JPS6117671U - プリント板試験装置 - Google Patents
プリント板試験装置Info
- Publication number
- JPS6117671U JPS6117671U JP10173984U JP10173984U JPS6117671U JP S6117671 U JPS6117671 U JP S6117671U JP 10173984 U JP10173984 U JP 10173984U JP 10173984 U JP10173984 U JP 10173984U JP S6117671 U JPS6117671 U JP S6117671U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed board
- board testing
- testing equipment
- probe
- probe pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10173984U JPS6117671U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | プリント板試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10173984U JPS6117671U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | プリント板試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117671U true JPS6117671U (ja) | 1986-02-01 |
| JPH0416228Y2 JPH0416228Y2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | 1992-04-10 |
Family
ID=30661154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10173984U Granted JPS6117671U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | プリント板試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6117671U (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10838033B2 (en) | 2018-03-19 | 2020-11-17 | Toshiba Memory Corporation | Tester calibration device and tester calibration method |
-
1984
- 1984-07-05 JP JP10173984U patent/JPS6117671U/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10838033B2 (en) | 2018-03-19 | 2020-11-17 | Toshiba Memory Corporation | Tester calibration device and tester calibration method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0416228Y2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | 1992-04-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6117671U (ja) | プリント板試験装置 | |
| JPS5821879U (ja) | 電子回路試験装置 | |
| JPS62108874U (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | ||
| JPS6117670U (ja) | プリント板の試験装置 | |
| JPS60134176U (ja) | プリント基板の検査装置 | |
| JPS59187144U (ja) | 半導体装置用試験装置 | |
| JPS60111284U (ja) | 印刷基板の測定装置 | |
| JPS59149070U (ja) | 印刷配線板の布線試験装置 | |
| JPS6041869U (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPS58175476U (ja) | プリント基板組立の検査装置 | |
| JPS60135677U (ja) | 回路基板テスタ用フイクスチヤ− | |
| JPS6035268U (ja) | マスクホルダ機構を有するテストフィクスチヤ | |
| JPS6132973U (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPS6146479U (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPS6027377U (ja) | 回路ユニツト検査用触針装置 | |
| JPS5888172U (ja) | 実装プリント基板のプロ−ビング装置 | |
| JPS60176182U (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPS5847777U (ja) | 印刷配線板の試験用テストヘツド | |
| JPS60148969U (ja) | プリント基板試験装置 | |
| JPS59168173U (ja) | プリント基板回路検査用プロ−ブユニツト | |
| JPS59185900U (ja) | 素子リ−ド検出装置 | |
| JPS581175U (ja) | テストポイント用端子機構 | |
| JPS59116872U (ja) | インサ−キツトテスト用のユニバ−サル・フイクスチヤ | |
| JPS5834063U (ja) | インサ−キツトテスタ用万能接続治具 | |
| JPS6035269U (ja) | プリント基板のテストフィクスチヤ |