JPS63145093A - Ic module - Google Patents

Ic module

Info

Publication number
JPS63145093A
JPS63145093A JP61291621A JP29162186A JPS63145093A JP S63145093 A JPS63145093 A JP S63145093A JP 61291621 A JP61291621 A JP 61291621A JP 29162186 A JP29162186 A JP 29162186A JP S63145093 A JPS63145093 A JP S63145093A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
module
bonding
lead
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61291621A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
博司 山本
竜太郎 荒川
玉田 要
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Maxell Ltd filed Critical Hitachi Maxell Ltd
Priority to JP61291621A priority Critical patent/JPS63145093A/en
Publication of JPS63145093A publication Critical patent/JPS63145093A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ICモジュールに係り、さらに詳しくはIC
カード等に用いるための薄型実装に好適なICモジュー
ルに関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an IC module, and more specifically, to an IC module.
The present invention relates to an IC module suitable for thin mounting for use in cards and the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ICカード等に実装する薄型ICモジュールは次の様な
構造になっている。
A thin IC module mounted on an IC card or the like has the following structure.

第7図は従来技術による薄型ICモジュールの構造を説
明する断面図であって、1はICチップ、2はICチッ
プのパッド、3はポンディングワイヤ、4は配線基板の
接合端子、5は配線基板、5′は接触端子基板、5”は
枠、6は外部接触端子、7はグイボンディングのペース
ト、8は封止レジンである。
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating the structure of a thin IC module according to the prior art, in which 1 is an IC chip, 2 is a pad of the IC chip, 3 is a bonding wire, 4 is a bonding terminal of a wiring board, and 5 is a wiring. A substrate, 5' is a contact terminal board, 5'' is a frame, 6 is an external contact terminal, 7 is a glue bonding paste, and 8 is a sealing resin.

同図において、このICモジュールは、凹かん部を有す
るプラスチック配線基板5の該凹かん部にICチップ1
をエポキシ等のペースト7でグイボンディングして固定
し、ICチップ1の電極であるパッド2と配線基板5の
接合端子4とを金線等のボンディングワイヤ3でボンデ
ィングしてから、レジン8を充てんして封止している。
In the figure, this IC module has an IC chip mounted on a recessed part of a plastic wiring board 5 having a recessed part.
are firmly bonded and fixed with a paste 7 such as epoxy, and the pad 2 which is the electrode of the IC chip 1 and the bonding terminal 4 of the wiring board 5 are bonded with a bonding wire 3 such as a gold wire, and then the resin 8 is filled. and sealed.

このレジン8は配線基板5の凹かん部と接触端子基板5
゛及び枠5”で形成される空間に充てんされ、該ICチ
ップ1.ボンデイングワイヤ3を埋設し、これらを被覆
保護する機能を有している。
This resin 8 is applied to the concave portion of the wiring board 5 and the contact terminal board 5.
It fills the space formed by the frame 5'' and the IC chip 1, and has the function of burying the IC chip 1 and the bonding wire 3 and covering and protecting them.

上記のように構成したICモジュールは、図示しないI
Cカード基板に埋め込まれ、さらにオーバーレー等の被
覆処理がなされて所謂ICカード、となる。このとき、
接触端子6上には上記被覆が施されず、ICカード表面
に露呈され、カードリーダ・ライタにセットされたとき
に、8亥カードリーグ・ライタ側に設けられる端子と接
触して信号の授受を行う。
The IC module configured as described above is an IC module (not shown).
It is embedded in a C card substrate and is further coated with an overlay or the like to become a so-called IC card. At this time,
The contact terminal 6 is not coated with the above coating and is exposed on the surface of the IC card, and when it is set in a card reader/writer, it contacts the terminal provided on the card reader/writer side and sends and receives signals. conduct.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記従来技術においては、ICチップと配線基板との接
続をボンディングワイヤを用いているため、該ワイヤに
比較的高いループが形成される。
In the above-mentioned conventional technology, since a bonding wire is used to connect the IC chip and the wiring board, a relatively high loop is formed in the wire.

このループの高さは、前記第7図に示したように、IC
モジュール全体の厚みに対してかなり大きな寸法を占め
るものであり、該ループを十分に被覆するようにレジン
を注入すると、レジンの厚みが該ループ側においてIC
モジュールのほぼ表面に達するものとなる。具体的には
、ICカードの厚みを標準寸法である0、76mmとす
れば、これに用いるICモジュールの外部接触端子を含
めた全体の厚みは、オーバーレーの被覆を考慮して0.
65w以下に抑える必要がある。従って、ICチップの
厚みを約0.25+nとし、そのボンディング用パッド
の厚みを0.15〜0,20とすれば、前記ボンディン
グワイヤのループの高さが0.2u近くの寸法となるた
め、前記レジンのICチップからICモジュール表面迄
の厚みは0゜2龍を僅かに上まわる程度となって、IC
チップの保護層は該レジンのみとせざるを得ず、ICチ
ップの保護のためにさらに補強板等を設ける余裕がなく
なってしまう。
The height of this loop is as shown in FIG.
It occupies a fairly large dimension with respect to the overall thickness of the module, and when resin is injected to sufficiently cover the loop, the thickness of the resin increases to the extent that the IC on the loop side
It reaches almost the surface of the module. Specifically, if the standard thickness of an IC card is 0.76 mm, then the overall thickness of the IC module used for this card, including the external contact terminals, will be 0.76 mm, taking into account the overlay coating.
It is necessary to keep it below 65w. Therefore, if the thickness of the IC chip is approximately 0.25+n and the thickness of the bonding pad is 0.15 to 0.20, the height of the bonding wire loop will be approximately 0.2u. The thickness of the resin from the IC chip to the IC module surface is slightly over 0°2.
The protective layer for the chip must be made only of the resin, and there is no room for further installation of a reinforcing plate or the like to protect the IC chip.

このため、ICカードに埋設したICモジュールの前記
ICチップ及びそのボンディングワイヤの接合部は、外
力に対して脆いものとなり、ICチップの破壊やボンデ
ィングワイヤ接合部の断線等の事故が発生する恐れがあ
る。
For this reason, the IC chip of the IC module embedded in the IC card and its bonding wire joint are fragile to external forces, and there is a risk of accidents such as destruction of the IC chip or disconnection of the bonding wire joint. be.

本発明は、上記従来技術による薄型ICモジュールが外
力に対して保護能力が不充分であるという欠点を解決し
、耐外力性能を向上させる優れた構造を有するICモジ
ュールを提供することを目的とする。
An object of the present invention is to solve the drawback that the thin IC module according to the prior art has insufficient protection ability against external forces, and to provide an IC module having an excellent structure that improves external force resistance. .

〔問題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的は、ICチップと配線基板との接合にTAB法
(テープオートメ−ティドボンディング法)で形成した
リードを用いると共に、配線基板に形成した凹かん部の
上面を覆いかつ製作するICモジュールの平面のほぼ全
域をカバーするセラミック又は金属等から成る藩平板の
補強材により前記凹かん部を封止してICチップとその
接合端子部分を外力の影響から隔離する構成としたこと
によって達成される。
The above purpose is to use leads formed by the TAB method (tape automated bonding method) to bond the IC chip and the wiring board, and to cover the top surface of the recessed part formed on the wiring board and to make the IC module manufactured. This is achieved by sealing the recessed portion with a reinforcing material made of a flat plate made of ceramic or metal that covers almost the entire area of the plane, thereby isolating the IC chip and its connecting terminal portion from the influence of external forces. .

〔作用〕[Effect]

ICカード等に搭載するICモジュールは小型かつ薄型
であることが要求される。ICチップ自体の厚みを減少
させることには限界があるので、ICモジュールの薄型
化を図るためには、配線基板との接合を厚みの増加に大
きな影響を与えないTAB法を用いる方法が好ましい。
IC modules mounted on IC cards and the like are required to be small and thin. Since there is a limit to reducing the thickness of the IC chip itself, in order to make the IC module thinner, it is preferable to use the TAB method, which does not significantly affect the increase in the thickness of the bond to the wiring board.

一方、ICチップ自体、あるいはICチップと配線基板
との接合部分は外力によって破壊、破断等のダメージを
受は易いものであり、ICチップと配線基板との接合に
単にTAB法を採用して、第7図で説明したと同様のレ
ジン封止を行っただけでは、ICチップ部分の厚みは減
少させることはできても、外力に対しては保護が充分で
ない。すなわち、第8図に示すように、配線基板5と外
部接触端子基板5゛ とで形成される凹部にTAB法に
よってICチップ1を搭載し、これに枠5”で規定した
D=   0.65mm以下となる厚みにレジン8を注
入固化してICモジュールを形成しても、このICモジ
ュールをカードに搭載して使用中に、例えば矢印Aに示
す外力がかかると、接合端子部分が破断したり、矢印B
に示す外力が加わるとICチップ1にクラックが生じる
等の不所望の事態が発生する恐れがある。
On the other hand, the IC chip itself or the joint between the IC chip and the wiring board is easily damaged by external force, such as breakage or breakage. Even if the thickness of the IC chip portion can be reduced by simply performing resin sealing similar to that explained in FIG. 7, protection against external forces is not sufficient. That is, as shown in FIG. 8, the IC chip 1 is mounted in the recess formed by the wiring board 5 and the external contact terminal board 5' by the TAB method, and the IC chip 1 is mounted on the recess defined by the frame 5'' with D = 0.65 mm. Even if an IC module is formed by injecting and solidifying the resin 8 to the following thickness, if an external force is applied, for example as shown by arrow A, while this IC module is mounted on a card and used, the bonding terminal portion may break. , arrow B
If the external force shown in Figure 1 is applied, there is a possibility that an undesirable situation such as cracking of the IC chip 1 may occur.

これに対して、本発明によるICモジュールの構造によ
れば、上記した様な事態を完全に回避することができる
On the other hand, according to the structure of the IC module according to the present invention, the above-mentioned situation can be completely avoided.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面を用いて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明によるICモジュールの一実施例を示す
断面図であって、1はICチップ、2′はICチップの
バンプ、3゛はリード、4は配線基板の接合端子、5は
配線基板、5°は接触端子基板、5”は枠、6は接触端
子、8゛はTAB法によるリード付けをしたICチップ
とリードを保護するためのレジンから成るチップコート
、9はポリイミドフィルムなどからなるTABリードの
サポータ、10はICチップを収納する閉空間、1)は
アルミナ等のセラミックあるいはステンレス鋼などの金
属から成る剛性の大きい0.2fl以下、好ましくは0
.05〜0.2mの薄平板である。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of an IC module according to the present invention, in which 1 is an IC chip, 2' is a bump of the IC chip, 3' is a lead, 4 is a bonding terminal of a wiring board, and 5 is a wiring. Board, 5° is a contact terminal board, 5" is a frame, 6 is a contact terminal, 8" is a chip coat made of an IC chip with leads attached by the TAB method and a resin to protect the leads, 9 is made of polyimide film, etc. 10 is a closed space for storing the IC chip; 1) is a rigid supporter made of ceramic such as alumina or metal such as stainless steel, preferably 0.2fl or less;
.. It is a thin flat plate with a thickness of 0.05 to 0.2 m.

同図において、ICチップ1はTAB法によってあらか
じめリード3゛をバンプ2′に接合された状態でTAB
リードのサポータ9と共にチップコート8°で保持され
ている(なお、このチップコートは必ずしも必要なもの
ではない)。このICチップ1は、配線基板5に設けた
凹かん部に収納され、該配線基板に形成した接合端子4
とリード3゛によりボンディングされる。前記凹かん部
の底部は外部接触端子6を形成した基板5“で構成され
、上部は枠5”で厚み方向を規制された位置に被覆され
る薄平板1)で封止されている。また、閉空間lOには
レジンを注入して固化させてICチップを該閉空間内で
固定してもよく、この場合、レジンとしてエポキシ樹脂
を用いて該薄平板の接着を同時に得るのが好適であるが
、これに替えて感光性レジンを用い、薄平板として強度
の充分な透明板を使用して、該レジンを紫外線等のエネ
ルギー線で硬化するようにしてもよい。
In the same figure, an IC chip 1 has leads 3' bonded to bumps 2' by the TAB method in advance.
Together with the lead supporter 9, the chip coat is held at 8° (note that this chip coat is not necessarily required). This IC chip 1 is housed in a recess provided in a wiring board 5, and bonding terminals 4 are formed on the wiring board.
and are bonded by lead 3. The bottom part of the recessed part is composed of a substrate 5'' on which external contact terminals 6 are formed, and the upper part is sealed with a thin flat plate 1) covered with a frame 5'' at a position regulated in the thickness direction. Further, the IC chip may be fixed in the closed space by injecting a resin into the closed space IO and solidifying it. In this case, it is preferable to use an epoxy resin as the resin to simultaneously obtain the adhesion of the thin flat plate. However, instead of this, a photosensitive resin may be used, a transparent plate with sufficient strength may be used as a thin flat plate, and the resin may be cured with energy rays such as ultraviolet rays.

また、上記閉空間を窒素等の不活性ガスで満たしても、
あるいは又適宜の液状冷却剤を充てんしたり、もしくは
何も満たさない状態としてもよいものである。
Furthermore, even if the closed space is filled with an inert gas such as nitrogen,
Alternatively, it may be filled with an appropriate liquid coolant or may be left empty.

なお、このICモジュールをカード素材に搭載してIC
カードとし、これをリーダ・ライタにセットしたときに
該リーグ・ライタに設けた接触端子と接触して信号の授
受を行う接触端子6は、配線基板5の接合端子4とは図
示しないスルーホールで接続されるものであり、該接触
端子6の基板5゛ は前記凹かん部の底部を形成すると
共に、ICモジュールの図示下面を強固に補強してIC
チップ1を保護する機能を有するように特に剛性の大き
い材料により形成するのが望ましい。また、同図中のT
ABリードのサポータ9は、複数本のり−)3゛を補強
保持するもので、TA’B法によるリード接続工程で形
成される。
In addition, this IC module can be mounted on a card material to create an IC.
When the card is set in a reader/writer, the contact terminal 6 that contacts the contact terminal provided on the reader/writer to transmit and receive signals is connected to the bonding terminal 4 of the wiring board 5 through a through hole (not shown). The substrate 5' of the contact terminal 6 forms the bottom of the recess, and also firmly reinforces the lower surface of the IC module as shown in the figure.
It is preferable to use a particularly rigid material so as to have the function of protecting the chip 1. Also, T in the same figure
The AB lead supporter 9 is for reinforcing and holding the plurality of glues 3', and is formed in a lead connecting process using the TA'B method.

以上説明した実施例によれば、ICチップ及び配線基板
との接合部分は外力に対して完全に隔鉗されるので、I
Cチップの破壊や接合部分のダメージを完全に回避する
ことができる。
According to the embodiment described above, the joint portion between the IC chip and the wiring board is completely isolated from external forces, so that
Destruction of the C-chip and damage to the joints can be completely avoided.

第2図は本発明の他の実施例を示す断面図であって、第
1図と同一符号は同一部分に対応する。
FIG. 2 is a sectional view showing another embodiment of the present invention, in which the same reference numerals as in FIG. 1 correspond to the same parts.

この実施例は、ICチップ1をフェースダウン(第1図
と上下面を逆にした位置)して配線基板5に形成した凹
かん部に収納したものであって、配線基板5の凹かん部
は、フェースダウンでギヤングボンディングできるよう
に、底部自体又は底部に近いところに段差を設けること
もある。
In this embodiment, an IC chip 1 is housed face down (in a position where the top and bottom sides are reversed from FIG. 1) in a recess formed in a wiring board 5. In some cases, a step is provided at the bottom itself or near the bottom to allow face-down gigantic bonding.

第3図は本発明のさらに他の実施例を示す断面図であっ
て、第1図と同一符号は同一部分に対応する。
FIG. 3 is a sectional view showing still another embodiment of the present invention, in which the same reference numerals as in FIG. 1 correspond to the same parts.

ICチップ1のリード3゛ はTAB法によって配線基
板5上に形成された接合端子4にギヤングボンディング
される。TAB法によってICチップを搭載したICモ
ジュールを、前記第8図で説明したように、その上面を
レジンのみで封止した場合、もしリード3゛ と前記接
合端子4との接合が不充分(当該リード3゛の近傍に繰
り返し外力が作用して半田にクラックが生じた様な場合
)な状態では、前記リード3”が接合端子4から離れて
図の上面方向に突出する可能性もなきにしもあらずであ
る。しかし、本発明によれば、第3図に示したように、
ICモジュールの上面を覆う薄平板1)と配線基板5の
接合端子4との間に位置するリード3゛は該薄平板1)
によって前記上面方向の突出が抑えられる。薄平板1)
は、リード3′を完全におさえ込む位置に設けるのが理
想的ではあるが、チップコート8°の存在、あるいはI
Cチップそのものの厚みの限度との関係で、図示dで示
すような間隙が形成されるのが普通であるので、この間
隙dは少なくとも上記したリード3゛の突出があっても
、該リード3° と接合端子4との接合が保たれる寸法
とすればよい。なお、この場合、該薄平板1)がセラミ
ック等の絶縁性材料から成るものでは、薄平板1)をそ
のまま設置できるが、それが金属等の導電性材料から成
るものでは、該リード3′ との間に絶縁材を介挿する
必要がある。
The leads 3' of the IC chip 1 are gang-bonded to the bonding terminals 4 formed on the wiring board 5 by the TAB method. When an IC module having an IC chip mounted thereon by the TAB method is sealed with only resin on its upper surface as explained in FIG. In the case where cracks occur in the solder due to repeated external force acting near the lead 3'', there is no possibility that the lead 3'' will separate from the bonding terminal 4 and protrude toward the top of the figure. However, according to the present invention, as shown in FIG.
The leads 3' located between the thin flat plate 1) covering the top surface of the IC module and the bonding terminals 4 of the wiring board 5 are connected to the thin flat plate 1).
This suppresses the protrusion in the upper surface direction. Thin flat plate 1)
Ideally, the lead 3' should be placed in a position that completely suppresses the lead 3', but the presence of an 8° chip coat or the I
Due to the limit of the thickness of the C-chip itself, a gap as shown in the figure d is normally formed. The dimensions may be such that the bonding between the terminal 4 and the bonding terminal 4 is maintained. In this case, if the thin flat plate 1) is made of an insulating material such as ceramic, the thin flat plate 1) can be installed as is, but if it is made of a conductive material such as metal, the leads 3' and It is necessary to insert an insulating material between them.

第4図は本発明によるICモジュールの製造方法を説明
する工程図であって、第1図に示したICモジュールの
製造についてのものである。
FIG. 4 is a process diagram illustrating the method for manufacturing an IC module according to the present invention, and is a process diagram for manufacturing the IC module shown in FIG.

同図において、ICチップはTAB法によって作製する
。まず、リードを配線したテープ12にバンプ付きIC
l3をギヤングボンディング(インナーリードボンディ
ング)でICチップの金バンプとテープ上の錫めっき銅
のリードとを熱圧着で金−錫共晶接合をして搭載した後
、ICチップの周辺をエポキシレジン8°をボッティン
グしてコート(チップコート)シ、これをキュアーして
硬化させる。次に、リードをカッティング・フォーミン
グし、ICチップをテープから切離してリード付きIC
14とする。これを、凹かん部を設けたプラスチック配
線基板5にセットし、前記錫めっき銅リードと上記間か
ん部に配線された基板側の金めつき銅端子とを熱圧着に
より金−錫共晶接合して固定する(ギヤングボンディン
グ□アウターリードボンディング)。続いて、上記基板
の凹かん部にエポキシレジン10”を注入・充てんしく
ボッティング)、ステンレス製の薄平板1)を上記充て
んしたレジン上を覆って該ICモジュールとなる表面の
ほぼ全域に被覆する。これをキュアーして充てんレジン
の硬化とステンレス製の薄平板1)の接着を同時に行っ
て封止を完了し、ICモジュール15を得る。
In the figure, the IC chip is manufactured by the TAB method. First, the bumped IC is placed on the tape 12 on which the leads are wired.
13 is mounted using gigantic bonding (inner lead bonding) to bond the gold bumps of the IC chip and the tin-plated copper leads on the tape with gold-tin eutectic bonding using thermocompression bonding, and then the periphery of the IC chip is bonded with epoxy resin. Bot 8° and coat (chip coat), cure and harden. Next, the leads are cut and formed, the IC chip is separated from the tape, and the leaded IC is
14. This is set on a plastic wiring board 5 provided with a recessed part, and the tin-plated copper lead and the gold-plated copper terminal on the board side wired in the spacer part are bonded by thermocompression to gold-tin eutectic bonding. and secure it (guyang bonding □ outer lead bonding). Next, 10" of epoxy resin is injected into the recessed part of the substrate and filled with botting), and a thin stainless steel plate 1) is placed over the filled resin to cover almost the entire surface of the IC module. This is cured, and the filling resin is hardened and the stainless steel thin flat plate 1) is bonded at the same time to complete the sealing and the IC module 15 is obtained.

第5図は本発明によるICモジュールを用いたICカー
ドの一例を示す要部断面図であって、1はICチップ、
3゛はリード、4は接合端子、5は配線基板、6は外部
接触端子、8゛はチップコート、9はTABリードのサ
ポータ、1)は薄平板、15はICモジュール、16は
ICカードのセンターコア(例えば、塩化ビニルシート
から成る)、16”はモジュール窓、17は塩化ビニー
ル等から成るオーバーレーである。
FIG. 5 is a cross-sectional view of essential parts showing an example of an IC card using an IC module according to the present invention, in which 1 is an IC chip;
3'' is a lead, 4 is a bonding terminal, 5 is a wiring board, 6 is an external contact terminal, 8'' is a chip coat, 9 is a TAB lead supporter, 1) is a thin flat plate, 15 is an IC module, and 16 is an IC card. The center core (eg, made of vinyl chloride sheet), 16'' is a module window, and 17 is an overlay made of vinyl chloride or the like.

同図において、ICモジュール15は塩化ビニルシート
等から成るカード主材であるセンターコア16に形成し
たモジュール窓16゛に装入され、適宜の手段で固着さ
れる。この状態で図示下面側において外部接触端子6は
該カードの下面と略々同一平面を構成し、図示上面側に
は該カード全面全域に亘る塩化ビニール等から成るオー
バーレー17が被覆される。
In the figure, an IC module 15 is inserted into a module window 16' formed in a center core 16, which is a card main material made of a vinyl chloride sheet or the like, and fixed by an appropriate means. In this state, the external contact terminals 6 are substantially flush with the bottom surface of the card on the lower surface side in the figure, and an overlay 17 made of vinyl chloride or the like covers the entire surface of the card on the upper surface side in the figure.

この様に構成されたICカードは、厚さが0゜76鶴の
標準寸法内に収まり、かつ内蔵ICチップ及びリード・
接合端子部分が充分に外力から保護されたものとなる。
The IC card constructed in this way has a thickness within the standard dimension of 0°76, and has a built-in IC chip and leads.
The joint terminal portion is sufficiently protected from external forces.

第6図はICカードの外力に対する耐久性を試験する方
法の一例を説明する概念図であって、18はICカード
、19はゴム板、20はスチールボール、21は台、2
2は荷重、23は往復運動方向である。
FIG. 6 is a conceptual diagram illustrating an example of a method for testing the durability of an IC card against external forces, in which 18 is an IC card, 19 is a rubber plate, 20 is a steel ball, 21 is a stand, 2
2 is the load, and 23 is the direction of reciprocating motion.

同図において、ICカード18をその薄平板側を下向き
にしてスチールボール20をはさんで台21上に置き、
ゴム板19を介して荷重22を加えつつ台21上を往復
運動させた。
In the same figure, an IC card 18 is placed on a stand 21 with its thin flat side facing downward, with a steel ball 20 sandwiched between them.
A load 22 was applied via a rubber plate 19 while reciprocating movement was made on a table 21.

この試験法によって本発明によるICモジュールを搭載
したICカードを試験したところ、ICモジュールは何
らのダメージも受けず、優れた耐久性を示した。
When an IC card equipped with an IC module according to the present invention was tested using this test method, the IC module did not suffer any damage and exhibited excellent durability.

また、他の試験として、多数のICカードを洗濯機で水
と共に攪拌する試験により本発明によるICモジュール
を搭載したICカードを試験したが、不良発生率は従来
例のものと比較してかなり小さかった。
In addition, as another test, an IC card equipped with an IC module according to the present invention was tested by stirring a large number of IC cards with water in a washing machine, and the failure rate was considerably lower than that of the conventional example. Ta.

C発明の効果〕 以上説明したように、本発明によれば、ICカード等に
搭載するもののように薄型化が要求されるICモジュー
ルの外力に対する耐久性を格段に向上させることができ
、上記従来技術の欠点を除いて優れた機能のICモジュ
ールを提供することができる。
C. Effects of the invention] As explained above, according to the present invention, the durability against external forces of an IC module that is required to be thin, such as one mounted on an IC card, etc. can be significantly improved, and the durability against external forces can be significantly improved. It is possible to provide an IC module with excellent functionality, excluding the technical drawbacks.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるICモジュールの一実施例を示す
断面図、第2図は本発明の他の実施例を示す断面図、第
3図は本発明のさらに他の実施例を示す断面図、第4図
は本発明によるICモジュールの製造方法を説明する工
程図、第5図は本発明によるICモジュールヲ用いたI
Cカードの一例を示す要部断面図、第6図はICカード
の外力に対する耐久性を試験する方法の一例を示す概念
図、第7図は従来技術による薄型ICモジュールの構造
を説明する断面図、第8図はICモジュールに対する外
力の影響を説明する断面図である。 1・・−・・・ICチップ、2゛・−・−ICチップの
バンプ、3゛−・−・−・・リード、4−・−・接合端
子、5・−・−配線基板、5゛−・−−−−一接触端子
基板、5”・−・−・枠、6・−・−・接触端子、8゛
・−・−チップコート、9−・・・−TABリードのサ
ポータ、1.0−−−−−−・閉空間、1)・・−一・
薄手板。 第1図′ 1   :  [Cテ、)゛           5
″: 才子2’:  ICす、ブのノ1ンフ゛    
6 : 撥鯨肩チ3′: リード          
    8′二 す、フ゛コート4 : 沢裸暴iのじ
+デー、iチ 9 二 TAB  リードの7ホ゛−タ
5 ; 古乙才災基敬          に):rf
l 空r硝5′:持p3篇+基板   1):廊平板第
2図 第3図 第4図 レジンコート (W−’=tティンゲ)レジン値化 (
キュアー) 第5図 第6図
FIG. 1 is a sectional view showing one embodiment of an IC module according to the invention, FIG. 2 is a sectional view showing another embodiment of the invention, and FIG. 3 is a sectional view showing still another embodiment of the invention. , FIG. 4 is a process diagram explaining the method for manufacturing an IC module according to the present invention, and FIG.
6 is a conceptual diagram showing an example of a method for testing the durability of an IC card against external forces; FIG. 7 is a sectional view illustrating the structure of a thin IC module according to the prior art. , FIG. 8 is a sectional view illustrating the influence of external force on the IC module. 1...IC chip, 2゛---IC chip bump, 3゛-----lead, 4--junction terminal, 5--wiring board, 5゛-・----1 contact terminal board, 5"---frame, 6---contact terminal, 8゛---chip coat, 9---TAB lead supporter, 1 .0−−−−−・Closed space, 1)・・−1・
Thin board. Figure 1′ 1: [Cte,)゛5
″: Saiko 2': IC Su, No. 1
6: Repellent shoulder 3': Lead
8' 2nd, 4th court: Sawabara I Noji + Day, 1st 9 2 TAB Lead's 7th star 5; Kootsaizai Mototaka): rf
l Empty r Ni 5': holding p3 + board 1): Rang plate Fig. 2 Fig. 3 Fig. 4 Resin coating (W-'=t Tinge) Resin value conversion (
Cure) Figure 5 Figure 6

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)接合端子を形成した配線基板と、この配線基板に
形成した凹かん部に収納されるICチツプと、上記配線
基板の一面側に形成した外部接触端子とを備えたICモ
ジユールにおいて、前記ICチツプはリードを有し、こ
のリードと前記接合端子とを接合して成り、前記外部接
触端子を設けた側とは反対側の面に少なくとも前記IC
チツプ及び上記リードと接合端子との接合部分を被覆す
る薄板から成る補強材を設け、前記ICチツプ及び上記
接合部分を外力から保護する様に構成したことを特徴と
するICモジユール。
(1) In an IC module comprising a wiring board on which a bonding terminal is formed, an IC chip housed in a recess formed in the wiring board, and an external contact terminal formed on one side of the wiring board, the The IC chip has a lead, the lead is connected to the bonding terminal, and at least the IC chip is formed by bonding the lead to the bonding terminal.
An IC module characterized in that a reinforcing material made of a thin plate is provided to cover the chip and the joint portion between the lead and the connecting terminal, so as to protect the IC chip and the joint portion from external force.
(2)特許請求の範囲第(1)項記載のICモジユール
において、前記配線基板に形成した接合端子と前記補強
材との間に間隙を有して成ることを特徴とするICモジ
ユール。
(2) The IC module according to claim (1), characterized in that a gap is provided between the bonding terminal formed on the wiring board and the reinforcing material.
(3)特許請求の範囲第(1)項記載のICモジユール
において、前記外部接触端子を形成する基板を剛性の大
なる材料によつて構成し、少なくとも前記ICチツプ及
び前記リードと接合端子との接合部分を前記補強材と共
に両面から保護する構造としたことを特徴とするICモ
ジユール。
(3) In the IC module according to claim (1), the substrate forming the external contact terminal is made of a material with high rigidity, and at least the IC chip, the lead, and the connecting terminal are connected to each other. An IC module characterized in that the joint portion is protected from both sides together with the reinforcing material.
JP61291621A 1986-12-09 1986-12-09 Ic module Pending JPS63145093A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61291621A JPS63145093A (en) 1986-12-09 1986-12-09 Ic module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61291621A JPS63145093A (en) 1986-12-09 1986-12-09 Ic module

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63145093A true JPS63145093A (en) 1988-06-17

Family

ID=17771324

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61291621A Pending JPS63145093A (en) 1986-12-09 1986-12-09 Ic module

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63145093A (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61125690A (en) * 1984-11-21 1986-06-13 Dainippon Printing Co Ltd Ic card
JPS61166195A (en) * 1985-01-18 1986-07-26 凸版印刷株式会社 Ic module

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61125690A (en) * 1984-11-21 1986-06-13 Dainippon Printing Co Ltd Ic card
JPS61166195A (en) * 1985-01-18 1986-07-26 凸版印刷株式会社 Ic module

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100401020B1 (en) Stacking structure of semiconductor chip and semiconductor package using it
JP3967133B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device and electronic device
KR100199962B1 (en) Structure of chip mounting preventing from crosstalk noise
US6621172B2 (en) Semiconductor device and method of fabricating the same, circuit board, and electronic equipment
US6512176B2 (en) Semiconductor device
KR100656587B1 (en) Stack package using stack substrate connected metal post
US6734535B1 (en) Semiconductor device, method of manufacture thereof, circuit board, and electronic instrument
JP4024958B2 (en) Semiconductor device and semiconductor mounting structure
US7521810B2 (en) Chip stack package and manufacturing method thereof
JP5543086B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JPH1117048A (en) Semiconductor chip package
JPS63149191A (en) Ic card
TW201250885A (en) QFN package and manufacturing process thereof
JP3376356B2 (en) Thin photosensitive semiconductor device
JPH03112688A (en) Ic card
JP2948595B2 (en) IC module for IC card and method of manufacturing the same
JP3568402B2 (en) Semiconductor device
US8105871B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method of the same
JPS63145093A (en) Ic module
JPH07335680A (en) Circuit board, its manufacture, wire bonding method for semiconductor device and sealing method for the same device
JPH0964080A (en) Semiconductor device and method of manufacturing it
JP2756791B2 (en) Resin-sealed semiconductor device
JP3727172B2 (en) Semiconductor device
JP3510520B2 (en) Semiconductor package and manufacturing method thereof
KR100610916B1 (en) Semiconductor package