KR100563132B1 - Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor - Google Patents

Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor Download PDF

Info

Publication number
KR100563132B1
KR100563132B1 KR1019990030146A KR19990030146A KR100563132B1 KR 100563132 B1 KR100563132 B1 KR 100563132B1 KR 1019990030146 A KR1019990030146 A KR 1019990030146A KR 19990030146 A KR19990030146 A KR 19990030146A KR 100563132 B1 KR100563132 B1 KR 100563132B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
voltage
protection circuit
ray
ray protection
Prior art date
Application number
KR1019990030146A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20010010981A (en
Inventor
김종린
Original Assignee
현대 이미지퀘스트(주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 현대 이미지퀘스트(주) filed Critical 현대 이미지퀘스트(주)
Priority to KR1019990030146A priority Critical patent/KR100563132B1/en
Publication of KR20010010981A publication Critical patent/KR20010010981A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100563132B1 publication Critical patent/KR100563132B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/16Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by deflecting electron beam in cathode-ray tube, e.g. scanning corrections
    • H04N3/18Generation of supply voltages, in combination with electron beam deflecting
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/04Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
    • H04N17/045Self-contained testing apparatus

Abstract

본 발명은 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray protection circuit test circuit of a monitor.

본 발명은 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 플라이백 펄스 감지 전압 V2가 인가되면 고압 감지 회로(50)가 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 된 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 유저가 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치를 온시킴에 따라서 키 신호가 MCU(60)로 입력되면 MCU(60)가 하이 신호를 출력하여 전압 분배부(40)의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)를 턴온시켜 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2를 고압 감지 회로(50)에 인가시키도록 되어 있다.According to the present invention, when the flyback pulse detection voltage V2 is applied to the high pressure sensing circuit 50 or more, the high pressure sensing circuit 50 stops the operation by blocking the output of the horizontal / vertical / high voltage driving circuit 10 so as to stop operation. When a key signal is input to the MCU 60 as the user turns on the key switch mounted on the outside of the monitor to test whether the X-ray protection circuit is designed to prevent the radiation from being emitted from the CRT. The MCU 60 outputs a high signal to turn on the X-ray test transistor Q1 to which the collector and emitter are connected at both ends of the resistor R1 or R3 of the voltage divider 40 to short the collector and emitter. The pulse sensing voltage V2 having a predetermined value or higher is applied to the high voltage sensing circuit 50.

X-선보호회로,X-ray보호회로,X-선보호회로테스트회로X-ray protection circuit, X-ray protection circuit, X-ray protection circuit test circuit

Description

모니터의 엑스선 보호 회로 테스트 회로 { Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor } Test circuit for X-ray protection circuit in a monitor}             

도 1은 종래의 X-선 보호 회로를 도시한 구성도,1 is a block diagram showing a conventional X-ray protection circuit,

도 2는 도 1의 X-선 보호 회로의 동작 특성을 도시한 그래프,2 is a graph showing the operating characteristics of the X-ray protection circuit of FIG.

도 3은 X-선 보호 회로에 접속되어 있는 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로를 도시한 구성도이다.3 is a configuration diagram showing an X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention connected to the X-ray protection circuit.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10: 수평/수직/고압 구동 회로 20: 고압 회로10: horizontal / vertical / high voltage drive circuit 20: high voltage circuit

30: 정류부 40: 전압 분배부30: rectifier 40: voltage divider

41: 테스트 지그 50: 고압 감지 회로41: test jig 50: high pressure detection circuit

60: MCU Q1: 트랜지스터60: MCU Q1: transistor

D1: 다이오드 C1,C2: 커패시터D1: Diode C1, C2: Capacitor

R1,R2,R3: 저항R1, R2, R3: resistance

본 발명은 모니터의 X-선 보호 회로에 관한 것이며, 보다 상세히는 모니터의 MCU에 키 신호를 입력하여 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하도록 된 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray protection circuit of a monitor, and more particularly, to an X-ray protection circuit test circuit of a monitor configured to test whether the X-ray protection circuit operates normally by inputting a key signal to the monitor's MCU. will be.

일반적으로 CRT를 디스플레이 부품으로 채용하는 모니터는 CRT로 20kV 이상의 아노드 고압이 인가됨에 따라서 방출되는 X-선으로부터 인체를 보호하기 위한 X-선 보호 회로를 구비하고 있다.In general, a monitor employing a CRT as a display component includes an X-ray protection circuit for protecting a human body from X-rays emitted by an anode high voltage of 20 kV or more.

상기 X-선 보호 회로는 CRT의 아노드 고압이 높아질수록 방출량이 증가하는 X-선이 소정의 규정치 이상이 되면 모니터의 수평/수직/고압 구동 회로의 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 방출되는 것을 방지한다.The X-ray protection circuit stops the operation of the horizontal / vertical / high voltage drive circuit of the monitor when the X-rays whose emission amount increases as the anode high pressure of the CRT becomes higher than a predetermined value are emitted. Prevent it.

상기와 같은 종래의 X-선 보호 회로의 동작을 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the conventional X-ray protection circuit as described above will be described with reference to FIG. 1.

모니터의 수평/수직/고압 구동 회로(10)가 정상적으로 동작함에 따라서 FBT를 포함하는 고압 회로(20)가 CRT로 20kV 이상의 아노드 고압을 인가시킴과 동시에 아노드 고압의 크기에 비례하여 크기가 증가하는 소정의 플라이백 펄스를 출력하면 서로 병렬 연결된 다이오드 D1과 커패시터 C1로 구성된 정류부(30)가 상기 플라이백 펄스를 직류 전압으로 정류하고, 직렬 연결된 저항 R1, R3와 저항 R3에 병렬 연결된 저항 R2 및, 저항 R2에 병렬 연결된 잡음 제거용 커패시터 C2로 구성된 전압 분배부(40)가 상기 정류부(30)의 출력 전압 V1을 전압 분배하여 최종적으로 출력하는 펄스 감지 전압 V2가 규정치 이상이면 고압 감지 회로(50)가 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지한다.As the horizontal / vertical / high voltage drive circuit 10 of the monitor operates normally, the high voltage circuit 20 including the FBT applies an anode high voltage of 20 kV or more to the CRT and increases in size in proportion to the magnitude of the anode high voltage. When a predetermined flyback pulse is outputted, the rectifier 30 including the diode D1 and the capacitor C1 connected in parallel rectifies the flyback pulse with a DC voltage, and the resistor R2 connected in parallel with the resistors R1, R3 and R3 connected in series. When the voltage divider 40 including the noise removing capacitor C2 connected in parallel to the resistor R2 divides the output voltage V1 of the rectifier 30 and finally outputs the pulse sensing voltage V2, the high voltage sensing circuit 50 ) Stops the operation of the horizontal / vertical / high voltage drive circuit 10 to stop the operation, thereby preventing X-rays above the prescribed value from being emitted from the CRT.

이때, 상기 정류부(30)의 출력 전압 V1과 상기 고압 감지 회로(50)의 입력 전압 V2는 아래의 수학식 1에 의해 구해진다.In this case, the output voltage V1 of the rectifier 30 and the input voltage V2 of the high voltage sensing circuit 50 are obtained by Equation 1 below.

Figure 111999008479615-pat00001
Figure 111999008479615-pat00001

통상적으로 CRT의 아노드 고압이 약 30kV 이상이 될 때 CRT에서 방출되는 X-선 양이 인체에 악영향을 미치는 규제치에 가까워지기 때문에 종래의 X-선 보호 회로는 대부분 아노드 고압이 약 30kV 정도로 상승하면 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하여 X-선이 방출되지 않도록 한다.In general, when the anode high pressure of the CRT is about 30 kV or more, the amount of X-rays emitted from the CRT approaches a limit that adversely affects the human body, and thus, the conventional X-ray protection circuit mostly increases the anode high pressure to about 30 kV. If so, the output of the horizontal / vertical / high voltage driving circuit 10 is interrupted to stop the operation so that X-rays are not emitted.

예컨대, CRT의 아노드 고압이 30kV 이상이 되면 상기 고압 감지 회로(50)의 입력 전압 V2가 2.5V 이상이 되도록 도 1에 도시된 전압 분배부(40)의 저항 R1, R2, R3의 값을 설정하였을 때, 실제로 CRT의 아노드 고압이 30kV 이상이 되면 도 2에 도시된 그래프에 나타낸 바와 같이, 상기 고압 감지 회로(50)의 입력 전압 V2가 VX2=2.5V가 되는 지점에서 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력이 차단되어 CRT의 아노드 고압이 다운된다.For example, when the anode high voltage of the CRT is 30 kV or more, the values of the resistors R1, R2, and R3 of the voltage divider 40 shown in FIG. 1 are set such that the input voltage V2 of the high voltage sensing circuit 50 is 2.5 V or more. When it is set, when the anode high voltage of the CRT is actually 30 kV or more, as shown in the graph shown in FIG. 2, the horizontal / when the input voltage V2 of the high voltage sensing circuit 50 becomes V X2 = 2.5V. The output of the vertical / high voltage drive circuit 10 is cut off so that the anode high voltage of the CRT is down.

특히, 상기와 같이 작동하는 X-선 보호 회로는 미국 건강 보건 기구(DHHS)의 규정에 의거 모니터 제조 라인에서 매일 일정량을 테스트하여 그 정상 작동 여부를 확인하도록 되어 있는데, 종래에는 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 지그(41)를 이용하여 상기 전압 분배부(50)의 저항 R3(또는 R1)의 양단을 쇼트시켜 상기 고압 감지 회로(50)에 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 하므로써 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하였다.In particular, the X-ray protection circuit operating as described above is to test a certain amount every day in the monitor manufacturing line in accordance with the regulations of the United States Health and Health Organization (DHHS) to check whether or not the normal operation, as shown in FIG. As described above, by shorting both ends of the resistor R3 (or R1) of the voltage divider 50 using the test jig 41 so that the pulse-sensing voltage V2 equal to or higher than the prescribed value is applied to the high-voltage sensing circuit 50. The line protection circuit was tested for normal operation.

하지만, 상기와 같이 테스트 지그(41)를 사용하면 비록 쇼트시키고자하는 저항(R1 또는 R3)의 위치를 정확하게 설정하더라도 모니터가 대형화됨에 따라서 기구물(예컨대, 히트 싱크류)의 구조가 복잡해지기 때문에 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기가 쉽지 않을 뿐만 아니라, 수조작에 따른 테스트 시간이 많이 소요되어 제품 제조 공정 시간이 늘어나고 테스트 도중에 다른 부품과의 접촉이 있으면 제품 불량을 유발할 수 있는 문제점이 있다.However, when the test jig 41 is used as described above, even if the position of the resistor R1 or R3 to be shorted is set correctly, the structure of the apparatus (eg, heat sink) becomes complicated as the monitor is enlarged. It is not only easy to test the operation of the line protection circuit, but also it takes a lot of test time for manual operation, which increases the manufacturing time of the product, and if there is contact with other parts during the test, it may cause product defects. have.

따라서, 본 발명은 상술한 종래의 문제점을 극복하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 테스트 지그를 사용하지 않고 모니터의 외부에 장착되는 별도의 키 스위치를 온시켜 모니터의 MCU에 키 신호를 입력하여 상기 전압 분배부에 있는 특정 한 저항을 쇼트시키고 상기 고압 감지 회로에 규정치 이상의 펄스 감지 전압을 인가시키므로써 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하도록 된 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로를 제공하는데 있다.
Therefore, the present invention is to overcome the above-mentioned conventional problems, an object of the present invention is to turn on a separate key switch mounted on the outside of the monitor without using a test jig to input the key signal to the MCU of the monitor to It provides a monitor's X-ray protection circuit test circuit, which is designed to test whether the X-ray protection circuit is operating normally by shorting a specific resistor in the voltage divider and applying a pulse sensing voltage above the prescribed value to the high voltage sensing circuit. have.

상기 본 발명의 목적을 달성하기 위한 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 고압 회로가 아노드 고압의 크기에 비례하여 크기가 증가하는 플라이백 펄스를 출력하면 정류부가 플라이백 펄스를 직류 전압으로 정류하고, 전압 분배 저항 R1, R3와 잡음 제거용 커패시터 C2로 구성된 전압 분배부가 상기 정류부의 출력 전압 V1을 전압 분배하여 최종적으로 출력하는 펄스 감지 전압이 규정치 이상이면 고압 감지 회로가 수평/수직/고압 구동 회로의 출력을 차단하여 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 된 X-선 보호 회로에 있어서,In the X-ray protection circuit test circuit of the monitor for achieving the object of the present invention, if the high-voltage circuit outputs a flyback pulse of increasing magnitude in proportion to the magnitude of the anode high voltage rectifier rectifies the flyback pulse to a DC voltage If the voltage divider consisting of voltage divider resistors R1, R3 and noise canceling capacitor C2 divides the output voltage V1 of the rectifier and finally outputs the pulse sensed voltage above the specified value, the high voltage sense circuit operates horizontal / vertical / high voltage. An X-ray protection circuit in which the output of the circuit is cut off to prevent the emission of more than a prescribed X-ray from the CRT,

상기 전압 분배부의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 X-선 테스트 트랜지스터, 및, 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치가 온됨에 따라서 소정의 키 신호가 입력되면 상기 X-선 테스트 트랜지스터의 베이스에 하이 신호를 인가시켜 상기 X-선 테스트 트랜지스터의 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 상기 고압 감지 회로로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 하여 유저가 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 판별할 수 있도록 하는 MCU로 구성된다.
The X-ray test transistor having a collector and an emitter connected to both ends of the resistor R1 or R3 of the voltage divider, and a predetermined key signal is input when the key switch mounted on the outside of the monitor is turned on. A high signal is applied to the base of the test transistor to short-circuit the collector and emitter of the X-ray test transistor so that the pulse sensing voltage V2 above the prescribed value is applied to the high voltage sensing circuit so that the user can operate the X-ray protection circuit normally. It consists of MCU that can determine whether or not.

상기와 같은 구성에 따른 본 발명의 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 상기 고압 감지 회로로 규정치 이상의 플라이백 펄스 감지 전압 V2가 인가되면 상 기 고압 감지 회로가 상기 수평/수직/고압 구동 회로의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 된 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 유저가 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치를 온시킴에 따라서 키 신호가 상기 MCU로 입력되면 상기 MCU가 하이 신호를 출력하여 상기 전압 분배부의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 상기 X-선 테스트 트랜지스터를 턴온시켜 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2를 상기 고압 감지 회로에 인가시키도록 되어 있다.
X-ray protection circuit test circuit of the monitor of the present invention according to the configuration as described above is applied to the high-voltage sensing circuit, if the flyback pulse detection voltage V2 or more than the prescribed value is applied to the high-voltage sensing circuit of the horizontal / vertical / high voltage driving circuit. The user can turn on the key switch on the outside of the monitor to test the normal operation of the X-ray protection circuit, which is designed to prevent the output of X-rays from the CRT from exceeding the specified value by shutting off the output. Therefore, when a key signal is input to the MCU, the MCU outputs a high signal to turn on the X-ray test transistor in which the collector and the emitter are connected at both ends of the resistor R1 or R3 of the voltage divider, thereby shorting the collector and the emitter. By doing so, a pulse sensing voltage V2 of a predetermined value or more is applied to the high voltage sensing circuit.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3을 참조하면, 고압 회로(20)는 FBT를 포함하고 있으며, 모니터의 수평/수직/고압 구동 회로(10)가 정상적으로 동작함에 따라서 CRT로 아노드 고압을 인가시킴과 동시에 아노드 고압의 크기에 비례하여 크기가 증가하는 소정의 플라이백 펄스를 출력한다.Referring to FIG. 3, the high voltage circuit 20 includes an FBT, and as the horizontal / vertical / high voltage driving circuit 10 of the monitor operates normally, the anode high voltage is applied to the CRT and the magnitude of the anode high pressure. Outputs a predetermined flyback pulse whose magnitude increases in proportion to.

정류부(30)는 서로 병렬 연결된 다이오드 D1과 커패시터 C1로 구성되며, 상기 고압 회로(20)의 플라이백 펄스를 직류 전압으로 정류한다.The rectifier 30 includes a diode D1 and a capacitor C1 connected in parallel to each other, and rectifies the flyback pulse of the high voltage circuit 20 to a DC voltage.

전압 분배부(40)는 직렬 연결된 저항 R1, R3와 저항 R3에 병렬 연결된 저항 R2 및, 저항 R2에 병렬 연결된 잡음 제거용 커패시터 C2로 구성되며, 상기 정류부(30)의 출력 전압 V1을 전압 분배하여 최종적으로 펄스 감지 전압 V2를 출력한다.The voltage divider 40 includes a resistor R2 connected in series with a resistor R1, R3 and a resistor R3, and a noise canceling capacitor C2 connected in parallel with the resistor R2. The voltage divider 40 divides the output voltage V1 of the rectifier 30 by voltage division. Finally, the pulse sensing voltage V2 is output.

고압 감지 회로(50)는 상기 전압 분배부(40)로부터 출력되어 인가되는 펄스 감지 전압 V2가 CRT로부터 규정치 이상의 X-선이 방출되는 것을 방지하기 위하여 미리 설정한 규정치 이상이 되면 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지한다.The high voltage sensing circuit 50 outputs the horizontal / vertical / vertical voltage when the pulse sensing voltage V2 output from the voltage divider 40 is greater than or equal to a predetermined value to prevent X-rays from exceeding a predetermined value from the CRT. By interrupting the output of the high voltage drive circuit 10 to stop the operation, X-rays above the prescribed value are prevented from being emitted from the CRT.

X-선 테스트 트랜지스터(Q1)는 상기 전압 분배부(40)의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되며, 베이스로 하이 신호가 인가되면 턴온되어 컬렉터와 이미터를 쇼트시키고 로우 신호가 인가되면 턴오프된다.The X-ray test transistor Q1 has a collector and an emitter connected to both ends of the resistor R1 or R3 of the voltage divider 40. When a high signal is applied to the base, the X-ray test transistor Q1 is turned on to short the collector and the emitter, and a low signal. When is applied, it is turned off.

MCU(60)는 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치(도시하지 않음)가 온됨에 따라서 소정의 키 신호가 입력되면 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 베이스에 하이 신호를 인가시켜 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 상기 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 하여 유저가 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 판별할 수 있도록 한다.The MCU 60 applies a high signal to the base of the X-ray test transistor Q1 when a predetermined key signal is input as a key switch (not shown) mounted on the outside of the monitor is turned on. By shorting the collector and the emitter of the line test transistor Q1, the pulse sensing voltage V2 above the prescribed value is applied to the high voltage sensing circuit 50 so that the user can determine whether the X-ray protection circuit is normally operated. .

상기와 같은 구성에 의해서 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 다음과 같이 작동한다.With the above configuration, the X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention operates as follows.

도 3에 도시된 X-선 보호 회로는 도 1에 도시된 X-선 보호 회로와 동일하게 작동하므로, 도 3에 도시된 X-선 보호 회로에 대한 상세한 동작 설명은 생략한다.Since the X-ray protection circuit shown in FIG. 3 operates in the same manner as the X-ray protection circuit shown in FIG. 1, a detailed operation description of the X-ray protection circuit shown in FIG. 3 is omitted.

상기 X-선 보호 회로는 상기 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되면 상기 고압 감지 회로(50)가 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 되어 있다.The X-ray protection circuit stops operation by blocking the output of the horizontal / vertical / high voltage driving circuit 10 when a pulse sensing voltage V2 of a predetermined value or more is applied to the high voltage sensing circuit 50. This is to prevent X-rays above the prescribed value from being emitted from the CRT.

따라서, 유저가 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하려면 상기 고압 감지 회로(50)에 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 했을 때 상기 고압 감지 회로(50)가 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하는가를 확인하면 된다.Therefore, when the user wants to test whether the X-ray protection circuit operates normally, when the pulse sensing voltage V2 is applied to the high voltage sensing circuit 50 above a prescribed value, the high voltage sensing circuit 50 is driven in a horizontal / vertical / high voltage manner. What is necessary is to check whether the operation | movement is stopped by interrupting the output of the circuit 10.

본 발명에서는 종래의 테스트 지그(41)를 사용하는 대신에, 유저가 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치를 온시키면 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트할 수 있도록 되어 있다.In the present invention, instead of using the conventional test jig 41, when the user turns on the key switch mounted on the outside of the monitor to test whether the X-ray protection circuit operates normally, the X-ray protection circuit It is possible to test the normal operation of.

실제로, 유저가 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 상기 키 스위치를 온시키면 소정의 키 신호가 상기 MCU(60)로 입력되며, 상기 키 신호가 상기 MCU(60)로 입력되면 상기 MCU(60)는 하이 신호를 출력하여 상기 전압 분배부(40)의 저항 R3(또는 R1)의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)를 턴온시켜 컬렉터와 이미터를 쇼트시킨다.In fact, when a user turns on the key switch to test whether the X-ray protection circuit operates normally, a predetermined key signal is input to the MCU 60, and the key signal is input to the MCU 60. The MCU 60 outputs a high signal to turn on the X-ray test transistor Q1 to which the collector and the emitter are connected at both ends of the resistor R3 (or R1) of the voltage divider 40, thereby turning on the X-ray test transistor Q1. Short the rotor.

상기와 같이 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 컬렉터와 이미터가 쇼트됨에 따라서 상기 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되었을 때 상기 고압 감지 회로(50)가 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하면 X-선 보호 회로는 정상적으로 작동하는 것으로 판별되지만, 반대로 상기 고압 감지 회로(50)가 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하지 않으면 X-선 보호 회로는 비정상적으로 작동하는 것으로 판별된다.As described above, when the collector and the emitter of the X-ray test transistor Q1 are short-circuited, when the pulse sensing voltage V2 is applied to the high voltage sensing circuit 50 above a predetermined value, the high voltage sensing circuit 50 causes the horizontal / vertical operation. When the output of the high voltage drive circuit 10 is stopped to stop the operation, the X-ray protection circuit is determined to operate normally, but, on the contrary, the high pressure detection circuit 50 of the horizontal / vertical / high voltage drive circuit 10 If the output is not interrupted to stop operation, the X-ray protection circuit is determined to be operating abnormally.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 테스트 지그를 사용하지 않고 모니터의 외부에 장착되는 별도의 키 스위치를 온시켜 모니터의 MCU에 키 신호를 입력하여 상기 전압 분배부에 있는 특정한 저항을 쇼트시키고 상기 고압 감지 회로에 규정치 이상의 펄스 감지 전압을 인가시키므로써 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하도록 되어 있기 때문에, 테스트 시간을 단축하여 제품 제조 공정 시간을 줄일 수 있으며 용이하고 정확한 테스트를 할 수 있으므로 제품의 불량을 감소시킬 수 있는 효과가 있다. As described above, the X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention turns on a separate key switch mounted on the outside of the monitor without using a test jig to input a key signal to the MCU of the monitor to divide the voltage divider. By short-circuiting a specific resistor in the circuit and applying a pulse-sensing voltage above the specified voltage to the high-voltage sensing circuit, the X-ray protection circuit can be tested for normal operation, thus reducing test time and reducing product manufacturing process time. Easy and accurate test can be used to reduce product defects.                     


이상에서 설명한 것은 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로를 실시하기 위한 하나의 실시예에 불과한 것으로서, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구의 범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능할 것이다.

What has been described above is only one embodiment for implementing the X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention, and the present invention is not limited to the above-described embodiment, and is claimed in the following claims. Various modifications can be made by those skilled in the art without departing from the gist of the present invention.

Claims (1)

고압 회로(20)가 아노드 고압의 크기에 비례하여 크기가 증가하는 플라이백 펄스를 출력하면 정류부(30)가 플라이백 펄스를 직류 전압으로 정류하고, 전압 분배 저항 R1, R3와 잡음 제거용 커패시터 C2로 구성된 전압 분배부(40)가 상기 정류부(30)의 출력 전압 V1을 전압 분배하여 최종적으로 출력하는 펄스 감지 전압(V2)이 규정치 이상이면 고압 감지 회로(50)가 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 된 X-선 보호 회로에 있어서,When the high voltage circuit 20 outputs a flyback pulse whose magnitude increases in proportion to the magnitude of the anode high voltage, the rectifier 30 rectifies the flyback pulse into a DC voltage, the voltage divider resistors R1 and R3 and the noise removing capacitor. When the voltage divider 40 configured by C2 divides the output voltage V1 of the rectifier 30 and finally outputs the pulse sensed voltage V2 that is equal to or higher than the prescribed value, the high-voltage sense circuit 50 drives horizontal / vertical / high voltage. In the X-ray protection circuit, to cut off the output of the circuit 10 to prevent the emission of more than a prescribed X-ray from the CRT 상기 전압 분배부(40)의 전압 분배 저항(R1,R3)의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 X-선 테스트 트랜지스터(Q1), 및An X-ray test transistor Q1 having a collector and an emitter connected to both ends of the voltage divider resistors R1 and R3 of the voltage divider 40, and 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치가 온됨에 따라서 소정의 키 신호가 입력되면 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 베이스에 하이 신호를 인가시켜 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 상기 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 하여 유저가 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 판별할 수 있도록 하는 MCU(60)When a predetermined key signal is input as the key switch mounted on the outside of the monitor is turned on, a high signal is applied to the base of the X-ray test transistor Q1, so that it is already connected to the collector of the X-ray test transistor Q1. By shorting the emitter, the high-pressure sensing circuit 50 applies a pulse-sensing voltage V2 above a predetermined value so that the user can determine whether the X-ray protection circuit operates normally. 를 포함하는 것을 특징으로 하는 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로.X-ray protection circuit test circuit of the monitor comprising a.
KR1019990030146A 1999-07-24 1999-07-24 Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor KR100563132B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990030146A KR100563132B1 (en) 1999-07-24 1999-07-24 Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990030146A KR100563132B1 (en) 1999-07-24 1999-07-24 Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010010981A KR20010010981A (en) 2001-02-15
KR100563132B1 true KR100563132B1 (en) 2006-03-21

Family

ID=19604266

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990030146A KR100563132B1 (en) 1999-07-24 1999-07-24 Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100563132B1 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR910008275Y1 (en) * 1985-09-25 1991-10-15 삼성전자 주식회사 X-ray radiation protecting circuit for tv
JPH07336553A (en) * 1994-06-03 1995-12-22 Funai Electric Co Ltd Stopping circuit at abnormal time for video equipment
JPH0865537A (en) * 1994-08-17 1996-03-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd X-ray protection device
KR19980032643U (en) * 1996-12-04 1998-09-05 김영환 Surge voltage protection circuitry for vertical and horizontal sink processors
KR19980055103A (en) * 1996-12-28 1998-09-25 배순훈 X-Ray Auto Detection Warning TV
KR19990007328U (en) * 1997-07-31 1999-02-25 배순훈 X-ray protection circuit of monitor
KR19990039675A (en) * 1997-11-13 1999-06-05 구자홍 X-ray protection circuit and protection method

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR910008275Y1 (en) * 1985-09-25 1991-10-15 삼성전자 주식회사 X-ray radiation protecting circuit for tv
JPH07336553A (en) * 1994-06-03 1995-12-22 Funai Electric Co Ltd Stopping circuit at abnormal time for video equipment
JPH0865537A (en) * 1994-08-17 1996-03-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd X-ray protection device
KR19980032643U (en) * 1996-12-04 1998-09-05 김영환 Surge voltage protection circuitry for vertical and horizontal sink processors
KR19980055103A (en) * 1996-12-28 1998-09-25 배순훈 X-Ray Auto Detection Warning TV
KR19990007328U (en) * 1997-07-31 1999-02-25 배순훈 X-ray protection circuit of monitor
KR19990039675A (en) * 1997-11-13 1999-06-05 구자홍 X-ray protection circuit and protection method

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
공개실용신안공보 1999-7328호
공개특허공보 1999-39675호

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010010981A (en) 2001-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20040257735A1 (en) Method and device for short circuit or open load detection
CN1075308C (en) CRT protector circuit
KR100563132B1 (en) Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor
US5375032A (en) Trip control device for circuit breaker
US4949211A (en) Protective, bi-level drive for FET&#39;s
JP3031649B2 (en) X-ray protector device
WO1994027245A1 (en) False bar code inhibitor circuit
US6075687A (en) Monitor X-ray protection device
JPH08178990A (en) Lightning arrester diagnosing apparatus
EP0466487A2 (en) Enablement of a test mode in an electronic module with limited pin-outs
US5350979A (en) Method of analyzing television circuits and instrumentation therefor
US4841406A (en) X-radiation protection circuit
KR0147896B1 (en) High voltage output protection circuit using micom
JP2005020843A (en) Power converter and testing method using the same
JP3294200B2 (en) Multi-optical axis photoelectric switch
KR910005338Y1 (en) Over voltage protecting and display circuit for brown tube
US20220294442A1 (en) Drive circuit
KR970032178A (en) Dual X-Ray Protection Circuit
KR940009537B1 (en) Fan sense
JPH02193186A (en) Protecting circuit for cathode ray tube
KR910004618Y1 (en) X-ray exposing display circuit
JPH06339039A (en) X-ray protecting circuit for crt
KR910008275Y1 (en) X-ray radiation protecting circuit for tv
JPH02202715A (en) Detection switch
EP0405835A2 (en) Two wire coolant level sensor

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20111216

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee