JPS61199842A - Ｃｔスキヤナ - Google Patents

Ｃｔスキヤナ

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JPS61199842A
JPS61199842A JP60040101A JP4010185A JPS61199842A JP S61199842 A JPS61199842 A JP S61199842A JP 60040101 A JP60040101 A JP 60040101A JP 4010185 A JP4010185 A JP 4010185A JP S61199842 A JPS61199842 A JP S61199842A
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JP
Japan
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gas detector
bias
vibration
detector
current
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Pending
Application number
JP60040101A
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English (en)
Inventor
忠 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Priority to US06/841,810 priority patent/US4804242A/en
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    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24—Coupling light guides
    • G02B6/36—Mechanical coupling means
    • G02B6/38—Mechanical coupling means having fibre to fibre mating means
    • G02B6/3807—Dismountable connectors, i.e. comprising plugs
    • G02B6/3833—Details of mounting fibres in ferrules; Assembly methods; Manufacture
    • G02B6/3855—Details of mounting fibres in ferrules; Assembly methods; Manufacture characterised by the method of anchoring or fixing the fibre within the ferrule
    • G02B6/3857—Crimping, i.e. involving plastic deformation
    • G—PHYSICS
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    • G02B6/24—Coupling light guides
    • G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4292—Coupling light guides with opto-electronic elements the light guide being disconnectable from the opto-electronic element, e.g. mutually self aligning arrangements

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
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  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、放射線を検出するための検出器としてＸｅ
ガス検出器を使用したＣＴスキャナに関する。
従来の技術 従来、Ｘｅガス検出器を用いたＣＴスキャナは第５図の
ように構成されている。この第５図で、Ｘ線管１とＸｅ
ガス検出器２とが被写体を挟んで対向配置され、図示し
ない機構により被写体を中心にして回転させられて、被
写体に対するスキャンが行なわれるようになっている。
Ｘｅガス検出器２は第６図に示すようにＸｅガスの封入
された密封容器２１中にバイアス電極２２と信号電極２
３とが交互に配置されてなり、バイアス電極２２にバイ
アス電源６からバイアス電圧Ｅ（通常、直流５ｏｏｖ）
が印加され、Ｘ線が入射したとき信号電極２３から信号
電流ｉが生じる。この信号電流ｉはデータ収集装置３に
送られ、増幅、Ａ／Ｄ変換されてコンピュータ４に送ら
れる。コンピュータ４では、このデータが処理されて画
像再構成が行なわれ、再構成された画像が表示装Ｍ５に
より表示される。
発明が解決しようとする問題点 Ｘｅガス検出器は、温度特性が良い、リーク電流が小さ
い等の利点を有しているが１回転機構などの機構部から
の機械的振動の影響により振動ノイズを発生するという
欠点がある。
すなわち、８６図で説明すると、１つの検出器セルは２
つのバイアス電極２２により１つの信号電極２３が挟ま
れて構成されるが、このような構造であるため、一種の
コンデンサを形成している。そこで、バイアス電極２２
に対して信号電極２３が振動により相対的に移動したと
き、下記のような電流ｉが発生する。
１＝Ｅ（ｄＣ／ｄｔ） ここにＣは形成されたコンデンサの静電容量であり、容
量Ｃの時間当りの変化量（ｄＣ／ｄｔ）および印加電圧
Ｅに比例したノイズ電流ｉが発生する訳である。
この発明は、Ｘｅガス検出器の振動に起因するノイズを
減少させるよう改善したＣＴスキャナを提供することを
目的とする。
問題点を解決するための手段 この発明によるＣＴスキャナは、Ｘｅガス検出器の振動
を検出する振動検出器と、検出した振動をバイアス電源
にフィードバックしてバイアス電圧を制御する制御回路
とを備える。
作　　　　用 振動検出器によりＸｅガス検出器の振動（ｄＣ／ｄｔに
対応）、つまり振幅と周波数とが検知され、これがバイ
アス電源にフィードバックされて、振動により生じるノ
イズ電流（ｉ）が少なくなるようバイアス電圧（Ｅ）が
制御される。
実施例 第１図に示す実施例において、Ｘ＆Ｉ管１とＸｅガス検
出器２とが被写体を挟んで対向配置され、図示しない機
構により被写体を中心にして回転させられて、被写体に
対するスキャンが行なわれるようになっている。Ｘｅガ
ス検出器２は第２図に示すようにＸｅガスの封入された
密封容器２１中にバイアス電極２２と信号電極２３とが
交互に配置されてなり、バイアス電極２２にバイアス電
源６からバイアス電圧Ｅ（通常、直流５００Ｖ）が印加
され、Ｘ線が入射したとき信号電極２３から信号電流が
生じる。この信号電流はデータ収集装置３に送られ、増
幅、Ａ／Ｄ変換されてコンピュータ４に送られる。コン
ピュータ４では、このデータが処理されて画像再構成が
行なわれ、再構成された画像が表示装置５により表示さ
れる。
ここで、Ｘｅガス検出器２の適宜な箇所たとえば端部に
ダミー電極２４が設けられ、このダミー電極２４をＸ線
からシールドするようＸ線シールド２５が配置される。
このダミー電極２４にはＸ線が入射しないので、電離電
流が生じることがなく、このダミー電極２４からは、振
動に起因するノイズ電流ｉのみが発生する。つまり、こ
のダミー電極２４は振動検出器として機能し、その出力
電流ｉは振動検出信号となっている。この振動検出信号
は制御回路７を経てバイアス電源６にネガティブフィー
ドバックされ、振動によりノイズ電流ｉが増大したとき
バイアス電圧Ｅを減少させるようバイアス電源が制御さ
れる。これにより、ノイズ電流ｉを抑圧することができ
る。
なお、一般に、Ｘｅガス検出器の印加電圧Ｅと出力電流
ｉとの関係は第３図のようになっており、電離による出
力電流ｉが印加電圧Ｅに比例する比例計数管領域ではな
くて、電離による出力電流ｉが印加電圧Ｅに対して一定
な領域である再結合領域で使用される。つまり、バイア
ス電圧Ｅを、再結合領域である電圧Ｅ１〜Ｅ２の範囲内
のＥｘ（約５００Ｖ）に設定して使用される。そのため
、バイアス電圧ＥをＥｘから多少、つまり±５０Ｖ程度
変動させたとしても、Ｘ＆ｌ入射による電ａ電流すなわ
ちデータ収集装置３に送られる信号電流には何らの影響
もなく、支障がない。
こうして、振動に応じてバイアス電圧Ｅｔ−Ｅｘから変
化させながら、Ｘ線管ｌとＸｅガス検出器２とを被写体
の周囲に３６０°回転させた場合。
印加電圧Ｅとノイズ電流ｉの波形は第４図Ａのようにな
った。バイアス電圧ＥがＥｘに固定されている従来では
第４図Ｂのようになるので、これら第４図Ａ、Ｈのノイ
ズ電流ｉの波形を比較してみることにより、ノイズ電流
ｉを減少できることが分る。
なお、上記ではダミー電極２４により振動検出器を構成
したが、Ｘｅガス検出器２の密封容器２１の外周面に他
のタイプの振動検出器を取り付けるようにしてもよい。
発明の効果 この発明によれば、Ｘｅガス検出器の振動に起因するノ
イズを減少させることができる。そのため電極板を薄く
したり、電極板やＸｅガス検出器自体の支持構造を簡単
にすることができるので。
Ｘｅガス検出器の製造コストを低減し、ＣＴスキャナ全
体としても安価に製造できる。また、振動の影響を軽減
できるので、スキャン機構の高速化および再構成画像の
画質の改善が図れる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図はＸ
ｅガス検出器の部分を詳しく示すブロック図、第３図は
Ｘｅガス検出器の印加電圧Ｅと出力電流ｉとの関係を示
すグラフ、第４図Ａ、Ｂは印加電圧Ｅと振動ノイズｉと
を表わすもので、第４図Ａはこの発明にかかる一例を示
す波形図、第４図Ｂは従来例を示す波形図、第５図は従
来例のブロック図、第６図は第５図のＸｅガス検出器の
部分を詳しく示すブロック図である。 １・・・Ｘ線管　　　　　　２・・・Ｘｅガス検出器３
・・・データ収集装置　　４・・・コンピュータ５・・
・表示装置　　　　　６・・・バイアス電源７・・・制
御回路　　　　　２１・・・密封容器２２・・・バイア
ス電極　　２３・・・信号電極２４・・・ダミー電極　
　　２５・・・Ｘ線シールド答２目 ノぐイアス電ソ艮

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）放射線発生器と、被写体を挟んでこの放射線発生
    器と対向配置されるＸｅガス検出器と、これら放射線発
    生器とＸｅガス検出器とを被写体に対してスキャンさせ
    る機構と、Ｘｅガス検出器のバイアス電極にバイアス電
    圧を与えるバイアス電源と、Ｘｅガス検出器で得たデー
    タを処理することにより画像再構成するコンピュータと
    を有するＣＴスキャナにおいて、Ｘｅガス検出器の振動
    を検出する振動検出器と、検出した振動をバイアス電源
    にフィードバックしてバイアス電圧を制御する制御回路
    とを備えることを特徴とするＣＴスキャナ。
JP60040101A 1985-02-28 1985-02-28 Ｃｔスキヤナ Pending JPS61199842A (ja)

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JP60040101A JPS61199842A (ja) 1985-02-28 1985-02-28 Ｃｔスキヤナ
US06/841,810 US4804242A (en) 1985-02-28 1986-03-20 Connector for optical fiber

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JP60040101A JPS61199842A (ja) 1985-02-28 1985-02-28 Ｃｔスキヤナ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61199842A true JPS61199842A (ja) 1986-09-04

Family

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Family Applications (1)

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JP60040101A Pending JPS61199842A (ja) 1985-02-28 1985-02-28 Ｃｔスキヤナ

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US4804242A (en) 1989-02-14

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