KR100456957B1 - 광학적정보의기록방법및기록장치 - Google Patents

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마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤
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Abstract

종래 광학적 정보를 기록할 때, 마크 후단이 급격히 냉각되고 있었기 때문에 마크 후단부가 크게 되어 오버라이트 후의 재생 지터가 나쁘고, 또 다사이클하는 것에 의한 열 손상에 의한 신호 열화가 생기게 하는 등의 문제가 있었다. 그래서 마크 길이 변조 기록에 있어서, 기록 펄스열에 마크 후단 보정 펄스열을 부가하는, 기록 펄스열과 냉각 파워에서의 레이저 광 조사나 마크 후단 보정 펄스열과의 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 또 기록 마크 길이에 따라 냉각 파워 조사 개시 시간, 냉각 파워 조사 폭, 마크 후단 보정 펄스열 형상을 변화한다. 또, CAV 모드에서의 디스크의 반경에 따라 냉각 파워 조사 시간 혹은 냉각 파워 개시 시간을 변화한다. 또, 기록 펄스열이 시단 펄스, 종단 펄스, 시단ㆍ종단 펄스 사이의 펄스로 이루어지는 경우, 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 기록 펄스열과 냉각 파워와의 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 또 상기 기록 펄스열에서 마크 길이 및 마크 간격에 따라 변화하는 경우, 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시의 타이밍을 종단 펄스의 지연량이나 클록에 기초하여 행한다.

Description

광학적 정보의 기록 방법 및 기록 장치{METHOD AND DEVICE FOR RECORDING OPTICAL INFORMATION}
레이저 광선을 이용하여 고밀도로 정보의 재생 또는 기록을 행하는 기술은 공지의 사실이며, 주로 광디스크로서 실용화되고 있다.
광디스크는 재생 전용형(read-only type), 추기형(write-once read-many type), 개서형(rewritable type)으로 크게 나눌 수 있다.
재생 전용형은, 예를 들면 콤팩트 디스크나 레이저 디스크로서, 또 추기형이나 개서형은 문서 파일, 데이터 파일 등으로서 실용화되고 있다.
또, 개서형 디스크 중에는 주로 광자기와 상변화형(相變化型)이 있다.
상변화 광디스크는 기록층이 레이저 광선 등의 조사에 의해, 예를 들면 비결정과 결정간, 또는 결정과 또 다른 구조의 결정간의 어느 것 등으로, 가역적으로 상태 변화를 일으키는 것을 이용한다. 이것은 레이저 광 조사에 의해 박막의 굴절율 또는 소쇄계수(exhaustion coefficient)중 적어도 어느 하나가 변화하여 기록을 하고, 이 부분에서 투과광 또는 반사광의 진폭이 변화하고, 그 결과 검출 시스템에이르는 투과 광량 또는 반사 광량이 변화하는 것을 검출하여 신호를 재생한다. 또, 비결정과 결정 사이에서 상태 변화를 일으키는 대표적인 재료로서는 Te, Se, In, Sb 등의 합금이 주로 이용되고 있다.
또, 상변화 광디스크에서는 기록 마크의 오버라이트를 위해 1 빔 오버라이트를 이용할 수 있다. 1 빔 오버라이트란 기록 신호에 의해 레이저 파워를 기록 파워와 해당 기록 파워보다도 낮은 파워의 바이어스 파워(소거 파워라고도 함)의 사이에서 변조하여 신호 트랙 상에 조사함으로써 이미 기록되어 있는 오래된 신호를 소거하면서 새로운 신호를 기록하는 방법이다. 오버라이트 자체로는 기록 파워 레벨과 바이어스 파워 레벨 및 재생 2레벨로 되지만 기록·소거·재생을 고려하면 기록 파워 레벨, 바이어스 파워 레벨 및 재생 파워 레벨의 3레벨이 필요하다.
예를 들면, 결정·비결정 사이의 상변화 광디스크에서는 기록 레벨로 조사된 영역은 원래의 상태가 비결정인지 결정인지에 관계없이 용융 후 급속히 냉각되기 때문에 비결정으로 되고, 소거 레벨로 조사된 영역은 결정화 온도 이상으로 승온되기 때문에 원래의 상태에 관계없이 결정화하여 새로운 신호가 오버라이트된다.
한편, 광디스크의 기록 재생 장치에서는 광디스크의 회전 방식은 크게 나누어 두 가지가 있다. 디스크의 내외 둘레에서 선속도가 같아지도록 디스크를 회전시키는 방법(이하 CLV)과, 디스크를 일정한 각속도로 회전시키는 방법(이하 CAV)이다.
예를 들면, 컴퓨터용 외부 메모리 등에 이용되는 데이터 파일과 같이 고속의액세스가 필요하게 되는 경우에는 디스크 회전수를 바꾸려면 시간이 걸리기 때문에CAV가 사용되고 있고, 이 경우, 디스크의 둘레 방향의 선속도가 외주부에서 빠르고내주부에서 늦어진다.
또, 기록 변조 방식에서는 마크간(마크 포지션이라고도 함)변조와, 마크 길이(마크 에지라고도 함)변조의 2종류가 있다.
마크간 변조 기록은 마크 간격을 변화시켜서 기록하고, 재생시에는 마크의 위치를 검출하여 신호 검출하는 것이다.
마크 길이 변조 기록은 각종 길이의 마크를 각종 마크 간격으로 기록하고, 재생시에는 마크의 양단의 위치를 검출하여 신호를 검출하는 것이다. 마크 길이 변조 방식은 마크간 변조 방식에 비하여 원리적으로 2배의 고밀도화가 가능하다.
상변화 광디스크 상으로의 레이저 기록은 원리적으로는 비트 모드에 의한 것이며, 따라서 길이 마크를 기록하는 경우에는 축열 효과에 의해 마크의 선단보다 종단이 두꺼워져서 마크가 방울형상으로 변형되고, 결과적으로 재생 파형도 변형마크 양단의 위치가 어긋나 버린다.
그래서, 상술한 마크 길이 변조 방식에 있어서는 하나의 기록 마크를 형성하기 위한 기록 파형을 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열로 구성(멀티 펄스 기록이라고도 함)하는 기록 방법이 제안되어 있다(예를 들면, 일본국 특개평 3-185628호 공보). 이로써 단(單)펄스로 기록하는 방법에 비해 기록막이 받는 열이 제어되고, 마크 형상이 단 펄스의 경우와 같이 마크의 시종단에서 비대칭이 되지 않는 양호한 마크 형상으로 된다.
그러나, 상기와 같은 멀티펄스 기록 방법에서도 고밀도화의 요청 때문에 마크간격을 좁게 하면 마크 사이에서 열 간섭을 일으켜서 마크의 길이나 형상이 변화한다.
이것을 개선하는 방법으로서, 예를 들면 일본국 특개평7-129959호 공보가 제안되어 있다. 이 공보에서는 열 간섭량을 미리 예측하고, 상기 멀티펄스의 기록에있어서 기록 마크 길이 및 마크 간격에 의해 기록 펄스열의 시단(始端)부분과 종단(終端)부분의 위치를 변화시키고, 마크 사이의 열 간섭을 억제하고 신호 특성을 양호하게 한다는 것이다.
또, 1 빔 오버라이트에 있어서, 기록 펄스를 기록 파워, 바이어스 파워 및 기록 파워의 직후에 설치한 바이어스 파워보다 낮은 파워의 3단계로 변조하는 기록방법이 제안되어 있다(예를 들면, 일본국 특개소 63-113938호 공보).
또, 멀티펄스 기록 방법에 바이어스 파워보다 낮은 파워에서의 레이저 광 조사를 부가한 기록 방법도 제안되어 있다(예를 들면, 일본국 특개평 6-295440호 공보).
또, 마크 간격에 의해 냉각 파워에서의 조사 시간(이하, 냉각 파워 조사 시간)을 변화시킨다는 기록 방법이 제안되어 있다(일본국 특원평 5-80491).
개서 가능한 상변화 재료를 이용한 광디스크 등의 소위 광디스크에, 예를 들어 반도체 레이저 등의 광원에 의해 빛을 조사하고, 물리적 상태 변화를 생기게 하여 신호를 기록하는 경우, 광원의 빛에 기인한 열에 의해 기록층의 온도는 수백 도까지 도달하고, 기록 박막은 용융된다.
따라서 개서 횟수를 중복하는, 즉 다(多)사이클함으로써 열 손상에 의한 신호 열화가 생긴다.
신호 열화의 원인으로서는 유전체층이나 기록층의 파괴와 기록층의 물질 유동이라 불리우는 현상이 있다. 물질 유동이란 기록시에 기록층 및 그 주변이 고온이 되기 때문에 다사이클함으로써 기록층 물질이 트랙 방향으로 이동하고, 동일 트랙 상에 기록막이 얇은 곳과 두꺼운 곳이 생기는 현상이며, 그 결과로서 신호의 재생 파형이 변형되어 버리고 해당 부분에서는 신호가 재생되지 않는다. 어떻게 해도 다사이클에 의한 신호 열화가 큰 경우에는 그에 따라 광디스크의 용도가 한정된다.
또, 광디스크 장치에서는 반도체 레이저에 의해 빛을 조사하여 물리적 상태변화를 생기게 하는 경우, 예를 들면 개서 가능한 상변화 재료를 이용한 광디스크에서 신호를 기록하는 경우, 레이저 광에 의해 가열된 기록층의 냉각 방법에 따라기록 마크 형상이 변화한다.
즉, 내부적으로 열이 있는 경우에는 한 번 용융된 기록층이 비결정화되지 않고 결정화된다. 그 결과, 기록 마크가 작아지거나 또는 기록 마크의 형상이 변형되어 재생 신호 품질이 악화된다.
그리고, 종래와 같은 냉각 펄스를 채용한 경우, 마크 후단부에서의 열의 체류가 저감되어 비결정화는 용이하게 되지만 경우에 따라서는 후단부에서 냉각 속도가 너무 커지는 것에 기인하여 비결정영역이 마크 선단부보다 커지는 일이 있다.
또, 냉각 파원 및 조사 시간의 조건에 따라서는 오버라이트 특성이 악화되는 경우가 있다. 이 원인은 기록 마크가 후단에서 횡방향으로 너무 커지기 때문에 오히려 마크 변형이 되거나 또는 오버라이트에 의해 소거되지 않은 부분이 발생하기때문이라고 생각된다.
또한, 고밀도로 기록을 행하는 경우에는 마크의 전단부와 후단부의 대칭성이 충분하지 않기 때문에 오버라이트 후의 재생 지터(jitter)가 크고, 재생 신호 품질로서는 충분하지 않았다.
또, 마크간 변조 기록에서는 냉각 펄스를 부가함으로써 마크를 크게 형성하고, C/N을 크게 하고 양호한 신호 품질을 실현할 수 있다. 여기에서 C/N이란 반송파 레벨(carrier level)과 잡음(noise level)의 비를 취한 것이다.
그러나, 냉각 파워의 조건에 따라서는 오버라이트 특성이 악화하는 경우가 있다. 이 원인은 기록 마크가 횡방향으로 너무 커지기 때문에 오버라이트에 의해 소거되지 않은 부분이 발생하기 때문이라는 원인 등을 생각할 수 있다.
본 발명은 마크 후단부에서의 열의 냉각 조건을 세밀하게 제어하고, 기록 마크를 원하는 형상으로 형성하고, 재생 신호 품질이 더욱 향상할 수 있고, 또 열에의한 손상을 완화하고, 양호한 사이클 특성을 얻을 수 있는 기록 방법 빚 기록 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명은 레이저 광선 등의 광학적 수단을 이용하여 정보를 고속, 고밀도로기록·재생하는 광디스크의 기록 방법 및 그 기록 장치에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 이용한 광디스크의 구조도.
도 3은 본 발명의 일실시예에 이용한 광디스크 장치의 도면.
도 4는 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 펄스열의 도면.
도 5는 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형의 도면.
도 6은 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형의 도면.
도 7은 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형의 도면.
도 8은 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형의 도면.
도 9는 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형의 도면.
도 10은 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형의 도면.
도 11은 본 발명의 일실시예에 이용한 디스크 기록 장치의 블록도.
도 12는 본 발명의 일실시예에 이용한 디스크 기록 장치의 각부의 신호 파형도.
도 13은 본 발명의 일실시예에 이용한 디스크 기록 장치의 블록도.
도 14는 본 발명의 일실시예에 이용한 디스크 기록 장치의 각부의 신호 파형도.
도 15는 본 발명의 일실시예에 이용한 기록 파형의 도면.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
1 : 데이터 3 : 시단 펄스
5 : 버스트 게이트 신호 7 : 종단 펄스
9 : 2T 마크 신호 10 : 2T 스페이스 신호
12 : 셀렉트 신호 13 : 복수의 시단 설정값
15 : 선택 시단 설정값 18 : 지연 시단 펄스
19 : 복수의 종단 설정값 21 : 선택 종단 설정값
24 : 지연 종단 펄스 25 : 클록
26 : AND 게이트 27 : 버스트 펄스
28 : OR 게이트 29 : 기록 신호
30 : 기록 전류원 31 : 바이어스 전류원
32 : 재생광 전류원 33, 34 : 스위치
35 : 레이저 다이오드 38 : 인버터
39 : 홀드 시단 설정값 41 : 냉각 펄스
42 : 지연 냉각 펄스 43 : 지연 냉각 펄스(반전)
45 : 홀드 종단 설정값 36 : 냉각 펄스 발생 회로
37 : 냉각 펄스용 지연 라인 51 : 기판
52 : 제 1 유전체층 53 : 기록층
54 : 제 2 유전체층 55 : 반사층
56 : 보호층 61 : 광디스크
62 : 스핀들 모터 63 : 광학 헤드
64 : 레이저 구동 회로 65 : 파형 보정 회로
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 기록 방법은 마크 길이, 마크간 변조기록에 있어서, 기록 파워에서의 레이저 광 조사 후에 바이어스 파워보다 파워가 낮은 냉각 파워까지 레이저 파워를 저하시키고, 그것을 소정 시간 유지한 후, 다시바이어스 파워까지 상승시키는 기록 방식에 있어서, 기록 파워에서의 레이저 광 조사와 해당 기록 파워의 직후의 냉각 파워에서의 조사 사이에 바이어스 파워에서의레이저 광 조사를 행하는 것이다.
또, 마크 길이 기록에서는 멀티펄스에서의 레이저 광 조사 후에 바이어스 파워보다 낮은 냉각 파워까지 레이저 파워를 저하시키고, 그것을 일정 시간 유지한후, 다시 바이어스 파워까지 상승시키는 기록 방식에 있어서, 기록하는 마크 길이에 의해 냉각 파워 조사 시간 또는 냉각 파워 개시 시간의 적어도 어느 한쪽을 변화시키는 것이다.
또, 마크간 변조 기록에 있어서, CAV 모드에서 디스크의 반경에 따라 냉각파워 개시 시간을 변화시키는 것이다.
또, 마크 길이 변조 기록에 있어서, CAV 모드에서 디스크의 반경에 따라 냉각 파워 조사 시간 또는 냉각 파워 개시 시간의 적어도 어느 한쪽을 변화시키는 것이다.
또, 마크 길이 변조 기록에 있어서, 기록 펄스열이 시단 펄스와 종단 펄스와시단·종단 펄스 사이의 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하는 펄스로 이루어지는 경우, 상기 기록 펄스열의 종단 펄스 후에 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것, 또는 상기 기록 펄스열의 종단 펄스와 냉각 파워에서의 레이저 광의 조사 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것이다.
그리고, 마크 길이 변조 기록에 있어서, 기록 펄스열이 시단 펄스와 종단 펄스와 시단·종단 펄스 사이의 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환되는펄스로 이루어지고, 마크 길이 및 마크 간격에 따라 상기 기록 펄스열의 시단 펄스, 종단 펄스의 위치가 변화하는 경우, 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 시간은일정하게 기록 펄스열의 시단 펄스나 종단 펄스의 위치에 의하지 않고 냉각 펄스에서의 레이저 광 조사까지의 시간이 기록 펄스열의 종단 펄스의 레이저 광 조사 개시로부터 일정한, 또는 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시의 타이밍이 클록에 기초한 구성을 구비한다.
또, 상기 기록 방법을 실현하기 위한 기록 장치는 데이터의 Hi 기간의 시단위치에 일정 폭의 시단 펄스를 발생하는 시단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 긴 경우는 마크의 중간 위치에 버스트 게이트 선호를 발생하고, 데이터의 Hi 기간이 짧은 경우는 버스트 게이트 신호를 발생하지 않는 버스트 게이트 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간의 종단 위치에 일정 폭의 종단 펄스를 발생하는 종단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 n 클록일 때, 상기 시단 펄스와 종단 펄스를 포함하는 nT 마크 신호가 발생하고, 데이터의 Lo 기간이 m 클록일 때 스페이스 양단의 상기 종단 펄스와 시단 펄스를 포함하는 mT 스페이스 신호를 발생하는 마크/스페이스 길이 검출 회로(단, n, m은 데이터열에 존재하는 자연수)와 상기 nT 마크신호와 mT 스페이스 신호로부터 후기 시단용 셀렉터 및 종단용 셀렉터를 제어하기 위한 셀렉트 신호를 발생하는 인코더와, 후기 종단용 프로그래머블 지연 라인으로부터의 지연 종단 펄스로부터 일정 폭의 냉각 펄스를 발생하는 냉각 펄스 발생 회로와, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 시단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 시단용 셀렉터와, 상기 시단용 셀렉터의 시단 설정값 출력을 상기 시단 펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 시단용 샘플/홀드 회로와, 상기 시단용 샘플/홀드 회로의 출력의 시단 설정값으로 지연량을 변화시켜서상기 시단 펄스를 지연시킨 지연 시단 펄스를 출력하는 시단용 프로그래머블 지연라인과, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 종단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 종단용 셀렉터와, 상기 종단용 셀렉터의 종단 설정값 출력용 상기 종단 펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 종단용 샘플/홀드 회로와, 상기 종단용 샘플/홀드 회로의 출력의 종단 설정값으로 지연량을 변화시켜서 상기 종단 펄스를 지연시켜서 상기 종단 펄스를 지연시킨 지연 종단 펄스를 출력하는 종단용 프로그래머블 지연 라인과, 냉각 펄스의 지연량을 변화시켜 지연 냉각 펄스를 출력하는 냉각 펄스용 지연 라인과 상기 버스트 펄스와 클록의 논리곱을 취하여 버스트 펄스를 출력하는 AND 게이트와, 상기 지연 시단 펄스와 상기 버스트 펄스와 상기 지연 종단 펄스의 논리합을 취하여 기록 신호를 출력하는 OR 게이트와, 상기 냉각 펄스용 지연 라인으로부터의 냉각 펄스 신호를 반전시키는 인버터와, 레이저 다이오드의 바이어스 전류를 공급하는 바이어스 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 레이저 다이오드의 기록 전류를 공급하는 기록 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 레이저 다이오드로 재생 전류를 공급하는 재생광 전류원과, 상기 기록 전류원의 전류를 상기 기록 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원의 전류를 냉각 펄스 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원과 상기 기록 전류원 및 재생광 전류원으로 병렬 구동된 디스크 신호를 기록하는 레이저 다이오드를 구비한 구성이다.
또, 상기 기록 방법을 가능하게 하기 위한 다른 기록 장치는 데이터의 Hi 기간의 시단 위치에 일정 폭의 시단 펄스를 발생하는 시단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 긴 경우는 마크의 중간 위치에 버스트 게이트 신호를 발생하고, 데이터의 Hi 기간이 짧은 경우는 버스트 게이트 신호를 발생하지 않는 버스트 게이트 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간의 종단 위치에 일정 폭의 종단 펄스를 발생하는 종단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 n 클록일 때 상기 시단 펄스와 종단 펄스를 포함하는 nT 마크 신호를 발생하고, 데이터의 Lo 기간이 m 클록일 때, 스페이스 양단의 상기 종단 펄스와 시단 펄스를 포함하는 mT 스페이스 신호를 발생하는 마크/스페이스 길이 검출 회로(단, n, m은 데이터열에 존재하는 자연수)와, 상기 nT 마크 신호와 mT 스페이스 신호로부터 후기 시단용 셀렉터 및 종단용 셀렉터를 제어하기 위한 셀렉트 신호를 발생하는 인코더와 상기 종단 펄스 발생 회로로부터 출력된 종단 펄스로부터 일정 폭의 냉각 펄스를 발생하는 냉각 펄스 발생 회로와,상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 시단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 시단용 셀렉터와, 상기 시단용 셀렉터의 시단 설정값 출력을 상기 시단 펄스가 왔을 때만 갱신하고 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 시단용 샘플/홀드 회로와, 상기 시단용 샘플/홀드 회로의 출력의 시단 설정값으로 지연량을 변화시켜서 상기시단 펄스를 지연시킨 지연 시단 펄스를 출력하는 시단용 프로그래머블 지연 라인과, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 종단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 종단용 셀렉터와, 상기 종단용 셀렉터의 종단 설정값 출력을 상기 종단 펄스가왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 종단용 샘플/홀드 회로와, 상기 종단용 샘플/홀드 회로의 출력의 종단 설정값으로 지연량을 변화시키고,상기 종단 펄스를 지연시키고, 상기 종단 펄스를 지연시킨 지연 종단 펄스를 출력하는 종단용 프로그래머블 지연 라인과, 냉각 펄스 회로로부터 출력되는 냉각 펄스의 지연량을 변화시켜서 지연 냉각 펄스를 출력하는 냉각 펄스용 지연 라인과, 상기 버스트 게이트 발생 회로로부터의 버스트 펄스와 클록의 논리곱을 취하여 버스트 펄스를 출력하는 AND 게이트와, 상기 지연 시단 펄스와 상기 버스트 펄스와 상기 지연 종단 펄스의 논리합을 취하고 기록 신호를 출력하는 OR 게이트와, 상기 냉각 펄스용 지연 라인으로부터의 지연 냉각 펄스 신호를 반전시키는 인버터와, 레이저 다이오드의 바이어스 전류를 공급하는 바이어스 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 레이저 다이오드의 기록 전류를 공급하는 기록 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 레이저 다이오드에 재생 광전류를 공급하는 재생광 전류원과,상기 기록 전류원의 전류를 상기 기록 신호에서 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원의 전류를 냉각 펄스 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원과 상기 기록 전류원과 재생광 전류원으로 병렬 구동된 디스크 신호를 기록하는 레이저 다이오드를 구비한 구성의 기록 장치이다.
또, 마크 길이 변조 기록에 있어서, 하나의 기록 마크를 형성하기 위한 기록펄스열 후에 기록 마크의 후단 부분의 형상을 정돈하는 상기 기록 펄스열과는 다른냉각 펄스로서의 펄스열(이하, 마크 후단 보정 펄스열)을 부가하는 것이다.
마크 후단 보정 펄스열이란 구체적으로는 바이어스 파워보다 작은 파워를 포함하는 적어도 2개 이상의 다른 파워로 레이저 광을 조사한다.
또는 기록 펄스열에서의 레이저 광 조사로부터, 연속적으로 레이저 광의 파워가 기록 펄스열이 낮은 파워 또는 바이어스 파워 중 어느 하나 보다 작은 파워까지 변화하는기간을 갖는 것이다.
또, 기록 펄스열 후, 마크 후단 보정 펄스열까지의 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는, 또는 기록 마크 길이마다 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간, 마크 후단 보정 펄스열의 펄스 형상을 변화한다.
또는 광디스크를 일정한 각속도로 회전시키는 경우, 반경에 따라 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간, 마크 후단 보정 펄스열의 펄스 형상을 변화하는 것이다.
본 발명의 광학적 정보 기록 방법에 의하면, 기록 마크 후단부를 원하는 형상으로 형성할 수 있고, 양호한 재생 신호 특성이 얻어지고, 또 본 발명의 광학적 정보 기록 방법 및 기록 장치에 의하면 열적 손상을 현저하게 완화할 수 있고, 양호한 사이클 특성이 얻어진다.
본 발명의 기록 방법은 마크 길이 변조 기록에 있어서,
(A) 기록 펄스열과 냉각 파워에서의 레이저 광의 조사 개시까지 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행한다.
(B) 기록 마크 길이에 따라 냉각 파워 조사 시간 또는 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시 시간을 변화시킨다.
(C) 기록 마크 길이가 미리 결정된 길이 이하인 경우에만 냉각 파워 조사 시간 또는 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시 시간을 변화시킨다.
(D) 기록 마크 길이가 미리 결정된 길이 이하인 경우에만 일정한 냉각 파워조사 시간 및 냉각 파워 개시 시간의 냉각 펄스를 부가한다.
(E) 광디스크를 일정한 각속도로 회전시킬 때, 디스크 내주부에서 미리 결정된 마크 길이 이하의 마크를 기록할 때만 냉각 펄스를 부가한다.
(F) 광디스크를 일정한 각속도로 회전시킬 때, 디스크의 반경에 따라 냉각 파워 조사 시간, 냉각 파워 개시 시간을 변화시킨다.
또, 본 발명의 기록 방법은 마크간 변조 기록에 있어서,
(G) 기록 파워와 냉각 파워에서의 레이저 광의 조사 개시까지 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행한다.
(H) 광디스크를 각속도로 일정하게 회전시킬 때, 디스크의 반경에 따라 냉각 파워 개시 시간을 변화시킨다.
상기 구성 중 어느 하나로 구성한 것이므로 마크 전단부·후단부에서의 형상의 비대칭성을 억제하고, 기록 마크를 원하는 형상으로 형성하고, 양호한 재생신호 품질이 실현된다.
그리고, 본 발명의 기록 방법은 마크 길이 변조 기록에 있어서, 기록 펄스열이 시단 펄스와, 종단 펄스와, 시단·종단 펄스 사이의 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환되는 펄스로 구성되는 경우에,
(I) 상기 기록 펄스열의 종단 펄스 후에 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를행한다.
(J) 상기 기록 펄스열의 종단 펄스와 냉각 파워에서의 레이저 광의 조사 개시까지 바이어스 파워에서의 조사를 행한다.
또, 마크 길이 변조 기록에 있어서, 기록 펄스열이 시단 펄스와, 종단 펄스와, 시단·종단 펄스 사이의 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환되는펄스로 구성되고, 시단 펄스와 종단 펄스의 위치가 각각 마크 길이 및 마크 간격에따라 변화하는 경우에,
(K) 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 시간은 일정하며, 기록 펄스열의 시단펄스나 종단 펄스의 위치에 의하지 않고, 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간이 기록 펄스열의 종단 펄스로부터 일정, 또는 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시의 타이밍이 클록에 기초한다.
상기 구성 중 어느 하나의 구성으로 한 것이므로 시단 펄스와 종단 펄스의 위치를 변동시키는 것으로, 기록 마크 사이의 열간섭에 의한 마크 길이 변동이 억제되므로 고밀도 기록이 가능한 동시에, 바이어스 레벨의 일부를 냉각 파워로 하는것으로 기록 박막의 기록시의 토탈 에너지가 저감되고, 다사이클한 경우의 열적 손상에 의한 신호 열화를 경감하고 양호한 사이클 특성도 실현할 수 있다.
또, 본 발명의 기록 장치는 데이터의 Hi 기간의 시단 위치에 일정 폭의 시단펄스를 발생하는 시단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 긴 경우는 마크의 중간 위치에 버스트 게이트 신호를 발생하고, 데이터의 Hi 기간의 종단 위치에 일정폭의 종단 펄스를 발생하는 종단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 n 클록일때 상기 시단 펄스와 종단 펄스를 포함하는 nT 마크 신호를 발생하고, 데이터의 Lo기간이 m 클록일 때 스페이스 양단의 상기 종단 펄스와 시단 펄스를 포함하는 mT 스페이스 신호를 발생하는 마크/스페이스 길이 검출 회로(단, n, m은 데이터열에 존재하는 자연수)와, 상기 nT 마크 신호와 mT 스페이스 신호로부터 후술하는 시단용 셀렉터 및 종단용 셀렉터를 제어하기 위한 셀렉트 신호를 발생하는 인코더와, 후술하는 종단용 프로그래머블 지연 라인으로부터의 지연 종단 펄스로부터 일정 폭의 냉각 펄스를 발생하는 냉각 펄스 발생 회로와, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 시단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 시단용 셀렉터와, 상기 시단용 셀렉터의 시단 설정값 출력을 상기 시단 펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 시단용 샘플/홀드 회로와, 상기 시단용 샘플/홀드 회로의 출력의 시단 설정값으로 지연량을 변화시켜서 상기 시단 펄스를 지연시킨 지연 시단 펄스를 출력하는 시단용 프로그래머블 지연 라인과, 냉각 펄스 발생 회로로부터 출력되는 냉각 펄스의 지연량을 변화시켜서 지연 냉각 펄스를 출력하는 냉각 펄스용 지연 라인과, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 종단 설정값으로부터 하나를 선택하여출력하는 종단용 셀렉터와, 상기 종단용 셀렉터의 종단 설정값 출력을 상기 종단펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 종단용 샘플/홀드 회로와, 상기 종단용 샘플/홀드 회로의 출력의 종단 설정값으로 지연량을 변화시키고, 상기 종단 펄스를 지연시키고, 상기 종단 펄스를 지연시킨 지연 종단 펄스를 출력하는 종단용 프로그래머블 지연 라인을 구비하고,
(L) 이 냉각 펄스 발생 회로에 종단용 프로그래머블 지연 라인으로부터의 지연 종단 펄스를 입력함으로써 냉각 펄스를 발생시키고,
(M) 이 냉각 펄스 발생 회로에 종단 펄스 발생 회로로부터의 종단 펄스를 입력함으로써 냉각 펄스를 발생시킨 구성으로 한 것이며,
상기 기록 방법과 같은 작용에 의해 기록 박막의 기록시의 토탈 에너지를 저감할 수 있고, 다사이클 기록한 경우의 열적 손상에 의한 신호 열화를 경감하고, 양호한 사이클 특성을 갖는 장치를 제공할 수 있다.
또, 본 발명의 기록 방법은 마크 길이 변조 기록하는 경우에,
(N) 하나의 기록 마크를 형성하기 위한 기록 펄스열 후에 바이어스 파워보다 작은 파워를 포함하는 적어도 2개 이상의 다른 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각펄스로서의 마크 후단 보정 펄스열을 설치한다.
(O) 기록 펄스열에서의 레이저 광 조사후, 연속적으로 바이어스 파워보다 작은 파워까지 파워가 변화하는 기간을 갖는 냉각 펄스로서의 후단 보정 펄스열을 설치한다.
(P) 기록 펄스열 후, 냉각 펄스로서의 마크 후단 보정 펄스열까지의 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행한다.
(Q) 기록하는 마크 길이에 따라 냉각 펄스로서의 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간 또는 냉각 펄스로서의 마크 후단 보정 펄스열의 펄스 형상을 변화시킨다.
(R) 광디스크를 일정한 각속도로 회전시킬 때, 디스크의 반경 방향의 위치에 따라 상기 2개의 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간 또는 마크 후단 보정 펄스열의 펄스 형상을 변화시킨다.
상기 구성 중 어느 하나의 구성으로 한 것이기 때문에 마크 전단부·후단부에서의 형상의 비대칭성을 억제하고, 기록 마크를 원하는 형상으로 형성하고, 양호한 재생 신호 품질이 실현된다.
이하, 도면을 이용하여 본 발명의 구체적 실시예를 들고 본 발명을 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 2를 이용하여 본 실시예에서 이용한 디스크의 구조에 대하여 설명하기로한다. 유전체층, 기록층, 반사층은 진공 증착 또는 스퍼터링 등의 통상의 박막 형성 방법으로, 투명 기판(51) 상에 형성한다. 기판(51) 위에 제 1 유전체층(52), 기록층(53), 제 2 유전체층(54), 반사층(55)을 순차적으로 설치한다. 또, 그 위에 밀착한 보호층(56)을 설치한다. 또, 광디스크로서는 반사층(55) 이나 보호층(56)이 없는 구조의 광디스크라도 적용할 수 있다. 기록, 재생을 행하는 레이저 광은 기판(51) 측으로부터 입사시킨다.
기판(51)의 재질은 유리, 석영, 폴리카보네이트, 또는 폴리메틸메타크릴레이트를 사용할 수 있다. 또, 기판은 평활한 평판이거나 표면에 트래킹 가이드용 홈형상의 요철이 있는 것이거나 상관없다.
보호층(56)으로서는 수지를 용제에 녹여서 도포·건조한 것이나, 수지판을 접착제로 접착한 것 등이 사용된다.
기록층(53)에 이용하는 기록층 재료로서는 비결정과 결정 사이의 상변화를 하는 칼코겐 합금(chalcogen alloy)이 잘 알려져 있고, 예를 들어 SbTe계, GeSbTe계, GeSbTeSe계, GeSbTePd계, TeGeSnAu계, AgSbTe계, GeTe계, GaSb계, InSe계, InSb계, InSbTe계, InSbSe계, InSbTeAg계 등, 예를 들면 상기 계통의 합금의 상변화 특성 또는 광학 특성에 영향을 미치지 않는 범위에서 다른 원소를 포함하는 합금 등이 사용된다.
유전체층(52, 54)으로서는 SiO2, SiO, TiO2, MgO, Ta2O5, Al2O3, GeO2, Si3N4, BN, AlN, SiC, ZnS, ZnSe, ZnTe, PbS 등 또는 이들의 혼합물이 사용된다.
반사층(55)으로서는 Au, Al, Cu, Cr, Ni, Ti 등의 금속 재료를 주성분으로 한 재료, 또는 이들의 혼합물 또는 소정의 파장에서의 반사율이 큰 유전체 다층막 등이 사용된다.
상기 재료 중, 후술하는 본 실시예에서 이용한 디스크는 φ130nm의 폴리카보네이트제 신호 기록용 트랙을 갖는 기판을 이용하고, 기판 상에 제 1 유전체층으로서 ZnS-Si02혼합막의 두께 1300Å 스퍼터링으로 형성했다.
또, 후술하는 제 1, 제 2 실시예에서 이용한 디스크의 기록층 조성은Ge22Sb24Te54, 또, 실시예 3∼18에서 이용한 디스크의 기록층 조성은 Ge21Sb26Te53으로 하고, 기록층을 250Å, 제 2 유전체층으로서 ZnS-Si02혼합막을 두께 200Å 형성했다. 반사층은 A1막을 1500Å 스퍼터링으로 성막했다. 그리고 그 위에 폴리카보네이트의 보호층을 설치했다.
여기에서, 후술하는 모든 본 실시예에서 이용한 광디스크 장치에 대하여 도 3을 이용하여 설명하기로 한다. 광디스크(61)는 스핀들 모터(62)에 부착되어 회전가능하다. 광학 헤드(63)는 반도체 레이저를 광원으로 하고, 콜리메이터 렌즈, 대물 렌즈 등으로 광디스크 상에 레이저 스폿을 형성한다.
반도체 레이저는 레이저 구동 회로(64)로 구동되지만, 신호를 기록하는 경우에는 입력 신호는 파형 보정 회로(65)에 의해 파형 보정된 후, 레이저 구동 회로(64)로 입력된다.
일반적으로 파형 보정 회로를 복잡한 것으로 하는 것은 가격면에서도 바람직한 것은 아니고, 그 때문에 파형 보정에 관해서도 가능한 한 간소한 패턴, 예를 들면 모든 마크 길이 각각에 대하여 기록 파형을 변화하는 것은 아니고, 미리 결정된마크 길이에 대해서만 기록 파형을 변화하는 편이 좋다고 생각된다.
실시예에서 이용한 구체적인 기록 펄스열의 1형상을 도 4에 도시한다. 단, 도 4의 기록 펄스열 A∼D에는 마크 길이 변조 기록에 있어서, 6T 마크를 기록하는경우의 대표적인 기록 펄스열 패턴을 나타낸다.
또, 본 실시예의 마크 길이 변조 기록에 있어서는 모두 레이저 광의 제 1 파워를 기록 파워, 제 2 파워를 바이어스 파워, 냉각 파워나 냉각 펄스로서의 마크후단 보정 펄스열의 최저 파워를 재생 파워로서 행한 결과를 나타낸다. 이와 같이, 제 1 파워를 기록 파워, 제 2 파워를 바이어스 파워, 최저 파워를 재생 파워로 하면, 특히 파형 보정 회로의 구성이 간략화되기 때문에 바람직하지만 본 발명에 적용하는 레이저 광의 파워는 이것에 한정되는 것은 아니고, 제 1 파워는 기록 파워이상, 제 2 파워는 적어도 제 1 파워보다도 낮은 파워, 최저 파워를 제 2 파워 또는 바이어스 파워의 어느 하나보다 낮은 파워라면 자유롭게 설정할 수 있음은 물론이다.
도 4에서 기록 펄스열 A는 기록 마크를 형성하기 때문에 레이저 광 제 1 파워 1.5T로 구성되는 시단 펄스와, 제 1과 제 2 파워를 0.5T의 주기로 번갈아 전환한 펄스로 구성된 기록 펄스열이다. 여기에서 말하는 T란 클록이다.
기록 펄스열 B는 기록 마크를 형성하기 위하여 레이저 광 제 1 파워 1.OT로이루어지는 시단 펄스와, 제 1 파워와 제 2 파워를 0.5T의 주기로 번갈아 전환한 펄스와, 제 1 파워 1.OT로 이루어지는 종단 펄스로 구성된 기록 펄스열이다.
기록 펄스열 C는 기록 펄스열 B와 같은 펄스 구성이며, 또 기록할 마크 길이및 전후의 마크 간격에 의해 기록 펄스열의 시단 펄스와 종단 펄스의 위치가 변화하는 것이다.
기록 펄스열 D는 기록 마크를 형성하기 위하여 레이저 광 제 1 파워와 제 2파워를 0.5T 주기로 번갈아 전환한 펄스로 구성된 기록 펄스열이다.
또, 본 발명에 적응하는 기록 펄스열의 펄스폭(시단 펄스폭, 종단 펄스폭, 시단·종단 펄스 사이의 펄스폭, 기록 펄스열 D의 경우의 기록 펄스열의 펄스폭 등)은 도 4에 도시한 것에 한정되는 것은 아니고, 자유롭게 설정할 수 있음은 물론이다.
또, 본 실시예에서 마크간 변조 기록으로 냉각 펄스를 부가한 경우에 채용한구체적인 기록 파형의 1형상을 도 5에 도시한다.
입력 파형 A는 (2, 7) 변조 방식의 예이다. 이 경우의 마크폭은 O.5T이다. 여기에서는 마크 간격을 2.0T, 3.5T, 1.5T로 한 경우를 도시하고 있다.
기록 파형 E는 입력 파형 A를 기록하는 경우이며, 기록 펄스폭은 0.25T이다.
기록 파형 F는 입력 파형 A를 기록하는 경우이며, 기록 파워 조사 직후에 냉각 파워 레벨을 조사한 것이다. 기록 펄스폭은 0.25T로 냉각 파워 조사 시간은0.25T이다.
기록 파형 G는 입력 파형 A를 기록하는 경우이며, 기록 파워 레밸 조사후에바이어스 파워 레밸에서의 조사를 행하고, 그 후, 냉각 파워 레밸에서의 조사를 한 것이다. 기록 펄스폭은 0.25T이고, 냉각 파워 조사 시간은 0.25T, 냉각 파워 개시 시간은 0.25T이다.
또, 본 실시예에서 마크 길이 변조 기록으로 냉각 펄스를 부가한 경우에 채용한 구체적인 기록 파형의 1형상을 도 1에 도시한다. 도 1에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용한 경우에 대하여 도시한다.
입력 파형 B는 EFM(Eight to Fourteen Modulation) 신호의 입력 파형의 예이다. EFM 변조는 3T로부터 11T 사이의 9종류의 길이의 신호 조합으로 데이터를 변조하는 것으로, 여기에서 말하는 T란 클록이다.
기록 파형 H는 입력 파형 B를 기록하는 경우이며, 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다.
기록 파형 I는 입력 파형 B를 기록하는 경우에 냉각 펄스를 부가한 기록 파형이며, 직전의 기록 마크 길이에 의하지 않고 냉각 파워 조사 시간을 0.5T, 냉각파워 개시 시간을 0과 일정하게 하여 부가한 것이다.
기록 파형 J는 입력 파형 B를 기록하는 경우에 냉각 펄스를 부가한 기록 파형이며, 직전의 기록 마크 길이에 의하지 않고 냉각 파워 조사 시간을 0.5T, 냉각파워 개시 시간을 0.25T로 일정하게 하여 부가한 것이다.
이하, 구제적인 실시예를 갖고 본 발명을 더욱 상세히 설명하기로 한다.
(제 1 실시예)
본 실시예에서는 마크간 변조이며, 기록 파워와 냉각 파워와의 레이저 광 조사 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행한 경우에 대하여 설명하기로한다.
광 디스크의 평가 조건은 레이저 광의 파장이 680nm, 기록 장치의 기록 재생에 이용하는 광학 헤드의 대물 렌즈의 NA를 0.55, (2, 7) 변조를 최단 마크 피치가 2.1㎛로 되도록 클록(T)을 설정하고, 1 빔 오버라이트에 의해 100회 기록하고, 재생 신호를 미분하여 피크 검출을 행하고, 극 검출 신호의 지터값 : σsum/Tw(%)를측정했다. 여기에서, σ는 지터의 표준 편차, Tw는 검출 시스템의 원도우 폭이다. 선속도는 6.0m/s이다.
이 디스크에 대하여 신호의 기록은 마크 피치가 2.1㎛로 되는 단일 주파수를기록했을 때 C/N이 포화하는 기록 파워와 그 신호를 마크 피치가 5.6㎛로 되는 신호로 오버라이트한 경우에 소거율이 -20dB를 넘는 파워 마진과의 중앙값의 파워를설정했다.
본 실시예에서 이용한 기록 파형과 지터를 각각 표 1, 표 2에 도시한다.
Figure pct00001
Figure pct00002
표 1의 기록 파형 1-1은 도 5의 기록 파형 E와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다. 기록 파형 1-2는 도 5의 기록 파형 F와 같이 냉각 펄스를 기록 파워에서의 레이저 광 조사 직후에 부가한 경우이다. 단, 그 때의 냉각 파워 조사 시간은 0.25T이다. 또, 기록 파형 1-3은 도 5의 기록 파형 G와 같이 기록 파워에서의 조사 후 바이어스 파워에서의 조사를 행하고, 그 후, 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 그 때의 냉각 파워 조사 시간을 0.25T로 하고, 냉각 파워개시 시간을 기록 파워에서의 조사 종료후 0.20T 지연시킨 경우이다.
표 2에서 기록 파형 1-1의 경우는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 나쁘게 되어 있다. 기록 파형 1-2의 경우는 기록 파형 1-1에 비하면 지터가 개선되어 있으나 기록 파형 1-3과 비교하면 나쁘다. 즉, 본 발명에 의한 냉각 파워 개시 시간을 지연시킨 기록 파형 1-3의 경우는 다른 기폭 파형에 비하여 지터가 개선된다.
이상과 같이, 마크간 변조로 냉각 펄스의 개시를 지연시킴으로써 지터가 작은 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워의 예로서 재생 파워의 경우를 들었으나, 냉각 파워가 바이어스 파워와 레이저 오프 레벨 사이의 경우에 대해서도 같은 결과가얻어졌다.
(제 2 실시예)
본 실시예에서는 광디스크를 일정한 각속도로 회전시키고, 마크간 변조로 기록했을 때 냉각 파워 개시 시간을 디스크의 반경에 따라 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
평가 조건은 디스크의 회전수 1500rpm으로 일정하며, (2, 7) 변조 신호를 최단 마크 피치가 항상 2.1㎛로 되도록 클록(T)을 바꾸어 1 빔 오버라이트에 의해 100회 기록하고, 지터 : σsum/Tw(%)를 반경 23, 30, 37, 43, 50, 57mm의 위치에서측정했다. 여기에서, σ는 지터의 표준편차, Tw는 검출 시스템의 원도우 폭이다.
또, 이 반경에서의 각각의 선속도는 약 3.6, 4.7, 5.8, 6.8, 7.9, 9.0m/s이다.
또, 디스크 및 그 밖의 측정 조건은 제 1 실시예와 같다.
본 실시예에서 이용한 기록 파형과 지터를 각각 표 3, 표 4에 나타낸다.
Figure pct00003
표 3의 기록 파형 2-1은 도 5의 기록 파형 E와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다. 기록 파형 2-2는 도 5의 기록 파형 F와 같이 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 기록 파워에서의 레이저 광 조사후에 행하는 경우이다. 단, 그 때의 냉각 파워 조사 시간은 0.30T이다. 또, 기록 파형 2-3은 도 5의 기록 파형 G와 같이 기록 파워에서의 조사 후, 바이어스 파워에서의 조사를 행하고, 그 후 냉각파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 그 때의 냉각 파워 조사 시간은 0.30T, 냉각 파워 개시 시간은 기록 파워에서의 조사 종료후 O.1OT 후이다.
표 4로부터 기록 파형 2-1의 경우는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 디스크의 내외주부에서 악화하고 있다. 기록 파형 2-2를 이용한 경우에는 디스크 내주부에서 다른 기록 파형에 비하여 지터가 개선되어 있다. 또, 기록 파형 2-3을 이용한 경우에는 디스크 내주부에서 기록 파형 2-2보다 지터가 악화하고 있다. 그러나, 디스크 외주부에서는 다른 기록 파형으로부터 지터가 개선되어 있다.
이상에서 본 발명과 같이 디스크 내주부에서는, 예를 들면 기록 파형 2-2를적용하고, 디스크 외주부에서는 예를 들면 기록 파형 2-3을 적용하는 식으로, 디스크 내주부에서 냉각 파워 개시 시간을 앞당긴 기록 파형을 이용함으로써 재생 지터의 양호한 기록이 가능하게 된다.
이상과 같이 광디스크를 일정한 각속도로 회전시키는 경우, 디스크 내주부에서 냉각 파워 개시 시간을 빠르게 함으로써 디스크 전체 둘레에서 지터가 작은 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 제 1 실시예와 마찬가지로 냉각 파워가 재생 파워의 경우에 대한 결과이지만 냉각 파워가 바이어스 파워와 레이저 오프 레벨 사이의 경우에 대해서도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
(제 3 실시예)
본 실시예에서는 마크 길이 변조에서 기록 파워와 냉각 파워와의 레이저 광조사 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행한 경우에 대하여 설명하기로 한다.
광디스크의 평가 조건은 레이저 광의 파장이 680nm, 기록 장치의 기록 재생에 이용하는 광학 헤드의 대물 렌즈의 NA를 0.55로 하고, 8-14 변조(EFM)된 입력 신호를 최단 마크 길이가 0.99㎛로 되도록 클록 T를 설정하고, 1 빔 오버라이트에 의해 100회 기록했을 때의 3T로부터 11T까지의 재생 신호의 제로 교차점의 지터값 : σsum/Tw(%)를 측정했다. 여기에서, σsum은 3T로부터 11T까지의 지터의 총합의 표준편차, Tw는 검출 시스템의 원도우 폭이다. 선속도는 4.0m/s이다.
이 디스크에 있어서, 신호의 기록은 기록 마크 길이가 0.9㎛으로 되는 단일주파수를 기록했을 때 C/N이 포화되는 기록 파워를 기록 파워로 하고, 그 3T 마크의 신호를 11T 상당의 단일 주파수로 오버라이트한 경우에 소거율이 -20dB을 넘는 파워 마진의 중앙값의 파워를 설정하고, 바이어스 파워로 했다.
본 실시예에서 이용한 기록 파형과 지터를 각각 표 5, 표 6에 나타낸다.
Figure pct00005
Figure pct00006
표 5에서는 3T∼11T까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 3종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
표 5의 기록 파형 3-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다. 기록 파형 3-2는 도 1의 기록 파형 I와 같이 기록 펄스열 직후에냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 경우이다. 단, 그 때의 냉각 파워 조사시간은 마크 길이 3T∼11T에 의하지 않고 0.5T와 일정하게 하고, 냉각 파워 개시 시간은 0으로 한 경우이다. 또, 기록 파형 3-3은 도 1의 기록 파형 J와 같이 기록펄스열 직후에 바이어스 파워에서의 조사를 하고, 그 후 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 그 때의 냉각 파워 조사 시간, 냉각 파워 개시 시간은 마크길이에 의하지 않고 각각 0.5T와 0.2T이다.
표 6에서 기록 파형 3-1의 경우에는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 나쁘게되어 있다. 기록 파형 3-2를 이용한 경우에는 기록 파형 3-1에 비하여 지터가 개선되어 있다. 한편 본원 발명에 의한 냉각 파워 개시 시간을 지연시킨 기록 파형 3-3의 경우에는 마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 보다 양호하게 제어되어 있기 때문에 다른 기록 파형에 비하여 지터가 작아지고 있다.
이상과 같이, 기록 파워와 냉각 파워의 레이저 광 조사 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 넣는 것에 의해 지터가 작은 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워인 경우에 대하여 나타내었으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타내었으나 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어겼다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 4 실시예)
본 실시예에서는 냉각 파워 조사 시간만을 기록 마크 길이에 의해 변화시킨경우에 대하여 설명하기로 한다.
각각의 기록 파형과 지터를 각각 표 7, 표 8에 나타낸다. 또, 측정 조건은 제 3 실시예와 같다.
표 7에서는 3T∼11T까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 4종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
표 7의 기록 파형 4-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다. 기록 파형 4-2는 도 1의 기록 파형 I와 같이 냉각 파워 조사 시간을 마크 길이에 의하지 않고 O.1OT로 일정하게 하고, 그 냉각 파워 조사 개시를 기록 펄스열 직후로 한 경우이다. 또, 기록 파형 4-3은 도 1의 기록 파형 I와 같이 기록 펄스열 직후에 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 그 때의 냉각 파워 조사 시간은 기록 파형 4-2보다 길게 0.50T로 한 경우이다. 또, 기록 파형 4-4는 도 1의 기록 파형 I와 같이 기록 펄스열 직후에 냉각 파워에서의 조사를 행하는 것이며, 그 냉각 파워 조사 시간은 마크 길이가 짧을수록 길게 한 경우이다.
Figure pct00007
Figure pct00008
표 7에서 기록 파형 4-1의 경우에는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 나빠지고 있다. 기록 파형 4-2, 4-3을 이용한 경우에는 지터는 기록 파형 4-1보다는 개선되어 있지만 기록 파형 4-4에 비하면 나쁜 값이다.
한편, 본원 발명에 의한 기록 마크 길이가 짧을수록 냉각 파워 조사 시간을길게 한 기록 파형 4-4의 경우에는 마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 각 마크길이에 대하여 보다 양호하게 제어되어 있기 때문에 지터값이 다른 기록 파형에 비하여 크게 개선되어 있다.
이상과 같이, 기록 마크 길이에 따라 냉각 파워 조사 시간을 변화시킴으로써지터의 작은 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어 졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0 이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어 졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 5 실시예)
본 실시예에서는 마크 길이가 미리 결정된 것보다 짧을 때에만 냉각 파워 조사 시간을 마크의 길이에 따라 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
각각의 기록 파형과 지터를 각각 표 9, 표 10에 나타낸다. 또 측정 조건은 제 3 실시예와 같다.
Figure pct00009
Figure pct00010
표 9에서는 3T∼11T까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 3종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
표 9의 기록 파형 5-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다. 기록 파형 5-2는 도 1의 기록 파형 I와 같이 기록 펄스열 조사 직후에 냉각 파워의 조사를 마크 길이가 3T∼6T의 마크 길이가 짧은 경우에만 변화시키는 것이며, 냉각 파워 조사 시간은 기록 마크 길이가 짧을수록 길게 한 경우이다. 또, 기록 파형 5-3은 마크 길이가 3T인 경우만 냉각 파워 조사 시간이 길고,냉각 펄스를 기록 펄스열 조사 직후에 부가한 경우이다.
표 10에서 기록 파형 5-1의 경우에는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 나쁘게 되어 있다. 한편 본원 발명에 의한 3T∼6T의 기록 마크 길이의 경우, 그 마크 길이가 짧을수록 냉각 파워 조사 시간을 길게 한 기록 파형 5-2에서는 기록 파형5-1에 비하여 지터가 개선되어 있다.
또, 본원 발명에 의한 기록 마크 길이가 3T의 경우만 긴 냉각 파워 조사 시간을 부가한 기록 파형 5-3에서는 기록 파형 5-2에 비하면 지터는 크지만 기록 파형 5-1에 비하여 지터가 개선되어 있다.
이상과 같이 미리 결정된 기록 마크 길이 이하의 경우에만 냉각 펄스 조사시간을 변화시켜서 부가함으로써 지터가 작은 기록이 가능하게 된다. 이 기록 파형에서는 기록 회로적으로도 간소하게 되고 가격면에서도 좋다고 생각된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워의 경우에 대하여 나타내었으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 1이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 6 실시예)
본 실시예에서는 냉각 파워 조사 시간이 마크 길이에 의하지 않고 일정하게냉각 파워 개시 시간만을 기록하는 마크 길이에 따라 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
각각의 기록 파형과 지터를 각각 표 11, 표 12에 나타낸다. 또, 측정 조건은제 3 실시예와 같다.
Figure pct00011
Figure pct00012
표 11에서는 3T∼1lT까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 4종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
표 11의 기록 파형 6-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 기록 펄스열 조사 후에냉각 펄스를 부가하지 않은 경우이다. 기록 파형 6-2는 도 1의 기록 파형 I와 같이 기록 펄스열 조사 직후에 냉각 파워의 조사를 행하는 경우이다. 단, 냉각 파워조사 시간은 기록할 마크 길이에 의하지 않고 0.50T이다. 또, 기록 6-3은 도 1의 기록 파형 J와 같이 기록 펄스열 조사후 바이어스 파워에서의 조사를 행하고, 그후, 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 냉각 파워 조사 시간은 0.50T,냉각 파워 개시 시간을 0.4T로 하고, 기록할 마크 길이에 상관없이 일정하게 한 경우이다. 또, 기록 파형 6-4는 기록 파형 6-3과 마찬가지로 냉각 파워 조사 시간은 0.50T와 마크 길이에 의하지 않고 일정하지만, 냉각 파워 개시 시간을 기록 마크 길이가 짧을수록 빨라진 경우이다.
표 12에서 기록 파형 6-1의 경우에는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 나쁘게 되어 있다. 기록 파형 6-2, 기록 파형 6-3을 이용한 경우에는 기록 파형 6-1에비하여 지터는 개선되어 있다. 한편, 본원 발명에 의한 기록 마크 길이가 짧을수록냉각 파워 개시 시간을 빠르게 한 기록 파형 6-4의 경우에는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 작아진다.
이상과 같이, 기록 마크 길이에 따라 냉각 파워 개시 시간을 변화시킴으로써지터의 작은 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 1이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 7 실시예)
본 실시예에서는 냉각 파워 조사 시간이 일정하고, 파워길이가 미리 결정된것보다 짧을 때에만 냉각 파워 개시 시간을 기록하는 마크 길이에 따라 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
각각의 기록 파형과 지터를 각각 표 13, 표 14에 나타낸다. 또, 측정 조건은제 3 실시예와 같다.
표 13에서는 3T∼11T까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 3종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
표 13의 기록 파형 7-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지않는 경우이다. 기록 파형 7-2는 도 1의 기록 파형 J와 같이 기록 펄스열 조사 후바이어스 파워에서의 조사를 행하고, 그 후 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이며, 또 기록할 마크 길이가 3T∼6T의 경우에는 마크 길이가 짧을수록 냉각 펄스 개시 시간을 빠르게 한 경우이다. 단, 냉각 파워 조사 시간은 0.50T로 마크 길이에의하지 않고 일정하다.
Figure pct00013
Figure pct00014
또, 기록 파형 7-3은 3T 마크를 기록하는 경우만 냉각 펄스를 기록 펄스열 조사 직후에 행하고, 4T∼11T의 마크를 기록하는 경우에는 냉각 파워 개시 시간을0.20T로 일정하게 한 경우이다.
표 14에서 기록 파형 7-1의 경우에는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 나쁘게 되어 있다. 한편 본원 발명에 의한 3T~6T의 기록 마크 길이의 경우, 그 마크 길이가 짧을수록 냉각 파워 개시 시간을 빠르게 한 기록 파형 7-2에서는 기록 파형 7-1에 비하여 지터가 개선되어 있다. 또, 본원 발명에 의한 3T의 기록 마크 길이의 경우만 냉각 펄스 개시 시간을 빠르게 한 기록 파형 7-3에서는 기록 파형 7-2에 비하면 지터는 크지만 기록 파형 7-1에 비하면 지터가 개선되어 있다.
이상과 같이, 미리 결정된 기록 마크 길이 이하의 경우에만 냉각 펄스 개시 시간을 변화시켜 부가함으로써 지터가 작은 기록이 가능하게 된다. 이 기록 파형에서는 기록 회로적으로도 간소하게 되고 가격면에서도 좋다고 생각된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 8 실시예)
본 실시예에서는 미리 결정된 길이 이하의 마크를 기록하는 경우에만 일정한냉각 파워 조사 시간 및 일정한 냉각 파워 개시 시간의 냉각 펄스를 부가하는 경우에 대하여 설명하기로 한다.
각각의 기록 파형과 지터를 각각 표 15, 표 16에 나타낸다. 또, 측정 조건은제 3 실시예와 같다.
Figure pct00015
Figure pct00016
표 15에서는 3T∼11T까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 3종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
표 15의 기록 파형 8-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다. 기록 파형 8-2는 도 1의 기록 파형 J와 같이 기록할 마크 길이가 3T~6T의 경우만 기록 펄스열 조사후 바이어스 파워에서의 조사를 행하고, 그 후 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 마크 길이가 3T~6T 까지의 경우, 냉각 파워 조사 시간은 0.43T, 냉각 파워 개시 시간은 0.08T로 한 냉각 펄스를 부가한경우이다. 또, 기록 파형 8-3은 기록할 마크 길이가 3T인 경우만 냉각 파워 조사 시간을 0.43T, 냉각 파워 개시 시간은 0.08로 일정한 냉각 펄스를 부가한 경우이다.
표 16에서 기록 파형 8-1의 경우에는 다른 기록 파형에 비하여 지터가 나쁘게 되어 있다. 한편, 본원 발명에 의한 미리 결정된 마크 길이 이하의 마크를 기록할 때만 냉각 펄스폭 및 개시 시간을 일정하게 한 냉각 펄스를 부가한 기록 파형 8-2를 이용한 경우에는 기록 파형 8-1의 경우보다 지터가 개선되어 있다. 또, 본원 발명에 의한 최단 마크 길이의 마크를 기록할 때만 냉각 펄스를 부가한 기록 파형 8-3을 이용한 경우에는 기록 파형 8-2에는 약하지만 기록 파형 8-1에 비하여 지터가 개선되어 있다.
이상과 같이, 미리 결정된 기록 마크 길이 이하의 마크를 기록할 때의 냉각 펄스 개시 시간을 일정하게 한 냉각 펄스를 부가함으로써 지터의 작은 기록이 가능하게 된다. 이 기록 파형에서는 기록 회로적으로도 간소하게 되고, 가격면에서도 좋다고 생각된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 9 실시예)
본 실시예에서는 광디스크를 회전시켰을 때 디스크 내주부에서 미리 결정된 마크 길이 이하의 마크를 기록할 때만 냉각 펄스를 부가하는 경우에 대하여 설명하기로 한다.
평가 조건은 디스크의 회전수 1OOOrpm, EFM 신호를 최단 마크 길이가 항상 0.90㎛으로 되도록 클록 T를 바꾸어 1 빔 오버라이트에 의해 100회 기록하고, 3T부터 11T까지의 재생 신호의 제로 교차점의 지터값 : σ/Tw(%)를, 반경 23, 30, 37, 43, 50, 57mm의 위치에서 측정했다. 여기에서, σ는 지터의 표준 편차, Tw는 검출시스템의 원도우폭이다. 또, 이 반경에서의 각각의 선속도는 약 2.4, 3.1, 3.9, 4.5, 5.2, 6.0m/s이다. 또, 그 밖의 측정 조건은 제 3 실시예와 같다.
각각의 기록 파형과 지터를 각각 표 17, 표 18에 나다낸다.
표 17에서는 3T∼11T 까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 3종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다. 표 17의 기록 파형 9-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다.
Figure pct00017
Figure pct00018
기록 파형 9-2는 3T∼6T 마크를 기록할 때만 도 1의 기록 파형 J와 같이 기록 펄스열 조사후, 바이어스 파워에서의 조사를 행하고, 그 후에 냉각 파워에서의조사를 행하는 경우이다. 단, 그 냉각 파워 조사 시간은 0.43T, 냉각 파워 개시 시간은 0.08T로 균일하다. 또, 7T∼11T 마크를 기록하는 경우에는 냉각 펄스는 부가하지 않는다. 또, 기록 파형 9-3은 3T 마크를 제외하고 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다. 단, 3T 마크를 기록할 때만 냉각 파워조사 시간을 0.43T, 냉각 파워 개시 시간을 0.08T로 하고 있다.
표 18에서 기록 파형 9-1의 경우에는 지터가 다른 기록 파형에 비하여 특히내주부에서 나쁘게 되어 있다. 한편, 짧은 마크를 기록할 때 냉각 펄스를 부가한 기록 파형 9-2를 이용한 경우에는 디스크 내주부에서 기록 파형 9-1에 비하여 지터가 개선되어 있다. 또, 3T 마크를 기록할 때만 냉각 펄스를 부가한 기록 파형 9-3을 이용한 경우에도 디스크 내주부에서 기록 파형 9-1에 비하여 지터가 개선되어 있다. 따라서, 예를 들면 반경 37mm, 또는 43mm까지의 디스크 내주부에는 기록 파형 9-2 또는 9-3을 이용하고 그보다 외주부에는 기록 파형 9-1을 이용하면 된다.
본원 발명과 같이 디스크 내주부에서는 기록파형 9-2 또는 9-3을, 외주부에서는 냉각 펄스를 부가하지 않는 기록 파형 9-1을 이용함으로써 디스크의 어느 반경에서도 양호한 지터가 얻어진다.
이상과 같이, 광디스크를 일정한 각속도로 회전시키는 경우, 소정 반경의 내측으로 되는 디스크 내주부에서 미리 결정된 마크 길이 이하인 마크를 기록할 때만 냉각 펄스를 부가함으로써 디스크의 어느 반경에서도 지터가 작은 양호한 기록이 가능하게 된다. 이 기록 파형에서는 기록 회로적으로도 간소하게 되고 가격면에서도 좋다고 생각된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어 졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 10 실시예)
본 실시예에서는 광디스크를 일정한 각속도로 회전시켰을 때 디스크의 반경에 따라 냉각 파워 조사 시간, 냉각 파워 개시 시간을 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
각각의 기록 파형과 지터를 각각 표 19, 표 20에 나타낸다. 또, 측정 조건은 제 9 실시예와 같다.
표 19에서는 3T∼11T 까지의 각 마크 길이의 마크를 기록하는 경우의 냉각 파워 조사 시간과 냉각 파워 개시 시간을 3종류의 기록 파형마다 나타내고 있다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
표 19의 기록 파형 10-1은 도 1의 기록 파형 H와 같이 냉각 펄스를 부가하지않는 경우이다. 기록 파형 10-2는 도 1의 기록 파형 I와 같이 기록 펄스열 조사후, 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 그 냉각 파워 조사 시간은 기록할 마크 길이에 따라 다르고 마크 길이가 짧을수록 냉각 파워 조사 시간이 길게 되어 있다.
Figure pct00019
Figure pct00020
또, 기록 파형 10-3은 도 1의 기록 파형 J와 같이 기록 펄스열의 조사후, 바이어스 파워에서의 조사를 행하고, 그 후 냉각 파워에서의 조사를 행하는 경우이다. 단, 그 냉각 파워 조사 시간은 0.50T, 냉각 파워 개시 시간은 기록할 마크 길이에 따라 변화하고, 그 마크 길이가 짧을수록 개시 시간은 빠르게 되는 것이다.
표 20에서 기록 파형 10-1의 경우에는 지터가 내주부에서 다른 기록 파형에비하여 나쁘게 되어 있다. 한편, 기록 파형 10-2를 이용한 경우에는 기록 파형 10-1에 비하여 디스크 내주부에서는 지터가 개선되어 있으나, 외주부에서는 지터가 반대로 악화되어 있다. 기록 파형 10-3을 이용한 경우에는 기록 파형 10-1에 비하여 디스크 내주부에서는 지터가 개선되어 있으나, 외주부에서는 지터가 반대로 악화되어 있다. 따라서, 소정의 반경보다 내측의 영역, 예를 들면 반경 43mm까지의 디스크 내주부에는 기록 파형 10-2 또는 10-3을 이용하고, 그보다 외주부에는 기록 파형 10-1을 이용하면 된다.
본원 발명과 같이 디스크 내주부에서는 기록파형 10-2 또는 기록 파형 10-3을, 디스크 외주부에서는 기록 회로를 간소하게 하는 점에서도 기록 파형 10-1을 이용함으로써 디스크의 어느 반경에서도 양호한 지터가 얻어진다.
이상과 같이, 광디스크를 일정한 각속도로 회전시키는 경우, 디스크 내주부에서 마크 길이가 짧을수록 냉각 파워 조사 시간을 넓게 또는 냉각 파워 개시 시간을 빠르게 함으로써 디스크의 어느 반경에서도 지터가 작은 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 11 실시예)
각종 냉각 펄스로서의 마크 후단 보정 펄스열을 기록 펄스열 직후에 부가한경우에 대하여 설명하기로 한다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다. 그리고, 그 기록 펄스열직후에 각종 마크 후단 보정 펄스열을 부가했다. 측정 조건은 제 3 실시예와 같다.
본 실시예에서 이용한 각종 기록 파형을 도 6을 이용하여 설명하기로 한다.
단, 도 6에는 6T 마크를 기록하는 경우의 대표적인 기록 파형 패턴을 도시한다.
기록 파형 11-1은 마크 후단 보정 펄스열을 부가하지 않은 경우이다.
기록 파형 11-2는 기록 펄스열 직후에 재생광 파워에서 0.5T의 기간 레이저광을 조사하고, 그 후 바이어스 파워에서 레이저 광 조사를 행한 것이다.
기록 파형 11-3은 기록 펄스열 직후에 바이어스 파워와 재생광 파워의 중간레벨까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 직후에 재생 광 파워까지 파워를 떨어뜨려서 0.25T의 기간 레이저 광을 조사한 바, 마크 후단 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 한 것이다.
기록 파형 11-4는 기록 펄스열 직후에 바이어스 파워보다 2mW 높은 파워로0.15T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 직후에 0.35T의 기간 재생광 파워로 레이저 광을 조사한 바, 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로레이저 광 조사를 한 것이다.
기록 파형 11-5는 기록 펄스열 직후에 재생 광 파워로 0.2T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 직후에 O.1T의 기간 바이어스 파워로 조사하고, 그 직후 재생광파워로 0.2T의 기간 조사한 바, 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 한 것이다.
기록 파형 11-6은 기록 펄스열 직후부터 0.2T의 기간을 거쳐서 바이어스 파워부터 재생 광 파워까지 연속적으로 파워를 떨어뜨려가고, 재생광 파워로 0.3T의기간 조사한 바, 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 한 것이다.
기록 파형 11-7은 기록 펄스열 직후부터 0.25T의 기간을 걸쳐서 바이어스 파워로부터 재생광 파워까지 연속적으로 파워를 떨어뜨려가고, 그 후 0.25T의 기간을거쳐서 재생 광 파워로부터 바이어스 파워까지 연속적으로 파워를 올린 바, 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광을 조사한 것이다. 각각의 기록 파형과 100회 오버라이트 후의 지터값을 표 21에 나타낸다.
Figure pct00021
표 21에서 기록 파형 11-1에 비하여 기록 파형 11-2와 같이 기록 마크 후단보정 펄스로서 바이어스 파워보다 낮은(냉각 파워라고도 함) 재생 파워에서의 레이저 광 조사를 부가한 쪽이 100회 오버라이트 후의 지터값이 개선되어 있다.
한편, 본 발명과 같이 마크 후단 보정 펄스열을 가한 기록 파형 11-3, 11-4, 11-5, 11-6, 11-7에서는 마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 보다 양호하게 제어되어 있기 때문에 기록 파형 14-2보다 더욱 지터가 개선되어 있다.
이상과 같이 기록 펄스열 후에 마크 후단 보정 펄스열을 부가함으로써 100회오버라이트에서의 지터가 양호한 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 2단계로 변화시킨 경우를 나타냈으나, 상기 파워를 3단계 이상으로 한 경우에도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워를 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워로 설정한 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2파워가 바이어스 파워의 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 미만인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 12 실시예)
다음에 기록 펄스열과 마크 후단 보정 펄스열 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 한 경우에 대하여 설명하기로 한다.
본 실시예에서는 도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다. 또, 측정 조건은 제 11실시예와 같다.
본 실시예에서 이용한 각종 기록 파형을 도 7을 이용하여 설명하기로 한다.
단, 도 7에는 6T 마크를 기록하는 경우의 대표적인 기록 파형 패턴을 도시한다.
기록 파형 12-1은 제 11 실시예의 기록 파형 11-3과 같은 기록 파형이다.
한편, 본원 발명의 기록 펄스열과 마크 후단 보정 펄스열과의 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 한 기록 파형 12-2는 기록 펄스열 후에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 0.2T의 기간 행하여, 그 후 바이어스 파워와 재생 파워의 중간까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 직후에재생 파워까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 한 것이다.
각각의 기록 파형과 100회 오버라이트 후의 지터값을 표 22에 나타낸다.
Figure pct00022
표 22에서 본 발명과 같이 기록 펄스열과 마크 후단 보정 펄스열 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 한 기록 파형 12-2에서는 마크 전단부와 후단부의 대칭성이 좋게 되어 있으므로 기록 파형 12-1보다 더욱 지터가 개선되어 있다.
이상과 같이, 기록 펄스열 후에 마크 후단 보정 펄스열 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 함으로써 100회 오버라이트 후의 지터가 양호한 기록이가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 2단계로 변화시킨 경우를 나타냈으나, 상기 파워를 3단계 이상으로 한 경우나, 레이저 광을 기록 펄스열 직후부터 연속적으로 바이어스 파워보다 작은 파워까지 변화시키는 기간을 가진마크 후단 보정 펄스열의 경우에도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워를 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워로 설정한 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워의 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 13 실시예)
다음에 각종 냉각 펄스열에 마크 후단 보정 펄스열을 부가한 경우에 대하여설명하기로 한다.
본 실시예에서 이용한 각종 기록 파형을 도 8을 이용하여 설명하기로 한다.
단, 도 8에는 6T 마크를 기록하는 경우의 대표적인 기록 파형 패턴을 도시한다.
또, 측정 조건은 제 11 실시예와 같다.
기록 파형 13-1, 2, 3의 기록 펄스열은 앞에서 설명한 도 4의 기록 펄스열 B이다.
기록 파형 13-1은 마크 후단 보정 펄스열을 부가하지 않은 경우이다.
기록 파형 13-2는 기록 펄스열 직후에 재생광 파워에서 0.5T의 기간 레이저광을 조사하고, 그 후 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 행한 것이다.
기록 파형 13-3은 기록 펄스열 직후에 바이어스 레벨과 재생광 파워의 중간레벨까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 직후에 재생광 파워까지 파워를 떨어뜨려서 0.25T의 기간 레이저 광을 조사한 바, 마크 후단보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 한 것이다.
기록 파형 13-4, 5, 6은 앞에서 설명한 도 4의 기록 펄스열 C이며,
기록 파형 13-4는 마크 후단 보정 펄스열을 부가하지 않은 경우,
기록 파형 13-5는 기록 펄스열 직후에 재생 광 파워로 0.5T의 기간 레이저광을 조사하고, 그 후 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 행한 경우,
기록 파형 13-6은 기록 펄스열 직후에 기록 파형 13-3과 같은 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 한 경우이다.
기록 파형 13-7, 8, 9는 앞에서 설명한 도 4의 기록 펄스열 D이며,
기록 파형 13-7은 마크 후단 보정 펄스열을 부가하지 않은 경우,
기록 파형 13-8은 기록 펄스열 직후에 재생광 파워로 0.5T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 후 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 행한 경우,
기록 파형 13-9는 기록 펄스열 직후에 기록 파형 13-3과 같은 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 행한 경우이다.
각각의 기록 파형과 100회 오버라이트 후의 지터값을 표 23에 나타낸다.
Figure pct00023
표 23에서 기록 파형 13-1에 비하여 기록 파형 13-2와 같이 기록 펄스열 직후에 재생 파워에서의 레이저 광 조사를 부가한 쪽이 100회 오버라이트 후의 지터값이 개선되어 있다.
한편, 본 발명과 같이 마크 후단 보정 펄스열을 가한 기록 파형 13-3에서는기록 파형 13-2와 비교해도 지터가 작다. 이와 같이 도 4의 기록 펄스열 B에 있어서도 마크 후단 보정 펄스열을 부가한 쪽이 마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 좋게 되어 있기 때문에 지터가 개선되어 있다.
마찬가지로, 도 4의 기록 펄스열 C, D의 경우에도 마크 후단 보정 펄스열을부가한 쪽이 마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 좋게 되어 있기 때문에 지터가 개선되어 있다.
이상과 같이, 도 4의 기록 펄스 B, C, D에 마크 후단 보정 펄스열을 부가함으로써 100회 오버라이트 후의 지터가 양호한 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 2단계로 변화시킨 경우를 나타냈으나, 상기 파워를 3단계 이상으로 한 경우나, 레이저 광을 기록 펄스열 직후부터 연속적으로 바이어스 파워보다 작은 파워까지 변화시키는 기간을 가진마크 후단 보정 펄스열의 경우에도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워를 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2파워가 바이어스 파워의 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 14 실시예)
다음에 기록 마크 길이에 의해 마크 후단 보정 펄스열을 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
본 실시예에서는 제 11 실시예와 같은 측정 조건이다. 또, 본 실시예에서는도 4의 기록 펄스열 A를 이용했다.
본 실시예에서 이용한 각종 기록 파형을 표 24를 이용하여 설명하기로 한다.
Figure pct00024
기록 파형 14-1은 기록 마크 길이에 의하지 않고 기록 펄스열 직후에 바이어스 레벨과 재생광 파워의 중간 레벨까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간 레이저광을 조사하고, 그 직후에 재생광 파워까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간 레이저 광을 조사하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 행한 것이다.
기록 파형 14-2는 기록 파형 14-1과 같은 마크 후단 보정 펄스열을 갖고, 그 마크 후단 보정 펄스열의 개시 시간은 11T 마크를 기록하는 경우가 0.8T이며, 마크길이가 짧을수록 개시 시간을 0.1T씩 빠르게 해 가고, 3T 마크를 기록하는 경우에는 기록 펄스열 직후에 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 행한 것이다.
각각의 기록 파형과 100회 오버라이트 후의 지터값을 표 25에 나타낸다.
Figure pct00025
표 25에서 본 발명과 같이 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간을 마크 길이에따라 변화시킨 기록 파형 14-2에서는 기록 파형 14-1에 비하여 전체 마크 길이로 마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 좋아져서 지터가 더욱 개선되어 있다.
이상과 같이 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간을 기록하는 마크 길이에 따라변화시킴으로써 100회 오버라이트 후의 지터가 양호한 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 2단계로 변화시킨 경우를 나타냈으나, 상기 파워를 3단계 이상으로 한 경우나 레이저 광을 기록 펄스열직후부터 연속적으로 바이어스 파워보다 작은 파워까지 변화시키는 기간을 가진 마크 후단 보정 펄스열의 경우에도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 15 실시예)
다음에 기록 마크 길이에 의해 마크 후단 보정 펄스열의 펄스 형상을 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
본 실시예에서는 기록 펄스열(도 4의 기록 펄스열 A)을 이용했다. 또, 측정조건도 제 11 실시예와 같다.
본 실시예에서 이용한 각종 기록 파형을 도 9를 이용하여 설명하기로 한다.
단, 도 9의 기록 파형 15-1에는 6T 마크를 기록하는 경우의 대표적인 기록 파형 패턴을 도시한다. 또 기록 파형 15-2에는 3T∼11T까지의 마크 길이 중, 3∼5T와 11T에 대해서만 기록 파형 패턴을 나타낸다.
기록 파형 15-1은 제 11 실시예의 기록 파형 11-3과 같다.
기록 파형 15-2는 본 발명과 같이 기록 펄스열 직후의 파워를 기록 마크 길이가 짧을수록 작게 되도록 변화시킨 것이다. 구체적으로는 3T 마크를 기록하는 경우는 재생 광 파워, 4T 마크에서는 재생광보다 바이어스 파워와 재생광 파워와의 사이의 8분의 1의 큰 파워와, 마크 길이가 길어질수록 차차 파워를 크게 하고, 0.25T의 기간 그 파워로 파워 광을 조사하고, 그 직후에 재생광 파워까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간 레이저 광을 조사하는 상태의 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고, 그 후는 바이어스 파워로 레이저 광 조사를 행한 것이다.
각각의 기록 파형과 100회 오버라이트후의 지터값을 표 26에 나타낸다.
Figure pct00026
표 26에서 본 발명의 기록 파형 15-2와 같이 기록 마크 길이에 따라 마크 후단 보정 펄스열의 형상을 변화시킨 기록 파형에서는 기록 파형 15-1에 비하여 100사이클에서의 지터값이 개선되어 있다.
이상과 같이, 마크 후단 보정 펄스열의 펄스 형상을 기록하는 마크 길이에 따라 변화시킴으로써 마크 전단부와 후단부의 대칭성이 좋아지고, 재생 신호 품질이 양호한 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 2단계로 변화시킨 경우를 나타냈으나, 상기 파워를 3단계 이상으로 한 경우나 레이저 광을 기록 펄스열직후부터 연속적으로 바이어스 파워보다 작은 파워까지 변화시키는 기간을 가진 마크 후단 보정 펄스열의 경우에도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어겼다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 16 실시예)
다음에 광디스크를 일정한 각속도로 회전시켰을 경우, 디스크의 반경 방향의위치에 따라 마크 후단 보정 펄스열의 개시 시간을 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
또, 디스크의 회전수를 1000rpm, 반경에 따라 EFM 신호를 최단 마크 길이가항상 0.90㎛으로 되도록 클록 T를 바꾼다.
본 실시예에서는 제 11 실시예와 같은 기록 펄스열(도 4의 기록 펄스열 A)을이용했다.
본 실시예에서 이용한 각종 기록 파형을 표 27을 이용하여 설명하기로 한다.
Figure pct00027
기록 파형 16-1은 마크 후단 보정 펄스열을 부가하지 않은 경우이다.
기록 파형 16-2는 제 11 실시예의 기록 파형 11-3과 같다.
기록 파형 16-3도 제 11 실시예의 기록 파형 11-3과 같은 마크 후단 보정 펄스열을 갖고 있으나, 본원 발명과 같이 그 마크 후단 보정 펄스열의 개시 시간이 디스크 반경 위치가 내주측일수록 짧게 한 것이다. 구체적으로는 반경이 23∼34mm까지는 마크 후단 보정 펄스열은 기록 펄스열 직후에 부가하고, 35∼46mm까지는 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간을 0.2T 지연시키고, 47∼57mm까지는 마크 후단 보정 펄스열 개시시간을 0.5T 지연시켰다.
각각의 기록 파형과 100회 오버라이트 후의 지터값을 표 28에 나타낸다.
또, 측정은 내주부가 26mm, 중주부가 38mm, 외주부가 50mm의 각 반경에서 행해졌다. 또, 이 반경에서의 각각의 선속도는 약 2.7, 4.0, 5.2m/s이다.
또, 그 밖의 측정 조정은 제 11 실시예와 같다.
Figure pct00028
표 28에서 기록 파형 16-1에서는 열의 체류 때문에 지터가 악화하고 있으나,기록 파형 16-2와 같이 마크 후단 보정 펄스열을 부가하면 열의 체류가 없어지기 때문에 100회 오버라이트에서의 지터값이 디스크의 전 둘레에 걸쳐서 개선되어 있다.
한편, 본 발명과 같이 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간을 디스크 반경 방향위치에 따라 변화시킨 기록 파형 16-3에서는 중외주부에서 열제어를 더욱 세밀하게행했기 때문에 지터도 더욱 개선되어 있다.
이상과 같이 마크 후단 보정 펄스열 개시 시간을 디스크 반경 위치에 따라 변화시킴으로써 100회 오버라이트에서의 지터가 양호한 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 2단계로 변화시킨 경우를 나타냈으나, 상기 파워를 3단계 이상으로 한 경우나, 레이저 광을 기록 펄스열 직후부터 연속적으로 바이어스 파워보다 작은 파워까지 변화시키는 기간을 가진마크 후단 보정 펄스열의 경우에도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 17 실시예)
다음에 광디스크를 일정한 각속도로 회전시켰을 때, 디스크의 반경 방향의 위치에 따라 마크 후단 보정 펄스열의 형상을 변화시킨 경우에 대하여 설명하기로 한다.
본 실시예에서는 제 11 실시예와 같은 기록 펄스열(도 4의 기록 펄스열 A)을이용했다.
또, 제 16 실시예와 같은 측정 조건이다.
본 실시예에서 이용한 각종 기록 파형을 도 10을 이용하여 설명하기로 한다.단, 도 10에는 6T 마크를 기록하는 경우의 대표적인 기록 펄스열 패턴을 나타낸다.또, 기록 파형 17-2에서는 디스크 내, 중, 외주부에서의 기록 파형을 나타낸다.
기록 파형 17-1은 디스크의 반경 방향의 위치에 의하지 않고 마크 후단 보정펄스열의 형상은 같으며, 그 기록 파형은 제 11 실시예의 기록 파형 11-3과 같다.
기록 파형 17-2는 기록 펄스열 직후의 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 디스크 반경 방향의 위치가 내주부측에 있을수록 작아지도록 변화시킨 것이다. 구체적으로는 기록 펄스열 직후의 파워를 각각 반경이 23∼34mm 까지의 재생 광 파워보다 1mW 높은 파워, 35∼46mm까지는 바이어스 파워와 재생광 파워의 중간의 파워, 47∼57mm까지는 바이어스 파워보다 1mW 낮은 파워로 하고, 0.25T의 기간 그 파워로 레이저 광을 조사하고, 그 직후에 재생광 파워까지 파워를 떨어뜨리고 0.25T의 기간레이저 광을 조사하는 상태의 마크 후단 보정 펄스열을 부가하고 그 후는 바이어스파워로 레이저 광 조사를 행한 것이다.
각각의 기록 파형과 100회 오버라이트 후의 지터값을 표 29에 나타낸다.
Figure pct00029
표 29에서 본 발명과 같이 기록 펄스열 직후의 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 디스크의 내주부측일수록 작게 한 기록 파형 17-2에서는 내외주부에 있어서,마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 좋기 때문에 지터가 기록 파형 17-1에 비하여개선되어 있다.
이상과 같이 마크 후단 보정 펄스열의 펄스 형상을 디스크의 반경 방향의 위치에 따라 변화시킴으로써 100회 오버라이트 후의 지터가 양호한 기록이 가능하게된다.
또, 본 실시예에서는 마크 후단 보정 펄스열의 파워를 2단계로 변화시킨 경우를 나타냈으나, 상기 파워를 3단계 이상으로 한 경우나, 레이저 광을 기록 펄스열 직후부터 연속적으로 바이어스 파워보다 작은 파워까지 변화시키는 기간을 가진마크 후단 보정 펄스열의 경우에도 같은 결과가 얻어지는 것은 물론이다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생 광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나, 제 2 파워가 0이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열로서 도 4의 기록 펄스열 A의 경우에 대하여 나타냈으나, 도 4의 기록 펄스열 B, C, D의 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
(제 18 실시예)
우선, 본 발명 중 기록 펄스열의 종단 펄스로부터 냉각 파워에서의 레이저 광조사를 개시할 때까지의 시간이 일정한 경우의 동작명을 도 11의 디스크 기록 장치의 블록도, 도 12의 각부의 신호 파형도를 이용하여 설명한다.
또, 본 실시예에서는 데이터(1)는 클록 단위의 길이로, 클록의 2주기 이상의Hi 기간 및 Lo 기간을 갖는 PWM 데이터(도 12a)로 하고, 데이터의 Hi 기간을 디스크상에서 마크, Lo 기간을 스페이스에 대응시켜서 기록한다.
또, 시단(始端) 펄스(3) 및 종단(終端) 펄스(7)의 폭은 클록의 1주기 하나의버스트 펄스(27)의 폭은 클록의 2분의 1 주기로 한다.
냉각 펄스폭은 클록의 2분의 1 주기, 기록 펄스열의 종단 펄스로부터 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간도 클록의 2분의 1 주기로 했다.
또, 마크/스페이스 길이 검출 회로(8)는 고밀도 기록으로 마크간의 열간섭이발생하는 스페이스 길이 및 재생 시스템의 주파수 특성에 의해 피크 시프트가 발생하는 마크/스페이스 길이에 대하여 검출하기로 한다.
본 실시예에서는 기록할 데이터열에 존재하는 최단의 2T 마크 및 2T 스페이스를 검출하는 것으로 한다.
우선, 시단 펄스 발생 회로(2)에 있어서, 데이터(1)의 Hi 기간의 시단 부분에, 클록의 1주기 폭의 시단 펄스(3)를 발생한다(도 12의 b).
버스트 게이트 발생 회로(4)에 있어서, 마크의 중간 위치에 마크 길이로부터3클록만큼 감소된 길이로 버스트 게이트 신호(5)를 발생한다. 단, 마크 길이가 3클록 이하일 때는 버스트 게이트 신호는 발생하지 않는다(도 12의 c).
종단 펄스 발생 회로(6)에서 데이터(1)의 Hi 기간의 종단 부분에 클록의 1주기폭의 종단 펄스(7)를 발생한다(도 12의 e).
마크/스페이스 길이 검출 회로(8)에 있어서 2클록 폭의 데이터, 즉 2T 마크와 2T 스페이스를 검출하고, 2T 마크가 왔을 때는 2T 마크의 시단 펄스 종단 펄스를 포함하도록 2클록 폭의 2T 마크 신호(9)를 발생하고(도 12의 f), 2T 스페이스가왔을 때는 2T 스페이스의 양단의 종단 펄스 시단 펄스를 포함하도록 4클록 폭의 2T 스페이스 신호(10)를 발생한다(도 12의 g).
인코더(11)에서 2T 마크 신호(9)와 2T 스페이스 신호(10)에 의해 시단 펄스(3) 및 종단 펄스(7)의 속성을 결정하고, 셀렉트 신호(12)로서 출력한다. 즉, 3T 이상의 마크이며 3T 이상의 스페이스를 normal, 3T 이상의 마크이며 2T 스페이스를2Ts, 2T 마크이며 3T 이상의 스페이스를 2Tm, 2T 마크이며, 2T 스페이스를 2Ts-2Tm이라는 명칭의 4종류의 속성으로 분류한다(도 12h).
다음에 시단용 셀렉터(14)에 있어서, 복수의 시단 설정값(13), 즉 normal일때의 시단 설정값, 2Ts일 때의 시단 설정값, 2Tm일 때의 시단 설정값, 2Ts-2Tm일때의 시단 설정값 중에서 셀렉트 신호(12)에 의해 하나를 선택하고 선택 시단 설정값(15)을 출력한다.
시단용 샘플/홀드 회로(16)에서 시단 펄스(3)가 왔을 때만 갱신하고, 시단펄스(3)가 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하여 홀드 시단 설정값(39)으로서 출력한다(도 12의 I).
그리고, 시단용 프로그래머블 지연 라인(17)에서 시단 펄스(3)는 홀드 시단설정값(39)에 기초한 값의 지연 시간 후에 지연 시단 펄스(17)로서 출력된다(도 12의 j).
마찬가지로 종단용 셀렉터(20)에서 복수의 종단 설정값(19) 중에서 셀렉트 신호(12)에 의해 하나를 선택하고, 선택 종단 설정값(21)을 출력하고, 종단용 샘플/홀드 회로(22)에서 종단 펄스(7)가 왔을 때만 갱신하고, 종단 펄스(7)가 오지 않을 때는 앞의 값을 유지한 홀드 종단 설정값(45)으로서 출력한다(도 12의 k).
그리고 종단용 프로그래머블 지연 라인(23)에서 종단 펄스(7)는 홀드 종단 설정값(45)에 기초한 값의 지연 시간 후에 지연 종단 펄스(24)로서 출력된다(도 12의 l).
여기에서, 지연 냉각 펄스 신호의 출력에 대하여 설명하기로 한다.
냉각 펄스 발생 회로(36)에 있어서, 지연 종단 펄스의 상승 타이밍으로 냉각펄스를 클륵의 2분의 1 주기분 발생시킨다(도 12의 n).
다음에 냉각 펄스용 지연 라인(37)에서 냉각 펄스 발생 회로(36)로부터 출력되는 냉각 펄스(41)를 일정량 지연하고, 냉각 펄스 신호(42)가 출력된다(도 12의o).
그것을 인버터(38)를 통하여 Hi와 Lo를 반전한 지연 냉각 펄스 신호(43)로서출력한다(도 12의 p).
또, AND 게이트(26)에서 상기 버스트 게이트 신호(5)와 클록(25)의 논리곱을취하고, 버스트 펄스(27)를 발생한다(도 12의 m).
OR 게이트(28)에서 지연 시단 펄스(18)와 버스트 펄스(27)와 지연 종단 펄스(24)의 논리합을 취하고, 기록 신호(29)를 발생시킨다.
레이저 다이오드(35)는 재생광 전류원(32)에 의해 상변화 광디스크의 재생 광파워를 발광하도록 바이어스가 부가되어 있다.
재생광 전류원(32)과 병렬로 바이어스 레벨 전류원(31)과 기록 레벨 전류원(30)을 설치하고, 스위치(33)에 의해 기록 레벨 전류원(30)의 전류를 스위치(34)에 의해 바이어스 레벨 전류원(31)을 on/off하면 레이저 다이오드(35)의 구동 전류가 기록 레벨 전류, 바이어스 레벨 전류, 재생광 레벨 전류의 3자 사이에서 스위칭된다.
즉, 이 스위치(33)를 상기 기록 신호(29)에서 스위치(34)를 지연 냉각 펄스신호(43)로 제어함으로써 레이저 다이오드(35)를 기록 파워, 바이어스 파워, 냉각파워로 전환하면서 발광시킬 수 있고, 레이저 다이오드(35)를 내장한 광학 헤드를이용하여 상변화 광디스크에 마크 및 스페이스를 냉각 펄스를 부가한 기록 방법으로 형성한다(도 12q).
다음에 냉각 파워에서의 광 조사 개시의 타이밍이 클록에 기초하고 있는 경우의 지연 냉각 펄스 신호의 제작 방법을 도 13의 디스크 장치의 클록도와 도 14의각부의 신호 파형도를 이용하여 설명하기로 한다.
이 경우에는 종단 펄스 발생 회로(6)로부터 출력된 종단 펄스의 상승과 같은 타이밍으로 냉각 펄스 발생회로(46)로부터 냉각 펄스(48)가 출력된다(도 14f).
냉각 펄스용 지연 라인(37)에서 지연량이 일정한 지연을 행한 냉각 펄스를 출력한다(도 14의 o).
그 밖의 동작 원리에 대해서는 상기 경우와 같다.
이상의 일련의 동작으로 본 실시예의 디스크 기록 장치는 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 부가하여 마크의 시단 부분과 종단 부분의 위치를 기록하는 마크길이 및 해당 기록하는 마크 길이의 전후의 스페이스 길이에 따라 각각 변화시키고, 데이터에 대응한 마크 및 스페이스를 기록할 수 있다.
또, 본 실시예에서는 (1-7)RLL 코드 신호 기록을 상정하고, 마크/스페이스길이 검출 회로에서는 최단 반전 간격인 2T 마크, 2T 스페이스와 2T 이상의 마크와스페이스의 4패턴으로 나타냈으나, 다시 3T 이상에 대해서도 분류하는 것으로 다시각 마크의 에지 위치 정밀도를 높일 수 있다.
또, 시단 펄스, 종단 펄스는 1T 폭, 버스트 펄스는 0.5T 폭으로 했으나, 기록 박막 또는 기록 매체와 광 스폿의 상대 속도 등에 의해 최적 펄스폭을 선택하는것도 가능하다.
또, 냉각 펄스폭은 일정값의 0.5T로 했으나 마크 길이 또는 마크간격에 따라 변화시킴으로서 더욱 토탈 에너지를 저감시키는 것도 가능하다.
광디스크의 평가 조건은 레이저 광의 파장이 680nm, 기록 장치의 기록 재생에 이용하는 광학 헤드의 대물 렌즈의 NA를 0.55로 하고, (1-7)RLL 신호를 최단마크 길이가 0.60㎛으로 되도록 클록(T)을 설정하고, 기록했을 때의 2T부터 8T까지의재생 신호의 제로 교차점의 지터값 : σsum/Tw(%)를 측정했다. 여기에서 σsum은 2T부터 8T까지의 지터의 총합의 표준 편차, Tw는 검출 시스템의 원도우폭이다. 선속도는 4.0m/s이다.
이 디스크에서 신호의 기록은 기록 마크 길이가 0.6㎛으로 되는 단일 주파수를 기록했을 때, C/N이 포화하는 기록 파워를 기록 파워로 하고, 그 2T 마크의 신호를 7T 상당의 단일 주파수로 오버라이트한 경우에 소거율이 20dB를 넘는 파워 마진의 중앙값의 파워를 설정하고, 바이어스 파워로 했다.
디스크의 사이클 특성의 판단으로서는 2T부터 8T까지의 재생 신호의 제로 교차점의 지터값 : σsum/Tw(%)가 13% 미만을 만족하는 사이클 수에 의해 판단했다.
도 15를 이용하여 본 실시예에서 이용한 기록 파형을 설명하기로 한다. 단,도 15에는 7T 마크를 기록하는 경우의 대표적인 기록 파형 패턴을 도시한다. 기록파형 18-1∼3까지는 도 4의 기록 펄스열 B, 기록 파형 18-4∼7까지는 도 4의 기록펄스열 C의 기록 펄스열을 이용하고 있다.
기록 파형 18-1은 시단 펄스폭 1.0T, 종단 펄스폭 1.0T, 시단·종단 펄스 사이에서는 제 2 파워에서의 0.5T, 제 1 파워로 0.5T 번갈아 레이저 광을 조사하는 기록 펄스열이며, 또 냉각 펄스를 부가하지 않는 경우이다.
기록 파형 18-2는 상기 기록 파형 18-1에 기록 마크 길이에 관계없이 기록 펄스열의 종단 펄스의 직후에 냉각 파워에서의 조사 시간이 0.5T인 냉각 펄스를 부가한 경우이다.
기록 파형 18-3은 상기 기록 파형 18-1에 기록 마크 길이에 관계없이 냉각파워에서의 조사 시간이 0.5T이고, 기록 펄스열의 종단 펄스의 하강으로부터 냉각파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간이 0.5T로 일징한 상태의 냉각 펄스를 부가한 경우이다.
기록 파형 18-4는 기록 파형 18-1에서 기록하는 마크 길이 및 전후의 마크 간격에 의해 기록 펄스열의 시단 펄스와 종단 펄스의 위치가 변화하고, 또, 냉각펄스를 부가하지 않는 경우이다.
기록 파형 18-5는 기록 파형 18-4에 기록 마크 길이에 관계없이 기록 펄스열의 종단 펄스의 직후에 냉각 파워에서의 조사 시간이 0.5T인 냉각 펄스를 부가한 경우이다.
기록 파형 18-6은 기록 파형 18-4에 기록 마크 길이에 관계없이 냉각 파워에서의 조사 시간이 0.5T이고, 기록 펄스열의 종단 펄스의 상승으로부터 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간이 1.5T로 일정한 상태의 냉각 펄스를 부가한 경우이다.
기록 파형 18-7은 기록 파형 18-4에 기록 마크 길이에 관계없이 냉각 파워에서의 조사 시간이 0.5T이고, 냉각 파워에서의 조사 개시가 서브 펄스(시단 펄스와종단 펄스의 사이의 펄스)의 최종단 펄스의 상승으로부터 2.5T로 일정하게 지연시킨 상태의 냉각 펄스를 추가한 경우이다. 즉, 냉각 펄스 조사 개시 시간이 클록에기초하고 있는 경우이다.
각각의 기록 파형은 100 사이클 후의 지터값과 지터값이 13% 미만을 만족하는 사이클 수를 표 30에 나타낸다.
Figure pct00030
표 30에서 본원 발명과 같이 냉각 펄스를 부가한 기록 파형 18-2에서는 냉각펄스를 부가하지 않은 기록 파형 18-1에 비하여 열적 손상이 개선되었기 때문에 지터<13%를 만족하는 사이클수도 양호한 것으로 되어 있다.
또, 기록 파형 18-3과 같이 기록 펄스열 후에 0.5T 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것으로 마크 전단부·후단부에서의 대칭성이 보다 제어되기때문에 기록 파형 18-2에 비하여 지터가 작게 되어 있다.
그리고, 기록할 마크 길이 및 전후 마크 간격에 의해 기록 펄스열의 시단 펄스와 종단 펄스의 위치가 변화하는 경우에도 본원 발명과 같이 냉각 펄스를 부가한기록 파형 18-5에서는 냉각 펄스를 부가하지 않은 기록 파형 18-4에 비하여 열적 손상이 개선되었기 때문에 지터<13%를 만족하는 사이클수도 양호한 것으로 되어있다.
또, 기록할 마크 길이 및 전후의 마크 간격에 의해 기록 펄스열의 시단 펄스와 종단 펄스의 위치가 변화하는 경우, 변화하지 않는 경우보다도 보다 마크 형상의 제어가 가능하기 때문에 지터가 작게 되어 있다.
게다가 본원 발명의 기록 파형 18-6, 18-7과 같이 기록 펄스열의 종단 펄스와 냉각 파워에서의 레이저 광 조사와의 사이에 바이어스 파워에서의 조사를 행함으로써 100 사이클에서의 지터값도 지터<13%를 만족하는 사이클수도 더욱 개선되고, 기록 펄스열 직후에 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 기록 파형 18-5보다도 양호한 값이 얻어지고 있다.
이상과 같이, 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 기록 펄스열의 종단부와 냉각 파워에서의 레이저 광 조사의 사이에 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 넣음으로써 100 사이클에서의 지터 및 다사이클을 행한 경우에도 양호한 기록이 가능하게 된다.
또, 본 실시예에서는 냉각 파워를 재생광 파워로 한 경우에 대하여 나타냈으나, 냉각 파워가 0부터 바이어스 파워보다 작은 파워인 경우에도 같은 결과가 얻어졌다.
또, 본 실시예에서는 기록 펄스열의 제 2 파워가 바이어스 파워인 경우에 대하여 나타냈으나 제 2 파워가 0 이상 기록 파워 이하인 경우에도 같은 결과가 얻어
졌다.
본 발명의 기록 방법에 의해 기록 마크 사이의 열간섭에 의한 마크 길이 변동이 억제되고, 기록 마크 전단부와 후단부의 대칭성이 좋아지기 때문에 원하는 기록 마크 형상이 형성되고, 광디스크의 고밀도화나 디스크의 회전 방식이 각속도 일정한 경우에도 재생 신호 품질의 향상이 실현된다. 또, 다사이클한 경우의 열적 손상에 의한 신호 열화를 경감하고, 양호한 사이클 특성도 실현할 수 있다.

Claims (53)

  1. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 기록 파형은 상기 기록 펄스열의 종단 펄스의 하강 시점부터 상기 냉각 파워에 이르기까지의 사이에 단계적 또는 연속적으로 레이저 광의 파워가 변화하는 기간을 갖는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  2. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 바이어스 파워에서의 레이저 광의 조사는 상기 기록 펄스열과 냉각 펄스 사이에 행해지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  3. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 기록 마크의 길이에 따라 상기 기록 펄스열의 종료 시점에 대한 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시 시간, 또는 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 시간의 적어도 어느 한쪽을 변화시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 냉각 파워에서의 상기 레이저 광 조사 시간이 긴 기록 마크를 기록하는 경우보다 짧은 기록 마크를 기록하는 경우 쪽을 길게 하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  5. 제 3항에 있어서,
    상기 냉각 파워에서의 상기 레이저 광 조사 개시 시간이 긴 기록 마크를 기록하는 경우보다 짧은 기록 마크를 기록하는 경우 쪽을 빠르게 하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  6. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 기록 마크의 길이가 미리 결정된 길이 이하인 경우에만 상기 기록 펄스열의 종료 시점에 대한 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시 시간, 또는 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 시간의 적어도 어느 한쪽을 변화시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  7. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 기록 펄스열과 상기 냉각 파워에서의 레이저광 조사의 사이에 상기 바이러스 파워에서의 레이저 광 조사 시간을 설치하고, 상기 기록 펄스열의 종료 시점에 대한 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시 시간 및 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 시간을 각각 미리 결정된 시간으로 하고, 상기 기록 마크의 길이가 미리 결정된 길이 이하인 경우에만 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 기록 마크의 길이가 최단인 경우에만 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  9. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 광기록 매체를 일정한 각속도로 회전 구동하고, 상기 광기록 매체의 적어도 미리 결정된 반경보다 내측의 영역에서는 상기 기록 마크의 길이가 미리 결정된 길이 이하인 경우에 상기 냉각 파워 레벨에서의 상기 기록 펄스열 종료 시점에 대한 레이저 광 조사 개시 시간을 빠르게 할 것인지 또는 레이저 광 조사 시간을 길게 할 것인지 적어도 어느 하나를 선택하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  10. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 광기록 매체를 일정한 각속도로 회전 구동하고, 상기 기록 마크의 길이가 미리 결정된 길이 이하인 경우에만 상기 기록 파워에서의 레이저 광 조사 종료 시점에 대한 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시 시간 및 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 시간을 각각 미리 결정된 시간으로 하고, 상기 광기록 매체의 적어도 미리 결정된 반경보다 내측의 영역에서는 상기 기록 마크의 길이가 미리 결정된 길이 이하인 경우에만 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 기록 마크의 길이가 최단인 경우에만 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  12. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열을 갖는 기록 파형에 의해 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되며, 상기 기록 펄스열 직후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 제 1 파워 미만으로서 적어도 2개 이상의 다른 파워를 갖는 레이저 광으로 구성된 펄스열로 이루어지는 냉각 펄스를 부가하고, 상기 냉각 펄스의 펄스열 중 적어도 하나는 바이어스 파워보다 작은 파워인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  13. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열을 갖는 기록 파형에 의해 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되며, 상기 기록 펄스열 직후부터 레이저 광을 연속적으로 상기 제 2 파워 또는 바이어스 파워의 어느 하나 이하의 파워까지 변화시키는 기간을 갖는 구성의 냉각 펄스를 부가하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  14. 제 12항에 있어서,
    상기 냉각 펄스가 레이저 광의 미리 설정한 제 3 파워와 제 4 파워로 구성되고, 상기 제 3 파워가 상기 제 4 파워보다 크고, 상기 제 2 파워 또는 상기 바이어스 파워의 어느 하나가 보다 작은 파워이며, 상기 기록 펄스열 직후에 상기 제 3 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 제 3 파워에서의 레이저 광 조사 직후에 상기 제 4 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  15. (정정)
    제 12항에 있어서,
    상기 냉각 펄스가 레이저 광의 미리 설정한 제 5 파워와 제 6 파워로 구성되고, 상기 제 5 파워가 상기 바이어스 파워보다 크고, 상기 제 6 파워가 상기 바이어스 파워보다 작은 파워이며, 상기 기록 펄스열 직후에 상기 제 5 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 제 5 파워에서의 레이저 광 조사 직후에 상기 제 6 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  16. 제 12항에 있어서,
    상기 냉각 펄스가 레이저 광의 미리 설정한 제 7 파워, 제 8 파워 및 제 9 파워로 구성되고, 상기 제 7 파워와 상기 제 9 파워가 모두 상기 제 8 파워보다 작고, 상기 7 파워와 제 9 파워가 상기 제 2 파워 또는 상기 바이어스 파워의 어느 것보다 작은 파워로서, 상기 기록 펄스열 직후에 상기 제 7 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 제 7 파워에서의 레이저 광 조사 직후에 상기 제 8 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 제 8 파워에서의 레이저 광 조사 직후에 상기 제 9 파워에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  17. 제 13항에 있어서,
    상기 냉각 펄스가 레이저 광을 상기 기록 펄스열 직후부터 연속적으로 상기 제 2 파워 또는 상기 바이어스 파워의 어느 하나가 보다 작은 파워까지 변화시키는 기간과, 상기 제 2 파워 또는 상기 바이어스 파워의 어느 하나 보다 작은 파워로부터 레이저 광의 파워를 연속적으로 상기 제 2 파워 또는 상기 바이어스 파워의 어느 하나 보다 작은 파워로부터 레이저 광의 파워를 연속적으로 상기 제 2 파워 또는 상기 바이어스 파워의 어느 하나까지 변화시키는 기간을 갖는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  18. 제 12항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 기록 펄스열과 상기 냉각 펄스 사이에 상기 제 2 파워 또는 상기 바이어스 파워의 어느 하나에서의 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  19. 제 12항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서,
    기록 마크 길이에 따라 냉각 펄스 개시 시간 또는 상기 냉각 펄스의 펄스 형상의 적어도 어느 한쪽을 변화시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  20. 제 12항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광기록 매체를 일정한 각속도로 회전시킨 경우에 상기 광기록 매체의반경 방향의 위치에 따라 냉각 펄스 개시 시간 또는 상기 냉각 펄스의 펄스 형상의 적어도 어느 한쪽을 변화시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  21. (정정)
    제 1항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분에서는 일정한 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단부 이외의 부분은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  22. (정정)
    제 1항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 기록 마크는 레이저 광을 미리 결정된 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열에서 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  23. 기록 마크는 레이저 광을 미리 설정한 제 1 파워와 제 2 파워 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열에서 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 레이저 광의 상기 제 1 파워가 상기 제 2 파워보다 큰 경우, 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 기록 펄스열에 있어서, 상기 기록 펄스열 직후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워인 냉각 파워로 레이저 광 조사를 행하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  24. 제 23 항에 있어서,
    기록 마크 길이 및 기록 마크 간격에 의해 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분의 위치를 변화시키는 기록 펄스열인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  25. (정정)
    제 1항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  26. (정정)
    제 1항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하고, 기록 마크 길이 및 기록 마크 간격에 의해 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분의 위치를 변화시키는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  27. 제 26항에 있어서,
    상기 기록 펄스열로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 사이에 상기 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 기록 펄스열의 종단 펄스의 레이저 광 조사 개시로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간이 일정한 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  28. 제 26항에 있어서,
    상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사의 개시 타이밍이 클록에 기초하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  29. 디스크 상에서 데이터의 Hi 기간을 마크, Lo 기간을 마크 간격에 대응시켜 기록하는 디스크 기록 장치에 있어서, 데이터의 Hi 기간의 시단 위치에 일정 폭의 시단 펄스를 발생하는 시단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 긴 경우는 마크의 중간 위치에 버스트 게이트 신호를 발생하고, 데이터의 Hi 기간이 짧은 경우는 버스트 게이트 신호를 발생하지 않는 버스트 게이트 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간의 종단 위치에 일정 폭의 종단 펄스를 발생하는 종단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi기간이 n 클록일 때 상기 시단 펄스와 종단 펄스를 포함하는 nT 마크 신호를 발생하고, 데이터의 Lo기간이 m 클록일 때 스페이스 양단의 상기 종단 펄스와 시단 펄스를 포함하는 mT 스페이스 신호를 발생하는 마크/스페이스 길이 검출 회로(단, n, m은 데이터열에 존재하는 자연수)와, 상기 nT 마크 신호와 상기 mT 스페이스 신호로부터 후기 시단용 셀렉터 및 후기 종단용 셀렉터를 제어하기 위한 셀렉트 신호를 발생하는 인코더와, 후기 종단용 프로그래머블 지연 라인으로부터의 지연 종단 펄스로부터 일정 폭의 냉각 펄스를 발생하는 냉각 펄스 발생 회로와, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 시단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 시단용 셀렉터와, 상기 시단용 셀렉터의 시단 설정값 출력을 상기 시단 펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 시단용 샘플/홀드 회로와, 상기 시단용 샘플/홀드 회로의 출력의 시단 설정값으로 지연량을 변화시켜서 상기 시단 펄스를 지연시킨 지연 시단 펄스를 출력하는 시단용 프로그래머블 지연 라인과, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 종단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 종단용 셀렉터와, 상기 종단용 셀렉터의 종단 설정값 출력을 상기 종단 펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 종단용 샘플/홀드 회로와, 상기 종단용 샘플/홀드 회로의 출력의 종단 설정값으로 지연량을 변화시켜 종단 펄스를 지연시키고, 상기 종단 펄스를 지연시킨 지연 종단 펄스를 출력하는 종단용 프로그래머블 지연 라인과, 상기 냉각 펄스의 지연량을 변화시켜 지연 냉각 펄스를 출력하는 냉각 펄스용 지연 라인과, 상기 버스트 펄스와 클록의 논리곱을 취하여 버스트 펄스를 출력하는 AND 게이트와, 상기 지연 시단 펄스와 상기 버스트 펄스 및 상기 지연 종단 펄스의 논리합을 취하여 기록 신호를 출력하는 OR 게이트와, 상기 냉각 펄스용 지연 라인으로부터의 냉각 펄스 신호를 반전시키는 인버터와, 후기 레이저다이오드의 바이어스 전류를 공급하는 바이어스 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 후기 레이저 다이오드의 기록 전류를 공급하는 기록 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 후기 레이저 다이오드로 재생 광 전류를 공급하는 재생광 전류원과, 상기 기록 전류원의 전류를 상기 기록 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원의 전류를 냉각 펄스 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원의 전류를 냉각 펄스 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원과, 상기 기록 전류원과, 상기 재생광 전류원으로 병렬 구동된 디스크 신호를 기록하는레이저 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 장치.
  30. 디스크상에 데이터의 Hi 기간을 마크, Lo 기간을 마크 간격에 대응시켜 기록하는 디스크 기록 장치에 있어서, 데이터의 Hi 기간의 시단 위치에 일정 폭의 시단 펄스를 발생하는 시단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간이 긴 경우는 마크의 중간 위치에 버스트 게이트 신호를 발생하고, 데이터의 Hi 기간이 짧은 경우는 버스트 게이트 신호를 발생하지 않는 버스트 게이트 발생 회로와, 데이터의 Hi 기간의 종단 위치에 일정 폭의 종단 펄스를 발생하는 종단 펄스 발생 회로와, 데이터의 Hi기간이 n 클록일 때 상기 시단 펄스와 종단 펄스를 포함하는 nT 마크 신호를 발생하고, 데이터의 Lo 기간이 m 클록일 때 스페이스 양단의 상기 종단 펄스와 시단 펄스를 포함하는 mT 스페이스 신호를 발생하는 마크/스페이스 길이 검출 회로(단, n, m은 데이터열에 존재하는 자연수)와, 상기 nT 마크 신호와 상기 mT 스페이스 신호로부터 후기 시단용 셀렉터 및 후기 종단용 셀렉터를 제어하기 위한 셀렉트 신호를 발생하는 인코더와, 상기 종단 펄스 발생 회로로부터 출력된 종단 펄스로부터 일정 폭의 냉각 펄스를 발생하는 냉각 펄스 발생 회로와, 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 시단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 시단용 셀렉터와, 상기 시단용 셀렉터의 시단 설정값 출력을 상기 시단 펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 시단용 샘플/홀드 회로와, 상기 시단용 샘플/홀드 회로의 출력의 시단 설정값으로 지연량을 변화시키고, 상기 시단 펄스를 지연시킨 지연 시단 펄스를 출력하는 시단용 프로그래머블 지연 라인과 상기 셀렉터 신호에 의해 복수의 종단 설정값으로부터 하나를 선택하여 출력하는 종단용 셀렉터와, 상기 종단용 셀렉터의 종단 설정값 출력을 상기 종단 펄스가 왔을 때만 갱신하고, 오지 않을 때는 앞의 값을 유지하는 종단용 샘플/홀드 회로와, 상기 종단용 샘플/홀드 회로의 출력의 종단 설정값으로 지연량을 변화시켜 종단 펄스를 지연시키고, 상기 종단 펄스를 지연시킨 지연 종단 펄스를 출력하는 종단용 프로그래머블 지연 라인과, 상기 냉각 펄스 회로로부터 출력되는 냉각 펄스의 지연량을 변화시키고, 지연 냉각 펄스를 출력하는 냉각 펄스용 지연 라인과, 상기 버스트 게이트 발생 회로로부터의 버스트 펄스와 클록의 논리곱을 취하여 버스트 펄스를 출력하는 AND 게이트와, 상기 지연 시단 펄스와 상기 버스트 펄스 및 상기 지연 종단 펄스의 논리합을 취하여 기록 신호를 출력하는 OR 게이트와, 상기 냉각 펄스용 지연 라인으로부터의 지연 냉각 펄스 신호를 반전시키는 인버터와, 후기 레이저 다이오드의 바이어스 전류를 공급하는 바이어스 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 후기 레이저 다이오드의 기록 전류를 공급하는 기록 전류원과, 상기 바이어스 전류원과 병렬로 후기 레이저 다이오드로 재생 광전류를 공급하는 재생광 전류원과, 상기 기록 전류원의 전류를 상기 기록 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원의 전류를 냉각 펄스 신호로 On/Off하는 스위치와, 상기 바이어스 전류원과, 상기 기록 전류원과, 상기 재생광 전류원으로 병렬 구동된 디스크 신호를 기록하는 레이저 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 장치.
  31. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하는 기록 파워, 상기 기록 파워보다 낮은 파워의 바이어스 파워 및 상기 바이어스 파워보다 낮은 파워의 냉각 파워의 적어도 3파워 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 펄스로 이루어지는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되며, 상기 레이저 광은 상기 바이어스 파워에 의해 상기 기록 마크 사이에 조사되고, 상기 기록 파워에서의 레이저 광 조사와 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사와의 사이에는 상기 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사 기간을 설치한 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  32. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하는 기록 파워, 상기 기록 파워보다 낮은 파워의 바이어스 파워 및 상기 바이어스 파워보다 낮은 파워의 냉각 파워의 적어도 3파워 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 펄스로 이루어지는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되며, 상기 레이저 광은 상기 바이어스 파워에 의해 상기 기록 마크 사이에 조사되고, 상기 기록 파워에서의 레이저 광 조사와 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사와의 사이에는 상기 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사 기간을 설치하고, 상기 광 기록 매체의 반경 방향의 위치에 따라 상기 기록 파워 종료 시점에서의 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시 시간을 변화시키는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  33. (정정)
    제 32항에 있어서,
    상기 냉각 파워에서의 조사 개시 시간이 상기 광 기록 매체의 적어도 미리 결정된 반경보다도 내측의 영역에서는 상기 미리 결정된 반경보다 외측의 영역보다 빠른 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  34. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워와의 사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 직후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 냉각 파워로부터 상기 바이어스 파워에 이르기까지의 사이에 단계적 또는 연속적으로 레이저 광의 파워가 변화하는 기간을 갖는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  35. (정정)
    광학적으로 식별 가능한 상태 사이에서 가역적으로 변화하는 기록 박막을 갖는 광기록 매체 상에 복수의 파워레벨을 갖는 레이저 광에서 하나의 파워레벨을 선택하여 조사하는 단계와,
    펄스폭 변조된 디지털 신호를 광빔을 이용하여 상기 광기록 매체 상에 오버라이트하는 단계를 포함하며,
    상기 기록 박막에 기록하기 위한 기록 파워레벨보다 큰 파워레벨로 미리 설정한 제 1 파워와 상기 제 1 파워보다 낮은 파워레벨로 미리 설정한 제 2 파워와의사이에서 레이저 광의 파워레벨이 변조한 복수의 펄스로 이루어지는 기록 펄스열과, 상기 기록 펄스열 직후에 레이저 광의 파워레벨이 상기 기록 파워 미만인 바이어스 파워보다 더 낮은 파워의 냉각 파워로 레이저 광을 조사하는 냉각 펄스를 갖는 기록 파형에 의해 상기 레이저 광의 파워레벨을 조사함으로써 기록 마크가 형성되는 경우, 상기 냉각 펄스는 상기 바이어스 파워와 상기 냉각 파워가 번갈아 반복 형성되는 복수의 펄스열로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  36. (신설)
    제 18항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분에서는 일정한 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단부 이외의 부분은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  37. (신설)
    제 19항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분에서는 일정한 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단부 이외의 부분은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  38. (신설)
    제 20항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분에서는 일정한 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단부 이외의 부분은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  39. (신설)
    제 18항에 있어서,
    상기 기록 마크는 레이저 광을 미리 결정된 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열에서 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  40. (신설)
    제 19항에 있어서,
    상기 기록 마크는 레이저 광을 미리 결정된 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열에서 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  41. (신설)
    제 20항에 있어서,
    상기 기록 마크는 레이저 광을 미리 결정된 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열에서 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  42. (신설)
    제 18항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  43. (신설)
    제 19항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  44. (신설)
    제 20항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  45. (신설)
    제 18항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하고, 기록 마크 길이 및 기록 마크 간격에 의해 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분의 위치를 변화시키는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  46. (신설)
    제 19항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하고, 기록 마크 길이 및 기록 마크 간격에 의해 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분의 위치를 변화시키는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  47. (신설)
    제 20항에 있어서,
    상기 기록 마크는 미리 설정한 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 사이에서 변조한 복수의 펄스열로 구성된 기록 펄스열로 레이저 광을 조사함으로써 형성하고, 상기 기록 펄스열은 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분은 일정한 상기 제 1 파워를 조사하고, 상기 기록 펄스열의 시단??종단 펄스 사이는 상기 제 1 파워와 상기 제 2 파워의 레이저 광을 데이터 클록의 1주기 이하의 주기로 번갈아 전환하여 조사하고, 기록 마크 길이 및 기록 마크 간격에 의해 상기 기록 펄스열의 시단 부분과 종단 부분의 위치를 변화시키는 것인 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  48. (신설)
    제 45항에 있어서,
    상기 기록 펄스열로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 사이에 상기 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 기록 펄스열의 종단 펄스의 레이저 광 조사 개시로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간이 일정한 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  49. (신설)
    제 46항에 있어서,
    상기 기록 펄스열로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 사이에 상기 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 기록 펄스열의 종단 펄스의 레이저 광 조사 개시로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간이 일정한 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  50. (신설)
    제 47항에 있어서,
    상기 기록 펄스열로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 사이에 상기 바이어스 파워에서의 레이저 광 조사를 행하고, 상기 기록 펄스열의 종단 펄스의 레이저 광 조사 개시로부터 상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사 개시까지의 시간이 일정한 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  51. (신설)
    제 45항에 있어서,
    상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사의 개시 타이밍이 클록에 기초하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  52. (신설)
    제 46항에 있어서,
    상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사의 개시 타이밍이 클록에 기초하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
  53. (신설)
    제 47항에 있어서,
    상기 냉각 파워에서의 레이저 광 조사의 개시 타이밍이 클록에 기초하는 것을 특징으로 하는 광학적 정보의 기록 방법.
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