거리(D1)를 조절하는 장치 등이다.The variable bifocal forming mechanism is a device for adjusting the distance D1 between the distal end of the monochromatic light irradiating
도 1을 통해 본 발명에 따른 라만 현미경의 일례를 보다 상세하게 살펴본다.Looking in more detail an example of a Raman microscope according to the present invention through FIG.
레이져광 조사 기기(1)에서 나온 레이져광은 첫번째 볼록렌즈 L1을 통과하면서 집광되거나 평행광이 된다.The laser light emitted from the laser
한편 가시광선 조사 기기(1')에서 나온 가시광선은 첫번째 볼록렌즈 L2를 통 과하면서 집광되거나 평행광이 된다.On the other hand, the visible light emitted from the visible light irradiation device (1 ') passes through the first convex lens L2, and becomes concentrated or parallel light.
조사광의 종류는 이동거울(3)에 의해 상기 레이져광과 가시광선 중에서 필요에 따라 하나를 선택할 수 있다.The kind of irradiation light can be selected by the moving
시료 상태를 시각적으로 확인하고자 할 때는 가시광선을 선택하고 라만 분광기로 스펙트럼을 얻고자 할 때에는 레이져광을 선택하며 이때 이동거울(3)은 뉘어져서 레이져 광로에서 치워지며 이 위를 통과한 단색광은 볼록렌즈 L3로 집광되면서 광분할기(4)에서 절반은 투과되고 절반은 반사되어 F1에 촛점을 맺는다.If you want to visually check the sample condition, select visible light, and if you want to obtain spectrum with Raman spectroscopy, select laser light. At this time, the moving mirror (3) is divided and removed from the laser light path, and the monochromatic light passing through it is convex. Condensed by the lens L3, half is transmitted through the
다음으로, 광분할기(4)를 투과한 단색광은 대물렌즈(5)를 통과하여 초점 f2 위치에 형성한다. f2는 대물렌즈를 통과한 단색광의 촛점이다.Next, the monochromatic light transmitted through the
이때 촛점 f2의 위치는 대물렌즈(5)와 상기의 초점 F1 간의 거리에 의해 결정되는데 상기의 초점 F1은 단색광 조사 기기(1)와 단색광이 첫번째로 통과하는 볼록렌즈(L1) 간의 거리(D1)에 따라 결정되므로 결국 촛점 f2의 위치는 단색광 조사 기기(1)와 단색광이 첫번째로 통과하는 볼록렌즈(L1) 간의 거리(D1)를 조절하므로서 조절이 가능하다.At this time, the position of the focal point f2 is determined by the distance between the
본 발명에서는 촛점 f2의 위치를 상기와 같이 조절하여 대물렌즈(5) 자체의 촛점(f1)과 다른 위치에 형성시켜주는 기구를 통칭하여 가변 이중초점 형성기구라고 한다.In the present invention, the mechanism for adjusting the position of the focal point f2 as described above and forming it at a position different from the focal point f1 of the
상기 촛점 f2와 촛점 f1은 서로 다른 위치에 각각 별도로 형성되며 대물렌즈(5)와 촛점 f2와의 거리(D3)는 대물렌즈(5) 자체의 촛점(f1) 거리의 1/2 지점에서부터 무한대까지 변경이 가능하다.The focal point f2 and the focal point f1 are separately formed at different positions, and the distance D3 between the
다음으로, 촛점 f1 위치에 있는 시료(S)에 조사된 단색광으로부터 나온 라만 산란광은 대물렌즈(5)에 의해 집광되어 촛점 f3 위치에 시료의 확대된 실상(RI)이 맺어진다.Next, the Raman scattered light emitted from the monochromatic light irradiated to the sample S at the focus f1 position is collected by the
상기 실상(RI)에서 측정을 원하는 부분만을 남기고 나머지 부분을 영상선택기구(6)로 가려 원하는 부위에서 온 신호(단색광)만 라만 분광기(12)로 들어가 S/N 스펙트럼을 작성하게 된다.In the real image (RI), only the part to be measured is left, and the remaining part is covered by the image selector 6, and only the signal (monochromatic light) from the desired part enters the Raman spectrometer 12 to prepare the S / N spectrum.
도 4는 본 발명에 따른 영상선택기구(6)에 의해 시료의 실상(RI) 중 원하는 부분만 선택적으로 통과시켜 주는 상태를 나타내는 개략도이다.4 is a schematic view showing a state in which only a desired portion of the actual image RI of the sample is selectively passed by the image selection mechanism 6 according to the present invention.
시료 측정 부분을 눈이나 모니터 등의 장치(9)로 보려면 이동거울(7)을 조절하여 신호(단색광)의 경로를 변경해 주면된다.In order to view the sample measurement part with an
도 5는 발명에 따른 라만 현미경(X)이 라만 분광기(Y)와 서로 연결된 상태를 나타내는 모식도로서 상기 라만 분광기(Y)로부터 나오는 단색광(a)이 상기 라만 현미경(X)내로 들어가고, 라만 현미경(X)에서 나오는 라만 산란광(b)은 라만 분광기(Y)로 들어가는 상태를 보여준다.5 is a schematic view showing a state in which a Raman microscope (X) is connected to each other with a Raman spectrometer (Y). Monochromatic light (a) from the Raman spectrometer (Y) enters the Raman microscope (X), and the Raman microscope ( Raman scattered light (b) from X) shows the state entering the Raman spectroscopy (Y).
한편, 도 6은 본 발명에 따른 라만 현미경의 사진이다.6 is a photograph of a Raman microscope according to the present invention.
본 발명에 따른 라마 현미경은 도 1과 같이 영상선택기구(6)와 가변 이중초점 형성기구를 동시에 포함하는 것이 양호한 S/N 스펙트럼을 얻는데 보다 바람직하다.It is more preferable for the llama microscope according to the present invention to obtain a good S / N spectrum at the same time as including the image selection mechanism 6 and the variable bifocal forming mechanism as shown in FIG.
가변 이중초점 형성기구로 대물렌즈(5) 자체의 초점 f1과 대물렌즈(5)를 통과한 단색광의 초점 f2가 서로 겹쳐지지 않도록하여 이중초점을 형성하는 것은 아 래 2가지 측면에서 매우 중요하다.It is very important in the following two aspects to form a dual focus by preventing the focal point f1 of the
도 1과 같이 초점 f2가 초점 f1 보다 길면 시료의 크기보다 조사되는 단색광의 광폭(A)이 더 크게 된다.As shown in FIG. 1, when the focal length f2 is longer than the focal length f1, the width A of the monochromatic light irradiated is larger than that of the sample.
이 경우에는 시료(S)가 조사되는 단색광에 의해 녹는 현상을 피하기 위해 조사되는 단색광의 출력을 낮출 필요가 없어진다.In this case, it is not necessary to lower the output of the monochromatic light to be irradiated in order to avoid the phenomenon that the sample S is melted by the monochromatic light to be irradiated.
이에 비해, 기존의 라만 현미경에서는 단색광의 안정적인 출력 유지를 위해 최대 출력의 약 60~90% 정도의 전류값을 걸어 주어야 하며, 이 경우 집광되는 단색광이 너무 강해져 시료가 분해되거나 녹는 현상이 발생되었다.On the other hand, in the conventional Raman microscope, in order to maintain a stable output of monochromatic light, a current value of about 60 to 90% of the maximum output should be applied. In this case, the collected monochromatic light becomes so strong that the sample is decomposed or melted.
반대로, 시료가 녹는 현상을 피하기 위해 최대출력을 낮추면 단색광의 안정성이 떨어지는 문제로 S/N 스펙트럼이 나빠졌다.On the contrary, when the maximum output was lowered to avoid the melting of the sample, the S / N spectrum deteriorated due to the problem of poor stability of the monochromatic light.
결국, 기존의 라만 현미경은 단색광의 안정성도 유지하고 시료의 분해도 막을 수 있는 최대 출력 조건을 찾기 위해서는 많은 시행 착오를 거쳐야 했다.As a result, the conventional Raman microscope had to undergo a lot of trial and error to find the maximum output condition that can maintain the stability of monochromatic light and prevent the decomposition of the sample.
그러나, 본 발명에 따른 라만 현미경은 단색광의 최대 출력을 낮추는 대신에 f2 초점 거리(D3)를 바꾸어 단색광의 광폭(A)을 넓혀서 단색광의 밀도를 낮추므로서 시료가 분해 또는 용융되는 현상을 방지하므로서 단색광의 출력도 안정된 상태로 유지할 수 있다.However, instead of lowering the maximum output of monochromatic light, the Raman microscope according to the present invention changes the f2 focal length (D3) to widen the width (A) of monochromatic light, thereby lowering the density of monochromatic light, thereby preventing decomposition or melting of the sample. The output of monochromatic light can also be maintained in a stable state.
또한, f2 초점의 거리(D3)가 길어질수록 단색광의 밀도는 떨어지지만, 시료(S)에 입사되는 단색광의 입사각은 커져 라만 산란효과는 더욱 좋아지게 된다.In addition, the longer the distance D3 of the f2 focal point, the lower the density of monochromatic light, but the incident angle of the monochromatic light incident on the sample S becomes larger, and the Raman scattering effect is further improved.
한편, 기존의 라만 현미경은 시료에서 나오는 라만 산란광뿐만 아니라 시료 주변에서 나오는 라만 산란광도 라만 분광기로 들어가기 때문에 잡음 대비 신호 비 율(S/N)이 저조한 문제가 있었다.On the other hand, the conventional Raman microscope has a low signal-to-noise ratio (S / N) because the Raman scattered light from the sample as well as the Raman scattered light from the sample enters the Raman spectrometer.
특히, f2 초점의 거리(D3)가 도 1과 같이 대물렌즈 자체의 초점(f1) 길이보다 길어지는 경우에는 대물렌즈(5)를 통과한 단색광의 광폭(A)이 시료크기보다 커져 시료에서 반사되는 라만 산란광보다 주변에서 나오는 라만 산란광이 더 커져서 시료만의 S/N 스펙트럼을 얻기 어려운 문제가 더 심각해 질 수 있다.In particular, when the distance D3 of the f2 focal length is longer than the focal length f1 of the objective lens itself as shown in FIG. 1, the width A of the monochromatic light passing through the
본 발명에서는 이와 같은 문제점을 해결하기 위해서 단색광에 의해 생긴 시료의 실장(RI) 중에서 원하는 부분만을 남겨놓고 나머지 부분은 상기의 영상선택기구(6)로 가려서 시료 주변에서 반사되는 다만 산란광을 제거하여 시료만의 라만 산란광 신호를 얻을 수 있다.In the present invention, in order to solve such a problem, only the desired part of the mounting (RI) of the sample caused by the monochromatic light is left, and the remaining part is covered by the image selector 6 to remove only the scattered light reflected around the sample. Raman scattered light signal can be obtained.
도 1에 도시된 본 발명의 라만 현미경은 상기와 같이 영상선택기구(6)로 원하는 시료만의 라만 산란광 신호를 얻고, 가변 이중 초점 형성 기구로 최적의 라만 산란 신호를 얻어 극미세 시료의 스펙트럼을 얻을 수 있다.The Raman microscope of the present invention shown in FIG. 1 obtains a Raman scattering light signal of only a desired sample with the image selection device 6 as described above, and obtains an optimal Raman scattering signal with a variable bifocal forming device to obtain the spectrum of a very fine sample. You can get it.
본 발명은 대물렌즈(5)로 얻어진 시료의 실상(RI) 중 원하는 부분만 선택적으로 통과시켜주는 영상선택기구(6)를 구비하여 광원의 크기를 시료에 맞출 필요가 없고, 대물렌즈(5)를 통과한 단색광의 촛점(f2)과 대물렌즈(5) 간의 거리(D3)를 조절하여 단색광의 초점(f2)을 대물렌즈(5) 자체의 촛점(f1)과 다른 위치에 형성시키는 가변 이중초점 형성기구를 구비하여 광원 세기 조절이 불필요해 잡음 대비 신호 비율(S/N)이 우수하고, 크기가 1㎛ 수준인 초미세 시료에 대해서도 양호한 S/N 스 펙트럼을 얻을 수 있다.The present invention is provided with an image selecting mechanism (6) for selectively passing only a desired portion of the actual image (RI) of the sample obtained by the objective lens (5), so that the size of the light source does not need to be matched with the sample, and the objective lens (5) is provided. Variable bifocal to form the focal point f2 of the monochromatic light at a different position than the focal point f1 of the
따라서 기존의 라만 현미경에서는 얻기가 거의 곤란하였던 단 단위 미크론 크기의 극미세 시료에 대한 분석이 가능해져 나노 수준으로 가고 있는 반도체, 전자, 소재 산업 등에서 요구되고 있는 극미세 시료 분석에 대한 대응이 상당 수준 가능하게 되었다.As a result, it is possible to analyze single-micron sized micro-samples, which were difficult to obtain in conventional Raman microscopes, and have a considerable level of response to the analysis of micro-samples required in the semiconductor, electronic, and material industries, which are going to the nano level. It became possible.
이하 실시예를 통하여 본 발명을 보다 구체적으로 살펴본다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the following examples.
그러나, 본 발명은 하기 실시예에만 한정된 것은 아니다.However, the present invention is not limited only to the following examples.
실시예 1Example 1
도 1과 같은 본 발명의 라만 현미경으로 도 7과 같은 직경 1㎛인 녹색 색소(시료)의 라만 산란광을 얻은 후 이를 통상의 라만 분광기로 보내 잡음 대비 신호 비율(S/N)의 스펙트럼을 측정한 결과 도 8과 같은 스펙트럼을 얻었다.A Raman scattering light of a green pigment (sample) having a diameter of 1 μm as shown in FIG. 7 was obtained by a Raman microscope of the present invention as shown in FIG. 1, and then sent to a conventional Raman spectrometer to measure the spectrum of signal to noise ratio (S / N). As a result, a spectrum as shown in FIG. 8 was obtained.
실시예 2Example 2
도 1과 같은 본 발명의 라만 현미경으로 도 9와 같은 직경 2㎛인 폴리에스테르(시료)의 라만 산란광을 얻은 후 이를 통상의 라만 분광기로 보내 잡음 대비 신호 비율(S/N)의 스펙트럼을 측정한 결과 도 10과 같은 스펙트럼을 얻었다.Raman scattering light of a polyester (sample) having a diameter of 2㎛ as shown in Figure 9 with a Raman microscope of the present invention as shown in Figure 1 and sent to a conventional Raman spectrometer to measure the spectrum of the signal to noise ratio (S / N) As a result, a spectrum as shown in FIG. 10 was obtained.
도 1은 본 발명에 따른 라만 현미경의 기본 구조를 나타내는 개략도.1 is a schematic view showing the basic structure of a Raman microscope according to the present invention.
도 2는 종래 라만 현미경의 기본 구조를 나타내는 개략도.2 is a schematic view showing the basic structure of a conventional Raman microscope.
도 3 (a)는 종래 라만 현미경에서 시료(S)에 시료면적보다 넓은 광폭(A)을 갖는 단색광이 조사되는 상태를 나타내는 모식도.Fig. 3 (a) is a schematic diagram showing a state in which a monochromatic light having a wider width A than the sample area is irradiated to the sample S in a conventional Raman microscope.
도 3 (b)는 종래 라만 현미경에서 시료(S)에 시료면적보다 좁은 광폭(A)을 갖는 단색광이 조사되는 상태를 나타내는 모식도.Figure 3 (b) is a schematic diagram showing a state in which a monochromatic light having a wider width A than the sample area is irradiated to the sample S in a conventional Raman microscope.
도 3 (c)는 종래 라만 현미경에서 표면요철이 심한 시료(S)에 단색광이 조사된 후 상기 단색광이 주변으로 산란되는 상태를 나타내는 모식도.Figure 3 (c) is a schematic diagram showing a state in which the monochromatic light is scattered to the surrounding after the monochromatic light is irradiated to the sample (S) having a high surface irregularities in the conventional Raman microscope.
도 4는 본 발명에 따른 영상선택기구(6)에 의해 시료의 실상(RI) 중 원하는 부분만 선택적으로 통과시켜 주는 상태를 나타내는 개략도.4 is a schematic view showing a state in which only a desired portion of the actual image (RI) of the sample is selectively passed by the image selection device 6 according to the present invention.
도 5는 라만 현미경(X)과 라만 분광기(Y)가 서로 연결된 상태를 나타내는 모식도.5 is a schematic diagram showing a state in which a Raman microscope (X) and a Raman spectrometer (Y) are connected to each other.
도 6은 본 발명에 따른 라만 현미경의 사진.Figure 6 is a photograph of a Raman microscope according to the present invention.
도 7은 본 발명의 실시예 1에서 사용한 직경 1㎛의 녹색 색소인 시료의 사진.7 is a photograph of a sample which is a green pigment having a diameter of 1 μm used in Example 1 of the present invention.
도 8은 본 발명의 실시예 1에서 측정한 시료의 잡음 대비 신호 비율(S/N)의 스펙트럼.8 is a spectrum of a signal-to-noise ratio (S / N) of a sample measured in Example 1 of the present invention.
도 9는 본 발명의 실시예 2에서 사용한 직경 2㎛의 폴리에스테르인 시료의 사진.9 is a photograph of a sample of polyester having a diameter of 2 μm used in Example 2 of the present invention.
도 10은 본 발명의 실시예 1에서 측정 전 시료의 잡음 대비 신호 비율(S/N)의 스펙트럼.10 is a spectrum of a signal-to-noise ratio (S / N) of a sample before measurement in Example 1 of the present invention.
* 도면 중 주요 부분에 대한 부호 설명.* Explanation of symbols on the main parts of the drawings.
1, 1' : 단색광 조사 기기 2, 10 : 바늘구멍1, 1 ': monochromatic
3, 7 : 이동거울 4 : 광분해기(Beam splitter)3, 7: moving mirror 4: beam splitter
5 : 대물렌즈 6 : 영상선택기구5: objective lens 6: image selection mechanism
8, Y : 라만 분광기 9 : 시료상태를 시각적으로 확인하는 장치8, Y: Raman spectroscopy 9: A device for visually confirming the sample state
L1 ~ L10 : 볼록렌즈L1 ~ L10: Convex Lens
F1 : 광분광기(4)를 통과한 단색광의 촛점F1: focus of monochromatic light passing through the
f1 : 대물렌즈(5)의 자체 초점f1: self-focus of the
f2 : 대물렌즈(5)를 통과한 단색광의 촛점f2: focus of monochromatic light passing through the
S : 시료 RI : 시료의 실상(Image)S: Sample RI: Sample Image
A : 단색광의 광폭 X : 라만 현미경A: wide width of monochromatic light X: Raman microscope
a : 단색광 b : 라만 산란광a: monochromatic light b: Raman scattered light
D1 : 단색광 조사 기기(1)와 볼록렌즈(L1) 간의 거리D1: distance between the monochromatic
D2 : 단색광 조사 기기(1')와 볼록렌즈(L2) 간의 거리D2: distance between the monochromatic light irradiation device 1 'and the convex lens L2
D3 : 대물렌즈(5)와 f2 촛점 간의 거리D3: distance between
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6117032A (en) * | 1984-07-03 | 1986-01-25 | Nec Corp | Microscope-laser raman spectrometer |
JPH0526728A (en) * | 1991-07-24 | 1993-02-02 | Jasco Corp | Spectroscope for raman spectroscopy |
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US20060181791A1 (en) * | 2003-07-31 | 2006-08-17 | Van Beek Michael C | Method and apparatus for determining a property of a fluid which flows through a biological tubular structure with variable numerical aperture |
Family Cites Families (1)
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6117032A (en) * | 1984-07-03 | 1986-01-25 | Nec Corp | Microscope-laser raman spectrometer |
JPH0526728A (en) * | 1991-07-24 | 1993-02-02 | Jasco Corp | Spectroscope for raman spectroscopy |
US20060181791A1 (en) * | 2003-07-31 | 2006-08-17 | Van Beek Michael C | Method and apparatus for determining a property of a fluid which flows through a biological tubular structure with variable numerical aperture |
JP2006047270A (en) | 2004-07-05 | 2006-02-16 | Shimadzu Corp | Wavelength-variable monochromatic light source |
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