JPS61291975A - 堆積膜形成法 - Google Patents

堆積膜形成法

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JPS61291975A
JPS61291975A JP60131401A JP13140185A JPS61291975A JP S61291975 A JPS61291975 A JP S61291975A JP 60131401 A JP60131401 A JP 60131401A JP 13140185 A JP13140185 A JP 13140185A JP S61291975 A JPS61291975 A JP S61291975A
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JP
Japan
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space
decomposition
introduction pipe
precursor
raw material
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Application number
JP60131401A
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English (en)
Inventor
Shunichi Ishihara
俊一 石原
Hirokazu Otoshi
大利 博和
Toshimichi Oda
小田 俊理
Isamu Shimizu
勇 清水
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08278Depositing methods

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  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、機能性膜、殊に半導体デバイスあるいは電子
写真用の感光デバイスや光起電力素子などの用途に有用
な堆積膜の形成に関する。
〔従来技術〕
例えば、アモルファスシリコン膜の形成には、真空蒸着
法、プラズマCVD法、CVD法1反応性スパッタリン
グ法、イオンブレーティング法、光CVD法などが試み
られており、一般的には、プラズマCVD法が広く用い
られ、企業化されている。
面乍ら、アモルファスシリコンで構成される堆積膜は電
気的、光学的特性及び、繰返し使用での疲労特性あるい
は使用環境特性、更には均一性、再現性を含めた生産性
、量産性の点において、更に総合的な特性の向上を図る
余地がある。
従来から一般化されているプラズマCVD法によるアモ
ルファスシリコン堆積膜の形成に於ての反応プロセスは
、従来のCVD法に比較してかなり複雑であり、その反
応機構も不明な点が少なくなかった。又、その堆積膜の
形成パラメーターも多く(例えば、基4温度、導入ガス
の流量と比、形成時の圧力、高周波電力、電極構造、反
応容器の構造、排気速度、プラズマ発生方式など)これ
らの多くのパラメータの組み合せによるため、時にはプ
ラズマが不安定な状態になり、形成された堆積膜に著し
い悪影響を与えることが少なくなかった。そのうえ、装
置特有のパラメーター装置ごとに選定しなければならず
、したがって製造条件を一般化することがむずかしいと
いうのが実状であった。
一方、アモルファスシリコン膜として電気的、光学的特
性が各用途を十分に満足させ得るものを発現させるには
、現状ではプラズマCVD法によって形成することが最
良とされている。
面乍ら、堆積膜の応用用途によっては、大面積化、膜厚
の均一性、膜品質の均一性を十分に満足させて、再現性
のある量産化を図らねばならないため、プラズマCVD
法によるアモルファスシリコン堆積膜の形成においては
、量産装置に多大な設備投資が必要となり、またその量
産の為の管理項目も複雑になり、管理許容幅も狭くなり
、装置の調整も微妙であることから1これらのことが、
今後改善すべき問題点として指摘されている。
他方、通常のCVD法による従来の技術では、高温を必
要とし、実用可能な特性を有する堆a膜が得られていな
かった。
J:述の如く、アモルファスシリコン膜の形成に於て、
その実用可能な特性、均一性を維持させながら低コスト
な装置で量産化できる形成方法を開発することが切望さ
れている。
これ等のことは、他の機能性膜、例えば窒化シリコン膜
、炭化シリコン膜、酸化シリコン膜に於ても各々同様の
ことがいえる。
〔目的〕
本発明の目的は、上述したプラズマCVD法の欠点を除
去すると同時に、従来の形成方法によらない新規な堆積
膜形成法を提供するものである。
本発明の目的は、堆積膜を形成するs%積室空間A)に
於て、プラズマ反応を用いないで、形成される膜の特性
を保持し、堆積速度の向上を図りながら、膜形成条件の
管理の簡素化、膜の量産化を容易に達成させることであ
る。
〔問題点を解決する為の手段〕
本発明は基棉上に堆M膜を形成する為の堆積空間(A)
に、分解空間(B)に於て生成される堆積膜形成用の原
料となる前駆体と、分解空間(C)に於て生成され、前
記前駆体と相互作用をする活性種とを導入することによ
って、前記基俸上に堆積膜を形成する堆積膜形成法に於
いて、前記前駆体及び前記活性種のいずれか一方が、分
解効率の異なる複数の原料ガスの夫々を、その導入位置
が1分解効率の高い方よりも分解効率の低い方がより上
流側になるように分解空間に導入することにより生成さ
れる事を特徴とする。
本発明の方法では、所望の堆積膜を形成する堆積空間(
A)でプラズマを使用しないので。
堆積膜の形成パラメーターが、導入する前駆体及び活性
種の導入量、基体及び堆積空間内の温度・堆積空間内の
内圧となり、したがって堆積膜形成のコントロールが容
易になり、再現性、量産性のある堆a膜を形成させるこ
とができる。
又、前駆体及び活性種のいずれか一方を生成する際に、
分解効率の程度の異なる原料ガスを夫々、分解効率の低
い原料ガスの順に上流側よりの分解空間に導入する為に
、分解効率のより低い原料ガス種分解空間により長い時
間滞留することが出来るので前駆体或いは活性種を効率
良く生成することが出来る。
尚1本発明での「前駆体」とは、形成される堆積膜の原
料には成り得るがそのままのエネルギー状態では堆積膜
を形成することが全く又は殆んど出来ないものを云う。
「活性種」とは。
前記前駆体と化学的相互作用を起して例えば前駆体にエ
ネルギーを与えたり、前駆体と化学的に反応したりして
、前駆体を堆a膜を形成することが出来る状態にする役
目を担うものを云う。従って、活性種としては、形成さ
れる堆積膜を構成する構成要素に成る構成要素を含んで
いても良く、或いはその様な構成要素を含んでいなくと
も良い。
本発明では、堆積空間(A)に導入される分解空間(B
)からの前駆体は、その寿命が好ましくは0.01秒以
上、より好ましくは0.1秒以上、最適には1秒以上あ
るものが、所望に従って選択されて使用され、この前駆
体の構成要素が堆積空間(A)で形成させる堆積膜を構
成する主成分を構成するものとなる。又、分解空間(C
)から導入される活性種は、堆積空間(A)で堆積膜を
形成する際、同時に分解空間(B)から堆積空間(A)
に導入され、形成される堆積膜の主構成成分となる構成
要素を含む前記前駆体と化学的に相互作用する。その結
果、所望の基体上に所望の堆積膜が容易に形成される。
本発明の方法によれば、堆積空間(A)内でプラズマを
生起させないで形成される堆積膜は、エツチング作用、
或いはその他の例えば異常放電作用等による悪影響を受
けることは、実質的にない、又、本発明によれば堆積空
間(A)の雰囲気温度、基体温度を所望に従って任意に
制御することにより、より安定したCVD法とすること
ができる。
本発明の方法が従来のCVD法と違う点の1つは、あら
かじめ堆積空間(A)とは異なる空間に於て活性化され
た活性種を使うことである。このことにより、従来のC
VD法により堆積速度を飛躍的に伸ばすことが出来、加
えて堆積膜形成の際の基体温度もより一層の低温化を図
ることが可能になり、膜品質の安定した堆積膜を工業的
に大量に、しかも低コストで提供出来る。
本発明に於て分解空間(C)で生成される活性種は放電
、光、熱等のエネルギーで或いはそれ等の併用によって
励起されるばかりではなく、触媒などとの接触、あるい
は添加により生成されてもよい。
本発明に於て、分解空間(B)に導入される原材料とし
ては、炭素原子あるいは硅素原子あるいはゲルマニウム
原子に電子吸引性の高い原子又は原子団、或いは極性基
が結合しているものが利用される。その様なものとして
は、例えばYnX2n+2 (n=1 、2 、3−、
X=F、C1,Br 、 I 。
Y=C,St、Ge) 。
(YX2) n (n≧3.X=F、CM、Br、I、
Y=C,St、Ge)YnHX2r++1 (n=1,
2.3−、X=F、CM、Br、I。
Y=C,Si、Ge) 。
YnH2X2r+ (n=1 、2 、3・・zX=F
、C1,Br 、 I 。
Y=C,Si、Ge) 。
などが挙げられる。
具体的には例えばCF4 、C2F6 、SiF4゜(
SiF2) 5 、 (SiF2) 6. (SiF2
) 4.Si2F6゜SiHF3.SiH2F2,5i
C44(Si(,12) 5.SiBr4゜(SiEr
2) s、GeF4.Ge2F6などのガス状態の又は
容易にガス化し得るものが挙げられる。
又、S 1H2(06H5) 2 、 S i H2(
CN) 2なども形成される堆積膜の使用目的によって
は使用される。
上述したものに、分解空間(B)で熱、光。
放電などの分解エネルギーを加えることにより、前駆体
が生成される。この前駆体を堆積空間(A)へ導入する
。この際、前駆体の寿命が望ましくは0.01秒以上あ
ることが必要で、堆積効率及び堆積速度の上昇を促進さ
せ、堆積空間(A)に於て1分解室間(C)から導入さ
れる活性種との活性化反応の効率を増し、その際、必要
であればプラズマなどの放電エネルギーを使用しないで
、堆積空間(A)内あるいは基板上に熱、光などのエネ
ルギーを与えることで。
所望の堆積膜の形成が達成される。
本発明に於て、分解空間(C)に導入され、活性種を生
成される原料としては、H2,SiH4゜SiH3F、
5iH3C文、5iH3Br、5i)(3Iなとの他、
He、Ar等の稀ガスが挙げられる。
本発明に於て堆積空間(A)に於ける分解空間(B)か
ら導入される前駆体の量と分解空間(C)から導入され
る活性種との量の割合は、堆積条件、活性種の種類など
で適宜所望に従つて決められるが好ましくは10:1〜
1:10(導入流量比)が適当であり、より好ましくは
8:2〜4:6とされるのが望ましい。
本発明に於て分解空間(B)、及び分解空間(C)で前
駆体及び活性種を生成される方法としては各々の条件、
装置を考慮して放電エネルギー、熱エネルギー、光エネ
ルギーなどの励起エネルギーが使用される。
本発明に於ては、分解空間(B)で生成される前駆体及
び分解空間(C)で生成される活性種は、単種に限らず
複数種でも良く、特に複数種であって、それ等が別々原
料ガスなり生成される場合に本発明の目的は効果的に達
成される。
分解効率の程度に応じて各分解空間に導入される原料ガ
スの導入位置は、決められるが、更に、原料ガスの夫々
より生成される前駆体又は活性種の寿命も考慮して決め
るのが望ましい。
各分解空間に分解効率に応じて原料ガスを導入する方法
としては、分解空間に連結される原料ガス導入管の連結
位置を堆積空間(A)に対して、上流側に向って、夫々
、原料ガスの分解効率の程度に応じて定め、各連7結し
た原料カス導入管より分解効率のより、低い原料ガスを
より上流位置より分解空間中に導入するか、又は、各導
入管の分解空間への開放位置を夫々、原料ガスの分解効
率に従って定めることによって導入がなされる。
次に本発明の堆積膜方法によって形成される電子写真用
像形成部材の典型的な例を挙げて本発明を説明する。
第1図は本発明によって得られる典型的な光導電部材の
構成例を説明する為の図である。
第1図に示す光導電部材100は、電子写真用像形成部
材として適用させ得るものであって、光導電部材用とし
ての支持体101の上に、必要に応じて設けられる中間
R102と表面層104、光導電!103とで構成され
る層構造を有している。
支持体101としては、導電性でも電気絶縁性であって
も良い。導電性支持体としては、例えばNlCr、ステ
ンレス、AI、Cr。
Mo 、Au 、I r 、Nb 、Ta、V、Ti 
Pt、Pd等の金属またはこれ等の合金が挙げられる。
電気絶縁性支持体としては、ポリエステル。
ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス、セラミック、紙
等が通常使用される。これらの電気絶縁性支持体は、好
適には少なくともその一方の表面が導電処理され、該導
電処理された表面側に他の層が設けられるのが望ましい
例えばガラスであれば、その表面がNlCr。
AM、Cr、Mo、Au、Ir、Nb、Ta。
V、Ti、Pt、Pd、In2O3,SnO2゜ITO
(I n203+5n02)等の薄膜を設けることによ
って導電処理され、あるいはポリエステルフィルム等の
合成樹脂フィルムであれば、NiCr、Ai、Ag、P
b、Zn、Ni 。
Au、Cr、Mo、Ir、Nb、Ta、V。
Ti、Pt等の金属で真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパ
ッタリング等で処理し、又は前記金属でラミネート処理
して、その表面が導電処理される。支持体の形状として
は、円筒状、ベルト状、板状等、任意の形状とし得、所
望によって、その形状が決定されるが、例えば、第1図
の光導電部材100を電子写真用像形成部材として使用
するのであれば、連続高速複写の場合には、無端ベルト
状又は円筒状とするのが望ましい。
中間層102は例えばシリコン原子及びゲルマニウム原
子又は炭素原子又は窒素原子又は酸素原子又はハロゲン
原子(X)を含む非光導電性のアモルファス材料で構成
され、支持体101の側から光導電層103中へのキャ
リアの流入を効果的に阻止し且つ電磁波の照射によって
光導電層103中に生じ、支持休101の側に向って移
動するフォトキャリアの光導電層103の側から支持体
101の側への通過を容易に許す機能を有するものであ
る。
中間層102を形成する場合には、光導電層103の形
成まで連続的に行うことが出来る。
その場合には、中間層形成用の原料ガスを、必要に応じ
てHe、Ar等の稀釈ガスと所定量の混合比で混合して
、各々を所定の分解空間CB)と分解空間(C)とに導
入し、所望の励起エネルギーを夫々の空間に加えて、各
々の前駆体及び活性種を生成させ、それらを支持体10
1の設置しである真空堆積用の堆積空間(A)に導入し
、必要に応じては、これ等に膜形成用のエネルギーを与
えることによって、前−記支持体101上に中間層10
2を形成させれば良い。
中間層102を形成する為に分解空間(C)に導入され
る活性種を生成する有効な出発物質は、Ar、He、H
2,SiとHとを構成原子とする5jH4,5iH3C
JL、SiH3F。
5iH3Br等の水素の多いハロゲン化シラン、Nを構
成原子とする、或いはNとHとを構成原子とする例えば
窒素(N2)、アンモニア(NH3)、ヒドラジン(H
2NNH2)。
アジ化水素(HN3)、アジ化アンモニウム(NH4N
3)等のガス状の又はガス化し得る窒素、窒化物及びア
ジ化物等の窒素化合物、CとHを構成原子とする例えば
炭素数1〜5の飽和炭化水素、炭素数2〜5のエチレン
系炭化水素、炭素数2〜4のアセチレン系炭化水素等、
具体的には、飽和炭化水素としてはメタン(CH4)、
エタン(C2H6)  、プロパン(C3H8)、n−
ブタン(n−1,4Hto)。
ペンタン(C5H12)、エチレン系炭化水素としては
、エチレン(C2H4)、プロピレン(C3Hs)  
、ブテン−1(C4H8)、ブテン−2(C4H8)、
 イ”)ブチレン(C4H8)、ペンテ7(C5H10
)、アセチレン系炭化水素としては、アセチレン(C2
H2)。
メチレンアセチレン(C3H4) 、ブチン(C4H6
)等、更に、これ等の他に例えば、酸素(02)、オゾ
ン(03)、−酸化炭素(Co)、二酸化炭素(CO2
)、−酸化窒素(No)、二酸化窒素(NO’2)、−
酸化二窒素(N 20)等を挙げらことか出来る。
これらの中間層102形成用の出発物質は、所定の原子
が構成原子として、形成される中間層102中に含まれ
る様に、層形成の際に適宜選択されて使用される。
一方、中間層102を形成する際に分解空間(B)に導
入される前駆体を生成し得る出発物質としては、GeF
4及びSiF4又はSiH2F2等が有効なものとして
挙げられ、これ等は放電エネルギー下で容易にGeFn
(。=o。
1.2.3)、5fFn(n=o、1,2.3)の如き
前駆体を生成する。
中間層102の層厚としては、好ましくは、10久〜3
ル、より好適には30入〜1uLとされるのが望ましい
光導電層103は、電子写真用像形成部材としての機能
を十分に発揮することができるような光導電特性を持つ
ようにシリコン原、子を母体とし、ハロゲン(X)を含
み、必要に応じて水素原子(H)を含むアモルファスシ
リコンA−3EX(H)で構成される。
光導電層103の形成も、中間層102と同様に分解空
間(B) にSiF4,5iF2H2等の原料ガスが導
入され、これ等を放電エネルギーで分解することで前駆
体が生成される。前駆体は堆積空間(A)に導入される
。他方、分解空間(C) ニハH2、S iH4、S 
iH3Fなどの原料ガスが導入され、所定の励起エネル
ギーにより活性種が生成される。活性種は堆積空間(A
)に導入され、゛分解空間(B)から堆積空間(A)に
導入されて来る前駆体と化学的相互作用を起し、その結
果所望の光導電層103が堆積される。光導電層103
の層厚とては、適用するものの目的に適合させて所望に
従って適宜決定される。
第1図に示される光導電!103の層厚としては、光導
電層103の機能及び中間層102の機能が各々有効に
活されてる様に中間層102との層厚関係に於いて適宜
所望に従って決められるものであり、通常の場合、中間
層102の層厚に対して数百〜数千倍以上の層厚とされ
るのが好ましいものである。
具体的な値としては、好ましくは1〜100μ、より好
適には2〜50舊の範囲とされるのが望ましい。
第1図に示す光導電部材の光導電層中に含有されるHの
量又はHとXの量の和は(X=Fなどのハロゲン原子)
好ましくは1〜40at 。
mic%、より好適には5〜30atomic%とされ
るのが望ましい。
X単独の量としては、その下限が好適には0.001a
tomic%、より好適には0.01at omi c
%、最適には0.1atomic%とれるのが望ましい
第1図の光導電部材の表面層104は必要に応じて中間
層102、及び光導電層103と同様に形成される。シ
リコンカーバイド膜であれば、例えば、分解空間(B)
にSiF4、分解空間(C)にSiH4とCH4とH2
あるいはSiH4とS iH2(CH3)2などの原料
ガスを導入し、各々分解エネルギーで励起させて3前駆
体及び活性種の夫々を夫々の空間で生成しそれ等を別々
に堆積空間(A)へ導入させることにより表面層104
が堆積される。又、表面層104としては、窒化シリコ
ン、酸化シリコン膜などのバンドギャップの広い堆積膜
が好ましく、光導電層103から表面層104へその膜
組成を連続的に変えることも可能である。表面層104
の層厚は、好ましくは0.01井〜5ル、より好ましく
は、0.05#〜1pLの範囲が望ましい。
光導電層103を必要に応じてn型又はp型とするには
、層形成の際に、n型の不純物又は、p型の不純物、或
いは両不純物を形成される層中にその量を制御し乍らド
ーピングしてやる事によって成される。
光導電層103中にドーピングされる不純物としては、
P型の不純物として、周期率表■族A(7)元素、例え
ば、B、A1.Ga、In。
T1等が好適にものとして挙げられ、n型不純物として
は、周期率表V族Aの元素、例えばN、P、As、Sb
、Bi等が好適なものとして挙げりれるが、殊にB、G
a、P、Sb等が最適である。
本発明に於いて所望の伝導型を有する為に光導電層10
3中にドーピングされる不純物の量は、所望される電気
的會光学的特性に応じて適宜決定されるが、周期率表第
V族Aの不純物の場合3X 10−2a t omi 
c%以下の量範囲でドーピングしてやれば良く、周期率
表第V族Aの不純物の場合には5X10−3atomi
c%以下の量範囲でドーピングしてやれば良い。
光導電層103中の不純物をドーピングするには、層形
成の際に不純物導入用の原料物質をガス状態で分解空間
(B)あるいは(C)中に導入してやれば良い、前駆体
と反応性のある不純物ガスを導入するには分解空間(B
)の方ではなく、分解空間(C)方へ導入し、そこから
その活性種を堆積空間(A)に導入する方が好ましい。
この様な不純物導入用の原料物質としては、常温常圧で
ガス状態の又は、少なくとも層形成条件下で容易にガス
化し得るものが採用される。その様な不純物導入用の出
発物質として具体的には、PH3、P2H4、PF3 
、PF5 。
PC,13,AsH3,AsF3.AsF5゜AsCl
3.SbH3,SbF5.BiH3゜Bi3.BCl3
.BBr3.B2H6、B4H10、B 5 H9、B
 5 H11、B 6 H10、B 6H12,A41
0文31等を挙げることが出来る。
実施例1 第2図に示す装置を使い、以下の如き操作によってドラ
ム状の電子写真用像形成部材を作成した。
第2図において、1は堆積空間(A)、2は分解空間(
B)、3は分解空間(C)、4は電気エネルギー供給手
段、5.6は前駆体の原料物質導入管、7は前駆体導入
管、8は放電エネルギー分解空間、9は活性種の原料物
質導入管、10は活性種導入管、11はモーター、12
は加熱ヒーター、13は吹き出し管、14は吹き出し管
、15はAMシリンダー、16は排気バルブ、18はフ
ィルター空間を示している。フィルター空間18は、前
駆体導入管7を長くしたものである。
堆積空間(A)1にAlシリンダー15をつり下げ、そ
の内側に加熱ヒーター12を備え、モーター11により
回転できるようにし、分解空間(B)2からの前駆体を
導入する導入管7を経て、吹き出し管13と、分解空間
(C)3からの活性種を導入する導入管10を経て、吹
き出し管14を備える。
分解空間(B)2に放電エネルギーを作用させたもとで
ボンベからSiF4の導入管6により、SiF4を吹き
込むことにより、5iFn(n=0.1,2.3)の前
駆体を生成させ、また分解空間(B)2の途中に、Ge
F4の導入管セ中よりGeF4を吹き込むことにより、
GeFn (n=o 、l 、2.3)の前駆体を生成
させ、その後、フィルター空間18を通すことにより、
SiF2.及びGeF2前駆体のみを導入管7を経て、
堆積空間(A)1の吹き出し管13へ導入する。一方、
分解空間(C)3に導入管9からH2を導入し、活性化
手段8により放電エネルギーを作用させてH活性種を生
成させ、導入管10から吹き出しv14へ導入する。こ
のとき、導入管10の長さは、装置上、可能な限り短縮
し、その活性種の有効使用効率を落さないようにする。
堆積空間(A)内のAiシリンダーは300℃にヒータ
ー12により加熱、保持され、回転させ、排ガスは排気
バルブ16を通じて排気させる。このようにして光導電
M103が形成されるが、同様に中間層102、表面層
104も形成される。
実施例2 実施例1において、フィルター空間18をとりはずし、
生成された前駆体をできる限り短い時間に堆積空間(A
)1に導入した。
実施例3 実施例1と同様に堆積膜を形成するが、分解空間(C)
3に導入する原料ガスをSiF4として、放電エネルギ
ーの代わりに電気炉で600℃に加熱し、SiH2,S
iH,SiH3,Hなどの活性種を生成し、該活性種を
吹き出し管14へ導入し、ドラム状の電子写真用像形成
部材を作成した。
上記した実施例1,2.3のドラム状の電子写真用像形
成部材の製造条件と性能を第1表に示す。
実施例1,2.3の中間層102は分解空間(B)にG
eF4.SiF4、分解空間(C)にs i H4/H
2/No/B2H8(容量%でNO:2%、82H6:
0.2%)を各々導入し各々の励起エネルギーで前駆体
及び活性種を生成し、堆積空間(A)へ導入して形成し
た。各中間層102の層厚は、2000又とした。
実施例1,2.3の表面層104は、導入管5をとじ、
分解空間(B)に導入管6よりSiF4を導入し、また
分解空間(C)にはS i F4/CH4/H2を容量
比10 : to。
:50で導入し、各々の励起エネルギーで前駆体及び活
性種を生成し、堆積空間(A)へ導入して形成した0表
面層104の層厚は1000人とした。
実施例1,2.3のドラム状の電子写真用像形成部材を
、■帯電、780mm半導体レーザー露光、転写による
カールソンプロセスに於いてeトナーによる熱定着方式
の複写装置に装着し、全面暗部全面明部A3サイズの複
写を行ない、画像中、不均一なノイズが発生するか否か
について観察したものが平均画像欠陥の数である。又、
その際にドラムの周方向、母線方向の受容電位の均一性
を測定した。
これらの結果は、第1表に示す。
実施例4 第3図に示す装置を使い、以下の如き操作により平板状
の基板上に光導電性の機能性膜を作製した。
第3図に於いて、301は成膜室(A)、302は分解
空間(B)、303は分解空間(C)、304.305
は堆積膜形成用の前駆体の原料ガス放出パイプ、307
.308は活性化エネルギー源であるマイクロ波電源、
309は堆積膜形成用のガラス基板、310はガラス基
板加熱用ヒーター、311はヒーター用の電線、312
は基板ホルダー、306は堆積膜形成用の活性種の原料
ガス導入パイプ、313は分解空間(B)から成膜室(
A)へ前駆体混合ガス導入用のノズルである。
本実施例に於いては原料ガス導入用パイプ305の先端
の位置は、原料ガス導入用パイプ304から約30cm
前方のところに設定した。
成膜室(A)301にガラス基板をいれ、排気パルプ(
不図示)を開け、成膜室(A)及び分解空間(B)を約
1O−5torrの真空度にした0次に加熱ヒーター3
10によりガラス基板温度を約300℃に保持した0次
に堆積膜形成用の原料ガスを夫々分解空間(B)、(C
)に導入した。活性化室(C)に活性種生成用の原料ガ
スとしてH2ガスIO3ccMを導入した。活性化室(
B)に前駆体生成用の原料ガスとしてガス導入用パイプ
304より5iF4(100%)を2003CCM導入
した。またガス導入用パイプ305よりGeF4 (1
00%)をISOCM導入した。流量が安定してから排
気バルブを調節して成膜室(A)の内圧を約0.002
Torrとした。内圧が一定になってからマイクロ波電
源307及び308を動作させ、分解空間(B)、(C
)にそれぞれ200Wの放電エネルギーを投入した。
この状態で20分間保ち成膜室(A)201内のガラス
基板207上に約1ル厚のA−3iGe:H:F膜を堆
積した。この様にして作成したA−3iGe:H:F膜
上に通常の真空蒸留法でギャップ長2.5 c m、ギ
ャップ間隔0、2 m mのくし型An電極を約500
人つけた。
電圧を印加し、流れる電流を測定したところ、光照射時
と暗時の電流の比はlX103・5であった。なお24
時間光照射後でもこの値はかわらなかった。(他方比較
の為に)313の長さを短くして作成したA−3iGe
:H:F膜を同じ条件で評価したところ、光照射時と暗
時の電流の比は初期にはlX103・4であったが、2
4時間光照射後にはlX102・3に減少した。なお本
実施例で作成したa−3iGe:F:H膜のStとGe
の組成比はそれぞれ70/30であった。
実施例5 実施例1に於いて、分解空間302におけるGeF4の
導入位置305を変化させて、a−5iGe:F:H膜
を堆積しSiとGeの組成比をXMAにより評価を行っ
た。
第2表に示す結果が得られた。
第   1   表 第2表
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の方法を用いて作成される光導電部材
の1実施態様例を説明するために層構造を示した模式図
である。第2図は本発明の製造法を具現化するための装
置の1例を示す模式的説明図である。第3図は、本発明
の方法を用い薔作成される光導電部材の1実施態様例を
説明する為に層構造を示した模式図である。 1:堆積空間(A)、2+分分解間(B)3:分解空間
(C)、4:活性化源。 5 : GeF4の導入管 6:SiF4の導入管 7:前駆体導入管、  8:電気路 9:活性種の原料物質導入管 10:活性種導入管、 11:モーター12:加熱ヒー
ター、 13:吹き出し管14:吹き出し管、   1
5:A文シリンダー16:排気バルブ 17:回転機構を備えた移動式置台 18:フィルター空間 301:成膜室(A) 302:分解空間(B) 303:分解空間(C) 304.305,306:原料ガス導入パイプ307.
308:マイクロ波電源 309ニガラス基板 310:加熱用ヒーター 311:ヒーター用電線 312二基板ホルダー 313:分解空間CB)より成膜室(A)への前駆体混
合ガス導入用のノズル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基体上に堆積膜を形成するための成膜空間(A)に、
    分解空間(B)に於て生成される堆積膜形成用の原料と
    なる前駆体と、分解空間(C)に於て生成され、前記前
    駆体と相互作用をする活性種とを導入する事によって、
    前記基体上に堆積膜を形成する堆積膜形成法に於いて、
    前記前駆体及び前記活性種のいずれか一方が、分解効率
    の異なる複数の原料ガスの夫々を、その導入位置が、分
    解効率の高い方よりも分解効率の低い方がより上流側に
    なるように分解空間に導入することにより生成される事
    を特徴とする堆積膜形成法。
JP60131401A 1985-06-17 1985-06-17 堆積膜形成法 Pending JPS61291975A (ja)

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