JPS62117151A - 光デイスク機械精度測定装置用較正デイスク - Google Patents
光デイスク機械精度測定装置用較正デイスクInfo
- Publication number
- JPS62117151A JPS62117151A JP25625685A JP25625685A JPS62117151A JP S62117151 A JPS62117151 A JP S62117151A JP 25625685 A JP25625685 A JP 25625685A JP 25625685 A JP25625685 A JP 25625685A JP S62117151 A JPS62117151 A JP S62117151A
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- Japan
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- calibration
- face
- optical disk
- disk
- optical
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光ディスクの機械精度測定装置に光ディスク
に代えて装着され、その測定装置に較正基準値を与える
較正ディスクに関する。
に代えて装着され、その測定装置に較正基準値を与える
較正ディスクに関する。
（従来の技術）
光ディスクの機械精度は、光記録再生装置のフォーカス
およびトラック・アクチェータ制御性能に与える影舌が
大きい。そこで、光ディスクの互換性を保証するには、
光ディスクの製造・検査段階で面振れ、偏心等の機械精
度が一定の規格値内にあることを確認する必要がある。
およびトラック・アクチェータ制御性能に与える影舌が
大きい。そこで、光ディスクの互換性を保証するには、
光ディスクの製造・検査段階で面振れ、偏心等の機械精
度が一定の規格値内にあることを確認する必要がある。
このような光ディスク機械精度測定装置におけるアキシ
ャル方向変位検出器の例を第３図（ａ）、（ｂ）に示す
。第３図（ａ）の検出器において、レーザ光源１から出
た光は分割されて、一部は対物レンズ２を経て、被測定
光ディスク３に入射する。このとき、公知の技術によっ
て反射光をフォトディテクタ１１で検出し、フォーカス
制御回路１２がアクチェータ１３を駆動して対物レンズ
２をディスク面振れに追従させている。レーザ光源丁か
ら出た光の他の一部は、固定レンズ４を経て、対物レン
ズ２と一体となってディスク面振れに追従するミラー５
で反射され、反射光はビームスプリッタ６を経て、光位
置センサ７に戻る。このような構成であるので、ディス
ク面振れは光位置センサ７上でのビームスポット位置の
変動として検出できる。光位置センサ７の出力は増幅器
１４で増幅され出力きれる。第１図（ｂ）のアキシャル
方向変位検出器では、ディスク面振れに追従する対物レ
ンズ２の移動量を、対物レンズ２に取り付けた電極板８
と固定電極板９との間の静電容量の変動に変換し、その
静電容量の変動を検出回路１５により検出することによ
りディスク面振れを測定する。また、光ディスクの偏心
は、トラックに追従する対物し〉・ズのラジアル方向変
位を、上述のような光学式あるいは静電容量式を適用し
て検出することにより、測定できるが、その詳細は特願
昭６０−６５７８４等に記述されているので省略する。
ャル方向変位検出器の例を第３図（ａ）、（ｂ）に示す
。第３図（ａ）の検出器において、レーザ光源１から出
た光は分割されて、一部は対物レンズ２を経て、被測定
光ディスク３に入射する。このとき、公知の技術によっ
て反射光をフォトディテクタ１１で検出し、フォーカス
制御回路１２がアクチェータ１３を駆動して対物レンズ
２をディスク面振れに追従させている。レーザ光源丁か
ら出た光の他の一部は、固定レンズ４を経て、対物レン
ズ２と一体となってディスク面振れに追従するミラー５
で反射され、反射光はビームスプリッタ６を経て、光位
置センサ７に戻る。このような構成であるので、ディス
ク面振れは光位置センサ７上でのビームスポット位置の
変動として検出できる。光位置センサ７の出力は増幅器
１４で増幅され出力きれる。第１図（ｂ）のアキシャル
方向変位検出器では、ディスク面振れに追従する対物レ
ンズ２の移動量を、対物レンズ２に取り付けた電極板８
と固定電極板９との間の静電容量の変動に変換し、その
静電容量の変動を検出回路１５により検出することによ
りディスク面振れを測定する。また、光ディスクの偏心
は、トラックに追従する対物し〉・ズのラジアル方向変
位を、上述のような光学式あるいは静電容量式を適用し
て検出することにより、測定できるが、その詳細は特願
昭６０−６５７８４等に記述されているので省略する。
従来、このようなディスク機械精度の測定装置の較正は
、通常、以下のように行なわれていた。
、通常、以下のように行なわれていた。
アキシャル方向変位については、フォーカス制御状態で
反射面をアキシャル方向に微小変位させると、対物レン
ズがそれに追従して等しく変位するので、反射面変位量
とアキシャル方向変位検出器の出力との対応をとる。即
ち、反射面のアキシャル方向変位量を較正基準値として
アキシャル方向変位検出器の出力を較正する。ラジアル
方向変位については、対物レンズの出射光をコリメート
し、光位置センサ上に入射させるような光学系を構成し
、対物レンズをラジアル方向に強制的に変位させた場合
の対物レンズ変位量を光位置センサで把握し、ラジアル
方向変位検出器の出力との対応をとる。この場合には、
対物レンズのラジアル方向変位量を較正基準値としてラ
ジアル方向変位検出器の出力を較正する。
反射面をアキシャル方向に微小変位させると、対物レン
ズがそれに追従して等しく変位するので、反射面変位量
とアキシャル方向変位検出器の出力との対応をとる。即
ち、反射面のアキシャル方向変位量を較正基準値として
アキシャル方向変位検出器の出力を較正する。ラジアル
方向変位については、対物レンズの出射光をコリメート
し、光位置センサ上に入射させるような光学系を構成し
、対物レンズをラジアル方向に強制的に変位させた場合
の対物レンズ変位量を光位置センサで把握し、ラジアル
方向変位検出器の出力との対応をとる。この場合には、
対物レンズのラジアル方向変位量を較正基準値としてラ
ジアル方向変位検出器の出力を較正する。
（発明が解決しようとする問題点）
ところが、このような従来の較正法では、精密な微動治
具を要し、その設置位置等を考慮した検出装置の構造設
計が必要になるという問題点があった。また、従来法で
は反射面及び変位検出部品相互の精密な相対位置を得る
必要があるから、較正作業が繁雑となるとともに較正の
自動化が不可能で、精度が確保しにくいという欠点もあ
った。このような従来の較正方法では、高精度な光ディ
スク機械精度測定装置を較正する場合には、較正に長時
間を要するから、定期的に較正してその装置をｒ５？要
精度に維持するには相当な手間がかかり、実用的でない
。
具を要し、その設置位置等を考慮した検出装置の構造設
計が必要になるという問題点があった。また、従来法で
は反射面及び変位検出部品相互の精密な相対位置を得る
必要があるから、較正作業が繁雑となるとともに較正の
自動化が不可能で、精度が確保しにくいという欠点もあ
った。このような従来の較正方法では、高精度な光ディ
スク機械精度測定装置を較正する場合には、較正に長時
間を要するから、定期的に較正してその装置をｒ５？要
精度に維持するには相当な手間がかかり、実用的でない
。
そこで、本発明の目的は、光ディスク機械精度測定装置
の較正作業の効率化と高精度化をはかることである。
の較正作業の効率化と高精度化をはかることである。
（問題点を解決するための手段）
前述の問題点を解決するために本発明が提供する手段は
、光ディスクに光を出射してその光ディスクの機械精度
を測定する装置に前記光ディスクに代えて装着きれ、前
記装置の較正基準値を与える光ディスク機械精度測定装
置用較正ディスクであって二回転軸と同心の円環状の複
数の反射面が設けてあり；前記反射面は、前記回転軸に
垂直であり、前記回転軸に垂直な基準面からの距離が互
いに異なり、前記装置に装着されたときは前記光を反射
して前記装置に前記光の焦点制御を可能ならしめる範囲
に位置することを特徴とする。
、光ディスクに光を出射してその光ディスクの機械精度
を測定する装置に前記光ディスクに代えて装着きれ、前
記装置の較正基準値を与える光ディスク機械精度測定装
置用較正ディスクであって二回転軸と同心の円環状の複
数の反射面が設けてあり；前記反射面は、前記回転軸に
垂直であり、前記回転軸に垂直な基準面からの距離が互
いに異なり、前記装置に装着されたときは前記光を反射
して前記装置に前記光の焦点制御を可能ならしめる範囲
に位置することを特徴とする。
（実施例）
次に実施例を挙げ本発明を一層詳しく説明する。
第１図（ａ）は本発明の一実施例の斜視図、同図（ｂ）
及び（ｃ）は同図（ａ）の実施例のＡ−Ａ’面における
部分矢視断面図である。これら図において、２１はアキ
シャル方向変位較正部、２２はラジアル方向変位較正部
、２３は基準面である。アキシャル方向変位較正部２１
には、第１図（ｂ）に示すように基準面２３から一定の
深さの位置にある較正面ｚ０を中心に、高いの差が所定
の値であるような階段状の較正面出Ｚｌ、±２．が設け
てあり、これらの較正面はフォーカス制御可能な表面精
度と反射率を有する。基準面２３から２０面までの距離
は、光ディスクの表面から情報記録面までの距離（カバ
ーガラス厚）に合わせて、例えば１．２±０．０１ｍｍ
とすると、この実施例を光ディスク機械粘度測定装置の
光ディスク支持部に勘合させたとき、２．面は光ディス
クの情報記録面に相当する面に位置する。なお、２５は
光ディスクと光学的特性を等価にするためのカバーガラ
スである。ラジアル方向変位較正部２２は、第１図（ｃ
）に示すように例えば１．６−のピッチでトラック溝が
あるような光ディスクから幅１０ｍｍ程度のドーナツ状
部分を切り取り、基板２０に接着することによって得ら
れる。
及び（ｃ）は同図（ａ）の実施例のＡ−Ａ’面における
部分矢視断面図である。これら図において、２１はアキ
シャル方向変位較正部、２２はラジアル方向変位較正部
、２３は基準面である。アキシャル方向変位較正部２１
には、第１図（ｂ）に示すように基準面２３から一定の
深さの位置にある較正面ｚ０を中心に、高いの差が所定
の値であるような階段状の較正面出Ｚｌ、±２．が設け
てあり、これらの較正面はフォーカス制御可能な表面精
度と反射率を有する。基準面２３から２０面までの距離
は、光ディスクの表面から情報記録面までの距離（カバ
ーガラス厚）に合わせて、例えば１．２±０．０１ｍｍ
とすると、この実施例を光ディスク機械粘度測定装置の
光ディスク支持部に勘合させたとき、２．面は光ディス
クの情報記録面に相当する面に位置する。なお、２５は
光ディスクと光学的特性を等価にするためのカバーガラ
スである。ラジアル方向変位較正部２２は、第１図（ｃ
）に示すように例えば１．６−のピッチでトラック溝が
あるような光ディスクから幅１０ｍｍ程度のドーナツ状
部分を切り取り、基板２０に接着することによって得ら
れる。
このように構成した校正ディスクを用いて、アキシャル
方向変位検出器の較正を行なう場合、７０面が合焦位置
となるようにフォーカス制御をかけたときのアキシャル
方向変位検出器の出力を基準に、ビームスポット位置を
ずらせて±Ｚｔ面、±２゜面・・・を合焦としたときの
変位検出器出力をと乙と、第２図（ａ）のようになる。
方向変位検出器の較正を行なう場合、７０面が合焦位置
となるようにフォーカス制御をかけたときのアキシャル
方向変位検出器の出力を基準に、ビームスポット位置を
ずらせて±Ｚｔ面、±２゜面・・・を合焦としたときの
変位検出器出力をと乙と、第２図（ａ）のようになる。
これらの出力の直流値の差が各反射面の高さの差に相当
する。また、ラジア１し方向変位検出器の較正を行なう
場合、あるトラックに対してトラック制御をかけたとき
のラジアル方向変位検出器出力と、そのトラックから一
定数のトラックをジャンプさせたときの検出器出力との
対応をとればよい。第２図（ｂ）は、２０トラツクずつ
ジャンプさせた場合の例であり、既知のトラックピッチ
とジー！ンブ・トラック数の積でレンズ＃動量が与えら
れるので１、ラジアル方向変位検出器の出力（直流個分
）との対応をとることができる。
する。また、ラジア１し方向変位検出器の較正を行なう
場合、あるトラックに対してトラック制御をかけたとき
のラジアル方向変位検出器出力と、そのトラックから一
定数のトラックをジャンプさせたときの検出器出力との
対応をとればよい。第２図（ｂ）は、２０トラツクずつ
ジャンプさせた場合の例であり、既知のトラックピッチ
とジー！ンブ・トラック数の積でレンズ＃動量が与えら
れるので１、ラジアル方向変位検出器の出力（直流個分
）との対応をとることができる。
以上の説明においては、アキシャル方向変位較正部２１
は階段状であったが、本発明では、隣接する較正面の間
は一定の角度の旧面とし、フォーカス制御をはずさずに
各較正面間をビームスポットが移動できるようにするこ
ともできる。また、ラジアル方向変位較正部２２には光
ディスク板を基板に接着する方式を用いたが、基板に直
接溝を形成することも可能である。さらに第１図の実施
例の具体的寸法数値は一例にすぎず、本発明を規制しな
い。例えば、トラックピッチは１．６Ｐａｎに限ること
なく、また一種類のトラックピッチでなくてもよい。
は階段状であったが、本発明では、隣接する較正面の間
は一定の角度の旧面とし、フォーカス制御をはずさずに
各較正面間をビームスポットが移動できるようにするこ
ともできる。また、ラジアル方向変位較正部２２には光
ディスク板を基板に接着する方式を用いたが、基板に直
接溝を形成することも可能である。さらに第１図の実施
例の具体的寸法数値は一例にすぎず、本発明を規制しな
い。例えば、トラックピッチは１．６Ｐａｎに限ること
なく、また一種類のトラックピッチでなくてもよい。
（発明の効果）
以上述べたように、本発明による校正ディスクを用いて
光ディスク機械精度測定装置の較正をすれば、他に高精
度な微動治具等を設けることなく較正作業が効率的に行
なえるし、そのうえ誤差要因が少ないので高精度な較正
が可能である。そこで、本発明の実用的効果は大きい。
光ディスク機械精度測定装置の較正をすれば、他に高精
度な微動治具等を設けることなく較正作業が効率的に行
なえるし、そのうえ誤差要因が少ないので高精度な較正
が可能である。そこで、本発明の実用的効果は大きい。
第１図（ａ）は本発明の一実施例の斜視図、同図（ｂ）
及び（ｃ）は同図（ａ）実施例のＡ−Ａ’面における部
分矢視断面図、第２図（ａ）及び（ｂ）は第１図実施例
におけるアキシャル方向変位検出器出力及びラジアル方
向変位検出器出力をそれぞれ示す図、第３図（ａ）及び
（ｂ）は光ディスク機械精度測定装置に用いられる互い
に異なる方式のアキシャル方向変位検出器の構成をそれ
ぞれ示す図である。 １・・・レーザ光源、２・・・対物レンズ、３・・・被
測定光ディスク、４・・・固定レンズ、５・・・ミラー
、６・・・ビームスプリッタ、７・・・光位置センサ、
８・・・Ｎｉ２板、９・・・固定電極板、１１・・・フ
ォトディテクタ、１２・・・フォーカス制御回路、１３
・・・アクチェータ、２０・・・基板、２１・・・アキ
シャル方向変位較正部、２２・・・ラジアル方向変位較
正部、２３・・・基亭面、２５・・・カバーガラス。
及び（ｃ）は同図（ａ）実施例のＡ−Ａ’面における部
分矢視断面図、第２図（ａ）及び（ｂ）は第１図実施例
におけるアキシャル方向変位検出器出力及びラジアル方
向変位検出器出力をそれぞれ示す図、第３図（ａ）及び
（ｂ）は光ディスク機械精度測定装置に用いられる互い
に異なる方式のアキシャル方向変位検出器の構成をそれ
ぞれ示す図である。 １・・・レーザ光源、２・・・対物レンズ、３・・・被
測定光ディスク、４・・・固定レンズ、５・・・ミラー
、６・・・ビームスプリッタ、７・・・光位置センサ、
８・・・Ｎｉ２板、９・・・固定電極板、１１・・・フ
ォトディテクタ、１２・・・フォーカス制御回路、１３
・・・アクチェータ、２０・・・基板、２１・・・アキ
シャル方向変位較正部、２２・・・ラジアル方向変位較
正部、２３・・・基亭面、２５・・・カバーガラス。
Claims (2)
- （１）光ディスクに光を出射してその光ディスクの機械
精度を測定する装置に前記光ディスクに代えて装着され
、前記装置の較正基準値を与える光ディスク機械精度測
定装置用較正ディスクにおいて：回転軸と同心の円環状
の複数の反射面が設けてあり：前記反射面は、前記回転
軸に垂直であり、前記回転軸に垂直な基準面からの距離
が互いに異なり、前記装置に装着されたときは前記光を
反射して前記装置に前記光の焦点制御を可能ならしめる
範囲に位置することを特徴とする光ディスク機械精度測
定装置用較正ディスク。 - （２）前記光ディスクの一部分と同じか又は類似の溝が
前記反射面とは異なる半径領域に設けてあり、前記装置
に装着されたときに前記溝は前記光を反射して前記装置
に前記光の照射トラックの制御を可能ならしめる領域に
設けてあることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の光ディスク機械精度測定装置用較正ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25625685A JPS62117151A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 光デイスク機械精度測定装置用較正デイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25625685A JPS62117151A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 光デイスク機械精度測定装置用較正デイスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62117151A true JPS62117151A (ja) | 1987-05-28 |
Family
ID=17290111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25625685A Pending JPS62117151A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 光デイスク機械精度測定装置用較正デイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62117151A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0766059A2 (en) * | 1995-09-28 | 1997-04-02 | Emhart Inc. | Height gauge |
| US7283457B2 (en) | 2001-10-24 | 2007-10-16 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method of evaluating optical recording medium |
-
1985
- 1985-11-15 JP JP25625685A patent/JPS62117151A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0766059A2 (en) * | 1995-09-28 | 1997-04-02 | Emhart Inc. | Height gauge |
| EP0766059A3 (en) * | 1995-09-28 | 1997-11-26 | Emhart Inc. | Height gauge |
| US7283457B2 (en) | 2001-10-24 | 2007-10-16 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method of evaluating optical recording medium |
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