JPS63248450A - 均熱装置 - Google Patents
均熱装置Info
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- JPS63248450A JPS63248450A JP62082655A JP8265587A JPS63248450A JP S63248450 A JPS63248450 A JP S63248450A JP 62082655 A JP62082655 A JP 62082655A JP 8265587 A JP8265587 A JP 8265587A JP S63248450 A JPS63248450 A JP S63248450A
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- Japan
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- soaking
- heat equalizing
- temperature
- heat
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Links
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- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims abstract description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 13
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
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- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Devices For Use In Laboratory Experiments (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、温度センサの校正、各種半導体素子等の試
験用素子の温度試験等に用いる均熱装置に関するもので
ある。
験用素子の温度試験等に用いる均熱装置に関するもので
ある。
し従来の技術]
従来、温度センサの校正には、電気炉、オイルバス、各
種半導体素子の試験には、恒温槽等が多く用いられ、同
時に多数のものの校正、試験が行われている。
種半導体素子の試験には、恒温槽等が多く用いられ、同
時に多数のものの校正、試験が行われている。
[この発明が解決しようとする問題点]しかしながら、
電気炉、恒温槽等を用いると、どうしても大型なものと
なり、取り扱いが煩雑となり、試験・校正点数、設定温
度等にフレキシブルに対応しにくい問題点があった。
電気炉、恒温槽等を用いると、どうしても大型なものと
なり、取り扱いが煩雑となり、試験・校正点数、設定温
度等にフレキシブルに対応しにくい問題点があった。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、各種校正、試験に
好適な均熱装置を提供することである。
好適な均熱装置を提供することである。
[問題点を解決するための手段]
この発明は、灼熱ブロックに、加熱ヒータと冷媒通過手
段を設けるようにした均熱装置である。
段を設けるようにした均熱装置である。
[実施例]
第1図、第2図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。
図である。
図において、1は、たとえば円筒状のAI等の均熱ブロ
ックで、周囲、底部に加熱ヒータ2を設け、その周囲に
、水、空気、油等の冷媒を流す冷媒通過手段3が設けら
れている。また、均熱ブロック1の上方から温度センサ
を挿入する複数の挿着孔4が設けられている。
ックで、周囲、底部に加熱ヒータ2を設け、その周囲に
、水、空気、油等の冷媒を流す冷媒通過手段3が設けら
れている。また、均熱ブロック1の上方から温度センサ
を挿入する複数の挿着孔4が設けられている。
つまり、均熱ブロック1の挿着孔4の中央に標準温度セ
ンサ、周囲に被校正温度センサを挿入し、加熱ヒータ2
を加熱するとともに、冷媒通過手段3に水、油等の冷媒
を流し、図示しない制御手段で加熱ヒータ2を制御し、
均熱ブロック1を所定の温度とする。この場合、温度検
出、制御用の温度センサは、適当な部位または挿着孔4
に設けるようにする。
ンサ、周囲に被校正温度センサを挿入し、加熱ヒータ2
を加熱するとともに、冷媒通過手段3に水、油等の冷媒
を流し、図示しない制御手段で加熱ヒータ2を制御し、
均熱ブロック1を所定の温度とする。この場合、温度検
出、制御用の温度センサは、適当な部位または挿着孔4
に設けるようにする。
また、第3図で示すように、均熱ブロック1の長さが十
分長い場合、均熱ブロック1の底部の加熱ヒータ2は除
き、周囲にのみ設けるようにしてもよい。
分長い場合、均熱ブロック1の底部の加熱ヒータ2は除
き、周囲にのみ設けるようにしてもよい。
さらに、第4図で示すように、均熱ブロック1の周囲に
加熱ヒータ2を設け、中央部に冷媒通過手段3を設ける
ようにしてもよい。
加熱ヒータ2を設け、中央部に冷媒通過手段3を設ける
ようにしてもよい。
また、第5図に示すように、均熱ブロック1の周囲に冷
媒通過手段3、中央部に加熱ヒータ2を設けるようにし
てもよい。
媒通過手段3、中央部に加熱ヒータ2を設けるようにし
てもよい。
なお、第3図から第5図において、均熱ブロック1には
温度センサの挿着孔4が設けられており、図示しない制
御手段により加熱ヒータ2を制御し所定温度とされる。
温度センサの挿着孔4が設けられており、図示しない制
御手段により加熱ヒータ2を制御し所定温度とされる。
このように熱伝導の良好な均熱ブロック1に加熱ヒータ
2、冷媒を通過させて冷却する冷媒通過手段3を設けて
いるので、全体として等温とされ、同時に多数のセンサ
、素子の校正、試験が高精度に低温度まで可能となる。
2、冷媒を通過させて冷却する冷媒通過手段3を設けて
いるので、全体として等温とされ、同時に多数のセンサ
、素子の校正、試験が高精度に低温度まで可能となる。
第6図は、この発明の他の一実施例を示す構成説明図で
ある。
ある。
図において、1は、平板状の均熱ブロックで、上部と下
部に水平方向に貫通された冷媒通過手段3が設けられ、
連結管3aで連結され、この均熱ブロック1の裏面に加
熱ヒータが設けられ、さらに挿着孔4が均熱ブロック1
を貫通して複数個設けられている。
部に水平方向に貫通された冷媒通過手段3が設けられ、
連結管3aで連結され、この均熱ブロック1の裏面に加
熱ヒータが設けられ、さらに挿着孔4が均熱ブロック1
を貫通して複数個設けられている。
また、均熱ブロック1の表面に、たとえば内径を異にす
る各種挿着孔40を有する補助均熱ブロック1aが取り
付けられている。つまり、均熱ブロック1、補助均熱ブ
ロック1aの挿着孔4.40に試験用素子を位置させ、
冷媒通過手段3に冷媒を流し、加熱ヒータの加熱を図示
しない制御手段で行い、均熱ブロック1を所定温度とす
る。
る各種挿着孔40を有する補助均熱ブロック1aが取り
付けられている。つまり、均熱ブロック1、補助均熱ブ
ロック1aの挿着孔4.40に試験用素子を位置させ、
冷媒通過手段3に冷媒を流し、加熱ヒータの加熱を図示
しない制御手段で行い、均熱ブロック1を所定温度とす
る。
また、平板状の均熱ユニット1に挿着孔を設けず、黒色
塗料を塗布し、放射温度計等で照準することにより校正
に使用できる。
塗料を塗布し、放射温度計等で照準することにより校正
に使用できる。
また、試験素子の種類に応じた挿着孔を有する補助均熱
ブロック1aを交換することにより、各種電子素子の温
度試験に用いることができる。
ブロック1aを交換することにより、各種電子素子の温
度試験に用いることができる。
第7図は、冷媒通過手段3に水Wを流す場合の制御例で
、室温(約25℃)に近い温度や、たとえば80℃の所
定温度までは、バルブV1を開き、水Wを冷媒通過手段
3に流し、温度センサSによる均熱ブロック1の温度T
と設定fa T cとを制御手段Cで比較し、加熱ヒー
タ2の制御を行い均熱ブロック1を所定温度とする。第
7図で示すように温度センサSの検出温度が所定の80
℃を越えると、バルブv1を閉じ、バルブv2を開きエ
ア(空気)Aを導入し、冷媒通過手段3から水分を除去
し、蒸発による事故等を防止する。
、室温(約25℃)に近い温度や、たとえば80℃の所
定温度までは、バルブV1を開き、水Wを冷媒通過手段
3に流し、温度センサSによる均熱ブロック1の温度T
と設定fa T cとを制御手段Cで比較し、加熱ヒー
タ2の制御を行い均熱ブロック1を所定温度とする。第
7図で示すように温度センサSの検出温度が所定の80
℃を越えると、バルブv1を閉じ、バルブv2を開きエ
ア(空気)Aを導入し、冷媒通過手段3から水分を除去
し、蒸発による事故等を防止する。
第9図は、本願発明の均熱ブロック1を含む均熱装置に
の冷媒通過手段3に油を流す場合の例で、ポンプPによ
り均熱装置にと熱交換器Hとを油は循環するが、配管の
一部にベロー等の油の熱膨張を吸収する膨張吸収体Bを
設けるようにする。
の冷媒通過手段3に油を流す場合の例で、ポンプPによ
り均熱装置にと熱交換器Hとを油は循環するが、配管の
一部にベロー等の油の熱膨張を吸収する膨張吸収体Bを
設けるようにする。
[発明の効果〕
以上述べたように、この発明は、均熱ブロックに、加熱
ヒータと冷媒通過手段を設けるようにしたので、簡単な
構成で高精度に低温度までの均熱装置が実現でき、各種
校正、試験に用いることができる。また、補助均熱ブロ
ックの交換により、点数、種別に容易に対応できる。
ヒータと冷媒通過手段を設けるようにしたので、簡単な
構成で高精度に低温度までの均熱装置が実現でき、各種
校正、試験に用いることができる。また、補助均熱ブロ
ックの交換により、点数、種別に容易に対応できる。
第1図、第2図、第3図、第4図、第5図、第6図、第
7図、第9図は、この発明の一実施例を示す構成説明図
、第8図は、動作説明図である。 1・・・均熱ブロック、2・・・加熱ヒータ、3・・・
冷媒通過手段、4.40・・・挿着孔、1a・・・補助
均熱ブロック、B・・・膨張吸収体
7図、第9図は、この発明の一実施例を示す構成説明図
、第8図は、動作説明図である。 1・・・均熱ブロック、2・・・加熱ヒータ、3・・・
冷媒通過手段、4.40・・・挿着孔、1a・・・補助
均熱ブロック、B・・・膨張吸収体
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、均熱ブロックと、この均熱ブロックに設けられた加
熱ヒータと、前記均熱ブロックに設けられた冷媒通過手
段とを備えたことを特徴とする均熱装置。 2、前記均熱ブロックに、温度センサまたは試験用素子
等を挿入する挿着孔を設けたことを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の均熱装置。 3、前記均熱ブロックに、各種挿着孔を有する補助均熱
ブロックを設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第2項記載の均熱装置。 4、前記均熱ブロックの温度が、所定温度以下では水、
所定温度以上では空気を冷媒通過手段に流すことを特徴
とする特許請求の範囲第1項から第3項記載の均熱装置
。 5、前記冷媒通過手段に油を流す場合、配管の一部に膨
張吸収体を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項から第3項記載の均熱装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62082655A JPS63248450A (ja) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | 均熱装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62082655A JPS63248450A (ja) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | 均熱装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63248450A true JPS63248450A (ja) | 1988-10-14 |
Family
ID=13780447
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62082655A Pending JPS63248450A (ja) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | 均熱装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63248450A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0277644U (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-14 | ||
JPH02201147A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-08-09 | Agency Of Ind Science & Technol | 針状熱伝導率測定プローブの製造方法 |
WO2000066990A1 (en) * | 1999-04-29 | 2000-11-09 | Broenlund Ole Einar | An apparatus for calibration of temperature sensors |
JP2007232651A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-13 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 温度可変型低温度校正装置 |
CN104132755A (zh) * | 2014-08-04 | 2014-11-05 | 广州赛宝计量检测中心服务有限公司 | 一种能够将液体恒温转换为空气恒温的温度试验装置 |
JP2020051788A (ja) * | 2018-09-25 | 2020-04-02 | 安立計器株式会社 | 温度校正器及びその製造方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59112843A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液温切替式液体循還試験装置 |
JPS614745U (ja) * | 1984-06-14 | 1986-01-13 | 日本ブロア−株式会社 | 恒温器 |
JPS618436U (ja) * | 1984-06-19 | 1986-01-18 | 勝 岸本 | 金属ブロツク利用の恒温槽 |
JPS6135856A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-20 | Yamato Scient Co Ltd | 恒温装置の温度制御方法 |
-
1987
- 1987-04-02 JP JP62082655A patent/JPS63248450A/ja active Pending
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AU774624B2 (en) * | 1999-04-29 | 2004-07-01 | Ole Einar Bronlund | An apparatus for calibration of temperature sensors |
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