KR100509765B1 - 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 구동장치 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 구동장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 오방전을 방지할 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 관한 것이다.
본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 패널의 구동온도를 감지하는 단계와, 패널이 저온 및 고온에서 구동될 때 제 1서브필드 패턴 맵핑방법을 이용하여 데이터를 맵핑하는 단계와, 패널이 저온 및 고온 사이의 온도에서 구동될 때 제 1서브필드 패턴 맵핑과 상이한 제 2서브필드 패턴 맵핑 방법을 이용하여 데이터를 맵핑하는 단계를 포함한다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 구동장치{Method and Apparatus of Driving Plasma Display Panel}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 구동장치에 관한 것으로 특히, 오방전을 방지할 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 구동장치에 관한 것이다.
플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : 이하 "PDP"라 함)은 He+Xe, Ne+Xe 또는 He+Ne+Xe 가스의 방전시 발생하는 147nm의 자외선에 의해 형광체를 발광시킴으로써 문자 또는 그래픽을 포함한 화상을 표시하게 된다. 이러한 PDP는 박막화와 대형화가 용이할 뿐만 아니라 최근의 기술 개발에 힘입어 크게 향상된 화질을 제공한다. 특히, 3전극 교류 면방전형 PDP는 방전시 표면에 축적된 벽전하를 이용하여 방전에 필요한 전압을 낮추게 되며, 방전에 의해 발생되는 스퍼터링으로부터 전극들을 보호하기 때문에 저전압 구동과 장수명의 장점을 가진다.
도 1을 참조하면, 3전극 교류 면방전형 PDP의 방전셀은 상부기판(10) 상에 형성되어진 스캔전극(30Y) 및 서스테인전극(30Z)과, 하부기판(18) 상에 형성되어진 어드레스전극(20X)을 구비한다.
스캔전극(30Y)과 서스테인전극(30Z) 각각은 투명전극(12Y,12Z)과, 투명전극(12Y,12Z)의 선폭보다 작은 선폭을 가지며 투명전극의 일측 가장자리에 형성되는 금속버스전극(13Y,13Z)을 포함한다. 투명전극(12Y,12Z)은 통상 인듐틴옥사이드(Indium-Tin-Oxide : ITO)로 상부기판(10) 상에 형성된다. 금속버스전극(13Y,13Z)은 통상 크롬(Cr) 등의 금속으로 투명전극(12Y,12Z) 상에 형성되어 저항이 높은 투명전극(12Y,12Z)에 의한 전압강하를 줄이는 역할을 한다. 스캔전극(30Y)과 서스테인전극(30Z)이 형성된 상부기판(10)에는 상부 유전체층(14)과 보호막(16)이 적층된다. 상부 유전체층(14)에는 플라즈마 방전시 발생된 벽전하가 축적된다. 보호막(16)은 플라즈마 방전시 발생된 스퍼터링으로부터 상부 유전체층(14)을 보호하고 2차 전자의 방출 효율을 높이게 된다. 보호막(16)으로는 통상 산화마그네슘(MgO)이 이용된다.
어드레스전극(20X)은 스캔전극(30Y) 및 서스테인전극(30Z)과 교차되는 방향으로 형성된다. 어드레스전극(20X)이 형성된 하부기판(18) 상에는 하부 유전체층(22)과 격벽(24)이 형성된다. 하부 유전체층(22)과 격벽(24)의 표면에는 형광체층(26)이 형성된다. 격벽(24)은 어드레스전극(20X)과 나란하게 형성되어 방전셀을 물리적으로 구분하며, 방전에 의해 생성된 자외선과 가시광이 인접한 방전셀에 누설되는 것을 방지한다. 형광체층(26)은 플라즈마 방전시 발생된 자외선에 의해 여기·발광되어 적색, 녹색 또는 청색 중 어느 하나의 가시광선을 발생하게 된다. 상/하부기판(10,18)과 격벽(24) 사이에 마련된 방전셀의 방전공간에는 방전을 위한 He+Xe, Ne+Xe 또는 He+Xe+Ne 등의 불활성 혼합가스가 주입된다.
이러한 3전극 교류 면방전형 PDP는 화상의 계조(Gray Level)를 구현하기 위하여 한 프레임을 발광횟수가 다른 여러 서브필드로 나누어 구동하고 있다. 각 서브필드는 다시 방전을 균일하게 일으키기 위한 리셋 기간, 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인 기간으로 나뉘어진다.
예를 들어, 256 계조로 화상을 표시하고자 하는 경우에 1/60 초에 해당하는 프레임 기간(16.67ms)은 도 2와 같이 8개의 서브필드들(SF1내지SF8)로 나누어지게 된다. 8개의 서브 필드들(SF1내지SF8) 각각은 리셋기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간으로 다시 나누어지게 된다. 각 서브필드의 리셋기간 및 어드레스 기간은 각 서브필드마다 동일한 반면에, 서스테인 기간 및 그 방전횟수는 각 서브필드에서 2n(단, n=0,1,2,3,4,5,6,7)의 비율로 증가된다. 이와 같이 각 서브필드에서 서스테인 기간이 달라지게 되므로 화상의 계조를 구현할 수 있게 된다.
실제, 한 프레임이 8개의 서브필드를 포함하는 경우 표 1과 같이 서브필드가 선택되면서 계조가 표현된다.
가중치계조 SF1 SF2 SF3 SF4 SF5 SF6 SF7 SF8
Y1 Y2 Y4 Y8 Y16 Y32 Y64 Y128
0 × × × × × × × ×
1 ○ × × × × × × ×
2 × ○ × × × × × ×
15 ○ ○ ○ ○ × × × ×
16 × × × × ○ × × ×
17 ○ × × × ○ × × ×
…
31 ○ ○ ○ ○ ○ × × ×
32 × × × × × ○ × ×
33 ○ × × × × ○ × ×
…
63 ○ ○ ○ ○ ○ ○ × ×
64 × × × × × × ○ ×
…
127 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ×
128 × × × × × × × ○
…
255 ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○ ○
여기서, 'SFx'는 x번째 서브필드를 의미하며, 'Yz'는 해당 서브필드에 설정된 휘도 가중치를 십진수 z로 표현한 것이다. 그리고, '○'는 해당 서브필드가 켜진 상태를 나타내고, '×'는 해당 서브필드가 꺼진 상태를 나타낸다.
표 1에서 도시되어 있듯이 서브필드들은 자신들에게 할당된 휘도가중치에 대응되어 서스테인 방전을 일으킴으로써 휘도가중치에 대응하는 계조를 표현하게 된다.
하지만, 이와 같은 종래의 PDP는 발광패턴이 크게 변하는 계조(15-16, 31-32, 63-64, 127-128)에서 빛의 적분방향과 사람의 눈이 인식하는 시각특성의 불일치에 의해서 콘투어 노이즈(Contour noise)가 발생되는 문제점이 있다. 예를 들어, 발광패턴이 128-127로 변하는 경우 두 프레임간의 밝기 차이는 "1"의 값을 갖는다. 하지만, 표 1에 표시된 바와 같이 127의 계조값이 표시되는 경우 제 1내지 제 7서브필드(SF1~SF7)가 발광되고, 128의 계조값이 표시되는 경우 제 8서브필드(SF8)가 발광된다. 즉, 발광 패턴이 128-127로 변하는 경우 두 프레임간 발광패턴의 시간차가 커서 발광점의 이동이 크게 생기게 되고, 이에 따라 콘투어 노이즈가 발생되게 된다.
한편, 종래에는 PDP에서 발생되는 콘투어 노이즈를 제거하기 위하여 발광패턴이 크게 변하는 계조(16, 32, 64, 128)를 평균적으로 표시하는 방법에 제안되었다. 다시 말하여, 도 3과 같이 서로 인접된 2개의 방전셀에서 A(예를 들면 31) 및 B(예를 들면 33)의 계조를 표현하여 평균적으로 C(32의 계조)의 계조를 표시하게 된다. 이와 같이 인접된 방전셀들에서 표시되는 계조를 이용하여 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시하게 되면 콘투어 노이즈를 저감할 수 있는 장점이 있다.
하지만, 상술한 바와 같이 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시하게 되면 저온(15℃ 내지 -50℃) 및/또는 고온(50℃ 내지 100℃)에서 점멸 오방전 및/또는 미스방전등의 문제점이 발생된다.
이를 상세히 설명하면, 도 3에 도시된 바와 같이 콘투어 노이즈를 최소화하기 위하여 인접된 방전셀들에서 A 및 B의 계조를 표시한다. 이때, A 및 B의 계조는 대부분 서로 상이한 시간이 방전이 발생된다. 다시 말하여, A(31)의 계조를 표시하기 위해서는 제 1서브필드(SF1) 내지 제 5서브필드(SF5)에서 방전이 발생되고, B(32)의 계조를 표시하기 위해서는 제 1서브필드(SF1) 및 제 6서브필드(SF6)에서 방전이 발생된다. 여기서, A 및 B의 계조를 표현할 때 제 1서브필드(SF1)에서만 동시에 방전이 일어나고 그 외의 서브필드에서는 동시에 방전이 발생되지 않는다. 이와 같이 인접된 방전셀들이 서로 다른 시간에 방전되면, 즉 프라이밍 하전입자가 서로 다른 시간이 생성되면 특정 방전셀에서 생성된 프라이밍 하전입자가 인접된 방전셀에서 방전이 발생될 때 공급되지 못하기 때문에 저온 및/또는 고온에서 점멸 오방전 및/또는 방전이 일어나지 않는 등의 문제점이 발생된다.
여기서, 고온에서는 입자의 움직임이 활발해짐으로써 초기화기간에 생성된 벽전하의 손실량이 증가하고, 이에 따라 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시할 때 미스방전 등이 발생된다. 그리고, 저온에서는 입자 움직임이 둔화되어 소거방전등이 정상적으로 발생되지 못하기 때문에 초기화기간에 원하는 벽전하가 생성되기 곤란하고, 이에 따라 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시할 때 점멸 오방전 등이 발생된다.
한편, 종래에는 PDP 내에 봉입된 방전가스 중 Xe의 성분을 5%이상으로 설정하여 저밀도 Xe 패널에 비하여 구동전압이 높지만 휘도를 더 높일 수 있는 방법이 제안되었다. 즉, 고밀도 Xe 패널에서는 방전가스에서 Xe 성분을 높임으로써 고휘도의 화상을 표시할 수 있게 된다. 하지만, 이와 같은 고밀도 Xe의 패널은 저밀도 Xe패널에 비하여 구동전압이 높게 설정되기 때문에 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시할 때 저온 및 고온에서 오방전이 발생될 확률이 더욱 증가된다.
따라서, 본 발명의 목적은 오방전을 방지할 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 구동장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 패널의 구동온도를 감지하는 단계와, 패널이 저온 및 고온에서 구동될 때 제 1서브필드 패턴 맵핑방법을 이용하여 데이터를 맵핑하는 단계와, 패널이 저온 및 고온 사이의 온도에서 구동될 때 제 1서브필드 패턴 맵핑과 상이한 제 2서브필드 패턴 맵핑 방법을 이용하여 데이터를 맵핑하는 단계를 포함한다.
상기 제 2서브필드 패턴 맵핑방법에서는 발광패턴이 크게 변하는 계조를 표시할 때 발광패턴이 크게 변하는 계조가 인접된 방전셀들에서 평균적으로 표시되도록 맵핑한다.
상기 제 1서브필드 패턴 맵핑방법에서는 발광패턴이 크게 변하는 계조를 포함하는 모든 계조가 그 계조 그대로 표시되도록 맵핑한다.
상기 저온은 15℃ 내지 -50℃의 온도이고, 고온은 50℃ 내지 100℃의 온도이다.
상기 패널의 내부공간에 포함된 방전가스에는 제논(Xe)가스가 5%이상 포함된다.
본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치는 패널의 구동온도를 감지하기 위한 온도센서와, 상기 온도센서에서 감지된 구동온도가 고온 및 저온 중 어느 하나인 경우에 데이터를 제1 서브필드 패턴으로 맵핑하고 상기 감지된 구동온도가 고온 및 저온 사이의 온도인 경우에 데이터를 제2 서브필드 패턴으로 맵핑하도록 설정하는 서브필드 맵핑부를 구비한다.상기 제1 서브필드 패턴은, 발광패턴이 크게 변하는 계조를 포함하는 모든 계조가 그 계조 그대로 표시되도록 데이터가 맵핑된다.상기 제2 서브필드 패턴은, 발광패턴이 크게 변하는 계조가 인접된 방전셀들에서 평균적으로 표시되도록 데이터가 맵핑된다.
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상기 저온은 15℃ 내지 -50℃의 온도이고, 고온은 50℃ 내지 100℃의 온도이다.
상기 패널의 내부공간에 포함된 방전가스에는 제논(Xe)가스가 5%이상 포함된다.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
이하 도 4 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다.
도 4는 본 발명의 실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 PDP의 구동방법은 저온/고온의 구동방법과 저온 및 고온사이의 온도(이하 "일반구동온도"라 함)에서의 서브필드 패턴 맵핑방법이 상이하게 설정된다.(여기서, PDP에는 온도센서가 부착되어 PDP의 구동온도를 감시한다)
먼저, 일반구동온도(16℃ 내지 49.9℃)에서 PDP는 종래와 동일한 구동방법으로 구동된다. 다시 말하여, 일반구동온도에서는 종래의 PDP와 동일하게 발광패턴이 크게 변하는 계조(16, 32, 64, 128)를 평균적으로 표시하게 된다. 다시 말하여, 3과 같이 서로 인접된 2개의 방전셀에서 A(예를 들면 31) 및 B(예를 들면 33)의 계조를 표현하여 평균적으로 C(32의 계조)의 계조를 표시하게 된다. 이와 같이 일반구동온도에서는 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시함으로써 콘투어 노이즈가 최소화된 화상을 표시할 수 있다.
그리고, 저온(15℃ 내지 -50℃)/고온(50℃ 내지 100℃)에서 PDP가 구동될 때에는 모든 계조를 직접적으로 표시하게 된다. 다시 말하여, PDP가 저온/고온에서 구동될 때 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시하지 않는다. 이와 같이 저온/고온에서 발광패턴이 크게 변하는 계조를 그 계조 그대로 표시하게 되면 점멸 오방전 및/또는 미스방전 등의 문제점을 해결할 수 있다.
이를 상세히 설명하면, PDP가 저온/고온에서 구동될 때 도 5와 같이 발광패턴이 크게 변하는 계조인 C(예를 들어 32) 및 D(예를 들어 64)를 직접적으로 방전셀에서 표시한다. 여기서, 서로 인접된 방전셀들은 서로 동일한 계조를 표시하기 때문에 동일한 시간에 방전이 발생된다. 이와 같이 서로 인접된 방전셀들이 동일한 시간에 방전되면, 즉 프라이밍 하전입자가 동일시간에 생성되면 특정 방전셀은 인접된 방전셀로부터 공급되는 프라이밍 하전입자를 공급받을 수 있다. 따라서, 동일한 계조를 표현하는 방전셀들에서는 방전이 쉽게 발생될 수 있고, 이에 따라 저온/고온에서 점멸오방전 및/또는 미스방전이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
아울러, PDP내에 봉입된 방전가스 중 Xe의 성분이 5%이상으로 설정된 고밀도 Xe PDP에 본 발명이 적용되면 고밀도 Xe PDP가 저온/고온에서 구동될 때 발생되는 점멸오방전 및/또는 미스방전이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 즉, 본 발명이 고밀도 Xe PDP에 적용되면 점멸오방전 및/또는 미스방전없이 높은 휘도를 가지는 화상을 표시할 수 있는 장점이 있다.
도 6은 본 발명의 실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 PDP의 구동장치는 제1 역감마 조정부(31A)와 데이터 정렬부(35) 사이에 접속된 게인 조정부(32), 오차확산부(33) 및 서브필드 맵핑부(34)와, 제2 역감마 조정부(31B)와 파형 발생부(37) 사이에 접속된 APL 계산부(36)와, 서브필드 맵핑부(34)에 접속되도록 설치되는 온도센서(40)를 구비한다.
제1 및 제2 역감마 보정부(31A, 31B)는 입력라인(29)으로부터의 디지털 비디오 데이터(RGB)를 역감마보정하여 영상신호의 계조값에 대한 휘도를 선형적으로 변환시킨다.
게인 조정부(32)는 적색, 녹색 및 청색의 각 데이터별로 유효이득을 조정하여 색온도를 보상한다.
오차 확산부(33)는 게인 조정부(32)로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)의 양자화 오차를 인접한 셀들로 확산시킴으로써 휘도값을 미세하게 조정하게 된다.
서브필드 맵핑부(34)는 오차 확산부(33)로부터 입력된 데이터를 각 비트별로미리 저장된 서브필드 패턴에 맵핑하고 그 맵핑 데이터를 데이터 정렬부(35)에 공급한다. 이와 같은 서브필드 맵핑부(34)의 상세한 동작과정은 후술하기로 한다.
데이터 정렬부(35)는 서브필드 맵핑부(34)로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터를 패널(38)의 데이터 구동회로에 공급한다. 데이터 구동회로는 패널(38)의 데이터전극들에 접속되어 데이터 정렬부(35)로부터 입력되는 데이터를 1 수평라인분씩 래치한 후에 래치된 데이터를 1 수평기간 단위로 패널(38)의 데이터전극들에 공급하게 된다.
APL 계산부(36)는 제2 역감마 보정부(31B)로부터 입력되는 디지털 비디오 데이터(RGB)에 대하여 한 화면 단위로 평균휘도 즉, APL(Avarage Picture Level)을 계산하고 계산된 APL에 대응하는 서스테인 펄스 수 정보를 출력하게 된다.
파형 발생부(37)는 APL 계산부(36)로부터의 서스테인 펄스 수 정보에 응답하여 타이밍 제어신호를 생성하고, 그 타이밍 제어신호를 도시하지 않은 스캔 구동회로와 서스테인 구동회로에 공급한다. 스캔 구동회로와 서스테인 구동회로는 파형 발생부(37)로부터 입력되는 타이밍 제어신호에 응답하여 서스테인기간 동안 패널(38)의 스캔전극들과 서스테인전극들에 서스테인 펄스를 공급한다.
온도센서(40)는 패널(38)의 구동온도(주변환경온도)를 감지하고, 감지된 온도에 대응되는 제어신호를 서브필드 맵핑부(34)로 공급한다.
온도센서(40) 및 서브필드 맵핑부(34)의 동작과정을 상세히 설명하면, 먼저 온도센서(40)는 패널(38)의 구동온도를 감지(저온/고온 또는 일반구동온도)하고, 이에 대응하는 제어신호를 서브필드 맵핑부(34)로 공급한다.
서브필드 맵핑부(34)는 온도센서(40)로부터 공급되는 제어신호가 일반구동온도를 나타낼 때 발광패턴이 크게 변하는 계조(16,32,64,128)가 평균적으로 표시될 수 있도록 서브필드 패턴을 맵핑한다. 다시 말하여, 서브필드 맵핑부(34)는 패널(38)이 일반구동온도에서 구동될 때 발광패턴이 크게 변하는 계조가 평균적으로 표시되도록 함으로써 콘투어 노이즈가 최소화된 화상을 표시할 수 있다.
그리고, 서브필드 맵핑부(34)는 온도센서(40)로부터 공급되는 제어신호가 저온/고온을 나타낼 때 모든 계조가 직접적으로 표시될 수 있도록 서브필드 패턴을 맵핑한다. 다시 말하여, 서브필드 맵핑부(34)는 패널(38)이 일반구동온도에서 구동될 때 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시하지 않고 그 계조 그대로 표시하게 된다. 이와 같이 저온/고온에서 발광패턴이 크게 변하는 계조를 그 계조 그대로 표시하게 되면 점멸 오방전 및/또는 미스방전 등의 문제점을 해결할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 및 구동장치에 의하면 플라즈마 디스플레이 패널이 일반 구동온도에서 구동될 때 발광패턴이 크게 변하는 계조를 평균적으로 표시함으로써 콘투어 노이즈가 최소화된 화상을 표시할 수 있다. 그리고, 플라즈마 디스플레이 패널이 저온/고온에서 구동될 때 모든 계조를 그 계조 그대로 표시함으로써 저온/고온에서 발생되는 점멸오방전 및 미스방전을 방지할 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
도 1은 종래의 3전극 플라즈마 디스플레이 패널의 방전셀 구조를 나타내는 사시도.
도 2는 한 프레임에 포함되는 다수의 서브필드를 나타내는 도면.
도 3은 발광패턴이 크게 변하는 계조를 인접한 방전셀들에서 평균적으로 표시하는 방법을 나타내는 도면.
도 4는 본 발명의 실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 나타내는 도면.
도 5는 도 4에 도시된 구동방법에 의하여 고온/저온에서 발광패턴이 크게 변하는 계조를 표시하는 방법을 나타내는 도면.
도 6은 본 발명의 실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치를 나타내는 도면.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
10 : 상부기판 12Y,12Z : 투명전극
13Y,13Z : 버스전극 14,22 : 유전체층
16 : 보호막 18 : 하부기판
20X : 어드레스전극 24 : 격벽
26 : 형광체층 29 : 입력라인
30Y : 스캔전극 30Z : 서스테인전극
31A,31B : 역감마 조정부 32 : 게인조정부
33 : 오차확산부 34 : 서브필드 맵핑부
35 : 데이터 정렬부 36 : APL 계산부
37 : 파형발생부 38 : 패널
40 : 온도센서

Claims (10)

  1. 패널의 구동온도를 감지하는 단계와,
    상기 패널이 저온 및 고온에서 구동될 때 제 1서브필드 패턴 맵핑방법을 이용하여 데이터를 맵핑하는 단계와,
    상기 패널이 저온 및 고온 사이의 온도에서 구동될 때 상기 제 1서브필드 패턴 맵핑과 상이한 제 2서브필드 패턴 맵핑 방법을 이용하여 데이터를 맵핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 제 2서브필드 패턴 맵핑방법에서는 발광패턴이 크게 변하는 계조를 표시할 때 상기 발광패턴이 크게 변하는 계조가 인접된 방전셀들에서 평균적으로 표시되도록 맵핑하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 제 1서브필드 패턴 맵핑방법에서는 발광패턴이 크게 변하는 계조를 포함하는 모든 계조가 그 계조 그대로 표시되도록 맵핑하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 저온은 15℃ 내지 -50℃의 온도이고, 상기 고온은 50℃ 내지 100℃의 온도인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 패널의 내부공간에 포함된 방전가스에는 제논(Xe)가스가 5%이상 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  6. 패널의 구동온도를 감지하기 위한 온도센서와,
    상기 온도센서에서 감지된 구동온도가 고온 및 저온 중 어느 하나인 경우에 데이터를 제1 서브필드 패턴으로 맵핑하고 상기 감지된 구동온도가 고온 및 저온 사이의 온도인 경우에 데이터를 제2 서브필드 패턴으로 맵핑하도록 설정하는 서브필드 맵핑부를 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 제1 서브필드 패턴은,
    발광패턴이 크게 변하는 계조를 포함하는 모든 계조가 그 계조 그대로 표시되도록 데이터가 맵핑되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 제2 서브필드 패턴은,
    발광패턴이 크게 변하는 계조가 인접된 방전셀들에서 평균적으로 표시되도록 데이터가 맵핑되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  9. 제 6항에 있어서,
    상기 저온은 15℃ 내지 -50℃의 온도이고, 상기 고온은 50℃ 내지 100℃의 온도인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
  10. 제 6항에 있어서,
    상기 패널의 내부공간에 포함된 방전가스에는 제논(Xe)가스가 5%이상 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동장치.
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