JPS6242380B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6242380B2
JPS6242380B2 JP6821582A JP6821582A JPS6242380B2 JP S6242380 B2 JPS6242380 B2 JP S6242380B2 JP 6821582 A JP6821582 A JP 6821582A JP 6821582 A JP6821582 A JP 6821582A JP S6242380 B2 JPS6242380 B2 JP S6242380B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor substrate
transfer
guide rail
boat
cassette
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP6821582A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58182846A (ja
Inventor
Yoichi Mido
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP6821582A priority Critical patent/JPS58182846A/ja
Publication of JPS58182846A publication Critical patent/JPS58182846A/ja
Publication of JPS6242380B2 publication Critical patent/JPS6242380B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67778Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、半導体基板を収納するカセツト
と、拡散炉でこの半導体基板の熱処理板の熱処理
用治具として使用されるボート間における半導体
基板の移替え作業を自動的に行わせるようにした
装置に関するものである。
第1図はこの発明の基板収納用カセツトの斜視
図で、1は半導体基板、2は多数の前記半導体基
板1を等間隔の並立状態に収納するカセツトで、
例えば数10枚の半導体基板1が対向内壁面に凹設
した等間隔の収納溝2a内に並立状態に収納され
る。
第2図は拡散炉内で使用される熱処理用ボート
(以下単にボートという)3の斜視図で、上記と
同様に半導体基板1が数10枚並立状態に収納する
ために等間隔の収納溝3aが上面に凹設されてい
る。
従来、この種カセツト2からボート3間への半
導体基板1の移替え作業は、エアピンセツトを使
用して手作業で行われていた。しかし、このよう
な手作業による移替え方式は、作業者から出るほ
こりの影響を直接受けて、その歩留り低下につな
がるとともに作業性が悪く、かつ移替えに熟練を
要する等の欠点があつた。
この発明は、上記の欠点を除去するためになさ
れたもので、カセツトからボート間への半導体基
板の移替え作業を自動的に行うことにより、当該
半導体基板の清浄度を維持するとともに、その作
業性の向上を図つたものである。以下、この発明
の一実施例を第3図〜第5図に基づいて説明す
る。
これらの図において、4は前記カセツト2内の
並立状態の半導体基板1を押出す押出しアーム
で、先端にはV溝ローラ6が回転可能に取付けら
れ、他端の支軸5を支点として半導体基板1の送
り方向に対し前後に揺動運動を行う。7はこの押
出しアーム4の揺動駆動装置、8は前記半導体基
板1の移送案内レールで第1の移送手段となるも
のであり、第4図に示すようにそれぞれ山形に湾
曲された上部レール8aと下部レール8bが一対
となり、レール取付板10に山形を上にして上下
に所定間隔で固定されている。
そして、この移送案内レール8は、カセツト2
からボート3への半導体基板1の移替え用に使用
されるものであるが、普通、未拡散の半導体基板
1aの清浄度は高く、したがつてこの未拡散の半
導体基板1aの移送案内レール8の各挾持溝11
は汚染される心配がないため、拡散炉の半導体基
板1を収容する各チユーブに対し共通の1個所に
設けられている。
一方、移送案内レール8の一側に併設され、上
下一対をなす同様の山形の移送案内レール9は上
記の場合とは逆にボート3からカセツト2への拡
散済みの半導体基板1bの移替え用に使用される
もので、第2の移送手段となるものであり、この
拡散済みの半導体基板1b、特にリン拡散半導体
基板1bが当該移送案内レール9の挾持溝11を
通過する際、リン化合物がその挾持溝11の表面
に固着し易い。したがつて、これらの移送案内レ
ール9を拡散炉の各チユーブに対して共用される
ようにこれを1個所に設けた場合には、他の拡散
処理(酸化膜生成等)を行つた半導体基板1bが
同一レール9a,9b内を通過することになり、
その場合当該挾持溝11に付着している前記リン
化合物で汚染される等の不都合が生じる。
このような理由によつて、移送案内レール9は
拡散炉のチユーブ数に対応して付設し、常に同一
処理の拡散済みの半導体基板1bのみを同一移送
案内レール9で移送させて当該拡散済みの半導体
基板1bの清浄度を維持させるようにしている。
また、12は前記カセツト2の反対側に設けた
スライダで往復直線運動を行い、その先端に取付
けられたV溝ローラ6により移送案内レール8か
ら降下し、ボート3に向う未拡散の半導体基板1
aの受止め作用を行うようになつている。13は
スライダ駆動装置である。そして、このスライダ
駆動装置13は、移送案内レール8に対応するも
のと、移送案内レール9に対応するものが、ボー
ト送り15に支持板14を介して取付けられてい
る。20は前記ボート3を載置するボート受け
で、前記ボート送り15上に取付けた滑走路17
上を、ボート送り15から突出させたピン16に
よつて当該ボート3に凹設された収納溝3a(第
2図)相互間のピツチに対応したピツチで、第3
図において、例えば手前側にインデツクス送りさ
れるようになつている。19は前記カセツト2を
つかむチヤツクで、カセツト送り18により、第
3図で示す角度θだけの上下の揺動運動および前
記カセツト2の収納溝2aのピツチに応じてイン
デツクス送りされるようになつている。
次にこの発明の装置の一実施例の動作について
説明する。
まず、カセツト2からボート3に未拡散の半導
体基板1aを移替える場合、第3図の一点鎖線の
状態に置かれたカセツト2は、カセツト送り18
のチヤツク19により、第3図の実線で示す位置
まで持上げられ、移送案内レール8の挾持溝11
に対しカセツト2の最初の収納溝2aが合致する
所まで送られ、この状態から押出しアーム4と移
送案内レール8に対応させた反対側の前記スライ
ダ12をそれぞれその始動点BおよびDからほゞ
同時に移送案内レール8側に向けて前進させる。
この押出しアーム4の前進によりカセツト2内の
未拡散の半導体基板1aは、支軸5を支点に揺動
運動する押出しアーム4の先端のV溝ローラ6に
より移送案内レール8内に押込まれ、当該V溝ロ
ーラ6が図示の停止点Cの位置までくると、当該
半導体基板1aの重心Gは、この移送案内レール
8の山形の湾曲頂点を越えて反対側のボート3側
に向つて降下することになる。
一方、押出しアーム4のV溝ローラ6が上記の
停止点C位置まで到達した時点では、スライダ1
2のV溝ローラ6は始動点D位置から動作終点E
に到達して移送案内レール8内を降下する当該半
導体基板1aを受止める態勢になつている。この
状態を示すのが第5図である。
その後、この状態から押出しアーム4およびス
ライダ12は、それぞれ最初の始動点BおよびD
に向つて戻り始め、これに伴つて半導体基板1a
は移送案内レール8内をスライダ12の先端のV
溝ローラ6で受止められながら降下して、例えば
空のボート3の最初の収納溝3a内に移替えられ
る。
このようにして、押出しアーム4とスライダ1
2がそれぞれ最初の位置に戻ると、前記カセツト
2はカセツト送り18により、また、ボート3は
ボート送り15によりそれぞれ次の収納溝2a,
3aまでともにインデツクス送りされて、次の未
拡散の半導体基板1aの移替えを前記移送案内レ
ール8を利用して上記同様の順序で繰返し行わ
れ、カセツト内の未拡散の半導体基板1aがすべ
てボート3内に移替えられるものである。
次にボート3からカセツト2へ拡散済の半導体
基板1bを移替える場合、所定の拡散処理を完了
した多数の半導体基板1bを並立させたボート3
と半導体基板1bの全く入つていない空のカセツ
ト2は、各々の収納溝2a,3aが拡散炉のチユ
ーブに対応する各移送案内レール9の挾持溝11
を合致させる位置までこれらをボート送り15と
カセツト送り18でそれぞれ並立状態で送る。
その後、この状態からボート3上の拡散済みの
半導体基板1bを端から順に上記同様のスライダ
12のV溝ローラ6により、それぞれの各列の移
送案内レール9を経て上記した空のカセツト2内
へ送込む。つまり、スライダ12のV溝ローラ6
が始動点Dから動作終点Eまで前進すると、これ
により押された拡散済みの半導体基板1bは、移
送案内レール9の挾持溝11に沿つて送り出さ
れ、V溝ローラ6の動作終点E位置で当該半導体
基板1bの重心Gがそれぞれ移送案内レール9の
湾曲頂点を越すように、そのときの動作スライダ
12の終点位置Eを設定すれば、拡散済みの半導
体基板1bは移送案内レール9の下り勾配を下降
して自動的に空のカセツト2内に移替えられる。
なお、この際において、スライダ12のV溝ロ
ーラ6が始動点Dに戻ると、その間に前記ボート
3とカセツト2はそれぞれ次の収納溝までインデ
ツクス移送されて、再びスライダ12のV溝ロー
ラ6により次の半導体基板1bの移替え動作が繰
り返し行われるようになつていることは上記の場
合と同様である。
以上説明したように、この発明の移替え装置
は、カセツトからボートへ未拡散の半導体基板を
1枚ずつ移替える各未拡散の半導体基板に共通な
1個所に設けられた第1の移送手段と、ボート上
からカセツトへ拡散済み半導体基板を1枚ずつ移
替えるために拡散処理の種類に対応して複数個所
に設けられた第2の移送手段とを有するので、各
半導体基板の移替えが汚損を伴う人手によらず自
動的に行うことができ、これにより作業性の向上
を図ることができる。また、未拡散の半導体基板
と拡散済みの半導体基板とは別個の第1、第2の
移送手段とし、しかも未拡散の半導体基板の第1
の移送手段は共通としたので、装置が小型化で
き、また、拡散済み半導体基板の第2の移送手段
は拡散処理の種類に対応して複数個所に設けられ
ているので、拡散による不純物の汚染がなく、各
半導体基板ごとの清浄度維持が確保され、これに
よる歩留りの向上と省力化が期待できる利点があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明における基板収納用カセツト
の斜視図、第2図は同じく熱処理用ボートの斜視
図、第3図はこの発明の装置の一実施例を示す正
面図、第4図は第3図の−線個所を矢印A方
向から見た各移送案内レールの断面図、第5図は
半導体基板の移送途中の状態を示す平面図であ
る。 図中、1aは未拡散の半導体基板、1bは拡散
済の半導体基板、2はカセツト、2a,3aは収
納溝、3は熱処理用ボート、4は押出しアーム、
8,9は移送案内レール、12はスライダであ
る。なお、図中の同一符号は同一または相当部分
を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 カセツトとボートとの相互間で半導体基板を
    1枚ずつ移替える装置において、前記カセツトか
    ら前記ボートへ未拡散の半導体基板を1枚ずつ移
    替える前記各未拡散の半導体基板に共通な1個所
    に設けられた第1の移送手段と、前記ボート上か
    ら前記カセツトへ拡散済み半導体基板を1枚ずつ
    移替えるために、拡散処理の種類に対応して複数
    個所に設けられた第2の移送手段とを有すること
    を特徴とする半導体基板の移替え装置。 2 未拡散の半導体基板を移替える第1の移送手
    段は、半導体基板を上下からはさむように設けた
    山形に湾曲させた移送案内レールと、この移送案
    内レールに臨むように所定角度傾転されるカセツ
    トの底面開口部から前記半導体基板を押出し揺動
    するアームと、前記移送案内レールの湾曲頂点を
    越えて自然落下状態の前記半導体基板を受けなが
    らボートに1枚ずつ並列して載置させる往復同す
    るスライダとで構成されたことを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の半導体基板の移替え装
    置。 3 未拡散の半導体基板を移替える第2の移送手
    段は、いずれも半導体基板を上下からはさむよう
    に設けた山形に湾曲させた移送案内レールと、こ
    のボート上の前記半導体基板を押上げて前記移送
    案内レールを介してカセツトに収納させる往復同
    するスライダとで構成されたことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の半導体基板の移替え装
    置。
JP6821582A 1982-04-21 1982-04-21 半導体基板の移替え装置 Granted JPS58182846A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6821582A JPS58182846A (ja) 1982-04-21 1982-04-21 半導体基板の移替え装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6821582A JPS58182846A (ja) 1982-04-21 1982-04-21 半導体基板の移替え装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58182846A JPS58182846A (ja) 1983-10-25
JPS6242380B2 true JPS6242380B2 (ja) 1987-09-08

Family

ID=13367347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6821582A Granted JPS58182846A (ja) 1982-04-21 1982-04-21 半導体基板の移替え装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58182846A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02108481U (ja) * 1989-02-16 1990-08-29

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61247047A (ja) * 1985-04-24 1986-11-04 Mitsubishi Electric Corp 円板状部材の整列装置
US4806057A (en) * 1986-04-22 1989-02-21 Motion Manufacturing, Inc. Automatic wafer loading method and apparatus
US5098744A (en) * 1987-06-18 1992-03-24 Viking Corp. Method for cleaning metallic wheels
US5291696A (en) * 1987-06-18 1994-03-08 Viking Corp. Apparatus for cleaning metallic wheels
US5255792A (en) * 1990-10-22 1993-10-26 Hmt Technology Corporation Method and apparatus for sorting disks depending upon their thickness
US5387067A (en) * 1993-01-14 1995-02-07 Applied Materials, Inc. Direct load/unload semiconductor wafer cassette apparatus and transfer system
FR2778496B1 (fr) 1998-05-05 2002-04-19 Recif Sa Procede et dispositif de changement de position d'une plaque de semi-conducteur
FR2835337B1 (fr) 2002-01-29 2004-08-20 Recif Sa Procede et dispositif d'identification de caracteres inscrits sur une plaque de semi-conducteur comportant au moins une marque d'orientation

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02108481U (ja) * 1989-02-16 1990-08-29

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58182846A (ja) 1983-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6722840B2 (en) Wafer ring supplying and returning apparatus
JPS6242380B2 (ja)
TW200416188A (en) Device and method for transporting wafer-shaped articles
JPH0964148A (ja) ウェーハリングの供給・返送装置
JP3198401B2 (ja) ウェーハリングの供給・返送装置
EP3983172B1 (de) Einrichtung und verfahren zum polieren von halbleiterscheiben
JP2890337B2 (ja) 板状部材の処理装置
JPS62175324A (ja) リ−ドフレ−ムの供給・排出装置
JPS6157251B2 (ja)
JP2543741B2 (ja) マガジン移送装置
JPS58108641A (ja) ウエハ自動交換装置
JPH0354467B2 (ja)
JPS59229826A (ja) リ−ドフレ−ムに対する半導体ペレツトの供給装置
JPH0897268A (ja) カセットステージ
JPH0550130B2 (ja)
JPH064586Y2 (ja) ウエハー移し替え装置
JPS58215052A (ja) ウエハ−収納治具
JP2550553Y2 (ja) 表面処理装置のウエハ移替装置
JPH06105745B2 (ja) ウェ−ハ移替装置
JP3070202B2 (ja) ウェーハ移し替え装置
JPH09237822A (ja) ディスク搬送装置
JPS59198219A (ja) ワ−ク搬送装置
JP2640750B2 (ja) 縦型熱処理装置用移送装置
JPH0255340B2 (ja)
JPH0249718Y2 (ja)