JPS63234472A - 磁気デイスクの接触摩耗検査システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気ディスクの接触摩耗検査に使用する検
査システムに関するものである。

［従来の技術］ コンピュータシステムの記憶用に使用される磁気ディス
ク装置は、磁気媒体のＶ＆細化と磁気ヘッドの性能の向
上によりますます高密度、高性能化されており、製造段
階においては磁気ディスクの単体をはじめ、装置に装着
した状態で各種の試験、検査がなされている。これらの
検査のうちに、磁気膜の摩耗による記録特性の変化を測
定するものがある。磁気ディスクは本来、定格速度で回
転中には、磁気ヘッドがディスク表面から浮上するもの
であるが、回転スタート時およびストップ時その池速度
の変動時などにおいて表面に接触することがあり、もし
この接触により磁気膜が摩耗または損傷するときは、デ
ータの記録が完全に行われず、記録データの破壊の原因
となるので大きい問題である。このような摩耗を防ぐた
めに、磁気膜は堅牢に処理されているが、しかし製造ロ
ーｌトによっては磁気膜のＮ貫、塗布作業などにより、
１ｉ！度に不適格な場合がありうる。そこで、ロットか
ら適当な数の磁気ディスクをランダムに抜き取り。

表面にへ・ラドをいわば強制的に接触させて、磁気膜の
変ｆヒを測定することが行われる。以下この接触摩耗検
査の方法を図により説明する。

第２図（ａ）、（ｂ）は接触摩耗検査に従来使用されて
いる機構の概要を示すもので、図（ａ）において、磁気
ディスク１はスピンドル２に装着されスピンドルモータ
３により回転される。これに対してパルスモータ４によ
り回転、移動するボールねと機構５を設け、その移動子
５ａがレール６に沿って移動し、これに取り付けられた
磁気ヘッド７が磁気ディスク１の半径方向く矢印Ｒ）に
移動する。

磁気ディスク１の表面には、記録用のトラ・ツクが多数
設定されており、接触摩耗検査に際してまず。

磁気へラド７により全トラックＴＯ〜ＴＲにテストコー
ドによる書き込みが行われ、−これを読み出したデータ
は別途のメモリに記憶される０次に。

適当なく例えば中央部の）トラックＴＰ−ＴＱの範囲内
に磁気ヘッド７を固定して、磁気ディスクの回転のスタ
ートとストップを繰り返す。磁気へラド７は、ディスク
が定格速度で回転しているときは図（ｂ）に示すように
、ヘッド素子７ａを保持するスライダーの表面７ｂがエ
アの牛用によりディスク表面よりΔｈだけ浮上している
が、スタートより一定速度に達する間、および一定速度
より減速してストップする間は表面７ｂが接触しており
、これが多数回行われるときは、磁気膜に摩耗または損
傷が生ずる。一定の回数のスタート／ストップが繰り返
された後、この部分を含む前後のトラックのテストデー
タの読み出しを行い、先のデータと比較して、特性の変
化く減磁率）が求められる。この場合、磁気膜の摩耗と
ともに、へ・ラド素子７ａの先端にも摩耗が生じて感度
特性の変化が起こり、たとえ磁気膜に異常がない場合で
も。

前後の読み出しデータは異なるのが通常である。

そこで、上記のトラ・ツクＴＰとＴＱとはスライダーの
表面７ｂが接触しないものとして、これらに例えば２Ｆ
などの特定のコードを記録しておき、前後におけるそれ
らのレベルをアナログ的に比較して、較正することが行
われる。

さて、通常行われているスタート／スト−Ｉブの繰り返
し回数は１万回またはそれ以上の多数とされており、１
回に１０秒以上を要するので所要時間は、昼夜連続して
行う場合でも最低３日の長きに達する。このように長時
間を要するので、たとえサンプリング方式によるとして
も、１台の検査装置では全く手に負えず、従来は第３図
に示すように、多数のドライバを並列に使用する方法が
行われている０図において、システムコントロールおよ
び測定部８はＣＰＵ　（中央処理装置）により構成され
、これに複数ｎ個のドライバ９−１．９−２．９−３・
・・が並列接続される。各ドライバ９としては、実用機
またはこの検査に専用に製作されたものを充当するが、
それらは第２図で示した磁気ヘッド７はもちろん、これ
を移動するためのパルスモータ４、ボールねじ機構５を
はじめ、スピンドル機構と、さらにこれらを駆動制御す
るためのマイクロプロセッサをそれぞれ具備したもので
、要するに実用の磁気ディスクドライバまたはそれと同
一の機構、性能のものである。しかしながら、上記した
ごとき多量のテストを行う場合、多数のディスクドライ
バを必要とする従来の方式は全く不経済であることは明
らかである２そこで、上記の方式に対してできる限り簡
略した検査システムが望まれる次第である。

［発明の目的］ この発明は以上の実情に鑑み、ドライバの機構を必要最
小限に簡略した磁気ディスクの接触摩耗検査システムを
提供することを目的とするものである。

［問題点を解決するための手段］ この発明は、磁気ディスクの回転のスタートおよびスト
・ツブを繰り返して磁気ディスクの表面に磁気ヘッドの
接触および浮上を継続して多数回行い、接触により磁性
膜に生ずる記録性能の変化を検査する接触摩耗検査シス
テムであって、共通部には、システムコントロール、ド
ライバコ〉・トロールおよび磁気ディスクに対して書き
込み、・′読み出しされるテストデータの処理を行うｉ
ｑｍ処理装置と、測定ステーションベースに、・パルス
モータの駆動により磁気ディスクを移動するボールねじ
機構とをそれぞれ設ける。また、テストデツキは複数個
設け、各テストデ・ツキには、測定ステーションベース
に着脱自由に搭載できるドライバベースに、磁気ディス
クを装着して回転するスピンドル機構と、磁気ヘッドを
有し、測定ステーションベースのボールねじＲ構の移動
子に自由に分離または結合してレール機構上を移動する
キャリッジと、スピンドル機構の回転のスタート／スト
ップを制御する回転制御器とをそれぞれ設けて構成され
たものである。

上記において、測定ステーションベースにドライバベー
スを着脱自由に固定するための第１のクランプと、移動
子とキャリ・ソジとを結合して固定するための第２のク
ランプと、さらに移動子と分層したキャリッジをレール
機構に固定するための第３のクランプとをそれぞれ設け
たものである。

［作用］ この発明による磁気ディスクの接触摩耗検査システムに
おいては、複数のテストデツキを並列に作動させ、それ
ぞれ磁気ディスクの回転のスタート／ストップを行って
表面に対する磁気ヘッドの接触動作を繰り返す。このテ
ストデツキには最小限必要な機構として、スピンドル機
構とそのスタート／ストップを制御する回転制御器およ
び磁気ヘッドを固定するクランプを設けである。すなわ
ち、検査のために強制的に行う接触動作は一定のトラッ
クのみについて行うものであるからである。

これに対して、テストコードの書き込み／読み出しは全
トラック＝について行う必要があるので、これを行うと
きテストデツキを共通測定ステーションベースに搭載し
て、そのボールねじ機構の移動子にテストデ・ツキのキ
ャリッジを結合して制御処理装置により磁気ヘッドの移
動と、テストデータの書き込み／読み出し、およびそれ
らのデータ処理を行う、この場合、テストデツキはその
ドライバベースが測定ステーションベースにクランプさ
れ、また磁気ヘッドが相当するトラックに位置するよう
に、キャリ・ソジがレール機構にクランプされるもので
ある。

［実施例コ 当初に説明したように、接触摩耗検査においては、磁気
へ・ラドを繰り返して接触させるための時間が非常に長
い、しかし、このときは接触させるトラ・ツクは特定の
位置・にあるものを対象とするので、磁気ヘッドの移動
を必要としない。一方、テストデータの書き込み／読み
出しには移動が必要である。ここで、書き込み／読み出
しおよびデータ処理に要する時間は高々数分以内である
。そこで、システムのコン、トロール、書き込み／読み
出しの際のドライバのコントロールおよびデータ処理部
を共通とするとともに、磁気ヘッドの移動のためのボー
ルねじ機構をも１組で共通に使用することができる。こ
れに対して、ドライバには磁気ディスクの回転用のスピ
ンドル機構と、これを単に一定時間間隔でスタート／ス
ト・ソアする回転制御器を設け、従来のボールねじ機構
およびマイクロプロセッサを省略するものである。

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による磁気ディ
スクの接触摩耗検査システムの実施例における構成図で
ある。図（ａ）において、共通部１０には制御処理装置
１１を設ける。制御処理装置１１はシステム全体のコン
トロールと５、磁気ディスクに対してテストコードを書
き込み／読み出しのコントロールおよび読み出されたデ
ータにより、磁気膜の摩耗による減磁率の変化を測定す
る処理機能のプログラムを有するものであり、従来の接
触摩耗検査装置に使用されたものと同様であるので、そ
の詳細説明は省略する。

共通部ＩＯには、測定ステーションベースＩ２にパルス
モータ４と、これに結合され移動子５ａを有するボール
ねじ機構５を設ける。制御処理装置１１と磁気ヘッド７
の間にレベル調整用のＲ／Ｗアンプ１３を設ける。なお
、このＲ／Ｗアンプは、従来では各ドライバ９に設けら
れているものである。

次に、テストデ・・ツキ１４には磁気ディスクｌを装着
するスピンドル２と、これを回転するスピンドルモータ
３をドライバベース１５に固定する。スピンドルモータ
３の回転のスタート／ストップを一定時間間隔で繰り返
して行い、繰り返し回数３カウントできるＯ　Ｎ１０　
Ｆ　Ｆコントローラ１７を設ける。また、前記の移動子
５ａに任意に分離、または結合できるキャリ・ソジ！６
を、ドライバベース１５に固定されたレールａ１楕６に
載置する０分離の場合はキャリッジ１６はレール機１１
１６にクランプ１６ｂにより固定され、また結合の場合
はこれをフリーとし、キャリッジＩ６と移動子５ａとが
クランプ！６ａにより結合される。また、テストデツキ
Ｉ４を測定ステーションベース１２に搭載するときは、
測定ステーションベースのクランプ２０により、ドライ
バベース１５を固定する。なお、コネクタ１８と１９は
、それぞれスピンドルモータ３を制御処理装置１１によ
りコントロールするときの信号線およびテストコードの
信号線を接続するものである。

第１図（ｂ）は以上の各部によるシステム構成を示すも
ので、１組の共通部１０に対して複数ｎｉｌのテストデ
ツキ＋４−１．１４−２．・・−・・・１４−ｎが対応
する。システムの運用について述べると、各テストデツ
キ１４は、逐次、共通部１０に搭載されてテストコード
の書き込み／読み出しが行われた後取り外され。

それぞれ独立に磁気ディスク１の回転のスタート／スト
ップが繰り返され、所定の回数に達すると再び共通部ｌ
Ｏに搭載されてテストコードが読み出され、前回データ
との比較処理がなされる。データ処理の所要暗闇は短い
ので、各テストデ・・ツキの動作回数を監視し、所定の
回数に達したものについて行うものである。　　７ ［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスクの接触摩耗検査システムにおいては、テストデ
ツキには磁気へ・ラドをディスクの表面に接触、浮上す
るために必要な機構のみを設けることにより、従来と同
様の検査効率を維持する。これにより、従来では長時間
不用で、かつ比較的高価なボールねし機構、マイクロプ
ロセ・ソサなどが省略されて経済的な検査システムを構
成できる効果には大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による磁気ディ
スクの接触摩耗検査装置の実施例における構造とシステ
ム構成を示す図、第２図（ａ）および（ｂ）は磁気ディ
スクの接触摩耗検査の方法を説明するための構造図、第
３図は従来における接触摩耗検査装置の構成図である。 １・・−磁気ディスク、　　　２・・−スピンドル。 ３・・・スピンドルモータ、４・・−パルスモーク。 ５・・・ボールねじ機構、５’ａ・・−ボールねじの移
動子。 ６・・−レール機構、　　　７・・・磁気ヘッド、７ａ
・・−ヘッド素子、　　　７ｂ−・・スライダー表面、
８・−・システムコントロールおよび測定部、９・・−
ドライバ、　　　　　Ｉ０・・・共通部、１１・・・制
御処理装置、１２−・・測定ステーションベース。 １３・・・Ｒ／Ｗアンプ、　　Ｉ４・・・テストデ・ツ
キ、１５・・・ドライバベース、　１６・・・キャリッ
ジ、１６ａ、１６ｂ、２０−・−クラン７．１７・−Ｏ
Ｎ１０　Ｆ　Ｆコントローラ、１８．１９・・−コネク
タ。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）、磁気ディスクの回転のスタートおよびストップ
   を繰り返して該磁気ディスクの表面に磁気ヘッドの接触
   および浮上を継続して多数回行い、該接触による該磁気
   ディスクの磁性膜に生ずる記録性能の変化を検査する接
   触摩耗検査において、システムコントロール、ドライバ
   コントロールおよび上記磁気ディスクに対してテストデ
   ータの書き込み／読み出し、ならびにテストデータの処
   理を行う制御処理装置と、測定ステーションベースに、
   パルスモータの駆動により磁気ヘッドを移動するボール
   ねじ機構とをそれぞれ設けた共通部と、上記測定ステー
   ションベースに着脱自由に搭載できるドライバベースに
   、磁気ディスクを装着して回転するスピンドル機構と、
   上記磁気ヘッドを有し、上記ボールねじ機構の移動子に
   自由に分離または結合してレール機構上を移動するキャ
   リッジと、上記スピンドル機構の回転のスタート／スト
   ップを制御する回転制御器とをそれぞれ設けた複数のテ
   ストデッキとにより構成されたことを特徴とする、磁気
   ディスクの接触摩耗検査システム。
2. （２）、上記ドライバベースを上記測定ステーションベ
   ースに着脱自由に固定する第１のクランプと、上記移動
   子とキャリッジとを結合して固定する第２のクランプと
   、上記移動子より分離した上記キャリッジを上記レール
   機構に固定する第３のクランプとをそれぞれ設けた、特
   許請求の範囲第１項記載の磁気ディスクの接触摩耗検査
   システム。