JPS626514Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、タンデム式の引張試験装置におけ
る負荷機構に関するものであり、特に、タンデム
式に設置された複数個の試験片に対して、順次連
続的に引張試験荷重を負荷して、複数個の試験片
の個々のデータを試験測定し得るように成したタ
ンデム式引張試験装置における負荷機構に関する
ものである。

タンデム式引張試験装置とは、縦方向の軸線に
沿つて所定間隔をおいて複数個の試験片を設置し
ておき、これらの各試験片にそれぞれ軸線に沿つ
た引張荷重を負荷して、複数個の試験片に対して
連続的に引張試験を行うようにした引張試験装置
であり、たとえば高温クリープ試験や、高温高圧
水中環境下のオートクレーブ中内での腐食強度試
験においてきわめて効果的に適用されているもの
である。

従来のタンデム式引張試験装置は、第１図に示
す通りの負荷機構によつて構成されているもので
ある。この負荷機構は、基本的には、軸線に沿つ
て相対的に変位可能な一対のプルロツド２５，２
６と、試験片Ｔの数に応じた複数個の負荷枠組立
体２７とを備えた構成のものである。例示的に示
す三連式の負荷機構によれば、前記一方のプルロ
ツド２５は、つかみ具２８、連結ピン２９、およ
びアダプタ３０を介して試験片Ｔの一端Taに連
結されている。前記試験片Ｔの他端Tbは、アダ
プタ３１、連結ピン３２、連結板３３、連結ピン
３４、およびアダプタ３５を介して第２番目の試
験片Ｔの一端Taに連結されている。前記第２番
目の試験片Ｔの他端Tbは、上記すると同様にア
ダプタ３６、連結ピン３７、連結板３８、連結ピ
ン３９、およびアダプタ４０を介して第３番目の
試験片Ｔの一端Taに連結されている。前記第３
番目の試験片Ｔの他端Tbは、アダプタ４１、連
結ピン４２、およびつかみ具４３を介して他方の
プルロツド２６に連結されている。複数個の試験
片の数に応じた負荷枠組立体２７，２７，２７
は、それぞれその一端２７ａ，２７ａ，２７ａが
前記連結ピン２９，３４，３９に連結されてい
て、他端２７ｂ，２７ｂ，２７ｂが各試験片のあ
らかじめ定めた伸び量に相当する間隙S₁を有する
ようにして、前記連結ピン３２，３７，４２に連
結されている。この構成において、一対のプルロ
ツド２５，２６を相対的に変化させた際、一つの
試験片があらかじめ定めた伸び量に達して破断し
たとしても、当該負荷枠組立体を介して一対のプ
ルロツド間の連結は保たれ、他の試験片への引張
荷重が解除されないようになつている。このよう
な構成に成る従来のタンデム式引張試験装置にお
ける負荷機構によれば、一対のプルロツドを相対
的に変位させると、各試験片に同時に同一の引張
荷重が負荷されるため、トータル的な伸び量が測
定されるものであり、そのトータル伸び量にもと
づいて、個々の試験片の伸び量を換算判断しなけ
ればならず、個々の試験片に対する測定精度に問
題を有していた。一方、第１図に示すような構成
において、負荷枠組立体を用いない装置において
は、その都度試験を中断して新しい試験片を装着
しなければならず非能率的であつた。

この考案の目的は、タンデム式引張試験装置に
おける新規な負荷機構を提供することにあり、特
に、一対のプルロツドの相対的変位による引張荷
重を複数個の試験片に対して、順次連続的に負荷
させるようにして、試験片個々の引張試験データ
を精確に測定しようとするものである。

この考案は、上記する目的を達成するにあたつ
て、具体的には、軸線に沿つて相対的に変位する
一対のプルロツドと、前記一対のプルロツドに対
して各一端がそれぞれ連結支持された一対の負荷
枠組立体とを備えている。各試験片の一端は、前
記一方のプルロツドに連結された前記一方の負荷
枠組立体にそれぞれ連結されるようになつてい
る。一方前記試験片の他端は、前記他方のプルロ
ツドに連結された前記他方の負荷枠組立体を介し
て、前記他方のプルロツド側から順次少なくとも
前記試験片のあらかじめ定められた試験伸び量の
累積量に相当する移動許容間隙をもつて、それぞ
れ連結されるようになつている。このように構成
して、一対のプルロツドを相対的に変位させ、軸
線に沿つて設置した複数個の試験片に順次連続的
に引張荷重を負荷するようにしたタンデム式引張
試験装置における負荷機構である。

以下、この考案にかかるタンデム式引張試験装
置における負荷機構について、図面に示す具体的
な実施例にもとづいて詳細に説明する。

第２図、および第３図は、この考案のタンデム
式引張試験装置における負荷機構について例示的
に挙げる三連式の異なる二つの実施例を概略的に
示すものである。第２図に示す実施例における負
荷機構は、下方に設置した試験片から上方に設置
した試験片に向けて順次連続的に引張荷重を負荷
するように構成したものである。この負荷機構
は、一対のプルロツド１，２と、この一対のプル
ロツド１，２に対して各一端３ａ，４ａが連結支
持された一対の負荷枠組立体３，４とを備えてい
る。より具体的には、一方の負荷枠組立体３は、
一方のプルロツド１に対して、つかみ具５、およ
び連結ピン６を介して連結支持された一組のバー
部材７，８から成り、他方の負荷枠組立体４は、
他方のプルロツド２に対して、つかみ具９、およ
び連結ピン１０を介して連結支持された一組のバ
ー部材１１，１２によつて構成されている。前記
負荷枠組立体３，４は、第４図ＡおよびＢに示す
ように互いに干渉し合わないような態様において
組み立てられている。前記一方の負荷枠組立体３
は、前記連結ピン６に対して所定の間隔をおいて
連結ピン１３、および１４を備えている。前記各
連結ピン６，１３，１４には、それぞれ三つの試
験片Ｔの各一端Taを連結支持するためのアダプ
タ１５，１６，１７が取付けられるようになつて
いる。すなわち、前記試験片Ｔの一端Taは、ア
ダプタ１５，１６，１７、および連結ピン６，１
３，１４を介して、負荷枠組立体３に連結されて
いて、つかみ具５を介して一方のプルロツド１に
連結されている。他方の負荷枠組立体４は、前記
連結ピン１０に対して所定の間隔をおいて連結ピ
ン１８、および１９を備えている。前記連結ピン
１０，１８，１９には、それぞれ三つの試験片Ｔ
の各他端Tbを連結支持するためのアダプタ２
０，２１，２２が取付けられるようになつてい
る。前記負荷枠組立体４に対して、前記連結ピン
１０は、定点で固定されている。一方、前記負荷
枠組立体４に対する連結ピン１８は、前記バー部
材１１，１２に設けた長孔２３，２３内に挿通さ
れた状態で支持されている。前記長孔２３，２３
の長さ方向の寸法S₁は、第２図に示す例におい
て、最初に試験される最下段の試験片Ｔのあらか
じめ定められた試験伸び量に相当するものであ
り、前記最下段の試験片の引張試験期間中におけ
る移動許容間隙として作用する。また、前記負荷
枠組立体４に対する連結ピン１９は、前記バー部
材１１，１２に設けた長孔２４，２４内に挿通さ
れた状態で支持されている。前記長孔２４，２４
の長さ方向の寸法S₂は、第２図に示す例におい
て、最初に試験される最下段の試験片Ｔ、および
二番目に試験される中央の試験片Ｔのあらかじめ
定められた累積伸び量に相当するものであり、両
者の引張試験期間中における移動許容間隙として
作用する。この実施例の場合、前記間隙の寸法S₁
とS₂とは、概してS₂＝2S₁の関係にある。

第２図Ｂは、最初に試験される最下段の試験片
に対する引張試験が終了して、第２番目に試験さ
れる中央の試験片に対して引張荷重が負荷されて
いる態様を略示的に示すものである。

一方、第３図に示す実施例は、上方に設置した
試験片から下方に設置した試験片に向けて順次連
続的に引張荷重を負荷するように構成した負荷機
構を示すものである。この負荷機構は、第２図に
示す実施例のものを、まつたく上下逆転した構造
によつて構成されるものにすぎない。この考案の
負荷機構において、一対の負荷枠組立体３，４
は、そのうちのいずれが内側をとつても同一の作
用を得ることが第２図Ａおよび第３図の比較にお
いて明らかにされるものである。したがつて第３
図には、第２図Ａに対応する符号が付してあり、
その詳細な説明については省略する。

以上の構成に成るこの考案のタンデム式引張試
験装置における負荷機構によれば、プルロツドを
相対的に変位させることにより、設置された複数
個の試験片に対して、順次連続的に引張荷重を負
荷することができ、個々の試験片の伸び量を、た
とえば炉外またはオートクレーブ外へ導びかれた
移動プルロツドの移動量によつて精確に測定する
ことができる。また、各試験片が、それぞれ異な
つた大きさのものであつても、移動許容間隙を、
あらかじめ適当に決めておけば、引張荷重も試験
片毎に変化させて試験することができる。尚、こ
の考案は、三連タンデム式の構成を具体例として
詳述するものであるが、その他複数連タンデムも
同様に中断することなく、順次連続して試験する
ことができるタンデム式引張試験装置における負
荷機構を得るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来のタンデム式引張試験装置にお
ける負荷機構の一例を示す概略的な側断面図、第
２図ＡおよびＢは、この考案になるタンデム式引
張試験装置における負荷機構の具体例を示すもの
であつて、試験片の設置状態、および第１の試験
片の試験終了時をそれぞれ示す側断面図、第３図
は、他の実施例を示す第２図と同様の側断面図、
第４図ＡおよびＢは、負荷枠組立体の組立態様の
異なつた例を示す第２図における−線位置に
対応する断面図である。 １，２……プルロツド、３……一方の負荷枠組
立体、４……他方の負荷枠組立体、３ａ，４ａ…
…各負荷枠組立体の一端、６，１３，１４……連
結ピン、１０，１８，１９……連結ピン、Ｔ……
試験片、Ta……試験片の一端、Tb……試験片の
他端。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 縦方向の軸線に沿つて複数個の試験片を設置
   し、前記各試験片にそれぞれ軸線に沿つた引張荷
   重を負荷するタンデム式引張試験装置において、 一対のプルロツドと、 前記一対のプルロツドに対して各一端がそれぞ
   れ連結支持された一対の負荷枠組立体とを備え、 前記各試験片の一端を、前記一方のプルロツド
   に連結された前記一方の負荷枠組立体を介してそ
   れぞれ連結するとともに、各試験片の他端を、前
   記他方のプルロツドに連結された前記他方の負荷
   枠組立体を介して、前記他方のプルロツド側から
   順次少なくとも前記試験片のあらかじめ定められ
   た試験伸び量の累積量に相当する移動許容間隔を
   もつてそれぞれ連結して成り、 前記一対のプルロツドを相対的に変位させて、
   前記複数個の試験片に順次連続的に引張荷重を負
   荷するようにしたことを特徴とするタンデム式引
   張試験装置における負荷機構。