JPS61229376A - ジヨセフソン量子干渉計 - Google Patents

ジヨセフソン量子干渉計

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Publication number
JPS61229376A
JPS61229376A JP60070107A JP7010785A JPS61229376A JP S61229376 A JPS61229376 A JP S61229376A JP 60070107 A JP60070107 A JP 60070107A JP 7010785 A JP7010785 A JP 7010785A JP S61229376 A JPS61229376 A JP S61229376A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interferometer
josephson
superconducting
quantum interferometer
josephson quantum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60070107A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunio Yamashita
山下 邦男
Yuji Hatano
雄治 波多野
Hideaki Nakane
中根 英章
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP60070107A priority Critical patent/JPS61229376A/ja
Publication of JPS61229376A publication Critical patent/JPS61229376A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/10Junction-based devices
    • H10N60/12Josephson-effect devices

Landscapes

  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はジョセフソン・デバイスに係り、特ニジョセフ
ソン論理、メモリ回路に好適なジョセフソン量子干渉計
に関する。
〔発明の背景〕
従来のジョセフソン量子干渉計はアイイーイーイー ト
ランザクションマグネティクス 第マグネティクス15
巻 第1号(1979)第412頁(I E E E 
TRAN S 、 MAGNE、、 VolMAG−1
5,No、1 (1979)、p412)に記載のよう
な構造のものがほとんどである(ジョセフソン量子干渉
計の中で最も代表的な2つの超電導ループを有する1:
2:IJIと呼ばれて、いる)、その概略を第1図に示
す、ベース電極101および102とカウンタ電極10
3で超電導ループ104,105をそれぞれ構成し、そ
のループ中にジョセフソン接合106,107゜108
および109を設けている。そして、超電゛導ループの
一端112および113に抵抗11o。
−111を通してゲート電流11の1/2をそれぞれ給
電し、さらに、信号電流ICをコントロール電極114
で入力できるように構成されている。
第2図に第1図に示したジョセフソン量子干渉計の等価
回路を、第3図にそのしきい値特性を示す、第2図中、
第1図と同一の部分は、同一の符号で表わしている。第
3図において、ゲート電流工gxを給電しておき、信号
電流Ic工を入力することにより干渉計は零電圧から電
圧状態に(第3図中301)スイッチする。したがって
、第3図に斜線302で示した範囲が干渉計の動作領域
である。このしきい値特性は第2図に示した超電導ルー
プのインダクタンスL1.L、、L、およびL4とジョ
セフソン接合の臨界電流、さらに超電導ループとコント
ロール電極との相互インダクタンスLMLeLM□v 
L M 11およびLM4で決定される。
ここで、Ll ”IF L、 Sl ? [、3kl[
、4、LMi”ILM!およびL M 3 ” L M
 4の場合、第3図に示した動作領域302の底辺30
3がもち上がり、その分だけ干渉計の動作マージンが狭
くなる。
また、第2図にL2として示したジョセフソン接合間の
インダクタンスも動作マージンを狭くする原因となる。
これについては第1図に示すように接合を可能な限り接
近させインダクタンスを小さくする工夫がなされている
しかし、従来のジョセフソン量子干渉計は動作マージン
を狭くする原因である接合間のインダクタンスについて
は考慮されているが、超電導ループ内のインダクタンス
の対称性については考慮されていなかった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は超電導ループのインダクタンスを等しく
することにより、動作マージンの広いジョセフソン量子
干渉計を提供することにある。
〔発明の概要〕
ジョセフソン・デバイスにおけるインダクタンスは超電
導薄膜および眉間絶縁膜の材質および膜厚に依存する一
方、その幾何学的な形状で決まる。
しかし、これまでのジョセフソン量子干渉計は超電導薄
膜等の幾何学的形状については何んら考慮されていない
すなわち、これまでのジョセフソン量子干渉計は、ゲー
ト電流11の給電点が超電導ループの中点に位置してい
ない0本発明者らの実験によると。
給電点が超電導ループの中点の位置にないことにより、
超電導ループのインダクタンスが非対称となり、動作マ
ージンを狭くしていることが判明した1本発明はこの新
たな知見に基づきなされたもので、ジョセフソン量子干
渉計の超電導ループの形状を工夫することによってゲー
ト電流I5の給電点から見た超電導ループのインダクタ
ンスを対称にし、干渉計の動作マージンを広くしようと
するものである。
〔発明の実施例〕
以下1本発明の詳細な説明する。第4図は本発明の一実
施例を示し、ベース電極401.カウンタ電極402.
ジョセフソン接合403゜404.405および406
で超電導ループを構成し、抵抗407,408を通した
超電導ループの一端409および410からゲート電流
を給電する構造である。カウンタ電極402の形状を変
形することにより、超電導ループのインダクタンスがゲ
ート電流の給電点409および410に対して対称にな
る構造となっている。したがって、干渉計のしきい値の
底辺(第3図の303)が下がり、動作マージンが広く
なる。
第5図および第6図に本発明の他の実施例を示す、第5
図の実施例によれば、ゲート−流の給電点501,50
2を超電導ループの中点に設けることにより第4図で示
した干渉計と同様の効果を得ることができる。
第6図の実施例は超電導ループ一つから成る干渉計であ
り、ベース電極601.カウンタ電極対称にできる以外
につどのような効果がある。超電導ループ一つから成る
干渉計番ヨメモリ回路として用いることが多く、干渉計
を直列に多数接続する、第6図の干渉計を用いると第7
図に示すように、干渉計701,702.および703
の接続に特別の接続層を必要としない、したがって集積
度を高めることに効果的である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、ゲート電流の給電点から見た超電導ル
ープのインダクタンスを等しく(対称)するようにした
ので、ジョセフソン量子干渉計のしきい値の底辺を下げ
ることができ、該干渉計の動作マージンを広くすること
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のジョセフソン量子干渉計の構造の概略図
、第2図はその等価回路を示す図、第3図はそのしきい
値特性を示す図である。第4図。 第5図、第6図は本発明の実施例セあるジョセフソン量
子干渉計の構造の概略図、第7図は第6図の干渉計を直
列に接続した場合の構造図である。 101.102,401,601・・・ベース電極、1
03.402,602・・・カウンタ電極、112.1
13,409,410,501゜502.605・・・
ゲート電流の給電点。 1許出願人 工業技術院長   等 々 力   連射2図 第3図 工I!:101C 第3図 葛 7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ベース電極とカウンタ電極とによって1つ以上の超
    電導ループを構成し、該超電導ループ上に層間絶縁膜を
    介してコントロール電極を設けてなるジョセフソン量子
    干渉計において、電源電流の入力位置から見た前記各超
    電導ループの自己および相互インダクタンスを対称にし
    たことを特徴とするジョセフソン量子干渉計。 2、特許請求の範囲第1項において、前記カウンタ電極
    の形状を非対称にすることにより、上記超電導ループの
    自己および相互インダクタンスを対称にすることを特徴
    とするジョセフソン量子干渉計。 3、特許請求の範囲第1項において、前記電源電流の入
    力位置を前記各超電導ループの中心に設け、その自己お
    よび相互インダクタンスを対称にすることを特徴とする
    ジョセフソン量子干渉計。
JP60070107A 1985-04-04 1985-04-04 ジヨセフソン量子干渉計 Pending JPS61229376A (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5656374A (en) * 1979-10-05 1981-05-18 Warner Swasey Co Grinding method for cam shaft and its grinder
JPS57141922A (en) * 1981-02-26 1982-09-02 Kyushu Daigaku Closed magnetic flux type super conduction circuit
JPS5856374A (ja) * 1981-09-30 1983-04-04 Fujitsu Ltd ジヨセフソン論理積装置

Patent Citations (3)

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