JPS61165720A - 倒立型顕微鏡 - Google Patents
倒立型顕微鏡Info
- Publication number
- JPS61165720A JPS61165720A JP29626685A JP29626685A JPS61165720A JP S61165720 A JPS61165720 A JP S61165720A JP 29626685 A JP29626685 A JP 29626685A JP 29626685 A JP29626685 A JP 29626685A JP S61165720 A JPS61165720 A JP S61165720A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holders
- optical axis
- plane perpendicular
- holding device
- microscope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、ステージ上に載置された物体をステージ下方
から観察する倒立型顕微鏡の改良にｐＡするものである
。
から観察する倒立型顕微鏡の改良にｐＡするものである
。
史＊ｉ＊
現在、医学、生物学、遺伝子工学等の分野における生細
胞研究ではζ顕微鏡を用いて、細胞からの除核、細胞内
構造体の移植、酵素及び薬物の細胞内への微少注入、細
胞質の電気抵抗の測定等を行うようになってぎており、
これらは対象物の大きさが数ミクロンから数十ミクロン
であるためミクロ手技或はミクロ操作と呼ばれ、生命現
象の色々な側面の理解に極めて有効な手段とされている
。そして、顕微鏡は単なるＩ察道具としてではなく操作
する道具としての側面が必要となってきている。
胞研究ではζ顕微鏡を用いて、細胞からの除核、細胞内
構造体の移植、酵素及び薬物の細胞内への微少注入、細
胞質の電気抵抗の測定等を行うようになってぎており、
これらは対象物の大きさが数ミクロンから数十ミクロン
であるためミクロ手技或はミクロ操作と呼ばれ、生命現
象の色々な側面の理解に極めて有効な手段とされている
。そして、顕微鏡は単なるＩ察道具としてではなく操作
する道具としての側面が必要となってきている。
ところがミクロ操作を行うための顕微鏡として従来の顕
微鏡を見た時、単に位相差検鏡から微分干渉検鏡に移行
するためにその補助ＩＩを交換するだけでも多くの時間
を費し、そのセツテングにも多くの労苦を必要としてい
た。更に、細胞内への微少注入を行うとなると、マイク
ロインジェクション装置自身のセツテングに加え、透明
細胞を見るための位相差装置やインジェクション装置の
針先の位置固定のための実体顕微鏡等多くの周辺装置の
セツテングを必要とするので、机上のスペースを多く必
要とし、更に多くの時間と労苦を必要とするという問題
があつた。
微鏡を見た時、単に位相差検鏡から微分干渉検鏡に移行
するためにその補助ＩＩを交換するだけでも多くの時間
を費し、そのセツテングにも多くの労苦を必要としてい
た。更に、細胞内への微少注入を行うとなると、マイク
ロインジェクション装置自身のセツテングに加え、透明
細胞を見るための位相差装置やインジェクション装置の
針先の位置固定のための実体顕微鏡等多くの周辺装置の
セツテングを必要とするので、机上のスペースを多く必
要とし、更に多くの時間と労苦を必要とするという問題
があつた。
亘−」１
本発明は、上記問題点に鑑み、複数の補助装置を一緒に
顕微鏡に装着出来ると共に簡単な操作で必要な補助装置
を光路中に配置し得るようにして操作性を高めた倒立型
顕微鏡を提供せんとするものである。
顕微鏡に装着出来ると共に簡単な操作で必要な補助装置
を光路中に配置し得るようにして操作性を高めた倒立型
顕微鏡を提供せんとするものである。
本発明による倒立型顕微鏡は、複数の補助装置を一緒に
保持し得る保持装置がステージの上方で光軸と垂直な平
面内において回動自在な状態で照明系支柱に取付けられ
ていることを特徴としている。
保持し得る保持装置がステージの上方で光軸と垂直な平
面内において回動自在な状態で照明系支柱に取付けられ
ていることを特徴としている。
大１目１
以下第１図及び第２図に示した一実施例に基づき本考案
を詳細に説明すれば、第１図は本発明による倒立型顕微
鏡の概略側面図であって、１は顕微鏡本体、２は鉛直方
向に起立した照明系支柱、３は光源装置、４は鉛直方向
の光軸Ｏに垂直な平面内において回動自在な状態で照明
系支柱２に取付けられていてその１８０”対称位置に一
対のホルダー５．５が設けられた保持装置、６は右側の
ホルダー５に保持された位相差観察用コンデンサーレン
ズ等の位相差装置、７は左側のホルダー５に保持された
微分干渉観察用コンデンサーレンズ等の微分干渉装置、
８はステージ、９は対物レンズ、１０は対物レンズ９を
支持しているレボルバ−１１１は観察鏡筒、１２はステ
ージ８上に載置された標本である。
を詳細に説明すれば、第１図は本発明による倒立型顕微
鏡の概略側面図であって、１は顕微鏡本体、２は鉛直方
向に起立した照明系支柱、３は光源装置、４は鉛直方向
の光軸Ｏに垂直な平面内において回動自在な状態で照明
系支柱２に取付けられていてその１８０”対称位置に一
対のホルダー５．５が設けられた保持装置、６は右側の
ホルダー５に保持された位相差観察用コンデンサーレン
ズ等の位相差装置、７は左側のホルダー５に保持された
微分干渉観察用コンデンサーレンズ等の微分干渉装置、
８はステージ、９は対物レンズ、１０は対物レンズ９を
支持しているレボルバ−１１１は観察鏡筒、１２はステ
ージ８上に載置された標本である。
第２図は上記保持装置４の構造を詳細に示す縦断面図で
あって、１３は照明系支柱２に水平面（光軸Ｏと垂直な
平面）内において回動自在な状態で装架さた回動支柱、
１４は回動支柱１３に螺着されていて締め込むことによ
り回動支柱１３を所望の回動位置に固定し得る周知の固
定ツマミ、１５．１５は回動支柱１３の表面の１８００
対称位置に固定された鉛直方向に延びた一対のアリ、１
６．１６は各アリ１５．１５に夫々固定された鉛直方向
に延びた一対のラック、１７．１７は各一端にアリ溝１
７ａ、１７ａを夫々有していて該アリ溝１７ａ、１７ａ
が各アリ１５．１５と夫々嵌合せしめられた一対のアー
ム、１８．１８は各アーム１７．１７に夫々水平に枢着
されていて各軸部に夫々設けられたビニオン１８８．１
８ａが各ラック１６．１６と夫々噛合せしめられた一対
の上下動ツマミ、１９．１９は各軸部１９ａ、１９ａに
より各ホルダー５，５を各アーム１７．１７に夫々鉛直
面（光軸Ｏと平行な平面）内において回動自在な状態で
枢着せしめ且つ各軸部１９ａ、１９ａと各アーム１７．
１７との簡の摩擦抵抗により各ホルダー５．５を所望の
角度位置に自己保持させることが出来る回動ツマミであ
る。
あって、１３は照明系支柱２に水平面（光軸Ｏと垂直な
平面）内において回動自在な状態で装架さた回動支柱、
１４は回動支柱１３に螺着されていて締め込むことによ
り回動支柱１３を所望の回動位置に固定し得る周知の固
定ツマミ、１５．１５は回動支柱１３の表面の１８００
対称位置に固定された鉛直方向に延びた一対のアリ、１
６．１６は各アリ１５．１５に夫々固定された鉛直方向
に延びた一対のラック、１７．１７は各一端にアリ溝１
７ａ、１７ａを夫々有していて該アリ溝１７ａ、１７ａ
が各アリ１５．１５と夫々嵌合せしめられた一対のアー
ム、１８．１８は各アーム１７．１７に夫々水平に枢着
されていて各軸部に夫々設けられたビニオン１８８．１
８ａが各ラック１６．１６と夫々噛合せしめられた一対
の上下動ツマミ、１９．１９は各軸部１９ａ、１９ａに
より各ホルダー５，５を各アーム１７．１７に夫々鉛直
面（光軸Ｏと平行な平面）内において回動自在な状態で
枢着せしめ且つ各軸部１９ａ、１９ａと各アーム１７．
１７との簡の摩擦抵抗により各ホルダー５．５を所望の
角度位置に自己保持させることが出来る回動ツマミであ
る。
本発明による倒立型顕微鏡は上述の如く構成されており
、保持装置ｔ４が一対のホルダー５゜５を有しているか
ら、位相差袋ｆ１６及び微分干渉装置７という二つの補
助装置を一緒に顕微鏡に＠看することが出来る。そして
、固定ツマミ１４を緩めてやればホルダー５．５をアー
ム１７．１７：ラツク１６．１６：アリ１５．１５：回
動支柱１３と一体に光軸０と垂直な平面内において自在
に回動せしめることが出来、固定ツマミ１４を締め込む
ことによりホルダー５．５を上記部材と共に所望の回動
位置に固定することが出来るから、位相差装置１６及び
微分干渉装置７のうち必要な補助装置を極めて簡単な操
作で光路中に配置することが出来る。従って、例えば位
相差検鏡から微分干渉検鏡への移行等は極めて容易に而
も短時間で行うことが出来、その操作性は＾い。尚、一
般に微分干渉装置７による観察の方が明るく且つハロー
の少ない像が得られるが、作動距離が短いという欠点が
あり、この欠点を補う目的で長い作動距離を有する位相
差装置６との併用が有効となるのである。
、保持装置ｔ４が一対のホルダー５゜５を有しているか
ら、位相差袋ｆ１６及び微分干渉装置７という二つの補
助装置を一緒に顕微鏡に＠看することが出来る。そして
、固定ツマミ１４を緩めてやればホルダー５．５をアー
ム１７．１７：ラツク１６．１６：アリ１５．１５：回
動支柱１３と一体に光軸０と垂直な平面内において自在
に回動せしめることが出来、固定ツマミ１４を締め込む
ことによりホルダー５．５を上記部材と共に所望の回動
位置に固定することが出来るから、位相差装置１６及び
微分干渉装置７のうち必要な補助装置を極めて簡単な操
作で光路中に配置することが出来る。従って、例えば位
相差検鏡から微分干渉検鏡への移行等は極めて容易に而
も短時間で行うことが出来、その操作性は＾い。尚、一
般に微分干渉装置７による観察の方が明るく且つハロー
の少ない像が得られるが、作動距離が短いという欠点が
あり、この欠点を補う目的で長い作動距離を有する位相
差装置６との併用が有効となるのである。
第３図は第二の実施例を示しており、この場合の保持装
置１１４′は、位相差インジェクション装Ｗ１２０を保
持するホルダー２１と実体顕微鏡２２を保持するホルダ
ー２３とび回動支柱１３の１８０°対称位置に取付けら
れている。そして、この実施例によれば非常に効率的な
インジエクジョン操作が可能となる。即ち、遺伝子工学
や発生生物学の分野においては、生き（いる細胞に外部
から物質を取り込ませることにより生命現粂の色々な側
面の解析が行われているが、その手順として、シャーレ
等の培養容器に培養された細胞が初めに低倍の実体顕微
鏡２２によりコロニーの形成具合等がチェックされて実
験に適した部分が選別され、この後インジェクション装
置２０がセッテングされて細胞にインジェクションが行
われ、更にその結果が実体顕微鏡２２によりチェックさ
れるようになっていることから明らかなように、インシ
ックジョン装置２０に実体顕微鏡２２を組み合せたこと
がインジェクション操作の効率化という効果を生み出し
ている。又、インジェクション装置２０の細胞への注入
部をマイクロピペット２０ａと称し、これは外径１１１
１−の芯入りガラス管をマイクロエレクトロード・ブラ
ー（ｍｉｃｒｏｅｌｅｃｔｒｏｄｅ ｐｕｌｌｅｒ）
で引くことにより作られ、その先端部の外径（約０．１
〜０．４ｕｍ）や針の形は該ブラーの温度と磁場の強さ
により変化せしめられるようになっているが、所望のマ
イクロピペット２０ａを作った後針先をチェックするた
めにも実体顕微ｍ２２は用いられる。
置１１４′は、位相差インジェクション装Ｗ１２０を保
持するホルダー２１と実体顕微鏡２２を保持するホルダ
ー２３とび回動支柱１３の１８０°対称位置に取付けら
れている。そして、この実施例によれば非常に効率的な
インジエクジョン操作が可能となる。即ち、遺伝子工学
や発生生物学の分野においては、生き（いる細胞に外部
から物質を取り込ませることにより生命現粂の色々な側
面の解析が行われているが、その手順として、シャーレ
等の培養容器に培養された細胞が初めに低倍の実体顕微
鏡２２によりコロニーの形成具合等がチェックされて実
験に適した部分が選別され、この後インジェクション装
置２０がセッテングされて細胞にインジェクションが行
われ、更にその結果が実体顕微鏡２２によりチェックさ
れるようになっていることから明らかなように、インシ
ックジョン装置２０に実体顕微鏡２２を組み合せたこと
がインジェクション操作の効率化という効果を生み出し
ている。又、インジェクション装置２０の細胞への注入
部をマイクロピペット２０ａと称し、これは外径１１１
１−の芯入りガラス管をマイクロエレクトロード・ブラ
ー（ｍｉｃｒｏｅｌｅｃｔｒｏｄｅ ｐｕｌｌｅｒ）
で引くことにより作られ、その先端部の外径（約０．１
〜０．４ｕｍ）や針の形は該ブラーの温度と磁場の強さ
により変化せしめられるようになっているが、所望のマ
イクロピペット２０ａを作った後針先をチェックするた
めにも実体顕微ｍ２２は用いられる。
第４図は第三の実施例を示しており、この場合の保持装
置４は、実体顕微１２２とインジェクション装置ｊ２０
と長作動距離を有する位相差装置６とを１２０°回転対
称位置に保持し得るように構成されている。従って、こ
の実施例によれば一層効率的なインジェクション操作が
可能となる。
置４は、実体顕微１２２とインジェクション装置ｊ２０
と長作動距離を有する位相差装置６とを１２０°回転対
称位置に保持し得るように構成されている。従って、こ
の実施例によれば一層効率的なインジェクション操作が
可能となる。
尚、本発明による倒立型顕微鏡においては、二つの補助
装置を備える例としては、上記第−及び第二の実施例の
他に位相差異装置とインジェクション装置０佼相着装置
とマイクロマニュピレータ−１実体顕微嫂とマイクロマ
ニュレーター等三通りの組合せが可能となる。又、三つ
の補助装置を備える例としては、上記第三の実施例の他
に実施例の他に位相差装置とインジェクション装置と微
分干渉装置との組合せが可能となる。
装置を備える例としては、上記第−及び第二の実施例の
他に位相差異装置とインジェクション装置０佼相着装置
とマイクロマニュピレータ−１実体顕微嫂とマイクロマ
ニュレーター等三通りの組合せが可能となる。又、三つ
の補助装置を備える例としては、上記第三の実施例の他
に実施例の他に位相差装置とインジェクション装置と微
分干渉装置との組合せが可能となる。
ａＪし１力」し
上述の如く、本発明による倒立型顕微鏡は、効率的なミ
クロ操作及び顕微鏡観察が可能であるという実用上重要
な利点を有している。
クロ操作及び顕微鏡観察が可能であるという実用上重要
な利点を有している。
第１図は本発明による倒立型顕微鏡の一実施例の概略側
面図、第２図は上記実施例の保持装置の構造を示す縦断
面図、第３図は第二の実施例の概略側面図、第４図は第
三の実施例の保持＠置の斜視図である。 １・・・顕微鏡本体、２・・・照明系支柱、３・・・光
源装置、４・・・保持装置、５・・・ホルダー、６・・
・位相差装置、７・・・微分干渉装置、８・・・ステー
ジ、９・・・対物レンズ、１０・・・レボルバ−１１１
・・・観察鏡筒、１３・・・回動支柱、１４・・・−固
定ネジ、１５・・・アリ、１６・・・ラック、１７・・
・アーム、１８・・・上下動ツマミ、１９・・・回動ツ
マミ。
面図、第２図は上記実施例の保持装置の構造を示す縦断
面図、第３図は第二の実施例の概略側面図、第４図は第
三の実施例の保持＠置の斜視図である。 １・・・顕微鏡本体、２・・・照明系支柱、３・・・光
源装置、４・・・保持装置、５・・・ホルダー、６・・
・位相差装置、７・・・微分干渉装置、８・・・ステー
ジ、９・・・対物レンズ、１０・・・レボルバ−１１１
・・・観察鏡筒、１３・・・回動支柱、１４・・・−固
定ネジ、１５・・・アリ、１６・・・ラック、１７・・
・アーム、１８・・・上下動ツマミ、１９・・・回動ツ
マミ。
Claims (1)
- ステージ上に載置された物体をステージ下方から観察す
る倒立型顕微鏡において、複数の補助装置を一緒に保持
し得る保持装置がステージの上方で光軸と垂直な平面内
において回動自在な状態で照明系支柱に取付けられてい
ることを特徴とする倒立型顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29626685A JPS61165720A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 倒立型顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29626685A JPS61165720A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 倒立型顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61165720A true JPS61165720A (ja) | 1986-07-26 |
| JPH055330B2 JPH055330B2 (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=17831343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29626685A Granted JPS61165720A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 倒立型顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61165720A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004508577A (ja) * | 2000-06-14 | 2004-03-18 | カール−ツアイス−スチフツング | 表面の微細構造を定量的に光学的に測定するための顕微鏡および方法 |
| JP2005266213A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Olympus Corp | システム顕微鏡 |
| JP2005301064A (ja) * | 2004-04-14 | 2005-10-27 | Olympus Corp | システム顕微鏡 |
| JP2009515151A (ja) * | 2005-11-08 | 2009-04-09 | キルパー、ローラント | サンプル操作デバイス |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5737848A (en) * | 1980-08-19 | 1982-03-02 | Toshiba Corp | Heating apparatus for wafer |
-
1985
- 1985-12-26 JP JP29626685A patent/JPS61165720A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5737848A (en) * | 1980-08-19 | 1982-03-02 | Toshiba Corp | Heating apparatus for wafer |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004508577A (ja) * | 2000-06-14 | 2004-03-18 | カール−ツアイス−スチフツング | 表面の微細構造を定量的に光学的に測定するための顕微鏡および方法 |
| JP2005266213A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Olympus Corp | システム顕微鏡 |
| JP2005301064A (ja) * | 2004-04-14 | 2005-10-27 | Olympus Corp | システム顕微鏡 |
| JP2009515151A (ja) * | 2005-11-08 | 2009-04-09 | キルパー、ローラント | サンプル操作デバイス |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH055330B2 (ja) | 1993-01-22 |
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