JPS63131115A - Scanning laser microscope - Google Patents
Scanning laser microscopeInfo
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- JPS63131115A JPS63131115A JP27653886A JP27653886A JPS63131115A JP S63131115 A JPS63131115 A JP S63131115A JP 27653886 A JP27653886 A JP 27653886A JP 27653886 A JP27653886 A JP 27653886A JP S63131115 A JPS63131115 A JP S63131115A
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- slit
- lens
- sample
- photodetector
- laser
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、共焦点タイプの走査レーザ顕微鏡に係り、特
に光学系の調整が容易な、共焦点タイプの走査レーザ顕
微鏡に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a confocal type scanning laser microscope, and particularly to a confocal type scanning laser microscope whose optical system can be easily adjusted.
共焦点タイプの走査レーザ顕微鏡の基本構成（アプライ
ド フィジックス ピー２７．２１１−２１３（１９８
２） （Ａｐｐｌ、 Ｐｈｙｓ、 Ｂ２７．２１１−
２１３ （１９８２））に記載がある。）は第３図のよ
うになる。１はレーザであり、出射したレーザ光２をレ
ンズ３１で絞り込み、ポイントン−ストスル。このレー
ザ光をレンズ３２で収束し、焦点面に置いた試料４に照
射する。この収束したレーザ光に対して、Ｖンズ３３と
ピンホール５とを共焦点の位置関係になるように配置す
る。試料４を透過してきたＶ−ザ光はピンホール５を照
射し。Basic configuration of confocal type scanning laser microscope (Applied Physics P. 27.211-213 (198
2) (Appl, Phys, B27.211-
213 (1982)). ) is shown in Figure 3. Reference numeral 1 denotes a laser, and the emitted laser beam 2 is narrowed down by a lens 31 to point-to-point. This laser light is focused by a lens 32 and irradiated onto the sample 4 placed on the focal plane. The V lens 33 and the pinhole 5 are arranged in a confocal positional relationship with respect to this converged laser beam. The V-za light that has passed through the sample 4 irradiates the pinhole 5.
ピンホール５を通過したレーザ光は光検出器６で検出さ
れる。画像を作るために、試料４を焦点面内において、
ステージ７１で移動させながら、各各の場所における光
検出器６の信号を記憶する。The laser beam that has passed through the pinhole 5 is detected by a photodetector 6. To create an image, place the sample 4 in the focal plane,
While moving on the stage 71, the signals of the photodetector 6 at each location are stored.
記憶された画像データは表示装置８に表示される。The stored image data is displayed on the display device 8.
共焦点タイプの走査レーザ顕微鏡におけるピンホール５
の役割は分解能を上げることであり、微小な口径のピン
ホールが要求される。このため。Pinhole 5 in a confocal scanning laser microscope
Its role is to increase resolution, and a pinhole with a minute diameter is required. For this reason.
位置合せをして、この微小なピンホールに光を入射させ
るのが難しい。It is difficult to align and make light enter this tiny pinhole.
本発明の目的は、微小なピンホールに替わる、位置合せ
の容易な機構を具備した共焦点タイプの走査レーザ顕微
ｗｌｔ提供することにある。An object of the present invention is to provide a confocal type scanning laser microscope WLT that is equipped with an easy alignment mechanism in place of a minute pinhole.
上記の目的を達成するために、２個のスリットとレンズ
とを使用して、ピンホールの役割をする光学系を構成す
る。スリットに微小な光を入射させるようにスリットの
位置を調整するのは、一方向の動きだけで済むので容易
である。２個のスリットを調整することで、目的は達成
される。To achieve the above objective, two slits and a lens are used to construct an optical system that acts as a pinhole. Adjusting the position of the slit so that a small amount of light enters the slit is easy because it only requires movement in one direction. By adjusting the two slits, the objective is achieved.
第２図にピンホールの役割をする部分を示す。 Figure 2 shows the part that functions as a pinhole.
２はレーザ光である。８１．８２はスリットであり、３
４はレンズである。スリット８２は、レンズ３４による
スリット８１の像面の位置にあるものとする。まず、光
検出器６の前にあるスリット８２をはずしておき、光検
出器６の出力が最大になるようにスリット８１の位置を
調整する。次に。2 is a laser beam. 81.82 is a slit, 3
4 is a lens. It is assumed that the slit 82 is located at the image plane of the slit 81 formed by the lens 34. First, the slit 82 in front of the photodetector 6 is removed, and the position of the slit 81 is adjusted so that the output of the photodetector 6 is maximized. next.
スリット８１の方向と交叉するように、スリット８２を
光検出器６の前に置き、光検出器６の出力が最大になる
ように、スリット８２を調整する。A slit 82 is placed in front of the photodetector 6 so as to cross the direction of the slit 81, and the slit 82 is adjusted so that the output of the photodetector 6 is maximized.
このように、スリットの位置調整は一次元なので。In this way, the slit position adjustment is one-dimensional.
ピンホールの位置調整より容易である。This is easier than adjusting the position of a pinhole.
以下１本発明の一実施例を第１図により説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.
レーザ１から出射したレーザ光２をレンズ３１で絞りポ
イントソースとする。迷光を遮断するために、適宜、絞
υ込まれたところにピンホールを置いてよい。試料４は
、レンズ３２によるポイントソースの像面に置く。試料
４はステージ７１によシ走査することができる。試料４
を透過したレーザ光をレンズ３３で集光し、スリット８
１上へ絞り込む。スリット８１はステージ７２により移
動することができ、スリット８１を最適な位置に合わす
ことができる。スリット８１を通過したレーザ光はし／
ズ３４で、再度、スリット８２上に絞り込まれる。スリ
ット８２は層脱可能になっている。スリット８２をはず
したとき、レンズ３４から出射したレーザ光は、けられ
ることなく光検出器６に入射するようになっている。ス
リット８１の調整はスリット８２をはずした状態で行な
い、光検出器６の出力が最大になるようにする。A laser beam 2 emitted from a laser 1 is focused by a lens 31 and used as an aperture point source. In order to block stray light, a pinhole may be placed in a narrowed area as appropriate. The sample 4 is placed on the image plane of the point source formed by the lens 32. The sample 4 can be scanned by the stage 71. Sample 4
The laser beam that has passed through is focused by the lens 33, and the slit 8
Narrow down to 1. The slit 81 can be moved by the stage 72, and the slit 81 can be adjusted to an optimal position. The laser beam that passed through the slit 81/
At step 34, it is narrowed down onto slit 82 again. The slit 82 is capable of removing the layer. When the slit 82 is removed, the laser light emitted from the lens 34 enters the photodetector 6 without being eclipsed. Adjustment of the slit 81 is performed with the slit 82 removed so that the output of the photodetector 6 is maximized.
スリット８２も光検出器６の出力が最大になる位置に合
わせられるように、ステージ７３により移動できる。光
検出器６からの信号は、ステージ７１からの試料の位置
信号のもとに１画像表示装置８の画像メモリに書き込ま
れた後、ｍ像表示装置８に表示される。The slit 82 can also be moved by the stage 73 so that it is aligned with the position where the output of the photodetector 6 is maximized. The signal from the photodetector 6 is written into the image memory of the one-image display device 8 based on the sample position signal from the stage 71, and then displayed on the m-image display device 8.
本発明によれば、共焦点タイプの走査レーザ顕微鏡にお
けるピンホールの位置合せを必要とせず。According to the present invention, there is no need for pinhole alignment in a confocal type scanning laser microscope.
その代わりに、２個のスリットの位置合せをすることに
なる。スリットの位置合せは一次元方向だけなので、ピ
ンホールの位置合せと比べて非常に容易になる。このた
め、走査レーザ顕微鏡の調整に要する時間を短縮するこ
とが可能になる。Instead, two slits will be aligned. Since slit alignment is only one-dimensional, it is much easier than pinhole alignment. Therefore, it is possible to shorten the time required for adjusting the scanning laser microscope.
第１図は、実施例の概略図、第２図はスリットを使用し
た光学系の概略図、第３図は共焦点タイプの走査レーザ
顕微鏡の概略図である。
１・・・レーザ、２・・・Ｖ−ザ光、３１，３２，３３
゜３４・・・レンズ、４・・・試料、５・・・ピンホー
ル、６・・・光検出器、７１，７２．７３・・・ステー
ジ、８１゜篤 ／ δ
′１１．曾２ スリ、７ト
￥Ｊ ２ 圀
囁 ３ ロFIG. 1 is a schematic diagram of an embodiment, FIG. 2 is a schematic diagram of an optical system using a slit, and FIG. 3 is a schematic diagram of a confocal type scanning laser microscope. 1... Laser, 2... V-za light, 31, 32, 33
゜34... Lens, 4... Sample, 5... Pinhole, 6... Photodetector, 71, 72.73... Stage, 81゜ Atsushi / δ '11. 2 Pickpockets, 7 ￥J 2 Kunihisa 3 Ro
Claims (1)
束させポイントソースとするための第１のレンズと、こ
のレーザ光を再び収束し、試料をポイントソースの像面
に置くための第２のレンズと、試料を透過したレーザ光
を収束するための第３のレンズと、該第３のレンズによ
る試料の像面に位置し移動可能とした第１のスリットと
、該第１のスリットを通過したレーザ光を収束するため
の第４のレンズと、該第４のレンズによる上記第１のス
リットの像面に位置し、上記第１のスリットの方向と交
叉しかつ移動可能とした第２のスリットと、該第２のス
リットを透過したレーザ光を検出する光検出器からなる
ことを特徴とする走査レーザ顕微鏡。1. A laser, a first lens for converging the laser beam emitted by the laser to form a point source, and a second lens for converging the laser beam again and placing the sample on the image plane of the point source. a lens, a third lens for converging the laser beam transmitted through the sample, a first slit that is movable and located on the image plane of the sample by the third lens, and a laser beam that passes through the first slit. a fourth lens for converging the laser beam; and a second lens positioned on the image plane of the first slit by the fourth lens, intersecting the direction of the first slit and movable. A scanning laser microscope comprising a slit and a photodetector that detects laser light transmitted through the second slit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27653886A JPS63131115A (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Scanning laser microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27653886A JPS63131115A (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Scanning laser microscope |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63131115A true JPS63131115A (en) | 1988-06-03 |
Family
ID=17570869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27653886A Pending JPS63131115A (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Scanning laser microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63131115A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06500637A (en) | 1991-06-08 | 1994-01-20 | レニショウ トランスデューサ システムズリミテッド | confocal spectroscopy |
| US6219181B1 (en) * | 1997-06-09 | 2001-04-17 | Olympus Optical Co., Ltd. | Monitor-aided microscope |
-
1986
- 1986-11-21 JP JP27653886A patent/JPS63131115A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06500637A (en) | 1991-06-08 | 1994-01-20 | レニショウ トランスデューサ システムズリミテッド | confocal spectroscopy |
| US6219181B1 (en) * | 1997-06-09 | 2001-04-17 | Olympus Optical Co., Ltd. | Monitor-aided microscope |
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