KR100787721B1 - Dicing die bond film suitable for processing of thin wafer - Google Patents

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정창범
홍용우
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Abstract

A dicing die bond film suitable for processing a thin film wafer is provided to remove a chip flying effect by increasing fixing force to a ring frame. A dicing die bond film includes a supporting base layer, an adhesive layer, and a fixing adhesive layer. The adhesive layer includes a lower adhesive layer(32) and an upper adhesive layer(22). The lower adhesive layer is laminated on the supporting base layer. The upper adhesive layer is laminated on the lower adhesive layer. The peel strength between the lower adhesive layer and the ring frame is 0.007N/mm to 1.000N/mm. The peel strength between the upper adhesive and the fixing adhesive layer is 0.002N/mm to 0.020N/mm after the peel strength. Further, the upper adhesive layer contains 30-90 wt.% of acryl copolymer, 10-70 wt.% of acryl compound and 0.1-10 wt.% of photoinitiator based on 100 wt.% of the upper adhesive layer.

Description

박막 웨이퍼의 가공에 적합한 다이싱 다이 본드 필름{DICING DIE BOND FILM SUITABLE FOR PROCESSING OF THIN WAFER}Dicing die bond film suitable for processing thin film wafers {DICING DIE BOND FILM SUITABLE FOR PROCESSING OF THIN WAFER}

도 1은 종래의 다이싱 다이 본드 필름의 단면 개략도이다.1 is a cross-sectional schematic diagram of a conventional dicing die bond film.

도 2는 본 발명의 다이싱 다이 본드 필름의 단면 개략도이다.2 is a cross-sectional schematic diagram of a dicing die bond film of the present invention.

도 3은 링 프레임 및 웨이퍼가 접착된 필름의 단면 개략도이다.3 is a cross-sectional schematic view of a film to which a ring frame and a wafer are adhered.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings

1 : 종래 다이싱 다이 필름 2 : 고정용 접착제층 3 : 점착층      DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conventional dicing die film 2 Adhesive layer for fixing 3 Adhesive layer

4 : 지지기재층 12 : 고정용 접착제층 22 : 상부 점착층      4: support base layer 12: fixing adhesive layer 22: upper adhesive layer

31 : 지지 기재층 32 : 하부 점착층 100 : 웨이퍼,      31 support substrate layer 32 lower adhesive layer 100 wafer

110 : 링 프레임      110: ring frame

본 발명은 지지 기재층, 점착층, 및 고정용 접착제를 포함하는 박막 웨이퍼 가공에 적합한 다이싱 다이 본드 필름에 관한 것으로, 보다 상세하게는 상기 점착층이 하부 점착층 및 상부 점착층을 포함하여 칩 플라잉(chip flying)이 없고 픽업 성이 우수한 박막 웨이퍼 가공에 적합한 다이싱 다이 본드 필름에 관한 것이다.The present invention relates to a dicing die bond film suitable for thin film wafer processing including a support base layer, an adhesive layer, and a fixing adhesive, and more particularly, the adhesive layer includes a lower adhesive layer and an upper adhesive layer. The present invention relates to a dicing die bond film suitable for thin film wafer processing without chip flying and excellent pick-up property.

종래 반도체 장치의 제조시에는 큰 직경의 실리콘 웨이퍼를 다이싱 테이프로 고정하여 다이싱함으로써 반도체 칩으로 절단하고, 계속해서 이 칩을 다이싱 테이프로부터 박리, 취출하고 리드 프레임 등의 반도체 페키지 기재 상에 경화성 액상 접착제를 접착 고정하여 제조하였다.In the manufacture of a conventional semiconductor device, a silicon wafer of large diameter is fixed with a dicing tape and diced to cut it into a semiconductor chip, and then the chip is peeled off and taken out from the dicing tape and placed on a semiconductor package substrate such as a lead frame. The curable liquid adhesive was prepared by adhesive fixing.

최근에는 공정의 간략화, 액상 접착제의 유동성분에 의한 반도체 부품의 오염 등으로 인해 상기 다이싱 테이퍼의 접착층과 다이 본드제를 겸비한 점착 시트로 이루어지는 다이싱 다이 본드 시트가 요구되었다. Recently, due to the simplification of the process and contamination of the semiconductor parts due to the flow component of the liquid adhesive, a dicing die bond sheet composed of an adhesive sheet having an adhesive layer of the dicing tape and a die bonding agent has been required.

즉, 박막 웨이퍼 다이싱(Dicing) 공정에 있어서는 점착층과 고정용 접착제층의 접착력이 우수하여 웨이퍼를 링 프레임에 잘 고정시킬 수 있고, 다이 본드시에는 점착층과 고정용 접착제층의 접착력이 낮아 두 층 사이의 경계면에서 박리가 일어나 픽업에 문제가 없는 점착층과 접착층을 일체화한 필름을 제공하여야 한다.That is, in the thin film wafer dicing process, the adhesion between the adhesive layer and the fixing adhesive layer is excellent, so that the wafer can be fixed well to the ring frame, and at the time of die bonding, the adhesion between the adhesive layer and the fixing adhesive layer is low. It is necessary to provide a film in which the adhesive layer and the adhesive layer are integrated in which peeling occurs at the interface between the two layers so that pick-up is not a problem.

상기의 방법으로서, 도 1에 도시된 바와 같이 지지 기재층(4) 상에 점착층(3), 웨이퍼 고정용 접착제층(2)이 순차적으로 적층되어 있고, 다이 본드를 위한 픽업시에 칩을 고정용 접착제층과 동시에 감압 점착층으로부터 박리 가능한 다이싱 다이 본드 필름이 다수의 업체에 의해 소개되어 있다.As shown in Fig. 1, the adhesive layer 3 and the wafer fixing adhesive layer 2 are sequentially stacked on the support base layer 4, and the chip is picked up at the time of pick-up for die bonding. Dicing die bond films which can be peeled off from the pressure-sensitive adhesive layer simultaneously with the fixing adhesive layer have been introduced by many companies.

이 방법에서는 다이싱 테이프와 고정용 접착제층이 일체화되어 있기 때문에 기존 다이싱 테이프와 액상 페이스트를 사용하는 방법과 비교하여 공정이 간략하게 되는 이점을 갖고 있다.In this method, since the dicing tape and the fixing adhesive layer are integrated, the process is simplified compared with the conventional dicing tape and the liquid paste.

그렇지만 전자 제품이 경박단소화하여 웨이퍼의 두께가 얇아지고 칩의 크기 가 커짐에 따라 픽업시에 점착층과 고정용 접착제층을 분리하기가 용이하지 않아서 칩에 균열이 발생하고 픽업이 되지 않는 문제가 발생하고 있다.However, as electronic products become thin and short, the thickness of the wafer becomes thinner and the size of the chip increases, so it is not easy to separate the adhesive layer and the fixing adhesive layer during pick-up. It is happening.

상기 문제를 해결하기 위해 점착층과 고정용 접착제층 사이에 기재층을 삽입하여 픽업을 개선하는 방법이 소개되고 있으나 접착제층의 끈적임을 통해 박리력을 조정하여야 하는 문제가 있다. In order to solve the above problem, a method of improving pickup by inserting a substrate layer between the adhesive layer and the fixing adhesive layer has been introduced, but there is a problem in that the peeling force must be adjusted through the adhesive layer of the adhesive layer.

또한 점착층과 고정용 접착제층의 박리력을 낮추기 위해 점착층의 끈적임을 낮출 경우에는 웨이퍼를 고정하고 있는 링 프레임에 대한 점착층의 접착력이 낮아져서 다이싱 공정 또는 다이싱 후 세정 고정에서 웨이퍼의 링 프레임에 대한 고정에 문제가 발생하고 있다.In addition, when the adhesiveness of the adhesive layer is lowered to lower the peeling force between the adhesive layer and the fixing adhesive layer, the adhesive force of the adhesive layer to the ring frame fixing the wafer is lowered, so that the ring of the wafer in the dicing process or cleaning fixation after dicing is performed. There is a problem with fixing to the frame.

본 발명은 상술한 종래 기술의 문제점을 극복하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 웨이퍼를 링 프레임에 고정시키기에 필요한 충분한 접착력을 갖는 하부 점착층과 다이 본드 공정에서 고정용 접착제층과 쉽게 픽업이 이루어지는 낮은 접착력을 갖는 상부 점착층 등 적어도 2층 이상의 점착층을 포함하여 웨이퍼 가공 공정성이 우수한 다이싱 다이 본드 필름을 제공하는 것이다. The present invention is to overcome the above-mentioned problems of the prior art, an object of the present invention is to easily pick up with the adhesive layer for fixing in the die-bonding process and the lower adhesive layer having a sufficient adhesive force for fixing the wafer to the ring frame It is to provide a dicing die-bonding film excellent in wafer processing processability, including at least two or more adhesive layers such as an upper adhesive layer having a low adhesive strength.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 양상은 Aspects of the present invention for achieving the above object

지지 기재층, 점착층, 및 고정용 접착제를 포함하는 다이싱 다이 본드 필름 에 있어서, 상기 점착층이 하부 점착층 및 상부 점착층을 포함함으로써 칩 플라잉(chip flying)이 없고 픽업성이 우수한 다이싱 다이 본드 필름에 관한 것이다.A dicing die bond film comprising a support base layer, an adhesive layer, and a fixing adhesive, wherein the adhesive layer includes a lower adhesive layer and an upper adhesive layer, so that dicing is excellent in pick-up property without chip flying. It relates to a die bond film.

본 발명에서 하부 점착층과 링 프레임 사이의 필 박리력(Peel strength)은 0.007N/mm 내지 1.000 N/mm 이고, 상부 점착층과 고정용 접착제층 사이의 필 박리력(Peel strength)이 UV경화 후 0.001 N/mm 내지 0.020N/mm 인 것이 바람직하다. In the present invention, the peel strength between the lower adhesive layer and the ring frame (Peel strength) is 0.007N / mm to 1.000 N / mm, the peel strength between the upper adhesive layer and the fixing adhesive layer (Peel strength) is UV curing It is preferable that the after 0.001 N / mm to 0.020 N / mm.

또한 본 발명의 다이싱 다이 본드 필름에 있어서 상기 상부 점착층은 In addition, in the dicing die bond film of the present invention, the upper adhesive layer is

고형분 100중량부 기준으로 Based on 100 parts by weight of solids

아크릴 공중합체 30 내지 90중량부 ;30 to 90 parts by weight of the acrylic copolymer;

불포화 결합을 갖는 아크릴화합물 10 내지 70중량부 ; 및 10 to 70 parts by weight of an acrylic compound having an unsaturated bond; And

광개시제 0.1 내지 10중량부를 포함하는 조성물로 형성될 수 있다.It may be formed of a composition comprising 0.1 to 10 parts by weight of the photoinitiator.

상기 상부 점착층에 사용된 아크릴 공중합체는 유리전이온도가 -30℃ 이상인 것이 바람직하다. The acrylic copolymer used in the upper adhesive layer is preferably a glass transition temperature of -30 ℃ or more.

상기 불포화결합을 갖는 아크릴 화합물은 우레탄계 아크릴수지, 에폭시 아크릴 수지, 폴리에스테르 아크릴 수지 및 폴리에테르 아크릴 수지로 구성되는 군에서 선택되는 어느 하나인 것일 수 있다. The acrylic compound having an unsaturated bond may be any one selected from the group consisting of urethane-based acrylic resins, epoxy acrylic resins, polyester acrylic resins, and polyether acrylic resins.

상기 지지 기재층은 폴리프로필렌, 폴리에틸렌, 폴리에스테르, 폴리카보네이트, 에틸렌-초산비닐 공중합체, 에틸렌-프로필렌 공중합체, 에틸렌-에틸 아크릴레이트 공중합체 및 폴리 염화비닐로 구성된 군에서 선택되는 어느 하나인 것일 수 있다. The support base layer is any one selected from the group consisting of polypropylene, polyethylene, polyester, polycarbonate, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-propylene copolymer, ethylene-ethyl acrylate copolymer and polyvinyl chloride Can be.

상기 상부 점착층 및 하부 점착층은 상술한 성분 이외에 경화제 및 무기입자 중 하나 이상을 추가로 포함할 수 있다.The upper adhesive layer and the lower adhesive layer may further include at least one of a curing agent and inorganic particles in addition to the above-described components.

이하에서 첨부 도면을 참고로 하여 본 발명을 더욱 상세히 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 다이싱 다이 본드 필름은 점착층이 지지 기재층 위에 적층된 하부 점착층 및 하부 점착층 위에 적층된 상부 점착층을 포함하는 것을 특징으로 한다.The dicing die bond film of the present invention is characterized in that the pressure-sensitive adhesive layer includes a lower pressure-sensitive adhesive layer laminated on the support base material layer and an upper pressure-sensitive adhesive layer laminated on the lower pressure-sensitive adhesive layer.

도 2는 본 발명에 의한 다이싱 다이 본드 필름의 단면 개략도이다. 도 2에 도시된 바와 같이 본 발명의 다이싱 다이 필름은 지지기재층(31), 하부점착층(32), 상부 점착층(22) 및 고정용 접착체층(12)을 포함한다.2 is a cross-sectional schematic diagram of a dicing die bond film according to the present invention. As shown in FIG. 2, the dicing die film of the present invention includes a support base layer 31, a lower adhesive layer 32, an upper adhesive layer 22, and a fixing adhesive layer 12.

본 발명에서는 점착층이 접착력이 상이한 상부 및 하부 점착층(32) 등 2층 이상을 포함하는데, 하부 점착층(32)이 지지 기재층(31) 위에 적층되고, 상부 점착층(22)이 하부 점착층(32) 위에 순차적으로 적층될 수 있다.In the present invention, the adhesive layer includes two or more layers such as upper and lower adhesive layers 32 having different adhesive strengths, and the lower adhesive layers 32 are stacked on the support base layer 31, and the upper adhesive layers 22 are lower. The adhesive layer 32 may be sequentially stacked.

상기 하부 점착층(32)은 웨이퍼를 링 프레임에 고정시키기에 필요한 충분한 접착력을 갖고, 상기 상부 점착층(22)은 다이 본드 공정에서 고정용 접착제층(12)과 쉽게 픽업이 이루어지도록 낮은 접착력을 갖는다.The lower adhesive layer 32 has sufficient adhesive force necessary to fix the wafer to the ring frame, and the upper adhesive layer 22 has a low adhesive force to be easily picked up with the fixing adhesive layer 12 in the die bonding process. Have

특히, 고정용 접착제층(12)과 인접한 상부 점착층(22)은 다이 본드 공정에서 쉽게 픽업이 이루어지기 위해서는 고정용 접착제(12)와 상부 점착층(22) 사이의 박리력은 UV경화 후 0.020N/mm 이하이며, 다이싱 공정에서 웨이퍼를 링 프레임에 고정된 상태를 유지하기 위해서는 링 프레임과 하부 점착층(32) 사이의 박리력은 0.007N/mm 이상인 것이 바람직하다.In particular, in order to easily pick up the upper adhesive layer 22 adjacent to the fixing adhesive layer 12 in the die bonding process, the peel force between the fixing adhesive 12 and the upper adhesive layer 22 is 0.020 after UV curing. N / mm or less, and in order to keep the wafer fixed to the ring frame in the dicing process, the peel force between the ring frame and the lower adhesive layer 32 is preferably 0.007 N / mm or more.

더욱 바람직하게 고정용 접착제(12)와 상부 점착층(22) 사이의 박리력은 UV경화 후 0.002N/mm 내지 0.020 N/mm 이고, 링 프레임(110)과 하부 점착층(32) 사이의 박리력은 0.007N/mm 내지 1.000 N/mm인 경우이다.More preferably, the peeling force between the fixing adhesive 12 and the upper adhesive layer 22 is 0.002 N / mm to 0.020 N / mm after UV curing, and peeling between the ring frame 110 and the lower adhesive layer 32. The force is in the case of 0.007 N / mm to 1.000 N / mm.

링프레임(110)과 하부 점착층(32) 사이의 필 박리력(Peel strength)이 0.007N/mm 미만이면 칩 플라잉 현상이 생길 수 있고, 1.000 N/mm 초과하면 링프레임에서 하부 점착층을 제거하기가 용이하지 않고 잔사가 발생하는 문제가 생길 수 있다.If the peel strength between the ring frame 110 and the lower adhesive layer 32 is less than 0.007 N / mm, chip flying may occur. If the peel strength exceeds 1.000 N / mm, the lower adhesive layer is removed from the ring frame. Problems may arise that are not easy to do and cause residue.

고정용 접착제(12)와 상부 점착층(22) 사이의 필 박리력(Peel strength)이 0.020N/mm 초과이면 픽업 성공율이 현저히 저하될 수 있고, 0.002 N/mm 미만이면 칩 플라잉(chip flying) 문제가 발생할 수 있다.If the peel strength between the fixing adhesive 12 and the upper adhesive layer 22 is greater than 0.020 N / mm, the pick-up success rate may be significantly reduced, and if it is less than 0.002 N / mm, chip flying Problems may arise.

하부 점착층(32)을 이루는 조성물은 웨이퍼를 링 프레임에 고정시키기에 필요한 충분한 접착력을 유지하기 위해서 링 프레임과 하부 점착층(32) 사이의 박리력이 0.007N/mm 이상임을 만족하는 일반적인 점착제 조성이면 되고 어떤 제한이 있는 것은 아니다. The composition of the lower pressure-sensitive adhesive layer 32 is a general pressure-sensitive adhesive composition that satisfies that the peel force between the ring frame and the lower pressure-sensitive adhesive layer 32 is 0.007 N / mm or more in order to maintain sufficient adhesion to fix the wafer to the ring frame. It does not have any limitation.

본원 발명의 상부 점착층(22)을 형성하는 조성물은 아크릴 공중합체, 불포화 결합을 갖는 아크릴화합물 및 광개시제를 포함한다. 상기 아크릴 공중합체는 중량 평균 분자량 10만 이상인 것이 좋고, 바람직하게는 15만~70만 범위인 것이 적당하다. 아크릴공중합체의 중량 평균 분자량이 10만 미만이면 코팅성이 저하되어 물성이 균일하게 나타나지 않는 문제가 발생할 수 있다.The composition forming the upper adhesive layer 22 of the present invention includes an acrylic copolymer, an acrylic compound having an unsaturated bond, and a photoinitiator. It is preferable that the said acrylic copolymer is 100,000 or more of weight average molecular weight, Preferably it is suitable that it is the range of 150,000-700,000. If the weight average molecular weight of the acrylic copolymer is less than 100,000 may cause a problem that the coating property is lowered and the physical properties do not appear uniformly.

아크릴 공중합체의 모노머로서는, 알킬기의 탄소수가 15 미만인 아크릴산 알킬 에스테르나 메타아크릴산 알킬 에스테르 등이 바람직하게 사용된다. 또한 아크릴산, 메타아크릴산, 크로톤산 , 말레인산, 무수 말레인산, 이타콘산 등의 카르복시산 함유 불포화 화합물이나 2-히드록시 에틸 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시 프로필 (메타)아크릴레이트, N-메티롤 (메타)아크릴아미드, 메타 아릴 술폰산, N-비닐 피롤리돈, 프로피온산 비닐, 초산 비닐, 스티렌 등을 사용할 수 있다.As a monomer of an acryl copolymer, acrylic acid alkyl ester, methacrylic acid alkyl ester, etc. whose carbon number of an alkyl group is less than 15 are used preferably. Moreover, carboxylic acid containing unsaturated compounds, such as acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, maleic acid, maleic anhydride, itaconic acid, 2-hydroxy ethyl (meth) acrylate, 2-hydroxy propyl (meth) acrylate, N-metholol ( Meta) acrylamide, meta aryl sulfonic acid, N-vinyl pyrrolidone, vinyl propionate, vinyl acetate, styrene and the like can be used.

상부 점착층(22)은 고형분 100 기준으로 30 내지 90 중량부인 아크릴 공중합체를 포함한다. 상부 점착층(22)은 고정용 접착제층(12)과 쉽게 픽업이 이루어지는 낮은 접착력을 가져야 하기 때문에 하부 점착층(32)에 비해 아크릴공중합체를 고형분 기준으로 다소 적은 중량부를 포함하게 된다. 특히 상부 점착층은 UV 경화에 의해 고정용 접착제층과 낮은 박리력이 요구되기 때문에 불포화 결합을 갖는 아크릴 화합물이 하부 점착층에 비해 높은 중량부를 포함한다. 따라서 상부 점착제층의 경우 하부 점착제층에 대해 낮은 함량의 아크릴공중합체를 포함한다. The upper adhesive layer 22 includes an acrylic copolymer of 30 to 90 parts by weight based on 100 solids. Since the upper adhesive layer 22 should have a low adhesive force that is easily picked up with the fixing adhesive layer 12, the lower adhesive layer 32 includes a somewhat less weight part based on the solid content of the acrylic copolymer than the lower adhesive layer 32. In particular, since the upper adhesive layer requires a low adhesive force with a fixing adhesive layer by UV curing, the acrylic compound having an unsaturated bond contains a higher weight part than the lower adhesive layer. Therefore, the upper pressure-sensitive adhesive layer includes a lower content of acrylic copolymer with respect to the lower pressure-sensitive adhesive layer.

상기 아크릴공중합체가 고형분 기준 30중량부 미만이면 코팅성 및 지지기재층과의 접착력에 문제가 있고, 90중량부 초과하면 UV 경화의 효과가 거의 나타나지 않는 문제가 발생할 수 있다. If the acrylic copolymer is less than 30 parts by weight based on the solid content, there is a problem in the coating property and the adhesion with the support base layer, if more than 90 parts by weight may cause a problem that hardly the effect of UV curing.

한편, 본원 발명의 하부 점착층(32)에 사용된 아크릴 공중합체의 유리전이온도는 -30℃ 미만이고, 상부 점착층(22)에 사용된 아크릴 공중합체의 유리전이온도는 -30℃ 이상이어야 한다. 더욱 바람직하게는 하부 점착층(32)에 사용되는 아크릴 공중합체의 유리전이온도는 -70℃ 내지 -30℃ 이고, 상부 점착층(22)에 사용되는 아크릴 공중합체의 유리전이온도는 -30℃ 내지 50℃ 인 경우이다. On the other hand, the glass transition temperature of the acrylic copolymer used in the lower adhesive layer 32 of the present invention is less than -30 ℃, the glass transition temperature of the acrylic copolymer used in the upper adhesive layer 22 should be -30 ℃ or more. do. More preferably, the glass transition temperature of the acrylic copolymer used for the lower pressure-sensitive adhesive layer 32 is -70 ° C to -30 ° C, and the glass transition temperature of the acrylic copolymer used for the upper pressure-sensitive adhesive layer 22 is -30 ° C. To 50 ° C.

즉 고정용 접착제 층과 인접하고 있는 상부 점착층의 경우 아크릴 공중합체의 유리 전이 온도는 -30℃ 이상인 것이 바람직한데, -30℃ 미만에서는 자체적으로 끈적임이 많기 때문에 다이 본드 과정에서 픽업시 문제가 발생할 수 있다. That is, in the case of the upper adhesive layer adjacent to the fixing adhesive layer, it is preferable that the glass transition temperature of the acrylic copolymer is -30 ° C or higher. Can be.

또한 하부 점착층(32)의 경우에는 유리 전이 온도가 -30℃ 미만인 아크릴 공중합체를 사용하는 것이 바람직한데, 이와 같은 이유는 하부 점착층의 경우에는 지지 기재층(31) 및 웨이퍼 고정용 링 프레임과의 접착력을 높이기 위해 초기 점착력이 중요하고, 또 유리 전이 온도가 -30℃ 이상일 경우에는 지지 기재층(31) 또는 웨이퍼 고정용 링 프레임과의 접착력이 낮기 때문에 다이싱 공정 또는 다이싱 후 세정 공정에서 하부 점착층(32)과 지지 기재층(31) 또는 웨이퍼 고정용 링 프레임이 박리가 일어나는 문제가 발생할 수 있기 때문이다.In addition, in the case of the lower adhesive layer 32, it is preferable to use an acrylic copolymer having a glass transition temperature of less than -30 ° C. For this reason, in the case of the lower adhesive layer, the support base layer 31 and the ring frame for wafer fixing are used. Initial adhesive force is important for increasing the adhesive strength with the glass, and when the glass transition temperature is -30 ° C or higher, since the adhesive force with the support base layer 31 or the ring frame for fixing the wafer is low, the dicing process or the post-dicing cleaning process This is because the lower adhesive layer 32 and the support base layer 31 or the ring fixing ring frame may cause a problem.

상기 불포화 결합을 갖는 아크릴 화합물로는 특별한 경우가 아닌 한, 적어도 한 분자 내에 2개 이상의 불포화 결합을 갖는 아크릴 수지가 바람직하다. 우레탄계 아크릴 수지를 사용하는 것이 더욱 바람직하다. 또한 에폭시 아크릴 수지, 폴리에스테르 아크릴 수지, 폴리에테르 아크릴 수지 등이 사용될 수 있다. The acrylic compound having an unsaturated bond is preferably an acrylic resin having two or more unsaturated bonds in at least one molecule, unless it is a special case. It is more preferable to use urethane type acrylic resin. Epoxy acrylic resins, polyester acrylic resins, polyether acrylic resins and the like can also be used.

우레탄계 아크릴 수지의 중량 평균 분자량은 500 내지 10,000 정도 범위의 것을 사용할 수 있으며, 1,000~4,000 정도가 더욱 바람직하다. 중량 평균 분자량이 500 미만에서는 다른 층으로의 전사가 발생할 수 있고, 10,000을 넘게되면 경화 수축률이 낮은 문제가 있기 때문이다. 특히 고정용 접착제와 인접하고 있는 상부 점착제의 경우 중량 평균 분자량이 10,000 보다 높은 우레탄계 아크릴 수지를 사용하면 UV 경화 후에도 경화 수축률이 낮기 때문에 표면 끈적임이 높아 픽업시에 문제가 발생할 수 있다. The weight average molecular weight of the urethane-based acrylic resin can be used in the range of about 500 to 10,000, more preferably about 1,000 to 4,000. This is because if the weight average molecular weight is less than 500, transfer to another layer may occur, and if the weight average molecular weight exceeds 10,000, there is a problem of low curing shrinkage. In particular, in the case of the upper pressure-sensitive adhesive adjacent to the fixing adhesive, when the urethane-based acrylic resin having a weight average molecular weight of more than 10,000 is used, since the curing shrinkage rate is low even after UV curing, high surface stickiness may cause problems during pickup.

또한 불포화 결합을 갖는 아크릴 화합물로는 2-하이드록시에틸(메타)아크릴레이트, 2-하이드록시프로필(메타)아크릴레이트, 2-하이드록시부틸(메타)아크릴레이트, 2-하이드록시-3-아크로일록시 프로필 (메타)아크릴레이트 1-하이드록시부틸(메타)아크릴레이트, 폴리카프로락톤 폴리올 모노(메타)아크릴레이트, 2-하이드록시-3-페닐옥시프로필(메타)아크릴레이트, 2-히드록시 3-페녹시 프로필 아크릴레이트, 글리시딜 (메타)아크릴레이트, (2-메타아크릴로일록시에틸헥사하이드로 프탈레이트, 2-메타아크릴로일록시에틸 숙신산 에스테르, 네오 펜틸글리콜모노(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산다이올모노(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨펜타(메타)아크릴레이트, 다이펜타에리스리톨펜타(메타)아크릴레이트(Dipentaerythritolpenta(meth)acrylate), 글리세린 다이(메타)아크릴레이트, 테트라하이드로퍼퓨릴(메타)아크릴레이트(tetrahydrofurfuryl(meth)acrylate), 이소데실(메타)아크릴레이트(isodecyl (meth)acrylate), 2-(2-에톡시에톡시)에틸(메타)아크릴레이트, 스테아릴(메타)아크릴레이트, 라우릴(메타)아크릴레이트, 2-페녹시에틸(메타)아크릴레이트, 이소보닐(메타)아크릴레이트, 트리데실(메타)아크릴레이트, 에톡시부가형 노닐페놀(메타)아크릴레이트(ethoxylated nonylphenolacrylate), 에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜디(메 타)아크릴레이트, 트리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 테트라에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메타)아크릴레이트, 1,3-부티렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 트리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 에톡시 부가형 비스페놀-에이디(메타)아크릴레이트, 시클로헥산디메탄올디(메타)아크릴레이트, 페녹시테트라에틸렌글리콜(메타)아크릴레이트, 2-메타아크릴로일록시에틸포스페이트, 2-메타아크릴로일록시에틸포스페이트, 디메틸올 트리시클로 데케인 디(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨 헥사아크릴레이트 등이 있다.Moreover, as an acrylic compound which has an unsaturated bond, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, 2-hydroxy-3- acro Hydroxy propyl (meth) acrylate 1-hydroxybutyl (meth) acrylate, polycaprolactone polyol mono (meth) acrylate, 2-hydroxy-3-phenyloxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxy 3-phenoxy propyl acrylate, glycidyl (meth) acrylate, (2-methacryloyloxyethylhexahydro phthalate, 2-methacryloyloxyethyl succinic acid ester, neopentylglycol mono (meth) acrylate 1,6-hexanediol mono (meth) acrylate, pentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritolpenta (meth) acrylate (Dipentaerythritolpenta (meth) acrylate), glycerin di (meth) Acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, isodecyl (meth) acrylate, 2- (2-ethoxyethoxy) ethyl (meth) acrylic Laterate, stearyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, 2-phenoxyethyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, tridecyl (meth) acrylate, ethoxy addition type nonylphenol (Meth) acrylate (ethoxylated nonylphenolacrylate), ethylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, Polyethylene glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,3-butylene glycol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, ethoxy addition type bisphenol -( Ta) acrylate, cyclohexanedimethanol di (meth) acrylate, phenoxytetraethylene glycol (meth) acrylate, 2-methacryloyloxyethyl phosphate, 2-methacryloyloxyethyl phosphate, dimethylol tri Cyclodecane di (meth) acrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, and the like.

상기 상부 점착층(22)은 고형분 100 기준으로 10 내지 70중량부의 불포화 결합을 갖는 아크릴화합물을 포함하는 것이 바람직하다. The upper adhesive layer 22 preferably contains an acrylic compound having an unsaturated bond of 10 to 70 parts by weight based on 100 solids.

상부 점착층(22)은 UV 경화 후 고정용 접착제층(12)과 쉽게 픽업이 이루어지기 위하여 낮은 접착력을 가져야 하기 때문에 하부 점착층(32)에 비해 불포화결합을 갖는 아크릴화합물을 아크릴공중합체 기준으로 다소 높은 함량을 포함하게 된다. 하부 점착층은 UV 경화 후에도 상부 점착층과의 접착력이 높아야 하고 또한 UV 경화의 영향이 거의 없어야 하기 때문에 상부 점착층에 비해 불포화결합을 갖는 아크릴 화합물의 함량이 작다.Since the upper adhesive layer 22 should have a low adhesive force in order to easily pick up with the fixing adhesive layer 12 after UV curing, the acrylic compound having an unsaturated bond compared to the lower adhesive layer 32 is based on an acrylic copolymer. It will contain a somewhat higher content. The lower pressure-sensitive adhesive layer has a smaller content of an acrylic compound having an unsaturated bond than the upper pressure-sensitive adhesive layer, since the adhesive force with the upper pressure-sensitive adhesive layer should be high even after UV curing and have little effect of UV curing.

상부 점착층의 경우 불포화 결합을 갖는 아크릴 화합물이 고형분 100기준으로 10 중량부 미만에서는 UV 경화 후 수축율이 낮아서 접착제와의 박리력이 높아 픽업시 문제가 발생할 수 있으며, 70 중량부를 초과하면 UV 경화 후 수축율이 너무 높아 이 또한 픽업시 문제가 발생할 수 있기 때문이다. In the case of the upper adhesive layer, when the acrylic compound having an unsaturated bond is less than 10 parts by weight based on 100 parts by weight of solid, the shrinkage rate after UV curing is low, which may cause a problem in pick-up due to high peeling force with the adhesive. This is because shrinkage is too high, which can also cause problems when picking up.

본 발명에서 광개시제로는 벤조 페논, 벤조인 , 이소프로필 벤조인 에테르, 이소부틸 벤조인 에테르, 2-에틸 안트라퀴논, 클로로 안트라퀴논, 클로로 티오크산톤, 도데실 티오크산톤, 2,4-디메틸 티오크산톤, 이소프로필 티오크산톤, 벤질 디메틸 케탈, 히드록시 시클로헥실 페닐 케톤, 히드록시 디메틸 아세토페논, 2-메틸-1[4-(메틸티오)페닐]-2-모르포린-1-온, 4-벤조일-4'-메틸디페닐 설피드, 4-메틸 벤조페논, 4-페닐 벤조페논, 2,4,6-트리메틸벤조일 디페닐 포스핀 등이 있다.Photoinitiators in the present invention are benzophenone, benzoin , isopropyl benzoin ether, isobutyl benzoin ether, 2-ethyl anthraquinone, chloro anthraquinone, chloro thioxanthone, dodecyl thioxanthone, 2,4-dimethyl Thioxanthone, isopropyl thioxanthone, benzyl dimethyl ketal, hydroxy cyclohexyl phenyl ketone, hydroxy dimethyl acetophenone, 2-methyl-1 [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholin-1-one , 4-benzoyl-4'-methyldiphenyl sulfide, 4-methyl benzophenone, 4-phenyl benzophenone, 2,4,6-trimethylbenzoyl diphenyl phosphine and the like.

또한 원활한 광개시 반응을 위하여 광개시 촉진제를 사용할 수 있다. 광개시 촉진제로는 에틸-4-디메틸아미노 벤조에이트, 2-에틸핵실 4-디메틸아미노 벤조에이트 등이 사용될 수 있다.In addition, a photoinitiator may be used for a smooth photoinitiation reaction. As the photoinitiator, ethyl-4-dimethylamino benzoate, 2-ethylnucleosil 4-dimethylamino benzoate and the like can be used.

광개시제 또는 광개시 촉진제는 고형분 100 기준으로 0.1~10중량부 범위에서 사용할 수 있다. 특히 0.5~5 중량부 범위에서 사용하는 것이 바람직하다. Photoinitiator or photoinitiator may be used in the range of 0.1 to 10 parts by weight based on 100 solids. In particular, it is preferable to use in the range of 0.5-5 weight part.

본원 발명의 상부 점착층(22) 및 하부 점착층(32)을 형성하는 조성물은 상술한 성분들 이외에 경화제 및 무기입자 중 하나 이상을 추가로 포함할 수도 있다.The composition forming the upper adhesive layer 22 and the lower adhesive layer 32 of the present invention may further include one or more of a curing agent and inorganic particles in addition to the above-described components.

상기 경화제로서는, 비스페놀 A와 에피클로로히드린과의 반응에 의해 생성된 에폭시 수지, 페놀 수지와 에피클로로히드린과의 반응에 의해 생성된 에폭시 수지, 에틸렌 글리콜 디글리시딜 에테르, 글리세린 트리글리시딜 에테르, 1,6-핵산디올 디글리시딜 에테르, 트리메티롤프로판 트리글리시딜 에테르, 폴리글리세롤 폴리글리시딜 에테르 등의 에폭시계 화합물과 헥사메톡시 메틸 멜라민, 헥사에톡시 메틸 멜라민 등의 멜라민계 화합물, 2,4-트릴렌 디이소시아네이트, 2,6-트릴렌 디이소시아네이트, 디페닐 메탄 4,4'-디이소시아네이트. 1,3-크실렌 디이소시아네이트, 1,4-크실렌 디이소시아네이트, 1,3-비스 이소시아노메틸 시클로헥산, 테트라메틸 크실렌 디이소시아네이트, 1,5-나프탈렌 디이소시아네이트 등 이소시아네이트계 화합물이 있으며 바인더의 작용기에 따라 에폭시계 화합물 또는 이소시아네이트계 화합물 중에서 선택하여 사용할 수 있다. As said hardening | curing agent, the epoxy resin produced | generated by reaction of bisphenol A and epichlorohydrin, the epoxy resin produced | generated by reaction of a phenol resin and epichlorohydrin, ethylene glycol diglycidyl ether, glycerin triglycidyl Epoxy-based compounds such as ether, 1,6-nucleodiol diglycidyl ether, trimetholpropane triglycidyl ether, polyglycerol polyglycidyl ether, and melamine such as hexamethoxy methyl melamine and hexaethoxy methyl melamine System compounds, 2,4-trilene diisocyanate, 2,6-trilene diisocyanate, diphenyl methane 4,4'- diisocyanate. Isocyanate compounds such as 1,3-xylene diisocyanate, 1,4-xylene diisocyanate, 1,3-bis isocyanomethyl cyclohexane, tetramethyl xylene diisocyanate, and 1,5-naphthalene diisocyanate. It can select and use from an epoxy type compound or an isocyanate type compound according to this.

본 발명에서 사용 가능한 무기입자로는 수산화 알루미늄, 산화 아연, 유산 바륨, 탈크, 산화 티타늄, 수산화 마그네슘, 탄산 칼슘, 질화 붕소, 규산 칼슘, 규산 마그네슘, 산화 칼슘, 산화 마그네슘, 산화 알루미늄, 질화 알루미늄, 결정성 실리카, 비결정성 실리카 등을 들 수 있고, 무기입자의 형상은 특별히 제한되지는 않는다. 이러한 무기입자는 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Inorganic particles usable in the present invention include aluminum hydroxide, zinc oxide, barium lactate, talc, titanium oxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, boron nitride, calcium silicate, magnesium silicate, calcium oxide, magnesium oxide, aluminum oxide, aluminum nitride, Crystalline silica, amorphous silica, etc. are mentioned, The shape of an inorganic particle is not specifically limited. These inorganic particles can be used alone or in combination of two or more thereof.

본 발명의 지지 기재층(31)은 폴리프로필렌, 폴리에틸렌, 폴리에스테르, 폴리카보네이트, 에틸렌-초산비닐 공중합체, 에틸렌-프로필렌 공중합체, 에틸렌-에틸 아크릴레이트 공중합체 및 폴리 염화비닐로 구성된 군에서 선택되는 것이다. The support base layer 31 of the present invention is selected from the group consisting of polypropylene, polyethylene, polyester, polycarbonate, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-propylene copolymer, ethylene-ethyl acrylate copolymer and polyvinyl chloride Will be.

지지 기재층(31)의 두께는 50~150㎛이지만 특별히 제한되는 것은 아니다.Although the thickness of the support base material layer 31 is 50-150 micrometers, it is not specifically limited.

본 발명의 고정용 접착제층(12)은 일반적으로 바인더 폴리머, 에폭시 수지, 에폭시 경화제 등으로 구성된다. The fixing adhesive layer 12 of this invention is generally comprised from a binder polymer, an epoxy resin, an epoxy hardening | curing agent, etc.

바인더 폴리머로서는 특별히 정해진 것은 아니며 크랙 등의 발생을 저하시킬 수 있는 것이면 가능하다. 일반적으로 이미드 수지, 니트릴 부타디엔 고무, 스티렌 부타디엔 고무, 아크릴 공중합체, 우레탄 고무 등을 사용할 수 있다. 특히 이미드 수지나 아크릴 공중합체 등이 바람직하게 사용될 수 있다.It is not specifically defined as a binder polymer, It is possible if it can reduce generation | occurrence | production of a crack. Generally, imide resins, nitrile butadiene rubbers, styrene butadiene rubbers, acrylic copolymers, urethane rubbers and the like can be used. In particular, an imide resin or an acrylic copolymer can be preferably used.

에폭시 수지는 특별히 정해진 것은 아니며 분자내에 에폭시기를 함유하고 있으면 사용 가능하다. 특히 신뢰성 측면에서 방향족 화합물이 바람직하고 분자내에 2개 이상의 에폭시기를 가지는 화합물 사용이 바람직하다.An epoxy resin is not specifically defined and can be used if it contains an epoxy group in a molecule | numerator. In particular, in view of reliability, an aromatic compound is preferable, and a compound having two or more epoxy groups in a molecule is preferable.

에폭시 경화제로는 일반적으로 아민, 폴리아미드, 산무수물, 불화 붕소, 페놀성 수산기를 가지는 화합물 등이 바람직하다. 특히 본 발명에서는 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S 등의 비스페놀계 수지 및 페놀 노볼락, 크레졸 노볼락 등의 페놀 수지가 바람직하다.Generally as an epoxy hardening | curing agent, the compound etc. which have an amine, a polyamide, an acid anhydride, boron fluoride, a phenolic hydroxyl group are preferable. Especially in this invention, bisphenol-type resins, such as bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, and phenol resins, such as a phenol novolak and a cresol novolak, are preferable.

본 발명의 다이싱 다이 본드 필름은 각각의 층을 기재층에 코팅 및 건조하여 코팅 필름을 얻고 이를 라미네이션 과정을 통해 최종적으로 지지 기재층(31), 하부 점착층(32), 상부 점착층(22) 및 고정용 접착제층(12)의 4개층으로 구성된다. Dicing die bond film of the present invention by coating and drying each layer on the substrate layer to obtain a coating film and finally through the lamination process the support substrate layer 31, the lower adhesive layer 32, the upper adhesive layer 22 ) And four layers of the fixing adhesive layer 12.

상기와 같이 접착력을 달리한 2층의 점착층을 사용하여 지지 기재층(31), 하부 점착층(32), 상부 점착층(22) 및 접착제층의 4개층으로 구성된 다이싱 다이 본드 필름은 다이싱 공정 및 다이싱 고정 이후 세정 공정에서는 링 프레임에 대한 상기 필름의 접착력이 우수하여 웨이퍼를 흔들림 없이 고정하고 다이 본드 공정에서는 픽업시 고정용 접착제와의 접착력이 낮아 픽업 성공율이 우수한 특성을 보여준 다.The dicing die bond film consisting of four layers of the support base material layer 31, the lower adhesion layer 32, the upper adhesion layer 22, and the adhesive layer using the two adhesion layers of which adhesive strength was changed as mentioned above is die In the cleaning process after the dicing process and the dicing fixing, the adhesion of the film to the ring frame is excellent to fix the wafer without shaking, and in the die bonding process, the picking-up success rate is excellent because of the low adhesive strength with the fixing adhesive during pickup.

이하에서 실시예를 들어 본 발명에 관하여 더욱 상세하게 설명할 것이나. 이들 실시예는 단지 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명의 보호범위를 제한하고자 하는 것은 아니다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples. These examples are for illustrative purposes only and are not intended to limit the protection scope of the present invention.

[아크릴 공중합체 합성예 1][Acrylic copolymer synthesis example 1]

환류가 가능한 플라스크에 냉각기를 설치한 후 2-에틸 핵실 아크릴레이트 78중량부, 에틸 아크릴레이트 6 중량부, 비닐 아세테이트 모노머 6 중량부, 아크릴산 5 중량부, 2-히드록시 에틸 메타아크릴레이트 5 중량부를 플라스크에 넣고, 중합 개시제로 아조비스 이소부티로니트릴(azobis isobutyronitrile) 0.1 중량부 및 중합 용제로 초산 에틸 90 중량부를 첨가한 후 초산 에틸의 환류 온도에서 5시간 반응하였다. 다시 아조비스 이소부티로니트릴(azobis isobutyronitrile) 0.1 중량부를 톨루엔 10 중량부에 용해한 후 이를 플라스크에 더한 후 환류 온도에서 3시간 반응을 더하였다. 이때 합성된 수지를 시차 주사 열량계(DSC)를 통해 유리 전이 온도와 겔크로마토그라피(GPC)를 통해 중량 평균 분자량을 측정하였다. 합성된 수지의 중량 평균 분자량은 40만 이었으며, 유리 전이 온도는 -50℃ 였다.After installing the cooler in a reflux flask, 78 parts by weight of 2-ethyl nucleus acrylate, 6 parts by weight of ethyl acrylate, 6 parts by weight of vinyl acetate monomer, 5 parts by weight of acrylic acid, and 5 parts by weight of 2-hydroxy ethyl methacrylate Into the flask, 0.1 parts by weight of azobis isobutyronitrile as a polymerization initiator and 90 parts by weight of ethyl acetate were added to the polymerization solvent, followed by reaction for 5 hours at the reflux temperature of ethyl acetate. Again, 0.1 parts by weight of azobis isobutyronitrile was dissolved in 10 parts by weight of toluene, and then added to the flask, followed by 3 hours of reaction at reflux. In this case, the weight average molecular weight of the synthesized resin was measured through glass scanning temperature and gel chromatography (GPC) through a differential scanning calorimeter (DSC). The weight average molecular weight of the synthesized resin was 400,000, and the glass transition temperature was -50 ° C.

[아크릴 공중합체 합성예 2][Acryl Copolymer Synthesis Example 2]

환류가 가능한 플라스크에 냉각기를 설치한 후 메틸 메타아크릴레이트 23중량부, 2-에틸 핵실 아크릴레이트 39중량부, 에틸 아크릴레이트 6 중량부, 비닐 아세테이트 모노머 12 중량부, 아크릴산 12 중량부, 2-히드록시 에틸 메타아크릴레이 트 8 중량부를 플라스크에 넣고, 중합 개시제로 아조비스 이소부티로니트릴(azobis isobutyronitrile) 0.1 중량부 및 중합 용제로 초산 에틸 90 중량부를 첨가한 후 초산 에틸의 환류 온도에서 5시간 반응하였다. 다시 아조비스 이소부티로니트릴(azobis isobutyronitrile) 0.1 중량부를 톨루엔 10 중량부에 용해한 후 이를 플라스크에 더한 후 환류 온도에서 3시간 반응을 더하였다. 이때 합성된 수지를 시차 주사 열량계(DSC)를 통해 유리 전이 온도와 겔크로마토그라피(GPC)를 통해 중량 평균 분자량을 측정하였다. 합성된 수지의 중량 평균 분자량은 60만 이었으며, 유리 전이 온도는 -20℃ 였다.After installing the cooler in the reflux flask, 23 parts by weight of methyl methacrylate, 39 parts by weight of 2-ethyl nucleus acrylate, 6 parts by weight of ethyl acrylate, 12 parts by weight of vinyl acetate monomer, 12 parts by weight of acrylic acid, 2-hydride 8 parts by weight of oxyethyl methacrylate was added to the flask, 0.1 parts by weight of azobis isobutyronitrile as a polymerization initiator and 90 parts by weight of ethyl acetate were added as a polymerization solvent, followed by reaction at an reflux temperature of ethyl acetate for 5 hours. It was. Again, 0.1 parts by weight of azobis isobutyronitrile was dissolved in 10 parts by weight of toluene, and then added to the flask, followed by 3 hours of reaction at reflux. In this case, the weight average molecular weight of the synthesized resin was measured through glass scanning temperature and gel chromatography (GPC) through a differential scanning calorimeter (DSC). The weight average molecular weight of the synthesized resin was 600,000, and the glass transition temperature was -20 ° C.

[아크릴 공중합체 합성예 3][Acryl Copolymer Synthesis Example 3]

환류가 가능한 플라스크에 냉각기를 설치한 후 메틸 메타아크릴레이트 23중량부, 2-에틸 핵실 아크릴레이트 39중량부, 에틸 아크릴레이트 11 중량부, 비닐 아세테이트 모노머 12 중량부, 아크릴산 15 중량부를 플라스크에 넣고, 중합 개시제로 아조비스 이소부티로니트릴(azobis isobutyronitrile) 0.1 중량부 및 중합 용제로 초산 에틸 90 중량부를 첨가한 후 초산 에틸의 환류 온도에서 5시간 반응하였다. 다시 아조비스 이소부티로니트릴(azobis isobutyronitrile) 0.1 중량부를 톨루엔 10 중량부에 용해한 후 이를 플라스크에 더한 후 환류 온도에서 3시간 반응을 더하였다. 이때 합성된 수지를 시차 주사 열량계(DSC)를 통해 유리 전이 온도와 겔크로마토그라피(GPC)를 통해 중량 평균 분자량을 측정하였다. 합성된 수지의 중량 평균 분자량은 50만 이었으며, 유리 전이 온도는 -15℃ 였다.After installing the cooler in a reflux flask, 23 parts by weight of methyl methacrylate, 39 parts by weight of 2-ethyl nucleus acrylate, 11 parts by weight of ethyl acrylate, 12 parts by weight of vinyl acetate monomer, and 15 parts by weight of acrylic acid were placed in the flask. 0.1 weight part of azobis isobutyronitrile as a polymerization initiator and 90 weight part of ethyl acetate as a polymerization solvent were added, and it reacted at the reflux temperature of ethyl acetate for 5 hours. Again, 0.1 parts by weight of azobis isobutyronitrile was dissolved in 10 parts by weight of toluene, and then added to the flask, followed by 3 hours of reaction at reflux. In this case, the weight average molecular weight of the synthesized resin was measured through glass scanning temperature and gel chromatography (GPC) through a differential scanning calorimeter (DSC). The weight average molecular weight of the synthesized resin was 500,000, and the glass transition temperature was -15 ° C.

[제조예 1][Production Example 1]

에폭시기를 갖는 아크릴 공중합체 수지[NAGASE CHEMTEX사제, SG-P3 TEA] 60 중량부에, 나프톨형 에폭시 수지[ NIPPON KAYAKU사제, NC-7300L] 11 중량부, 크레졸 노볼락 수지[MEIWA Plastics사제, MEH-7800 4S] 11 중량부와 경화 촉진제로서 2-페닐 4-메틸 이미다졸 0.3 중량부, 그리고 γ-글리시독시 프로필 트리 메톡시 실란[ CHISSO Chemical사제, S-510] 2중량부, 실리카[DEGUSSA제, R-972 ] 12 중량부를 첨가하였다. 여기에 전체 고형분이 30중량%가 되도록 메틸 에틸 케톤을 첨가한 후 1시간 동안 교반하였다. 교반이 끝난 조성물은 비드밀을 사용하여 고르게 분산하였다. 분산이 끝난 조성물은 두께 38미크론의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름에 코팅한 후 80℃에서 10분간 건조하여 두께 20미크론의 고정용 접착제층(12)를 얻었다. 11 parts by weight of naphthol-type epoxy resin [manufactured by NIPPON KAYAKU, NC-7300L], cresol novolac resin [manufactured by MEIWA Plastics, MEH- 7800 4S] 11 parts by weight, 0.3 parts by weight of 2-phenyl 4-methyl imidazole as a curing accelerator, and 2 parts by weight of γ-glycidoxy propyl trimethoxy silane [manufactured by CHISSO Chemical, S-510], silica [manufactured by DEGUSSA , R-972] was added 12 parts by weight. Methyl ethyl ketone was added thereto so that the total solid content was 30% by weight, followed by stirring for 1 hour. The stirred composition was evenly dispersed using a bead mill. The dispersed composition was coated on a 38-micron-thick polyethylene terephthalate film and dried at 80 ° C. for 10 minutes to obtain a fixing adhesive layer 12 having a thickness of 20 microns.

[제조예 2][Production Example 2]

[합성예 2]에서 합성된 아크릴 공중합체를 고형분 30중량%가 되도록 초산 에틸을 가하였다. 고형분 30중량%인 [합성예 2]에서 합성된 아크릴 공중합체 167 중량부에 15관능기의 우레탄아크릴레이트[SHIN NAKAMURA사제, U-15HA] 40 중량부, 셀룰로오즈 아세테이트 부티레이트[EASTMAN사제, CAB-551-0.2] 10중량부, 이소시아네이트 함유 아크릴 공중합체 경화제 [일본폴리우레탄제(제조사), L-45] 2중량부, 에폭시 함유 아크릴 공중합체 경화제[SOKEN Chemical,5XM] 5중량부 및 광중합 개시제로 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-원(2,2-Dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one)[CIBA GEIGY,IRGACURE-651] 1.5중량부를 첨가하였다. 여기에 전체 고형분이 30중량%가 되도록 초산 에틸을 첨가한 후 1시간 동안 교반하였다. 교반이 끝난 조성 물은 두께 38미크론의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름에 건조 후 두께가 10 미크론이 되도록 코팅한 후 80℃에서 10분간 건조를 하였다. 건조 후에 100미크론의 폴리올레핀 필름에 전사하여 40℃에서 3일간 방치하여 상부 점착층 (22)를 얻었다.Ethyl acetate was added to the acrylic copolymer synthesized in Synthesis Example 2 so that the solid content was 30% by weight. 40 parts by weight of a 15-functional urethane acrylate [manufactured by SHIN NAKAMURA, U-15HA], cellulose acetate butyrate [manufactured by EASTMAN, CAB-551- to 167 parts by weight of the acrylic copolymer synthesized in Synthesis Example 2 having a solid content of 30% by weight 0.2] 10 parts by weight of isocyanate-containing acrylic copolymer curing agent [Japan Polyurethanes (manufacturer), L-45] 2 parts by weight, 5 parts by weight of epoxy-containing acrylic copolymer curing agent [SOKEN Chemical, 5XM] and 2, 1.5 parts by weight of 2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one (2,2-Dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one) [CIBA GEIGY, IRGACURE-651] was added. Ethyl acetate was added thereto so that the total solid content was 30% by weight, followed by stirring for 1 hour. After stirring, the composition was coated on a 38-micron-thick polyethylene terephthalate film and dried to a thickness of 10 microns, and then dried at 80 ° C. for 10 minutes. After drying, the film was transferred to a 100-micron polyolefin film and left at 40 ° C. for 3 days to obtain an upper adhesive layer 22.

[제조예 3][Production Example 3]

[합성예 3]에서 합성된 아크릴 공중합체를 고형분 30중량%가 되도록 초산 에틸을 가하였다. 고형분 30중량%인 [합성예 3]에서 합성된 아크릴 공중합체 167 중량부에 6관능기의 우레탄아크릴레이트[SHIN NAKAMURA, U-6HA] 50 중량부, 에폭시 함유 아크릴 공중합체 경화제[SOKEN Chemical사제, 5XM] 10중량부 및 광중합 개시제로 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-원(2,2-Dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one)[CIBA GEIGY, IRGACURE-651] 1.5중량부를 첨가하였다. 여기에 전체 고형분이 30중량%가 되도록 초산 에틸을 첨가한 후 1시간 동안 교반하였다. 교반이 끝난 조성물은 두께 38미크론의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름에 건조 후 두께가 10 미크론이 되도록 코팅한 후 80℃에서 10분간 건조를 하였다. 건조 후에 100미크론의 폴리올레핀 필름에 전사하여 40℃에서 3일간 방치하여 상부 점착층 (22)를 얻었다.Ethyl acetate was added to the acrylic copolymer synthesized in Synthesis Example 3 so that the solid content was 30% by weight. 50 parts by weight of a 6-functional urethane acrylate [SHIN NAKAMURA, U-6HA], an epoxy-containing acrylic copolymer curing agent [SOKEN Chemical Co., 5XM] to 167 parts by weight of the acrylic copolymer synthesized in Synthesis Example 3 having a solid content of 30% by weight ] 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one (10,2 parts by weight and photopolymerization initiator) [CIBA GEIGY, IRGACURE-651 ] 1.5 parts by weight was added. Ethyl acetate was added thereto so that the total solid content was 30% by weight, followed by stirring for 1 hour. After stirring, the composition was coated on a 38-micron-thick polyethylene terephthalate film and dried to a thickness of 10 microns, and then dried at 80 ° C. for 10 minutes. After drying, the film was transferred to a 100-micron polyolefin film and left at 40 ° C. for 3 days to obtain an upper adhesive layer 22.

[제조예 4][Production Example 4]

[합성예 1]에서 합성된 아크릴 공중합체를 고형분 30중량%가 되도록 초산 에틸을 가하였다. 고형분 30중량%인 [합성예 1]에서 합성된 아크릴 공중합체 233 중량부에 6관능기의 우레탄아크릴레이트[SHIN NAKAMURA, U-6H] 30 중량부, 이스시아네이트 함유 아크릴 공중합체 경화제[일본폴리우레탄제,L-45] 2중량부, 에폭시 함유 아크릴 공중합체 경화제[SOKEN Chemical, 5XM] 5중량부 및 광중합 개시제로 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-원(2,2-Dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one)[CIBA GEIGY, IRGACURE-651] 1.5중량부를 첨가하였다. 여기에 전체 고형분이 30중량%가 되도록 초산 에틸을 첨가한 후 1시간 동안 교반하였다. 교반이 끝난 조성물은 두께 38미크론의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름에 건조 후 두께가 10 미크론이 되도록 코팅한 후 80℃에서 10분간 건조를 하였다. 건조 후에 100미크론의 폴리올레핀 필름에 전사하여 40℃에서 3일간 방치하여 하부 점착층 (32)를 얻었다.Ethyl acetate was added to the acrylic copolymer synthesized in Synthesis Example 1 so that the solid content was 30% by weight. 30 parts by weight of a 6-functional urethane acrylate [SHIN NAKAMURA, U-6H], an isocyanate-containing acrylic copolymer curing agent [Japan Polyurethane] in 233 parts by weight of the acrylic copolymer synthesized in Synthesis Example 1 having a solid content of 30% by weight 2,2 dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one by 2 parts by weight, 5 parts by weight of an epoxy-containing acrylic copolymer curing agent [SOKEN Chemical, 5XM] and a photopolymerization initiator. 1.5 parts by weight of 2-Dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one) [CIBA GEIGY, IRGACURE-651] was added. Ethyl acetate was added thereto so that the total solid content was 30% by weight, followed by stirring for 1 hour. After stirring, the composition was coated on a 38-micron-thick polyethylene terephthalate film and dried to a thickness of 10 microns, and then dried at 80 ° C. for 10 minutes. After drying, the film was transferred to a 100-micron polyolefin film and left at 40 ° C. for 3 days to obtain a lower pressure-sensitive adhesive layer 32.

실시예Example 1 One

8인치 웨이퍼 사이즈에 맞게 [제조예 1]에서 코팅한 고정용 접착제층(12)을 절단한다. 고정용 접착제층(12)에 [제조예 2]에서 코팅한 상부 점착층(22)을 합지하고, 고정용 접착제층(12)와 동일한 크기로 절단한 후 상부 점착층(22)의 기재층으로 사용한 폴리올레핀 필름을 제거한다. 다시 상부 점착층(22)의 표면에 [제조예 4]에서 코팅한 하부 점착층(32)를 합지한다. 상기 공정을 거친 적층된 필름을 사용하여 고정용 접착제층(12)가 두께 80미크론의 웨이퍼 배면에 놓이게 한 후 링 프레임을 사용하여 60℃ 온도에서 0.1MPa의 압력으로 웨이퍼 마운트 공정을 실시한다. 이때 링 프레임의 배면에는 하부 점착층(32)가 접착되어 있다. 뒤이어 다이싱 장치에 웨이퍼 마운트가 끝난 웨이퍼를 고정하고, 100mm/sec의 속도에서 10mm × 10mm 칩 크기로 절단한다. 다시 UV 경화기를 통하여 웨이퍼 아래면에서 200mJ/cm2의 노광량으로 조사한 후 픽업 장치에서 픽업성을 평가하였다. The fixing adhesive layer 12 coated in [Production Example 1] is cut to fit an 8-inch wafer size. The upper adhesive layer 22 coated in [Production Example 2] was laminated on the fixing adhesive layer 12, cut into the same size as the fixing adhesive layer 12, and then, as a base layer of the upper adhesive layer 22. Remove the used polyolefin film. Again, the lower adhesive layer 32 coated in [Production Example 4] is laminated on the surface of the upper adhesive layer 22. Using the laminated film subjected to the above process, the fixing adhesive layer 12 is placed on the back of the wafer having a thickness of 80 microns, and then a wafer mount process is performed at a pressure of 0.1 MPa at a temperature of 60 ° C. using a ring frame. At this time, the lower adhesive layer 32 is attached to the back of the ring frame. Subsequently, the wafer-mounted wafer is fixed to a dicing apparatus and cut into 10 mm x 10 mm chip sizes at a speed of 100 mm / sec. After irradiating with an exposure dose of 200 mJ / cm 2 from the bottom surface of the wafer through a UV curing machine, the pick-up property was evaluated in a pickup device.

실시예Example 2 2

8인치 웨이퍼 사이즈에 맞게 [제조예 1]에서 코팅한 고정용 접착제층(12)을 절단한다. 고정용 접착제층(12)면에 [제조예 3]에서 코팅한 상부 점착층(22)을 합지하고, 고정용 접착제층(12)와 동일한 크기로 절단한 후 상부 점착층(22)의 기재층으로 사용한 폴리올레핀 필름을 제거한다. 다시 상부 점착층(22)의 표면에 [제조예 4]에서 코팅한 하부 점착층(32)를 합지한다. 상기 공정을 거친 적층된 필름을 사용하여 고정용 접착제층(12)가 두께 80미크론의 웨이퍼 배면에 놓이게 한 후 링 프레임을 사용하여 60℃ 온도에서 0.1MPa의 압력으로 웨이퍼 마운트 공정을 실시한다. 이때 링 프레임의 배면에는 하부 점착층(C)가 접착되어 있다. 뒤이어 다이싱 장치에 웨이퍼 마운트가 끝난 웨이퍼를 고정하고, 100mm/sec의 속도에서 10mm × 10mm 칩 크기로 절단한다. 다시 UV 경화기를 통하여 웨이퍼 아래면에서 200mJ/cm2의 노광량으로 조사한 후 픽업 장치에서 픽업성을 평가하였다. The fixing adhesive layer 12 coated in [Production Example 1] is cut to fit an 8-inch wafer size. The upper adhesive layer 22 coated in [Production Example 3] was laminated on the fixing adhesive layer 12 surface, cut to the same size as the fixing adhesive layer 12, and then the base layer of the upper adhesive layer 22. Remove the polyolefin film used. Again, the lower adhesive layer 32 coated in [Production Example 4] is laminated on the surface of the upper adhesive layer 22. Using the laminated film subjected to the above process, the fixing adhesive layer 12 is placed on the back of the wafer having a thickness of 80 microns, and then a wafer mount process is performed at a pressure of 0.1 MPa at a temperature of 60 ° C. using a ring frame. At this time, the lower adhesive layer (C) is bonded to the back of the ring frame. Subsequently, the wafer-mounted wafer is fixed to a dicing apparatus and cut into 10 mm x 10 mm chip sizes at a speed of 100 mm / sec. After irradiating with an exposure dose of 200 mJ / cm 2 from the bottom surface of the wafer through a UV curing machine, the pick-up property was evaluated in a pickup device.

비교예Comparative example 1 One

8인치 웨이퍼 사이즈에 맞게 [제조예 1]에서 코팅한 고정용 접착제층(12)을 절단한다. 고정용 접착제층(12)면에 [제조예 3]에서 코팅한 상부 점착층(22)을 합지하여 적층된 필름을 얻었다. 적층된 필름을 사용하여 고정용 접착제층(12)가 두께 80미크론의 웨이퍼 배면에 놓이게 한 후 링 프레임을 사용하여 60℃ 온도에서 0.1MPa의 압력으로 웨이퍼 마운트 공정을 실시한다. 이때 링 프레임의 배면에는 상부 점착층(22)가 접착되어 있다. 뒤이어 다이싱 장치에 웨이퍼 마운트가 끝난 웨이퍼를 고정하고, 100mm/sec의 속도에서 10mm × 10mm 칩 크기로 절단한다. 다시 UV 경화기를 통하여 웨이퍼 아래면에서 200mJ/cm2의 노광량으로 조사한 후 픽업 장치에서 픽업성을 평가하였다. The fixing adhesive layer 12 coated in [Production Example 1] is cut to fit an 8-inch wafer size. The upper adhesive layer 22 coated in [Production Example 3] was laminated on the surface of the fixing adhesive layer 12 to obtain a laminated film. Using the laminated film, the fixing adhesive layer 12 is placed on the back of the wafer having a thickness of 80 microns, and then a wafer mount process is performed using a ring frame at a pressure of 0.1 MPa at a temperature of 60 ° C. At this time, the upper adhesive layer 22 is attached to the back of the ring frame. Subsequently, the wafer-mounted wafer is fixed to a dicing apparatus and cut into 10 mm x 10 mm chip sizes at a speed of 100 mm / sec. After irradiating with an exposure dose of 200 mJ / cm 2 from the bottom surface of the wafer through a UV curing machine, the pick-up property was evaluated in a pickup device.

비교예Comparative example 2 2

8인치 웨이퍼 사이즈에 맞게 [제조예 1]에서 코팅한 고정용 접착제층(12)을 절단한다. 고정용 접착제층(12)면에 [제조예 4]에서 코팅한 하부 점착층(32)을 합지하여 적층된 필름을 얻었다. 적층된 필름을 사용하여 고정용 접착제층(12)가 두께 80미크론의 웨이퍼 배면에 놓이게 한 후 링 프레임을 사용하여 60℃ 온도에서 0.1MPa의 압력으로 웨이퍼 마운트 공정을 실시한다. 이때 링 프레임의 배면에는 하부 점착층(32)가 접착되어 있다. 뒤이어 다이싱 장치에 웨이퍼 마운트가 끝난 웨이퍼를 고정하고, 100mm/sec의 속도에서 10mm × 10mm 칩 크기로 절단한다. 다시 UV 경화기를 통하여 웨이퍼 아래면에서 200mJ/cm2의 노광량으로 조사한 후 픽업 장치에서 픽업성을 평가하였다. The fixing adhesive layer 12 coated in [Production Example 1] is cut to fit an 8-inch wafer size. The lower adhesive layer 32 coated in [Production Example 4] was laminated on the surface of the fixing adhesive layer 12 to obtain a laminated film. Using the laminated film, the fixing adhesive layer 12 is placed on the back of the wafer having a thickness of 80 microns, and then a wafer mount process is performed using a ring frame at a pressure of 0.1 MPa at a temperature of 60 ° C. At this time, the lower adhesive layer 32 is attached to the back of the ring frame. Subsequently, the wafer-mounted wafer is fixed to a dicing apparatus and cut into 10 mm x 10 mm chip sizes at a speed of 100 mm / sec. After irradiating with an exposure dose of 200 mJ / cm 2 from the bottom surface of the wafer through a UV curing machine, the pick-up property was evaluated in a pickup device.

실시예Example  And 비교예에서In the comparative example 제조된 적층 필름의 물성 평가 Evaluation of physical properties of the manufactured laminated film

상기 실시예 1 내지 2 및 비교예 1 내지 2에 의해 제조된 적층 필름의 물성을 다음과 같이 평가하여 그 결과를 하기 표 1에 나타내었다.The physical properties of the laminated films prepared by Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 were evaluated as follows, and the results are shown in Table 1 below.

(1) 다이싱 공정시 칩 플라잉(Chip Flying) : 다이싱 장치에 웨이퍼 마운트가 끝난 웨이퍼를 고정하고, 100mm/sec의 속도에서 10mm × 10mm 칩 크기로 절단한다. 이때 점착제 표면으로부터 칩의 날림 현상이 있는지 여부를 관찰한다.(1) Chip Flying During Dicing Process: A wafer mounted wafer is fixed to a dicing apparatus and cut into 10 mm x 10 mm chip sizes at a speed of 100 mm / sec. At this time, it is observed whether there is a flying phenomenon of the chip from the pressure-sensitive adhesive surface.

(2) 다이싱 후 세정시 칩 플라잉(Chip Flying) : 다이싱이 끝난 웨이퍼를 30,000r.p.m.으로 회전시키면서 초순수로 세정한다. 이때 칩의 날림 현상이 있는지 여부를 관찰한다.(2) Chip Flying during Dicing Cleaning: The wafer is cleaned with ultrapure water while the dicing wafer is rotated at 30,000 r.p.m. At this time, observe whether there is a chip blowing phenomenon.

(3) 다이싱 공정 시 링 프레임과 그와 인접한 점착층과의 필 박리력(Peel strength) : 링 프레임과 점착층을 180°필 박리력 측정(3) Peel strength between the ring frame and the adhesive layer adjacent thereto during the dicing process: 180 ° peel force measurement of the ring frame and the adhesive layer

측정 조건 - 로드 셀(load cell) : 5N, 속도 : 500mm/min, 시편 : 15mm Measurement condition-Load cell: 5N, Speed: 500mm / min, Specimen: 15mm

(4) 픽업 성공률 : 픽업 장치를 통하여 픽업시 성공율을 표시하였다.(4) Success rate of pickup: The success rate of pickup through the pickup device is displayed.

(5) 고정용 접착제층(12)과 그와 인접한 점착층과의 필 박리력(Peel strength) : (5) Peel strength between the fixing adhesive layer 12 and the adhesive layer adjacent thereto:

고정용 접착제층(12)과 점착층을 180°필 박리력 측정  180 ° peeling force measurement of the fixing adhesive layer 12 and the adhesive layer

측정 조건 - 로드 셀(load cell) : 5N, 속도 : 500mm/min, 시편 : 15mm   Measurement condition-Load cell: 5N, Speed: 500mm / min, Specimen: 15mm

Figure 112006053257664-pat00001
Figure 112006053257664-pat00001

상기 표 1을 통해서 확인되는 바와 같이, 고정용 접착제와 인접한 상부 점착층(22)은 점착력이 낮아 픽업성이 우수하고 링 프레임과 인접한 하부 점착층(32)은 점착력이 높아 웨이퍼 고정성이 높기 때문에 비교예 1 및 2 보다 다이싱 공정시 칩 플라잉이 없고 픽업이 우수하다.As can be seen from Table 1, since the upper adhesive layer 22 adjacent to the fixing adhesive has low adhesive force, the pick-up property is excellent, and the lower adhesive layer 32 adjacent to the ring frame has high adhesive force and high wafer fixability. There is no chip flying in the dicing process and pick-up is superior to Comparative Examples 1 and 2.

이상에서 바람직한 구현예를 들어 설명하였으나, 본 발명은 본 발명의 보호범위를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시될 수 있으므로, 이러한 다양한 변형예들도 본 발명의 보호 범위 내에 포함되는 것으로 해석되어야 한다. Although the preferred embodiments have been described above, the present invention can be practiced in various ways within the scope not departing from the protection scope of the present invention, it should be construed that such various modifications are also included within the protection scope of the present invention. do.

본 발명의 다이싱 다이 본드 필름은 다이싱 공정 및 다이싱 후 세정 공정에서는 웨이퍼의 링 프레임에 대한 고정력이 우수하여 칩 플라잉(chip flying)이 없고, 픽업 공정에서는 접착제층과 부착력이 낮아 박리가 잘 되기 때문에 픽업 성공율이 우수하여 박막의 웨이퍼 사용에도 적합하다. The dicing die bond film of the present invention is excellent in the fixing force to the ring frame of the wafer in the dicing process and the post-dicing cleaning process, there is no chip flying, and in the pick-up process, the adhesive layer and the adhesive force are low, so the peeling is easy. As a result, the pick-up success rate is excellent, which is suitable for use of thin wafers.

Claims (8)

지지 기재층, 점착층, 및 고정용 접착제층를 포함하는 다이싱 다이 본드 필름에 있어서, 상기 점착층이 상기 지지 기재층 위에 적층된 하부 점착층 및 상기 하부 점착층 위에 적층된 상부 점착층을 포함하고, 및 A dicing die bond film comprising a support base layer, a pressure-sensitive adhesive layer, and a fixing adhesive layer, wherein the pressure-sensitive adhesive layer includes a lower pressure-sensitive adhesive layer laminated on the support base material layer and an upper pressure-sensitive adhesive layer laminated on the lower pressure-sensitive adhesive layer. , And 상기 하부 점착층과 링 프레임 사이의 필 박리력(Peel strength)이 0.007N/mm 내지 1.000 N/mm 이고, 상기 상부 점착층과 상기 고정용 접착제층 사이의 필 박리력(Peel strength)이 UV경화 후 0.002 N/mm 내지 0.020 N/mm인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이 본드 필름.Peel strength between the lower adhesive layer and the ring frame (Peel strength) is 0.007N / mm to 1.000 N / mm, Peel strength between the upper adhesive layer and the fixing adhesive layer is UV curing Dicing die bond film, characterized in that from 0.002 N / mm to 0.020 N / mm. 삭제delete 제 1항에 있어서, 상기 상부 점착층은 고형분 100중량부 기준 According to claim 1, wherein the upper adhesive layer is based on 100 parts by weight of solid content 아크릴 공중합체 30 내지 90중량부 ;30 to 90 parts by weight of the acrylic copolymer; 불포화 결합을 갖는 아크릴화합물 10 내지 70중량부 ; 및 10 to 70 parts by weight of an acrylic compound having an unsaturated bond; And 광개시제 0.1 내지 10중량부를 포함하는 조성물로 형성되는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이 본드 필름.Dicing die bond film, characterized in that formed from a composition comprising 0.1 to 10 parts by weight of the photoinitiator. 제 3항에 있어서, 상기 상부 점착층에 사용된 아크릴 공중합체는 유리전이온도가 -30℃ 이상임을 특징으로 하는 다이싱 다이 본드 필름.The dicing die bond film of claim 3, wherein the acrylic copolymer used in the upper adhesive layer has a glass transition temperature of −30 ° C. or higher. 제 3항에 있어서, 상기 불포화결합을 갖는 아크릴 화합물이 우레탄계 아크릴수지, 에폭시 아크릴 수지, 폴리에스테르 아크릴 수지 및 폴리에테르 아크릴 수지로 구성되는 군에서 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이 본드 필름.The dicing die bond film according to claim 3, wherein the acrylic compound having an unsaturated bond is any one selected from the group consisting of urethane-based acrylic resins, epoxy acrylic resins, polyester acrylic resins, and polyether acrylic resins. . 제 5항에 있어서, 상기 불포화 결합 함유 아크릴 화합물의 중량 평균 분자량이 500 내지 10,000인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이 본드 필름. The dicing die bond film according to claim 5, wherein the unsaturated bond-containing acrylic compound has a weight average molecular weight of 500 to 10,000. 제 1항, 제 3항 및 제 4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 지지 기재층은 폴리프로필렌, 폴리에틸렌, 폴리에스테르, 폴리카보네이트, 에틸렌-초산비닐 공중합체, 에틸렌-프로필렌 공중합체, 에틸렌-에틸 아크릴레이트 공중합체 및 폴리 염화비닐로 구성된 군에서 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이 본드 필름.The support substrate layer according to any one of claims 1, 3, and 4, wherein the support base layer is polypropylene, polyethylene, polyester, polycarbonate, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-propylene copolymer, ethylene-ethyl Dicing die bond film, characterized in that any one selected from the group consisting of acrylate copolymer and polyvinyl chloride. 제 1항, 제 3항 및 제 4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 상부 점착층은 경화제 및 무기입자 중 하나 이상을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이 본드 필름.The dicing die bond film of claim 1, wherein the upper adhesive layer further comprises at least one of a curing agent and inorganic particles.
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