JPS62294320A - Logic circuit - Google Patents

Logic circuit

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JPS62294320A
JPS62294320A JP61137987A JP13798786A JPS62294320A JP S62294320 A JPS62294320 A JP S62294320A JP 61137987 A JP61137987 A JP 61137987A JP 13798786 A JP13798786 A JP 13798786A JP S62294320 A JPS62294320 A JP S62294320A
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JP
Japan
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gate
stage
delay time
stage gate
post
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JP61137987A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuaki Itsunoi
五ノ井 克明
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Sony Corp
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Sony Corp
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Abstract

PURPOSE:To attain the timing control with high accuracy in response to the request for the high speed operation by constituting a delay circuit of a resistive component arranged between an output of a pre-stage gate and an input of a post-stage gate and a capacitive component of the post-stage gate so as to control the timing between an input signal and an output signal. CONSTITUTION:Since RC transient phenomenon takes place by the resistive component arranged between the output of the pre-stage gate and the input of the post-stage gate and the capacitive component of the post-stage gate, a delay time larger than a delay time gammapd specific to the pre-stage and the post-stage gates is obtained. In forming, e.g., the resistive component as a variable component, the delay time is varied optionally. That is, as the resistive component, the resistive comonent of a transfer gate 1 arranged between the pre-stage gate and the post-stage gate 2 is used and the resistive component of the transfer gate 1 is formed as a variable component. Thus, a desired delay time is formed and the timing control with high accuracy is attained.

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 A、産業上の利用分野 本発明は、入力信号と出力信号のタイミングを制御する
ための論理回路に関し、特にG a A 5−IC等の
高速処理を行う回路に適用して好適な論理回路に関する
Detailed Description of the Invention 3. Detailed Description of the Invention A. Field of Industrial Application The present invention relates to a logic circuit for controlling the timing of input signals and output signals, and in particular to a logic circuit such as a G a A 5-IC. The present invention relates to a logic circuit suitable for application to a circuit that performs high-speed processing.

B0発明の概要 本発明は、入力信号と出力信号のタイミングを制御する
論理回路において、前段ゲートの出力と後段ゲートの入
力との間に配した抵(ん成分と−に記後段ゲートの容量
成分によって遅延回路を構成させることにより、高精度
のタイミングtlill ?I11を実現するものであ
る。
B0 Summary of the Invention The present invention provides a logic circuit that controls the timing of an input signal and an output signal, in which a resistor component disposed between the output of a front-stage gate and an input of a rear-stage gate and a capacitance component of the rear-stage gate as described in -. By configuring a delay circuit according to the following, highly accurate timing tllll?I11 can be realized.

C1従来の技術 一般に、インバータ回路等により構成される論理回路が
、信号のタイミング制御のため等に用いられる場合があ
る。
C1 Prior Art In general, a logic circuit constituted by an inverter circuit or the like is sometimes used for signal timing control.

第3図は、従来の一例として、インバータ回路として機
能するB F L回路(Buffered FliT 
1o8ic)を2段直列接続した回路であって、FET
(電界効果型トランジスタ)31.32.33.34及
びダイオード35により前段の1”! F 1.、回路
が構成され、容量36を間に接続さセてF F=: l
’ 37.38.39.41及びダイオード40により
なる後段のBFL回路が構成されている。
FIG. 3 shows a conventional example of a BFL circuit (Buffered FLIT) that functions as an inverter circuit.
It is a circuit in which two stages of FETs (1o8ic) are connected in series, and
(Field effect transistor) 31, 32, 33, 34 and diode 35 constitute the 1”!
' 37, 38, 39, 41 and a diode 40 constitute a subsequent BFL circuit.

このような回路構成の論理回路・は、第4図に示すよう
に、矩形波信号である入力4j’; 7j−V i n
 l′り・11゜て、一段当たりの遅延時間をτ94と
して、およそ2τ94の遅延が生じることになる。
As shown in FIG. 4, the logic circuit having such a circuit configuration has an input 4j' which is a rectangular wave signal;
If l' is 11 degrees and the delay time per stage is τ94, a delay of approximately 2τ94 will occur.

D0発明が解決しようとする問題点 このような従来の回路においては、その設計段階で各信
号のタイミングを制御するために、通常シミュレーショ
ンによりその動作を確認し、必要ならば新たなインバー
タ回路を付加してタイミングの調整を図っている。
D0 Problems that the invention aims to solve In conventional circuits like this, in order to control the timing of each signal at the design stage, its operation is usually confirmed through simulation, and if necessary, a new inverter circuit is added. We are trying to adjust the timing.

しかしながら、現実に製造された回路においては、プロ
セス上の問題等から、必ずしも設計値通りの素子は全て
に得られるものではなく、タイミングのずれを生ずるこ
とがある。また、付加したインバータ回路によっては電
力も消費される。
However, in actually manufactured circuits, it is not always possible to obtain elements that meet the designed values due to process problems and the like, and timing deviations may occur. Furthermore, depending on the added inverter circuit, power is also consumed.

また、GaAs−IC等の回路を構成する素子の高性能
化が進展し、例えば5〜10GHzの高周波信号を取り
扱うような高速の処理回路にあっては、その制御すべき
タイミングとして微妙なものが要求され、仮に制御すべ
きタイミングがずれた場合には、そのずれの割合は従前
の回路と比較して大きいものとなる。
In addition, as the performance of elements constituting circuits such as GaAs-ICs continues to improve, the timing of high-speed processing circuits that handle high-frequency signals of 5 to 10 GHz, for example, has become delicate. If the required timing to be controlled deviates, the proportion of the deviation will be large compared to the conventional circuit.

そこで、本発明は上述の問題点に鑑み、高速動作の要求
に相応して、高精度のタイミング制御を実現する論理回
路の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned problems, it is an object of the present invention to provide a logic circuit that realizes highly accurate timing control in response to the demand for high-speed operation.

E0問題点を解決するための手段 本発明は、前段ゲートの出力と後段ゲートの入力との間
に配した抵抗成分と上記後段ゲートの容量成分によって
遅延回路を構成し、入力信号と出力信号のタイミングを
制御することを特徴とする論理回路により上述の問題点
を解決する。
Means for Solving the E0 Problem The present invention configures a delay circuit by a resistance component placed between the output of the front-stage gate and the input of the rear-stage gate and a capacitance component of the rear-stage gate, and The above-mentioned problems are solved by a logic circuit characterized by timing control.

ここで上記抵抗成分は、固定的な抵抗成分に限定されず
、可変抵抗成分であっても良い。
Here, the resistance component is not limited to a fixed resistance component, but may be a variable resistance component.

F3作用 本発明の論理回路は、前段ケートの出力と後段ゲートの
入力との間に配した抵抗成分と後段ゲートの容量成分に
よって、RC過渡現象が生ずるため、上記前段ゲートと
上記後段ゲートの固有の遅延時間τp4より大きい遅延
時間を得ることができそして、例えば抵抗成分を可変な
ものとしたと” きには、その遅延時間を任意のものに
することができ、その抵抗成分の制御により高速動作の
要求に相応した高精度のタイミング制御を実現すること
ができる。
F3 action In the logic circuit of the present invention, an RC transient phenomenon occurs due to the resistance component placed between the output of the front gate and the input of the rear gate, and the capacitance component of the rear gate. If a delay time larger than the delay time τp4 of Highly accurate timing control that meets operational requirements can be achieved.

G、実施例 本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明する。G. Example Preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

本実施例は、抵抗成分として前段ゲートと後段ゲートの
間に配されるトランスファゲート1の抵抗成分を用い、
このトランスファゲート1の抵抗成分を可変とすること
から、所要の遅延時間を形成し、高精度のタイミング制
御を実現するものである。
In this embodiment, the resistance component of the transfer gate 1 disposed between the front-stage gate and the rear-stage gate is used as the resistance component.
Since the resistance component of the transfer gate 1 is made variable, a required delay time is formed and highly accurate timing control is realized.

先ず、第1図に示すように、本実施例の論理回路は、イ
ンバータ回路として機能するBFL回路(Buffer
ed FET Logic)を2段直列接続した回路で
あって、前段及び後段ゲートの間には、可変抵抗成分を
供与するトランスファゲートlと、当該トランスファゲ
ート1を制御するための制御段が設けられている。
First, as shown in FIG. 1, the logic circuit of this embodiment is a BFL circuit (Buffer circuit) that functions as an inverter circuit.
It is a circuit in which two stages of ED FET Logic are connected in series, and a transfer gate l that provides a variable resistance component and a control stage for controlling the transfer gate 1 are provided between the front and rear gates. There is.

上記前段ゲートは、BFL回路構成となり、入力端子1
0がゲートに接続されるFETIIと能動負荷として機
能するFET12を有し、更に上記FE71112の中
点とゲートが接続されるFET13及び該FET13の
電源側と反対側の端子にダイオード15.15を介して
接続され能動負荷として機能するFET14を有して構
成されている。そして、上記ダイオード15とFET1
4の接続点から前段ゲートの出力がトランスファゲート
1の入力側のソース若しくはドレイン(以下、ソース・
ドレインという。)S/DIに供給される構造になって
いる。
The above-mentioned front stage gate has a BFL circuit configuration, and input terminal 1
0 is connected to the gate, and FET12 functions as an active load.FET13 is connected to the center point of the FE71112 and the gate is connected to the terminal opposite to the power supply side of the FET13 through a diode 15.15. The FET 14 is connected to the FET 14 and functions as an active load. Then, the diode 15 and FET1
The output of the previous stage gate is connected to the source or drain (hereinafter referred to as source/drain) of the input side of transfer gate 1 from the connection point of 4.
It's called a drain. ) is structured to be supplied to S/DI.

また、上記後段ゲートは、同様にB F L回路構成で
あって、後述するように可変抵抗成分を供与すべきトラ
ンスファゲート1の出力側であるソース・ドレインS/
D2がゲートに接続され該ゲートの容量が遅延動作の容
量成分となるFET2と、能動負荷として機能するFE
T17を有し、更に」1記F ET 2.17の中点と
ゲートが接続されるFI?、”F18及びgSFE−F
18(7)電源側と反対側の端子にダイオード19.1
9を介して接続し能動負イー行として機能するFE”F
20を有して構成されている。そして、出力端子21は
ト記ダイオード19と上記F E T 20の接続点か
ら取り出されている。
Further, the latter gate has a BFL circuit configuration, and has a source/drain S/Drain circuit on the output side of the transfer gate 1 to which a variable resistance component is to be provided as described later.
FET2 whose gate is connected to D2 and whose gate capacitance becomes a delay operation capacitance component; and FE which functions as an active load.
FI? having T17 and further connecting the midpoint of FET 2.17 and the gate? ,”F18 and gSFE-F
18 (7) Diode 19.1 on the terminal opposite to the power supply side
FE"F which connects through 9 and functions as an active negative e line
20. The output terminal 21 is taken out from the connection point between the diode 19 and the FET 20 mentioned above.

そして、このような前段及び後段ゲートの間には、トラ
ンスファゲート1と、当8亥トランスファゲート1を制
御するための制御段が設けられている。先ず、」1記制
御段は、上記前段ケートを構成するFET13、ダイオ
ード15.15及びF” ET14と並列に配設されて
なるものであって、電源電圧と接地との間でF E T
 4、ダイオ−1−”6゜6及びFET3とからなり、
これらが直列に配されて構成されている。」−記F E
 T 4のゲートは、」1記FET1.3+7)ケート
と同様ニー1−記FETII、12の中点と接続され、
また、上記ダイオード6゜6と」1記FET3の接続点
に一ト記トランスフアゲー]・1のゲートG]が接続す
るように構成され゛(いる。そして、」1記F E T
3のゲートに目、当該ゲートと接続しない側に接地電圧
が与えられる抵抗7が接続されると共に、この制御段の
ダイオ−[6と当該FET3の接続点の電位を制御]1
するための即ち上記トランスファり一一ト1のゲートG
16、二供給する電イ☆を制御するための出力端子5が
接続されている。
A transfer gate 1 and a control stage for controlling the transfer gate 1 are provided between the front-stage and rear-stage gates. First, the control stage "1" is arranged in parallel with the FET 13, the diode 15.15, and the F"ET 14 constituting the previous stage circuit, and has an FET between the power supply voltage and the ground.
4. Consists of diode 1-''6゜6 and FET3,
These are arranged in series. ”-Note F E
The gate of T4 is connected to the midpoint of knee 1-FET II, 12, similar to FET 1.3+7).
Further, the gate G of 1 is connected to the connection point between the diode 6゜6 and the FET 3 of 1.
A resistor 7 to which a ground voltage is applied is connected to the gate of FET 3, and a resistor 7 to which a ground voltage is applied is connected to the side not connected to the gate, and a diode of this control stage [controls the potential at the connection point between 6 and the FET 3] 1
In other words, the gate G of the transfer gate 1 is
16.2 An output terminal 5 for controlling the supplied electricity is connected.

このような制御段は、トランスフアゲ−L 1のインピ
ーダンスを、上記Fl?:T3のゲートに上記出力端子
5を介して供給されるDC電圧VCIによって可変とし
、所要の値にそのインピーダンスヲ制御することができ
る。そして、更にこの制御段は、上記FET13、ダイ
オード15.15及びFET14と並列に配設されてい
るため、−1−1記ダイオード15と上記F E T 
14の接続点から取り出される一ト記I・ランスフアゲ
−1−1のソース・)レインS/DIの電位の変動と、
」L記ダイオ−1”6と上記FET3の接続点から取り
出される」−記トランスファケート1のゲートc′;1
の電位の変動とが、同様の挙動を示すことになる。この
ため常に、上記FET3のゲートに供給された電圧のみ
が反映されてトランスファゲートlのインピーダンスを
制御することになり、前段ゲートの電位の反転に伴うト
ランスファゲート1のケー]・G1とソース・ドレイン
S/D Iの相対的な変動は起こらず、当該トランスフ
ァゲート1のインピーダンスによって確実なタイミング
の制御が実現できる。
Such a control stage changes the impedance of the transfer game L1 to the above Fl? : It is made variable by the DC voltage VCI supplied to the gate of T3 via the output terminal 5, and its impedance can be controlled to a desired value. Further, this control stage is arranged in parallel with the FET 13, the diode 15.15, and the FET 14, so that the -1-1 diode 15 and the FET
Fluctuations in the potential of the source/rain S/DI of Itoki I/Transfer 1-1 taken out from the connection point of 14;
The gate c' of the transfer gate 1 is taken out from the connection point between the diode 1 and the FET 3;
A change in the potential of , will show similar behavior. For this reason, only the voltage supplied to the gate of FET 3 is always reflected to control the impedance of transfer gate 1, and when the potential of transfer gate 1 is reversed due to the inversion of the potential of the previous stage gate]・G1 and the source/drain No relative fluctuation of S/DI occurs, and reliable timing control can be realized by the impedance of the transfer gate 1.

なお、上記制御段の各素子の寸法は、上記F ET13
、ダイオード15.15及びFE’r14と略同じ寸法
であるか、或いは同様の比率で縮ノJい拡大したパター
ンで形成することができ、このようにすることで、確実
なトランスファケート1のインピーダンスの制御ができ
る。
Note that the dimensions of each element in the control stage are as follows:
, diode 15.15 and FE'r14, or can be formed in a contracted and expanded pattern with similar proportions, thereby ensuring that the impedance of transfer 1 is can be controlled.

上記トランスファゲート1は、」−記前段ゲートと上記
後段ゲートの間に介在して、その可変とされる抵抗成分
により、本論理回路の遅延時間を制御するものである。
The transfer gate 1 is interposed between the front-stage gate and the rear-stage gate, and controls the delay time of the logic circuit by its variable resistance component.

また、上述のよ・うに、トランスフアゲ−1・1のゲー
トG1は、前段ゲートの−・部と並列して形成される制
御段によって制御されるため、特に前段ゲートの出力電
圧の変動に際し7ても、その出力電圧に影響されて11
℃抗値が変動するものではない。遅延時間は、当該1ラ
ンスフアゲ−1・1の抵抗値と上述の後段ゲートのF 
E T 2のケート容量によって決定されるものである
。なお、このようなl・ランスフアゲ−1−11,1、
例えばデプリーション・モー1゛のFETであることが
好ましい。即ち、エンハンスメント・モードのF ET
では、ソースとゲートの電位が同型4I’iのときに、
当該トランスファケートが遮断状態となるからである。
In addition, as mentioned above, the gate G1 of the transfer gate 1.1 is controlled by the control stage formed in parallel with the - part of the previous stage gate, so especially when the output voltage of the previous stage gate fluctuates, the gate G1 of the transfer gate 1. However, due to the influence of the output voltage, 11
The temperature resistance value does not fluctuate. The delay time is determined by the resistance value of the relevant 1-lance gate and the F of the subsequent gate mentioned above.
It is determined by the cell capacity of E T 2. In addition, such l.
For example, a FET with a depletion mode of 1 is preferable. That is, enhancement mode FET
Then, when the source and gate potentials are the same type 4I'i,
This is because the transferate is in a blocked state.

また、トランスファゲート1のV、とし7ては、0.5
〜1.0■が適当とされる。
In addition, the V of transfer gate 1 and 7 are 0.5
~1.0■ is considered appropriate.

ここで、このような本実施例の論理回路の動イ1につい
て、第2図を参照しながら簡単に説明する。
Here, operation A1 of the logic circuit of this embodiment will be briefly explained with reference to FIG.

入力信号Vinが図示の如く矩形波をIRで1.記入両
端子10より供給されたものとすると、本実施例の論理
回路では、各段のゲートの遅延時間τpale二加えて
上記トランスファケート1乙こよる遅延時間τpa (
T G)が付加され、出力信号■。U、では合計2τp
d十τpa(TG)の遅延時間が得られることになる。
The input signal Vin is a rectangular wave with IR as shown in the figure. Assuming that the input is supplied from both input terminals 10, in the logic circuit of this embodiment, the delay time τpale2 of the gate of each stage plus the delay time τpa (
TG) is added, and the output signal ■. U, the total is 2τp
A delay time of d+τpa (TG) is obtained.

この遅延時間は、上述のように、上記FET3のゲート
に供給されるDC電圧VCLによって制御されるトラン
スファゲート1の可変な抵抗成分によって長時間或いは
短時間にすることができる。例えば、入力信号Vinに
対して、相補的なりロックを得る場合において、上記遅
延時間2τ2.+τpa(TG)では不十分であるとき
には、更に上記FET3のゲートに供給されるDC電圧
VCtを高くして、トランスファゲート1の電位を下げ
、その可変な抵抗成分を大きくすることでその遅延時間
を調整し、破線を以て示すように全く相補的な信号波形
(遅延時間2τ、、4+τpa(TGX))を得ること
ができる。
As described above, this delay time can be made long or short by the variable resistance component of the transfer gate 1, which is controlled by the DC voltage VCL supplied to the gate of the FET 3. For example, when obtaining a complementary lock with respect to the input signal Vin, the delay time 2τ2. When +τpa(TG) is insufficient, the delay time can be reduced by further increasing the DC voltage VCt supplied to the gate of FET 3, lowering the potential of transfer gate 1, and increasing its variable resistance component. By adjusting, a completely complementary signal waveform (delay time 2τ, 4+τpa (TGX)) can be obtained as shown by the broken line.

そして、更にこのような本実施例の論理回路の動作につ
いては、第1表に示すようなシミュレーションの結果が
得られている。
Furthermore, regarding the operation of the logic circuit of this embodiment, simulation results as shown in Table 1 have been obtained.

(以下、余白) 第1表 (Vct;FET3に供給されるDC電圧、1゜側;立
ち上がり側、t、側;立ち下がり側)この第1表に示す
ように、±0.5vの範囲でDC電圧VCtを変化させ
るのみで、立ち上がり側で290〜190 (PSEC
+ピコ・セカンド)の範囲に変化させることができ、例
えば10Gllzの信号を処理する場合では、その1周
期が100PSECであるため、十分に所要の遅延時間
を得ることができる。
(Hereinafter, blank space) Table 1 (Vct: DC voltage supplied to FET3, 1° side: rising side, t, side: falling side) As shown in this Table 1, in the range of ±0.5V. By simply changing the DC voltage VCt, the voltage on the rising side is 290 to 190 (PSEC
For example, when processing a signal of 10 Gllz, one period is 100 PSEC, so that a sufficient required delay time can be obtained.

なお、上述の実施例においては、抵抗成分に可明したが
、これに限定されず、固定的な抵抗成分を前段ゲートと
後段ゲートの間に配して、所定の遅延時間を得るような
論理回路であっても良い。
Note that in the above embodiments, the resistance component can be used, but the logic is not limited to this, and a fixed resistance component can be arranged between the front-stage gate and the rear-stage gate to obtain a predetermined delay time. It may be a circuit.

H0発明の効果 本発明は、前段ゲートの出力と後段ゲートの入力との間
に配した抵抗成分と後段ゲートの容量成分によって、R
C過渡現象が生ずるため、上記前段ゲートと上記後段ゲ
ートの固有の遅延時間τ、4より大きい遅延時間を得る
ことができ、その過渡現象の時定数を変化させることで
任意の遅延時間を得ることができる。
H0 Effects of the Invention The present invention provides R
Since a C transient phenomenon occurs, it is possible to obtain a delay time greater than 4, which is the inherent delay time τ of the preceding gate and the subsequent gate, and by changing the time constant of the transient phenomenon, an arbitrary delay time can be obtained. Can be done.

また、トランスファゲート等を用いて抵抗成分を可変な
ものとしたときには、制御段等に供給する信号によって
、遅延時間を制御することができ、高速動作の要求に相
応した高精度のタイミング制御を実現することができる
Additionally, when the resistance component is made variable using a transfer gate, etc., the delay time can be controlled by the signal supplied to the control stage, etc., achieving highly accurate timing control that meets the demands for high-speed operation. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の論理回路の一例を示す回rIδ図、変
なトランスファゲート1の抵抗成分を用いて説第2図は
その動作の一例を示す波形図、第3図は従来の論理回路
の一例を示す回路図、第4図はその従来の論理回路の動
作例を示す波形図である。 1・・・トランスファゲート 2・・・FET (後段ゲート) 3・・・FET(制御段) Gl・・・トランスファゲートのゲート電極時 許 出
 願 人  ソニー株式会社代理人   弁理士   
  小池 見間         田村榮−
Fig. 1 is a circuit rIδ diagram showing an example of the logic circuit of the present invention, Fig. 2 is a waveform diagram showing an example of its operation using the resistance component of the strange transfer gate 1, and Fig. 3 is a conventional logic circuit. FIG. 4 is a waveform diagram showing an example of the operation of the conventional logic circuit. 1...Transfer gate 2...FET (later gate) 3...FET (control stage) Gl...Gate electrode of transfer gate Applicant Sony Corporation agent Patent attorney
Koike Mima Sakae Tamura

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 前段ゲートの出力と後段ゲートの入力との間に配した抵
抗成分と上記後段ゲートの容量成分によって遅延回路を
構成し、入力信号と出力信号のタイミングを制御するこ
とを特徴とする論理回路。
A logic circuit characterized in that a delay circuit is configured by a resistance component placed between an output of a front-stage gate and an input of a rear-stage gate and a capacitance component of the rear-stage gate, and the timing of an input signal and an output signal is controlled.
JP61137987A 1986-06-13 1986-06-13 Logic circuit Pending JPS62294320A (en)

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