JPS6286422A - input device - Google Patents

input device

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Publication number
JPS6286422A
JPS6286422A JP60227376A JP22737685A JPS6286422A JP S6286422 A JPS6286422 A JP S6286422A JP 60227376 A JP60227376 A JP 60227376A JP 22737685 A JP22737685 A JP 22737685A JP S6286422 A JPS6286422 A JP S6286422A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
input device
resistance
uniform
present
Prior art date
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Pending
Application number
JP60227376A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazufumi Matsuzawa
松澤 和文
Akihiro Hachiman
明宏 八幡
Minoru Ikegami
稔 池上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6286422A publication Critical patent/JPS6286422A/en
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  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する利用分野〕 本発明は高精度の入力装置に関する。[Detailed description of the invention] [Field of application to which the invention pertains] The present invention relates to a high precision input device.

〔技術的背景〕[Technical background]

本発明の理解を助けるために、まず、本発明の入力装置
の概要を説明する。
To help understand the present invention, first, an overview of the input device of the present invention will be explained.

本発明の入力装置は、対向する基板面上に入力用電翫を
形成した一対の基板により構成される。
The input device of the present invention is comprised of a pair of substrates on which input wires are formed on opposing substrate surfaces.

入力用電圧は入力部を形成する少なくとも一方の基板に
複数の入力検出用電圧を千行に設けると共゛に、複数の
検出用電極を検出用!!tlfiに交差する方向に電気
抵抗体で接合したものである。電気抵抗体は一般には均
一な抵抗体で形成するが複数の入力検出用電甑間距峡を
不均一に形成したとき等においてはそれに合わせて電気
抵抗体の抵抗riを交差方向に不均一にしてもよい、勿
論この場合も抵抗を均一にしてもよい。
For the input voltage, a plurality of input detection voltages are provided in 1,000 lines on at least one of the substrates forming the input section, and a plurality of detection electrodes are provided for detection! ! It is connected with an electric resistor in the direction crossing the tlfi. Generally, the electrical resistor is formed of a uniform resistor, but when multiple input detection electrodes are formed non-uniformly, the resistance ri of the electrical resistor may be made non-uniform in the cross direction accordingly. Of course, the resistance may also be made uniform in this case.

本発明のストライブ状電極と均一抵抗体を有した、電圧
検出微入力装置について説明する。該入力装置の構成は
、第6図に示す一定の面抵抗を有した、均一抵抗体1α
と、該均一抵抗体1αに直交し、かつ導通してiるスト
ライブ状電匝2が設けられている3αの基板と抵抗体1
αの面抵抗と同一あるいは、異なる面抵抗匝を有した均
一抵抗体1bと該均一抵抗体1blC@交し、かつ導通
しているストライプ状電匝2が設けられてあり、外力を
加えることにより、容易に面に対して垂直方向に変形す
る3bの基板とを、互いにストライプ状電匝を直交させ
複数個の絶縁物スペーサを介して、張り会わせである。
A voltage detection fine input device having a striped electrode and a uniform resistor according to the present invention will be described. The configuration of the input device includes a uniform resistor 1α having a constant sheet resistance as shown in FIG.
, a substrate 3α and a resistor 1 on which a striped electric cap 2 which is perpendicular to the uniform resistor 1α and conductive thereon is provided.
A striped electrical conductor 2 is provided which intersects and is electrically conductive to a uniform resistor 1b having a sheet resistance equal to or different from the sheet resistance α. , and the substrate 3b, which is easily deformed in a direction perpendicular to the surface, are pasted together with striped electric slats interposed orthogonally to each other via a plurality of insulating spacers.

前記入力装置の接触位置検出方法は、第7図の様に、3
a、3bの基板の均一抵抗体に、それぞれ一定時間毎に
定電圧を印加し、接触位置に配置されているそれぞれの
ストライブ状電匝の重圧を互いに検出し合う事によって
、判定する方法である。
The contact position detection method of the input device is as shown in FIG.
This is a method of determining by applying a constant voltage to the uniform resistors of the substrates a and 3b at fixed time intervals, and mutually detecting the pressure of each striped electric scepter placed at the contact position. .

前記入力装置においては、均一抵抗体に、印刷された抵
抗体、貼り付けられた抵抗体、蒸着された抵抗体等が、
利用できる。また、入力検出用電圧と電気抵抗体を同時
に形成してもより。
In the input device, a printed resistor, a pasted resistor, a vapor-deposited resistor, etc. are arranged on the uniform resistor.
Available. It is also possible to form the input detection voltage and the electric resistor at the same time.

〔発明が解決しようとする間眺点〕[The point of view that the invention attempts to solve]

ところが、上記の方法で形成した抵抗体においては、均
一抵抗体を歩留り良く作成する事が非常に難かしく、高
精度の入力装置を提供できない。
However, in the resistor formed by the above method, it is very difficult to produce a uniform resistor with a good yield, and a highly accurate input device cannot be provided.

よって、本発明の目的は、抵抗体の抵抗値の均一性を向
上させ、高精度、高分解能勿有する入力装置を提供する
点にある。
Therefore, an object of the present invention is to provide an input device that improves the uniformity of the resistance value of a resistor and has high precision and high resolution.

〔問題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の入力装置は、一定の面抵抗を有した抵抗体と、
その抵抗体に交差し、かつ抵抗体と、電気的に接続して
いる複数のストライプ状重臣を有した2枚の基板を、そ
れぞれのストライプ状重臣が互^に交差例えばほぼ直交
するように配し、それぞれの抵抗体の長手方向に切れ目
を入れる事により抵抗体の長手方向の抵抗1直を変化さ
せた事を、特徴とする。
The input device of the present invention includes a resistor having a constant sheet resistance;
Two substrates each having a plurality of striped seniors that cross the resistor and are electrically connected to the resistor are arranged so that the striped seniors cross each other, for example, are almost perpendicular to each other. However, it is characterized in that the resistance in the longitudinal direction of each resistor is changed by making cuts in the longitudinal direction of each resistor.

〔作用〕[Effect]

本発明の作用を図面に基づいて詳細に説明する。 The operation of the present invention will be explained in detail based on the drawings.

帆1図は、本発明の基本構造を示す。Figure 1 shows the basic structure of the invention.

第1図(α)において、切れ目4により、抵抗体1の抵
抗値を補正する。第1図(b)に、補正の原理を示す、
切れ目4により抵抗値補正された抵抗体1は、第1図(
6)のR五〜R7に分割して考えられ、切れ目4により
、RxzR鵞=0.。冨R@+=Ryとなるようにする
わけである。すなわち、抵抗体1を複数のブロックに分
割し、その面積変化により、各ブロック抵拡値を変化さ
せ、抵抗体1を、均−抵抗体に近づけるのである。
In FIG. 1 (α), the resistance value of the resistor 1 is corrected by the cut 4. FIG. 1(b) shows the principle of correction.
The resistor 1 whose resistance value has been corrected by the cut 4 is shown in Fig. 1 (
6) is considered by dividing it into R5 to R7, and due to the cut 4, RxzR = 0. . This is done so that the value R@+=Ry. That is, the resistor 1 is divided into a plurality of blocks, and the resistance expansion value of each block is changed by changing the area of the blocks, thereby making the resistor 1 closer to a uniform resistor.

次に各ブロックの面積度比率の算出1方について説明す
る。第2図に示すd 1− dk −d、、が各ブロッ
クである。抵抗体1に電圧vl印加し、電甑2上の電位
を第3図の様に測定する。よって、各mttii位(”
 l e t’ m s、。−vLo、v3−、e”J
が求まる。
Next, one method of calculating the area ratio of each block will be explained. d1-dk-d shown in FIG. 2 is each block. A voltage vl is applied to the resistor 1, and the potential on the electric pot 2 is measured as shown in FIG. Therefore, each mttii rank (”
Let's m s,. -vLo, v3-, e”J
is found.

次に各ブロックの理論電圧降下VTRは、7“−°゛−
”済、−□)°°°(1)と表わされる。また各ブロッ
クの電圧降下vd(π−1)は、 vd(z−1)== vx−1−vx # @ *(2
)”= (2s3i、J、、tt)と表わされ、次に理
論電圧降下VT)1との差+!!il−算出する。
Next, the theoretical voltage drop VTR of each block is 7"-°゛-
"Completed, -□)°°°(1).The voltage drop vd(π-1) of each block is vd(z-1)==vx-1-vx # @ *(2
)"= (2s3i, J,, tt), and then calculate the difference +!!il- from the theoretical voltage drop VT)1.

v Cd(z−x)  TH) = ud(、z−t)
−VTTl。、 、(3)(3)で求めた’u Cd(
Z−1)−TH)の最大の7’o7り’!r、最大抵抗
直ブロックとして、他のブロック抵抗値を、その最大抵
抗値ブロックと同一にするため、以下の計算をする。最
大抵抗値ブロックの電圧降下をvclmazとすると、 vd(x−1)/ vdmaz = P (面積比”)
 −−(4)となる、すなわち、各ブロックの面積を、
Pの割り会いで小さくすれば、抵抗体1は、均一抵抗体
に近づく、なお、vmaxは、独自に設定しても、かま
わない。
v Cd(z-x) TH) = ud(, z-t)
-VTTl. , , (3) 'u Cd(
Z-1)-TH)'s biggest 7'o7ri'! r, the maximum resistance direct block, and in order to make the resistance values of other blocks the same as that of the maximum resistance value block, perform the following calculation. If the voltage drop of the maximum resistance block is vclmaz, then vd(x-1)/vdmaz = P (area ratio)
--(4), that is, the area of each block is
If it is made smaller by the proportion of P, the resistor 1 approaches a uniform resistor. Note that vmax may be set independently.

〔実施例1〕 第4図は、上基板3αにp、gT(1881L)フィル
ム、下基板3bにガラス(1,1t) 、重臣2に蒸着
工Toのパターニングしたもの、抵抗体1α、1bにカ
ーボンペーストのスクリーン印刷したものを使用し、抵
抗体lcL、1bへの切れ目を、YAGレーザーにより
入れ、電圧検出型入力装置を作成した。上基板3αと下
基板3bの間には、数十μのスペーサ?配し、四方向に
は、シール接着剤を配した。基板サイズは、100 m
 X 150 wxであり、重臣数は、12X8本であ
った。レーザスポット径は、約5μで行なった。抵抗均
一性は、この補正により格段に良くなり、未処理時にお
ける、測定電位と理論電位の差は、見以下になった。ま
た直線性誤差的に考えると、 6一 未処理時4.5%が、0.8%に補正された。この結果
は、単純計算では、直線性誤差による限界キー数が、1
1本から、62本になった事を示す1本実施例の入力装
置は、透明にできたので、ドツト数128 X 256
 DOT (D L CD モシュ−、+1. 上fC
設置り、、表示兼入力装置として、作成したとζろ、非
常に精度の良い、表示兼入力装置ができた。
[Example 1] Figure 4 shows the patterning of P, gT (1881L) film on the upper substrate 3α, glass (1, 1T) on the lower substrate 3b, evaporator To on the senior minister 2, and patterning on the resistors 1α and 1b. Using a screen-printed carbon paste, cuts were made in the resistors lcL and 1b using a YAG laser to create a voltage detection type input device. Is there a spacer of several tens of microns between the upper substrate 3α and the lower substrate 3b? Seal adhesive was applied on all four sides. Board size is 100 m
x 150 wx, and the number of senior vassals was 12 x 8. The laser spot diameter was about 5μ. The resistance uniformity was significantly improved by this correction, and the difference between the measured potential and the theoretical potential when untreated was negligible. Also, considering the linearity error, 4.5% when 6-untreated was corrected to 0.8%. This result shows that in simple calculation, the limit number of keys due to linearity error is 1.
The input device of this example, which shows the increase from 1 to 62 dots, was made transparent, so the number of dots was 128 x 256.
DOT (D L CD Moshu-, +1. Upper fC
I installed it as a display/input device, and I was able to create a very accurate display/input device.

〔実施例2〕 実施例1における切れ目をカッターにより入れ同様の補
正を行なったところ、抵抗均一性は、実施列lとほぼ同
等位良くなり、直線性誤差で、4.2チが、1,0%に
できた。
[Example 2] When the cuts in Example 1 were made using a cutter and the same correction was performed, the resistance uniformity was almost as good as that of the practical row 1, and the linearity error was 4.2 chi, but 1. I was able to get it to 0%.

〔実施例3〕 ¥施例工における切れ目の入れ方を、帆5図の様に入れ
て、同様の補正を行なった。第5図は、面積変化を、抵
抗体の両側に割りふったわけである。
[Example 3] Similar corrections were made by adding the incisions in the example work as shown in Figure 5 of the sail. In FIG. 5, the change in area is divided between both sides of the resistor.

−7−・ 結果は、実施例1と同等であり、十分補正できた。-7-・ The results were the same as in Example 1, and were sufficiently corrected.

なお、本発明の入力装置を、電圧検出型のかわりに電流
検出型としてもよい、また基板は透明でも、不透明でも
よく、上基板はプラスチックでも、ガラスでも良i、下
基板は、アクリル等のプラスチックでもかまわな−、抵
抗体としては、カーボンシート、金属メッキ、電匝工T
Oそのまま、等でも実現できる。切れ目の入れ方は、エ
ツチング等でもできる。さらにまた、切れ目の精度Fi
、あまり気にせずとも、かなり良好な結果が出る事が実
施例1〜3でわかった。
The input device of the present invention may be of a current detection type instead of a voltage detection type; the substrate may be transparent or opaque; the upper substrate may be made of plastic or glass; the lower substrate may be made of acrylic, etc. Plastic is also fine, but as a resistor, carbon sheet, metal plating, Denko T
It can also be realized as is, etc. The cuts can also be made by etching. Furthermore, the cut accuracy Fi
It was found in Examples 1 to 3 that fairly good results could be obtained without paying much attention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明により、抵抗体の抵抗1直不
均−から生じる位置検出の誤差が補正され高N度の位置
検出が可能となった1本発明による補正は、抵抗体の長
手方向に切れ目を入れるとわう事から、レーザー等の高
精度、高価格の設備がなくても、簡易、低価格の自動カ
ッター等で容易に可能である。また、本発明の補正方法
Vi、抵抗8一 体の短手方向にレーザー等で切れ目を入れる他の補正方
法に比べ、切れ目距離精度が、誤差的に楽になり非常に
有益である。さらにまた、基板上に抵抗値の均一な抵抗
体を形成すると^う、製造上船かしい事を、工程中にレ
ーザー、カッター等で切れ目を入れると1/′15方法
に変える事にでき、高精度の入力装置を提供する事が容
易になった。
As explained above, according to the present invention, the error in position detection caused by the linear non-uniformity of the resistance of the resistor is corrected, and position detection with a high degree of N is possible. Since it involves making cuts in the material, it can be easily done using a simple, low-cost automatic cutter, etc., without the need for high-precision, high-priced equipment such as a laser. Further, the correction method Vi of the present invention is very useful because the cut distance accuracy becomes easier in terms of errors, compared to other correction methods in which a cut is made in the lateral direction of the resistor 8 using a laser or the like. Furthermore, the manufacturing process of forming a resistor with a uniform resistance value on the substrate can be changed to the 1/'15 method by making cuts with a laser, cutter, etc. during the process, resulting in high performance. It has become easier to provide accurate input devices.

【図面の簡単な説明】 嬉1図(5) (b)は、本発明の詳細な説明図、等2
図、第3図は1本発明の原理説明図、第4図、第5図は
、本発明の詳細な説明図、第6図(a) (6) 、第
7図は、本発明の入力装置の説明図を示す。 la、1b:抵抗体 2:電極 3α、3b二基板 4:切れ目 以   上
[Brief explanation of the drawings] Figure 1 (5) (b) is a detailed explanatory diagram of the present invention, etc. 2
Figure 3 is an explanatory diagram of the principle of the present invention, Figures 4 and 5 are detailed explanatory diagrams of the present invention, and Figures 6 (a) (6) and 7 are input diagrams of the present invention. An explanatory diagram of the device is shown. la, 1b: resistor 2: electrode 3α, 3b two substrates 4: more than the cut

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  一定の面抵抗を有した抵抗体と、該抵抗体に交差し、
かつ該抵抗体と電気的に接続している複数のストライプ
状電極を有した2枚の基板を、それぞれの前記ストライ
プ状電極が互いに交差して、かつ、内側に対向配置した
入力装置において、前記抵抗体の長手方向に切れ目を設
け抵抗補正したことを特徴とする入力装置。
a resistor having a constant sheet resistance, and a resistor intersecting the resistor;
and an input device including two substrates each having a plurality of striped electrodes electrically connected to the resistor, the striped electrodes intersecting each other and facing each other on the inside. An input device characterized in that resistance is corrected by providing a cut in the longitudinal direction of a resistor.
JP60227376A 1985-10-11 1985-10-11 input device Pending JPS6286422A (en)

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