KR100667551B1 - 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.
본 발명은 제1기저전압보다 작은 제1셋다운전압, 스캔기준전압, 스캔전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 스캔전극을 구동하는 스캔 구동부와, 제2기저전압보다 작은 제2셋다운전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 서스테인전극을 구동하는 서스테인 구동부와, 제3기저전압보다 큰 어드레스전압을 이용하여 어드레스전극을 구동하는 어드레스 구동부를 포함하되, 제1기저전압과 상기 제2기저전압이 제2기저전압보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 제공한다.
이에 따라, 스캔 구동부에 포함된 스위치들의 내압 전압 및 스위칭 전압을 제거하여 저가격화할 수 있으며 부극성 구동전압을 사용하여 저전압 구동이 가능하다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법{APPARATUS AND METHOD OF DRIVING PLASMA DISPLAY PANEL}
도 1은 플라즈마 디스플레이 패널에서 216 계조를 구현하기 위한 8 비트 디폴트 코드의 서브필드 패턴을 나타내는 도면.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 구동파형을 나타내는 도면.
도 3은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치을 나타내는 도면.
도 4는 도 3의 데이터펄스에 따른 피크성 전류의 발생도.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 도면.
도 6은 도 5에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치에 의해 생성되는 구동 파형을 나타내는 도면.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
12 : 스캔 구동부 14 : 서스테인 구동부
16 : 어드레스 구동부 18 : 제2셋다운전압 공급부
20 : 제1셋다운전압 공급부 22 : 스캔기준전압 공급부
24 : 스캔전압 공급부 25 : 스캔집적회로
26 : 제1서스테인펄스 공급부
28 : 제1서스테인전압 공급부 30 : 제1기저전압 공급부
32 : 제2서스테인펄스 공급부 34 : 제2서스테인전압 공급부
36 : 제2기저전압 공급부
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.
플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel)은 He+Xe, Ne+Xe, He+Xe+Ne 등의 불활성 혼합가스가 방전할 때 발생하는 자외선을 이용하여 형광체를 여기 발광시킴으로써 화상을 표시한다. 이러한, PDP는 박막화와 대형화가 용이할 뿐만 아니라 최근의 기술 개발에 힘입어 화질이 향상되고 있다.
도 1은 플라즈마 디스플레이 패널에서 216 계조를 구현하기 위한 8 비트 디폴트 코드의 서브필드 패턴을 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 플라즈마 디스플레이 패널은 화상의 계조를 구현하기 위해 한 프레임을 발광횟수가 다른 여러 서브필드로 나누어 시분할 구동한다. 각 서브필드는 전화면을 초기화시키기 위한 리셋기간, 스캔라인을 선택하고 선택된 스캔라인에서 방전셀을 선택하기 위한 어드레스기간 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인기간으로 나누어진다. 예를 들어, 216 계조로 화상을 표시하고자 하는 경우에 1/20 초에 해당하는 프레임 기간(16.67ms)은 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8) 로 나누어지게 된다. 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 전술한 바와 같이, 리셋기간(RP), 어드레스기간(AP) 및 서스테인기간(SP)으로 나누어진다. 이때, 각 서브필드의 리셋기간(RP)과 어드레스기간(AP)은 각 서브필드마다 동일한 반면에 서스테인 기간과 그에 할당되는 서스테인펄스의 수는 각 서브필드에서 2n(n=0,1,2,3,4,5,6,7)의 비율로 증가된다.
도 2는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 파형을 나타내는 도면이다.
도 2를 참조하면, 서브필드(SF) 각각은 전화면의 방전셀들을 초기화하기 위한 리셋기간(RP), 방전셀을 선택하기 위한 어드레스기간(AP) 및 선택된 방전셀들의 방전을 유지시키기 위한 서스테인기간(SP)을 포함한다.
리셋기간(RP)에 있어서, 셋업기간(SU)에는 모든 스캔전극들(Y)에 상승 램프파형(PR)이 동시에 인가된다. 이 상승 램프파형(PR)에 의해 전화면의 셀들 내에는 미약한 방전(셋업방전)이 일어나게 되어 셀들 내에 벽전하가 생성된다. 셋다운기간(SD)에는 상승 램프파형(PR)이 인가된 후, 상승 램프파형(PR)의 피크전압보다 낮은 정극성(+)의 서스테인전압(Vs)에서 부극성의 스캔전압(-Vy)까지 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형(NR)이 스캔전극들(Y)에 동시에 인가된다. 하강 램프파형(NR)은 셀들 내에 미약한 소거방전을 일으킴으로써 셋업방전에 의해 생성된 벽전하 및 공간전하 중 불요전하를 소거시켜 전화면의 셀들 내에 어드레스방전에 필요한 벽전하를 균일하게 잔류시킨다.
어드레스기간(AP)에는 부극성(-)의 스캔펄스(SCNP)가 스캔전극들(Y)에 순차 적으로 인가됨과 동시에 어드레스전극들에 정극성(+)의 데이터펄스(DP)가 인가된다. 이 스캔펄스(SCNP)와 데이터펄스(DP)의 전압차와 리셋기간(RP)에 생성된 벽전압이 더해지면서 데이터펄스(DP)가 인가되는 셀 내에는 어드레스방전이 발생된다. 어드레스방전에 의해 선택된 셀들 내에는 벽전하가 생성된다.
한편, 셋다운기간(SD)과 어드레스기간(AP) 동안에 서스테인전극들(Z)에는 정극성(+)의 서스테인전압(Vs)이 인가된다.
서스테인기간(SP)에는 스캔전극들(Y)과 서스테인전극들(Z)에 교번적으로 서스테인펄스(SUSP)가 인가된다. 그러면, 어드레스방전에 의해 선택된 셀은 셀 내의 벽전압과 서스테인펄스(SUSP)가 더해지면서 매 서스테인펄스(SUSP)가 인가될 때 마다 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 면방전 형태로 서스테인방전이 일어난다. 여기서, 서스테인펄스들(SUSP)은 서스테인전압(Vs)과 동일한 전압값을 갖는다.
이와 같은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널은 스캔전극(Y)에 리셋펄스(PR, NR)를 공급할 때 높은 정극성의 전압과 부극성의 스캔전압(-Vy)을 공급하기 때문에 두 전압 간의 차이를 제어 또는 절연하기 위해 높은 내압을 갖는 스위치 소자를 사용하거나 별도의 스위치 소자를 사용하여야 하였다. 이에 따라, 종래의 플라즈마 디스플레이 패널은 비용이 증가하는 문제점이 있다.
또한, 높은 정극성의 전압과 부극성의 스캔전압(-Vy)을 절연하기 위해 사용되는 높은 내압을 갖는 스위치 소자로 인해 회로 전체의 임피던스가 커지게 되므로 많은 노이즈가 발생 될 뿐만 아니라 오버 슈트(Over Shoot)나 언더 슈트(Under Shoot)가 커지게 된다. 이에 따라, 많은 전자파 장애(Electro Magnetic Interference : EMI)가 발생 되어 신뢰성이 저하되는 문제점이 있다.
도 3은 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 종래 플라즈마 디스플레이 패널(40)은, 타이밍 콘트롤러(도시하지 않음)로부터 공급되는 타이밍 제어신호에 응답하여, 스캔펄스(SCNP)를 스캔전극(Y)에 공급하는 스캔 구동부(42)과, 서스테인펄스(SUSP)를 서스테인전극(Z)에 공급하는 서스테인 구동부(44)과, 데이터펄스(DP)를 어드레스전극(X)에 공급하는 어드레스 구동부(46)와, 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z), 어드레스전극(X)이 교차하는 위치에 형성된 방전셀(48)을 갖는다.
그런데, 종래 플라즈마 디스플레이 패널(40)은 스캔 구동부(42)와 서스테인 구동부(44), 어드레스 구동부(46)가 구동할 때 어드레스기간(RP) 동안 어드레스 구동시 어드레스전극(X)에 가해지는 특정한 데이터펄스(DP)에 따라 어드레스 구동부(46)에 피크성 노이즈가 유입되어 어드레스 구동부(46)가 심하게 발열하는 문제점이 있었다.
도 4는 도 3의 데이터펄스에 따른 피크성 전류의 발생도이다.
도 4를 참조하면, 어드레스전극(X)과 스캔 및 서스테인전극(Y, Z) 사이에 방전셀을 충방전할 때, 어드레스 구동시 어드레스전극(X)에 가해지는 특정한 데이터펄스(DP)에 따라 피크성 전류(peak current)가 어드레스 구동부(46)에 유입되어 어드레스 구동부(46)에 발열이 생기는 문제점이 있다. 또한, 선택된 방전셀(48)이 서스테인기간(SP) 동안 서스테인 구동시 서스테인전극(Z)에서 발생되는 방전의 영향이 어드레스전극(X)과 커플링되어 어드레스전극(X)에 영향을 미치는 문제점이 있 었다. 이와 같이 어드레스 구동부(46)와 어드레스전극(X)의 발열은 어드레스 구동시 오작동을 야기하는 심각한 문제점을 발생하였다.
따라서, 본 발명의 목적은 구성이 단순하여 저가격화할 수 있으며, 부극성 구동을 사용하여 저전압 구동이 가능한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법을 제공하는 데 있다.
또한, 본 발명의 또다른 목적은 서스테인 방전에 의해 어드레스 구동부가 영향을 받지 않으며 형광체의 손상을 방지할 수 있는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법을 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 제1기저전압보다 작은 제1셋다운전압, 스캔기준전압, 스캔전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 스캔전극을 구동하는 스캔 구동부와, 제2기저전압보다 작은 제2셋다운전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 서스테인전극을 구동하는 서스테인 구동부와, 제3기저전압보다 큰 어드레스전압을 이용하여 어드레스전극을 구동하는 어드레스 구동부를 포함하되, 제1기저전압과 상기 제2기저전압이 제2기저전압보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 제공한다.
이때, 스캔 구동부의 제1기저전압과 상기 서스페인 구동부의 제2기저전압이 상기 어드레스 구동부의 제3기저전압보다 작거나 같을 수도 있다.
또다른 측면에서, 본 발명은, 부극성의 제1셋다운전압, 스캔기준전압, 스캔 전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 스캔전극을 구동하는 스캔 구동부와, 부극성의 제2셋다운전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 서스테인전극을 구동하는 서스테인 구동부와, 양극성의 어드레스전압을 이용하여 어드레스전극을 구동하는 어드레스 구동부를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 제공한다.
이때, 제2셋다운전압이 제1셋다운전압보다 앞서 공급될 수 있다. 또한, 제1기저전압이 스캔기준전압보다 클 수 있다.
또한, 스캔 구동부는, 패널 커패시터의 스캔전극에 기저전압에서 부극성의 제1셋다운전압까지 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형을 공급하는 제1셋다운전압 공급부와, 제1셋다운전압 공급부와 병렬로 접속되어 패널 커패시터의 스캔전극에 스캔전압을 갖는 스캔전압펄스를 공급하는 스캔전압 공급부와, 제1셋다운전압 공급부와 스캔전압 공급부와 병렬로 접속되어 제1기저전압 및 스테인전압을 갖는 제1서스테인펄스를 패널 커패시터의 스캔전극에 공급하는 제1서스테인펄스 공급부와, 제1셋다운전압 공급부와 스캔전압 공급부와 병렬로 접속되어 스캔기준전압을 상기 패널 커패시터의 스캔전극에 공급하는 스캔기준전압 공급부를 포함할 수 있다.
또한, 제1서스테인펄스 공급부는, 패널 커패시터의 스캔전극에 제1기저전압을 공급하기 위한 제1기저전압 공급부와, 패널 커패시터의 스캔전극에 서스테인전압을 공급하기 위한 제1서스테인전압 공급부를 포함할 수 있다.
또한, 서스테인 구동부는, 패널 커패시터의 서스테인전극에 접속되어 패널 커패시터의 서스테인전극에 제2기저전압을 공급하는 제2기저전압 공급부와, 제2셋다운전압을 패널 커패시터의 서스테인전극에 공급하기 위한 제2셋업전압 공급부와, 제2기저전압과 서스테인전압을 갖는 제2서스테인펄스를 패널 커패시터의 서스테인전극에 공급하기 위한 제2서스테인펄스 공급부를 포함할 수 있다.
또다른 측면에서, 본 발명은, 리셋기간 동안 패널 커패시터의 스캔전극에 제1기저전압에서 부극성의 제1셋다운전압까지 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형을 공급함과 아울러 패널 커패시터의 서스테인전극에 부극성의 서스테인전압을 공급하는 리셋단계와, 어드레스기간 동안 패널 커패시터의 스캔전극에 부극성의 스캔기준전압에서 스캔전압까지의 스캔전압펄스를 공급함과 아울러 패널 커패시터의 서스테인전극에 제2기저전압을 공급하며, 패널 커패시터의 어드레스 전극에 제3기저전압에서 어드레스전압까지의 어드레스펄스를 공급하는 어드레스단계와, 서스테인기간 동안 제1기저전압 및 부극성의 서스테인전압을 갖는 제1서스테인펄스와 제2기저전압 및 부극성의 서스테인전압을 갖는 제2서스테인펄스를 패널 커패시터의 스캔전극 및 서스테인전극에 교대로 공급하는 서스테인단계를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 제공한다.
이때, 제1기저전압과 제2기저전압이 제3기저전압보다 작거나 같을 수 있다.
또한, 부극성의 서스테인전압은 피크전압에서 소정의 기울기로 상승하는 상승 램프파형을 플로팅시킨 제2셋다운전압을 추가로 포함할 수도 있다.
또한, 제2셋다운전압이 제1셋다운전압보다 앞서 공급될 수 있다.
이하, 도 5 내지 도 12를 참조하여 본 발명의 일실시예를 상세히 설명한다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 도면이며, 도 6은 도 5에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치에 의해 생성되는 구동 파형을 나타내는 도면이다.
도 5 및 도 6을 참조하여 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 각 기간별 구동 파형을 설명한다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치(10)는 기저전압(GND) 및 부극성의 전압을 이용하여 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)을 구동하는 스캔 구동부(12)와, 기저전압(GND) 및 부극성의 전압을 이용하여 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)을 구동하는 서스테인 구동부(14), 데이터전압(Va)을 이용하여 패널 커패시터(Cp2, Cp3)의 어드레스전극(X)을 구동하는 어드레스 구동부(16)를 포함한다.
이때, 도 5의 패널 커패시터(Cp1)는 플라즈마 디스플레이 패널(10)의 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 사이에 형성되는 정전용량을 등가적으로 나타낸 것이다. 이러한, 패널 커패시터(Cp1)는 스캔전극(Y) 및 서스테인전극(Z)에 공급된 서스테인펄스에 의해 서스테인 방전을 발생한다. 패널 커패시터(Cp2, Cp3)는 플라즈마 디스플레이 패널(10)의 어드레스전극(X)과 각각 스캔전극(Y) 및 서스테인전극(Z) 사이에 형성되는 정전용량을 등가적으로 나타낸 것이다.
스캔 구동부
스캔 구동부(12)는 리셋기간(RP) 동안 제1기저전압(GND1)에서 부극성(-)의 제1셋다운전압(-Vset dn)까지 하강하는 하강 램프파형을 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)에 공급함과 아울러 어드레스기간(AP) 동안 부극성의 스캔기준전압(-Vsc) 및 부극성의 스캔전압(-Vy)을 갖는 스캔펄스(SCNP)를 공급한다. 또한, 스캔 구동부(12)는 서스테인기간(SP) 동안 제1기저전압(GND1) 및 부극성의 서스테인전압(-Vs)을 갖는 제1서스테인펄스를 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)에 공급한다.
이러한, 스캔 구동부(12)는 제1셋다운전압 공급부(20)와 스캔기준전압 공급부(22), 스캔전압 공급부(24), 스캔 집적회로(Intergrated Circuit; 이하 "IC"라 함, 25), 제1서스테인펄스 공급부(26)를 포함한다.
제1셋다운전압 공급부(20)는 제1노드(N1)에 스캔전압 공급부(24)와 서스테인펄스 공급부(26)와 병렬로 접속되어 있다. 제1셋다운전압 공급부(20)는 리셋기간(RP) 중 소정의 기간(T2) 동안 타이밍 콘트롤러(도시하지 않음)로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 응답하여 제1기저전압(GND1)에서 부극성의 제1셋다운전압(-Vset dn)까지 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형을 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)에 공급한다. 이러한, 제1셋다운전압 공급부(20)는 제1노드(N1)와 부극성의 셋다운전압전압원 사이에 접속된 제1스위치(SW1)와 제1스위치(SW1)의 게이트 단자에 접속된 제1가변저항(R1)을 포함한다.
스캔기준전압 공급부(22)는 제1노드(N1)와 사이에 스캔 집적회로(24)와 직렬로 접속되어 있다. 스캔기준전압 공급부(22)는 어드레스기간(AP) 중 소정의 기간(T3, T5) 동안 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)에 부극성의 스캔기준전압(-Vsc) 을 공급한다.
스캔기준전압 공급부(22)는 타이밍 콘트롤러로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 응답하여 스캔 집적회로(25)의 제2스위치(SW2)를 온시켜 스캔기준전압원(-Vsc)을 제2노드(N2)에 전기적으로 접속시키므로 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)에 부극성의 스캔기준전압(-Vsc)을 공급한다. 이때, 스캔 집적회로(25)의 제3스위치(SW3)는 제2노드(N2)에 접속되어 있다.
스캔전압 공급부(24)는 제1노드(N1)에 제1셋다운전압 공급부(20)와 병렬적으로 접속되어 있다. 스캔전압 공급부(24)는 어드레스기간(AP)의 소정의 시간(T4) 동안 부극성의 스캔기준전압(-Vsc) 및 부극성의 스캔전압(-Vy)을 갖는 스캔펄스(SCNP)를 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)에 공급한다. 이러한, 스캔전압 공급부(24)는 스캔전압원(-Vy)과 제1노드(N1) 사이에 접속된 제4스위치(SW4)를 포함한다.
제4스위치(SW4)는 타이밍 콘트롤러로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 응답하여 스캔전압원(-Vy)으로부터 공급되는 부극성의 스캔전압(-Vy)을 제1노드(N1)에 전달한다. 이에 따라, 어드레스기간에 제1노드(N1)에는 부극성의 스캔전압(-Vy)이 전달된다.
제1서스테인펄스 공급부(26)는 서스테인기간(SP) 중 특정 기간(T6 내지 T9) 동안 제1기저전압(GND1) 및 부극성의 서스테인전압(-Vs)을 갖는 제1서스테인펄스를 패널 커패시터(Cp1)의 스캔전극(Y)에 공급한다. 이러한, 제1서스테인펄스 공급부(26)는 부극성의 서스테인전압(-Vs)을 공급하는 제1서스테인전압 공급부(28)와 제1기저전압(GND1)을 공급하는 제1기저전압 공급부(30)로 구성된다.
제1서스테인전압 공급부(28)는 제1노드(N1)에 접속되어 서스테인기간 중 특정 기간(T6 내지 T9) 동안 제1기저전압 공급부(30)와 교번적으로 패널 커패시터(Cp)의 스캔전극(Y)에 부극성의 서스테인전압(-Vs)을 공급한다. 이러한, 제1서스테인전압 공급부(28)는 부극성의 서스테인전압원(-Vs)과 제 1 노드(N1) 사이에 접속된 제5스위치(SW5)를 포함한다.
제5스위치(SW5)는 타이밍 콘트롤러로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 응답하여 부극성의 서스테인전압원(-Vs)을 제1노드(N1)에 전기적으로 접속시킨다.
제1기저전압 공급부(30)는 제1노드(N1)에 접속되어 서스테인기간에 패널 커패시터(Cp)의 스캔전극(Y)에 기저전압(GND)을 공급한다. 이러한, 제1기저전압 공급부(30)는 기저전압원(GND)과 제1셋다운전압 공급부(20) 및 제1서스테인전압 공급부(28)의 공통 노드인 제1노드(N1) 사이에 접속된 제6스위치(SW6)를 포함한다.
제6스위치(SW6)는 타이밍 콘트롤러로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 응답하여 기저전압원(GND)을 제 1 노드(N1)에 전기적으로 접속시킨다. 이에 따라, 서스테인기간에 제 1 노드(N1)에는 기저전압(GND)이 전달된다.
이러한, 제6스위치(SW6)는 서스테인기간 동안 제5스위치(SW5)와 교번적으로 동작한다. 이에 따라, 서스테인기간에 제 1 노드(N1)에는 기저전압(GND) 및 부극성의 서스테인전압(-Vs)이 교번적으로 전달된다.
스캔 집적회로(25)는 제1노드(N1)와 스캔기준전압 공급원(-Vsc) 사이에 푸쉬풀 형태로 접속되는 제2스위치(SW2) 및 제3스위치(SW3)를 포함한다. 여기서, 제2스위치(SW2)와 제3스위치(SW3)의 공통 노드(N2)는 패널 커패시터(Cp)의 스캔전극(Y) 에 접속된다. 따라서, 제2스위치(SW2)는 타이밍 제어부의 스위칭 제어신호에 의해 스캔기준전압 공급원(-Vsc)과 제2노드(N2) 사이에 접속되어 스캔전극(Y)에 부극성의 스캔기준전압(-Vsc)을 공급하고, 제3스위치(SW3)는 제2노드(N2)와 제1노드(N1)에 접속되어 타이밍 제어부의 스위칭 제어신호에 의하여 제1노드(N1)에 접속된 제1셋다운전압 공급원(20) 및 스캔전압 공급부(24), 제1서스테인전압 공급부(28), 제1기저전압 공급 부(30)를 제2노드(N 2)에 접속된 스캔전극(Y)에 부극성의 제1셋다운전압(-Vset dn) 및 스캔전압(-Vy), 제1서스테인전압(-Vs), 제1기저전압(GND1)을 공급한다.
서스테인 구동부
다시 도 5를 참조하면, 서스테인 구동부(14)는 리셋기간(RP)의 특정 기간(T1) 동안 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형의 부극성의 제2셋다운전압(-V'set dn)을 공급한다.
또한, 서스테인 구동부(14)는 어드레스기간(AP)의 특정 기간(T2 내지 T5) 동안 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 제2기저전압(GND2)을 공급한다. 또한, 서스테인 구동부(14)는 서스테인기간(SP)의 특정 기간((T6 내지 T9) 동안 제2기저전압(GND2) 및 서스테인전압(-Vs)을 갖는 제2서스테인펄스를 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 공급한다. 여기서, 제2서스테인펄스는 제1서스테인펄스 공급부(26)의 제1서스테인펄스와 순차적으로 공급된다.
이러한, 서스테인 구동부(14)는 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 제 2셋다운전압(-V'set dn)을 공급하기 위한 제2셋다운전압 공급부(31)와 제2서스테인펄스를 공급하기 위한 제2서스테인펄스 공급부(32)를 포함한다.
제2셋다운전압 공급부(31)는 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 접속되어 리셋기간(RP)의 소정의 기간(T1)에 부극성의 특정 전압에서 부극성의 제2셋다운전압(-V'set dn)까지 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형을 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 공급한다.
제2셋업전압 공급부(31)는 부극성의 제2셋다운전압원(-V'set dn)과 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z) 사이에 위치하는 제7스위치(SW7)와 제7스위치(SW7)의 게이트 단자에 접속된 제2가변저항(R2)을 포함한다.
제7스위치(SW7)는 타이밍 콘트롤러로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 응답하여 제2셋다운전압원(-Vset dn)을 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 전기적으로 접속한다. 이때 제2가변저항(R2)은 제2셋다운전압원(-V'set dn)으로부터 공급되는 제2셋다운전압(-Vset dn)의 기울기를 제어한다.
제2서스테인펄스 공급부(32)는 서스테인기간 동안 제2서스테인펄스를 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 공급한다. 이러한, 제2서스테인펄스 공급부(32)는 부극성의 서스테인전압(-Vs)을 공급하는 제2서스테인전압 공급부(34)와 제2기저전압(GND)을 공급하는 제2기저전압 공급부(36)로 구성된다.
제2서스테인전압 공급부(32)는 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 접속되어 서스테인기간 동안 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 부극성의 서스테인전압(-Vs)을 공급한다. 이러한, 제2서스테인전압 공급부(732는 부극성의 서스 테인전압원(-Vs)과 서스테인전극(Z) 사이에 접속된 제8스위치(SW8)를 포함한다.
제8스위치(SW8)는 타이밍 콘트롤러로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 따라 서스테인전압원(-Vs)을 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 전기적으로 접속시킨다. 이에 따라, 서스테인기간에 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에는 부극성의 서스테인전압(-Vs)이 공급된다.
제2기저전압 공급부(36)는 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 접속되어 어드레스기간 동안 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 제2기저전압(GND2)을 공급함과 아울러 서스테인기간 동안 제2서스테인전압 공급부(34)와 교번적으로 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 제2기저전압(GND2)을 공급한다. 이러한, 제2기저전압 공급부(36)는 제3기저전압원(GND)과 서스테인전극(Z) 사이에 접속된 제9스위치(SW9)를 포함한다.
제9스위치(SW9)는 타이밍 콘트롤러로부터 공급되는 스위칭 제어신호에 응답하여 제2기저전압원(GND2)을 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에 전기적으로 접속시킨다. 이러한, 제9스위치(SW9)는 서스테인기간 동안 제8스위치(SW8)와 교번적으로 동작한다. 이에 따라, 서스테인기간에 패널 커패시터(Cp1)의 서스테인전극(Z)에는 제2기저전압(GND2) 및 부극성의 서스테인전압(-Vs)이 교번적으로 공급된다.
한편, 위에서 설명한 각각의 스위치들(SW1 내지 SW9)은 바디 다이오드가 내장된 전계효과트랜지스터(Field Effect Transistor; FET)가 사용되는 것이 바람직하나 이에 제한되지 않는다.
이와 같이, 스캔 구동부(12)와 서스테인 구동부(14)의 리셋 및 스캔, 서스테인 전압들을 모두 부극성 전압과 파형을 사용하므로 정극성 전압과 부극성 전압을 동시에 사용하던 종래의 구동장치(40)에서 존재하던 패스 스위치들을 사용할 필요가 없으며, 저전압 구동을 가능하게 한다. 이에 따라 구동장치(10)를 단순화할 수 있다.
또한, 스캔전극과 서스테인전극에 부극성 전압과 파형을 인가하므로 질량이 큰 양이온이 스캔전극과 서스테인전극으로 이동한다. 따라서, 어드레스전극이 위치하는 방향에 형성된 형광체에 질량이 큰 양이온이 충격을 가하지 않게 되어 형광체의 손상을 방지할 수 있다. 이에 따라, 플라즈마 디스플레이 패널을 장수명화할 수도 있다.
어드레스 구동부
어드레스 구동부(16)는 데이터전압(Va)를 패널 커패시터(Cp2, Cp3)의 어드레스전극(X)을 공급한다. 어드레스 구동부(16)는 미도시의 제3기저전압 공급부와 어드레스 전압공급부를 포함하여 어드레스기간(AP)의 특정 기간(T4)에 제3기저전압(GND3)과 양극성의 어드레스전압(Va)을 갖는 어드레스펄스 또는 데이터펄스를 어드레스전극(X)에 공급하게 된다.
이때 제3기저전압(GND3)은 스캔 구동부(12)의 제1기저전압(GND1)과 서스테인 구동부(14)의 제2기저전압(GND2)과 같거나 커서 서스테인기간(SP) 동안 서스테인전극(Z)에서 발생되는 방전의 영향이 어드레스전극(X)과 커플링되어 어드레스전극(X) 에 영향을 미치지 않도록 한다. 이때 제1기저전압과 제2기저전압, 제3기저전압은 각각 그라운드상태인 것이 바람직하나, 부극성값 또는 정극성값을 가질 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.
이러한 구성에 따라, 본 발명은 스캔 구동부에 포함된 스위치들의 내압 전압 및 스위칭 전압을 제거하여 저가격화할 수 있으며, 부극성 구동전압을 사용하여 저전압 구동이 가능한 효과가 있다.
또한, 본 발명은 어드레스 구동부의 기저전압을 스캔 구동부나 서스테인 구동부의 기저전압과 같거나 높게 하여 서스테인 방전시 어드레스 구동부가 영향을 받지 않는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 부극성 스캔 및 서스테인전압을 사용하므로 형광체의 손상을 방지할 수 있는 효과도 있다.
이에 따라, 비용을 줄임과 아울러 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Claims (12)

  1. 제1기저전압보다 작은 제1셋다운전압, 스캔기준전압, 스캔전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 스캔전극을 구동하는 스캔 구동부와;
    제2기저전압보다 작은 제2셋다운전압 및 서스테인전압을 이용하여 상기 패널 커패시터의 서스테인전극을 구동하는 서스테인 구동부와;
    제3기저전압보다 큰 어드레스전압을 이용하여 어드레스전극을 구동하는 어드레스 구동부를 포함하되,
    상기 제1기저전압과 상기 제2기저전압이 상기 제2기저전압보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  2. 부극성의 제1셋다운전압, 스캔기준전압, 스캔전압 및 서스테인전압을 이용하여 패널 커패시터의 스캔전극을 구동하는 스캔 구동부와;
    부극성의 제2셋다운전압 및 서스테인전압을 이용하여 상기 패널 커패시터의 서스테인전극을 구동하는 서스테인 구동부와;
    양극성의 어드레스전압을 이용하여 어드레스전극을 구동하는 어드레스 구동부를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 스캔 구동부의 제1기저전압과 상기 서스페인 구동부의 제2기저전압이 상기 어드레스 구동부의 제3기저전압보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2셋다운전압이 상기 제1셋다운전압보다 앞서 공급되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 제1기저전압이 상기 스캔기준전압보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  6. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 스캔 구동부는,
    상기 패널 커패시터의 스캔전극에 상기 기저전압에서 부극성의 제1셋다운전압까지 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형을 공급하는 제1셋다운전압 공급부와,
    상기 제1셋다운전압 공급부와 병렬로 접속되어 상기 패널 커패시터의 스캔전극에 상기 스캔전압을 갖는 스캔전압펄스를 공급하는 스캔전압 공급부와,
    상기 제1셋다운전압 공급부와 상기 스캔전압 공급부와 병렬로 접속되어 상기 제1기저전압 및 상기 스테인전압을 갖는 제1서스테인펄스를 상기 패널 커패시터의 스캔전극에 공급하는 제1서스테인펄스 공급부와,
    상기 제1셋다운전압 공급부와 상기 스캔전압 공급부와 병렬로 접속되어 상기 스캔기준전압을 상기 패널 커패시터의 스캔전극에 공급하는 스캔기준전압 공급부를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제1서스테인펄스 공급부는,
    상기 패널 커패시터의 스캔전극에 상기 제1기저전압을 공급하기 위한 제1기저전압 공급부와,
    상기 패널 커패시터의 스캔전극에 상기 서스테인전압을 공급하기 위한 제1 서스테인전압 공급부를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  8. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 서스테인 구동부는,
    상기 패널 커패시터의 서스테인전극에 접속되어 상기 패널 커패시터의 서스테인전극에 제2기저전압을 공급하는 제2기저전압 공급부와,
    상기 제2셋다운전압을 상기 패널 커패시터의 서스테인전극에 공급하기 위한 제2셋업전압 공급부와,
    상기 제2기저전압과 상기 서스테인전압을 갖는 제2서스테인펄스를 상기 패널 커패시터의 서스테인전극에 공급하기 위한 제2서스테인펄스 공급부를 포함하는 플 라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  9. 리셋기간 동안 패널 커패시터의 스캔전극에 제1기저전압에서 부극성의 제1셋다운전압까지 소정의 기울기로 하강하는 하강 램프파형을 공급함과 아울러 상기 패널 커패시터의 서스테인전극에 부극성의 서스테인전압을 공급하는 리셋단계와;
    어드레스기간 동안 상기 패널 커패시터의 스캔전극에 부극성의 스캔기준전압에서 스캔전압까지의 스캔전압펄스를 공급함과 아울러 상기 패널 커패시터의 서스테인전극에 제2기저전압을 공급하며, 상기 패널 커패시터의 어드레스 전극에 제3기저전압에서 어드레스전압까지의 어드레스펄스를 공급하는 어드레스단계와;
    서스테인기간 동안 제1기저전압 및 부극성의 서스테인전압을 갖는 제1서스테인펄스와 제2기저전압 및 부극성의 서스테인전압을 갖는 제2서스테인펄스를 상기 패널 커패시터의 스캔전극 및 서스테인전극에 교대로 공급하는 서스테인단계를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 제1기저전압과 제2기저전압이 제3기저전압보다 작거나 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  11. 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,
    상기 부극성의 서스테인전압은 피크전압에서 소정의 기울기로 상승하는 상승 램프파형을 플로팅시킨 제2셋다운전압을 추가로 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 제2셋다운전압이 상기 제1셋다운전압보다 앞서 공급되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
KR1020050059412A 2005-07-01 2005-07-01 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치 및 그 구동방법 KR100667551B1 (ko)

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