JPWO2010061807A1 - ケトンの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
で表されるアミド系溶媒中、水、パラジウム触媒および分子状酸素の存在下で、分子内の末端以外の部位に1個以上の炭素−炭素二重結合を有する内部オレフィンまたは環状オレフィンを酸化せしめて、前記炭素−炭素二重結合を構成する少なくとも一方の炭素原子にオキソ基を結合せしめる方法である。前記パラジウム触媒の濃度としては0.002〜1mol/Lが好ましい。
で表される化合物が好ましく、分子内の末端に炭素−炭素二重結合を有しないものがより好ましい。
で表されるアミド系溶媒中、水、パラジウム触媒および分子状酸素の存在下で、分子内の末端以外の部位に1個以上の炭素−炭素二重結合を有する内部オレフィンまたは環状オレフィンを酸化せしめて、前記炭素−炭素二重結合を構成する少なくとも一方の炭素原子にオキソ基を結合せしめる方法である。
本発明に用いられるオレフィンは、分子内の末端以外の部位に1個以上の炭素−炭素二重結合を有する内部オレフィンまたは環状オレフィンである。また、本発明においては、分子内部に1個以上の炭素−炭素二重結合を有していれば、末端に炭素−炭素二重結合を有しているオレフィンも、有していないオレフィンも、内部オレフィンまたは環状オレフィンとして使用することができる。
で表される化合物が好ましい。
本発明に用いられるパラジウム触媒としては、パラジウム原子を含有する化合物であれば特に制限はされず、通常のケトンの製造において用いられるものを使用することが可能である。このようなパラジウム触媒として具体的には、硫酸パラジウム、硝酸パラジウムおよび炭酸パラジウムといったパラジウムの無機塩類、ヘテロポリ酸パラジウム塩およびイソポリ酸パラジウム塩といったパラジウムを含有するポリオキソアニオン系化合物、塩化パラジウムおよび臭化パラジウムといったハロゲン化パラジウム、テトラクロロパラジウム酸ナトリウム、テトラブロモパラジウム酸ナトリウム、テトラクロロパラジウム酸カリウムおよびテトラブロモパラジウム酸カリウムといったパラジウム酸塩類、テトラアンミンパラジウムジクロリドおよびジアンミンパラジウムテトラクロリドといったハロゲン化パラジウムのアンミン錯体、水酸化パラジウムおよび酸化パラジウムといった無機系パラジウム化合物および錯体、酢酸パラジウムに代表されるパラジウム有機酸塩、パラジウムアセチルアセトナートおよびアルキルパラジウム化合物といったパラジウム含有有機化合物、ジアセトニトリルパラジウムジクロリドおよびジベンゾニトリルパラジウムジクロリドといったハロゲン化パラジウムのニトリル錯体、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウムに代表されるパラジウムホスフィン錯体、エチレンジアミン四酢酸パラジウムに代表されるパラジウムアミン錯体、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウムのクロロホルム付加物およびシクロオクタジエンパラジウムジクロリドといった有機系パラジウム化合物および錯体、パラジウムコロイドおよび高分散パラジウム金属といった活性な金属パラジウムなどが挙げられる。また、これらの化合物の無水物、結晶水含有物も前記パラジウム触媒として使用することができる。これらのパラジウム触媒は1種を単独で用いてもまたは2種以上を併用してもよい。
本発明においては、溶媒として前記式(1)で表されるアミド系溶媒を使用する。このようなアミド系溶媒を使用することによって、分子状酸素によりパラジウム触媒を効率よく再酸化することが可能となる。
本発明においては、前記オレフィンと水とを反応させて対応するケトンを製造する。水の添加量は反応必要量であれば特に制限はなく、使用するオレフィン、パラジウム触媒およびアミド系溶媒の種類、反応方式およびその条件によって適宜設定することができる。具体的には、前記アミド系溶媒100容量部に対して0.5〜70容量部が好ましく、1〜50容量部がより好ましい。水の添加量が前記下限未満になると十分な酸化反応速度が得られず、対応するケトンの収率が低下する傾向にある。他方、前記上限を超えるとパラジウム成分が金属パラジウムとして沈降または凝集して触媒活性が低下する傾向にある。また、前記オレフィンの水への溶解度が低いため、前記オレフィンとパラジウム触媒との接触効率が低下して十分な酸化反応速度が得られず、対応するケトンの収率が低下する傾向にある。
本発明においては、前記オレフィンを酸化した後のパラジウム触媒を、分子状酸素を用いて再酸化する。このとき、銅触媒などの共触媒を実質的に使用しないため、前記オレフィンの酸化反応が銅触媒により阻害されず、内部オレフィンまたは環状オレフィンから対応するケトンを高収率且つ高選択性で製造することが可能となる。
本発明のケトンの製造方法においては、前記アミド系溶媒中、水、パラジウム触媒および分子状酸素の存在下で、前記内部オレフィンまたは環状オレフィンを酸化させ、このオレフィン中のC=C結合を構成する少なくとも一方の炭素原子にオキソ基(=O)を結合させることによってケトンが生成する。なお、本明細書においては、このようなケトンを「対応するケトン」という。
耐圧容器に、塩化パラジウム(8.8mg、0.05mmol)、ジメチルアセトアミド(DMA、5ml)および水(0.5ml)を仕込み、80℃に加熱して塩化パラジウムを溶解した。得られた溶液をオートクレーブ型反応器に移した後、酸素ガスを供給して反応器内を0.9MPaに加圧して1時間攪拌した。反応器内を脱圧し、トランス−4−オクテン(112mg、1.0mmol)を加えた後、酸素ガスを供給して反応器内を0.6MPaに加圧して80℃で10時間酸化反応を行なった。
ジメチルアセトアミドの代わりにジメチルホルムアミド(DMF、5ml)またはアセトニトリル(CH3CN、5ml)を用いた以外は実施例1と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、トランス−4−オクテンは、前記反応式(I)のように酸化されたものと推察された。また、トランス−4−オクテンの仕込量に対する4−オクタノンの収率、および全生成物量に対する4−オクタノンの選択率を表1に示す。
トランス−4−オクテンの代わりにそれぞれトランス−2−オクテン(112mg、1.0mmol)、トランス−3−オクテン(112mg、1.0mmol)、トランス−5−デセン(140mg、1.0mmol)、7−テトラデセン(196mg、1.0mmol)およびトランス−3−ヘキセン(84mg、1.0mmol)を用いた以外は実施例1と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、各内部オレフィンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、対応するケトンが生成していることが確認された。また、各内部オレフィンの仕込量に対する対応のケトンの収率、および全生成物量に対する対応のケトンの選択率を表2に示す。
トランス−4−オクテンの代わりに2−ブテン(300mg、5.3mmol)を用い、塩化パラジウムの量を30.4mg(0.17mmol)、ジメチルアセトアミドの量を30ml、水の量を3.0ml、反応時間を4時間に変更した以外は実施例1と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、2−ブテンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、メチルエチルケトンが生成していることが確認された。また、2−ブテンの仕込量に対するメチルエチルケトンの収率、および全生成物量に対するメチルエチルケトンの選択率を表2に示す。
以下の従来の方法により各種内部オレフィンから製造された各種ケトンの前記内部オレフィンの仕込量に対する収率、および全生成物量に対する選択率を表3に示す。比較例3はD.D.M.Waynerらの方法による結果(J.Org.Chem.1990,55,2924)、比較例4はD.J.H.Smithらの方法による結果(Tetrahedron Letters.1985,2263)、比較例5はS.Uemuraらの方法による結果(J.Chem.Soc.,Perkin Trans.2000,1,1915)である。なお、表3中、Acはアセチル基を表し、BQはベンゾキノンを表し、PEGはポリエチレングリコールを表す。
トランス−4−オクテンの代わりにシクロヘキセン(42mg、0.5mmol)を用い、塩化パラジウムの量を17.5mg(0.1mmol)に変更した以外は実施例1と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、シクロヘキセンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、シクロヘキサノンが生成していることが確認された。また、シクロヘキセンの仕込量に対するシクロヘキサノンの収率、および全生成物量に対するシクロヘキサノンの選択率を表4に示す。
シクロヘキセンの量を82mg(1.0mmol)に変更し、反応温度を70℃に変更した以外は実施例8と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、シクロヘキセンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、シクロヘキサノンが生成していることが確認された。また、シクロヘキセンの仕込量に対するシクロヘキサノンの収率、および全生成物量に対するシクロヘキサノンの選択率を表4に示す。
シクロヘキセンの代わりにシクロペンテン(670mg、9.8mmol)を用い、塩化パラジウムの量を28.7mg(0.16mmol)、ジメチルアセトアミドの量を30ml、水の量を3.0ml、反応時間を4時間に変更した以外は実施例8と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、シクロペンテンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、シクロペンタノンが生成していることが確認された。また、シクロペンテンの仕込量に対するシクロペンタノンの収率、および全生成物量に対するシクロペンタノンの選択率を表4示す。
塩化パラジウムの量を3.5mg(0.02mmol)、トランス−4−オクテンの量を56mg(0.5mmol)、酸化反応時の酸素圧を0.9MPaおよび反応時間を6時間に変更した以外は実施例1と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、トランス−4−オクテンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、4−オクタノンが生成していることが確認された。また、トランス−4−オクテンの仕込量に対する4−オクタノンの収率、および全生成物量に対する4−オクタノンの選択率を表5に示す。
塩化パラジウムの代わりに塩化パラジウムのフェニルニトリル錯体(PdCl2(PhCN)2、7.7mg、0.02mmol)を用いた以外は実施例11と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、トランス−4−オクテンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、4−オクタノンが生成していることが確認された。また、トランス−4−オクテンの仕込量に対する4−オクタノンの収率、および全生成物量に対する4−オクタノンの選択率を表5に示す。
耐圧容器に、塩化パラジウム(8.8mg、0.05mmol)、塩化銅(II)(3.4mg、0.025mmol)、ジメチルアセトアミド(DMA、5ml)および水(0.5ml)を仕込み、酸素圧を0.3MPaおよび反応時間を12時間に変更した以外は実施例1と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、トランス−4−オクテンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、4−オクタノンが生成していることが確認された。また、トランス−4−オクテンの仕込量に対する4−オクタノンの収率、および全生成物量に対する4−オクタノンの選択率を表6に示す。
塩化銅(II)の添加量を6.8mg(0.05mmol)または13.6mg(0.1mmol)に変更した以外は実施例13と同様にして酸化反応を実施した。生成物を実施例1と同様に分析したところ、トランス−4−オクテンのC=C結合中の炭素原子にオキソ基(=O)が結合され、4−オクタノンが生成していることが確認された。また、トランス−4−オクテンの仕込量に対する4−オクタノンの収率、および全生成物量に対する4−オクタノンの選択率を表6に示す。
Claims (7)
- 前記パラジウム触媒がハロゲン化パラジウムおよびハロゲン化パラジウムのニトリル錯体からなる群から選択される少なくとも1種のパラジウム化合物である、請求項1に記載のケトンの製造方法。
- 前記内部オレフィンまたは環状オレフィンが下記式(2):
で表される化合物である、請求項1に記載のケトンの製造方法。 - 前記内部オレフィンまたは環状オレフィンが分子内の末端に炭素−炭素二重結合を有しないものである、請求項1に記載のケトンの製造方法。
- 前記アミド系溶媒がN,N−ジメチルアセトアミドおよびN−メチル−2−ピロリドンからなる群から選択される少なくとも1種である、請求項1に記載のケトンの製造方法。
- 銅触媒の非存在下で前記内部オレフィンまたは環状オレフィンを酸化せしめる請求項1に記載のケトンの製造方法。
- 前記パラジウム触媒の濃度が0.002〜1mol/Lである、請求項1に記載のケトンの製造方法。
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