JPS63154934A - モ−ドフイ−ルド径測定方法 - Google Patents

モ−ドフイ−ルド径測定方法

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JPS63154934A
JPS63154934A JP30348786A JP30348786A JPS63154934A JP S63154934 A JPS63154934 A JP S63154934A JP 30348786 A JP30348786 A JP 30348786A JP 30348786 A JP30348786 A JP 30348786A JP S63154934 A JPS63154934 A JP S63154934A
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JP
Japan
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camera
light intensity
intensity distribution
luminous intensity
mode field
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Pending
Application number
JP30348786A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuo Kuwaki
伸夫 桑木
Masaharu Ohashi
正治 大橋
Sunao Uesugi
上杉 直
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication of JPS63154934A publication Critical patent/JPS63154934A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の産業上利用分野〕 本発明は、モードフィールド径測定方法、さらに詳細に
は単一モード光ファイバの重要な評価パラメータのひと
つであるモードフィールド径を高確度で得ることをねら
いとして、光強度分布を精度よく測定し、その結果によ
りモードフィールド径を求める方法に関するものである
〔発明の従来技術〕
第1図はファイバ端面における光強度分布の実1111
例であり、図中、相対光分布は下記の式で表される。
(相対強度) =101og  (光強度/光強度の最
大値) dB一般に、波長1.3および1.5μm帯の
ファイバ端面における光強度分布の測定には、赤外ビジ
コン等のカメラが用いられるため、前記第1図に示すよ
うに、光強度が小さい部分は雑音にマスクされてしまう
。すなわち、第1図の一点鎖線が測定限界となる。
従来の方法では、この雑音の影響を除くために第2図に
示すようにグイナミノクレンジ外の光強度を零(−oo
d13)と近似して、雑音成分の影響を取り除いていた
ため、グイナミノクレンジを大きくとれない系において
は測定誤差が大きいという欠点があった。第3図に波長
1.3および1.55μmでの従来方法によるモードフ
ィールド径2Wと、カメラのダイナミックレンジの関係
を示す。ファイバサンプルは、ステップ形屈折率分布を
有する比屈折率差Δ=0.27%、実効カットオフ波長
λce=1.13μmの1.3μmμm準標準ファイバ
り、波長1.3及び1.55μmにおける値を示してい
る。モードフィールド径の定義式は次式を用いた。
ただし、φ2:光強度分布、r:径方向距離モードフィ
ールド径の計算においては、所要のダイナミックレンジ
となる径方向距離rまで式(1)の積分を行い(つまり
、ダイナミックレンジ外の光強度を零として、(1)式
の積分を行う;従来方法に等しい)、2Wを決定した。
なお、白丸及び黒丸は実測値を示し、実線及び破線は計
算値を示している。この第3図から、実測値と計算値は
良く一致していることがわかる。さらに、従来方法では
、ダイナミックレンジの減少とともに、(11式の積分
誤差が増大するため、モードフィールド径の値が大きく
なり、r= oo (ダイナミックレンジを■とするこ
とに等しい)まで積分を行った場合に得られる真値から
の誤差が大きくなることがわかる。また計算の結果、モ
ードフィールド径の真値からの誤差(原理誤差)を1%
以内とするためには、カメラのダイナミックレンジが2
5d 8以上必要であることがわかった。
〔発明の解決すべき問題点〕
しかしながら、一般に、赤外ビジコンカメラのダイナミ
ックレンジは20dB程度である。第3図からダイナミ
ックレンジ20dBにおける計算値による測定誤差は約
2〜3%であり、従来方法で確度良くモードフィールド
径を測定することは困難であることがわかる。
本発明の目的は、従来方法の欠点であるカメラのダイナ
ミックレンジによるモードフィールド径測定誤差の増大
を解決した、単一モード光ファイバのモードフィールド
径測定方法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、単一モード光ファイバのクラッド部光強度分
布の対数値を径方向距離に対して、直線近似することに
よって、カメラの最小受光レベル以下の光強度分布を再
生し、カメラのダイナミックレンジに起因するモードフ
ィールド径測定誤差を減少させることを最も主要な特徴
とする。
従来の方法とは、カメラの最小受光レベル以下の光強度
分布を零とせず、光強度の対数値を径方向距離に対して
直線で近似する点が異なる。
〔実施例〕
第4図に本発明の構成例を示す。1は光源、2は被測定
ファイバ、3はレンズ、4は赤外ビジコンカメラ、5は
計算機である。測定を行う場合、レンズを調整し−でフ
ァイバ端面上の光強度分布をカメラに写しだし、計算機
内に光強度分布のデータを転送する。また、このとき光
源を調整して、光強度の最大値を赤外ビジコンカメラの
最大入力レベルに一致させ、カメラのダイナミックレン
ジを最大とする。
第5図は、光強度測定結果の一例である。Pm1nはカ
メラの最小レベルである。光強度分布は、図上に示すよ
うにクラッド部分では、はぼ直線となるが、最小受光レ
ベル外となる。r>r 16において、光強度測定値の
誤差が増大する。しかしながら、実用的な確度(誤差1
%以内)でモードフィールド径を計算するためには、0
〜r1の範囲(光強度−25dBに相当する)まで積分
を行う必要があるが、r4<rlのため、このままでは
、積分が行えない。そこで、Pm1n + ex 〜P
m1n (dB)の範凹円の光強度分布を用いて、r 
>r −における光強度分布を最小二乗近似することに
よって、0〜r1までの光強度分布を再生し、(1)式
の積分を行うことによってモードフィールド径を決定す
る。このαは、測定点を充分に確保できる範囲であれば
、いかなる範囲でもよい。例えば5 dB程度であるの
が好ましい。
第6図に本発明の実施例を示す。ファイバサンプルは、
Δ=0.27%、実効カットオフ波長1.13μmであ
る。白丸及び黒丸は、ファイバ端面におけるクラッド部
光強度の実測値を示し、実測点はファイバ中心から一方
の径方向で512点とっているが、その一部を示してい
る。測定に用いたビジコンカメラのダイナミックレンジ
は約20dBである。また、実線は光強度分布の理論値
を示し、破線は光強度が−15〜−20dB (α=5
 dB)の範囲において最小二乗近似を行った光強度近
似結果である。なお、データ数は15である。図から、
実測値と理論値は良く一致しており、クラッド部におい
て光強度が直線的に減少すること及び近似直線と理論値
はほぼ一致していることがわかる。また、これらの値を
用いてモードフィールド径の計算を行った結果、近似直
線を用いて一25dBまで積分を行った場合、理論値か
らの誤差は波長1.3μmにおいて、0.8%であり、
近似直線を用いず一20dBまで積分した場合の誤差は
2.1%であることがわかった。
よって、本発明による方法がモードフィールド径測定の
確度をあげるうえで有効であることがわかる。
第7図に本発明における効果の計算結果を示す。
最小二乗法で近似する範囲は5dBとしくダ・Cナミフ
クレンジ10dBの場合、光強度が−5〜−10dBの
間の点について最小二乗近似を行い直線決定する。
)、サンプルファイバは第6図と同じものを用いた。従
来方法では、測定誤差を1%以内とするためには、25
dB以上のカメラのダイナミックレンジを必要としたが
、本発明では11dBのダイナミックレンジを有するカ
メラでも1%以内の測定誤差を実現できることがわかる
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は約10dB程度のダイナ
ミックレンジがあれば、モードフィールド径の測定が可
能であるから、従来方法では使用できなかった10〜2
0dBのダイナミックレンジしか有しないカメラで、モ
ードフィールド径を正確に評価できる利点がある。
この結果、測定装置を従来より安価に構成することが可
能である。さらに、光強度分布の測定範囲を従来方法よ
り縮少することが可能であることから、演算処理を含め
た測定時間の短縮化が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、ファイバ端面における光強度分布の実測例で
、相対光強度は次式で示される。 (相対光強度) =10 log (光強度/光強度の
最大値)  (dB)、 第2図は、ファイバ端面における光強度分布を示してお
り、破線は実際の分布、実線は従来法による近似を示し
ている。 第3図は、従来法によるダイナミックレンジとモードフ
ィールド径の関係であり、直線及び破線は計算値、白丸
及び黒丸は実測値である。また、ファイバサンプルは、
Δ=0.27%、λCe=1.13μmの1.3 μm
用ファイバである。 第4図は、本発明の一構成図であり、1は光源、2は被
測定ファイバ、3はレンズ、4は赤外ビジコンカメラ、
5は計算機である。 第5図は、光強度分布の測定例である。実線は光強度分
布の測定結果、破線は実際の分布である。 また、Pm1nはカメラの最小受光レベルである。 第6図は、本発明の一実施例である。白丸及び黒丸は光
強度分布の実測値を示している。直線、破線はそれぞれ
理論値及び光強度が−15〜−20dBの範囲で最小二
乗近似した光強度の近似直線であり、前記ファイバサン
プルは第3図と同じものである。 第7図は、本発明の効果を示した図であり、図中測定誤
差はモードフィールド径の厳密間と本発明による近似解
の絶対値を厳密解で割ったものである。光強度の近似範
囲は(5−ダイナミックレンジ)から(ダイナミックレ
ンジ)とし、ファイバサンプルは第3図と同じものであ
る。 出願人代理人  雨 宮  正 事 業3図 ダイアセック レンジ゛’(dB) 才目プーセオ:′!!! 井F    tdRノ第4図 第5図 ドーエア−−←−り2ツド゛ □ 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)赤外ビジコンカメラを使用した単一モード光ファ
    イバの端面上の光強度分布測定において、カメラの最小
    受光レベルとこれより若干大きいレベルとの間の領域の
    光強度対数値を用いて、ファイバ径方向に対して光強度
    分布を直線近似して、カメラの最小受光レベル以下の光
    強度分布を再生することを特徴とするモードフィールド
    径測定方法。
JP30348786A 1986-12-19 1986-12-19 モ−ドフイ−ルド径測定方法 Pending JPS63154934A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100459998B1 (ko) * 2002-12-05 2004-12-04 전자부품연구원 광 도파로의 손실 및 모드패턴 측정시스템
FR2945637A1 (fr) * 2009-05-18 2010-11-19 Univ Rennes Procede et systeme d'observation de modes transverses d'un guide optique.
JP2020532742A (ja) * 2017-09-05 2020-11-12 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company 非接触式ツールセッティング装置のビームプロファイルを評価するための装置および方法

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WO2010133488A1 (fr) * 2009-05-18 2010-11-25 Universite De Rennes 1 Procédé et système d'observation de modes transverses d'un guide optique
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