JPS63240609A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPS63240609A JPS63240609A JP62074901A JP7490187A JPS63240609A JP S63240609 A JPS63240609 A JP S63240609A JP 62074901 A JP62074901 A JP 62074901A JP 7490187 A JP7490187 A JP 7490187A JP S63240609 A JPS63240609 A JP S63240609A
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- JP
- Japan
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- circuit
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- control signal
- power supply
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/22—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
- H03K17/223—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は半導体集積回路に係り、特に電源投入時に異常
電流の発生を防止するための回路に関する。
電流の発生を防止するための回路に関する。
〔従来の技術]
MO5型電界効果トランジスタ(以下、MOSトランジ
スタという)で構成された半導体集積回路には、電源投
入後内部回路が安定動作可能な電圧レベルに達するまで
の間、内部回路はに電源と接地との間に異常な電流が流
れることがある。これは内部回路が未だ初期化されてい
ないので、発振したり、電源側のMOS)ランジスタと
接地側のMOS)ランジスタとが同時的にオン状態とな
り、いわゆるオン−オン状態となって内部回路に貫通電
流の経路が形成されるためと考えられる。
スタという)で構成された半導体集積回路には、電源投
入後内部回路が安定動作可能な電圧レベルに達するまで
の間、内部回路はに電源と接地との間に異常な電流が流
れることがある。これは内部回路が未だ初期化されてい
ないので、発振したり、電源側のMOS)ランジスタと
接地側のMOS)ランジスタとが同時的にオン状態とな
り、いわゆるオン−オン状態となって内部回路に貫通電
流の経路が形成されるためと考えられる。
この様に電源投入時に半導体集積回路に異常電流が流れ
ると、かかる半導体集積回路を多数使用したシステムで
は電源電圧供給装置の能力を超えることがあり、上述の
安定動作可能な電圧レベルに達するのに長時間を要する
という欠点を有するようになる。それでかかる欠点を除
去せんとして上記異常電流を制限するための回路を半導
体集積回路に形成していた。
ると、かかる半導体集積回路を多数使用したシステムで
は電源電圧供給装置の能力を超えることがあり、上述の
安定動作可能な電圧レベルに達するのに長時間を要する
という欠点を有するようになる。それでかかる欠点を除
去せんとして上記異常電流を制限するための回路を半導
体集積回路に形成していた。
かかる異常電流を制限するための回路としては第4図に
示すものが知られており、第4図に示された回路を従来
例として説明する。図に於て、QP21乃至QP23は
Pチャンネル型MO5)ランジスタ、QN21乃至QN
22はNチャンネル型MOS)ランジスタを示しており
、トランジスタQN21はトランジスタQP21.QP
22に比べて電流能力が格段に劣っており、トランジス
タQP23はトランジスタQN22に比べて電流能力が
格段に劣っている。I21とI22とはインバータを、
N21乃至N24は節点をそれぞれ示している。出力信
号PONは半導体集積回路中の異常電流の流れる可能性
のある回路のスイッチに制御信号として供給される。
示すものが知られており、第4図に示された回路を従来
例として説明する。図に於て、QP21乃至QP23は
Pチャンネル型MO5)ランジスタ、QN21乃至QN
22はNチャンネル型MOS)ランジスタを示しており
、トランジスタQN21はトランジスタQP21.QP
22に比べて電流能力が格段に劣っており、トランジス
タQP23はトランジスタQN22に比べて電流能力が
格段に劣っている。I21とI22とはインバータを、
N21乃至N24は節点をそれぞれ示している。出力信
号PONは半導体集積回路中の異常電流の流れる可能性
のある回路のスイッチに制御信号として供給される。
次に、従来例の動作を第5図を参照して説明する。電源
の投入前は全節点と出力信号PONは接地レベルである
。説明を容易にするためにPチャンネルトランジスタの
しきい値をVtp、Nチャンネルトランジスタのしきい
値をVtnとし、1Vtpl=Vtnとすると、電源レ
ベルがIVtplを超えるまでは全トランジスタはオン
しないので、全節点は接地レベル近傍のフローティング
状態にある。
の投入前は全節点と出力信号PONは接地レベルである
。説明を容易にするためにPチャンネルトランジスタの
しきい値をVtp、Nチャンネルトランジスタのしきい
値をVtnとし、1Vtpl=Vtnとすると、電源レ
ベルがIVtplを超えるまでは全トランジスタはオン
しないので、全節点は接地レベル近傍のフローティング
状態にある。
その後、電源レベルがIVtplを超え、21vtp
Iに達するまではトランジスタQP21とQN21とは
オンしているが、トランジスタQP22はオフしている
ので、節点N22は接地レベルにほぼ等しい低レベルに
維持される。従って、インバータを3つ介して外部に送
出される出力活号PONは電源レベルとほぼ等しい高レ
ベルとなる。この高レベルの出力信号PONの供給され
る内部回路のスイッチ(図示せず)はオフ状態になり、
異常電流の経路は遮断される。
Iに達するまではトランジスタQP21とQN21とは
オンしているが、トランジスタQP22はオフしている
ので、節点N22は接地レベルにほぼ等しい低レベルに
維持される。従って、インバータを3つ介して外部に送
出される出力活号PONは電源レベルとほぼ等しい高レ
ベルとなる。この高レベルの出力信号PONの供給され
る内部回路のスイッチ(図示せず)はオフ状態になり、
異常電流の経路は遮断される。
やがて、電源レベルが、2IVtpl以上になると、節
点N21の電位もIVtpl以上になるので、トランジ
スタQP22もオンする。その結果、節点N22の電位
は3つのトランジスタQP21、QP22.QN21の
オン抵抗比で定まる。
点N21の電位もIVtpl以上になるので、トランジ
スタQP22もオンする。その結果、節点N22の電位
は3つのトランジスタQP21、QP22.QN21の
オン抵抗比で定まる。
トランジスタQN21はトランジスタQP21゜Q’P
22に比べてその能力が極端に低いので、節点N22
の電位は電源レベルより21Vtplだけ電位差を維持
したまま上昇してゆく。やがて、節点N22の電位がト
ランジスタQN22のしきい値を超えると、トランジス
タQP23はトランジスタQN22よりその能力が低い
ので、今度は節点N23がほぼ接地レベルの低レベルに
なる。
22に比べてその能力が極端に低いので、節点N22
の電位は電源レベルより21Vtplだけ電位差を維持
したまま上昇してゆく。やがて、節点N22の電位がト
ランジスタQN22のしきい値を超えると、トランジス
タQP23はトランジスタQN22よりその能力が低い
ので、今度は節点N23がほぼ接地レベルの低レベルに
なる。
その結果、出力信号PONは低レベルに移行し、内部回
路のスイッチはオン状態となり、内部回路は活性可能状
態になる。その結果、内部回路は通常の動作が可能にな
る。
路のスイッチはオン状態となり、内部回路は活性可能状
態になる。その結果、内部回路は通常の動作が可能にな
る。
この様に、内部回路に異常電流が流れることがないよう
に電源レベルが3IVtpl以上になるまでは、内部回
路の以上電流が流れそうな経路を強制的にオフさせ、電
源をスムーズに立ち上がらせている。尚、通常の安定動
作電源レベルは5IVtpl以上である。
に電源レベルが3IVtpl以上になるまでは、内部回
路の以上電流が流れそうな経路を強制的にオフさせ、電
源をスムーズに立ち上がらせている。尚、通常の安定動
作電源レベルは5IVtpl以上である。
[発明が解決しようとする問題点コ
しかしながら、上記従来例にあっては電源レベルが安定
電位付近にまで上昇すると出力信号PONが低レベルに
移行するので、電源投入時から外部クロックが活性状態
にあると、電源レベル安定後の初期化用ダミーサイクル
の実施前に内部回路が活性化されてデータが外部に送出
されることがあり、そのために多量の電流が消費される
という問題点があった。
電位付近にまで上昇すると出力信号PONが低レベルに
移行するので、電源投入時から外部クロックが活性状態
にあると、電源レベル安定後の初期化用ダミーサイクル
の実施前に内部回路が活性化されてデータが外部に送出
されることがあり、そのために多量の電流が消費される
という問題点があった。
本発明の目的は電源投入時の消費電力を低減できる半導
体集積回路を提供することである。
体集積回路を提供することである。
E問題点を解決するための手段]
本発明は、外部クロックに基づき機能し、2つの互いに
異なる電位間に電流経路を形成可能な内部回路と、電源
投入後電源電圧が一定レベルになると出力を第1レベル
から第2レベルに移行させ、更に所定レベルになると再
び出力を第2レベルから第1レベルに移行させる第1回
路と、該第1回路の出力に基づき制御信号を形成する制
御信号形成回路と、上記制御信号が第1レベルなら内部
回路の電流経路を形成可能にし、一方、制御信号が第2
レベルなら上記電流経路を強制的に遮断するスイッチ手
段とを備えた半導体集積回路において、上記制御信号か
第2レベルの間に上記外部クロックが活性状態になると
第1回路の出力が第2レベルから第1レベルに移行した
後も外部クロックが不活性状態になるまで制御信号形成
回路に第2レベルの制御信号を発生させる論理回路をさ
らに設けたことを特徴としている。
異なる電位間に電流経路を形成可能な内部回路と、電源
投入後電源電圧が一定レベルになると出力を第1レベル
から第2レベルに移行させ、更に所定レベルになると再
び出力を第2レベルから第1レベルに移行させる第1回
路と、該第1回路の出力に基づき制御信号を形成する制
御信号形成回路と、上記制御信号が第1レベルなら内部
回路の電流経路を形成可能にし、一方、制御信号が第2
レベルなら上記電流経路を強制的に遮断するスイッチ手
段とを備えた半導体集積回路において、上記制御信号か
第2レベルの間に上記外部クロックが活性状態になると
第1回路の出力が第2レベルから第1レベルに移行した
後も外部クロックが不活性状態になるまで制御信号形成
回路に第2レベルの制御信号を発生させる論理回路をさ
らに設けたことを特徴としている。
[発明の作用]
上記構成に係る半導体集積回路では、電源投入時など電
源電圧が一定レベルから所定レベルに至る間は制御信号
形成回路が第2レベルの出力に基づき第2レベルの制御
信号を形成する。従って、スイッチ手段は内部回路の電
流経路を強制的に遮断し、異常電流の発生を防止する。
源電圧が一定レベルから所定レベルに至る間は制御信号
形成回路が第2レベルの出力に基づき第2レベルの制御
信号を形成する。従って、スイッチ手段は内部回路の電
流経路を強制的に遮断し、異常電流の発生を防止する。
一方、制御信号が第2レベルを維持している間に、外部
クロックが活性状態になった場合には、論理回路が第1
回路の出力が第2レベルから第1レベルに移行しても制
御信号を第2レベルに維持するので、スイッチ手段は電
流経路を強制的に遮w71ハ外部クロックに基づき内部
回路が機能して多量の電流を消費するのを防止する。
クロックが活性状態になった場合には、論理回路が第1
回路の出力が第2レベルから第1レベルに移行しても制
御信号を第2レベルに維持するので、スイッチ手段は電
流経路を強制的に遮w71ハ外部クロックに基づき内部
回路が機能して多量の電流を消費するのを防止する。
[実施例コ
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す電気回路図である。図
に於て、QPI乃至QP3はPチャンネル型MO3)ラ
ンジスタであり、QNI乃至QN3はNチャンネル型M
O5)ランジスタである。
に於て、QPI乃至QP3はPチャンネル型MO3)ラ
ンジスタであり、QNI乃至QN3はNチャンネル型M
O5)ランジスタである。
トランジスタQN2とQP3とはトランジスタQPi、
QP2とトランジスタQN3とに比べてそれらの能力が
それぞれ極端に低く設定されている。
QP2とトランジスタQN3とに比べてそれらの能力が
それぞれ極端に低く設定されている。
また、11乃至I7はインバータを、NOIはNOR回
路を、NAIはNAND回路を、N1乃至Nilは節点
をそれぞれ示している。
路を、NAIはNAND回路を、N1乃至Nilは節点
をそれぞれ示している。
さらに具体的に説明すると、トランジスタQP1のソー
スは電源に、そのゲートとドレインとは共通接続されて
いる。トランジスタQP2のゲートとドレインとはトラ
ンジスタQNIのゲートとドレインと共に節点N2に接
続されており、この節点N2はトランジスタQN2のド
レインとトランジスタQP3、QN3で構成されるイン
バータの人力にも接続されている。
スは電源に、そのゲートとドレインとは共通接続されて
いる。トランジスタQP2のゲートとドレインとはトラ
ンジスタQNIのゲートとドレインと共に節点N2に接
続されており、この節点N2はトランジスタQN2のド
レインとトランジスタQP3、QN3で構成されるイン
バータの人力にも接続されている。
また、トランジスタQNIのドレインとトランジスタQ
N2のゲートとは電源に接続されている。
N2のゲートとは電源に接続されている。
トランジスタQP3.QN3で構成されるインバータの
出力はインバータ11、■2を順次経てNOR回路NO
Iの一方の人力に供給され、NOR回路NOIの他方の
人力にはN A N D回路NAIの出力がインバータ
I7を経て供給されている。
出力はインバータ11、■2を順次経てNOR回路NO
Iの一方の人力に供給され、NOR回路NOIの他方の
人力にはN A N D回路NAIの出力がインバータ
I7を経て供給されている。
このN A N D回1NA1の一方の人力には外部ク
ロックφがインバータエル乃至■6を経た後に印可され
ており、その他方には上記NOR回路N。
ロックφがインバータエル乃至■6を経た後に印可され
ており、その他方には上記NOR回路N。
1の出力をインバータ■3て反転させた制御信号PON
が供給されている。外部クロックφはデータ出力バッフ
ァ等多量の電流を消費する回路の活性化信号として機能
する。これに対して、上記制御信号PONは上記出力デ
ータバッフ7等の電源から接地に至る電流経路を遮断、
または導通させる。即ち、制御信号PONが高レベルの
ときには電流経路が遮断され、反対に低レベルになると
電流経路は導通可能になる。
が供給されている。外部クロックφはデータ出力バッフ
ァ等多量の電流を消費する回路の活性化信号として機能
する。これに対して、上記制御信号PONは上記出力デ
ータバッフ7等の電源から接地に至る電流経路を遮断、
または導通させる。即ち、制御信号PONが高レベルの
ときには電流経路が遮断され、反対に低レベルになると
電流経路は導通可能になる。
次に、第2図乃至第3図を参照しつつ一実施例の動作を
説明する。尚、説明の簡略を図るために、Pチャンネル
MO5)ランジスタのしきい値VtpとNチャンネルM
OS)ランジスタのしきい値Vtnとには、1Vtpl
=Vtnの関係が成立するものとする。
説明する。尚、説明の簡略を図るために、Pチャンネル
MO5)ランジスタのしきい値VtpとNチャンネルM
OS)ランジスタのしきい値Vtnとには、1Vtpl
=Vtnの関係が成立するものとする。
電源投入前の全節点及び制御信号PONは接地レベルに
あり、電源投入後に電源レベルがIVtplに達すると
トランジスタQPI、QN2はオンし、節点N2は接地
レベルにある。従って、節点N5はほぼ電源レベルの高
レベルになり、外部クロックφは電源レベルが完全に安
定レベルに達するまで低レベルであり、活性状態である
ものとすると、インバータI7の出力が高レベルなので
NOR回路NOIの出力は低レベルになり、制御信号P
ONは高レベルになる。従って、出力データバッファ等
の電流経路は強制的に遮断される。
あり、電源投入後に電源レベルがIVtplに達すると
トランジスタQPI、QN2はオンし、節点N2は接地
レベルにある。従って、節点N5はほぼ電源レベルの高
レベルになり、外部クロックφは電源レベルが完全に安
定レベルに達するまで低レベルであり、活性状態である
ものとすると、インバータI7の出力が高レベルなので
NOR回路NOIの出力は低レベルになり、制御信号P
ONは高レベルになる。従って、出力データバッファ等
の電流経路は強制的に遮断される。
次に、電源レベルが1Vtpl乃至21VtpO間は節
点N1は接地レベルからIVtplに向かって上昇する
が、トランジスタQP2は依然オフ状態を維持するので
節点N2は低レベルのままである。やがて、電源レベル
が21Vtpl乃至3+vtp+の間を上昇するときに
は、トランジスタQP2がオンするが、トランジスタQ
N2の能力はトランジスタQPI、QP2に比べると格
段に劣るので、節点N2の電位は上昇するもののO乃至
IVtpl=Vtnの範囲に留まり、トランジスタQN
3はオフ状態にある。その結果、節点N3は電源レベル
と共に上昇し、制御信号P。
点N1は接地レベルからIVtplに向かって上昇する
が、トランジスタQP2は依然オフ状態を維持するので
節点N2は低レベルのままである。やがて、電源レベル
が21Vtpl乃至3+vtp+の間を上昇するときに
は、トランジスタQP2がオンするが、トランジスタQ
N2の能力はトランジスタQPI、QP2に比べると格
段に劣るので、節点N2の電位は上昇するもののO乃至
IVtpl=Vtnの範囲に留まり、トランジスタQN
3はオフ状態にある。その結果、節点N3は電源レベル
と共に上昇し、制御信号P。
Nは高レベルを維持している。
次に、電源レベルが31Vtplを超えると、節点N2
の電位はIVtpl=Vtnを超え、トランジスタQN
3はオンする。トランジスタQP3の能力はトランジス
タQN3の能力に比べると極端に低いので、節点N3は
ほぼ接地レベルの低レベルになる。外部クロックφが低
レベルを維持している限り、NOR回路Notの他方の
人力にはインバータI7から高レベルが供給されている
ので、NOR回路NOIは低レベルを出力し、制御信号
PONは高レベルを維持する。従って、出力データバッ
ファ等は不活性状態、換言すると電流経路の遮断された
状態となる。
の電位はIVtpl=Vtnを超え、トランジスタQN
3はオンする。トランジスタQP3の能力はトランジス
タQN3の能力に比べると極端に低いので、節点N3は
ほぼ接地レベルの低レベルになる。外部クロックφが低
レベルを維持している限り、NOR回路Notの他方の
人力にはインバータI7から高レベルが供給されている
ので、NOR回路NOIは低レベルを出力し、制御信号
PONは高レベルを維持する。従って、出力データバッ
ファ等は不活性状態、換言すると電流経路の遮断された
状態となる。
やがて、節点N5が低レベルに移行し、電源が安定する
と、通常のサイクルに移行する前に外部クロックφは必
ずリセットされ、高レベルから低レベルに移行する。外
部クロックφが高レベルに移行すると、節点N5は低レ
ベルになり、節点N11も低レベルになる。その結果、
NOR回路N01の両方の入力には低レベルが供給され
て高レベルの出力を発生させる。従って、制御信号PO
Nは低レベルに移行し、出力データバッフ7等は活性化
可能になる。このようにして制御信号PONか一旦、低
レベルに移行すると、この低レベルがラッチされ、電源
が切れるまで低レベルを維持する。また、トランジスタ
QNIは瞬断時に節点N2の電荷を素早く抜き、再び電
源が入ったときに同様の効果を得られるように設けられ
ている。
と、通常のサイクルに移行する前に外部クロックφは必
ずリセットされ、高レベルから低レベルに移行する。外
部クロックφが高レベルに移行すると、節点N5は低レ
ベルになり、節点N11も低レベルになる。その結果、
NOR回路N01の両方の入力には低レベルが供給され
て高レベルの出力を発生させる。従って、制御信号PO
Nは低レベルに移行し、出力データバッフ7等は活性化
可能になる。このようにして制御信号PONか一旦、低
レベルに移行すると、この低レベルがラッチされ、電源
が切れるまで低レベルを維持する。また、トランジスタ
QNIは瞬断時に節点N2の電荷を素早く抜き、再び電
源が入ったときに同様の効果を得られるように設けられ
ている。
上記トランジスタQN1.QN2.QN3.QPI、Q
P2.QP3とインバータ■1、I2とは全体として第
1回路100を構成しており、インバータI3は制御信
号形成回路を構成している。
P2.QP3とインバータ■1、I2とは全体として第
1回路100を構成しており、インバータI3は制御信
号形成回路を構成している。
また、インバータ■4乃至I7とNAND回路NA1と
NOR回路NOIとは論理回路101を構成している。
NOR回路NOIとは論理回路101を構成している。
[発明の効果コ
以上説明してきたように、本発明では電源投入時に外部
クロックが活性状態であっても内部回路の電流経路は強
制的に遮断され、電流の消費が抑制されるという効果が
得られる。
クロックが活性状態であっても内部回路の電流経路は強
制的に遮断され、電流の消費が抑制されるという効果が
得られる。
第1図は本発明の一実施例を示す電気回路図、第2図は
一実施例の主要接点における電圧の変化を示すグラフ、 第3図は外部クロックの電位変化を示すグラフ、第4図
は従来例の構成を示す電気回路図、第5図は従来例の主
要接点における電圧の変化を示すグラフである。 100・・・・・・・・第1回路、 101・・・・・・・・論理回路、 QPI乃至 QP3・・・・・PチャンネルMOS トランジスタ、 QNI乃至QN3・・・NチャンネルMOSトランジス
タ、 11、I2、 ■4乃至■7・・・インバータ、 ■3・・・・・・・・・インバータ(制御信号形成回路
) NOI・・・・φ・・・NOR回路、 NAI・・・・・・・・N A N D回路。
一実施例の主要接点における電圧の変化を示すグラフ、 第3図は外部クロックの電位変化を示すグラフ、第4図
は従来例の構成を示す電気回路図、第5図は従来例の主
要接点における電圧の変化を示すグラフである。 100・・・・・・・・第1回路、 101・・・・・・・・論理回路、 QPI乃至 QP3・・・・・PチャンネルMOS トランジスタ、 QNI乃至QN3・・・NチャンネルMOSトランジス
タ、 11、I2、 ■4乃至■7・・・インバータ、 ■3・・・・・・・・・インバータ(制御信号形成回路
) NOI・・・・φ・・・NOR回路、 NAI・・・・・・・・N A N D回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 外部クロックに基づき機能し、2つの互いに異なる電位
間に電流経路を形成可能な内部回路と、電源投入後電源
電圧が一定レベルになると出力を第1レベルから第2レ
ベルに移行させ、更に所定レベルになると再び出力を第
2レベルから第1レベルに移行させる第1回路と、 該第1回路の出力に基づき制御信号を形成する制御信号
形成回路と、 上記制御信号が第1レベルなら内部回路の電流経路を形
成可能にし、一方、制御信号が第2レベルなら上記電流
経路を強制的に遮断するスイッチ手段とを備えた半導体
集積回路において、 上記制御信号が第2レベルの間に上記外部クロックが活
性状態になると第1回路の出力が第2レベルから第1レ
ベルに移行した後も外部クロックが不活性状態になるま
で制御信号形成回路に第2レベルの制御信号を発生させ
る論理回路をさらに設けたことを特徴とする半導体集積
回路。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62074901A JP2508697B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 半導体集積回路 |
EP88104871A EP0285033A3 (en) | 1987-03-27 | 1988-03-25 | Prohibition circuit upon power-on event |
US07/172,750 US4886984A (en) | 1987-03-27 | 1988-03-28 | Prohibition circuit upon power-on event |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62074901A JP2508697B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63240609A true JPS63240609A (ja) | 1988-10-06 |
JP2508697B2 JP2508697B2 (ja) | 1996-06-19 |
Family
ID=13560753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62074901A Expired - Lifetime JP2508697B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 半導体集積回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4886984A (ja) |
EP (1) | EP0285033A3 (ja) |
JP (1) | JP2508697B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4847532B2 (ja) * | 2005-09-13 | 2011-12-28 | 株式会社ハイニックスセミコンダクター | リセット機能を有する半導体メモリ |
Families Citing this family (27)
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