JPS62182846A - 電子計算機の自己診断方法 - Google Patents

電子計算機の自己診断方法

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Publication number
JPS62182846A
JPS62182846A JP2330286A JP2330286A JPS62182846A JP S62182846 A JPS62182846 A JP S62182846A JP 2330286 A JP2330286 A JP 2330286A JP 2330286 A JP2330286 A JP 2330286A JP S62182846 A JPS62182846 A JP S62182846A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing units
processing unit
power supply
circuit
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP2330286A
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English (en)
Inventor
Yoritoshi Uchida
内田 頼利
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP2330286A priority Critical patent/JPS62182846A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、複数の処理ユニットを有する電子計算機の故
障を検知する電子計算機の自己診断方法に係り、特に故
障が発生する前に各処理ユニットが故障し易いかどうか
を検知することができる電子計算機の自己診断方法に関
する。
〈従来の技術〉 複数の処理ユニットを有する電子計算機の故障を診断す
る方法としては、パリティチェック方式、比較判定方式
、同期判定方式等が知られている。
このうち、パリティチェック方式では第2図に示す如く
、計算時に得られるデータをパリティチェック回路1へ
供給して、前記データ中にある%II信号の数が奇数か
偶数か検出する。そして、この検出結果に基づいて前記
データを出力した処理ユニット等の機器が正しく動作し
ているかどうかをチェックする。
また比較判定方式では、2つの処理ユニット−(または
CPU)に同じ処理を行なわせて、これら2つの処理ユ
ニット等の出力を比較し、この比較結果に基づいて前記
各処理ユニットの故障診断を行なう。この方式を適用し
たものとしては例えば第3図や第5図に示す計算機シス
テムが知られている。
この場合、第3図に示す計算機システムは1枚のCPU
ボード2に2つのCPU3.4 (第4図参照)が設け
られるとともに、このCPUボード2上にこれら各CP
U3.4の出力を比較する比較回路5が設けられたもの
であり、これらCPU3.4に同じプログラムを同時に
処理させて得られたデータを比較回路5によって比較し
、これらが一致していれば、このデータを正しいものと
みなして出力する。また、もしこれらのデータが一致し
なければ、CPU3,4のいずれか一方が故障している
と判断してデータの出力を停止する。
また、第5図に示す計算機システムは処理ユニット6.
7に同じプログラムを同時に処理させて得られたデータ
を比較一致・選択回路8によって比較し、これらが一致
していれば、各処理ユニット6.7が正常に動作してい
ると判断して前記データを出力する。またもし、これら
のデータが一致していない場合は処理ユニット6.7の
いずれか一方が故障していると判断して、故障箇所の検
出処理を行なわせる。
また同期判定方式は、第6図に示す如く2つの12内に
各々設けられているCPUI 3.14が同期モジュー
ル15を介して互いに同期信号を出し合うことにより、
これらの並行処理ユニット11゜12が故障しているか
どうかをチェックする。
〈発明が解決しようとする問題点〉 ところでこのような従来の自己診断方法は、故障が生じ
たときに、これを検出するものであり、各処理ユニット
、CPU等が故障することを事前に検出することができ
ないという問題があった。
まえ、各処理ユニットやCPU等の故障を事前に知るこ
とができないので、故障による計算機システムの停止(
ダウン)を避けることができず、また一旦ダウンした計
算機システムの故障箇所を見つけるときにおいて、例え
ば第7図に示すような診断制御回路16が診断制御線1
7を介して処理ユニット18の状態をスキャンイン/ア
ウトして調べるようKしていたので、間欠的に故障する
部分を見つけKくいという問題があった。
本発明は上記の事情に鑑み、各処理ユニットやCPU等
が故障する前に、故障しそうな処理ユニットやCPU等
を見つけることができるとともに1間欠的に故障する部
分をも見つけることができる電子計算機の自己診断方法
を提供することを目的としている。
く問題点を解決するだめの手段〉 上記問題点を解決するため本発明による電子計算機の自
己診断方法においては、第16第2処理ユニツトを同時
に動作させて得られる前記第1処理ユニツトの出力と前
記第2処理ユニツトの出力とを比較し、この比較結果に
基づいて前記第1゜第2処理ユニツトの故障を検知する
電子計算機の自己診断方法において、前記第1.第2処
理ユニツトのいずれか一方の電源電圧を変えたときに得
られる前記第1処理ユニツトの出力と前記第2処理ユニ
ツトの出力とを比較し、この比較結果に基づいて前記第
1.第2処理ユニツトの故障し易さを検知することを特
徴としている。
〈実施例〉 第1図は本発明による自己診断方法の一実施例を用いた
計算機システムの一例を示すブロック図である。
この図に示す計算機システムは、2つの処理ユニット2
0.21と、診断制御回路22と、2つの電源回路23
.24と、2つのエラー検出回路25.26と、比較一
致・選択回路27とを備えており、各処理ユニツ)20
.21の電源電圧を変動させてエラーが発生するかどう
かをチェックして、これら各処理ユニット20.21が
故障し易いかどうかを検知する。
この場合、前記各処理二二ツ)20.21はCPU(中
央処理装置)や各柚メモリ、各櫨インターフェース等を
備えており、同じプログラムを同時に処理する。
また前記エラー検出回路25 * 26は、各々前記各
処理ユニツ)20.21の動作状態等を常時監視して、
これら各処理二二ツ)20.21の動作エラー等を検出
するものであり、この検出結果S3.S4は前記診断制
御回路22へ供給される。
また前記比較一致・選択回路27はその制御端子27c
に供給される制御信号S5に基づいて前記各処理ユニッ
ト20.21の出力D10.D11のいずれか一方を選
択的に$9込んで、これを出力端子27dから出力した
シ、前記各出力D10゜Dllを比較して、出力端子2
7dからこの比較結果D12を出力したシするように構
成されている。
そして、この比較一致・選択回路27の出力端子27d
から出力される比較結果D12(または各出力D10.
Dllのいずれか一方)は診断制御回路22へ供給され
る。
診断制御回路22は故障診断時に電圧設定コマンドS1
.S2のいずれか一方の値を正規の値からずらして、電
源回路23.24が前記各処理二二ッ)20.21に個
々に印加している各電源電圧V1.V2の一方を正規の
値からずらすとともに、このとき前記エラー検出回路2
5.26の検出結果S3.84と、前記比較一致番選択
回路27の比較結果D12とに基づいて、前記各処理二
ニット20.21にエラーが生じたかどうかをチェック
する。
これによって、正規の電源電圧において各処理ユニット
20.21が正常に動作していても、これら各処理二二
ツ)20.21内に弱い所があれば、この部分が完全に
悪くなって処理ユニット20゜21がダウンする前、つ
まシ診断制御回路22が故障診断を行なったときに、こ
れが演算結果の不一致エラーや動作エラーとして検出さ
れる。
そして、このようなエラーが検出されれば、診断制御回
路22は診断制御線30を介して異常があった方の処理
ユニットの状態をスキャンイン/アウトしたり、テスト
パターン等のデータを与えてその応答状況を調べたりし
てエラーが発生した箇所を見つける。
またこの場合、診断制御回路22の診断動作によって、
電源電圧がどのくらいに下ったときに処理ユニット20
.21がエラーを発生するかという処理ユニット20.
21の電圧マージンをも知ることができる。
〈発明の効果〉 以上説明したように本発明によれば、各処理ユニットや
CPU等が故障する前に、故障しそうな処理ユニットや
CPU等を見つけることができるとともに、間欠的に故
障する部分をも見つけることができる。また、処理ユニ
ットやCPU等の電源電圧変動に対する余裕度をも知る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による自己診断方法の一実施例を用いた
計算機システムの一例を示すブロック図、第2図は従来
の自己診断方法の1つであるパリティチェック方式で用
いられるパリティチェック回路の一例を示す回路図、第
3図は従来の自己診断方法の1つである比較判定方式の
一例を説明するためのブロック図、第4図は第3図に示
すCPUボードの詳細なブロック図、第5図は従来の自
己診断方法の1つである比較判定方式の他の例を説明す
るためのブロック図、第6図は従来の自己診断方法の1
つである同期判定方法の一例を説明するだめのブロック
図、第7図は供米の自己診断方法で用いられていた故障
箇所検出回路の一例を示すブロック図である。 20.21・・・処理ユニット、22・・・診断制御回
路、23.24・・・電源回路、27・・・比較−牧場
選択回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1、第2処理ユニツトを同時に動作させて得られる前
    記第1処理ユニツトの出力と前記第2処理ユニツトの出
    力とを比較し、この比較結果に基づいて前記第1、第2
    処理ユニツトの故障を検知する電子計算機の自己診断方
    法において、前記第1、第2処理ユニツトのいずれか一
    方の電源電圧を変えたときに得られる前記第1処理ユニ
    ツトの出力と前記第2処理ユニツトの出力とを比較し、
    この比較結果に基づいて前記第1、第2処理ユニツトの
    故障し易さを検知することを特徴とする電子計算機の自
    己診断方法。
JP2330286A 1986-02-05 1986-02-05 電子計算機の自己診断方法 Pending JPS62182846A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2330286A JPS62182846A (ja) 1986-02-05 1986-02-05 電子計算機の自己診断方法

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JP2330286A JPS62182846A (ja) 1986-02-05 1986-02-05 電子計算機の自己診断方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62182846A true JPS62182846A (ja) 1987-08-11

Family

ID=12106809

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2330286A Pending JPS62182846A (ja) 1986-02-05 1986-02-05 電子計算機の自己診断方法

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JP (1) JPS62182846A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005265847A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Hewlett-Packard Development Co Lp サブ回路の電圧操作装置および方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005265847A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Hewlett-Packard Development Co Lp サブ回路の電圧操作装置および方法

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