JPS62224961A - 半導体記憶素子 - Google Patents
半導体記憶素子Info
- Publication number
- JPS62224961A JPS62224961A JP61067102A JP6710286A JPS62224961A JP S62224961 A JPS62224961 A JP S62224961A JP 61067102 A JP61067102 A JP 61067102A JP 6710286 A JP6710286 A JP 6710286A JP S62224961 A JPS62224961 A JP S62224961A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- metal
- phthalocyanine
- organic semiconductor
- different work
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 16
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 24
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical compound N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 9
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims abstract description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 abstract description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 abstract 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 abstract 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 abstract 1
- RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N heliogen blue Chemical compound [Cu].[N-]1C2=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=NC([N-]1)=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=N2 RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 4
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000008358 core component Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10B—ELECTRONIC MEMORY DEVICES
- H10B99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
- H10B99/10—Memory cells having a cross-point geometry
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、半導体記憶素子に関する。
[発明の技術的背景とその問題点
金属原子の配位したフタロシアン(以下Pcと略す)は
有機半導体として電子写真感光体、太陽電池等への応用
が検討されている。半導体としての利用範囲をより拡大
する為には、Si等の無機半導体の如く、P−n接合を
形成してトランジスタ構造を作成し、増幅、スイッチ機
能を持った素子を形成しなければならない。
有機半導体として電子写真感光体、太陽電池等への応用
が検討されている。半導体としての利用範囲をより拡大
する為には、Si等の無機半導体の如く、P−n接合を
形成してトランジスタ構造を作成し、増幅、スイッチ機
能を持った素子を形成しなければならない。
しかし、現在までのところ、有機半導体として知られて
いる多くの物質は殆どすべてP−型であり、従ってP−
n接合を形成することは困難であった。その結果有機半
導体の応用範囲は限られていた。
いる多くの物質は殆どすべてP−型であり、従ってP−
n接合を形成することは困難であった。その結果有機半
導体の応用範囲は限られていた。
[本発明の目的]
本発明は上記の問題を解決すべくなされたものであり、
有機半導体用いた記憶素子を実現することを目的とする
ものである。
有機半導体用いた記憶素子を実現することを目的とする
ものである。
[発明の概要]
本発明は、有機半導体である金属原子の配位したフタロ
シアニンの薄膜を仕事関数の異なる2種の金属電極で挟
持した、金属/フタロシアニン/金属構造の素子を構成
することにより、電気抵抗の2つの安定な状態を2値記
憶状態に対応させることのできる記憶素子を得ることを
特徴とするものである。
シアニンの薄膜を仕事関数の異なる2種の金属電極で挟
持した、金属/フタロシアニン/金属構造の素子を構成
することにより、電気抵抗の2つの安定な状態を2値記
憶状態に対応させることのできる記憶素子を得ることを
特徴とするものである。
有機半導体である金属フタロシアニンの中心金属として
は、CuSAl、CO% Z n SL s %Fe、
Ni、V、、Mns Ruなどの中から選択される。金
属フタロシアニン層は既に形成されている金属層の上に
、蒸着あるいはクラスターイオンビーム蒸着など公知の
薄膜形成技術によって形成することができる。その膜厚
はlO〜500nI11の範囲が望ましい。この膜厚が
10r+mlこ満たないと均一な膜として得ることが困
難であり、また500nmを越えると、膜抵抗が大きく
なり素子を構成したとしても所要の機能を発現しない。
は、CuSAl、CO% Z n SL s %Fe、
Ni、V、、Mns Ruなどの中から選択される。金
属フタロシアニン層は既に形成されている金属層の上に
、蒸着あるいはクラスターイオンビーム蒸着など公知の
薄膜形成技術によって形成することができる。その膜厚
はlO〜500nI11の範囲が望ましい。この膜厚が
10r+mlこ満たないと均一な膜として得ることが困
難であり、また500nmを越えると、膜抵抗が大きく
なり素子を構成したとしても所要の機能を発現しない。
また、電極として用いる金属は、例えば、金、銀、アル
ミニウム、チタン、インジウム等の中から仕事関数の異
なる2つを選べばよい。金属層としては、スパッタ、蒸
着等の薄膜形成技術、あるいは金属薄板で構成すること
ができる。
ミニウム、チタン、インジウム等の中から仕事関数の異
なる2つを選べばよい。金属層としては、スパッタ、蒸
着等の薄膜形成技術、あるいは金属薄板で構成すること
ができる。
有機化合物の電子的機能の応用は、従来電子写真感光体
、センサ、液晶等に限定され、電子機器の中核を形成す
る記憶あるいは演算素子への有機化合物の適用は、これ
まで例が少ない。しかし、本発明により電気抵抗の2つ
の安定状態が印加電圧によって制御できる素子が実現さ
れたことにより、電子機器の中核的要素部品である記憶
素子へ有機化合物を用いることが可能となった。このこ
とは、本来物質の種類が豊富であり、又、人為的に物質
を設計、合成が可能であるという有機化合物の特徴を生
かした電子素子の可能性を示すものである。
、センサ、液晶等に限定され、電子機器の中核を形成す
る記憶あるいは演算素子への有機化合物の適用は、これ
まで例が少ない。しかし、本発明により電気抵抗の2つ
の安定状態が印加電圧によって制御できる素子が実現さ
れたことにより、電子機器の中核的要素部品である記憶
素子へ有機化合物を用いることが可能となった。このこ
とは、本来物質の種類が豊富であり、又、人為的に物質
を設計、合成が可能であるという有機化合物の特徴を生
かした電子素子の可能性を示すものである。
[発明の効果]
本発明の素子は簡単な構成で有機半導体を用いた記憶素
子を形成することができ、しがちその効果も安定してい
る。
子を形成することができ、しがちその効果も安定してい
る。
[発明の実施例]
実施例1
20龍角、厚さ2m[有]のスライドガラス」二に第1
図に示したサンドイッチ構造の素子を形成した。スライ
ドガラス1は所定の大きさに切断した後、トリクレン、
アセトン、順で脱脂洗浄を行った後、乾燥させた。
図に示したサンドイッチ構造の素子を形成した。スライ
ドガラス1は所定の大きさに切断した後、トリクレン、
アセトン、順で脱脂洗浄を行った後、乾燥させた。
金の薄膜2ををマスクを用いてスライドガラス1の一部
に厚さ20Or+mになるように電子ビーム蒸着(加速
電圧4kv、フィラメント電流30m A 、蒸着時間
5分)により形成した。次に同フタロシアニン薄膜3を
上記の金およびガラス基板上に厚さ200nmになるよ
うにマスクを用いて抵抗加熱蒸着(ボード温度400℃
、蒸着時間6分)により形成した。更に表面電極として
のチタン薄膜4を電子ビーム蒸着(加速電圧 4 kv
、フィラメント電流15m A 、蒸着時間10分によ
り形成した。上記の3段階の蒸着はすべて圧力1.OX
1O−6Torrの高真空下で行なった。
に厚さ20Or+mになるように電子ビーム蒸着(加速
電圧4kv、フィラメント電流30m A 、蒸着時間
5分)により形成した。次に同フタロシアニン薄膜3を
上記の金およびガラス基板上に厚さ200nmになるよ
うにマスクを用いて抵抗加熱蒸着(ボード温度400℃
、蒸着時間6分)により形成した。更に表面電極として
のチタン薄膜4を電子ビーム蒸着(加速電圧 4 kv
、フィラメント電流15m A 、蒸着時間10分によ
り形成した。上記の3段階の蒸着はすべて圧力1.OX
1O−6Torrの高真空下で行なった。
第2図に上記の素子についてのOVを中心として±5v
の三角波状の電圧を印加した際の電圧−電流特性の一例
を示す。電圧軸は、右側だ金電極の側を正になるように
符号を定めた。同図に示すように、正電圧領域に於て、
電流は2つの値をとり、この現象は可逆的に生じる。尚
、第2図の三角波電圧の周波数は0.1Hzである。
の三角波状の電圧を印加した際の電圧−電流特性の一例
を示す。電圧軸は、右側だ金電極の側を正になるように
符号を定めた。同図に示すように、正電圧領域に於て、
電流は2つの値をとり、この現象は可逆的に生じる。尚
、第2図の三角波電圧の周波数は0.1Hzである。
第2図の電圧−電流特性を利用することにより正電圧印
加時の抵抗値の違い、即ち高抵抗状態と低抵抗状態の2
つの状態を2値とした記憶素子を形成し得る。表1に正
および負の短形波パルス電圧を印加した後、1vの正電
圧に対する電流値を示す。表1に示すように、±5Vの
パルス電圧印加により書き込み及び消去を行い、+IV
電圧印加時の電流値測定により読み出しを行うことがで
きる。
加時の抵抗値の違い、即ち高抵抗状態と低抵抗状態の2
つの状態を2値とした記憶素子を形成し得る。表1に正
および負の短形波パルス電圧を印加した後、1vの正電
圧に対する電流値を示す。表1に示すように、±5Vの
パルス電圧印加により書き込み及び消去を行い、+IV
電圧印加時の電流値測定により読み出しを行うことがで
きる。
第1図は、本発明の素子の概略図、第2図は本発明の一
実施例の素子の特性図である。 1一基板、2.4−金属層、3−金属フタロシアニン層 理
実施例の素子の特性図である。 1一基板、2.4−金属層、3−金属フタロシアニン層 理
Claims (1)
- 金属原子が配位したフタロシアニン薄膜有機半導体を、
仕事関数の異なる金属により挟持した構造を有すること
を特徴とする半導体記憶素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61067102A JPH0732239B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 半導体記憶素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61067102A JPH0732239B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 半導体記憶素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62224961A true JPS62224961A (ja) | 1987-10-02 |
JPH0732239B2 JPH0732239B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=13335187
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61067102A Expired - Lifetime JPH0732239B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 半導体記憶素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0732239B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01256183A (ja) * | 1988-04-06 | 1989-10-12 | Agency Of Ind Science & Technol | スイッチング素子 |
JPH02189974A (ja) * | 1989-01-19 | 1990-07-25 | Agency Of Ind Science & Technol | 可塑性素子 |
JPH03137894A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-12 | Matsushita Giken Kk | スイッチング・メモリ複合機能素子アレイ |
JP2004304179A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-28 | Dainippon Printing Co Ltd | 有機双安定性素子、これを用いた有機双安定性メモリ装置、およびそれらの駆動方法 |
-
1986
- 1986-03-27 JP JP61067102A patent/JPH0732239B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01256183A (ja) * | 1988-04-06 | 1989-10-12 | Agency Of Ind Science & Technol | スイッチング素子 |
JPH02189974A (ja) * | 1989-01-19 | 1990-07-25 | Agency Of Ind Science & Technol | 可塑性素子 |
JPH03137894A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-12 | Matsushita Giken Kk | スイッチング・メモリ複合機能素子アレイ |
JP2004304179A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-28 | Dainippon Printing Co Ltd | 有機双安定性素子、これを用いた有機双安定性メモリ装置、およびそれらの駆動方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0732239B2 (ja) | 1995-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4371883A (en) | Current controlled bistable electrical organic thin film switching device | |
US4652894A (en) | Electrical organic thin film switching device switching between detectably different oxidation states | |
TWI222742B (en) | Fabrication and structure of carbon nanotube-gate transistor | |
EP1952436A1 (de) | Bipolarer trägerwafer und mobile, bipolare, elektrostatische waferanordnung | |
US4507672A (en) | Method of fabricating a current controlled bistable electrical organic thin film switching device | |
JPH01321612A (ja) | 重ね合わせたかカプセル化した金属導電路を提供する方法 | |
JPS6295882A (ja) | 電気的記憶装置 | |
JPS59104184A (ja) | 太陽電池 | |
EP0051940B1 (en) | Annealing process for a thin-film semiconductor device and obtained devices | |
JPS62224961A (ja) | 半導体記憶素子 | |
Swathi et al. | Digital and analog resistive switching in NiO-based memristor by electrode engineering | |
JP3342590B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
US3095319A (en) | Manufacture of apparatuses including thin magnetic films | |
Hanafi et al. | Flicker noise due to grain boundaries in n-type Hg1− xCdxTe | |
Daniel et al. | ELECTRIC DOUBLE LAYER FIELD EFFECT TRANSISTOR USING SnS THIN FI LM AS SEMICONDUCTOR CHANNEL L AYER AND HONEY GATE DIELETRIC | |
US3585071A (en) | Method of manufacturing a semiconductor device including a semiconductor material of the aiibvi type,and semiconductor device manufactured by this method | |
Bunton et al. | The preparation and electrical properties of thin chalcogenide semiconductor films | |
US3675088A (en) | Negative resistance device | |
JPH03125478A (ja) | 有機半導体を用いた電子素子の製造方法 | |
JPH04167561A (ja) | スイッチング素子 | |
JPH05183175A (ja) | 光スイッチング素子 | |
CN113964221A (zh) | 一种电子突触器件及其制作方法 | |
JPH02239662A (ja) | 電荷移動錯体層の形成方法 | |
JPS63244678A (ja) | 有機半導体デバイス | |
Singh et al. | Vacuum‐evaporated zinc phosphide films and their characterization |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |