KR100752237B1 - 페이스트 디스펜서의 노즐과 갭 센서 사이의 거리 측정방법 - Google Patents

페이스트 디스펜서의 노즐과 갭 센서 사이의 거리 측정방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100752237B1
KR100752237B1 KR1020060091435A KR20060091435A KR100752237B1 KR 100752237 B1 KR100752237 B1 KR 100752237B1 KR 1020060091435 A KR1020060091435 A KR 1020060091435A KR 20060091435 A KR20060091435 A KR 20060091435A KR 100752237 B1 KR100752237 B1 KR 100752237B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
nozzle
gap sensor
paste
distance
axis
Prior art date
Application number
KR1020060091435A
Other languages
English (en)
Korean (ko)
Inventor
길준식
Original Assignee
주식회사 탑 엔지니어링
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 탑 엔지니어링 filed Critical 주식회사 탑 엔지니어링
Priority to KR1020060091435A priority Critical patent/KR100752237B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100752237B1 publication Critical patent/KR100752237B1/ko
Priority to CNB2007101541828A priority patent/CN100547467C/zh
Priority to TW096135107A priority patent/TWI357540B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/16—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring distance of clearance between spaced objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/28—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/24—Manufacture or joining of vessels, leading-in conductors or bases

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
KR1020060091435A 2006-09-20 2006-09-20 페이스트 디스펜서의 노즐과 갭 센서 사이의 거리 측정방법 KR100752237B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060091435A KR100752237B1 (ko) 2006-09-20 2006-09-20 페이스트 디스펜서의 노즐과 갭 센서 사이의 거리 측정방법
CNB2007101541828A CN100547467C (zh) 2006-09-20 2007-09-19 用于测量喷嘴与传感器之间的x轴和y轴方向距离的方法
TW096135107A TWI357540B (en) 2006-09-20 2007-09-20 Method for measuring x-axis and y-axis direction d

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060091435A KR100752237B1 (ko) 2006-09-20 2006-09-20 페이스트 디스펜서의 노즐과 갭 센서 사이의 거리 측정방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100752237B1 true KR100752237B1 (ko) 2007-08-28

Family

ID=38615440

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060091435A KR100752237B1 (ko) 2006-09-20 2006-09-20 페이스트 디스펜서의 노즐과 갭 센서 사이의 거리 측정방법

Country Status (3)

Country Link
KR (1) KR100752237B1 (zh)
CN (1) CN100547467C (zh)
TW (1) TWI357540B (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010016738A2 (ko) * 2008-08-08 2010-02-11 주식회사 탑 엔지니어링 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정장치, 그 상대위치측정장치가 장착되는 페이스트 디스펜서 및 그 상대위치측정장치를 이용한 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정방법
KR100965903B1 (ko) * 2008-12-19 2010-06-24 에이피시스템 주식회사 실 디스펜서 장치의 제어 방법
CN102170975A (zh) * 2008-08-08 2011-08-31 塔工程有限公司 测量激光距离传感器的光点与头单元的喷嘴排放孔的相对位置的装置及方法、具有该装置的密封胶涂布机
KR101074666B1 (ko) 2009-09-14 2011-10-19 주식회사 탑 엔지니어링 페이스트 디스펜서 및 페이스트 도포방법
KR101089748B1 (ko) 2009-10-19 2011-12-07 에이피시스템 주식회사 도포장치의 제어 방법
KR101089749B1 (ko) 2009-11-27 2011-12-07 에이피시스템 주식회사 도포장치 및 이의 제어 방법
CN102314004A (zh) * 2010-07-09 2012-01-11 塔工程有限公司 阵列测试装置
CN102841562A (zh) * 2012-09-26 2012-12-26 苏州工业园区职业技术学院 两轴全自动高速点胶机器人伺服控制系统
KR101498607B1 (ko) * 2008-09-19 2015-03-05 주식회사 탑 엔지니어링 페이스트 패턴의 검사대상부분을 선정하는 방법

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101089747B1 (ko) * 2009-07-29 2011-12-07 에이피시스템 주식회사 도포 장치의 제어 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030078666A (ko) * 2002-03-28 2003-10-08 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 기판처리장치
KR20050011708A (ko) * 2003-07-23 2005-01-29 동경 엘렉트론 주식회사 도포방법 및 도포장치
KR20060077333A (ko) * 2004-12-30 2006-07-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치용 시일재 도포장치를 사용한 시일재 도포방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030078666A (ko) * 2002-03-28 2003-10-08 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 기판처리장치
KR20050011708A (ko) * 2003-07-23 2005-01-29 동경 엘렉트론 주식회사 도포방법 및 도포장치
KR20060077333A (ko) * 2004-12-30 2006-07-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치용 시일재 도포장치를 사용한 시일재 도포방법

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010016738A2 (ko) * 2008-08-08 2010-02-11 주식회사 탑 엔지니어링 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정장치, 그 상대위치측정장치가 장착되는 페이스트 디스펜서 및 그 상대위치측정장치를 이용한 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정방법
WO2010016738A3 (ko) * 2008-08-08 2010-06-10 주식회사 탑 엔지니어링 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정장치, 그 상대위치측정장치가 장착되는 페이스트 디스펜서 및 그 상대위치측정장치를 이용한 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정방법
CN102170975A (zh) * 2008-08-08 2011-08-31 塔工程有限公司 测量激光距离传感器的光点与头单元的喷嘴排放孔的相对位置的装置及方法、具有该装置的密封胶涂布机
KR101498607B1 (ko) * 2008-09-19 2015-03-05 주식회사 탑 엔지니어링 페이스트 패턴의 검사대상부분을 선정하는 방법
KR100965903B1 (ko) * 2008-12-19 2010-06-24 에이피시스템 주식회사 실 디스펜서 장치의 제어 방법
KR101074666B1 (ko) 2009-09-14 2011-10-19 주식회사 탑 엔지니어링 페이스트 디스펜서 및 페이스트 도포방법
KR101089748B1 (ko) 2009-10-19 2011-12-07 에이피시스템 주식회사 도포장치의 제어 방법
KR101089749B1 (ko) 2009-11-27 2011-12-07 에이피시스템 주식회사 도포장치 및 이의 제어 방법
CN102314004A (zh) * 2010-07-09 2012-01-11 塔工程有限公司 阵列测试装置
CN102841562A (zh) * 2012-09-26 2012-12-26 苏州工业园区职业技术学院 两轴全自动高速点胶机器人伺服控制系统

Also Published As

Publication number Publication date
TW200817858A (en) 2008-04-16
CN101118354A (zh) 2008-02-06
CN100547467C (zh) 2009-10-07
TWI357540B (en) 2012-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100752237B1 (ko) 페이스트 디스펜서의 노즐과 갭 센서 사이의 거리 측정방법
KR101175284B1 (ko) 페이스트 디스펜서 및 그 제어방법
KR101129193B1 (ko) 페이스트 디스펜서의 제어방법
KR100750939B1 (ko) 액정적하장치
KR100778147B1 (ko) 액정 디스플레이 패널 제조용 디스펜싱 장치
KR101234088B1 (ko) 어레이 테스트 장치
KR20120069141A (ko) 노즐세정장치 및 노즐세정장치가 구비되는 페이스트 디스펜서
KR100807824B1 (ko) 페이스트 디스펜서
KR101074666B1 (ko) 페이스트 디스펜서 및 페이스트 도포방법
KR20120077289A (ko) 어레이 테스트 장치
TWI462780B (zh) 分配器設備及其控制方法
KR20110028778A (ko) 페이스트 도포방법
KR100965903B1 (ko) 실 디스펜서 장치의 제어 방법
KR101871171B1 (ko) 페이스트 디스펜서
KR100794641B1 (ko) 디스펜서의 액체 잔량 검출방법
KR101346782B1 (ko) 실런트 도포 상태에 근거한 액정 적하량 결정 방법
KR20080105669A (ko) 잉크젯 헤드의 정렬 장치 및 방법
KR101631527B1 (ko) 페이스트 패턴의 리페어방법 및 그 방법에 의하여 리페어된 페이스트 패턴을 가지는 기판
TWI389744B (zh) 控制塗施設備的方法
KR100822894B1 (ko) 페이스트 도포장치의 단면적 측정 위치 보정방법
KR100746305B1 (ko) 페이스트 디스펜서의 헤드 유닛
KR101110018B1 (ko) 페이스트 디스펜서의 제어방법
KR101096710B1 (ko) 액정표시장치용 시일재 도포장치를 사용한 시일재 도포방법
KR101196721B1 (ko) 페이스트 디스펜서 및 그 제어방법
KR101650378B1 (ko) 페이스트 디스펜서

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130528

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140418

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150519

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160620

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170621

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180618

Year of fee payment: 12