JPS62214620A - チタンシリサイドタ−ゲツトおよびその製造方法 - Google Patents
チタンシリサイドタ−ゲツトおよびその製造方法Info
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- JPS62214620A JPS62214620A JP5609686A JP5609686A JPS62214620A JP S62214620 A JPS62214620 A JP S62214620A JP 5609686 A JP5609686 A JP 5609686A JP 5609686 A JP5609686 A JP 5609686A JP S62214620 A JPS62214620 A JP S62214620A
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Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は高密度、高速のMO8集積回路において電極材
料として使用できる高@度なチター、ンシリサイドター
ゲットおよびその製造方法に関するものである。
料として使用できる高@度なチター、ンシリサイドター
ゲットおよびその製造方法に関するものである。
[従来の技術]
高密度、高速のMO8集積回路において新しく用いるべ
く電極材料に必要な条件は、低抵抗であり、現在使用さ
れているプロセスへの適合性である。
く電極材料に必要な条件は、低抵抗であり、現在使用さ
れているプロセスへの適合性である。
低抵抗であることは配線抵抗に基づ<RCfl延がスイ
ッチング速度の制約にならないことにつながり、特に組
数である。今後の高密度化のためにポリシリコンよりも
低抵抗な電極材料が強く要望されている。この要求に合
致するものに高融点シリサイドがあり、チタンシリサイ
ドはその中でも最ら低抵抗であるが、従来のチタンシリ
サイドは純度が極めて低いため、本来の低抵抗特性が出
ず、またその不純物の影響から誤動作が生じたりする。
ッチング速度の制約にならないことにつながり、特に組
数である。今後の高密度化のためにポリシリコンよりも
低抵抗な電極材料が強く要望されている。この要求に合
致するものに高融点シリサイドがあり、チタンシリサイ
ドはその中でも最ら低抵抗であるが、従来のチタンシリ
サイドは純度が極めて低いため、本来の低抵抗特性が出
ず、またその不純物の影響から誤動作が生じたりする。
したがって、非常に高純度なチタンシリサイドが望まれ
ており、その高純度チタンシリサイドターゲットはa産
化の上で強く必要とされてきた。
ており、その高純度チタンシリサイドターゲットはa産
化の上で強く必要とされてきた。
従来、チタンシリサイドターゲットはチタンの粉末とシ
リコンの粉末を焼結して、製造している。
リコンの粉末を焼結して、製造している。
粉末はその粉砕時、多量に不純物が混入してくるため品
位は極めて悪く、そのためターゲットの品位は99%前
侵の純度しか得られない。また、純度の良い塊状の原料
を使用してもターゲット化の工程で多聞の不純物が混入
してしまうため最終的なターゲットは°非常に純度の悪
いものしか得られない。そのため比較的純度の良いモリ
ブデンシリサイドがmA材料として先行しており、チタ
ンシリサイドはその特性を出しきれていないのが現状で
ある。
位は極めて悪く、そのためターゲットの品位は99%前
侵の純度しか得られない。また、純度の良い塊状の原料
を使用してもターゲット化の工程で多聞の不純物が混入
してしまうため最終的なターゲットは°非常に純度の悪
いものしか得られない。そのため比較的純度の良いモリ
ブデンシリサイドがmA材料として先行しており、チタ
ンシリサイドはその特性を出しきれていないのが現状で
ある。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明は上述の様な従来の技術では困難であった高純度
なチタンシリサイドターゲットおよび不純物の混入を完
全に防止した高純度チタンシリサイドターゲットの製造
方法を提供することにある。
なチタンシリサイドターゲットおよび不純物の混入を完
全に防止した高純度チタンシリサイドターゲットの製造
方法を提供することにある。
c問題点を解決するための手段]
本発明は各金属不純物が10ppm以下、ガス成分とし
て酸素500 ppm以下、水素10ppm以下。
て酸素500 ppm以下、水素10ppm以下。
窒素501)I)III以下、炭素50 ppm以下、
その他の成分tよ11)I)I!l以下であり、実質的
に均一組成でほぼ理論密度に等しい高純度チタンシリサ
イドおよび不純物の混入を完全に防止した高純度チタン
シリサイドの製造方法を提供するものである。
その他の成分tよ11)I)I!l以下であり、実質的
に均一組成でほぼ理論密度に等しい高純度チタンシリサ
イドおよび不純物の混入を完全に防止した高純度チタン
シリサイドの製造方法を提供するものである。
次に本発明の高純度チタンシリサイドターゲットの%J
造方法について説明する。
造方法について説明する。
原料は高純度チタンおよびシリコンの比較的大きな塊状
もしくはインゴットを使用する。これらを所定の岱、秤
吊し、真空で溶解反応もしくは雰囲気アーク溶解反応さ
せ、同時に精製する。特に低融点金属不純物、アルカリ
金属、アルカリ土類金属、水素が除去される。真空溶解
反応の方法は電子ビーム溶解、高周波溶解、真空アーク
溶解等、特に制限はしないが、精製効果を最大限に出せ
る電子ビーム溶解反応が最も好ましい方法である。
もしくはインゴットを使用する。これらを所定の岱、秤
吊し、真空で溶解反応もしくは雰囲気アーク溶解反応さ
せ、同時に精製する。特に低融点金属不純物、アルカリ
金属、アルカリ土類金属、水素が除去される。真空溶解
反応の方法は電子ビーム溶解、高周波溶解、真空アーク
溶解等、特に制限はしないが、精製効果を最大限に出せ
る電子ビーム溶解反応が最も好ましい方法である。
この様に精製かつ合金化されたチタンシリサイドはその
まま加工しターゲットにするかあるいは熱間静水圧プレ
ス(HIP)を直接行い理論密度にし、ターゲラ1〜に
するかもしくは不活性ガス雰囲気中でシリカ系(たとえ
ばメノー乳鉢)で粉砕し、粒径を約0.5#l#1以下
にし、liIられる粉末を不活性ガス雰囲気内で成型、
焼結してターゲットにする。成型、焼結の方法は特に制
限はしないが完全に不純物を防止するためには冷開静水
圧プレス(CIP)で圧粉体とし、さらにこの圧粉体を
熱間静水圧プレス(HIP)L、ターゲットにする方法
が最も好ましい。
まま加工しターゲットにするかあるいは熱間静水圧プレ
ス(HIP)を直接行い理論密度にし、ターゲラ1〜に
するかもしくは不活性ガス雰囲気中でシリカ系(たとえ
ばメノー乳鉢)で粉砕し、粒径を約0.5#l#1以下
にし、liIられる粉末を不活性ガス雰囲気内で成型、
焼結してターゲットにする。成型、焼結の方法は特に制
限はしないが完全に不純物を防止するためには冷開静水
圧プレス(CIP)で圧粉体とし、さらにこの圧粉体を
熱間静水圧プレス(HIP)L、ターゲットにする方法
が最も好ましい。
以上の方法で非常に高純度で均一組成の理論密度に等し
いチタンシリサイドの合金成形体とすることができる。
いチタンシリサイドの合金成形体とすることができる。
また、粉砕に際して、水素気流中でチタンシリサイドを
500〜1000℃にノ肚熱後急冷し水素脆化させ、粉
砕することは有効な手段であり、不純物の混入をざらに
防ぐことができる。
500〜1000℃にノ肚熱後急冷し水素脆化させ、粉
砕することは有効な手段であり、不純物の混入をざらに
防ぐことができる。
上記で実施する冷間静水圧プレス(CIP)の条件は2
〜5 t / ci、1〜10分間加圧することで良好
な圧粉体が得られる。この圧粉体を金属容器に入れ、真
空封止し、熱間静水圧プレス(1−11P)するのだが
その条件は800〜1500℃、1〜3t/mで30〜
120分間加熱、加圧して成形体を得る。
〜5 t / ci、1〜10分間加圧することで良好
な圧粉体が得られる。この圧粉体を金属容器に入れ、真
空封止し、熱間静水圧プレス(1−11P)するのだが
その条件は800〜1500℃、1〜3t/mで30〜
120分間加熱、加圧して成形体を得る。
この成形体をワイヤー放電加工機、バンドソー等の切断
加工機で切断し、仕上げ加工を施し、所定の形状の高純
度チタンシリサイドターゲットを(qる。
加工機で切断し、仕上げ加工を施し、所定の形状の高純
度チタンシリサイドターゲットを(qる。
以上の製法によれば、高純度な原料から不純物のの混入
を完全に防止し、純度を保ってチタンシリサイドターゲ
ットを製造することができる。
を完全に防止し、純度を保ってチタンシリサイドターゲ
ットを製造することができる。
[発明の効果]
この様にして得られた高純度チタンシリサイドターゲッ
トは従来のチタンシリサイドターゲットに比べ次の様な
利点がある。
トは従来のチタンシリサイドターゲットに比べ次の様な
利点がある。
(1)各金属不純物成分の混入量が10ppm以下であ
り、従来の1710〜1/10Gである。
り、従来の1710〜1/10Gである。
(2) Na、 Kなどのアルカリ金属は10ppb以
下である。
下である。
(3)ガス成分は酵素500 ppm以下、水110p
aw以下、窒素50 ppm以下、炭素50 ppm以
下である。
aw以下、窒素50 ppm以下、炭素50 ppm以
下である。
(4)他の成分は全てlppm以下である。
(5)組成は実質的に均一である。
(6)理論密度と同等である。
[実施例1
以上の発明を実施例により説明するが、本発明は、これ
らの実施例により何ら限定されるものではない。
らの実施例により何ら限定されるものではない。
実施例1
表1に示す様な極めて純度の良い金属チタンと9Nのシ
リコンをそれぞれ150・gと1769(Si/ Ti
モル比=2.00)秤量し、アルゴン雰囲気アーク溶解
し、反応させ同時に精製する。
リコンをそれぞれ150・gと1769(Si/ Ti
モル比=2.00)秤量し、アルゴン雰囲気アーク溶解
し、反応させ同時に精製する。
このチタンシリサイドをアルゴン雰囲気中でメノー乳鉢
により粉砕し、100#以下の粉末にし、冷間静水圧プ
レス(CIP)用ゴム型に充填し、工4じ、3 t/
criの圧力で3分間冷間静水圧プレス(CIP)を行
い圧粉体とした。この圧粉体をアルゴン雰囲気中で取り
出し、熱間静水圧プレス(HIP)用の缶の中に入れ、
真空封止し、1300℃、 1.5t/CIi、 11
1R熱間静水圧プレス(HIP)をし、成形体とした。
により粉砕し、100#以下の粉末にし、冷間静水圧プ
レス(CIP)用ゴム型に充填し、工4じ、3 t/
criの圧力で3分間冷間静水圧プレス(CIP)を行
い圧粉体とした。この圧粉体をアルゴン雰囲気中で取り
出し、熱間静水圧プレス(HIP)用の缶の中に入れ、
真空封止し、1300℃、 1.5t/CIi、 11
1R熱間静水圧プレス(HIP)をし、成形体とした。
この成形体の密度は理論密度の99.5%であった。こ
の成形体をワイヤー放電加工機にて切断加工し、100
履φ×5履tのターゲットを製造した。
の成形体をワイヤー放電加工機にて切断加工し、100
履φ×5履tのターゲットを製造した。
各工程における不純物含有量を表2に示す。
実施例2
実施例1と同じ原料を使用し金属チタン250q、シリ
コン337 Q (Si/Tiモル比=2.3)”を秤
jし電子ビーム溶解し、反応させ同時に精製した。この
時電子ビームの水冷銅ハースの直径が150511φの
物を使用した。この溶解量の密度は理論密度の97.5
%でありターゲットに充分適していた。これをさらに密
度を向上させるため、直接熱間静水圧プレス(HIP)
用の缶に入れ、1300℃、 111R,1,5t/i
の条件で熱間静水圧プレス(HIP)L、たとこる理論
密度の98.5%の成形体を得、ワイヤー放電加工、仕
上げ加工により5mφX5tの高純度チタンシリサイド
ターゲットを製造した。
コン337 Q (Si/Tiモル比=2.3)”を秤
jし電子ビーム溶解し、反応させ同時に精製した。この
時電子ビームの水冷銅ハースの直径が150511φの
物を使用した。この溶解量の密度は理論密度の97.5
%でありターゲットに充分適していた。これをさらに密
度を向上させるため、直接熱間静水圧プレス(HIP)
用の缶に入れ、1300℃、 111R,1,5t/i
の条件で熱間静水圧プレス(HIP)L、たとこる理論
密度の98.5%の成形体を得、ワイヤー放電加工、仕
上げ加工により5mφX5tの高純度チタンシリサイド
ターゲットを製造した。
各工程の不純物含有mを表3に示す。
この様に実施例2の方法は最も純度の良いものが製造で
きる。また、電子ビーム溶解時の凝固過程で発生した巣
が最後まで若干残りやや密度が低いが充分使用に耐え得
る密度であった。
きる。また、電子ビーム溶解時の凝固過程で発生した巣
が最後まで若干残りやや密度が低いが充分使用に耐え得
る密度であった。
実施例3
実施例1,2と同じ原料でチタン350Q、シリコン4
72q(St/Tiモル比=2.3)秤囲し、電子ビー
ム溶解反応させ、同時に精製した。この合金を水素気流
中で800℃に加熱し、急冷し水素脆化させ、アルゴン
雰囲気中でメノー乳鉢により粉砕した。この場合、容易
に100#以下になった。これを真空、加熱(約100
0℃)し、脱水素し、冷m後アルゴン雰囲気内で冷間静
水圧プレス(CIP)用ゴム型に充填し、後の工程は実
施例1と同様に行い200#I#IφX 5 m tの
高純度チタンシリサイドターゲットをtlmした。この
密度は理論密度の99.8%であった。各工程の不純物
含有量を表4に示す。
72q(St/Tiモル比=2.3)秤囲し、電子ビー
ム溶解反応させ、同時に精製した。この合金を水素気流
中で800℃に加熱し、急冷し水素脆化させ、アルゴン
雰囲気中でメノー乳鉢により粉砕した。この場合、容易
に100#以下になった。これを真空、加熱(約100
0℃)し、脱水素し、冷m後アルゴン雰囲気内で冷間静
水圧プレス(CIP)用ゴム型に充填し、後の工程は実
施例1と同様に行い200#I#IφX 5 m tの
高純度チタンシリサイドターゲットをtlmした。この
密度は理論密度の99.8%であった。各工程の不純物
含有量を表4に示す。
この様に粉砕が容易なため不純物の混入が極めて減少し
た。
た。
特許出願人 東洋@達工業株式会社
手続補正書(方幻
昭和61年6月19日
Claims (5)
- (1)各金属不純物が10ppm以下、ガス成分は酸素
500ppm以下、水素10ppm以下、窒素50pp
m以下、炭素50ppm以下、その他の成分はすべて1
ppm以下である高純度チタンシリサイドからなるター
ゲット。 - (2)高純度金属チタンおよびシリコンを真空で溶解さ
せるか又は雰囲気アーク溶解させて反応と同時に精製し
高純度なチタンシリサイドとすることを特徴とする高純
度チタンシリサイドからなるターゲットの製造方法。 - (3)高純度金属チタンおよびシリコンを真空で溶解さ
せるか又は雰囲気アーク溶解させて反応と同時に精製し
、得られた高純度チタンシリサイドを熱間静水圧プレス
(HIP)することを特徴とする高純度チタンシリサイ
ドからなるターゲットの製造方法。 - (4)高純度金属チタンおよびシリコンを真空中で溶解
させるか又は雰囲気アーク溶解させて反応と同時に精製
し得られた高純度チタンシリサイドを粉砕し、これを不
活性ガス雰囲気内で成型焼結し、ほぼ理論密度に等しい
高純度チタンシリサイドからなるターゲットの製造方法
。 - (5)粉砕は不活性ガス雰囲気内でシリカ系の粉砕機で
粉砕するかもしくは水素脆性させ不活性ガス雰囲気内で
粉砕することを特徴とする特許請求の範囲第4項記載の
高純度チタンシリサイドの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5609686A JPS62214620A (ja) | 1986-03-15 | 1986-03-15 | チタンシリサイドタ−ゲツトおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5609686A JPS62214620A (ja) | 1986-03-15 | 1986-03-15 | チタンシリサイドタ−ゲツトおよびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62214620A true JPS62214620A (ja) | 1987-09-21 |
Family
ID=13017575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5609686A Pending JPS62214620A (ja) | 1986-03-15 | 1986-03-15 | チタンシリサイドタ−ゲツトおよびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62214620A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05211326A (ja) * | 1991-01-25 | 1993-08-20 | Toshiba Corp | 半導体素子用高純度導電性膜およびそれを用いた半導体素子 |
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1986
- 1986-03-15 JP JP5609686A patent/JPS62214620A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05211326A (ja) * | 1991-01-25 | 1993-08-20 | Toshiba Corp | 半導体素子用高純度導電性膜およびそれを用いた半導体素子 |
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