KR100563132B1 - Testing circuit for X-ray protection circuit in a monitor - Google Patents
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Abstract
본 발명은 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray protection circuit test circuit of a monitor.
본 발명은 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 플라이백 펄스 감지 전압 V2가 인가되면 고압 감지 회로(50)가 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 된 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 유저가 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치를 온시킴에 따라서 키 신호가 MCU(60)로 입력되면 MCU(60)가 하이 신호를 출력하여 전압 분배부(40)의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)를 턴온시켜 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2를 고압 감지 회로(50)에 인가시키도록 되어 있다.According to the present invention, when the flyback pulse detection voltage V2 is applied to the high pressure sensing circuit 50 or more, the high pressure sensing circuit 50 stops the operation by blocking the output of the horizontal / vertical / high voltage driving circuit 10 so as to stop operation. When a key signal is input to the MCU 60 as the user turns on the key switch mounted on the outside of the monitor to test whether the X-ray protection circuit is designed to prevent the radiation from being emitted from the CRT. The MCU 60 outputs a high signal to turn on the X-ray test transistor Q1 to which the collector and emitter are connected at both ends of the resistor R1 or R3 of the voltage divider 40 to short the collector and emitter. The pulse sensing voltage V2 having a predetermined value or higher is applied to the high voltage sensing circuit 50.
X-선보호회로,X-ray보호회로,X-선보호회로테스트회로X-ray protection circuit, X-ray protection circuit, X-ray protection circuit test circuit
Description
도 1은 종래의 X-선 보호 회로를 도시한 구성도,1 is a block diagram showing a conventional X-ray protection circuit,
도 2는 도 1의 X-선 보호 회로의 동작 특성을 도시한 그래프,2 is a graph showing the operating characteristics of the X-ray protection circuit of FIG.
도 3은 X-선 보호 회로에 접속되어 있는 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로를 도시한 구성도이다.3 is a configuration diagram showing an X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention connected to the X-ray protection circuit.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10: 수평/수직/고압 구동 회로 20: 고압 회로10: horizontal / vertical / high voltage drive circuit 20: high voltage circuit
30: 정류부 40: 전압 분배부30: rectifier 40: voltage divider
41: 테스트 지그 50: 고압 감지 회로41: test jig 50: high pressure detection circuit
60: MCU Q1: 트랜지스터60: MCU Q1: transistor
D1: 다이오드 C1,C2: 커패시터D1: Diode C1, C2: Capacitor
R1,R2,R3: 저항R1, R2, R3: resistance
본 발명은 모니터의 X-선 보호 회로에 관한 것이며, 보다 상세히는 모니터의 MCU에 키 신호를 입력하여 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하도록 된 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray protection circuit of a monitor, and more particularly, to an X-ray protection circuit test circuit of a monitor configured to test whether the X-ray protection circuit operates normally by inputting a key signal to the monitor's MCU. will be.
일반적으로 CRT를 디스플레이 부품으로 채용하는 모니터는 CRT로 20kV 이상의 아노드 고압이 인가됨에 따라서 방출되는 X-선으로부터 인체를 보호하기 위한 X-선 보호 회로를 구비하고 있다.In general, a monitor employing a CRT as a display component includes an X-ray protection circuit for protecting a human body from X-rays emitted by an anode high voltage of 20 kV or more.
상기 X-선 보호 회로는 CRT의 아노드 고압이 높아질수록 방출량이 증가하는 X-선이 소정의 규정치 이상이 되면 모니터의 수평/수직/고압 구동 회로의 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 방출되는 것을 방지한다.The X-ray protection circuit stops the operation of the horizontal / vertical / high voltage drive circuit of the monitor when the X-rays whose emission amount increases as the anode high pressure of the CRT becomes higher than a predetermined value are emitted. Prevent it.
상기와 같은 종래의 X-선 보호 회로의 동작을 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the conventional X-ray protection circuit as described above will be described with reference to FIG. 1.
모니터의 수평/수직/고압 구동 회로(10)가 정상적으로 동작함에 따라서 FBT를 포함하는 고압 회로(20)가 CRT로 20kV 이상의 아노드 고압을 인가시킴과 동시에 아노드 고압의 크기에 비례하여 크기가 증가하는 소정의 플라이백 펄스를 출력하면 서로 병렬 연결된 다이오드 D1과 커패시터 C1로 구성된 정류부(30)가 상기 플라이백 펄스를 직류 전압으로 정류하고, 직렬 연결된 저항 R1, R3와 저항 R3에 병렬 연결된 저항 R2 및, 저항 R2에 병렬 연결된 잡음 제거용 커패시터 C2로 구성된 전압 분배부(40)가 상기 정류부(30)의 출력 전압 V1을 전압 분배하여 최종적으로 출력하는 펄스 감지 전압 V2가 규정치 이상이면 고압 감지 회로(50)가 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지한다.As the horizontal / vertical / high
이때, 상기 정류부(30)의 출력 전압 V1과 상기 고압 감지 회로(50)의 입력 전압 V2는 아래의 수학식 1에 의해 구해진다.In this case, the output voltage V1 of the
통상적으로 CRT의 아노드 고압이 약 30kV 이상이 될 때 CRT에서 방출되는 X-선 양이 인체에 악영향을 미치는 규제치에 가까워지기 때문에 종래의 X-선 보호 회로는 대부분 아노드 고압이 약 30kV 정도로 상승하면 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하여 X-선이 방출되지 않도록 한다.In general, when the anode high pressure of the CRT is about 30 kV or more, the amount of X-rays emitted from the CRT approaches a limit that adversely affects the human body, and thus, the conventional X-ray protection circuit mostly increases the anode high pressure to about 30 kV. If so, the output of the horizontal / vertical / high
예컨대, CRT의 아노드 고압이 30kV 이상이 되면 상기 고압 감지 회로(50)의 입력 전압 V2가 2.5V 이상이 되도록 도 1에 도시된 전압 분배부(40)의 저항 R1, R2, R3의 값을 설정하였을 때, 실제로 CRT의 아노드 고압이 30kV 이상이 되면 도 2에 도시된 그래프에 나타낸 바와 같이, 상기 고압 감지 회로(50)의 입력 전압 V2가 VX2=2.5V가 되는 지점에서 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력이 차단되어 CRT의 아노드 고압이 다운된다.For example, when the anode high voltage of the CRT is 30 kV or more, the values of the resistors R1, R2, and R3 of the
특히, 상기와 같이 작동하는 X-선 보호 회로는 미국 건강 보건 기구(DHHS)의 규정에 의거 모니터 제조 라인에서 매일 일정량을 테스트하여 그 정상 작동 여부를 확인하도록 되어 있는데, 종래에는 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 지그(41)를 이용하여 상기 전압 분배부(50)의 저항 R3(또는 R1)의 양단을 쇼트시켜 상기 고압 감지 회로(50)에 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 하므로써 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하였다.In particular, the X-ray protection circuit operating as described above is to test a certain amount every day in the monitor manufacturing line in accordance with the regulations of the United States Health and Health Organization (DHHS) to check whether or not the normal operation, as shown in FIG. As described above, by shorting both ends of the resistor R3 (or R1) of the
하지만, 상기와 같이 테스트 지그(41)를 사용하면 비록 쇼트시키고자하는 저항(R1 또는 R3)의 위치를 정확하게 설정하더라도 모니터가 대형화됨에 따라서 기구물(예컨대, 히트 싱크류)의 구조가 복잡해지기 때문에 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기가 쉽지 않을 뿐만 아니라, 수조작에 따른 테스트 시간이 많이 소요되어 제품 제조 공정 시간이 늘어나고 테스트 도중에 다른 부품과의 접촉이 있으면 제품 불량을 유발할 수 있는 문제점이 있다.However, when the
따라서, 본 발명은 상술한 종래의 문제점을 극복하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 테스트 지그를 사용하지 않고 모니터의 외부에 장착되는 별도의 키 스위치를 온시켜 모니터의 MCU에 키 신호를 입력하여 상기 전압 분배부에 있는 특정 한 저항을 쇼트시키고 상기 고압 감지 회로에 규정치 이상의 펄스 감지 전압을 인가시키므로써 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하도록 된 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로를 제공하는데 있다.
Therefore, the present invention is to overcome the above-mentioned conventional problems, an object of the present invention is to turn on a separate key switch mounted on the outside of the monitor without using a test jig to input the key signal to the MCU of the monitor to It provides a monitor's X-ray protection circuit test circuit, which is designed to test whether the X-ray protection circuit is operating normally by shorting a specific resistor in the voltage divider and applying a pulse sensing voltage above the prescribed value to the high voltage sensing circuit. have.
상기 본 발명의 목적을 달성하기 위한 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 고압 회로가 아노드 고압의 크기에 비례하여 크기가 증가하는 플라이백 펄스를 출력하면 정류부가 플라이백 펄스를 직류 전압으로 정류하고, 전압 분배 저항 R1, R3와 잡음 제거용 커패시터 C2로 구성된 전압 분배부가 상기 정류부의 출력 전압 V1을 전압 분배하여 최종적으로 출력하는 펄스 감지 전압이 규정치 이상이면 고압 감지 회로가 수평/수직/고압 구동 회로의 출력을 차단하여 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 된 X-선 보호 회로에 있어서,In the X-ray protection circuit test circuit of the monitor for achieving the object of the present invention, if the high-voltage circuit outputs a flyback pulse of increasing magnitude in proportion to the magnitude of the anode high voltage rectifier rectifies the flyback pulse to a DC voltage If the voltage divider consisting of voltage divider resistors R1, R3 and noise canceling capacitor C2 divides the output voltage V1 of the rectifier and finally outputs the pulse sensed voltage above the specified value, the high voltage sense circuit operates horizontal / vertical / high voltage. An X-ray protection circuit in which the output of the circuit is cut off to prevent the emission of more than a prescribed X-ray from the CRT,
상기 전압 분배부의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 X-선 테스트 트랜지스터, 및, 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치가 온됨에 따라서 소정의 키 신호가 입력되면 상기 X-선 테스트 트랜지스터의 베이스에 하이 신호를 인가시켜 상기 X-선 테스트 트랜지스터의 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 상기 고압 감지 회로로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 하여 유저가 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 판별할 수 있도록 하는 MCU로 구성된다.
The X-ray test transistor having a collector and an emitter connected to both ends of the resistor R1 or R3 of the voltage divider, and a predetermined key signal is input when the key switch mounted on the outside of the monitor is turned on. A high signal is applied to the base of the test transistor to short-circuit the collector and emitter of the X-ray test transistor so that the pulse sensing voltage V2 above the prescribed value is applied to the high voltage sensing circuit so that the user can operate the X-ray protection circuit normally. It consists of MCU that can determine whether or not.
상기와 같은 구성에 따른 본 발명의 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 상기 고압 감지 회로로 규정치 이상의 플라이백 펄스 감지 전압 V2가 인가되면 상 기 고압 감지 회로가 상기 수평/수직/고압 구동 회로의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 된 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 유저가 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치를 온시킴에 따라서 키 신호가 상기 MCU로 입력되면 상기 MCU가 하이 신호를 출력하여 상기 전압 분배부의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 상기 X-선 테스트 트랜지스터를 턴온시켜 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2를 상기 고압 감지 회로에 인가시키도록 되어 있다.
X-ray protection circuit test circuit of the monitor of the present invention according to the configuration as described above is applied to the high-voltage sensing circuit, if the flyback pulse detection voltage V2 or more than the prescribed value is applied to the high-voltage sensing circuit of the horizontal / vertical / high voltage driving circuit. The user can turn on the key switch on the outside of the monitor to test the normal operation of the X-ray protection circuit, which is designed to prevent the output of X-rays from the CRT from exceeding the specified value by shutting off the output. Therefore, when a key signal is input to the MCU, the MCU outputs a high signal to turn on the X-ray test transistor in which the collector and the emitter are connected at both ends of the resistor R1 or R3 of the voltage divider, thereby shorting the collector and the emitter. By doing so, a pulse sensing voltage V2 of a predetermined value or more is applied to the high voltage sensing circuit.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 3을 참조하면, 고압 회로(20)는 FBT를 포함하고 있으며, 모니터의 수평/수직/고압 구동 회로(10)가 정상적으로 동작함에 따라서 CRT로 아노드 고압을 인가시킴과 동시에 아노드 고압의 크기에 비례하여 크기가 증가하는 소정의 플라이백 펄스를 출력한다.Referring to FIG. 3, the
정류부(30)는 서로 병렬 연결된 다이오드 D1과 커패시터 C1로 구성되며, 상기 고압 회로(20)의 플라이백 펄스를 직류 전압으로 정류한다.The
전압 분배부(40)는 직렬 연결된 저항 R1, R3와 저항 R3에 병렬 연결된 저항 R2 및, 저항 R2에 병렬 연결된 잡음 제거용 커패시터 C2로 구성되며, 상기 정류부(30)의 출력 전압 V1을 전압 분배하여 최종적으로 펄스 감지 전압 V2를 출력한다.The
고압 감지 회로(50)는 상기 전압 분배부(40)로부터 출력되어 인가되는 펄스 감지 전압 V2가 CRT로부터 규정치 이상의 X-선이 방출되는 것을 방지하기 위하여 미리 설정한 규정치 이상이 되면 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지한다.The high
X-선 테스트 트랜지스터(Q1)는 상기 전압 분배부(40)의 저항 R1 또는 R3의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되며, 베이스로 하이 신호가 인가되면 턴온되어 컬렉터와 이미터를 쇼트시키고 로우 신호가 인가되면 턴오프된다.The X-ray test transistor Q1 has a collector and an emitter connected to both ends of the resistor R1 or R3 of the
MCU(60)는 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치(도시하지 않음)가 온됨에 따라서 소정의 키 신호가 입력되면 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 베이스에 하이 신호를 인가시켜 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 컬렉터와 이미터를 쇼트시키므로써 상기 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 하여 유저가 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 판별할 수 있도록 한다.The MCU 60 applies a high signal to the base of the X-ray test transistor Q1 when a predetermined key signal is input as a key switch (not shown) mounted on the outside of the monitor is turned on. By shorting the collector and the emitter of the line test transistor Q1, the pulse sensing voltage V2 above the prescribed value is applied to the high
상기와 같은 구성에 의해서 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 다음과 같이 작동한다.With the above configuration, the X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention operates as follows.
도 3에 도시된 X-선 보호 회로는 도 1에 도시된 X-선 보호 회로와 동일하게 작동하므로, 도 3에 도시된 X-선 보호 회로에 대한 상세한 동작 설명은 생략한다.Since the X-ray protection circuit shown in FIG. 3 operates in the same manner as the X-ray protection circuit shown in FIG. 1, a detailed operation description of the X-ray protection circuit shown in FIG. 3 is omitted.
상기 X-선 보호 회로는 상기 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되면 상기 고압 감지 회로(50)가 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하므로써 규정치 이상의 X-선이 CRT로부터 방출되는 것을 방지하도록 되어 있다.The X-ray protection circuit stops operation by blocking the output of the horizontal / vertical / high
따라서, 유저가 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하려면 상기 고압 감지 회로(50)에 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되도록 했을 때 상기 고압 감지 회로(50)가 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하는가를 확인하면 된다.Therefore, when the user wants to test whether the X-ray protection circuit operates normally, when the pulse sensing voltage V2 is applied to the high
본 발명에서는 종래의 테스트 지그(41)를 사용하는 대신에, 유저가 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 모니터의 외부에 장착되어 있는 키 스위치를 온시키면 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트할 수 있도록 되어 있다.In the present invention, instead of using the
실제로, 유저가 상기 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하기 위하여 상기 키 스위치를 온시키면 소정의 키 신호가 상기 MCU(60)로 입력되며, 상기 키 신호가 상기 MCU(60)로 입력되면 상기 MCU(60)는 하이 신호를 출력하여 상기 전압 분배부(40)의 저항 R3(또는 R1)의 양단에 컬렉터와 이미터가 접속되는 상기 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)를 턴온시켜 컬렉터와 이미터를 쇼트시킨다.In fact, when a user turns on the key switch to test whether the X-ray protection circuit operates normally, a predetermined key signal is input to the
상기와 같이 X-선 테스트 트랜지스터(Q1)의 컬렉터와 이미터가 쇼트됨에 따라서 상기 고압 감지 회로(50)로 규정치 이상의 펄스 감지 전압 V2가 인가되었을 때 상기 고압 감지 회로(50)가 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하면 X-선 보호 회로는 정상적으로 작동하는 것으로 판별되지만, 반대로 상기 고압 감지 회로(50)가 상기 수평/수직/고압 구동 회로(10)의 출력을 차단하여 동작을 멈추게 하지 않으면 X-선 보호 회로는 비정상적으로 작동하는 것으로 판별된다.As described above, when the collector and the emitter of the X-ray test transistor Q1 are short-circuited, when the pulse sensing voltage V2 is applied to the high
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로는 테스트 지그를 사용하지 않고 모니터의 외부에 장착되는 별도의 키 스위치를 온시켜 모니터의 MCU에 키 신호를 입력하여 상기 전압 분배부에 있는 특정한 저항을 쇼트시키고 상기 고압 감지 회로에 규정치 이상의 펄스 감지 전압을 인가시키므로써 X-선 보호 회로의 정상 작동 여부를 테스트하도록 되어 있기 때문에, 테스트 시간을 단축하여 제품 제조 공정 시간을 줄일 수 있으며 용이하고 정확한 테스트를 할 수 있으므로 제품의 불량을 감소시킬 수 있는 효과가 있다. As described above, the X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention turns on a separate key switch mounted on the outside of the monitor without using a test jig to input a key signal to the MCU of the monitor to divide the voltage divider. By short-circuiting a specific resistor in the circuit and applying a pulse-sensing voltage above the specified voltage to the high-voltage sensing circuit, the X-ray protection circuit can be tested for normal operation, thus reducing test time and reducing product manufacturing process time. Easy and accurate test can be used to reduce product defects.
이상에서 설명한 것은 본 발명에 따른 모니터의 X-선 보호 회로 테스트 회로를 실시하기 위한 하나의 실시예에 불과한 것으로서, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구의 범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능할 것이다.
What has been described above is only one embodiment for implementing the X-ray protection circuit test circuit of the monitor according to the present invention, and the present invention is not limited to the above-described embodiment, and is claimed in the following claims. Various modifications can be made by those skilled in the art without departing from the gist of the present invention.
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