JPS62252394A - 半導体融解装置用黒鉛部材の製造方法 - Google Patents

半導体融解装置用黒鉛部材の製造方法

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JPS62252394A
JPS62252394A JP61092336A JP9233686A JPS62252394A JP S62252394 A JPS62252394 A JP S62252394A JP 61092336 A JP61092336 A JP 61092336A JP 9233686 A JP9233686 A JP 9233686A JP S62252394 A JPS62252394 A JP S62252394A
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graphite
graphite part
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glassy carbon
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Masahiko Nakajima
征彦 中島
Ryuichi Terasaki
寺崎 隆一
Yoichi Ogata
陽一 尾形
Shinsei Sato
佐藤 新世
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Denka Co Ltd
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Denki Kagaku Kogyo KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は半導体の単結晶化、精製など半導体を高温で
融解させて種々の処理を行なう装置に用いられる黒鉛部
材に関する。
(従来の技術とその問題点) 黒鉛轢耐熱衝隼性が大きく、熱伝導率が高く、1九棟々
の金挑と反応しにくい等のII#長があるので、半導体
単結晶引上げ装置、浮遊帯域#!融伝法半導体単結晶製
造装置・戸−ン精婁法半導体精製装軸などの素材として
広く用いられている。
しかしながら、黒鉛は表面からその粉末が離脱しやすい
という欠点がある。そのため、離脱した黒鉛の粉末が半
導体融解装置内に漂い、融解した半導体中に混入しがち
である。黒鉛中には微量ながら各種の金属が含まれてい
るため、半導体中に黒鉛が混入すると半導体の電気特性
が大きく変化するので、このような黒鉛粉末の混入は避
けなけれはならない。従来、使用する黒鉛の素材を緻密
化したp高純度化する゛ことが試みられているが、根本
的な解決には至っていない。
この発明は前記欠点をなくすること、すなわ翫表面から
黒鉛粉末が離脱することのない黒鉛部材を提供すること
を目的とする。
(問題点を解決する次めの手段) 本発明省らは前記目的を達成するために黒鉛部材の表面
被覆について棟々検討したところ、黒鉛部材の表面に有
機1合体の熱分解生成物からなるガラス状炭素による被
8にヲ施すことにより前記欠点が解消することを見出し
、本発WAt−完成するに至った。
すなわち、この発明は有機重合体の熱分解生成物からな
るガラス状炭素による被覆が施されたことt−特徴とす
る半導体融解装置用黒鉛部材である。
以下、この発明について詳しく説明する。
この発明で用いられる有機重合体は、塩化ビニル樹脂、
ポリビニルアルコール、油溶性フェノール樹脂、アルキ
ルフェノール樹脂、塩素化パラフィン、塩素化ポリゾロ
ピレン、酢酸ビニル樹脂またはポリカーボネート樹脂な
どである。とくに不純物の面から上記のうち塩化ビニル
樹脂が好ましい。
これら有機重合体の熱分解にはその種類を問わす粒状品
又は粉末を、不活性雰囲気例えばアルゴンガス中で20
0〜500℃で′50分以上加熱して行う。しかしなが
ら、完全には炭化させないことが好ましい。
この加熱の望ましい温度・時間は加熱装置および有機重
曾体のm類によって異なるが、分解生成物の炭素原子と
水素原子の重量比(以下CZH比という〕が結果的に0
.8〜1.5、好ましくは0.9〜1.2の範囲に入る
よう実験により定めればよい。
このようにして得られるピッチ状物質(以下、PCvI
J質という)に溶剤を加えて溶解させ、濃度200〜5
00g/lの溶液を作る。溶剤は溶解性の点から脂肪族
塩素系の溶剤が好ましい。不溶解物が残れはろ過して不
溶解物を取除く。とくに、ひび割れ防止効果を高めたい
場合には前記溶液に骨材として黒鉛、炭化珪素などの耐
熱性無機質粉末を配合することも好ましい。
前記溶液を黒鉛部材の表面に塗布する。黒鉛部材は市販
の密度1.7〜1.99/σ3の黒鉛ブロックを加工し
たものがよい。塗布の方法は超音波含浸、はけ塗り、ス
プレー、浸漬などである。塗布した後に比較的低温(5
0〜100℃ていど)で乾燥することが好ましい。
ついで、窒素、アルゴンなど不活性雰囲気下で800〜
1300℃で30分以上の加熱・焼成を行なって黒鉛部
材表面のPC物質をガラス化させる。
(実施例) 以下、実施例および比較例により説明する。
実施例 半導体融解装置として図面に示すチョクラルスキー法(
以下、C2法というン単結晶引上装置を用いた。図面に
おいて、ルツボ支持容器1(内径7811%肉厚25n
1高さ90u)、支持台2(直径30難、高さ30 m
 ) 、断熱筒3(直径150m、高さ200tg)お
よび引上げ回転軸先端部4(直径25W1長さ50fi
)を黒鉛ブロックの加工により作成した。すなわち、高
純度黒鉛(東洋炭素株式会社sIC−6)のブロックを
旋盤、フライス盤およびボール盤を用いて加工を行ない
、上記それぞれの部材を作成した。
塩化ビニル樹脂粉末(電気化学工業株式会社88−11
0)100#全容積1リツトルの石英フラスコに入れ、
窒素ガス雰囲気下390℃の温度で2時間加熱すること
によって塩化ビニル樹脂を熱分解させた。得られたPC
物質のC/H比はCHNコーダーによる測定の結果、1
.05であった。
PC物−5+[をボールミル(ポットの内壁およびポー
ルの表面はナイロンで被覆〕上用いて軽(粉砕し、直径
11冨ていどの粒子にした。この粒子をトリクレンに溶
解し、濃度3009/lの溶液にした。この溶液をナイ
ロン製はけを用いて前記黒鉛部材の表面に塗布した。乾
燥後の重量増加を測定し、PC物質の付着量が10〜/
 cm”になるまで塗布・莞燥會繰返した。
PC物質で被俊した各部材t−電気炉に入れ、窒素雰囲
気下1200’Cの温度で60分間加熱・焼Jli14
t−行なった。このようにして得られた各黒鉛部材を図
面に示すCZ法単結晶引上装置に組込んだ。
直径7511の石英ルツボ5で多結晶シリコン(小松電
子金属株式会社製の比抵抗100Ω・a以上保証品)′
t−融解し、シリコン単結晶6の引上げを行なった。徨
結晶7としては<100>方位のシリコンを用いた。シ
リコン融液8の温度1445℃、引上速度(Scrn/
hr、引上げ回転軸の回転数15RPM、ルツff回転
数S RPMの条件で直径25n5長さ約10cIIL
のシリコン単結晶の引上げ全5回行なった、 得られた単結晶の比抵抗を四探針法で測定した。
ついで炭素含有率1FT−IR法(ASTM F’−1
23に本拠、測定波長607.2カイず−)により定量
した。これらの測定値は表に示すとおり、比抵抗は引上
回数2回目から600・α以上でほぼ安定し、また、炭
素含有率は引上回数3回目から検出されなくなった。な
お、単結晶の比抵抗は全般的に原料多結晶の比抵抗より
低いが、これは、本実験に用いた石英ルツボからの汚染
によるものである。
比較例 ルツボ支持容器1、支持台2、断熱筒3および引上げ回
転軸先端部4の各黒鉛部材にはPC物質の被覆を行なわ
なかった。その外は実施例と同一方法、同一条件で単結
晶の引上げを行ない、得られた単結晶の比抵抗および炭
素含有率の測定を行なった。これらの測定値は表に示す
とおり、引上回数3回目までは比抵抗が600・ぼに達
せず、また、炭素の含有率は引上回数4回目まで検出さ
れた。
(発明の効果) 本発明の半導体融解装置用黒鉛部材はガラス状炭素によ
る被覆が施されており、黒鉛粉末が離脱することがない
ので、半導体を融解中に融液中に黒鉛粉末が混入するお
それがなく、半導体の品質を高く保つことができる。
【図面の簡単な説明】
図面はCZ法単結晶引上装置の縦断面図であり、本発明
の半導体融解装置用黒鉛部材の適用例を示すものである
。 符号1・・・ルツボ支持容器、2・・・支持台、3・・
・断熱筒、4・・・引上げ回転軸先端部、5・・・石英
ルツざ、6・・・シリコン単結晶、7・・・種結晶、8
・・・シリコン融液、9・・・引上げ炉チャンバ、10
・・・のぞき窓、11・・・水冷管、12・・・カーボ
ンヒータ、13・・・ルツボ回転軸、14・・・N2ガ
ス導入管、15・・・排気管 特許出願人 電気化学工業株式会社 図面の浄書(^容に変更なし) 図面 1−−−ルツボ°i持$タシ      2−−一 支
j今台3°−1ff 訪FA            
4−=  51z+t’a平r$−1畠郁5−−一石天
ルツボ       6−−−シリコン48晶7−−−
禮!二品         8−一一シリコン紅液12
−−−カ一本”ンヒ一7− 手続補装置 昭和61年6月17日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 有機重合体の熱分解生成物からなるガラス状炭素による
    被覆が施されたことを特徴とする半導体融解装置用黒鉛
    部材。
JP61092336A 1986-04-23 1986-04-23 半導体融解装置用黒鉛部材の製造方法 Expired - Lifetime JPH0662355B2 (ja)

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